JPH06210555A - 移動ステージの変位量計測装置 - Google Patents

移動ステージの変位量計測装置

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JPH06210555A
JPH06210555A JP629293A JP629293A JPH06210555A JP H06210555 A JPH06210555 A JP H06210555A JP 629293 A JP629293 A JP 629293A JP 629293 A JP629293 A JP 629293A JP H06210555 A JPH06210555 A JP H06210555A
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JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
linear scale
slide body
guide body
displacement
Prior art date
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Pending
Application number
JP629293A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Matsushita
毅 松下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP629293A priority Critical patent/JPH06210555A/ja
Publication of JPH06210555A publication Critical patent/JPH06210555A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】振動,衝撃などの外乱に起因する測定誤差の発
生を抑えた信頼性の高い移動ステージの変位量計測装置
を提供する。 【構成】固定側の直線状ガイド体2と、該ガイド体に沿
って非接触式に移動するスライド体3とからなる位置決
め用の移動ステージ1に対し、前記ガイド体の表面にス
ライド体の移動方向と格子配列が一致するリニアスケー
ル4をパターン形成するとともに、該リニアスケールに
対向して検出ヘッド5をスライド体に搭載して計測装置
を構成する。かかる構成により、検出ヘッドはスライド
体と常に一体的に移動してリニアスケールを走査するの
で、スライド体とガイド体の相対変位量を高精度で計測
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置,精密
工作機械などのX−Yテーブルなどに適用する位置決め
用移動ステージの変位量計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】頭記の位置決め用移動ステージは、固定
側の直線状ガイド体と、ガイド体に沿い空気圧などによ
り浮上させて非接触式に移動するスライド体とから構成
されたものであり、ガイド体をスライド体に対し精密に
位置決め制御するために、移動ステージの駆動系に対す
る位置センサとして、サブミクロンオーダでガイド体の
変位量を検出する変位計測装置を組合わせてサーボシス
テムを構成し、変位計測装置の出力信号を基にスライド
体を所望位置に移動制御するようにしている。
【0003】一方、かかる移動ステージの変位量計測装
置として、従来よりリニアエンコーダが知られており、
その具体的な構成例としてスライド体の側面に配列がス
ライド体の移動方向と一致する光学的な回析格子をパタ
ーン形成するとともに、この回析格子に対向して固定側
に投光素子,受光素子の組合わせからなる光電式検出ヘ
ッドを独立的に設置してスライド体の変位量を測定する
ようにした計測測装置が例えば特開平2−231503
号公報で知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記した従
来の計測装置では、検出ヘッドがガイド体とスライド体
からなる移動スライド機構とは独立して対向配備されて
おり、検出ヘッドとスライド体との相対位置を検出する
ことでガイド体に対するスライド体の位置を間接的に計
測するようにしている。そのために、移動ステージに対
する相対的な検出ヘッドの取付け位置が振動,衝撃など
の外乱により初期設定した基準位置からずれるおそれが
あり、しかもこのようなずれの発生を放置したままスラ
イド体の変位測定を続行すると測定誤差が累積されて移
動ステージの位置決め制御に重大な支障を来すようにな
る。
【0005】本発明は上記の点にかんがみなされたもの
であり、その目的は前記課題を解決し、振動,衝撃など
の外乱に起因する測定誤差の発生を抑えた信頼性の高い
移動ステージの変位量計測装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の変位量計測装置は、直線状のガイド体と、
該ガイド体に沿って非接触式に移動するスライド体とか
らなる位置決め用の移動ステージに対し、前記ガイド体
の表面にスライド体の移動方向と格子配列が一致するリ
ニアスケールを形成するとともに、該リニアスケールに
対向して検出部をスライド体に搭載して構成するものと
する。
【0007】また、前記構成の実施態様として、リニア
スケールを光学的な回折格子、検出部を光源と受光素子
からなる光電式検出ヘッドとした構成、あるいはリニア
スケールを磁気スケール、検出部を磁気式検出ヘッドと
した構成がある。
【0008】
【作用】前記の構成で、スライド体がガイド体に沿って
移動すると、スライド体と一緒に移動する検出部がガイ
ド体の表面に形成したリニアスケールを走査してガイド
体とスライド体との相対変位を検出する。しかも、検出
部はスライド体自身に組み込まれて常にスライド体と一
体に移動するので、振動,衝撃などの外乱影響による測
定誤差の発生も殆どなく、精度の高い変位測定が行え
る。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 実施例1:図1,図2は光電式エンコーダの実施例を示
すものである。図において、1はガイド体2とスライド
体3との組合わせからなる移動ステージであり、スライ
ド体3はガイド体2に対して空気圧などにより非接触式
に浮上して矢印P方向に移動する。ここで、ガイド体2
の側面にはスライド体3の移動方向Pに回折格子の配列
を一致させて形成した光学的なリニアスケール4が形成
されており、さらにリニアスケール4に対向してスライ
ド体3の側面には光電式の検出ヘッド5が搭載装備され
ている。
【0010】ここで、図2で示すように、リニアスケー
ル4はガイド体2の側面に形成した深さ100μm程度
の溝内に微小ピッチの目盛線が蒸着によりパターン形成
されている。一方、検出ヘッド5は、リニアスケール4
に向けて可干渉光束を照射する発光素子6とリニアスケ
ールからの回折光を受光する受光素子7をケース8に内
蔵して構成されており、かつスライド体3の側面に開口
した取付窓3aにケース8を対面を臨ませ、調整ばね
9,取付ねじ10を介してリニアスケール4と平行姿勢
に固定支持されている。
【0011】かかる構成で、スライド体3がガイド体2
に沿って移動すると、スライド体3に搭載した検出ヘッ
ド5がスライド体と一体に移動し、ガイド体2に形成し
たリニアスケール4を検出ヘッド5が光学式に走査して
スライド体3の変位量を測定する。なお、かかる光電式
エンコーダの動作原理は頭記した特開平2−23150
3号公報に開示されており、ここではその説明を省略す
る。
【0012】図3は前記実施例の応用例であり、リニア
スケール4の回折格子はガイド体2の平坦な側面に直接
蒸着してパターン形成されている。 実施例2:図4は磁気式エンコーダの実施例を示すもの
であり、ガイド体2の側面にはガイド体3の移動方向P
に合わせて、N極,S極が微小ピッチで交互に並ぶ磁気
スケール11を布設してリニアスケールを構成してい
る。一方、磁気スケール11に対向してスライド体3に
搭載した検出ヘッド5には、磁気スケール11の磁極ピ
ッチλに対して (n+1/4)λ(電気位相角90゜)だけ
ピッチをずらして一対の磁気ヘッド12が配置されてお
り、前記の磁気スケール11と併せて磁気式エンコーダ
を構成している。なお、13は磁気ヘッド12の励磁コ
イル、14は出力側の信号コイルである。
【0013】かかる構成で、ガイド体2に沿ってスライ
ド体3が移動すると、磁気ヘッド5がスライド体3と一
体に移動する。これにより、検出ヘッド5に内蔵した磁
気ヘッド12がガイド体側に敷設した磁気スケール11
を走査し、信号コイル14の出力信号からガイド体の変
位量が計測される。なお、かかる磁気式エンコーダの動
作原理は周知でありここではその説明を省略する。
【0014】
【発明の効果】以上述べたように本発明の構成によれ
ば、リニアスケールを固定側のガイド体に形成し、該リ
ニアスケールを走査する検出部をスライド体に搭載した
ことにより、スライド体と検出部とが常に一体に移動す
ることになる。これにより、振動,衝撃などの外乱によ
って検出部のずれ,および検出部のずれに起因する測定
誤差の発生が殆どなく、移動ステージの変位を高精度で
計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1に対応する変位計測装置を組
み込んだ移動ステージ全体の構成斜視図
【図2】図1における変位計測装置の断面図
【図3】図2の応用実施例を示す変位計測装置の構成断
面図
【図4】本発明の実施例2に対応する変位計測装置を模
式的に表した構成図
【符号の説明】
1 移動ステージ 2 ガイド体 3 スライド体 4 リニアスケール 5 検出ヘッド 6 発光素子 7 受光素子 11 磁気スケール 12 磁気ヘッド

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】固定側の直線状ガイド体と、該ガイド体に
    沿って非接触式に移動するスライド体とからなる位置決
    め用の移動ステージに対し、前記ガイド体の表面にスラ
    イド体の移動方向と格子配列が一致するリニアスケール
    を形成するとともに、該リニアスケールに対向して検出
    部をスライド体に搭載したことを特徴とする移動ステー
    ジの変位量計測装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の変位量計測装置において、
    リニアスケールが光学的な回折格子、検出部が光源と受
    光素子を組合わせた光電式検出ヘッドであることを特徴
    とする移動ステージの変位量計測装置。
  3. 【請求項3】請求項1記載の変位量計測装置において、
    リニアスケールがNS磁極を交互に配列した磁気スケー
    ル、検出部がピッチをずらして並ぶ一対の磁気ヘッドを
    組合わせた磁気式検出ヘッドであることを特徴とする移
    動ステージの変位量計測装置。
JP629293A 1993-01-19 1993-01-19 移動ステージの変位量計測装置 Pending JPH06210555A (ja)

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JP629293A JPH06210555A (ja) 1993-01-19 1993-01-19 移動ステージの変位量計測装置

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JPH06210555A true JPH06210555A (ja) 1994-08-02

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JP629293A Pending JPH06210555A (ja) 1993-01-19 1993-01-19 移動ステージの変位量計測装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160135338A (ko) * 2014-04-25 2016-11-25 메카트로닉스 아게 객체의 파지, 위치 결정 및/또는 이동 장치
CN108857579A (zh) * 2018-06-04 2018-11-23 佛山市信智宇科技服务有限公司 一种开齿装置
CN111002105A (zh) * 2019-12-19 2020-04-14 苏州东昱精机有限公司 一种加工中心测距光学尺

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