JPH0572259A - 半導体集積回路装置の測定方法 - Google Patents
半導体集積回路装置の測定方法Info
- Publication number
- JPH0572259A JPH0572259A JP3231439A JP23143991A JPH0572259A JP H0572259 A JPH0572259 A JP H0572259A JP 3231439 A JP3231439 A JP 3231439A JP 23143991 A JP23143991 A JP 23143991A JP H0572259 A JPH0572259 A JP H0572259A
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- semiconductor integrated
- measured
- circuit device
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 入力段トランジスタのベース電流を精度よく
測定する。 【構成】 定電圧源６を測定対象の半導体集積回路装置
１の定格値に設定する。リレー１１をオフさせて定電圧
源１２より抵抗器１３、１４で分割された電圧Ｖ1を電
圧計１５で測定する。次に、リレー１１をオンさせて半
導体集積回路装置１の入力段のトランジスタ４を能動状
態にした状態で、定電圧源１２より抵抗器１３、１４で
分割された電圧Ｖ2を電圧計１５で測定する。リレー１
１のオンによりトランジスタ４にベース電流が流れ、電
圧降下分が測定値の差となって現れ、ベース電流ＩBは
次式で求めることができる（ただしＲ14：抵抗１４の抵
抗値）。 ＩB＝Ｖ1−Ｖ2／Ｒ14
測定する。 【構成】 定電圧源６を測定対象の半導体集積回路装置
１の定格値に設定する。リレー１１をオフさせて定電圧
源１２より抵抗器１３、１４で分割された電圧Ｖ1を電
圧計１５で測定する。次に、リレー１１をオンさせて半
導体集積回路装置１の入力段のトランジスタ４を能動状
態にした状態で、定電圧源１２より抵抗器１３、１４で
分割された電圧Ｖ2を電圧計１５で測定する。リレー１
１のオンによりトランジスタ４にベース電流が流れ、電
圧降下分が測定値の差となって現れ、ベース電流ＩBは
次式で求めることができる（ただしＲ14：抵抗１４の抵
抗値）。 ＩB＝Ｖ1−Ｖ2／Ｒ14
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路装置の測
定方法に関するものである。
定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の、半導体集積回路装置の入力段ト
ランジスタのベースが直接端子に接続された状態で、入
力段トランジスタのベース電流を測定する方法につい
て、図２に示した回路図を用いて説明する。
ランジスタのベースが直接端子に接続された状態で、入
力段トランジスタのベース電流を測定する方法につい
て、図２に示した回路図を用いて説明する。
【０００３】測定対象である半導体集積回路装置１の内
部回路５がエミッタに接続された入力段トランジスタ４
であって、そのベースが入力端子３に直接に接続された
状態にある。ベースの入力端子３には電流計７を通して
外部印加定電圧源８が接続されている。電源端子２には
電源６が接続されている。なお、９はグランドラインで
ある。
部回路５がエミッタに接続された入力段トランジスタ４
であって、そのベースが入力端子３に直接に接続された
状態にある。ベースの入力端子３には電流計７を通して
外部印加定電圧源８が接続されている。電源端子２には
電源６が接続されている。なお、９はグランドラインで
ある。
【０００４】電源端子２には外部印加定電圧源６より半
導体集積回路装置１の定格で定められた電圧ＶCCを印加
し、入力端子３には外部印加定電圧源８によって入力段
トランジスタ４を能動状態とするに十分な電圧を印加す
る。このとき、電流計７で入力段トランジスタ４のベー
ス電流を測定する。
導体集積回路装置１の定格で定められた電圧ＶCCを印加
し、入力端子３には外部印加定電圧源８によって入力段
トランジスタ４を能動状態とするに十分な電圧を印加す
る。このとき、電流計７で入力段トランジスタ４のベー
ス電流を測定する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような測定方法で
は、電流計７の測定誤差（オフセット）が重大な影響を
及ぼす。特に電流増幅率ｈFEの値が大きい場合には、ベ
ース電流がきわめて小さな値になるので、電流計の測定
誤差は無視できなくなるほど大きくなる。
は、電流計７の測定誤差（オフセット）が重大な影響を
及ぼす。特に電流増幅率ｈFEの値が大きい場合には、ベ
ース電流がきわめて小さな値になるので、電流計の測定
誤差は無視できなくなるほど大きくなる。
【０００６】本発明は上記従来の問題を解決するもの
で、外部印加定電圧源の電流計誤差がベース電流測定時
に影響を及ぼすことを考慮し、その誤差分を少なくする
ことによりベース電流を精度よく測定できる方法を提供
することを目的とするものである。
で、外部印加定電圧源の電流計誤差がベース電流測定時
に影響を及ぼすことを考慮し、その誤差分を少なくする
ことによりベース電流を精度よく測定できる方法を提供
することを目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
装置の測定方法は、定電圧源に直列に接続された第１、
２の抵抗器の接続点にスイッチング装置を介して測定対
象のトランジスタのベースを接続するとともに、電圧計
を接続して、スイッチング装置をオフさせた時の電圧を
測定し、次にそれをオンさせた時の電圧を測定するもの
である。
装置の測定方法は、定電圧源に直列に接続された第１、
２の抵抗器の接続点にスイッチング装置を介して測定対
象のトランジスタのベースを接続するとともに、電圧計
を接続して、スイッチング装置をオフさせた時の電圧を
測定し、次にそれをオンさせた時の電圧を測定するもの
である。
【０００８】
【作用】この方法では、スイッチング装置を切り換えて
電圧計で電圧を同一測定レンジで測定し、その電圧差を
調べることで、測定器のオフセット誤差をほぼ０にする
ことができる。
電圧計で電圧を同一測定レンジで測定し、その電圧差を
調べることで、測定器のオフセット誤差をほぼ０にする
ことができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図１を用
いて説明する。
いて説明する。
【００１０】図１は半導体集積回路装置の入力段トラン
ジスタのベースを端子に接続して、その入力段トランジ
スタのベース電流を測定するための回路図である。
ジスタのベースを端子に接続して、その入力段トランジ
スタのベース電流を測定するための回路図である。
【００１１】半導体集積回路装置１の入力段トランジス
タ４のベースが、直接、端子３に接続されている。さら
に、入力段トランジスタ４のエミッタが内部回路５に接
続されている。さらに、入力段トランジスタ４のコレク
タが電源端子２に接続されている。
タ４のベースが、直接、端子３に接続されている。さら
に、入力段トランジスタ４のエミッタが内部回路５に接
続されている。さらに、入力段トランジスタ４のコレク
タが電源端子２に接続されている。
【００１２】外部印加定電圧源１２に抵抗器１３、１４
が直列に接続され、抵抗器１４の他端がグランドライン
に接続されている。抵抗器１３、１４の接続点が、入力
段トランジスタ４のベースの入力端子３に、スイッチン
グ装置としてのリレー１１を介して接続されている。さ
らに、その接続点とグランドライン９との間に電圧計１
５が接続されている。
が直列に接続され、抵抗器１４の他端がグランドライン
に接続されている。抵抗器１３、１４の接続点が、入力
段トランジスタ４のベースの入力端子３に、スイッチン
グ装置としてのリレー１１を介して接続されている。さ
らに、その接続点とグランドライン９との間に電圧計１
５が接続されている。
【００１３】このような構成の回路において、電源端子
２に外部印加定電圧源６から半導体集積回路装置１の定
格で定められた値の電圧を印加する。この状態でリレー
１１をオフ（不導通）させておいて、外部印加定電圧源
１２から抵抗器１３、１４で分割された電圧を電圧計１
５で測定する。この時の電圧をＶ1とする。
２に外部印加定電圧源６から半導体集積回路装置１の定
格で定められた値の電圧を印加する。この状態でリレー
１１をオフ（不導通）させておいて、外部印加定電圧源
１２から抵抗器１３、１４で分割された電圧を電圧計１
５で測定する。この時の電圧をＶ1とする。
【００１４】次に、リレー１１をオン（導通）させて、
抵抗器１３、１４で分割された電圧を、電圧Ｖ1を測定
した時と同一の測定レンジで電圧計１５で測定する。こ
の時の電圧をＶ2とする。
抵抗器１３、１４で分割された電圧を、電圧Ｖ1を測定
した時と同一の測定レンジで電圧計１５で測定する。こ
の時の電圧をＶ2とする。
【００１５】リレー１１をオンさせることで抵抗器１
３、１４の抵抗分割によって発生する電圧が、入力段ト
ランジスタ４のベース端子３に印加される。この結果、
入力段トランジスタ４は能動状態となり、抵抗器１４の
両端には、リレー１１がオフされていた時に発生する電
圧からベース端子３に流れる電流分の電圧降下を差し引
いた電圧が発生する。
３、１４の抵抗分割によって発生する電圧が、入力段ト
ランジスタ４のベース端子３に印加される。この結果、
入力段トランジスタ４は能動状態となり、抵抗器１４の
両端には、リレー１１がオフされていた時に発生する電
圧からベース端子３に流れる電流分の電圧降下を差し引
いた電圧が発生する。
【００１６】したがって、トランジスタ４のベース電流
ＩBは次式から求めることができる。
ＩBは次式から求めることができる。
【００１７】ＩB＝Ｖ1−Ｖ2／Ｒ14 ただし、Ｒ14は抵抗１４の抵抗値である。
【００１８】以上のように、本実施例ではリレー１１を
切り換えて電圧計１５を使用して同一測定レンジで測定
電圧差を調べることにより、測定器のオフセット誤差を
ほぼ０にすることができる。このことにより、測定誤差
が少なくなり、トランジスタの電流増幅率ｈFEが高い場
合でもトランジスタ４のベース電流を精度よく測定する
ことができる。
切り換えて電圧計１５を使用して同一測定レンジで測定
電圧差を調べることにより、測定器のオフセット誤差を
ほぼ０にすることができる。このことにより、測定誤差
が少なくなり、トランジスタの電流増幅率ｈFEが高い場
合でもトランジスタ４のベース電流を精度よく測定する
ことができる。
【００１９】
【発明の効果】本発明の方法によれば、定電圧源に電圧
分割のための抵抗器を接続し、この分割電圧をスイッチ
ング装置を通して測定対象のトランジスタのベースに供
給するよう構成するとともに、スイッチング装置のオフ
時とオン時におけるベースへの供給電圧を電圧計でそれ
ぞれ測定するので、同一測定レンジでの測定電圧差を調
べることで、測定器のオフセット誤差をなくすことがで
きる。このことにより、測定誤差が少なくなり、トラン
ジスタの電流増幅率ｈFEが高い場合でもそのベース電流
を精度よく測定することができる。
分割のための抵抗器を接続し、この分割電圧をスイッチ
ング装置を通して測定対象のトランジスタのベースに供
給するよう構成するとともに、スイッチング装置のオフ
時とオン時におけるベースへの供給電圧を電圧計でそれ
ぞれ測定するので、同一測定レンジでの測定電圧差を調
べることで、測定器のオフセット誤差をなくすことがで
きる。このことにより、測定誤差が少なくなり、トラン
ジスタの電流増幅率ｈFEが高い場合でもそのベース電流
を精度よく測定することができる。
【図１】本発明の一実施例における半導体集積回路装置
の測定方法を示す回路図
の測定方法を示す回路図
【図２】従来の測定方法を示す回路図
１ 半導体集積回路装置 ２ 電源端子 ３ 入力端子 ４ 入力段トランジスタ ５ 内部回路 ６、１２ 定電圧源 ９ グランドライン １１ リレー １３、１４ 抵抗器 １５ 電圧計
Claims (2)
- 【請求項１】定電圧源と、前記定電圧源に直列に接続さ
れた第１、２の抵抗器と、前記第１、２の抵抗器の接続
点にスイッチング装置を介してベースが接続されたトラ
ンジスタと、前記第１、第２の抵抗の接続点に一端が接
続された電圧計とを備え、前記スイッチング装置をオフ
させた時の電圧を測定し、次に前記スイッチング装置を
オンした時の電圧を測定することを特徴とする半導体集
積回路装置の測定方法。 - 【請求項２】スイッチング装置をオフ、オンさせてそれ
ぞれの時の電圧を同一測定レンジで電圧計で測定するこ
とを特徴とする請求項１記載の半導体集積回路装置の測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231439A JPH0572259A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体集積回路装置の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231439A JPH0572259A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体集積回路装置の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572259A true JPH0572259A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16923563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3231439A Pending JPH0572259A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体集積回路装置の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572259A (ja) |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3231439A patent/JPH0572259A/ja active Pending
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