JPH06169476A - カラ−受像管のコンバージェンス測定方法および装置 - Google Patents
カラ−受像管のコンバージェンス測定方法および装置Info
- Publication number
- JPH06169476A JPH06169476A JP5145175A JP14517593A JPH06169476A JP H06169476 A JPH06169476 A JP H06169476A JP 5145175 A JP5145175 A JP 5145175A JP 14517593 A JP14517593 A JP 14517593A JP H06169476 A JPH06169476 A JP H06169476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- image converter
- electron
- distribution pattern
- screen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/44—Factory adjustment of completed discharge tubes or lamps to comply with desired tolerances
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、高い正確度でカラ−受像管の水平
方向の電子ビ−ムの位置を決定することのできる測定方
法と測定装置を得ることを目的とする。 【構成】 シャドウマスク上に予め限定された電子分布
パタ−ンを生成し、輝度分布パタ−ンを電子電荷パタ−
ンに変換する画像コンバ−タ15を使用してスクリ−ン14
上の関連する輝度分布パタ−ンを記憶し、画像コンバ−
タ15の視野内の電荷パタ−ンの位置を特徴づける変数値
を得るため電荷パタ−ンを分析装置16で分析して電子ビ
−ムの位置を測定し、それにおいて生成された電子分布
パタ−ンが数ミリメ−トル程度の寸法を有し、縁部がマ
スクスロットの長手方向に対して斜めに延在する形状、
例えば1つの頂点で立つ方形とすることによって電子ビ
ームのわずかな変位による急激な変化をなくしたことを
特徴とする。
方向の電子ビ−ムの位置を決定することのできる測定方
法と測定装置を得ることを目的とする。 【構成】 シャドウマスク上に予め限定された電子分布
パタ−ンを生成し、輝度分布パタ−ンを電子電荷パタ−
ンに変換する画像コンバ−タ15を使用してスクリ−ン14
上の関連する輝度分布パタ−ンを記憶し、画像コンバ−
タ15の視野内の電荷パタ−ンの位置を特徴づける変数値
を得るため電荷パタ−ンを分析装置16で分析して電子ビ
−ムの位置を測定し、それにおいて生成された電子分布
パタ−ンが数ミリメ−トル程度の寸法を有し、縁部がマ
スクスロットの長手方向に対して斜めに延在する形状、
例えば1つの頂点で立つ方形とすることによって電子ビ
ームのわずかな変位による急激な変化をなくしたことを
特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像コンバ−タの視野
に関する多重ビ−ムカラ−受像管の電子ビ−ムの位置測
定方法および装置に関する。
に関する多重ビ−ムカラ−受像管の電子ビ−ムの位置測
定方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】実際的にこのような方法および装置はコ
ンバージェンス誤差と垂直ラスタ−オフセットを定める
ために使用されている。コンバージェンス測定では少な
くとも2つの電子ビ−ムにより生成されるラスタ−ライ
ンの位置が測定される。位置の間の偏差はコンバージェ
ンス誤差を示す。垂直ラスタ−オフセットによって水平
ラスタ−ラインがカラ−受像管の水平中心線から垂直に
偏差する程度が決定される。
ンバージェンス誤差と垂直ラスタ−オフセットを定める
ために使用されている。コンバージェンス測定では少な
くとも2つの電子ビ−ムにより生成されるラスタ−ライ
ンの位置が測定される。位置の間の偏差はコンバージェ
ンス誤差を示す。垂直ラスタ−オフセットによって水平
ラスタ−ラインがカラ−受像管の水平中心線から垂直に
偏差する程度が決定される。
【0003】コンバージェンスおよび垂直ラスタ−位置
を測定するための装置が数年来市販されており(ドイ
ツ、ブレ−メンのイノベ−ションテクニック社)、この
装置は図7、8の図面を参照して後述されている。この
装置で行われる処理は図9、10を参照して説明され
る。
を測定するための装置が数年来市販されており(ドイ
ツ、ブレ−メンのイノベ−ションテクニック社)、この
装置は図7、8の図面を参照して後述されている。この
装置で行われる処理は図9、10を参照して説明され
る。
【0004】図7による既知の装置はカラ−受像管11の
ネックに整列されている電子ビ−ム生成システム12を駆
動するパタ−ン発生器10' と偏向装置13を備えている。
管のスクリ−ン14で生成された画像は画像コンバ−タカ
メラ15により記録され、分析装置16' により分析され
る。パタ−ン発生器10' と、画像コンバ−タカメラ15
と、分析装置16' で時間にわたって発生するシ−ケンス
はシ−ケンス制御装置17'により制御される。分析装置1
6' はRAM18、分析論理ユニット19' 、ディスプレイ2
0を有する。
ネックに整列されている電子ビ−ム生成システム12を駆
動するパタ−ン発生器10' と偏向装置13を備えている。
管のスクリ−ン14で生成された画像は画像コンバ−タカ
メラ15により記録され、分析装置16' により分析され
る。パタ−ン発生器10' と、画像コンバ−タカメラ15
と、分析装置16' で時間にわたって発生するシ−ケンス
はシ−ケンス制御装置17'により制御される。分析装置1
6' はRAM18、分析論理ユニット19' 、ディスプレイ2
0を有する。
【0005】画像コンバ−タカメラ15にはCCDコンバ
−タ21が配置されており、その構造は図8で示されてい
る。シ−ケンス制御装置17の制御下でCCDコンバ−タ
21の画像に蓄積されている電荷は読取られ、デジタル8
ビット値は電荷量に割当てられる。1つのRAMセルが
各CCD画素に対応する。RAM18の疑似アドレスはR
AMセルの配置がCCD画素の配置と対応するようにな
っている。このことからRAMに蓄積されている情報パ
タ−ンが予めCCDに蓄積されている電荷パタ−ンとス
クリ−ン14上で生成される輝度分布パタ−ンに直接対応
することが明白である。RAMはそれぞれ256 キロバイ
トに等しい1018[sic;218]セル容量を有する。
−タ21が配置されており、その構造は図8で示されてい
る。シ−ケンス制御装置17の制御下でCCDコンバ−タ
21の画像に蓄積されている電荷は読取られ、デジタル8
ビット値は電荷量に割当てられる。1つのRAMセルが
各CCD画素に対応する。RAM18の疑似アドレスはR
AMセルの配置がCCD画素の配置と対応するようにな
っている。このことからRAMに蓄積されている情報パ
タ−ンが予めCCDに蓄積されている電荷パタ−ンとス
クリ−ン14上で生成される輝度分布パタ−ンに直接対応
することが明白である。RAMはそれぞれ256 キロバイ
トに等しい1018[sic;218]セル容量を有する。
【0006】パタ−ン発生器10' により生成されるパタ
−ンはカラ−受像管の3つのカラ−のそれぞれ1つの水
平線および1つの垂直線からなる通常の格子パタ−ンで
ある。図9は垂直線の発光スクリ−ン14における見え方
を示している。
−ンはカラ−受像管の3つのカラ−のそれぞれ1つの水
平線および1つの垂直線からなる通常の格子パタ−ンで
ある。図9は垂直線の発光スクリ−ン14における見え方
を示している。
【0007】発光スクリ−ン14は蛍光ストライプR、
G、Bとその間に位置しているマトリクスストライプか
らなり、図9では狭い間隔のクロスハッチングにより示
されている。電子スポットが発光スクリ−ンと蛍光スト
ライプに衝突する点が存在し、発光は蛍光ストライプの
発光カラ−で生じる。赤光を放射するドメインは右上り
の破線ハッチング、緑光を放射するドメインは連続線の
ハッチング、青光を放射するドメインは右下りのハッチ
ングにより識別される。各発光スポットは200 μmの幅
と700 μmの高さを有する。水平方向で同一のカラ−に
属する発光スポットは810 μmの間隔で分離され、垂直
にはこれらは互いに100 μmの間隔で分離されている。
これらの値は発光スクリ−ン中心に適用される。蛍光ス
トライプおよびマトリクスストライプは外部端程広くな
る。マトリクスストライプが存在しないと同様のサイズ
比が適用される。この場合蛍光ストライプは被覆されて
いないストライプにより互いに分離されており、電子ス
ポットは蛍光ストライプ内に衝突する。
G、Bとその間に位置しているマトリクスストライプか
らなり、図9では狭い間隔のクロスハッチングにより示
されている。電子スポットが発光スクリ−ンと蛍光スト
ライプに衝突する点が存在し、発光は蛍光ストライプの
発光カラ−で生じる。赤光を放射するドメインは右上り
の破線ハッチング、緑光を放射するドメインは連続線の
ハッチング、青光を放射するドメインは右下りのハッチ
ングにより識別される。各発光スポットは200 μmの幅
と700 μmの高さを有する。水平方向で同一のカラ−に
属する発光スポットは810 μmの間隔で分離され、垂直
にはこれらは互いに100 μmの間隔で分離されている。
これらの値は発光スクリ−ン中心に適用される。蛍光ス
トライプおよびマトリクスストライプは外部端程広くな
る。マトリクスストライプが存在しないと同様のサイズ
比が適用される。この場合蛍光ストライプは被覆されて
いないストライプにより互いに分離されており、電子ス
ポットは蛍光ストライプ内に衝突する。
【0008】図9の下半分は蛍光スポットの関数として
の垂直ラスタ−ラインにより生成される画像を示してい
る。ビ−ムはスクリ−ン14を走査し、各場合に特定の位
置またはより正確には水平同期パルス後の特定時間で正
確にパルスされ、再度ブロックされる。この強度は従っ
て増加し、その後減少する。最大輝度の約10%で開始す
る強度プロフィルは図9の下半分に示されている。図9
のいずれの場合でも詳細に考慮すると2つの赤色垂直ス
トライプ、2つの緑色垂直ストライプ、2つの青色垂直
ストライプが生成され、それぞれ異なった強度を有する
ことが明白である。スクリ−ンが例えば1mの距離から
観察されると、各カラ−ストライプは認知不可能であり
代りに単一の白色バ−が生じる。しかしこのことは3つ
のビ−ムの強度プロフィルが図9で示されているように
互いに同一であるならば正しい。一方赤色蛍光ストライ
プを励起する電子ビ−ム(以後赤色電子ビ−ムと言う)
は緑色蛍光ストライプを励起する電子ビ−ム(以後緑色
電子ビ−ムと言う)に関して左にオフセットされ、青色
蛍光ストライプを励起する電子ビ−ム(以後青色電子ビ
−ムと言う)が緑色電子ビ−ムに関して右にオフセット
されると互いに間隔を隔てている3つのカラ−ラスタ−
ストライプが現れ、近くで観察するとそれぞれ810 μm
の距離で互いに分離されている2つのストライプを含
む。図9の場合3つの電子ビ−ムは水平にコンバージェ
ンスし、前述の場合ではこれらはコンバージェンスしな
い。
の垂直ラスタ−ラインにより生成される画像を示してい
る。ビ−ムはスクリ−ン14を走査し、各場合に特定の位
置またはより正確には水平同期パルス後の特定時間で正
確にパルスされ、再度ブロックされる。この強度は従っ
て増加し、その後減少する。最大輝度の約10%で開始す
る強度プロフィルは図9の下半分に示されている。図9
のいずれの場合でも詳細に考慮すると2つの赤色垂直ス
トライプ、2つの緑色垂直ストライプ、2つの青色垂直
ストライプが生成され、それぞれ異なった強度を有する
ことが明白である。スクリ−ンが例えば1mの距離から
観察されると、各カラ−ストライプは認知不可能であり
代りに単一の白色バ−が生じる。しかしこのことは3つ
のビ−ムの強度プロフィルが図9で示されているように
互いに同一であるならば正しい。一方赤色蛍光ストライ
プを励起する電子ビ−ム(以後赤色電子ビ−ムと言う)
は緑色蛍光ストライプを励起する電子ビ−ム(以後緑色
電子ビ−ムと言う)に関して左にオフセットされ、青色
蛍光ストライプを励起する電子ビ−ム(以後青色電子ビ
−ムと言う)が緑色電子ビ−ムに関して右にオフセット
されると互いに間隔を隔てている3つのカラ−ラスタ−
ストライプが現れ、近くで観察するとそれぞれ810 μm
の距離で互いに分離されている2つのストライプを含
む。図9の場合3つの電子ビ−ムは水平にコンバージェ
ンスし、前述の場合ではこれらはコンバージェンスしな
い。
【0009】図7による装置は特定の電子ビ−ムにより
生成される発光スポットドメインの輝度中心点を決定す
ることにより電子ビ−ムの位置を決定する。以下の段階
を有する処理が行われている。
生成される発光スポットドメインの輝度中心点を決定す
ることにより電子ビ−ムの位置を決定する。以下の段階
を有する処理が行われている。
【0010】シャドウマスク上に予め限定された電子分
布パタ−ンを生成し、前述の画像コンバ−タを使用して
スクリ−ン上の関連する輝度分布パタ−ンを記録し、画
像コンバ−タは輝度分布パタ−ンを電気電荷パタ−ンに
変換し、画像コンバ−タの視野内の電荷パタ−ンの位置
を種々に特徴づける値を得るために電荷パタ−ンを分析
する。
布パタ−ンを生成し、前述の画像コンバ−タを使用して
スクリ−ン上の関連する輝度分布パタ−ンを記録し、画
像コンバ−タは輝度分布パタ−ンを電気電荷パタ−ンに
変換し、画像コンバ−タの視野内の電荷パタ−ンの位置
を種々に特徴づける値を得るために電荷パタ−ンを分析
する。
【0011】この処理は図10のa、b、cにより図示さ
れている。図10のaはビ−ムが最大強度の少なくとも10
%の強度を有する範囲内の電子ビ−ムのラスタ−幅が同
一のカラ−の2つの近接する蛍光ストライプの間の距離
の2倍より少し小さい場合に関する。この文脈では示さ
れている垂直ラスタ−ストライプは緑色の蛍光ストライ
プがその幅のほぼ中心に位置するように位置され、一方
第2のストライプは丁度端部に位置される。これらのス
トライプは符号G4、G5で示される。関連する発光ス
ポットは太い垂直バ−として示されている。その時点で
発光を励起されない潜在的な発光スポットは薄い垂直バ
−により示されている。
れている。図10のaはビ−ムが最大強度の少なくとも10
%の強度を有する範囲内の電子ビ−ムのラスタ−幅が同
一のカラ−の2つの近接する蛍光ストライプの間の距離
の2倍より少し小さい場合に関する。この文脈では示さ
れている垂直ラスタ−ストライプは緑色の蛍光ストライ
プがその幅のほぼ中心に位置するように位置され、一方
第2のストライプは丁度端部に位置される。これらのス
トライプは符号G4、G5で示される。関連する発光ス
ポットは太い垂直バ−として示されている。その時点で
発光を励起されない潜在的な発光スポットは薄い垂直バ
−により示されている。
【0012】図10のbは水平線に沿ってCCD画像コン
バ−タ21により測定され、垂直方向に予め限定された数
の画素にわたって全ての信号を合計するときの輝度分布
を示している。比較的高い輝度は蛍光ストライプG5の
領域で生じ、蛍光ストライプG4の領域の輝度は低い。
輝度分布の中心点は符号S1Vで示される。
バ−タ21により測定され、垂直方向に予め限定された数
の画素にわたって全ての信号を合計するときの輝度分布
を示している。比較的高い輝度は蛍光ストライプG5の
領域で生じ、蛍光ストライプG4の領域の輝度は低い。
輝度分布の中心点は符号S1Vで示される。
【0013】図10のdは図10のaと非常に類似している
が、前述の電子ビ−ムが特に垂直中心線が図10のaの位
置MV1よりも位置MV2を占有するようにやや右に変
位されている点で異なっている。従って蛍光ストライプ
G4は前記強度領域に位置されず、代りに蛍光ストライ
プG6が認知可能な発光を生成するように励起される。
CCD画像コンバ−タ21により測定される関連する輝度
の分布は図10のcにより示されている。輝度プロフィル
の結果的な中心点は位置SV2である。
が、前述の電子ビ−ムが特に垂直中心線が図10のaの位
置MV1よりも位置MV2を占有するようにやや右に変
位されている点で異なっている。従って蛍光ストライプ
G4は前記強度領域に位置されず、代りに蛍光ストライ
プG6が認知可能な発光を生成するように励起される。
CCD画像コンバ−タ21により測定される関連する輝度
の分布は図10のcにより示されている。輝度プロフィル
の結果的な中心点は位置SV2である。
【0014】中心点SV1、SV2との間の変位は中心
線MV1から中心線MV2への電子ビ−ムの中心の実際
の変位よりかなり大きい。小さい変位にかかわらず測定
した位置は突然、比較的激しく変化する。理由は電子ビ
−ムにより書込まれたラスタ−線の大部分が全く検出さ
れず、代りに蛍光ストライプの実際に衝突する小さい領
域が可視発光を生成するからである。図10のaによる場
合では中心蛍光ストライプの左への蛍光ストライプにも
衝突するが、右への僅かな変位があると左のストライプ
には衝突しなくなり、一方中心蛍光ストライプの右のス
トライプが突然衝突されると、このことは中心ストライ
プの発光領域に加えて存在するこれらの発光領域の1.6
mmの変位を意味する。
線MV1から中心線MV2への電子ビ−ムの中心の実際
の変位よりかなり大きい。小さい変位にかかわらず測定
した位置は突然、比較的激しく変化する。理由は電子ビ
−ムにより書込まれたラスタ−線の大部分が全く検出さ
れず、代りに蛍光ストライプの実際に衝突する小さい領
域が可視発光を生成するからである。図10のaによる場
合では中心蛍光ストライプの左への蛍光ストライプにも
衝突するが、右への僅かな変位があると左のストライプ
には衝突しなくなり、一方中心蛍光ストライプの右のス
トライプが突然衝突されると、このことは中心ストライ
プの発光領域に加えて存在するこれらの発光領域の1.6
mmの変位を意味する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】僅かな変位から生じる
垂直ラスタ−ストライプの明白なジャンプは図10のa、
dを参照して示されているように同一のラスタ−ストラ
イプがCCDコンバ−タ21で記録されないで肉眼で観察
されるとき非常に明白である。それは特にラスタ−スト
ライプが狭いときに顕著である。しかし輝度中心点の分
布に関しても同様にラスタ−ストライプが広いとき片面
の発光ストライプの消滅と他方の新しい発光ストライプ
の発生は多くの発光ストライプからの光の輝度を平均す
るときほとんど影響がないことは顕著ではない。しかし
この場合、変位は低感度でのみ検出されることができ
る。その結果数ミリメ−トルの幅のラスタ−ストライプ
が肉眼を使用しての調節と図7による装置を有するCC
D画像コンバ−タを使用しての調節との両者を用いる。
これらのストライプは感度と前述の“ジャンプ”効果に
よる干渉との間での適切な妥協を表す。
垂直ラスタ−ストライプの明白なジャンプは図10のa、
dを参照して示されているように同一のラスタ−ストラ
イプがCCDコンバ−タ21で記録されないで肉眼で観察
されるとき非常に明白である。それは特にラスタ−スト
ライプが狭いときに顕著である。しかし輝度中心点の分
布に関しても同様にラスタ−ストライプが広いとき片面
の発光ストライプの消滅と他方の新しい発光ストライプ
の発生は多くの発光ストライプからの光の輝度を平均す
るときほとんど影響がないことは顕著ではない。しかし
この場合、変位は低感度でのみ検出されることができ
る。その結果数ミリメ−トルの幅のラスタ−ストライプ
が肉眼を使用しての調節と図7による装置を有するCC
D画像コンバ−タを使用しての調節との両者を用いる。
これらのストライプは感度と前述の“ジャンプ”効果に
よる干渉との間での適切な妥協を表す。
【0016】垂直方向では発光スポットは垂直方向で70
0 μmの高さであるが、互いに100μmしか分離されて
いないので電子ビ−ムが変位されているとき不適切な場
合に生じる誤差は臨界的ではない。発光および非発光ド
メインとの間の比率はそれ故7:1であり、一方水平方
向では2:8で、水平方向の測定の欠点に対する係数28
(測定および実際のビ−ム変位間の相関関係に関して)
の差を意味する。水平方向のこれらの好ましくない状況
のために既知の装置は十分な正確度で水平コンバージェ
ンスを測定することができない。
0 μmの高さであるが、互いに100μmしか分離されて
いないので電子ビ−ムが変位されているとき不適切な場
合に生じる誤差は臨界的ではない。発光および非発光ド
メインとの間の比率はそれ故7:1であり、一方水平方
向では2:8で、水平方向の測定の欠点に対する係数28
(測定および実際のビ−ム変位間の相関関係に関して)
の差を意味する。水平方向のこれらの好ましくない状況
のために既知の装置は十分な正確度で水平コンバージェ
ンスを測定することができない。
【0017】従って存在する問題は高い正確度で水平方
向の電子ビ−ムの位置を付加的に決定することのできる
多重ビ−ムカラ−受像管の電子ビ−ムの位置を測定する
ための装置および方法を提供することである。
向の電子ビ−ムの位置を付加的に決定することのできる
多重ビ−ムカラ−受像管の電子ビ−ムの位置を測定する
ための装置および方法を提供することである。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明による方法は、既
知の方法の前述の段階を有し、生成される電子分布パタ
−ンが数ミリメ−トル程度の寸法を有するものであり、
少なくとも1つの縁部がマスクスロットの長手方向に対
して斜めに延在し、関連する輝度分布パタ−ンは完全に
視野に適合するように画像コンバ−タ上にイメ−ジされ
ることを特徴とする。
知の方法の前述の段階を有し、生成される電子分布パタ
−ンが数ミリメ−トル程度の寸法を有するものであり、
少なくとも1つの縁部がマスクスロットの長手方向に対
して斜めに延在し、関連する輝度分布パタ−ンは完全に
視野に適合するように画像コンバ−タ上にイメ−ジされ
ることを特徴とする。
【0019】本発明による装置は、図7を参照して説明
された装置の機能的グル−プを具備し、数ミリメ−トル
程度の寸法を有する電子分布パタ−ンを生成するように
パタ−ン発生器が設計され、少なくとも1つの縁部がマ
スクスロットの長手方向に対して斜めに延在し、視野に
完全に適合する方法で画像コンバ−タの輝度分布パタ−
ンをイメ−ジするように画像コンバ−タカメラが設計さ
れることを特徴とする。
された装置の機能的グル−プを具備し、数ミリメ−トル
程度の寸法を有する電子分布パタ−ンを生成するように
パタ−ン発生器が設計され、少なくとも1つの縁部がマ
スクスロットの長手方向に対して斜めに延在し、視野に
完全に適合する方法で画像コンバ−タの輝度分布パタ−
ンをイメ−ジするように画像コンバ−タカメラが設計さ
れることを特徴とする。
【0020】本発明による方法は、パタ−ンの形態によ
り測定における発光効果の影響が中心から輝度パタ−ン
の端部へ減少する場合に、CCD画像コンバ−タにより
検出される輝度分布の中心点の突然の変化が除去される
ことに基づく。これは少なくとも1つの縁部がマスクス
ロットの長手方向に対して斜めに伸びるパタ−ンにより
確実に実現される。パタ−ンは頂点で立つ方形のパタ−
ン又は全ての縁部がマスクスロットに対して斜めに延在
する他のパタ−ンであることが好ましい。このようなパ
タ−ンがスクリ−ンにわたって水平に移動されるとき、
および新しい蛍光ストライプがパタ−ンに入るか、また
は前に存在していたものがパタ−ンから移動するときこ
れらの外部領域のパタ−ンの高さが非常に小さいので影
響はない。さらに、パタ−ン縁部の斜めの方向により縁
部ストライプの影響はパタ−ンから最終的に出るまでパ
タ−ン変位の増加と共に弱くなる。しかし通常のパタ−
ンではストライプはパタ−ン内にその全長にわたって存
在するかまたは全くパタ−ンに含まれないかのいずれか
である。
り測定における発光効果の影響が中心から輝度パタ−ン
の端部へ減少する場合に、CCD画像コンバ−タにより
検出される輝度分布の中心点の突然の変化が除去される
ことに基づく。これは少なくとも1つの縁部がマスクス
ロットの長手方向に対して斜めに伸びるパタ−ンにより
確実に実現される。パタ−ンは頂点で立つ方形のパタ−
ン又は全ての縁部がマスクスロットに対して斜めに延在
する他のパタ−ンであることが好ましい。このようなパ
タ−ンがスクリ−ンにわたって水平に移動されるとき、
および新しい蛍光ストライプがパタ−ンに入るか、また
は前に存在していたものがパタ−ンから移動するときこ
れらの外部領域のパタ−ンの高さが非常に小さいので影
響はない。さらに、パタ−ン縁部の斜めの方向により縁
部ストライプの影響はパタ−ンから最終的に出るまでパ
タ−ン変位の増加と共に弱くなる。しかし通常のパタ−
ンではストライプはパタ−ン内にその全長にわたって存
在するかまたは全くパタ−ンに含まれないかのいずれか
である。
【0021】本発明による方法および装置の非常に特殊
な1つの利点はカラ−受像管内の全ての電子ビ−ムのコ
ンバージェンス関係が水平および垂直の両者とも単一の
測定で検出されるようにこれらが設計できることであ
る。
な1つの利点はカラ−受像管内の全ての電子ビ−ムのコ
ンバージェンス関係が水平および垂直の両者とも単一の
測定で検出されるようにこれらが設計できることであ
る。
【0022】
【実施例】図1による本発明の装置は図7のように基本
的に組立てられるが、パタ−ン発生器、シ−ケンス制御
装置、分析論理ユニット、従って分析装置が異なった機
能を有する点で異なっており、この理由でこれらの機能
グル−プはそれぞれ10´、17´、19´、16´ではなく参
照番号10、17、19、16を有する。
的に組立てられるが、パタ−ン発生器、シ−ケンス制御
装置、分析論理ユニット、従って分析装置が異なった機
能を有する点で異なっており、この理由でこれらの機能
グル−プはそれぞれ10´、17´、19´、16´ではなく参
照番号10、17、19、16を有する。
【0023】図2のaから明白なようにカラ−受像管11
は頂点に立つ方形のパタ−ンを生成するようにパタ−ン
発生器10により駆動される。このパタ−ンは数ミリメ−
トル例えば4ミリメ−トルの端部の長さを有し、これは
通常使用されるラスタ−ストライプの数ミリメ−トルの
ストライプの幅の選択を左右するものに対応する理由の
場合である。この大きさでは図8によりパタ−ンはCC
D画像コンバ−タの視野Aによく適合する。水平方向の
関連する輝度の分布は図2bで示されている。右への僅
かな変位が生じると発光ストライプG6で生成される発
光スポットはやや長くなり一方、ストライプG4で生成
されたスポットはやや短くなる。図2dで示されている
ように右への変位が継続するとストライプG4の発光ス
ポットは最終的に消滅するまで短くされる。従ってこの
ことは漸進的な消滅を表すが図10を参照して説明され
ているように既知のパタ−ンが使用される場合の突然の
消滅は表さない。右側の新しい発光スポットが十分な長
さにわたって突然現われず代りに新しい蛍光ストライプ
に到達したとき最初に短い発光スポットが生じこれらは
右への変位が連続する程長くなる。それ故発光スポット
はCCD画像コンバ−タの視野の全長にわたって突然現
われることはできない。輝度のこれらの漸進的な変化は
それぞれ図2のa,dによるパタ−ン位置に対応する図
2のb,cの輝度プロフィルからも明白である。
は頂点に立つ方形のパタ−ンを生成するようにパタ−ン
発生器10により駆動される。このパタ−ンは数ミリメ−
トル例えば4ミリメ−トルの端部の長さを有し、これは
通常使用されるラスタ−ストライプの数ミリメ−トルの
ストライプの幅の選択を左右するものに対応する理由の
場合である。この大きさでは図8によりパタ−ンはCC
D画像コンバ−タの視野Aによく適合する。水平方向の
関連する輝度の分布は図2bで示されている。右への僅
かな変位が生じると発光ストライプG6で生成される発
光スポットはやや長くなり一方、ストライプG4で生成
されたスポットはやや短くなる。図2dで示されている
ように右への変位が継続するとストライプG4の発光ス
ポットは最終的に消滅するまで短くされる。従ってこの
ことは漸進的な消滅を表すが図10を参照して説明され
ているように既知のパタ−ンが使用される場合の突然の
消滅は表さない。右側の新しい発光スポットが十分な長
さにわたって突然現われず代りに新しい蛍光ストライプ
に到達したとき最初に短い発光スポットが生じこれらは
右への変位が連続する程長くなる。それ故発光スポット
はCCD画像コンバ−タの視野の全長にわたって突然現
われることはできない。輝度のこれらの漸進的な変化は
それぞれ図2のa,dによるパタ−ン位置に対応する図
2のb,cの輝度プロフィルからも明白である。
【0024】図3a〜dは頂点で立つ方形パタ−ンが下
方向に変位されるときの状況を同様に示している。前述
したように発光スポットはこれらが最終的にカットオフ
になるまで次第に小さくなる。従ってy方向の変位にお
いても同様に、輝度分布の変化は主要なジャンプなしで
生じる。
方向に変位されるときの状況を同様に示している。前述
したように発光スポットはこれらが最終的にカットオフ
になるまで次第に小さくなる。従ってy方向の変位にお
いても同様に、輝度分布の変化は主要なジャンプなしで
生じる。
【0025】図4は輝度分布の中心点がパタ−ンの変位
を測定するために使用される必要がないことを示してい
る。図4によると、互いに垂直で方形パタ−ンの縁部に
平行に延在する2つの測定線ML1、ML2は代りにC
CD画像コンバ−タ21により検出される画像に重ねられ
ている。輝度分析が下部から上部の測定線ML1に沿っ
て移動され、測定線ML1に垂直に延在する線で生じる
全ての輝度値が合計されると、蛍光ストライプG4の発
光スポットの下端部は点UL1で観察される。前記信号
獲得プロセスに先行して輝度値は最終的に点OR1に到
達するまで検出され続け、線ML1に垂直に見ると発光
スポットに属する画素は最終的に知覚される。点UL1
およびOR1はパタ−ンの左下部と右上部縁をそれぞれ
特徴づける。対応して、測定線ML2に沿って処理する
と2つの点UR1およびOL1が検出され、パタ−ンの
右下部と左上部端をそれぞれ識別する。パタ−ンが図4
のbで示されているように変位されると測定点UL2、
OR2はUR2およびOL2と同様に検出される。従っ
て測定線に沿った変位は限定され、x方向に対して45°
であるためにこれらの変位はxおよびy変位に簡単に変
換される。測定線の方向の処理と測定線に垂直な各線の
全ての画素値を合計することを含む前記分析は前記方向
の疑似アドレスを計算し、各疑似アドレスの下でRAM
セルを読取ることによりRAM18を使用して容易に行わ
れることができる。
を測定するために使用される必要がないことを示してい
る。図4によると、互いに垂直で方形パタ−ンの縁部に
平行に延在する2つの測定線ML1、ML2は代りにC
CD画像コンバ−タ21により検出される画像に重ねられ
ている。輝度分析が下部から上部の測定線ML1に沿っ
て移動され、測定線ML1に垂直に延在する線で生じる
全ての輝度値が合計されると、蛍光ストライプG4の発
光スポットの下端部は点UL1で観察される。前記信号
獲得プロセスに先行して輝度値は最終的に点OR1に到
達するまで検出され続け、線ML1に垂直に見ると発光
スポットに属する画素は最終的に知覚される。点UL1
およびOR1はパタ−ンの左下部と右上部縁をそれぞれ
特徴づける。対応して、測定線ML2に沿って処理する
と2つの点UR1およびOL1が検出され、パタ−ンの
右下部と左上部端をそれぞれ識別する。パタ−ンが図4
のbで示されているように変位されると測定点UL2、
OR2はUR2およびOL2と同様に検出される。従っ
て測定線に沿った変位は限定され、x方向に対して45°
であるためにこれらの変位はxおよびy変位に簡単に変
換される。測定線の方向の処理と測定線に垂直な各線の
全ての画素値を合計することを含む前記分析は前記方向
の疑似アドレスを計算し、各疑似アドレスの下でRAM
セルを読取ることによりRAM18を使用して容易に行わ
れることができる。
【0026】図4に示されている分析変化に関して、発
光スポットは次第にパタ−ンに入り次第にそこから出る
のでパタ−ンが変位されるとき測定点UL、UR、O
R、OLの急速で突然の変化は存在しないことも注目す
べきことである。
光スポットは次第にパタ−ンに入り次第にそこから出る
のでパタ−ンが変位されるとき測定点UL、UR、O
R、OLの急速で突然の変化は存在しないことも注目す
べきことである。
【0027】図2〜4はパタ−ンが連続的に変位される
ときに測定される特定の位置もある時に突然ではなく連
続的に変化することを示すのに用いられた。これは頂点
で立つ方形ではなく、マスクスロットに対して斜めに延
在する縁部を有する他のパタ−ンが使用されるときにも
同様であり、マスクスロットは発光スポットが次第にパ
タ−ンに入り次第にそこから出ることを保証する。実際
の応用で本質的なことは実際と観察された変位の間のこ
の連続的関係が非常に正確に位置測定を保証することで
ある。
ときに測定される特定の位置もある時に突然ではなく連
続的に変化することを示すのに用いられた。これは頂点
で立つ方形ではなく、マスクスロットに対して斜めに延
在する縁部を有する他のパタ−ンが使用されるときにも
同様であり、マスクスロットは発光スポットが次第にパ
タ−ンに入り次第にそこから出ることを保証する。実際
の応用で本質的なことは実際と観察された変位の間のこ
の連続的関係が非常に正確に位置測定を保証することで
ある。
【0028】実際の応用ではx方向で関心があることは
それぞれの電子ビ−ムの位置測定ではなく、互いに関す
る複数の電子ビ−ムの位置決定である。これは図5に示
されている。カラ−受像管の3つの電子ビ−ムのそれぞ
れは頂点で立つ方形パタ−ンを生成する。緑色ビ−ムに
より描かれるパタ−ンは実線により囲まれ、関連する発
光スポットは実線バ−により特徴づけられ、赤色ビ−ム
により生成されるパタ−ンは破線により囲まれており、
関連する発光スポットは破線で示され、青色ビ−ムによ
り生成されるパタ−ンは点線で囲まれ、関連する発光ス
ポットは点のついたストライプで示されている。3つの
電子ビ−ムがコンバージェンスであるならば3つのパタ
−ンは基本的に対応する。しかしこの場合にはそうでは
ない。さらにそれぞれの場合緑色緑色ビ−ムに関して赤
色および青色ビ−ムのオフセットを測定することも重要
である。この目的で3つのパタ−ンの3つの位置は独立
してそれぞれ分析されるべきである。図5によるパタ−
ンの記憶前に決定によりCCDセンサの使用でさえもこ
のことが実行され、CCD画素はその色に属する。この
目的で3つの電子ビ−ムが準備段階において連続して動
作され各画素に対応する色が記憶されるか、或るいは全
ての電子ビ−ムが同時に動作され、図9による蛍光トリ
プレットのH型パタ−ンのいう結果となり、図9の構造
は画素を種々の色に割当てることを可能にする。両者の
方法は図7による商業的に入手可能なユニットから知ら
れている。
それぞれの電子ビ−ムの位置測定ではなく、互いに関す
る複数の電子ビ−ムの位置決定である。これは図5に示
されている。カラ−受像管の3つの電子ビ−ムのそれぞ
れは頂点で立つ方形パタ−ンを生成する。緑色ビ−ムに
より描かれるパタ−ンは実線により囲まれ、関連する発
光スポットは実線バ−により特徴づけられ、赤色ビ−ム
により生成されるパタ−ンは破線により囲まれており、
関連する発光スポットは破線で示され、青色ビ−ムによ
り生成されるパタ−ンは点線で囲まれ、関連する発光ス
ポットは点のついたストライプで示されている。3つの
電子ビ−ムがコンバージェンスであるならば3つのパタ
−ンは基本的に対応する。しかしこの場合にはそうでは
ない。さらにそれぞれの場合緑色緑色ビ−ムに関して赤
色および青色ビ−ムのオフセットを測定することも重要
である。この目的で3つのパタ−ンの3つの位置は独立
してそれぞれ分析されるべきである。図5によるパタ−
ンの記憶前に決定によりCCDセンサの使用でさえもこ
のことが実行され、CCD画素はその色に属する。この
目的で3つの電子ビ−ムが準備段階において連続して動
作され各画素に対応する色が記憶されるか、或るいは全
ての電子ビ−ムが同時に動作され、図9による蛍光トリ
プレットのH型パタ−ンのいう結果となり、図9の構造
は画素を種々の色に割当てることを可能にする。両者の
方法は図7による商業的に入手可能なユニットから知ら
れている。
【0029】垂直ラスタ−偏差の測定において、画像コ
ンバ−タの視野の水平中心線HAからのy方向の偏差は
例えば緑色ビ−ム等の少なくとも1つのビ−ムで検出さ
れなけばならない。他のビ−ムの垂直変位に関しては緑
色ビ−ムまたは水平線HAを基準にする。垂直方向のこ
の分析は例えば図3で示されている方法で行われる。
ンバ−タの視野の水平中心線HAからのy方向の偏差は
例えば緑色ビ−ム等の少なくとも1つのビ−ムで検出さ
れなけばならない。他のビ−ムの垂直変位に関しては緑
色ビ−ムまたは水平線HAを基準にする。垂直方向のこ
の分析は例えば図3で示されている方法で行われる。
【0030】従って本発明による装置で単一の記憶画像
で全てのコンバージェンスおよびx、y方向のラスタ−
位置デ−タと全ての電子ビ−ムを正確に決定することが
可能である。前記パタ−ンの選択に加えて予め必要なこ
とはCCD画像コンバ−タの視野Aが図5で示されてい
るような互いに関してオフセットされるパタ−ンの場合
に全てのパタ−ンは最大製造許容度で視野内に位置する
ように設定されなければならないことである。図8によ
るCCD画像コンバ−タ21が使用され、約4mmの長さ
の辺部を有する方形パタ−ンが使用されると、これは
1:1の画像で可能である。小さい寸法のCCD画像コ
ンバ−タが使用されるとき、または例外的に大型のコン
バージェンスおよびラスタ−オフセットを有する管が試
験される必要があるならばカメラにより記憶されるパタ
−ンの画像はCCD画像コンバ−タでやや縮小されなけ
ればならない。
で全てのコンバージェンスおよびx、y方向のラスタ−
位置デ−タと全ての電子ビ−ムを正確に決定することが
可能である。前記パタ−ンの選択に加えて予め必要なこ
とはCCD画像コンバ−タの視野Aが図5で示されてい
るような互いに関してオフセットされるパタ−ンの場合
に全てのパタ−ンは最大製造許容度で視野内に位置する
ように設定されなければならないことである。図8によ
るCCD画像コンバ−タ21が使用され、約4mmの長さ
の辺部を有する方形パタ−ンが使用されると、これは
1:1の画像で可能である。小さい寸法のCCD画像コ
ンバ−タが使用されるとき、または例外的に大型のコン
バージェンスおよびラスタ−オフセットを有する管が試
験される必要があるならばカメラにより記憶されるパタ
−ンの画像はCCD画像コンバ−タでやや縮小されなけ
ればならない。
【0031】図6によるフロ−図は前述の処理シ−ケン
スが図1による装置で互いに連続する状態を示してい
る。段階s1では補正カラ−は前述の処理の1つを使用
して各CCD画素とさらに関連するRAMセルに割当て
られる。段階s2では3つのカラ−に対する3つのパタ
−ンがディスプレイされ、例えば図5でディスプレイさ
れる画像ような画像を生じる。段階s3ではカラ−赤色
Rは最初に試験される第1のカラ−Fとして設定され、
x方向が座標kとして選択される。これらのデ−タでは
カラ−Rと座標xの中心点SFkが図2を参照して説明
されるように計算される。計算された値は蓄積される
(段階s4)。段階s5では座標が値xを有するかどう
かの決定がおこなわれる。有するならば段階s6に到達
し、座標は値yに設定される。段階s4は再度実施さ
れ、それは、図3を参照して示されているようにカラ−
Rと座標yの中心点SFkがRAMデ−タから決定され
ることを意味する。計算された値は蓄積される。前述の
処理の代りにカラ−赤色のパタ−ンの中心点のx、y座
標も図4を参照して説明される処理を用いて決定され
る。
スが図1による装置で互いに連続する状態を示してい
る。段階s1では補正カラ−は前述の処理の1つを使用
して各CCD画素とさらに関連するRAMセルに割当て
られる。段階s2では3つのカラ−に対する3つのパタ
−ンがディスプレイされ、例えば図5でディスプレイさ
れる画像ような画像を生じる。段階s3ではカラ−赤色
Rは最初に試験される第1のカラ−Fとして設定され、
x方向が座標kとして選択される。これらのデ−タでは
カラ−Rと座標xの中心点SFkが図2を参照して説明
されるように計算される。計算された値は蓄積される
(段階s4)。段階s5では座標が値xを有するかどう
かの決定がおこなわれる。有するならば段階s6に到達
し、座標は値yに設定される。段階s4は再度実施さ
れ、それは、図3を参照して示されているようにカラ−
Rと座標yの中心点SFkがRAMデ−タから決定され
ることを意味する。計算された値は蓄積される。前述の
処理の代りにカラ−赤色のパタ−ンの中心点のx、y座
標も図4を参照して説明される処理を用いて決定され
る。
【0032】座標はxではないことが段階s5で明白で
あるならば段階s7はカラ−がRであるかどうかを質問
する。現在のこの例ではそうであるので、段階s8に到
達し、座標kは値xに再セットされカラ−は値Gにセッ
トされる。中心点はRパタ−ンで説明したようにGパタ
−ンに対して決定される。段階s7が再度到達するとき
カラ−はRではなく、カラ−が緑色であるかどうかを質
問する段階s9に導かれる。カラ−が緑色ならば段階s
10に到達し座標kは値xに設定され、カラ−G[si
c]がカラ−として選択される。再度中心点が前述の方
法で決定される。段階s9に再び到達するときカラ−が
緑色ではなく、段階s11に導かれ、緑色パタ−ンの中心
点に関して赤色および青色パタ−ンの中心点との間の中
心点の差が計算される。輝度分布の中心点間の差は実際
のパタ−ンの中心点間の差と正確に一致しないから、段
階12では輝度分布パタ−ンの中心点の座標間の差は実際
のパタ−ンの座標間の差に変換される。
あるならば段階s7はカラ−がRであるかどうかを質問
する。現在のこの例ではそうであるので、段階s8に到
達し、座標kは値xに再セットされカラ−は値Gにセッ
トされる。中心点はRパタ−ンで説明したようにGパタ
−ンに対して決定される。段階s7が再度到達するとき
カラ−はRではなく、カラ−が緑色であるかどうかを質
問する段階s9に導かれる。カラ−が緑色ならば段階s
10に到達し座標kは値xに設定され、カラ−G[si
c]がカラ−として選択される。再度中心点が前述の方
法で決定される。段階s9に再び到達するときカラ−が
緑色ではなく、段階s11に導かれ、緑色パタ−ンの中心
点に関して赤色および青色パタ−ンの中心点との間の中
心点の差が計算される。輝度分布の中心点間の差は実際
のパタ−ンの中心点間の差と正確に一致しないから、段
階12では輝度分布パタ−ンの中心点の座標間の差は実際
のパタ−ンの座標間の差に変換される。
【0033】スロット方向に斜めに延在する緑部を有す
る画像セグメントの使用、特に1つの頂点で立つ方形形
態の画像セグメントの使用はドイツ特許明細書DE-A-32
06 913によって別の内容で知られている。しかしここに
説明されているプロセスは形態のパタ−ンを生成するこ
とを含み、代りに垂直または水平ラスタ−線はパタ−ン
を有するマスクにより通過を許容される。垂直線が含ま
れ、水平コンバージェンス誤差が存在するならばラスタ
−線は同時にマスクに入りそこから出るのではなく、こ
れらの動作は連続して生じる。前述の形態のマスクの使
用は増加された振幅の信号に導かれ、そこから振幅の時
間にわたってオフセットが推定される。この値は非常に
正確にコンバージェンスオフセットを指示する。しかし
前述の装置の前述の形態のマスクの使用に導かれる実行
は、時間に関するプロフィルが試験されないので本発明
の場合には使用不可能であり、代りに特定パタ−ンの分
析された単一画像が記憶され、分析される。
る画像セグメントの使用、特に1つの頂点で立つ方形形
態の画像セグメントの使用はドイツ特許明細書DE-A-32
06 913によって別の内容で知られている。しかしここに
説明されているプロセスは形態のパタ−ンを生成するこ
とを含み、代りに垂直または水平ラスタ−線はパタ−ン
を有するマスクにより通過を許容される。垂直線が含ま
れ、水平コンバージェンス誤差が存在するならばラスタ
−線は同時にマスクに入りそこから出るのではなく、こ
れらの動作は連続して生じる。前述の形態のマスクの使
用は増加された振幅の信号に導かれ、そこから振幅の時
間にわたってオフセットが推定される。この値は非常に
正確にコンバージェンスオフセットを指示する。しかし
前述の装置の前述の形態のマスクの使用に導かれる実行
は、時間に関するプロフィルが試験されないので本発明
の場合には使用不可能であり、代りに特定パタ−ンの分
析された単一画像が記憶され、分析される。
【図1】管の電子ビ−ムのコンバージェンスおよびラス
タ−位置を測定するためのカラ−受像管および装置の概
略図。
タ−位置を測定するためのカラ−受像管および装置の概
略図。
【図2】CCD画像コンバ−タでイメ−ジされるとき頂
点に立つ方形発光スポットパタ−ンおよび画像コンバ−
タの水平線に沿った輝度分布の概略図。
点に立つ方形発光スポットパタ−ンおよび画像コンバ−
タの水平線に沿った輝度分布の概略図。
【図3】パタ−ンをやや右に変位した図2のaに対応す
る図と、その位置と比較してパタ−ンがやや下方向に変
位されている図と、それらの輝度分布図。
る図と、その位置と比較してパタ−ンがやや下方向に変
位されている図と、それらの輝度分布図。
【図4】コンバージェンスコンバ−タの視野内の2つの
位置のパタ−ンの図。
位置のパタ−ンの図。
【図5】各パタ−ンが3つの異なった電子ビ−ムの1つ
に属する画像コンバ−タの視野の30[sic]の部分的
にオ−バ−ラップしたパタ−ン図。
に属する画像コンバ−タの視野の30[sic]の部分的
にオ−バ−ラップしたパタ−ン図。
【図6】図1による装置により行われる処理のフロ−
図。
図。
【図7】図1に対応した既知の装置の概略図。
【図8】図7による装置のCCD画像コンバ−タおよび
関連したRAMの概略図。
関連したRAMの概略図。
【図9】スクリ−ンの蛍光ストライプおよび発光スポッ
トおよび関連する輝度測定曲線図。
トおよび関連する輝度測定曲線図。
【図10】通常のパタ−ンを使用した図2に対応する
図。
図。
フロントページの続き (72)発明者 ツェリィオ・ゼルンホルスト ドイツ連邦共和国、3100 ツェレ、テレフ ンケンシュトラーセ 3 (72)発明者 ギュンター・ベッセルス ドイツ連邦共和国、2805 シュトウーア 4、ネヒタースベルガー・シュトラーセ 7
Claims (6)
- 【請求項1】 管のスクリ−ンの輝度分布パタ−ンを生
成する電子ビ−ムと、異なったカラ−の蛍光ストライプ
を有するスクリ−ンと、シャドウマスクと、蛍光ストラ
イプの正面に存在し、蛍光ストライプ方面に延長するス
ロットとを具備し、 シャドウマスク上に予め限定された電子分布パタ−ンを
生成し、 輝度分布パタ−ンを電子電荷パタ−ンに変換する画像コ
ンバ−タを使用してスクリ−ン上の関連する輝度分布パ
タ−ンを記憶し、 画像コンバ−タの視野内の電荷パタ−ンの位置を特徴づ
ける変数値を得るため電荷パタ−ンを分析する段階を有
する画像コンバ−タの視野に関して多重ビ−ムカラ−受
像管の電子ビ−ムの位置を測定する方法において、 生成された電子分布パタ−ンが数ミリメ−トル程度の寸
法を有し、少なくとも1つの縁部がマスクスロットの長
手方向に対して斜めに延在し、関連する輝度分布パタ−
ンは視野に完全に適合するように画像コンバ−タ上にイ
メ−ジされることを特徴とするカラ−受像管の電子ビ−
ム位置の測定方法。 - 【請求項2】 電子分布パタ−ンの全ての縁部がマスク
スロットの長手方向に対して斜めに延在することを特徴
とする請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 画像コンバ−タ内の電荷パタ−ンの位置
を特徴づける変数が予め限定された方向の電荷中心点で
あることを特徴とする請求項1乃至2のいずれか1項記
載の方法。 - 【請求項4】 画像コンバ−タ内の電荷パタ−ンの位置
を特徴づける変数が予め限定された方向に垂直に延在す
る電荷パタ−ンの縁部の位置であり、基本的に全ての個
々の電荷は縁部の側面の一方の領域のしきい値より下に
位置され、基本的に全ての個々の電荷は縁部の他方の側
面の領域のしきい値より上に位置されていることを特徴
とする請求項1乃至2のいずれか1項記載の方法。 - 【請求項5】 前記パタ−ンを利用して少なくとも2つ
の電子ビ−ムの相互に関する位置を測定するための方法
において、 画像コンバ−タの輝度分布パタ−ンをイメ−ジするスケ
−ルは、全ての輝度分布パタ−ンがイメ−ジされるよう
に選択され、 光を放射する蛍光体のカラ−が画像コンバ−タの各画素
に対して決定され、 電子分布パタ−ンが測定される全ての電子ビ−ムに対し
て同時に生成され、対応する輝度分布パタ−ンの画像が
画像コンバ−タにより記憶され、 互いに垂直方向の2つの電子ビ−ムのそれぞれの場合に
種々の電子ビ−ムに対する画素の割当てを使用して記憶
された画像の前記分析が行われることを特徴とする請求
項1乃至4のいずれか1項記載の方法。 - 【請求項6】 管のスクリ−ンの輝度分布パタ−ンを生
成する前記電子ビ−ムと、異なったカラ−の蛍光ストラ
イプを有するスクリ−ンと、シャドウマスクと、蛍光ス
トライプの正面に存在し、蛍光ストライプ方向に延長す
るスロットとを具備し、 シャドウマスク上に予め限定された電子分布パタ−ンを
生成するパタ−ン発生器と、 スクリ−ン上の関連する輝度分布パタ−ンを記録するた
めの画像コンバ−タカメラと、 カメラにより記録された輝度分布パタ−ンを電気電荷パ
タ−ンに変換するための画像コンバ−タと、 画像コンバ−タ内の視野内の電荷パタ−ンの位置を特徴
づける変数の値を得るため電荷パタ−ンを分析する分析
装置と、 パタ−ン発生器と画像コンバ−タと分析装置の時間にわ
たってシ−ケンスを制御するシ−ケンス制御装置とを具
備する画像コンバ−タの視野に関する多重ビ−ムカラ−
受像管の電子ビ−ムの位置を測定する装置において、 パタ−ン発生器は数ミリメ−トル程度の寸法を有する電
子分布パタ−ンを発生し、その少なくとも1つの縁部は
マスクスロットの長手方向に対して斜めに延在し、 画像コンバ−タカメラは視野に完全に適合するように画
像コンバ−タ上に輝度分布パタ−ンをイメ−ジすること
を特徴とするカラ−受像管の電子ビ−ム位置の測定装
置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4219641A DE4219641A1 (de) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | Verfahren und Vorrichtung zur Konvergenzmessung bei einer Farbbildröhre |
DE4219641:8 | 1992-06-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06169476A true JPH06169476A (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=6461097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5145175A Pending JPH06169476A (ja) | 1992-06-16 | 1993-06-16 | カラ−受像管のコンバージェンス測定方法および装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5404164A (ja) |
EP (1) | EP0574837B1 (ja) |
JP (1) | JPH06169476A (ja) |
DE (2) | DE4219641A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL107835A (en) * | 1993-12-02 | 1996-07-23 | Genop Ltd | Method and system for testing the performance of a device for use with an electro-optical system |
US6097355A (en) * | 1997-11-17 | 2000-08-01 | Image Processing Systems, Inc. | Purity/beam landing error measurement method for electronic display devices |
US6058221A (en) * | 1998-01-16 | 2000-05-02 | Image Processing Systems, Inc. | Electron beam profile measurement method and system |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4093960A (en) * | 1974-11-14 | 1978-06-06 | American Technology Corporation | Test signal generating system and method |
NL7903468A (nl) * | 1979-05-03 | 1980-11-05 | Philips Nv | Inrichting voor het meten en werkwijzen voor het meten en instellen van de convergentie van de elektronen- bundels in kleurenbeeldbuizen. |
FR2480032A1 (fr) * | 1980-04-02 | 1981-10-09 | Videocolor | Procede d'analyse de la convergence d'un tube cathodique a trois canons en ligne et dispositif formant capteur permettant la mise en oeuvre de ce procede |
DE3206913A1 (de) * | 1982-02-26 | 1983-09-22 | Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart | Messkopf zur erfassung der farbreinheit und der konvergenz bei einer farbbildroehre |
FR2526963B1 (fr) * | 1982-05-14 | 1985-09-27 | Thomson Csf | Mire optique pour correction des defauts de convergence d'une camera couleurs |
JPS5974781A (ja) * | 1982-10-21 | 1984-04-27 | Toshiba Corp | カラ−受像管のコンバ−ゼンス測定方法およびその測定装置 |
DE3328838C2 (de) * | 1983-08-10 | 1995-02-16 | Nokia Deutschland Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Konvergenzeinstellung bei Farbbildröhren |
JPS62144491A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-27 | Toshiba Corp | パタ−ン発生装置 |
FR2611083B1 (fr) * | 1987-02-13 | 1989-05-05 | Videocolor | Procede de mesure automatique de convergence et de determination des corrections a apporter a des deviateurs pour tubes cathodiques trichromes, et machine de mise en oeuvre |
DE3810432A1 (de) * | 1988-03-26 | 1989-10-12 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des dynamischen konvergenzfehlers bei einer farbbildroehre |
JP2814648B2 (ja) * | 1990-02-14 | 1998-10-27 | ソニー株式会社 | 映像装置の表示特性測定方法と装置 |
-
1992
- 1992-06-16 DE DE4219641A patent/DE4219641A1/de not_active Withdrawn
-
1993
- 1993-06-08 US US08/073,313 patent/US5404164A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-11 DE DE59302571T patent/DE59302571D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-11 EP EP93109342A patent/EP0574837B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-16 JP JP5145175A patent/JPH06169476A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0574837A1 (de) | 1993-12-22 |
DE59302571D1 (de) | 1996-06-20 |
EP0574837B1 (de) | 1996-05-15 |
US5404164A (en) | 1995-04-04 |
DE4219641A1 (de) | 1993-12-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6198514B1 (en) | Color misconvergence measurement using a common monochrome image | |
JPH06169476A (ja) | カラ−受像管のコンバージェンス測定方法および装置 | |
US5432549A (en) | Process and device for measuring targeting in color picture tubes | |
US5323231A (en) | Device and process for measuring an electron density distribution in a cathode ray tube with an image converter camera and a sequence controller | |
JP3283957B2 (ja) | カラー陰極線管の輝線幅測定方法 | |
JP2001008240A (ja) | Crtのルミナンス特性測定装置 | |
KR20010034160A (ko) | 전자 빔 프로파일 측정 방법 및 시스템 | |
JP2863163B2 (ja) | カラー受像管のミスコンバーゼンス量測定方法 | |
US6495976B2 (en) | Color purity measuring method and color purity measuring apparatus | |
JP3269166B2 (ja) | カラーブラウン管の画質測定装置及びその方法 | |
JP3119206B2 (ja) | ビーム形状の測定方法及びビーム形状測定装置 | |
JP2679399B2 (ja) | カラーブラウン管のビーム形状測定装置 | |
JP2779818B2 (ja) | カラーcrtのコンバーゼンス測定装置 | |
JPH0646543B2 (ja) | 受像管のコンバージェンス測定方法 | |
JP3217515B2 (ja) | カラー陰極線管のスポットサイズ測定装置 | |
JP3159240B2 (ja) | ビーム形状測定装置及びビーム形状測定方法 | |
KR100377350B1 (ko) | 씨알티의 컨버전스 측정방법 및 그 장치 및 그 측정방법에적용되는 영상신호 발생장치 | |
JP2807530B2 (ja) | コンバーゼンス計測方法およびその装置並びに調整支援装置 | |
JPH05275013A (ja) | カラー陰極線管の輝線幅測定方法 | |
JP2000186921A (ja) | 陰極線管のビーム形状測定方法および装置 | |
JPH08256363A (ja) | カラー陰極線管の輝線幅測定方法 | |
JP2001359128A (ja) | ミスコンバージェンス測定装置 | |
JP2003111109A (ja) | カラー陰極線管のコンバーゼンス測定方法 | |
JP2001004490A (ja) | Crtの表示特性測定装置 | |
JPH10308955A (ja) | 電子ビーム形状測定装置 |