JPH0611670A - 光強度変調素子および光強度変調器 - Google Patents

光強度変調素子および光強度変調器

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JPH0611670A
JPH0611670A JP4167227A JP16722792A JPH0611670A JP H0611670 A JPH0611670 A JP H0611670A JP 4167227 A JP4167227 A JP 4167227A JP 16722792 A JP16722792 A JP 16722792A JP H0611670 A JPH0611670 A JP H0611670A
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JP
Japan
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optical waveguide
light
modulator
light intensity
optical
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JP4167227A
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Tatsuro Kanetake
達郎 金武
Masafumi Kiguchi
雅史 木口
Morio Taniguchi
彬雄 谷口
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/015Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction
    • G02F1/017Structures with periodic or quasi periodic potential variation, e.g. superlattices, quantum wells
    • G02F1/01708Structures with periodic or quasi periodic potential variation, e.g. superlattices, quantum wells in an optical wavequide structure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光アイソレーターを特別に用意しなくとも充
分に戻り光の少ない光強度変調器を簡便な方法で提供す
ること 【構成】 変調器10は、結晶の光軸が上下方向に対し
45度傾いた二枚の平行配置の四分の一波長板22、2
4と、透過軸が上下方向に平行な直線偏光子26と、光
導波路20とからなる。光導波路は、金電極120、p
ドープGaAs基板121、GaAs/AlGaAs超
格子層123、nドープGaAs層124からなる。変
調器は外部からの適当なバイアス電圧を持つ電気信号1
4で駆動され、上下方向に偏光した半導体レーザー11
からの光を強度変調する。13、15は結合用のレンズ
であり、変調器からでた光は光ファイバー16に入射さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバー通信系等
において用いられ、入射したコヒーレント光の出射強度
を電気信号で制御する光強度変調素子および光強度変調
器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光通信の分野において、電気信号により
光強度を高速で制御する技術は、将来のキーテクノロジ
ーになるものとして活発な開発が進められている。この
高速光強度変調を実現するための手段として、大別して
二通りの方法が模索されている。
【0003】一つは、光源である半導体レーザーの駆動
電流を直接変調することによるものである。この方法に
は構成が容易という利点がある。しかしながら、半導体
レーザーの駆動電流のON、OFF操作を行うため、レ
ーザー発振状態の変化、特にレーザー発振波長の拡がり
を必然的に伴う。このレーザー発振波長の拡がり(波長
チャーピング)は、ファイバーの波長分散による伝送距
離の制限を招くために、長距離伝送を行う際の重大な問
題と成っている。
【0004】高速光強度変調のためのいま一つの方法
は、電気光学効果による外付け型の光強度変調器を利用
するものであり、ニオブ酸リチウムを始めとする強誘電
体材料や半導体超格子からなる多重量子井戸(MQW)
を用いた素子が報告されている。特に、デバイス化した
際に、後者は前者を凌駕する性能指数を有するため、活
発な開発が続けられている。
【0005】多重量子井戸(MQW)を用いた光強度変
調素子としては、励起子光吸収を用いた例(Wood T.
H., Burrus Jr. C.A., Miller D.A.B., Chemla D.S., D
amen T.C., Gossard A.C., and Wiegmann W.: "High-Sp
eed Optical Modulation withGaAs/GaAlAs Quantum we
lls in a p-i-n Diode Structure", Appl. Phys. Lett.
44 (1984) 16.)があり、100ps前後の応答速度と
20〜30%程度の変調度が報告されている。更に、導
波路構造を採用することにより、10GHz以上の動作
上限周波数を持ち、変調度が90%を超える素子も報告
されている。(たとえば、Wood T. H., Burrus C.A., T
ucker R.S., Weiner J.S., Miller D.A.B.,Chemla D.
S., Damen T.C., Gossard A.C., and Wiegmann W.: "10
0psWaveguide Multiple Quantum Well(MQW) Optical Mo
dulator with 10:1 on/offratio", Electron. Lett. 21
(1985) 693.)しかしながら、外部電界による励起子光
吸収の変化を用いたこれらの素子には、ファイバーによ
る長距離伝送にあたっての問題点がある。すなわち、変
調度を稼ぐために、外部電界による大きな光吸収変化を
示す励起子共鳴周波数付近に光搬送波の周波数を設定す
ると、外部電界により大きな屈折率変化も同時に生ずる
点である。なんとならば、屈折率変化を伴った吸収強度
の時間変化は、搬送波及び側帯波の周波数の拡がり(波
長チャーピング)が生じ、やはりファイバーの波長分散
による伝送距離の制限を招くからである。
【0006】この困難を避けるために、励起子共鳴周波
数よりも低周波数側の光吸収の弱い領域に搬送波の周波
数を設定し、外部電界による屈折率変化だけを利用し
て、光強度変調を行う素子が考えられる。この場合に
は、外部電界による光吸収変化を殆ど伴わないので、波
長チャーピングは抑制されることになる。
【0007】また、干渉計構成を採ることにより、外部
電界による屈折率変化だけでも充分な変調度を得ること
ができる。このような光強度変調器としては、光導波路
によりMach-Zehnder干渉計を構成した例(Walker R.G.:
"High-Speed III-VSemiconductor Intensity Modulat
ors", IEEE J. of Quantum Electron.,QE-27 (1991) 65
4.)があり、36GHz程度の動作上限周波数を持つ素
子が報告されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法による光強
度変調素子では、変調素子からの戻り光の低減が見落と
されていた。特に、光導波路により光強度変調素子を構
成した場合には、出射強度が零となる時に入射した光の
一部が戻り光となる。また、変調素子端面からの反射光
も戻り光となる。
【0009】このような戻り光強度が半導体レーザー出
力の約0.1%を超えるとレーザーの動作状態が不安定
となり、モードホッピングなどの発振波長の変動が生じ
たり、あるいは低周波領域での雑音の増大が起こったり
することが知られている。
【0010】言うまでもなく、このような現象は光通信
を行う上で望ましいものではない。そこでシステムを構
成する際には、搬送波光源である半導体レーザーと光強
度変調器との間に、光アイソレーターを置くことが必要
となる。
【0011】本発明の一つの目的は、このような光アイ
ソレーターを別に用意しなくとも、充分に戻り光の少な
い光強度変調器を簡便な方法で提供することにある。
【0012】本発明の一つの目的は、変調器を構成する
光導波路部分の構造を、大幅に簡略化しながら、且つ同
等の特性を有する光強度変調器を提供することにある。
【0013】本発明のさらに他の目的は、このような光
強度変調器を構成にするに好都合な光強度変調素子を提
供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的は、点群 ̄43
m(4バー3エム)又は点群 ̄42m(4バー2エム)
に属する半導体で形成され、かつ光の伝播方向が結晶面
110又は結晶面−110方向と並行であるようなTM
00及びTE00の二つの導波モードを持つチャンネル型光
導波路を備え、該光導波路の外部から結晶面001方向
に並行に電界を印加して光導波路における屈折率変化の
大きさを両モードについて異なるようにした光強度変調
素子、さらには、これの光導波路の光入射側に置かれた
1/4波長板、とこの光導波路の光出射側に置かれた二
色性円偏光板とから構成され、光導波路の屈折率変化の
ために電界を印加する手段を備える光強度変調器により
実現できる。
【0015】特許請求の範囲及びここでは表記の困難さ
と誤解を避けるため、点群の表記を4バー3エム又は4
バー2エムのように括弧書きを付加した。点群の表記と
してはバーの位置は適切でないが、以下簡便のために括
弧書きは省略する。
【0016】
【作用】本発明の光強度変調素子における光導波路は、
点群 ̄43m又は点群 ̄42mに属する半導体から成
る。このようなバルクの半導体にはガリウム砒素、ガリ
ウムリン、アルミニウム砒素、アルミニウムリン、イン
ジウムリン、ガリウム砒素とアルミニウム砒素の混晶、
ガリウムリンとインジウムリンの混晶、インジウム、ガ
リウム砒素とリンの混晶(4元)、テルル化亜鉛、テル
ル化カドミウムなどがある。また、ガリウム砒素層とア
ルミニウム砒素およびガリウム砒素混晶層とからなる
(001)面に並行なヘテロ界面を持つ超格子、又はイ
ンジウム砒素およびガリウム砒素混晶層とインジウム砒
素およびアルミニウム砒素混晶層とからなる結晶面00
1に並行なヘテロ界面を持つ超格子、又はインジウム砒
素・ガリウム砒素混晶層とインジウム・リン層などとか
らなる結晶面001に並行なヘテロ界面を持つ超格子
は、巨視的にみると、点群 ̄42mの対称性を持つた
め、本発明の光導波路に用いることができる。
【0017】図1に本発明による光強度変調器の構成の
一例を示した。この構造による光強度変調の原理と、こ
の構造を採用することによる利点とを以下に詳しく述べ
るが、本発明で用いられる光強度変調素子としての光導
波路について先に説明する。
【0018】この光導波路の幾何学的配置の一例を図2
に示した。図2においては、光導波路を形成するチャン
ネル層2がp型半導体からなるクラッド層1とn型半導
体からなるクラッド層3とで挾み込まれたpin構造と
されている。これらクラッド層1、3間に電界をかける
ことによって、チャンネル層2に外部電界を印加する
が、図では簡単化のためにこの電極は省略した。これら
は基板4の上に形成される。光導波路は点群 ̄43m又
は点群 ̄42mに属する半導体で形成され、例えばp型
半導体からなるクラッド層1はpドープGaAlAs混
晶層、n型半導体からなるクラッド層3はnドープGa
AlAs混晶層で形成され、チャンネル層2はGaAs
及びAlGaAsよりなる超格子層で形成され、基板4
はGaAs基板とされる。
【0019】この光導波路での光の伝播方向は結晶面1
10又は結晶面−110方向と並行である。この例で
は、結晶面−110方向(Y’軸方向)に光が伝播して
いる。変調用の外部電界は結晶面001方向(四回回反
軸方向)に並行に印加される。
【0020】さて、点群 ̄42mに属し、導波層を形成
する物質の一次電気光学テンソルγ、及び二次電気光学
テンソルgは、それぞれ次式の数式で表される。
【0021】
【数1】
【0022】
【数2】
【0023】また、点群 ̄43mに属する系では、上式
の数1、数2で表されたテンソルの成分間に、さらに次
式に示される関係が成立する。
【0024】
【数3】
【0025】そこで、これ以降では、点群 ̄43mに属
する物質では、数3のようにテンソル成分を読み換える
ことにすれば、物質が点群 ̄42mに属するとして一般
性を失わない。
【0026】いま、外部電界Fzが結晶面001方向
(四回回反軸方向)に並行に印加されると、導波層を形
成する物質の屈折率楕円体は以下に示す式、数4から数
5へと変化し、z軸に関して45度回転した座標系
x’、y’、zを用いて、数6のように表される。
【0027】
【数4】
【0028】
【数5】
【0029】
【数6】
【0030】この式、数6は、外部電界を印加しても、
誘電主軸:x’、y’、zの方向が不変であることを意味
し、外部電界印加時にも、TE、TMモード間でモード
間結合の起こらないことを保証している。また、数6よ
りわかるように、外部電界Fzにより導波層部の屈折率
は、数7、数8および数9のように変化する。
【0031】
【数7】
【0032】
【数8】
【0033】
【数9】
【0034】ここで、no、neはそれぞれ導波層を形成
する物質の常光、異常光についての屈折率を現わす。し
たがって、導波路長をLとすれば、結晶面−110方向
に伝播するTE、TMモードの光についての外部電界に
よる位相変化は、それぞれ次の式、数10および数11
で現わされる。
【0035】
【数10】
【0036】
【数11】
【0037】なお、結晶面110方向に伝播する場合に
は、TEモードの位相変化は次の式、数12で記述され
る。
【0038】
【数12】
【0039】ここで、ΓTE、ΓTM は導波路の構造によ
り定まる定数である。
【0040】このように外部電界による位相変化がT
E、TMモードについて異なることを利用すれば、外部
電界の有無に応じて導波路に入射する偏光状態が変化す
る素子を構成することができる。そのような素子の一例
として、導波路長Lを次式の数13を満たすようにとれ
ば、右回り(左回り)円偏光を入射した導波路より出射
される光は、外部電界のない時、やはり右回り(左回
り)の円偏光となる。ここで、βTE、βTM は、それぞ
れTE、TMモードの伝播定数である。
【0041】
【数13】
【0042】この導波路に外部電界を印加すると、T
E、TMモードを伝播する光に次の式、数14または数
15で記述される位相差が生じる。
【0043】
【数14】
【0044】
【数15】
【0045】この位相差がπの奇数倍となるまで外部電
界を印加した時、導波路から出射される光は、入射光と
は反対の方向にまわる円偏光となる。従って、出射側に
二色性円偏光素子を置けば、外部電界により透過光強度
を制御することができることになる。
【0046】図1には、以上の原理に基づいて、できる
だけ損失の少なくなるように設計された光強度変調器の
構成の一例を示す。
【0047】20は図2に示す光導波路を持つ光強度変
調素子であり、その両側に1/4波長板22、24が配
置され、さらに1/4波長板24の出射側には直線偏光
子26が設けられる。光強度変調素子20の光導波路に
は適当な信号電圧源28とスイッチ30により、外部電
界を加えたり、外部電界を加えなかったりできるように
される。32は光路を示し、当然、1/4波長板22、
光強度変調素子20の光導波路、1/4波長板24、直
線偏光子26の中心を貫くものとされる。
【0048】図1(a)、(b)はそれぞれ外部電界の
無い場合と、ある場合とについての偏光状態を説明する
ものである。
【0049】この例では、横方向に偏光(線21で示
す)した被変調光が四分の一波長板22を通ることで左
回り円偏光(線23で示す)となり、その偏光状態で光
導波路を通過する。光導波路を通過する際に、変調用の
外部電界が印加されていなければ(a)に示すように偏
光状態は変わらず左回り円偏光(線25で示す)とな
り、また外部電界が印加されていれば(b)に示すよう
に右回り円偏光(線27で示す)となる。
【0050】この光が、四分の一波長板24と直線偏光
子26とから構成された出射側の二色性円偏光子に入射
する。光が左回り円偏光の時、すなわち外部電界が印加
されぬ時、光は透過しない。一方、光が右回り円偏光の
時、すなわち外部電界が印加された時、光は透過し、透
過光は鉛直方向に偏光した直線偏光となる。すなわち、
電気信号によって変調された光信号を得ることができる
のである。
【0051】この場合の光の損失は、導波路内での吸収
損失と各素子表面での反射損失だけで、適当な設計によ
り充分に減らすことができる。なお、他の変調器構成の
例として、変調器を構成する直線偏光子の透過軸を鉛直
方向にすれば、変調用の外部電界が印加されぬとき光が
透過し、印加されたとき透過しないような光強度変調器
をすることもできる。
【0052】更に、ここで述べられたような四分の一波
長板22、24は、実効波数の異なるTM00及びTE00
の二つの導波モードを持つチャンネル型光導波路で、そ
の導波路長を適当な長さに設定することにより作製する
ことができる。この四分の一波長板を用いれば、一体化
された光強度変調器を作製することも可能であり、この
実施例については追って説明する。
【0053】次に、このように構成された光強度変調器
が従来の光強度変調器構成の変調器と同等の性能を持つ
ことを述べる。
【0054】広帯域光変調器の要求される基本的な性能
には、(1)平坦な周波数応答を有するバンド幅が広い
こと、(2)駆動電力が少ないこと、(3)光学系への
挿入損失が少ないこと、及び(4)要求される周波数帯
で戻り光が充分に少ないことが挙げられる。
【0055】これらのうち、(1)のバンド幅について
は、半導体超格子自体の外部電場に対する時間応答特性
が、使用される周波数帯よりはるか広域に及んでいるた
め、これを制限している主要な要因は外部電場を印加す
る電極部の時間応答特性である。この特性は、従来の光
強度変調器で試みられているように、マイクロストリッ
プライン電極を構成して進行波の型で外部電場を印加す
ることで、従来の変調器と同程度まで改善することが可
能である。
【0056】また、(2)の駆動電力については、以下
に述べるように、適当な構成にすることにより従来型と
比べて有利となる。実際、二本の導波路の二光束分割し
て干渉させる従来型の光変調器では、外部電界印加によ
る屈折率変化が前述の式、数10(結晶面−110方向
に伝播するTEモードの場合)、数11(結晶面−11
0、結晶面110方向に伝播するTMモードの場合)、
数12(結晶面110方向に伝播するTEモードの場
合)と記述される。
【0057】これに対して、本発明の変調器の外部電界
印加による屈折率変化は、前述の式、数14(結晶面−
110方向に伝播する場合)、数15(結晶面110方
向に伝播する場合)と記述される。
【0058】例えば、ガリウム砒素とアルミニウム砒素
およびガリウム砒素混晶の超格子からなる導波路では、
後述する実施例の測定データ(光導波路20の電気光学
テンソルについて、その光波長依存性を測定した結果)
である図4に示す様に、波長0.88μmにおいて、成
分γ63=3.0/1011(cm/V#)成分g13=1.
2/1016(cm2/V2)、成分g33=−0.6/10
16(cm2/V2)となる。このとき、前述の式、数14
で記述される屈折率変化は、前述の式、数10、数1
1、数12で記述される屈折率変化のいずれよりも大き
くなる。すなわち、本発明の変調器では、より少ない印
加電界により同等の屈折率変化を生じせしめることが可
能な訳で、従来の光強度変調器と比べて有利となる。
【0059】挿入損失については、適当な光学系の設計
により、充分に低減させることが可能である。
【0060】さらに、戻り光の低減化という点では、従
来型と比べてはるかに有利となる。すなわち、本発明に
よる変調器構成を採ることにより、特別な光アイソレー
ターを用いることなく、戻り光強度を大幅に低減させる
ことが可能となる。
【0061】まず、導波路入射端での端面反射は、反射
光の偏光状態が入射光と逆回りの円偏光となるため、四
分の一波長板を通って被変調光とは垂直な直線偏光とな
って戻ることとなるので、半導体レーザーの発振モード
とは直接結合することがない。
【0062】また、変調出力がゼロとなるとき、従来型
の光強度変調素子構成の変調器では導波路に入射した光
は100%反射されて戻ることになるが、本発明の変調
器では導波路射出側に置かれた直線偏光子により吸収な
いしは屈折されることで阻止されるので、戻り光となる
ことがない。
【0063】更に、本発明による変調器構成を採ること
により、従来型の光強度変調器に必要とされた光分割
部、二本の光導波部および光結合部からなる複雑な光導
波路を作製する必要がなくなり、工程の低減を図ること
ができる。
【0064】
【実施例】図3(a)に本発明の変調器の光通信での使
用例としての一実施例を示す。先の原理に基づいた光変
調器は図中の10で示される。これには、図中上下方向
に偏光した(矢印12で示す)半導体レーザー11から
の光を結合用のレンズ13を通して加え、光変調器10
で外部からの電気的な信号14に応じて強度変調する。
光変調器10で強度変調された光は結合用のレンズ15
を通して光ファイバー16に入射される。光変調器10
には、図1で説明したように、変調器10は、結晶の光
軸が図中上下方向に対して45度傾いた二枚の平行配置
の四分の一波長板22、24と、透過軸が図中上下方向
に平行な直線偏光子26と、光導波路20とからなる。
ここで17は適当なバイアス電圧を印加するための直流
電源で、電気的な信号14に重畳されて光変調器10に
与えられるものであり、光導波路20内のTE、TMモ
ードの光の感ずる屈折率が前述の式、数13で示した動
作点に当たるように調整する為のものである。本実施例
における光導波路20は、図2に示すものと同じでも良
いが、この例では、図3(b)に示すような構造とし
た。すなわち、GaAs基板120上に、pドープGa
AlAs層121、GaAsおよびAlGaAs超格子
層122、nドープGaAlAs層123からなる積層
構造とされ、nドープGaAlAs層123の上面とG
aAs基板120の裏面とに合金電極層が設けられ、こ
れに電気信号を印加するための電線が接続される。
【0065】図4には、作製された光導波路20の一つ
について電気光学テンソルについての光波長依存性を測
定した結果を示す。測定は、文献(M.Glick, F.K.Reinh
art,G.Weimann, W.Schlapp, Appl. Phys. Lett. 48 (19
86) 989.)に記載されている方法で行った。図4(a)
は横軸に波長を取り、縦軸にγΓを取ったものであり、
TEモードの曲線がTEモードにおけるγ63ΓTEを示
す。TMモードでは、原理的にγΓは零となるべきもの
であるが、測定誤差の範囲内のデータが実測値として出
ている。図4(b)は、同様に、横軸に波長を取り、縦
軸にγΓを取ったものであり、TEモードの曲線がTE
モードにおけるg33ΓTE、TMモードの曲線がTMモー
ドにおけるg13ΓTMを示す。図から分かるように比較的
大きな電気光学定数を示すことが明らかである。また、
同時に作製された同一条件での試料について、波長:
0.88μmでの屈折率no、neの測定結果は、それぞ
れ3.528、3.522であった。
【0066】このような特性を持つ光導波路を用いて、
光変調器10を形成し、その光変調器の波長0.88μ
mでの変調された光強度の外部電界依存性を測定した結
果を図5に示す。横軸には外部電界の大きさを取り、縦
軸には規格化された光強度を取ったものである。光強度
の規格化は最大透過光強度を1とした。図から、90%
以上に及ぶ変調度が得られていることが分かる。さら
に、四分の一波長板22に反射防止コートを行ったと
き、この変調器の戻り光強度は入射光強度に対して約
0.1%程度であった。
【0067】実効波数の異なるTM00及びTE00の二つ
の導波モードを持つチャンネル型光導波路を用いて微小
な波長板を作製した他の実施例を説明する。この実施例
では、その導波路長を制御することにより、四分の一波
長板とした。導波路の構成は、図3の導波路とほぼ同様
である。図6には、偏光方向の異なる00モードだけが
導波する単一モードの導波路をGaAlAsより作製す
るために用いた作製条件を示した。横軸は実効波数で、
導波層の厚さdと関係する。縦軸は導波路の幅wをdで
割ったアスペクト比である。図6(a)がTEモード
の、図6(b)がTMモードの条件をを示し、それぞれ
図中のA及びBの領域にあるとき単一モードの導波路と
なる。両領域に共通する部分が必要な条件である。実際
には、V=1.1,アスペクト比=4の条件で作製を行
った。このとき必要な導波路長は約70μmであった。
このときのpドープGaAlAs層121、超格子層1
22およびnドープGaAlAs層123の組成比率は
それぞれp−Ga0.7Al0.3As、Ga0.7Al0.3As
およびn−Ga0.7Al0.3Asであった。
【0068】図7に他の実施例として、一体導波路型光
変調器を作製した例を示す。これは、上記変調器を構成
する部品のうちの四分の一波長板と光の位相変調を行う
光導波路部とを同一基板上に作製したものである。13
0は基板であり、20、22および24は図3における
導波路、四分の一波長板、四分の一波長板である。この
四分の一波長板は、TE、TMモード間の屈折率差を利
用したものである。今回作製された導波路では、導波路
長:約37μmでπ/4の位相差を生じた。この素子の
変調度は約50%程度に及び、且つ戻り光強度は入射光
強度の約0.5%程度であった。
【0069】なお、このような光位相シフト素子は、光
変調器以外の光集積回路にも使用することができる。ま
た、この位相シフト素子は、ニオブ酸リチウム、タンタ
ル酸リチウムなどの絶縁体結晶でも作製することが可能
である。
【0070】
【発明の効果】実施例1に見られるように、波長:0.
88μmにおいて90%以上に及ぶ変調度を示す変調器
で、しかも四分の一波長板22に反射防止コートを行っ
たとき、戻り光強度が入射光強度に対して約0.1%程
度の光強度変調器が得られた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例について(a)は外部電界のな
い場合の偏光状態、(b)は外部電界のある場合の偏光
状態を説明する図
【図2】光強度変調器に用いられる本発明の実施例の光
導波路の一つを示す図
【図3】(a)は本発明の実施例の光導波路の使用例を
示す図、(b)は本発明の光導波路の他の実施形態を説
明する図例の
【図4】作成されたGaAs/AlGaAs超格子導波
路の波長依存性の一例を説明する図
【図5】変調器の透過光強度の印加電界強度依存性の一
例を説明する図
【図6】単一モードGaAlAs超格子導波路の作成に
必要な条件の一例を説明する図
【図7】一体導波路型強度変調器の実施例を示す図
【符号の説明】
11 シングルモード半導体レーザー 13 レンズ 15 レンズ 14 変調シグナル 17 バイアス電源 16 光ファイバー 10 光強度変調器 22 四分の一波長板 20 光導波路 24 四分の一波長板 26 直線偏光子 120 GaAs基板 121 pドープGaAlAs混晶層 122 GaAs/AlGaAs超格子層 123 nドープGaAlAs混晶層 124 合金電極層 125 電線
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年4月20日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項2
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的は、点群 ̄43
m(4バー3エム)又は点群 ̄42m(4バー2エム)
に属する半導体で形成され、かつ光の伝播方向が結晶の
110方向又は結晶の−110方向と並行であるような
TM00及びTE00の二つの導波モードを持つチャンネル
型光導波路を備え、該光導波路の外部から結晶の001
方向に並行に電界を印加して光導波路における屈折率変
化の大きさを両モードについて異なるようにした光強度
変調素子、さらには、これの光導波路の光入射側に置か
れた1/4波長板、とこの光導波路の光出射側に置かれ
た二色性円偏光板とから構成され、光導波路の屈折率変
化のために電界を印加する手段を備える光強度変調器に
より実現できる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正内容】
【0016】
【作用】本発明の光強度変調素子における光導波路は、
点群 ̄43m又は点群 ̄42mに属する半導体から成
る。このようなバルクの半導体にはガリウム砒素、ガリ
ウムリン、アルミニウム砒素、アルミニウムリン、イン
ジウムリン、ガリウム砒素とアルミニウム砒素の混晶、
ガリウムリンとインジウムリンの混晶、インジウム、ガ
リウム、砒素とリンとからなる4元混晶半導体、テルル
化亜鉛、テルル化カドミウムなどがある。また、ガリウ
ム砒素層とアルミニウム砒素およびガリウム砒素混晶層
とからなる(001)面に並行なヘテロ界面を持つ超格
子、又はインジウム砒素およびガリウム砒素混晶層とイ
ンジウム砒素およびアルミニウム砒素混晶層とからなる
結晶面001に並行なヘテロ界面を持つ超格子、又はイ
ンジウム砒素・ガリウム砒素混晶層とインジウムリン層
などとからなる結晶面001に並行なヘテロ界面を持つ
超格子は、巨視的にみると、点群 ̄42mの対称性を持
つため、本発明の光導波路に用いることができる。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】この光導波路での光の伝播方向は結晶の1
10方向又は結晶の−110方向と並行である。この例
では、結晶の−110方向(Y’軸方向)に光が伝播し
ている。変調用の外部電界は結晶の001方向(四回回
反軸方向)に並行に印加される。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0026
【補正方法】変更
【補正内容】
【0026】いま、外部電界Fzが結晶の001方向
(四回回反軸方向)に並行に印加されると、導波層を形
成する物質の屈折率楕円体は以下に示す式、数4から数
5へと変化し、z軸に関して45度回転した座標系
x’、y’、zを用いて、数6のように表される。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0034
【補正方法】変更
【補正内容】
【0034】ここで、no、neはそれぞれ導波層を形成
する物質の常光、異常光についての屈折率を現わす。し
たがって、導波路長をLとすれば、結晶の−110方向
に伝播するTE、TMモードの光についての外部電界に
よる位相変化は、それぞれ次の式、数10および数11
で現わされる。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0037
【補正方法】変更
【補正内容】
【0037】なお、結晶の110方向に伝播する場合に
は、TEモードの位相変化は次の式、数12で記述され
る。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0056
【補正方法】変更
【補正内容】
【0056】また、(2)の駆動電力については、以下
に述べるように、適当な構成にすることにより従来型と
比べて有利となる。実際、二本の導波路の二光束分割し
て干渉させる従来型の光変調器では、外部電界印加によ
る屈折率変化が前述の式、数10(結晶の−110方向
に伝播するTEモードの場合)、数11(結晶の−11
0、結晶の110方向に伝播するTMモードの場合)、
数12(結晶の110方向に伝播するTEモードの場
合)と記述される。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0057
【補正方法】変更
【補正内容】
【0057】これに対して、本発明の変調器の外部電界
印加による屈折率変化は、前述の式、数14(結晶の−
110方向に伝播する場合)、数15(結晶の110方
向に伝播する場合)と記述される。
【手続補正11】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0058
【補正方法】変更
【補正内容】
【0058】例えば、ガリウム砒素とアルミニウム砒素
およびガリウム砒素混晶の超格子からなる導波路では、
後述する実施例の測定データ(光導波路20の電気光学
テンソルについて、その光波長依存性を測定した結果)
である図4に示す様に、波長0.88μmにおいて、成
分γ63=3.0/1011(cm/V)成分g13=1.2
/1016(cm2/V2)、成分g33=−0.6/1016
(cm2/V2)となる。このとき、前述の式、数14で
記述される屈折率変化は、前述の式、数10、数11、
数12で記述される屈折率変化のいずれよりも大きくな
る。すなわち、本発明の変調器では、より少ない印加電
界により同等の屈折率変化を生じせしめることが可能な
訳で、従来の光強度変調器と比べて有利となる。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】点群 ̄43m(4バー3エム)又は点群 ̄
    42m(4バー2エム)に属する半導体で形成され、か
    つ光の伝播方向が結晶面110又は結晶面−110方向
    と並行であるようなTM00及びTE00の二つの導波モー
    ドを持つチャンネル型光導波路を備え、該光導波路の外
    部から結晶面001方向に並行に電界を印加して光導波
    路における屈折率変化の大きさを両モードについて異な
    るようにしたことを特徴とする光強度変調素子。
  2. 【請求項2】前記光導波路が、ガリウム砒素層とアルミ
    ニウム砒素およびガリウム砒素混晶層とからなる結晶面
    001に並行なヘテロ界面を持つ超格子、インジウム砒
    素およびガリウム砒素混晶層とインジウム砒素およびア
    ルミニウム砒素混晶層とからなる結晶面001に並行な
    ヘテロ界面を持つ超格子、又はインジウム砒素およびガ
    リウム砒素混晶層とインジウムおよびリン層とからなる
    結晶面001に並行なヘテロ界面を持つ超格子のいずれ
    か一つで構成されることを特徴とする請求項1記載の光
    強度変調素子。
  3. 【請求項3】前記超格子からなるチャンネル層がp型半
    導体からなるクラッド層とn型半導体からなるクラッド
    層とで挾み込まれたpin構造を有し、外部印加される
    電界がヘテロ界面と垂直であることを特徴とする請求項
    2記載の光強度変調素子。
  4. 【請求項4】請求項1、2、又は3のいずれかの光強度
    変調素子の光導波路、この光導波路の光入射側に置かれ
    た1/4波長板、とこの光導波路の光出射側に置かれた
    1/4波長板と直線偏光子よりなる二色性円偏光板とか
    ら構成され、光導波路の屈折率変化のために電界を印加
    する手段を備えることを特徴とする光強度変調器。
  5. 【請求項5】TM00及びTE00の二つの導波モードを持
    つチャンネル型光導波路で、導波路長を制御すること
    で、二つの導波モードを通過した後の光が所定の位相差
    を持つような光導波路。
  6. 【請求項6】入射側の1/4波長板と光導波路および出
    射側の二色性円偏光板を構成する1/4波長板とを同一
    基板上に構成することにより一体化した光強度変調素子
    であって、前記1/4波長板が請求項5記載の光導波路
    により形成されたことを特徴とする高速光強度変調素
    子。
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