JPH06102317A - 電子回路基板の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ
−ド、プリンタ−などの電子回路基板の機能検査、エ−
ジング検査に必要な機器をラックに積層状に配置するこ
とにより検査に必要な専有床面積を少なくするととも
に、切換装置を用いて検査機器を切り換えることによ
り、検査機器の使用機数を少なくし、合わせて検査員の
数を減少させることにより電子回路基板の機能検査、エ
−ジング検査に係るコストを低減させることを目的とす
る。 【構成】 製作されたＲＡＭボ−ドが機種及び枚数に応
じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タＰＣ１〜４、
モニタ−ＭＴ１，ＭＴ２、キ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２、
緩衝記憶装置ＢＵ１，ＢＵ２、切換装置ＳＳなどをラッ
クＲＣに積層状に配設することにより検査に必要な専有
床面積を少なくした状態でＲＡＭボ−ドを検査するとと
もに、切換装置ＳＳにより、ＲＡＭボ−ドの各機種及び
枚数に対応して上記各機器を切り換え、検査機器の使用
数を少なくする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、製作されたＲＡＭボ−
ドなどの電子回路基板の機能検査、及び連続負荷試験に
よるエ−ジング検査方法に係り、詳しくは、少ない専有
床面積で、且つ少ない人員で電子回路基板の機能検査、
及びエ−ジング検査をする方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、製作されたＲＡＭボ−ドなどの電
子回路基板を、例えば各機種毎にパ−ソナルコンピュ−
タにセットし、各パ−ソナルコンピュ−タにセットされ
た電子回路基板の機能検査をする例として、図４に示す
ように、パ−ソナルコンピュ−タＰＣとモニタ−ＭＴと
キ−ボ−ドＫＢとを１組として、台ＤＳの上に横１列に
多数組が配置された状態で、各組に検査員が一人づつ付
き、各パ−ソナルコンピュ−タＰＣにセットされた電子
回路基板の機能が正常であるか否かをモニタ−ＭＴに表
示させることにより各電子回路基板の機能検査をする方
法が採用されている。

【０００３】また、上記の機能検査に合格したＲＡＭボ
−ドなどの電子回路基板をエ−ジング検査する場合、従
来は図５に示すように、比較的大きな複数の各台ＬＳＤ
１〜ＬＳＤ４上にパ−ソナルコンピュ−タＰＣ、モニタ
−ＭＴ、プリンタ−ＰＴ、検査される電子回路基板が機
種及び枚数に対応してセットされる複数の拡張ボックス
ＥＢが配置され、拡張ボックスＥＢにセットされた電子
回路基板に対して所要時間、負荷をかけ、連続負荷試験
に耐えた基板を合格品とする検査手段が採用されてい
る。尚、この検査において、各台ＬＳＤ１〜ＬＳＤ４上
のモニタ−ＭＴとプリンタ−ＰＴは、各電子回路基板の
エ−ジング中のデ−タ等を表示させたり、プリントアウ
トさせたりするものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の電子回路基
板の機能検査方法によれば、パ−ソナルコンピュ−タＰ
Ｃとモニタ−ＭＴとキ−ボ−ドＫＢとを１組として、台
ＤＳの上に横１列に多数組が配置された状態で、各組に
検査員が一人づつ付き、各パ−ソナルコンピュ−タＰＣ
にセットされた電子回路基板を検査する方法のため、検
査室の専有床面積が必然的に広くなるととともに、検査
員の数が多くなるため、建築費、検査装置費を含めた設
備投資額が高くなるとともに、人件費が高いという問題
がある。

【０００５】一方、従来の電子回路基板のエ−ジング検
査方法によれば、比較的大きな複数の各台ＬＳＤ毎に、
パ−ソナルコンピュ−タＰＣと、モニタ−ＭＴと、プリ
ンタ−ＰＴと、検査される電子回路基板が機種及び枚数
に応じてセットされる複数の拡張ボックスＥＢとが配置
されるため、検査室の専有床面積が必然的に広くなり、
且つ、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ、モニタ−ＭＴ、プ
リンタ−ＰＴなどが各台ＬＳＤ毎に必要であるため、建
築費、検査機器費を含めた設備投資額が高くなるという
問題がある。

【０００６】そこで本発明では、パ−ソナルコンピュ−
タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−などの検査に必
要な機器をラックに積層状に配置することにより、検査
に必要な専有床面積を少なくするとともに、切換装置に
より上記検査機器を電気的に切り換えて使用し、検査機
器の共有化を図ることにより、使用機器の数を少なく
し、建築費、検査機器費を含めた設備投資額を減少さ
せ、合わせて検査員を減少させることにより人件費を低
減させることを解決すべき技術的課題とするものであ
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題解決のための第
１の技術的手段は、製作された電子回路基板が各機種及
び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコンピュ−タ
や、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置の検査に
必要な複数の機器をラックに積層状に配置したうえ、パ
−ソナルコンピュ−タ、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩
衝記憶装置などを電気的に切り換えることにより、各パ
−ソナルコンピュ−タにセットされた前記電子回路基板
の機能検査をすることである。

【０００８】また、上記課題解決のための第２の技術的
手段は、電子回路基板が各機種及び枚数に応じてセット
された拡張ボックスや、パ−ソナルコンピュ−タ、モニ
タ−、緩衝記憶装置の検査に必要な複数の機器をラック
に積層状に配置したうえ、それぞれの機器を電気的に切
り換えることによって各拡張ボックスにセットされた電
子回路基板のエ−ジング検査をすることである。

【０００９】

【作用】上記第１の技術的手段によれば、電子回路基板
が各機種及び枚数に応じてセットされたパ−ソナルコン
ピュ−タや、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置
などがラックに積層状に配置されているため、検査シス
テムに要する専有床面積が少なくて済む。また、各機器
を電気的に切り換えて使用するため、機器の共有化を図
ることができるとともに、検査員の数が少なくて済む。

【００１０】また、上記第２の技術的手段によれば、電
子回路基板が各機種及び枚数に応じてセットされた拡張
ボックス、パ−ソナルコンピュ−タ、モニタ−、緩衝記
憶装置などの検査に必要な複数の機器がラックに積層状
に配置配置されているため、検査に要する専有床面積が
少なくて済む。また、各機器を電気的に切り換えて使用
するため、機器の共有化を図ることができるとともに、
大量の電子回路基板をエ−ジング検査することができ
る。

【００１１】

【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。図１は、製作されたＲＡＭボ−ドが機種及び
枚数に応じてパ−ソナルコンピュ−タＰＣ１，ＰＣ２，
ＰＣ３，ＰＣ４にセットされた状態で、各ＲＡＭボ−ド
の機能検査をする検査システムを略体的に示したもので
ある。図１に示すように、上記パ−ソナルコンピュ−タ
ＰＣ１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４と、検査デ−タ等を表
示させるモニタ−ＭＴ１，ＭＴ２と、検査に必要なキ−
操作をするキ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２がラックＲＣに積
層状に配設されるとともに、各ＲＡＭボ−ドの機能検査
デ−タを記憶する緩衝記憶装置（バッファ）ＢＵ１，Ｂ
Ｕ２と、上記各機器を適時切り換える切換装置ＳＳとが
ラックＲＣの側面に配設されており、各機器間は、適宜
ケ−ブルで電気的に接続されている。

【００１２】以上のように構成された検査システムにお
いて、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ１，ＰＣ２，ＰＣ
３，ＰＣ４にセットされた各ＲＡＭボ−ドと各パ−ソナ
ルコンピュ−タとの間で機能試験用の電気信号が授受さ
れると、その機能デ−タが前記緩衝記憶装置（バッフ
ァ）ＢＵ１，ＢＵ２に記憶される。また、モニタ−ＭＴ
１，ＭＴ２には各ＲＡＭボ−ドの検査結果等のデ−タが
表示される。尚、上記切換装置ＳＳは、上記パ−ソナル
コンピュ−タＰＣ１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４及び緩衝
記憶装置（バッファ）ＢＵ１，ＢＵ２を、各ＲＡＭボ−
ドの機種に対応して切り換えるものである。そのため、
検査員は従来の検査手段に比較して極めて少ない人員に
なり、人件費を節約することができる。また、検査作業
時間が比較的短い場合は、キ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２、
モニタ−ＭＴ１，ＭＴ２、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ
１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４をフルに使用して単位時間
当たりのＲＡＭボ−ドの検査枚数を多くする。一方、検
査作業時間が比較的長い場合は、キ−ボ−ドＫＢ１、モ
ニタ−ＭＴ１、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ１，ＰＣ
２，ＰＣ３，ＰＣ４を使用する。

【００１３】また、前記パ−ソナルコンピュ−タＰＣ
１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４と、モニタ−ＭＴ１，ＭＴ
２と、キ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２とがラックＲＣに積層
状に配置される。また、緩衝記憶装置（バッファ）ＢＵ
１，ＢＵ２と、切換装置ＳＳとがラックＲＣの側面に取
り付けられため、この検査システムの専有床面積が少な
くて済む。

【００１４】図２は、図１で示したパ−ソナルコンピュ
−タＰＣ１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４、モニタ−ＭＴ
１，ＭＴ２、及びキ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２がラックＲ
Ｃに積層状に配設された状態の側面図である。このラッ
クＲＣは角パイプで形成され、その角パイプを曲げる
か、溶接する構造とする。そして上記パ−ソナルコンピ
ュ−タＰＣ１，ＰＣ２，ＰＣ３，ＰＣ４、モニタ−ＭＴ
１，ＭＴ２、及びキ−ボ−ドＫＢ１，ＫＢ２間の配線は
角パイプの中を通線する。そのため、配線の露出が極め
て少なく、検査室の環境が改善される。 但し、図１に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。また、パ−ソナルコンピュ−タＰ
Ｃ３，ＰＣ４部に示した矢印はＲＡＭボ−ドをセットす
る方向、即ち上方、または前方からセットすることを示
している。

【００１５】次に、機能検査に合格したＲＡＭボ−ドを
エ−ジング検査するための検査システムについて説明す
る。図３は、機能検査に合格したＲＡＭボ−ドをエ−ジ
ング検査するための検査システムを略体的に示した検査
構成説明図である。図３に示すように、モニタ−ＭＴ
と、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ１〜ＰＣ４と、プリン
タＰＴ１〜ＰＴ２と、エ−ジング検査が行われるＲＡＭ
ボ−ドを機種及び枚数に対応してセットする複数の拡張
ボックスＥＢ１〜ＥＢ１２とがラックＲＣ１〜ＲＣ４に
積層状に配置される一方、、緩衝記憶装置（バッファ）
ＢＵ１〜ＢＵ４と、切換装置ＳＳとがラックＲＣ１の側
面に配設され、これらの機器間はケ−ブルで電気的に接
続されている。

【００１６】以上のように構成されたエ−ジング検査シ
ステムにおいて、拡張ボックスＥＢ１〜ＥＢ１２は、検
査されるＲＡＭボ−ドの機種に応じて、また検査される
ＲＡＭボ−ドの数量に応じて使い分けられる。そして、
このエ−ジング検査では、負荷試験時間として例えば連
続２０時間、各ＲＡＭボ−ドが機種、あるいは枚数に対
応してエ−ジングされる。尚、この機種の電気的な切り
換えは切換装置ＳＳにより行われるため多機種のＲＡＭ
ボ−ドを多量にエ−ジング検査することができる。従っ
て、この検査システムによれば、従来の検査手段に比較
し、少ない専有床面積で多機種のＲＡＭボ−ドを多量に
エ−ジング検査することができるため、検査効率が極め
て高くなる。上記ラックＲＣ１〜ＲＣ４は角パイプで形
成され、その角パイプを曲げるか溶接する構造とする。
そしてモニタ−ＭＴと、パ−ソナルコンピュ−タＰＣ１
〜ＰＣ４と、プリンタＰＴ１〜ＰＴ２と、拡張ボックス
ＥＢ１〜ＥＢ１２と、緩衝記憶装置（バッファ）ＢＵ１
〜ＢＵ４と、切換装置ＳＳとを電気的に接続する配線は
角パイプの中に通線される。そのため、配線の露出が極
めて少なく、検査室の環境が改善される。但し、図３に
おいては配線の系統を判りやすくするため、角パイプの
中を通線するようには示していないが、実際には角パイ
プの中に通線される。

【００１７】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、パ−ソナ
ルコンピュ−タ、モニタ−、キ−ボ−ド、プリンタ−な
どの検査に必要な機器をラックに積層状に配置すること
により検査に必要な専有床面積を少なくし、且つ、切換
装置を用いることにより上記検査機器を電気的に切り換
えて使用し、検査機器の数を少なくすることができるた
め、建築費及び検査機器のコストを含めた設備投資額を
減少させ、合わせて検査員を減少させることができるた
め人件費を低減させることができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】電子回路基板の機能検査システムの構成を略体
的に示した正面図である。

【図２】電子回路基板の機能検査システムの構成を略体
的に示した側面図である。

【図３】多数機種の電子回路基板のエ−ジング検査シス
テムの構成を略体的に示した正面図である。

【図４】従来の電子回路基板の機能検査システムの概要
を示した正面図である。

【図５】従来の電子回路基板のエ−ジング検査システム
の概要を示した平面図である。

【符号の説明】

ＰＣ１〜ＰＣ４ パ−ソナルコンピュ−タ ＰＣ パ−ソナルコンピュ−タ ＭＴ１〜ＭＴ２ モニタ− ＢＵ１〜ＢＵ４ 緩衝記憶装置 ＳＳ 切換装置 ＫＢ１〜ＫＢ２ キ−ボ−ド ＰＴ１〜ＰＴ２ プリンタ− ＥＢ１〜ＥＢ１２ 拡張ボックス ＲＣ ラック ＲＣ１〜ＲＣ４ ラック

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 生産された電子回路基板が各機種及び枚
   数に応じてセットされるパ−ソナルコンピュ−タや、キ
   −ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶装置の検査に必要な
   複数の機器をラックに積層状に配置したうえ、パ−ソナ
   ルコンピュ−タ、キ−ボ−ド、モニタ−、及び緩衝記憶
   装置を電気的に切り換えて前記各パ−ソナルコンピュ−
   タにセットされた前記電子回路基板の機能検査をするこ
   とを特徴とする電子回路基板の検査方法。
2. 【請求項２】 複数の電子回路基板が各機種及び枚数に
   応じてセットされる拡張ボックスや、パ−ソナルコンピ
   ュ−タ、モニタ−、緩衝記憶装置の検査に必要な複数の
   機器をラックに積層状に配置したうえ、それぞれの機器
   を電気的に切り換えて前記各拡張ボックスにセットされ
   た電子回路基板のエ−ジング検査をすることを特徴とす
   る電子回路基板の検査方法。