JPH06249884A - Digital oscilloscope - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To provide a digital oscilloscope which compares the measurement parameter of time series at measuring various parameters with a standard parameter, and displays the comparison result. CONSTITUTION:A digital oscilloscope having parameter measuring function is provided with a counter 18 for counting trigger signals and generating a memory address; a measurement parameter storing memory 20 for storing measurement parameters every trigger signal input in the generated address; and a standard parameter storing memory 21 for storing a standard parameter to the measurement parameter in each measuring time. It is further provided with an arithmetic comparing circuit 22 for arithmetically comparing the standard parameter stored in the standard parameter storing memory 21 to the measuring time of the measurement parameter, and an indicator 24 for conducting a display based on the output of the arithmetic comparing circuit 22.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はデジタルオシロスコープ
に関し、さらに詳細には測定パラメータと基準パラメー
タとの比較によって被測定体の良否の判定を可能とした
デジタルオシロスコープに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a digital oscilloscope, and more particularly to a digital oscilloscope capable of determining the quality of an object to be measured by comparing a measurement parameter with a reference parameter.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来のパラメータ測定機能を有するデジ
タルオシロスコープにおいて、入力波形の各種パラメー
タはＡ／Ｄ変換された後、中央処理装置（ＣＰＵ）によ
って演算され、文字発生手段において文字情報に変換さ
れて、文字情報に基づく文字が陰極線管（ＣＲＴ）の管
面上に表示されるか、ＧＰ−ＩＢなどにて外部に離散的
に出力されていた。2. Description of the Related Art In a conventional digital oscilloscope having a parameter measuring function, various parameters of an input waveform are A / D converted and then calculated by a central processing unit (CPU) and converted into character information by a character generating means. , The characters based on the character information are displayed on the surface of the cathode ray tube (CRT) or discretely output to the outside by GP-IB or the like.

【０００３】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のデジタ
ルオシロスコープでは、入力波形の各種パラメータと各
測定時点における測定パラメータに対して基準となるパ
ラメータとを比較したりすることはできず、各種パラメ
ータデータの活用はその瞬間データの利用に留まらざる
をえないという問題点があった。However, in the conventional digital oscilloscope, it is not possible to compare various parameters of the input waveform with the parameters that are the reference for the measured parameters at each measurement time point, and various parameter data cannot be compared. However, there was a problem that the use of data was limited to the use of instantaneous data.

【０００４】本発明は、各種パラメータ測定時の時系列
の測定パラメータを基準となるパラメータと比較し、比
較結果を表示するデジタルオシロスコープを提供するこ
とを目的とする。It is an object of the present invention to provide a digital oscilloscope which compares time-series measurement parameters at the time of measuring various parameters with a reference parameter and displays the comparison result.

【０００５】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明のデジタルオシロ
スコープは、パラメータ測定機能を有するデジタルオシ
ロスコープにおいて、トリガ信号入力毎にメモリアドレ
スを発生するアドレス発生手段と、発生されたアドレス
にトリガ信号入力毎における測定パラメータを格納する
測定パラメータ記憶手段と、各測定時点における測定パ
ラメータに対して基準となるパラメータを格納した基準
パラメータ記憶手段と、測定パラメータ記憶手段に記憶
の測定パラメータと測定パラメータの測定時点に対して
基準パラメータ記憶手段に記憶の基準パラメータとを比
較する比較手段と、比較手段の比較結果を表示させる表
示手段とを備えたことを特徴とする。A digital oscilloscope according to the present invention is a digital oscilloscope having a parameter measuring function, and an address generating means for generating a memory address for each trigger signal input, and a trigger signal for each trigger signal input at the generated address. A measurement parameter storage means for storing the measurement parameter, a reference parameter storage means for storing a reference parameter for the measurement parameter at each measurement time point, a measurement parameter stored in the measurement parameter storage means, and a measurement time point for the measurement parameter And a display unit for displaying the comparison result of the comparison unit.

【０００６】本発明のデジタルオシロスコープにおける
アドレス発生手段はトリガ信号を計数するカウンタと、
カウンタの計数出力に外部から供給されたデータに基づ
くバイアス値を加えてアドレスデータとするバイアス付
加回路とからなることを特徴とする。The address generating means in the digital oscilloscope of the present invention comprises a counter for counting trigger signals,
It is characterized in that it comprises a bias adding circuit for adding to the count output of the counter a bias value based on data supplied from the outside to make address data.

【０００７】[0007]

【作用】本発明のデジタルオシロスコープにおいて、信
号入力毎に発生された測定パラメータ記憶手段のアドレ
スに測定パラメータが格納され、測定パラメータと測定
パラメータの測定時点に対する基準パラメータとが比較
手段によって比較されて、比較結果が表示手段に表示さ
れる。この表示によって被測定体の良否の判定が可能と
なる。In the digital oscilloscope of the present invention, the measurement parameter is stored at the address of the measurement parameter storage means generated for each signal input, and the comparison means compares the measurement parameter with the reference parameter for the measurement time point of the measurement parameter, The comparison result is displayed on the display means. This display makes it possible to determine the quality of the measured object.

【０００８】アドレス発生手段をトリガ信号を計数する
カウンタとカウンタの計数出力に外部から供給されたデ
ータに基づくバイアス値を加えてアドレスデータとする
バイアス付加回路とから構成したときは、被測定状態が
複数パターン存在して、被測定パターン毎に外部から供
給するデータを変更することによって異なる被測定パタ
ーン毎に対応して測定パラメータ記憶手段の異なる記憶
領域に測定パラメータを記憶させることが可能となる。When the address generating means is composed of a counter for counting the trigger signal and a bias adding circuit for adding the bias value based on the data supplied from the outside to the count output of the counter to obtain the address data, the measured state is There are a plurality of patterns, and by changing the data supplied from the outside for each measured pattern, it becomes possible to store the measured parameters in different storage areas of the measured parameter storage means corresponding to different measured patterns.

【０００９】[0009]

【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。図１
は本発明の一実施例の構成を示すブロック図である。EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples. Figure 1
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【００１０】入力端子に入力された被測定信号である入
力信号はアッテネータ１を介して増幅器２に入力する。
入力信号のレベルはアッテネータ１および増幅器２によ
って調整される。増幅器２の出力はＡ／Ｄ変換器３に供
給し、Ａ／Ｄ変換器３によってデジタル信号に変換す
る。Ａ／Ｄ変換器３によって変換されたデータは管面デ
ータとしてデータメモリ４に供給して、データメモリ４
に格納する。An input signal, which is the signal under measurement input to the input terminal, is input to the amplifier 2 via the attenuator 1.
The level of the input signal is adjusted by the attenuator 1 and the amplifier 2. The output of the amplifier 2 is supplied to the A / D converter 3 and converted into a digital signal by the A / D converter 3. The data converted by the A / D converter 3 is supplied to the data memory 4 as screen data, and the data memory 4
To store.

【００１１】データメモリ４に格納されたデータは読み
出されて、後記する制御装置６によって表示用データに
変換され、変換された表示用データは表示メモリ５に格
納する。表示用メモリ５に格納された表示用データは混
合器８において後記する文字データと混合し、混合器８
の出力はＤ／Ａ変換器９によってアナログ信号に変換
し、変換されたアナログ信号は増幅器２６によって必要
レベルにまで増幅されてＹ軸信号としてＣＲＴ１０に供
給され、表示が行われる。The data stored in the data memory 4 is read and converted into display data by the control device 6 described later, and the converted display data is stored in the display memory 5. The display data stored in the display memory 5 is mixed with the character data described later in the mixer 8,
Is converted into an analog signal by the D / A converter 9, and the converted analog signal is amplified to a required level by the amplifier 26 and supplied to the CRT 10 as a Y-axis signal for display.

【００１２】符号６は制御装置としてのＣＰＵを示し、
制御装置６はデジタルオシロスコープの全体の制御およ
び入力データに対する入力波形の振幅、時間幅その他の
各種波形パラメータを算出する。算出された各種波形パ
ラメータは文字データを発生する文字情報発生器７に供
給し、入力されたパラメータに基づく文字データが発生
され、文字データは混合器８に供給されて表示用データ
と混合されて、ＣＲＴ１０における表示のための処理が
なされること上記のとおりである。Reference numeral 6 indicates a CPU as a control device,
The control device 6 controls the entire digital oscilloscope and calculates various waveform parameters such as the amplitude of the input waveform, the time width, and the input data. The calculated various waveform parameters are supplied to a character information generator 7 that generates character data, character data based on the input parameters is generated, and the character data is supplied to a mixer 8 and mixed with display data. The processing for display on the CRT 10 is performed as described above.

【００１３】マスタ水晶発振器１１からの発振出力は分
周器１２において分周し、分周出力はＸ軸カウンタ１３
において計数し、計数出力はＤ／Ａ変換器１５において
アナログ信号に変換し、変換されたアナログ信号は増幅
器２７によって所定レベルにまで増幅してＣＲＴ１０に
Ｘ軸信号として供給し、Ｘ軸方向の掃引を行わせる。The oscillation output from the master crystal oscillator 11 is divided by the frequency divider 12, and the divided output is the X-axis counter 13.
In the D / A converter 15, the counted output is converted into an analog signal, and the converted analog signal is amplified to a predetermined level by an amplifier 27 and supplied to the CRT 10 as an X-axis signal to sweep in the X-axis direction. To perform.

【００１４】一方、増幅器２の出力と外部トリガ信号と
は切替スイッチ２５によって一方を選択し、選択された
信号をトリガ回路１６に供給して、トリガ回路１６にお
いて入力信号の所定レベルにおいてトリガ信号を発生さ
せ、トリガ信号を波形整形回路１７によって波形整形
し、波形整形出力を掃引スタート信号とする。On the other hand, one of the output of the amplifier 2 and the external trigger signal is selected by the changeover switch 25, the selected signal is supplied to the trigger circuit 16, and the trigger circuit 16 outputs the trigger signal at a predetermined level of the input signal. The trigger signal is generated, the waveform is shaped by the waveform shaping circuit 17, and the waveform shaped output is used as the sweep start signal.

【００１５】掃引スタート信号は分周器１２の出力を受
けてＸ軸カウンタのカウントスタートパルス、サンプリ
ングクロックおよびアドレスデータを発生するタイミン
グコントローラ１４に供給して、カウントスタートパル
ス、サンプリングパルスおよびアドレスデータを掃引ス
タート信号と同期して発生させ、カウントスタートパル
スはＸ軸カウンタ１３に供給してカウントの開始の指示
を行い、サンプリングパルスをＡ／Ｄ変換器３に供給し
て入力のサンプリングを行い、データメモリ４に供給し
てアドレス指定を行う。The sweep start signal is supplied to the timing controller 14 which receives the output of the frequency divider 12 and generates the count start pulse of the X-axis counter, the sampling clock and the address data, and outputs the count start pulse, the sampling pulse and the address data. Generated in synchronization with the sweep start signal, the count start pulse is supplied to the X-axis counter 13 to instruct the start of counting, and the sampling pulse is supplied to the A / D converter 3 to sample the input, It is supplied to the memory 4 for addressing.

【００１６】上記した構成は通常のデジタルオシロスコ
ープと同様の構成であり、その作用も同様の作用を行
う。本実施例のデジタルオシロスコープはさらに次の構
成を有する。The above-mentioned structure is the same as that of a normal digital oscilloscope, and the operation thereof is also the same. The digital oscilloscope of this embodiment further has the following configuration.

【００１７】波形整形回路１７から出力される波形整形
出力はカウンタ１８に供給して計数し、計数出力は外部
から供給されたバイアスデータに基づくバイアス値をカ
ウンタ１８から出力されるアドレスデータに付加するバ
イアス付加回路１９に供給して、カウンタ１８によって
発生させたアドレスデータにバイアスを加えて、アドレ
スデータを発生させる。The waveform shaping output output from the waveform shaping circuit 17 is supplied to the counter 18 for counting, and the count output adds a bias value based on the bias data supplied from the outside to the address data output from the counter 18. The bias data is supplied to the bias adding circuit 19 to bias the address data generated by the counter 18 to generate the address data.

【００１８】バイアス付加回路１９を省略してカウンタ
１８の計数出力によってアドレス指定をしてもよい。こ
こでバイアス付加回路１９を設けたのは、格納領域を設
定可能とするためであり、例えば被測定状態が複数パタ
ーン存在し、被測定パターン毎に外部から供給するバイ
アスデータを変更することによって異なる被測定パター
ン毎に対応して異なる記憶領域を形成するメモリブロッ
クに記憶させたりすることを可能とするためである。さ
らに、バイアス付加回路１９にかわってカウンタ１８に
より設定されるアドレスを所定倍したアドレス値とする
アドレス発生回路を設けてもよい。The bias adding circuit 19 may be omitted and the address may be designated by the count output of the counter 18. The bias adding circuit 19 is provided here to allow the storage area to be set. For example, there are a plurality of measured states, and the bias added circuit 19 differs depending on the bias data supplied from the outside for each measured pattern. This is because the patterns can be stored in memory blocks that form different storage areas corresponding to the measured patterns. Further, instead of the bias adding circuit 19, an address generating circuit may be provided which has an address value obtained by multiplying the address set by the counter 18 by a predetermined value.

【００１９】制御装置６において算出された測定パラメ
ータ値中の選択された測定パラメータ値は測定パラメー
タ記憶メモリ２０に格納する。この格納のアドレスはバ
イアス付加回路１９から出力されるアドレスである。こ
こで、測定パラメータ記憶メモリ２０に格納される測定
パラメータ値に対する基準パラメータ値は基準パラメー
タ記憶メモリ２１に格納してある。基準パラメータ値の
格納アドレス位置は測定パラメータ値の格納アドレスに
合わせてある。The selected measurement parameter value among the measurement parameter values calculated by the control device 6 is stored in the measurement parameter storage memory 20. The address of this storage is the address output from the bias adding circuit 19. Here, the reference parameter value for the measurement parameter value stored in the measurement parameter storage memory 20 is stored in the reference parameter storage memory 21. The storage address position of the reference parameter value is aligned with the storage address of the measurement parameter value.

【００２０】測定パラメータ記憶メモリ２０および基準
パラメータ記憶メモリ２１はバイアス付加回路１９から
出力されるアドレスデータによってアドレス指定がされ
て、互いに対応する測定パラメータ値および基準パラメ
ータ値が読み出されて、読み出された測定パラメータ値
と基準パラメータ値とは演算・比較を行う演算・比較回
路２２に供給し、演算・比較回路２２において測定パラ
メータ値を基準パラメータ値から減算して減算結果が所
定範囲内か否か等の比較が行われる。なお、演算は減算
に限定するものではなく係数乗算をして比較するような
ことも可能である。The measurement parameter storage memory 20 and the reference parameter storage memory 21 are addressed by the address data output from the bias adding circuit 19, and the measurement parameter value and the reference parameter value corresponding to each other are read out and read out. The calculated measurement parameter value and the reference parameter value are supplied to a calculation / comparison circuit 22 which performs calculation / comparison, and the calculation / comparison circuit 22 subtracts the measurement parameter value from the reference parameter value to determine whether the subtraction result is within a predetermined range. Are compared. The calculation is not limited to subtraction, and it is also possible to perform coefficient multiplication and compare.

【００２１】比較回路２２の出力は表示駆動回路２３に
供給して発光ダイオードまたは液晶表示器からなる表示
器２４を駆動して比較回路２２の出力を表示させる。比
較回路２２の出力を制御装置６へ出力して、制御装置６
において文字表示データに変換して文字情報発生回路７
を駆動しＣＲＴ１０に表示するようにしてもよい。The output of the comparison circuit 22 is supplied to the display drive circuit 23 to drive the display 24 which is a light emitting diode or a liquid crystal display to display the output of the comparison circuit 22. The output of the comparison circuit 22 is output to the control device 6 and the control device 6
In the character information generation circuit 7
May be driven and displayed on the CRT 10.

【００２２】上記のようの構成した本実施例において、
被測定信号として伸線中の線材の直径を検出した電気信
号が入力信号として入力され、トリガ信号発生毎に表示
画面の一画面が更新されるようにし、トリガ信号は外部
から供給され、トリガ信号入力ごとに線材の直径がａ、
ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆと順次増加している場合を例に作用
を説明する。In the present embodiment configured as described above,
An electric signal that detects the diameter of the wire being drawn as the signal to be measured is input as the input signal, and one screen of the display screen is updated every time the trigger signal is generated.The trigger signal is supplied from the outside and the trigger signal The wire diameter is a for each input,
The operation will be described by taking as an example the case where the numbers are sequentially increased in the order of b, c, d, e and f.

【００２３】第２図（ａ）に示すようにタイマによって
設定された時間毎に入力される外部トリガ信号が入力さ
れる毎に測定がなされ、被測定線材の直径測定信号に基
づく表示がトリガ信号入力毎にＣＲＴ１０に表示され
る。表示例を図２（ｂ）に示す。同時に測定した直径値
が測定パラメータ値として測定パラメータ記憶メモリ２
０に格納される。測定パラメータ値を模式的に示せば図
２（ｃ）に示す如くである。基準パラメータ記憶メモリ
２１に格納されている基準パラメータ値は測定パラメー
タ値に対して図２（ｄ）に模式的に示す如くである。As shown in FIG. 2 (a), measurement is performed each time an external trigger signal input at each time set by the timer is input, and a display based on the diameter measurement signal of the wire to be measured is displayed as the trigger signal. It is displayed on the CRT 10 for each input. A display example is shown in FIG. The diameter value measured at the same time is used as the measurement parameter value in the measurement parameter storage memory 2
Stored in 0. The measurement parameter values are schematically shown in FIG. 2 (c). The reference parameter values stored in the reference parameter storage memory 21 are as schematically shown in FIG. 2D with respect to the measured parameter values.

【００２４】測定パラメータ値が測定パラメータ記憶メ
モリに格納されると、記憶された測定パラメータ値と対
応する基準パラメータ値とが読み出されて演算・比較回
路２２において差が演算され、該差が所定範囲例えば±
０．１以内か否かの比較が行われる。比較の結果が表示
器２４に表示される。この例では第１、２、３、５及び
６回目の外部トリガ信号入力時の測定による比較の結果
は良好を示す表示が表示器２４になされる。第４回目の
外部トリガ信号の入力時の測定による線材の直径が基準
パラメータ値より±０．１を超えており、この結果、表
示器２４に不良を示す表示がなされる。これらの表示の
一例を図２（ｅ）に示す。When the measured parameter value is stored in the measured parameter storage memory, the stored measured parameter value and the corresponding reference parameter value are read out, the difference is calculated in the calculation / comparison circuit 22, and the difference is predetermined. Range eg ±
A comparison is made as to whether it is within 0.1. The result of the comparison is displayed on the display 24. In this example, the display 24 shows that the result of comparison by the first, second, third, fifth, and sixth external trigger signal inputs is good. The diameter of the wire rod measured by the fourth time when the external trigger signal is input exceeds the reference parameter value by ± 0.1. As a result, the display 24 indicates a defect. An example of these displays is shown in FIG.

【００２５】なお、上記は線材の直径を測定して直径の
可否を判定する場合を例示したが他の測定の場合でも同
様である。Although the above has exemplified the case where the diameter of the wire is measured to determine whether or not the diameter is acceptable, the same applies to other measurements.

【００２６】測定パラメータおよび基準パラメータには
種々のものを組み合わせることもできる。さらに基準パ
ラメータ記憶メモリ２１はバックアップされたＩＣメモ
リで着脱自在のもとすることも可能であり、別のデジタ
ルオシロスコープの基準パラメータ記憶メモリとして利
用することもできる。また、測定パラメータ記憶メモリ
２０および基準パラメータ記憶メモリ２０は制御装置６
のメモリと共用することもできる。Various measurement parameters and reference parameters can be combined. Further, the reference parameter storage memory 21 may be a back-up IC memory which can be detachably attached, and can be used as a reference parameter storage memory of another digital oscilloscope. Further, the measurement parameter storage memory 20 and the reference parameter storage memory 20 are the control device 6
It can also be shared with other memories.

【００２７】[0027]

【発明の効果】以上説明した如く本発明のデジタルオシ
ロスコープによれば、各種パラメータデータの活用はそ
の瞬間データの利用に留まることなく、時間的に変化す
る測定パラメータと基準値との比較ができて、被測定対
象の測定値が経時的に変化するような場合における可否
の判定ができる効果がある。As described above, according to the digital oscilloscope of the present invention, the utilization of various parameter data is not limited to the utilization of the instantaneous data thereof, and the time-varying measurement parameter and the reference value can be compared. Therefore, there is an effect that it is possible to judge whether or not the measured value of the measured object changes with time.

【００２８】また本発明のデジタルオシロスコープにお
けるアドレス発生手段をトリガ信号を計数するカウンタ
とカウンタの計数出力に外部から供給されたデータに基
づくバイアス値を加えてアドレスデータとするバイアス
付加回路とで構成したときは、複数の測定モードがある
ような場合に、各測定モードに対して測定パラメータの
格納領域を変更することができる効果がある。Further, the address generating means in the digital oscilloscope of the present invention comprises a counter for counting the trigger signal and a bias adding circuit for adding the bias value based on the data supplied from the outside to the count output of the counter to obtain the address data. In this case, when there are a plurality of measurement modes, it is possible to change the storage area of the measurement parameter for each measurement mode.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図２】本発明の一実施例の作用の説明に供する測定例
を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic view showing a measurement example used for explaining the operation of one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１６ トリガ回路 １７ 波形整形回路 １８ カウンタ １９ バイアス付加回路 ２０ 測定パラメータ記憶メモリ ２１ 基準パラメータ記憶メモリ ２２ 演算・比較回路 ２４ 表示器 16 Trigger circuit 17 Waveform shaping circuit 18 Counter 19 Bias addition circuit 20 Measurement parameter storage memory 21 Reference parameter storage memory 22 Calculation / comparison circuit 24 Display

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 パラメータ測定機能を有するデジタルオ
シロスコープにおいて、トリガ信号入力毎にメモリアド
レスを発生するアドレス発生手段と、発生されたアドレ
スにトリガ信号入力毎における測定パラメータを格納す
る測定パラメータ記憶手段と、各測定時点における測定
パラメータに対して基準となるパラメータを格納した基
準パラメータ記憶手段と、測定パラメータ記憶手段に記
憶の測定パラメータと測定パラメータの測定時点に対し
て基準パラメータ記憶手段に記憶の基準パラメータとを
比較する比較手段と、比較手段の比較結果を表示させる
表示手段とを備えたことを特徴とするデジタルオシロス
コープ。1. A digital oscilloscope having a parameter measurement function, address generation means for generating a memory address for each trigger signal input, and measurement parameter storage means for storing a measurement parameter for each trigger signal input at the generated address. A reference parameter storage unit storing a reference parameter for the measurement parameter at each measurement time point, a measurement parameter stored in the measurement parameter storage unit, and a reference parameter stored in the reference parameter storage unit for the measurement time point of the measurement parameter. A digital oscilloscope, comprising: a comparison means for comparing the above and a display means for displaying a comparison result of the comparison means. 【請求項２】 請求項１記載のデジタルオシロスコープ
において、アドレス発生手段はトリガ信号を計数するカ
ウンタと、カウンタの計数出力に外部から供給されたデ
ータに基づくバイアス値を加えてアドレスデータとする
バイアス付加回路とからなることを特徴とするデジタル
オシロスコープ。2. The digital oscilloscope according to claim 1, wherein the address generating means includes a counter for counting a trigger signal, and a bias addition for adding a bias value based on externally supplied data to the count output of the counter as address data. A digital oscilloscope characterized by consisting of a circuit.