JPH06236800A - マイクロ波プラズマ発生器 - Google Patents

マイクロ波プラズマ発生器

Info

Publication number
JPH06236800A
JPH06236800A JP5293363A JP29336393A JPH06236800A JP H06236800 A JPH06236800 A JP H06236800A JP 5293363 A JP5293363 A JP 5293363A JP 29336393 A JP29336393 A JP 29336393A JP H06236800 A JPH06236800 A JP H06236800A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
electrodes
electrode
microwave
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5293363A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3310421B2 (ja
Inventor
Keith H Bayliss
ハワード ベイリス キース
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UK Atomic Energy Authority
Original Assignee
UK Atomic Energy Authority
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by UK Atomic Energy Authority filed Critical UK Atomic Energy Authority
Publication of JPH06236800A publication Critical patent/JPH06236800A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3310421B2 publication Critical patent/JP3310421B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32357Generation remote from the workpiece, e.g. down-stream
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3244Gas supply means
    • H01J37/32449Gas control, e.g. control of the gas flow
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32715Workpiece holder
    • H01J37/32724Temperature
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 より効率的にプラズマを発生するマイクロ波
プラズマ発生器を提供する。 【構成】 一対の相対する電界強化電極をチャンバ内に
持ち、その一方の電極は軸状の穴を持ち、電極間の領域
でプラズマ状態に活性化されるガスをこの穴を通じてチ
ャンバから抽出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマイクロ波放射によるプ
ラズマの発生に関する。
【0002】
【従来の技術】物質処理にプラズマを用いることがます
ます重要となってきているが、これらを採用する場合に
は、プラズマを発生するために比較的高い電力を入力す
ることが必要なこと、また、生成された活性ガスが高温
であることといった制限を受ける。現存のマイクロ波プ
ラズマ発生器は、マイクロ波放射を一様にチャンバ中に
導くものであり、このチャンバを通じてプラズマ状態に
励起されるプロセスガスに流れが引き起こされる。この
ため、高い電力入力が使用されなければ、エネルギー密
度は低く、この結果、電気効率も低くなってしまう。本
発明の目的は今までよりもより効率的なマイクロ波プラ
ズマを提供することにある。
【0003】
【発明の概要】本発明によれば、電磁スペクトルのマイ
クロ波領域において電磁放射を送るようにされた導波管
装置に接続されるようにされたチャンバと、プラズマ状
態に活性化されるプロセスガスをチャンバに入れること
を許可する入口ポートと、チャンバ中のマイクロ波放射
の伝播方向に対して直角をなす状態とされた少なくとも
一対の電界強化電極と、を備え、一対の電極の中の少な
くとも1つの電極は、活性化されたプロセスガスが電界
強化電極間のチャンバの領域から抽出され得るように自
身の内部に形成された通路を備えるマイクロ波プラズマ
発生器が提供される。好ましくは、これらの電極はその
断面で円状であり、その通路は適当な電極の軸状の穴で
ある。より好ましい形状では、それらの電極は円錐であ
り、それらの中の1つは鋭いエッジとされたリムで終端
しており、他方もまた鋭いエッジとされたリムであるよ
うな直径の軸状の穴を持つ。軸状の穴がない電極には、
先のとがった中央突出部を設けることもできる。
【0004】
【実施例】図1から明かなように、マイクロ波プラズマ
発生器は、ガラスシリンダー2と2つの端板3,4のそ
れぞれから成るようなチャンバ1から成る。ガラスシリ
ンダー2は、チャンバ1の端板3,4中に機械で設けら
れた環状の溝5中に適合され、チャンバ1はOリング6
によってガスを密閉するよう形成されている。アセンブ
リはクランプによって共に保持されるが、これは図示さ
れていない。チャンバ1の端板3,4は、それぞれ、導
波管部分7,8の一部を形成するようにされており、こ
れらはマイクロ波エネルギーを送信するような大きさと
されている。導波管部分7は、図示されていないマイク
ロ波発生器に接続されており、導波管部分8は、成端短
絡(terminating short circuit)8’を含み、この短絡
は、導波管の部分8の内部に固定されていてもよいし、
スライドすることができるようにされていてもよい。チ
ャンバ1の端板3,4に取り付けられているのは、それ
ぞれ、一対の相対する電界強化電極9,10である。
【0005】電極9,10は円錐形とされており、鋭い
環状チップで終端している。電極9は、電極9と10間
のギャプ11を変更できるように調整可能である。適切
なギャップは0.1〜0.5mmの範囲である。電極9
は、冷却液がそれを通じることができるよう、自身の内
部に形成されたチャンネル12を有する。電極10は、
チャンバ1の端板3,4と一体とされており、電極9,
10間のギャップ11でプラズマ状態に活性化されたプ
ロセスガスをチャンバ1から取り出すことができるよ
う、その内部に形成された軸状通路13を有する。プロ
セスガスのための入口ポート14は、チャンバ1の端板
9を通ずる。チャンバ1の端板4は、冷却液がそれを通
ずることができるよう中空である。チャンバ1の端板
3,4と電極9,10は、ステンレス鋼で形成されてい
る。モリブデンや、タングステンのような他の耐高温性
金属からなる鋭いチップを持つアルミニウム合金でそれ
らを形成することができる。電極9,10のチップの環
状形態は多数の効果を持つ。第1に、鋭利な部分が互い
に向かい合う場合に発生する通常の電界強化作用であ
る。第2に、図示の幾何学構造では、通路13が電極1
0を通じて入り込む前にプロセスガスが電極9,10間
の小さなギャップを通じるときに、そのプロセスガスに
おいてかなりの圧力降下が存在することである。これ
は、プロセスガスの圧力が他の場所よりも高いチャンバ
1のどこよりも、ギャップ11において、プロセスガス
のプラズマ状態への励起を容易にするだけでなく、チッ
プ領域における放射状の圧力傾斜が電極9,10の間の
領域へプラズマを制限するのである。また、図示の幾何
学構造は、電極9,10間のギャップ11を通じるその
通路上の全てのプロセスガスが最大電界領域を直角に通
過することを意味するものであるから、プロセスガスの
プラズマ状態への励起の効率は最大となり、この結果、
プラズマを発生するのに必要な入力電力は減少する。良
好に冷却された壁によって取り囲まれた少量の放電は、
高い電界で加速された電子によって活性化されているに
も係わらずにプラズマ温度が比較的低く保たれることを
意味する。更に、デバイス動作中の電界の分散は、プラ
ズマが存在しない場合に存するものと大きくは相違しな
いため、デバイスを自己スタート可能とすることができ
る。
【0006】図2に、本発明の第2の実施例が示されて
おり、第1の実施例の対応要素と同様の要素は同一の参
照番号を持つ。図2に示された本発明の実施例では、ガ
ラスシリンダー5は、ガラス補強されたポリテトラフル
オルエチレンで形成されたブロック21に置き換えられ
ているが、他の不活性の非導電物質を使用することもで
きる。ブロック21は、円筒形内部表面22と、その一
端でガス入口14と通じており、他端でブロック21の
内部表面22に対してタンジェンシャル(tangential)
であるような通路23を備える。このように、ブロック
21と端板3,4によって形成されたチャンバ1中に現
れるガスは非常にタンジェンシャルなものであり、電極
9,10間のギャップ11に入り込む前に電極9,10
の周囲をらせん形状で進む。このらせん形の流れパター
ンは、電極9,10間の電気放電の安定性を増大させる
ため、より大きな直径の電極チップを用いることが可能
となり、その結果、活性化ガスのスループットが増大す
る。例えば、電極10の通路13の開口部24とチップ
について8mmの直径をとし、0.2mmのギャップ1
1とすれば、100shpmのガスを活性化することが
可能である。放電の安定性は、電極9のチップ上の中央
突出部25によって更に増大され、通路13の開口部2
4中へのガス流れは、開口部24をトランペット形状と
することによって強化される。
【0007】電極には取り替え可能なチップ27が提供
されており、また、Oリング28を提供して電極9の位
置を可変とするねじ山29に沿ってガスが漏洩しないこ
とを確実なものとし、電極9,10間のギャップ11が
所望の値に設定されることを可能としている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の長手方向部分。
【図2】本発明の他の実施例の長手方向部分。
【符号の説明】
2 ガラスシリンダー 3 端板 4 端板 5 溝 6 Oリング 7 導波管部分 8 導波管部分 9 電界強化電極 10 電界強化電極 11 ギャプ 12 チャンネル 13 軸状通路 14 入口ポート 22 内部表面 23 通路 25 中央突出部 28 Oリング 29 ねじ山
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 キース ハワード ベイリス イギリス オーエックス11 0アールエイ オックスフォードシャー ディドコット ハーウェル 329 ユナイテッド キン グドム アトミック エナヂイ オーソリ ティ パテンツ ブランチ内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電磁スペクトルのマイクロ波領域におい
    て電磁放射を送るようにされた導波管装置に接続される
    ようにされたチャンバと、プラズマ状態に活性化される
    プロセスガスをチャンバに入れることを許可する入口ポ
    ートと、チャンバ中のマイクロ波放射の伝播方向に対し
    て直角をなす状態とされた少なくとも一対の電界強化電
    極と、を備え、前記一対の電極の中の少なくとも1つの
    電極は、活性化されたプロセスガスが電界強化電極間の
    チャンバの領域から抽出され得るように自身の内部に形
    成された通路を備えることを特徴とするマイクロ波プラ
    ズマ発生器。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のマイクロ波プラズマ発生
    器において、前記入口ポートは、タンジェンシャルな速
    度要素を持つマイクロ波プラズマ発生器のチャンバに対
    してプロセスガスが許可されるように位置付けられてい
    る発生器。
  3. 【請求項3】 請求項1若しくは2記載のいずれかに記
    載のマイクロ波発生器において、電極は円錐形であり、
    鋭いエッジに形成された環状チップで終端している発生
    器。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいづれかに記載のマイク
    ロ波プラズマ発生器において、電極間の軸状の分離を変
    更できる発生器。
JP29336393A 1992-11-26 1993-11-24 マイクロ波プラズマ発生器 Expired - Fee Related JP3310421B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9224745:1 1992-11-26
GB929224745A GB9224745D0 (en) 1992-11-26 1992-11-26 Microwave plasma generator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06236800A true JPH06236800A (ja) 1994-08-23
JP3310421B2 JP3310421B2 (ja) 2002-08-05

Family

ID=10725691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29336393A Expired - Fee Related JP3310421B2 (ja) 1992-11-26 1993-11-24 マイクロ波プラズマ発生器

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5418430A (ja)
JP (1) JP3310421B2 (ja)
DE (1) DE4340224C2 (ja)
GB (2) GB9224745D0 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10156176A (ja) * 1996-11-28 1998-06-16 Aea Technol Plc プラズマガス処理
JP2005509254A (ja) * 2001-11-03 2005-04-07 アクセンタス パブリック リミテッド カンパニー マイクロ波プラズマ発生器
JP2009532322A (ja) * 2006-04-07 2009-09-10 キネテイツク・リミテツド 水素生成

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9616841D0 (en) * 1996-08-10 1996-09-25 Aea Technology Plc The detection of volatile substances
GB2316170B (en) * 1996-08-10 2000-11-29 Aea Technology Plc The detection of volatile substances
GB9819416D0 (en) * 1998-09-07 1998-10-28 Aea Technology Plc Treatment of aircraft cabin air
JP2000133494A (ja) * 1998-10-23 2000-05-12 Mitsubishi Heavy Ind Ltd マイクロ波プラズマ発生装置及び方法
AU2001232063A1 (en) 2000-02-10 2001-08-20 Tetronics Limited Plasma arc reactor for the production of fine powders
GB2359096B (en) * 2000-02-10 2004-07-21 Tetronics Ltd Apparatus and process for the production of fine powders
GB0004845D0 (en) 2000-02-29 2000-04-19 Tetronics Ltd A method and apparatus for packaging ultra fine powders into containers
CA2405743C (en) 2000-04-10 2009-09-15 Tetronics Limited Twin plasma torch apparatus
GB0021815D0 (en) 2000-09-06 2000-10-18 Lofting Marcus J Plasma enhanced gas reactor
AU2003251444A1 (en) 2002-07-23 2004-02-09 Iplas Gmbh Plasma reactor for carrying out gas reactions and method for the plasma-supported reaction of gases
GB0309932D0 (en) * 2003-04-30 2003-06-04 Boc Group Plc Apparatus and method for forming a plasma
GB0403797D0 (en) * 2004-02-20 2004-03-24 Boc Group Plc Gas abatement
US20080110744A1 (en) * 2004-06-30 2008-05-15 Jean-Marc Girard Method for the Preparation of a Gas or Mixture of Gases Containing Molecular Fluorine
FR2887245B1 (fr) * 2005-06-21 2007-11-02 Air Liquide Procede de preparation d'un gaz ou melange de gaz contenant du fluor moleculaire
GB0416385D0 (en) * 2004-07-22 2004-08-25 Boc Group Plc Gas abatement
DE102004060068B4 (de) * 2004-12-06 2009-04-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikrowellenplasmaquelle
GB0516695D0 (en) 2005-08-15 2005-09-21 Boc Group Plc Microwave plasma reactor
DE102005043278B4 (de) * 2005-09-09 2011-02-03 Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e.V. Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines sich ausdehnenden, diffusen Mikrowellenplasmas
GB0521830D0 (en) 2005-10-26 2005-12-07 Boc Group Plc Plasma reactor
GB0522088D0 (en) 2005-10-28 2005-12-07 Boc Group Plc Plasma abatement device
GB0523947D0 (en) 2005-11-24 2006-01-04 Boc Group Plc Microwave plasma system
WO2009008519A1 (ja) * 2007-07-12 2009-01-15 Imagineering, Inc. ガス処理装置、ガス処理システム及びガス処理方法、並びにそれを用いた排気ガス処理システム及び内燃機関
WO2009008524A1 (ja) * 2007-07-12 2009-01-15 Imagineering, Inc. 着火・化学反応促進・保炎装置、速度型内燃機関、及び、炉
JP5374691B2 (ja) * 2008-03-14 2013-12-25 イマジニアリング株式会社 複数放電のプラズマ装置
DE102009017647A1 (de) * 2009-04-16 2010-10-21 Siemens Aktiengesellschaft Ionenquelle zum Erzeugen eines Partikelstrahls, Elektrode für eine Ionenquelle sowie Verfahren zum Einleiten eines zu ionisierenden Gases in eine Ionenquelle
US9144858B2 (en) * 2011-11-18 2015-09-29 Recarbon Inc. Plasma generating system having movable electrodes
US10135236B2 (en) * 2013-02-20 2018-11-20 The Board of Regents of the Nevada Systems of Higher Education on behalf of the University of Nevada, Las Vegas Auto-triggered methods and systems for protecting against direct and indirect electronic attack
CN106987827B (zh) * 2017-04-14 2019-03-29 太原理工大学 等离子体化学气相沉积微波谐振腔及装置
US10832893B2 (en) * 2019-03-25 2020-11-10 Recarbon, Inc. Plasma reactor for processing gas

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2147497A5 (ja) * 1971-07-29 1973-03-09 Commissariat Energie Atomique
FR2550681B1 (fr) * 1983-08-12 1985-12-06 Centre Nat Rech Scient Source d'ions a au moins deux chambres d'ionisation, en particulier pour la formation de faisceaux d'ions chimiquement reactifs
US4866346A (en) * 1987-06-22 1989-09-12 Applied Science & Technology, Inc. Microwave plasma generator
GB2208753B (en) * 1987-08-13 1991-06-26 Commw Of Australia Improvements in plasma generators
DE3913969A1 (de) * 1989-04-27 1990-10-31 Jean Werner Dequet Ski und verfahren zu seiner herstellung
US5270616A (en) * 1989-09-25 1993-12-14 Ryohei Itatani Microwave plasma generating apparatus
EP0502269A1 (en) * 1991-03-06 1992-09-09 Hitachi, Ltd. Method of and system for microwave plasma treatments
FR2680275B1 (fr) * 1991-08-05 1997-07-18 Commissariat Energie Atomique Source d'ions a resonance cyclotronique electronique de type guide d'ondes.

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10156176A (ja) * 1996-11-28 1998-06-16 Aea Technol Plc プラズマガス処理
JP4495263B2 (ja) * 1996-11-28 2010-06-30 キネテイツク・リミテツド プラズマガス処理
JP2005509254A (ja) * 2001-11-03 2005-04-07 アクセンタス パブリック リミテッド カンパニー マイクロ波プラズマ発生器
JP2009532322A (ja) * 2006-04-07 2009-09-10 キネテイツク・リミテツド 水素生成

Also Published As

Publication number Publication date
GB9322870D0 (en) 1993-12-22
GB2273027A (en) 1994-06-01
GB9224745D0 (en) 1993-01-13
US5418430A (en) 1995-05-23
JP3310421B2 (ja) 2002-08-05
GB2273027B (en) 1996-01-03
DE4340224C2 (de) 2003-10-16
DE4340224A1 (de) 1994-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06236800A (ja) マイクロ波プラズマ発生器
CA2332047C (en) Metastable atom bombardment source
US5243169A (en) Multiple torch type plasma generation device and method of generating plasma using the same
US5464962A (en) Electrode for a plasma arc torch
US4452686A (en) Arc plasma generator and a plasma arc apparatus for treating the surfaces of work-pieces, incorporating the same arc plasma generator
US4506136A (en) Plasma spray gun having a gas vortex producing nozzle
EP0002623B1 (en) Electric arc apparatus and method for treating a flow of material by an electric arc
RU2201006C2 (ru) Устройство для излучения заряженных частиц, излучатель заряженных частиц, сварочный аппарат, узел для прохождения заряженных частиц, устройство для получения пучка заряженных частиц
US3360682A (en) Apparatus and method for generating high-enthalpy plasma under high-pressure conditions
US4714834A (en) Method and apparatus for generating ion beams
US3663792A (en) Apparatus and method of increasing arc voltage and gas enthalpy in a self-stabilizing arc heater
US3343022A (en) Transpiration cooled induction plasma generator
US5503807A (en) Gas activation
JPH0210700A (ja) プラズマトーチ
WO2002076158A1 (de) Verfahren zum plasmaschweissen
US3182176A (en) Arc plasma generator
EP0515975A2 (en) High enthalpy plasma torch
US3405305A (en) Vortex-stabilized radiation source with a hollowed-out electrode
US3530335A (en) Induction plasma generator with high velocity sheath
US3472995A (en) Electric arc torches
Chan et al. An electrically efficient, finely tunable, low-power plasma generator
US3480829A (en) Electric arc light source and method
US11956882B2 (en) High-power plasma torch with dielectric resonator
CA1227289A (en) Method and apparatus for generating ion beams
EP0056899A1 (en) Gas ion source

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080524

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080524

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080524

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080524

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090524

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100524

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110524

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110524

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120524

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120524

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130524

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees