JPH06102317A - 電子回路基板の検査方法 - Google Patents
電子回路基板の検査方法Info
- Publication number
- JPH06102317A JPH06102317A JP4275223A JP27522392A JPH06102317A JP H06102317 A JPH06102317 A JP H06102317A JP 4275223 A JP4275223 A JP 4275223A JP 27522392 A JP27522392 A JP 27522392A JP H06102317 A JPH06102317 A JP H06102317A
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- JP
- Japan
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- electronic circuit
- inspection
- personal computer
- monitor
- rack
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ
−ド、プリンタ−などの電子回路基板の機能検査、エ−
ジング検査に必要な機器をラックに積層状に配置するこ
とにより検査に必要な専有床面積を少なくするととも
に、切換装置を用いて検査機器を切り換えることによ
り、検査機器の使用機数を少なくし、合わせて検査員の
数を減少させることにより電子回路基板の機能検査、エ
−ジング検査に係るコストを低減させることを目的とす
る。 【構成】 製作されたRAMボ−ドが機種及び枚数に応
じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タPC1〜4、
モニタ−MT1,MT2、キ−ボ−ドKB1,KB2、
緩衝記憶装置BU1,BU2、切換装置SSなどをラッ
クRCに積層状に配設することにより検査に必要な専有
床面積を少なくした状態でRAMボ−ドを検査するとと
もに、切換装置SSにより、RAMボ−ドの各機種及び
枚数に対応して上記各機器を切り換え、検査機器の使用
数を少なくする。
−ド、プリンタ−などの電子回路基板の機能検査、エ−
ジング検査に必要な機器をラックに積層状に配置するこ
とにより検査に必要な専有床面積を少なくするととも
に、切換装置を用いて検査機器を切り換えることによ
り、検査機器の使用機数を少なくし、合わせて検査員の
数を減少させることにより電子回路基板の機能検査、エ
−ジング検査に係るコストを低減させることを目的とす
る。 【構成】 製作されたRAMボ−ドが機種及び枚数に応
じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タPC1〜4、
モニタ−MT1,MT2、キ−ボ−ドKB1,KB2、
緩衝記憶装置BU1,BU2、切換装置SSなどをラッ
クRCに積層状に配設することにより検査に必要な専有
床面積を少なくした状態でRAMボ−ドを検査するとと
もに、切換装置SSにより、RAMボ−ドの各機種及び
枚数に対応して上記各機器を切り換え、検査機器の使用
数を少なくする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、製作されたRAMボ−
ドなどの電子回路基板の機能検査、及び連続負荷試験に
よるエ−ジング検査方法に係り、詳しくは、少ない専有
床面積で、且つ少ない人員で電子回路基板の機能検査、
及びエ−ジング検査をする方法に関する。
ドなどの電子回路基板の機能検査、及び連続負荷試験に
よるエ−ジング検査方法に係り、詳しくは、少ない専有
床面積で、且つ少ない人員で電子回路基板の機能検査、
及びエ−ジング検査をする方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、製作されたRAMボ−ドなどの電
子回路基板を、例えば各機種毎にパ−ソナルコンピュ−
タにセットし、各パ−ソナルコンピュ−タにセットされ
た電子回路基板の機能検査をする例として、図4に示す
ように、パ−ソナルコンピュ−タPCとモニタ−MTと
キ−ボ−ドKBとを1組として、台DSの上に横1列に
多数組が配置された状態で、各組に検査員が一人づつ付
き、各パ−ソナルコンピュ−タPCにセットされた電子
回路基板の機能が正常であるか否かをモニタ−MTに表
示させることにより各電子回路基板の機能検査をする方
法が採用されている。
子回路基板を、例えば各機種毎にパ−ソナルコンピュ−
タにセットし、各パ−ソナルコンピュ−タにセットされ
た電子回路基板の機能検査をする例として、図4に示す
ように、パ−ソナルコンピュ−タPCとモニタ−MTと
キ−ボ−ドKBとを1組として、台DSの上に横1列に
多数組が配置された状態で、各組に検査員が一人づつ付
き、各パ−ソナルコンピュ−タPCにセットされた電子
回路基板の機能が正常であるか否かをモニタ−MTに表
示させることにより各電子回路基板の機能検査をする方
法が採用されている。
【0003】また、上記の機能検査に合格したRAMボ
−ドなどの電子回路基板をエ−ジング検査する場合、従
来は図5に示すように、比較的大きな複数の各台LSD
1〜LSD4上にパ−ソナルコンピュ−タPC、モニタ
−MT、プリンタ−PT、検査される電子回路基板が機
種及び枚数に対応してセットされる複数の拡張ボックス
EBが配置され、拡張ボックスEBにセットされた電子
回路基板に対して所要時間、負荷をかけ、連続負荷試験
に耐えた基板を合格品とする検査手段が採用されてい
る。尚、この検査において、各台LSD1〜LSD4上
のモニタ−MTとプリンタ−PTは、各電子回路基板の
エ−ジング中のデ−タ等を表示させたり、プリントアウ
トさせたりするものである。
−ドなどの電子回路基板をエ−ジング検査する場合、従
来は図5に示すように、比較的大きな複数の各台LSD
1〜LSD4上にパ−ソナルコンピュ−タPC、モニタ
−MT、プリンタ−PT、検査される電子回路基板が機
種及び枚数に対応してセットされる複数の拡張ボックス
EBが配置され、拡張ボックスEBにセットされた電子
回路基板に対して所要時間、負荷をかけ、連続負荷試験
に耐えた基板を合格品とする検査手段が採用されてい
る。尚、この検査において、各台LSD1〜LSD4上
のモニタ−MTとプリンタ−PTは、各電子回路基板の
エ−ジング中のデ−タ等を表示させたり、プリントアウ
トさせたりするものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の電子回路基
板の機能検査方法によれば、パ−ソナルコンピュ−タP
Cとモニタ−MTとキ−ボ−ドKBとを1組として、台
DSの上に横1列に多数組が配置された状態で、各組に
検査員が一人づつ付き、各パ−ソナルコンピュ−タPC
にセットされた電子回路基板を検査する方法のため、検
査室の専有床面積が必然的に広くなるととともに、検査
員の数が多くなるため、建築費、検査装置費を含めた設
備投資額が高くなるとともに、人件費が高いという問題
がある。
板の機能検査方法によれば、パ−ソナルコンピュ−タP
Cとモニタ−MTとキ−ボ−ドKBとを1組として、台
DSの上に横1列に多数組が配置された状態で、各組に
検査員が一人づつ付き、各パ−ソナルコンピュ−タPC
にセットされた電子回路基板を検査する方法のため、検
査室の専有床面積が必然的に広くなるととともに、検査
員の数が多くなるため、建築費、検査装置費を含めた設
備投資額が高くなるとともに、人件費が高いという問題
がある。
【0005】一方、従来の電子回路基板のエ−ジング検
査方法によれば、比較的大きな複数の各台LSD毎に、
パ−ソナルコンピュ−タPCと、モニタ−MTと、プリ
ンタ−PTと、検査される電子回路基板が機種及び枚数
に応じてセットされる複数の拡張ボックスEBとが配置
されるため、検査室の専有床面積が必然的に広くなり、
且つ、パ−ソナルコンピュ−タPC、モニタ−MT、プ
リンタ−PTなどが各台LSD毎に必要であるため、建
築費、検査機器費を含めた設備投資額が高くなるという
問題がある。
査方法によれば、比較的大きな複数の各台LSD毎に、
パ−ソナルコンピュ−タPCと、モニタ−MTと、プリ
ンタ−PTと、検査される電子回路基板が機種及び枚数
に応じてセットされる複数の拡張ボックスEBとが配置
されるため、検査室の専有床面積が必然的に広くなり、
且つ、パ−ソナルコンピュ−タPC、モニタ−MT、プ
リンタ−PTなどが各台LSD毎に必要であるため、建
築費、検査機器費を含めた設備投資額が高くなるという
問題がある。
【0006】そこで本発明では、パ−ソナルコンピュ−
タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−などの検査に必
要な機器をラックに積層状に配置することにより、検査
に必要な専有床面積を少なくするとともに、切換装置に
より上記検査機器を電気的に切り換えて使用し、検査機
器の共有化を図ることにより、使用機器の数を少なく
し、建築費、検査機器費を含めた設備投資額を減少さ
せ、合わせて検査員を減少させることにより人件費を低
減させることを解決すべき技術的課題とするものであ
る。
タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−などの検査に必
要な機器をラックに積層状に配置することにより、検査
に必要な専有床面積を少なくするとともに、切換装置に
より上記検査機器を電気的に切り換えて使用し、検査機
器の共有化を図ることにより、使用機器の数を少なく
し、建築費、検査機器費を含めた設備投資額を減少さ
せ、合わせて検査員を減少させることにより人件費を低
減させることを解決すべき技術的課題とするものであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題解決のための第
1の技術的手段は、製作された電子回路基板が各機種及
び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タ
や、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置の検査に
必要な複数の機器をラックに積層状に配置したうえ、パ
−ソナルコンピュ−タ、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩
衝記憶装置などを電気的に切り換えることにより、各パ
−ソナルコンピュ−タにセットされた前記電子回路基板
の機能検査をすることである。
1の技術的手段は、製作された電子回路基板が各機種及
び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タ
や、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置の検査に
必要な複数の機器をラックに積層状に配置したうえ、パ
−ソナルコンピュ−タ、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩
衝記憶装置などを電気的に切り換えることにより、各パ
−ソナルコンピュ−タにセットされた前記電子回路基板
の機能検査をすることである。
【0008】また、上記課題解決のための第2の技術的
手段は、電子回路基板が各機種及び枚数に応じてセット
された拡張ボックスや、パ−ソナルコンピュ−タ、モニ
タ−、緩衝記憶装置の検査に必要な複数の機器をラック
に積層状に配置したうえ、それぞれの機器を電気的に切
り換えることによって各拡張ボックスにセットされた電
子回路基板のエ−ジング検査をすることである。
手段は、電子回路基板が各機種及び枚数に応じてセット
された拡張ボックスや、パ−ソナルコンピュ−タ、モニ
タ−、緩衝記憶装置の検査に必要な複数の機器をラック
に積層状に配置したうえ、それぞれの機器を電気的に切
り換えることによって各拡張ボックスにセットされた電
子回路基板のエ−ジング検査をすることである。
【0009】
【作用】上記第1の技術的手段によれば、電子回路基板
が各機種及び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコン
ピュ−タや、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置
などがラックに積層状に配置されているため、検査シス
テムに要する専有床面積が少なくて済む。また、各機器
を電気的に切り換えて使用するため、機器の共有化を図
ることができるとともに、検査員の数が少なくて済む。
が各機種及び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコン
ピュ−タや、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置
などがラックに積層状に配置されているため、検査シス
テムに要する専有床面積が少なくて済む。また、各機器
を電気的に切り換えて使用するため、機器の共有化を図
ることができるとともに、検査員の数が少なくて済む。
【0010】また、上記第2の技術的手段によれば、電
子回路基板が各機種及び枚数に応じてセットされた拡張
ボックス、パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、緩衝記
憶装置などの検査に必要な複数の機器がラックに積層状
に配置配置されているため、検査に要する専有床面積が
少なくて済む。また、各機器を電気的に切り換えて使用
するため、機器の共有化を図ることができるとともに、
大量の電子回路基板をエ−ジング検査することができ
る。
子回路基板が各機種及び枚数に応じてセットされた拡張
ボックス、パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、緩衝記
憶装置などの検査に必要な複数の機器がラックに積層状
に配置配置されているため、検査に要する専有床面積が
少なくて済む。また、各機器を電気的に切り換えて使用
するため、機器の共有化を図ることができるとともに、
大量の電子回路基板をエ−ジング検査することができ
る。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。図1は、製作されたRAMボ−ドが機種及び
枚数に応じてパ−ソナルコンピュ−タPC1,PC2,
PC3,PC4にセットされた状態で、各RAMボ−ド
の機能検査をする検査システムを略体的に示したもので
ある。図1に示すように、上記パ−ソナルコンピュ−タ
PC1,PC2,PC3,PC4と、検査デ−タ等を表
示させるモニタ−MT1,MT2と、検査に必要なキ−
操作をするキ−ボ−ドKB1,KB2がラックRCに積
層状に配設されるとともに、各RAMボ−ドの機能検査
デ−タを記憶する緩衝記憶装置(バッファ)BU1,B
U2と、上記各機器を適時切り換える切換装置SSとが
ラックRCの側面に配設されており、各機器間は、適宜
ケ−ブルで電気的に接続されている。
説明する。図1は、製作されたRAMボ−ドが機種及び
枚数に応じてパ−ソナルコンピュ−タPC1,PC2,
PC3,PC4にセットされた状態で、各RAMボ−ド
の機能検査をする検査システムを略体的に示したもので
ある。図1に示すように、上記パ−ソナルコンピュ−タ
PC1,PC2,PC3,PC4と、検査デ−タ等を表
示させるモニタ−MT1,MT2と、検査に必要なキ−
操作をするキ−ボ−ドKB1,KB2がラックRCに積
層状に配設されるとともに、各RAMボ−ドの機能検査
デ−タを記憶する緩衝記憶装置(バッファ)BU1,B
U2と、上記各機器を適時切り換える切換装置SSとが
ラックRCの側面に配設されており、各機器間は、適宜
ケ−ブルで電気的に接続されている。
【0012】以上のように構成された検査システムにお
いて、パ−ソナルコンピュ−タPC1,PC2,PC
3,PC4にセットされた各RAMボ−ドと各パ−ソナ
ルコンピュ−タとの間で機能試験用の電気信号が授受さ
れると、その機能デ−タが前記緩衝記憶装置(バッフ
ァ)BU1,BU2に記憶される。また、モニタ−MT
1,MT2には各RAMボ−ドの検査結果等のデ−タが
表示される。尚、上記切換装置SSは、上記パ−ソナル
コンピュ−タPC1,PC2,PC3,PC4及び緩衝
記憶装置(バッファ)BU1,BU2を、各RAMボ−
ドの機種に対応して切り換えるものである。そのため、
検査員は従来の検査手段に比較して極めて少ない人員に
なり、人件費を節約することができる。また、検査作業
時間が比較的短い場合は、キ−ボ−ドKB1,KB2、
モニタ−MT1,MT2、パ−ソナルコンピュ−タPC
1,PC2,PC3,PC4をフルに使用して単位時間
当たりのRAMボ−ドの検査枚数を多くする。一方、検
査作業時間が比較的長い場合は、キ−ボ−ドKB1、モ
ニタ−MT1、パ−ソナルコンピュ−タPC1,PC
2,PC3,PC4を使用する。
いて、パ−ソナルコンピュ−タPC1,PC2,PC
3,PC4にセットされた各RAMボ−ドと各パ−ソナ
ルコンピュ−タとの間で機能試験用の電気信号が授受さ
れると、その機能デ−タが前記緩衝記憶装置(バッフ
ァ)BU1,BU2に記憶される。また、モニタ−MT
1,MT2には各RAMボ−ドの検査結果等のデ−タが
表示される。尚、上記切換装置SSは、上記パ−ソナル
コンピュ−タPC1,PC2,PC3,PC4及び緩衝
記憶装置(バッファ)BU1,BU2を、各RAMボ−
ドの機種に対応して切り換えるものである。そのため、
検査員は従来の検査手段に比較して極めて少ない人員に
なり、人件費を節約することができる。また、検査作業
時間が比較的短い場合は、キ−ボ−ドKB1,KB2、
モニタ−MT1,MT2、パ−ソナルコンピュ−タPC
1,PC2,PC3,PC4をフルに使用して単位時間
当たりのRAMボ−ドの検査枚数を多くする。一方、検
査作業時間が比較的長い場合は、キ−ボ−ドKB1、モ
ニタ−MT1、パ−ソナルコンピュ−タPC1,PC
2,PC3,PC4を使用する。
【0013】また、前記パ−ソナルコンピュ−タPC
1,PC2,PC3,PC4と、モニタ−MT1,MT
2と、キ−ボ−ドKB1,KB2とがラックRCに積層
状に配置される。また、緩衝記憶装置(バッファ)BU
1,BU2と、切換装置SSとがラックRCの側面に取
り付けられため、この検査システムの専有床面積が少な
くて済む。
1,PC2,PC3,PC4と、モニタ−MT1,MT
2と、キ−ボ−ドKB1,KB2とがラックRCに積層
状に配置される。また、緩衝記憶装置(バッファ)BU
1,BU2と、切換装置SSとがラックRCの側面に取
り付けられため、この検査システムの専有床面積が少な
くて済む。
【0014】図2は、図1で示したパ−ソナルコンピュ
−タPC1,PC2,PC3,PC4、モニタ−MT
1,MT2、及びキ−ボ−ドKB1,KB2がラックR
Cに積層状に配設された状態の側面図である。このラッ
クRCは角パイプで形成され、その角パイプを曲げる
か、溶接する構造とする。そして上記パ−ソナルコンピ
ュ−タPC1,PC2,PC3,PC4、モニタ−MT
1,MT2、及びキ−ボ−ドKB1,KB2間の配線は
角パイプの中を通線する。そのため、配線の露出が極め
て少なく、検査室の環境が改善される。 但し、図1に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。また、パ−ソナルコンピュ−タP
C3,PC4部に示した矢印はRAMボ−ドをセットす
る方向、即ち上方、または前方からセットすることを示
している。
−タPC1,PC2,PC3,PC4、モニタ−MT
1,MT2、及びキ−ボ−ドKB1,KB2がラックR
Cに積層状に配設された状態の側面図である。このラッ
クRCは角パイプで形成され、その角パイプを曲げる
か、溶接する構造とする。そして上記パ−ソナルコンピ
ュ−タPC1,PC2,PC3,PC4、モニタ−MT
1,MT2、及びキ−ボ−ドKB1,KB2間の配線は
角パイプの中を通線する。そのため、配線の露出が極め
て少なく、検査室の環境が改善される。 但し、図1に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。また、パ−ソナルコンピュ−タP
C3,PC4部に示した矢印はRAMボ−ドをセットす
る方向、即ち上方、または前方からセットすることを示
している。
【0015】次に、機能検査に合格したRAMボ−ドを
エ−ジング検査するための検査システムについて説明す
る。図3は、機能検査に合格したRAMボ−ドをエ−ジ
ング検査するための検査システムを略体的に示した検査
構成説明図である。図3に示すように、モニタ−MT
と、パ−ソナルコンピュ−タPC1〜PC4と、プリン
タPT1〜PT2と、エ−ジング検査が行われるRAM
ボ−ドを機種及び枚数に対応してセットする複数の拡張
ボックスEB1〜EB12とがラックRC1〜RC4に
積層状に配置される一方、、緩衝記憶装置(バッファ)
BU1〜BU4と、切換装置SSとがラックRC1の側
面に配設され、これらの機器間はケ−ブルで電気的に接
続されている。
エ−ジング検査するための検査システムについて説明す
る。図3は、機能検査に合格したRAMボ−ドをエ−ジ
ング検査するための検査システムを略体的に示した検査
構成説明図である。図3に示すように、モニタ−MT
と、パ−ソナルコンピュ−タPC1〜PC4と、プリン
タPT1〜PT2と、エ−ジング検査が行われるRAM
ボ−ドを機種及び枚数に対応してセットする複数の拡張
ボックスEB1〜EB12とがラックRC1〜RC4に
積層状に配置される一方、、緩衝記憶装置(バッファ)
BU1〜BU4と、切換装置SSとがラックRC1の側
面に配設され、これらの機器間はケ−ブルで電気的に接
続されている。
【0016】以上のように構成されたエ−ジング検査シ
ステムにおいて、拡張ボックスEB1〜EB12は、検
査されるRAMボ−ドの機種に応じて、また検査される
RAMボ−ドの数量に応じて使い分けられる。そして、
このエ−ジング検査では、負荷試験時間として例えば連
続20時間、各RAMボ−ドが機種、あるいは枚数に対
応してエ−ジングされる。尚、この機種の電気的な切り
換えは切換装置SSにより行われるため多機種のRAM
ボ−ドを多量にエ−ジング検査することができる。従っ
て、この検査システムによれば、従来の検査手段に比較
し、少ない専有床面積で多機種のRAMボ−ドを多量に
エ−ジング検査することができるため、検査効率が極め
て高くなる。上記ラックRC1〜RC4は角パイプで形
成され、その角パイプを曲げるか溶接する構造とする。
そしてモニタ−MTと、パ−ソナルコンピュ−タPC1
〜PC4と、プリンタPT1〜PT2と、拡張ボックス
EB1〜EB12と、緩衝記憶装置(バッファ)BU1
〜BU4と、切換装置SSとを電気的に接続する配線は
角パイプの中に通線される。そのため、配線の露出が極
めて少なく、検査室の環境が改善される。但し、図3に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。
ステムにおいて、拡張ボックスEB1〜EB12は、検
査されるRAMボ−ドの機種に応じて、また検査される
RAMボ−ドの数量に応じて使い分けられる。そして、
このエ−ジング検査では、負荷試験時間として例えば連
続20時間、各RAMボ−ドが機種、あるいは枚数に対
応してエ−ジングされる。尚、この機種の電気的な切り
換えは切換装置SSにより行われるため多機種のRAM
ボ−ドを多量にエ−ジング検査することができる。従っ
て、この検査システムによれば、従来の検査手段に比較
し、少ない専有床面積で多機種のRAMボ−ドを多量に
エ−ジング検査することができるため、検査効率が極め
て高くなる。上記ラックRC1〜RC4は角パイプで形
成され、その角パイプを曲げるか溶接する構造とする。
そしてモニタ−MTと、パ−ソナルコンピュ−タPC1
〜PC4と、プリンタPT1〜PT2と、拡張ボックス
EB1〜EB12と、緩衝記憶装置(バッファ)BU1
〜BU4と、切換装置SSとを電気的に接続する配線は
角パイプの中に通線される。そのため、配線の露出が極
めて少なく、検査室の環境が改善される。但し、図3に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、パ−ソナ
ルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−な
どの検査に必要な機器をラックに積層状に配置すること
により検査に必要な専有床面積を少なくし、且つ、切換
装置を用いることにより上記検査機器を電気的に切り換
えて使用し、検査機器の数を少なくすることができるた
め、建築費及び検査機器のコストを含めた設備投資額を
減少させ、合わせて検査員を減少させることができるた
め人件費を低減させることができるという効果がある。
ルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−な
どの検査に必要な機器をラックに積層状に配置すること
により検査に必要な専有床面積を少なくし、且つ、切換
装置を用いることにより上記検査機器を電気的に切り換
えて使用し、検査機器の数を少なくすることができるた
め、建築費及び検査機器のコストを含めた設備投資額を
減少させ、合わせて検査員を減少させることができるた
め人件費を低減させることができるという効果がある。
【図1】電子回路基板の機能検査システムの構成を略体
的に示した正面図である。
的に示した正面図である。
【図2】電子回路基板の機能検査システムの構成を略体
的に示した側面図である。
的に示した側面図である。
【図3】多数機種の電子回路基板のエ−ジング検査シス
テムの構成を略体的に示した正面図である。
テムの構成を略体的に示した正面図である。
【図4】従来の電子回路基板の機能検査システムの概要
を示した正面図である。
を示した正面図である。
【図5】従来の電子回路基板のエ−ジング検査システム
の概要を示した平面図である。
の概要を示した平面図である。
PC1〜PC4 パ−ソナルコンピュ−タ PC パ−ソナルコンピュ−タ MT1〜MT2 モニタ− BU1〜BU4 緩衝記憶装置 SS 切換装置 KB1〜KB2 キ−ボ−ド PT1〜PT2 プリンタ− EB1〜EB12 拡張ボックス RC ラック RC1〜RC4 ラック
Claims (2)
- 【請求項1】 生産された電子回路基板が各機種及び枚
数に応じてセットされるパ−ソナルコンピュ−タや、キ
−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置の検査に必要な
複数の機器をラックに積層状に配置したうえ、パ−ソナ
ルコンピュ−タ、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶
装置を電気的に切り換えて前記各パ−ソナルコンピュ−
タにセットされた前記電子回路基板の機能検査をするこ
とを特徴とする電子回路基板の検査方法。 - 【請求項2】 複数の電子回路基板が各機種及び枚数に
応じてセットされる拡張ボックスや、パ−ソナルコンピ
ュ−タ、モニタ−、緩衝記憶装置の検査に必要な複数の
機器をラックに積層状に配置したうえ、それぞれの機器
を電気的に切り換えて前記各拡張ボックスにセットされ
た電子回路基板のエ−ジング検査をすることを特徴とす
る電子回路基板の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4275223A JPH06102317A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 電子回路基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4275223A JPH06102317A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 電子回路基板の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06102317A true JPH06102317A (ja) | 1994-04-15 |
Family
ID=17552424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4275223A Pending JPH06102317A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 電子回路基板の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06102317A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100366149B1 (ko) * | 1998-10-22 | 2002-12-31 | 델 유에스에이 엘 피 | 상태 및 속성정보를 이용하여 제조중인 컴퓨터시스템의 문제해결 장치 및 방법 |
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1992
- 1992-09-17 JP JP4275223A patent/JPH06102317A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100366149B1 (ko) * | 1998-10-22 | 2002-12-31 | 델 유에스에이 엘 피 | 상태 및 속성정보를 이용하여 제조중인 컴퓨터시스템의 문제해결 장치 및 방법 |
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