JPH055620A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
- Publication number
- JPH055620A JPH055620A JP15633791A JP15633791A JPH055620A JP H055620 A JPH055620 A JP H055620A JP 15633791 A JP15633791 A JP 15633791A JP 15633791 A JP15633791 A JP 15633791A JP H055620 A JPH055620 A JP H055620A
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- Japan
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- signal
- distance
- light
- converter
- circuit
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- Pending
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 短時間で高精度の測距を行うことの可能な距
離検出装置を提供することである。 【構成】 被写体１４からの反射光は受光素子１６で光
電変換され、その受光位置に応じた光電変換信号（電流
信号）が生じる。この電流信号はＩ／Ｖコンバ―タ１７
でＩ／Ｖ変換された後、ＡＧＣアンプ１８およびアンプ
１９で増幅され、整流回路２０で整流される。そして、
Ｖ／Ｆコンバ―タ２１でＶ／Ｆ変換され、その周波数信
号のパルス列がカウンタ２２でカウントされる。そのカ
ウント値に基き、演算回路２３により所定の演算処理が
され、被写体１４までの距離が選定される。
離検出装置を提供することである。 【構成】 被写体１４からの反射光は受光素子１６で光
電変換され、その受光位置に応じた光電変換信号（電流
信号）が生じる。この電流信号はＩ／Ｖコンバ―タ１７
でＩ／Ｖ変換された後、ＡＧＣアンプ１８およびアンプ
１９で増幅され、整流回路２０で整流される。そして、
Ｖ／Ｆコンバ―タ２１でＶ／Ｆ変換され、その周波数信
号のパルス列がカウンタ２２でカウントされる。そのカ
ウント値に基き、演算回路２３により所定の演算処理が
され、被写体１４までの距離が選定される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ等に用いる距離検
出装置に関する。
出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、従来のアクティブオ―トフォ―
カスカメラ（以下、単にＡＦカメラという。）における
距離検出装置を示した説明図である。
カスカメラ（以下、単にＡＦカメラという。）における
距離検出装置を示した説明図である。
【０００３】投光回路４１からの信号を受けて投光素子
４２は断続的に発光し、この光は投光レンズ４３を通し
て被写体４４（対象物）に照射される。被写体４４から
の反射光は受光レンズ４５を通して受光素子４６で受光
され、その受光位置に応じた光電変換信号が生じる。こ
の光電変換信号は、Ｉ／Ｖコンバ―タ４７でＩ／Ｖ変換
（電流／電圧変換）され、ＡＧＣ（オ―トゲインコント
ロ―ル）アンプ４８およびアンプ４９で増幅され、Ａ／
Ｄコンバ―タ５０でＡ／Ｄ変換される。実効値検出回路
５１では、Ａ／Ｄ変換された信号に基き、投光素子４２
の発光の１周期毎に実効値が検出される。測定精度を上
げるため、複数周期にわたって実効値が検出され、平均
化回路５２によりその平均値が求められる。このように
して求められた実効値の平均値に基き、演算回路５３に
より被写体４４までの距離が選定される。
４２は断続的に発光し、この光は投光レンズ４３を通し
て被写体４４（対象物）に照射される。被写体４４から
の反射光は受光レンズ４５を通して受光素子４６で受光
され、その受光位置に応じた光電変換信号が生じる。こ
の光電変換信号は、Ｉ／Ｖコンバ―タ４７でＩ／Ｖ変換
（電流／電圧変換）され、ＡＧＣ（オ―トゲインコント
ロ―ル）アンプ４８およびアンプ４９で増幅され、Ａ／
Ｄコンバ―タ５０でＡ／Ｄ変換される。実効値検出回路
５１では、Ａ／Ｄ変換された信号に基き、投光素子４２
の発光の１周期毎に実効値が検出される。測定精度を上
げるため、複数周期にわたって実効値が検出され、平均
化回路５２によりその平均値が求められる。このように
して求められた実効値の平均値に基き、演算回路５３に
より被写体４４までの距離が選定される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の距離検出装
置では、Ａ／Ｄコンバ―タを用いていたため、デ―タが
離散的になるとともにビット誤差が生じ、十分な測距精
度が得ることができない。十分な測距精度を得ようとす
ると、繰り返しデ―タをとって平均化しなければなら
ず、処理時間が長くなってしまう。また、Ａ／Ｄコンバ
―タを用いることにより、ノイズの影響で測距精度が悪
化するという問題点もある。
置では、Ａ／Ｄコンバ―タを用いていたため、デ―タが
離散的になるとともにビット誤差が生じ、十分な測距精
度が得ることができない。十分な測距精度を得ようとす
ると、繰り返しデ―タをとって平均化しなければなら
ず、処理時間が長くなってしまう。また、Ａ／Ｄコンバ
―タを用いることにより、ノイズの影響で測距精度が悪
化するという問題点もある。
【０００５】本発明の目的は、短時間で高精度の測距を
行うことの可能な距離検出装置を提供することである。
行うことの可能な距離検出装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の距離検出装置
は、対象物を照射する照射光を生じる投光素子と、上記
照射光によって照射された対象物からの反射光を受光し
て光電変換信号を生じる受光素子と、上記光電変換信号
をその大きさに応じた周波数信号に変換する変換回路
と、上記周波数信号を入力する計数回路と、上記計数回
路で計数された計数値に基いて上記対象物までの距離を
選定する距離選定回路とからなる。
は、対象物を照射する照射光を生じる投光素子と、上記
照射光によって照射された対象物からの反射光を受光し
て光電変換信号を生じる受光素子と、上記光電変換信号
をその大きさに応じた周波数信号に変換する変換回路
と、上記周波数信号を入力する計数回路と、上記計数回
路で計数された計数値に基いて上記対象物までの距離を
選定する距離選定回路とからなる。
【０００７】
【実施例】図１は、ＡＦカメラにおける距離検出装置の
例を示した説明図である。
例を示した説明図である。
【０００８】投光素子１２は、投光回路１１からの信号
を受けて断続的に発光する光を投光レンズ１３を通して
被写体１４（対象物）に照射するものであり、発光ダイ
オ―ド等で構成されている。受光素子１６は、被写体１
４からの反射光を受光レンズ１５を通して受光し、その
受光位置に応じた光電変換信号を生じるものであり、ポ
ジションセンシティブデバイス（ＰＳＤ）等で構成され
ている。Ｉ／Ｖコンバ―タ１７は、受光素子１６で光電
変換された電流信号をＩ／Ｖ変換（電流／電圧変換）す
るものである。１８はＡＧＣ（オ―トゲインコントロ―
ル）アンプ、１９はアンプ、２０は整流回路である。Ｖ
／Ｆコンバ―タ２１は、整流回路２０からの信号をＶ／
Ｆ変換（電圧／周波数変換）するものである。カウンタ
２２は、Ｖ／Ｆ変換された周波数信号のパルス数をカウ
ントするものである。演算回路２３は、カウンタ２２の
カウント値に基き、所定の演算処理により被写体１４ま
での距離を選定するものである。
を受けて断続的に発光する光を投光レンズ１３を通して
被写体１４（対象物）に照射するものであり、発光ダイ
オ―ド等で構成されている。受光素子１６は、被写体１
４からの反射光を受光レンズ１５を通して受光し、その
受光位置に応じた光電変換信号を生じるものであり、ポ
ジションセンシティブデバイス（ＰＳＤ）等で構成され
ている。Ｉ／Ｖコンバ―タ１７は、受光素子１６で光電
変換された電流信号をＩ／Ｖ変換（電流／電圧変換）す
るものである。１８はＡＧＣ（オ―トゲインコントロ―
ル）アンプ、１９はアンプ、２０は整流回路である。Ｖ
／Ｆコンバ―タ２１は、整流回路２０からの信号をＶ／
Ｆ変換（電圧／周波数変換）するものである。カウンタ
２２は、Ｖ／Ｆ変換された周波数信号のパルス数をカウ
ントするものである。演算回路２３は、カウンタ２２の
カウント値に基き、所定の演算処理により被写体１４ま
での距離を選定するものである。
【０００９】つぎに、図１に示した距離検出装置の動作
を、図２に示した波形図を参照して説明する。なお、図
１の“ａ”〜“ｅ”点における信号波形が、それぞれ図
２の（ａ）〜（ｅ）に対応している。
を、図２に示した波形図を参照して説明する。なお、図
１の“ａ”〜“ｅ”点における信号波形が、それぞれ図
２の（ａ）〜（ｅ）に対応している。
【００１０】投光素子１２で断続的に発光する光は、投
光レンズ１３を通して被写体１４に照射され、その反射
光は受光レンズ１５を通して受光素子１６に受光され
る。受光素子１６では、反射光の受光位置に応じた光電
変換信号（電流信号）が生じる（ａ）。なお、図２
（ａ）〜（ｄ）では説明上信号の変化をサイン波で描い
てあるが、実際には投光素子１２の断続的な発光に対応
して方形波に近いものである。光電変換された電流信号
は、Ｉ／Ｖコンバ―タ１７でＩ／Ｖ変換される（ｂ）。
Ｉ／Ｖ変換された電圧信号は、ＡＧＣアンプ１８および
アンプ１９で最適な大きさにまで増幅される（ｃ）。増
幅された電圧信号は、整流回路２０で全波整流される
（ｄ）。全波整流の代りに必要に応じて半波整流でもよ
い。整流された電圧信号は、Ｖ／Ｆコンバ―タ２１に入
力され、Ｖ／Ｆ変換される。整流された電圧信号を連続
的に変化する直流信号としてとらえると、整流前の電圧
信号の実効値に比例して変調されたパルス列が、Ｖ／Ｆ
コンバ―タ２１から生じることになる（ｅ）。なお、Ｖ
／Ｆコンバ―タ２１への入力信号に対して基準電位“Ｖ
b ”を離してとり（図２（ｄ）参照）、入力信号の変化
率が相対的に小さくなるようにすれば、Ｖ／Ｆコンバ―
タ２１のリニアリティのよい動作点でＶ／Ｆコンバ―タ
２１を動作させることができる。Ｖ／Ｆコンバ―タ２１
から生じたパルス列は、カウンタ２２により、投光素子
１２の発光の１周期の期間カウントされる（精度を上げ
るためには複数周期の期間カウントしてもよい。）。す
なわち、ここで初めて情報がデジタル化されるわけであ
る。そして、そのカウント値に基き、演算回路２３によ
り所定の演算処理がされ、被写体１４までの距離が選定
される。
光レンズ１３を通して被写体１４に照射され、その反射
光は受光レンズ１５を通して受光素子１６に受光され
る。受光素子１６では、反射光の受光位置に応じた光電
変換信号（電流信号）が生じる（ａ）。なお、図２
（ａ）〜（ｄ）では説明上信号の変化をサイン波で描い
てあるが、実際には投光素子１２の断続的な発光に対応
して方形波に近いものである。光電変換された電流信号
は、Ｉ／Ｖコンバ―タ１７でＩ／Ｖ変換される（ｂ）。
Ｉ／Ｖ変換された電圧信号は、ＡＧＣアンプ１８および
アンプ１９で最適な大きさにまで増幅される（ｃ）。増
幅された電圧信号は、整流回路２０で全波整流される
（ｄ）。全波整流の代りに必要に応じて半波整流でもよ
い。整流された電圧信号は、Ｖ／Ｆコンバ―タ２１に入
力され、Ｖ／Ｆ変換される。整流された電圧信号を連続
的に変化する直流信号としてとらえると、整流前の電圧
信号の実効値に比例して変調されたパルス列が、Ｖ／Ｆ
コンバ―タ２１から生じることになる（ｅ）。なお、Ｖ
／Ｆコンバ―タ２１への入力信号に対して基準電位“Ｖ
b ”を離してとり（図２（ｄ）参照）、入力信号の変化
率が相対的に小さくなるようにすれば、Ｖ／Ｆコンバ―
タ２１のリニアリティのよい動作点でＶ／Ｆコンバ―タ
２１を動作させることができる。Ｖ／Ｆコンバ―タ２１
から生じたパルス列は、カウンタ２２により、投光素子
１２の発光の１周期の期間カウントされる（精度を上げ
るためには複数周期の期間カウントしてもよい。）。す
なわち、ここで初めて情報がデジタル化されるわけであ
る。そして、そのカウント値に基き、演算回路２３によ
り所定の演算処理がされ、被写体１４までの距離が選定
される。
【００１１】このようにして求めた演算結果に基き、レ
ンズ位置の調整等、所定の焦点調整動作が行なわれる。
ンズ位置の調整等、所定の焦点調整動作が行なわれる。
【００１２】なお、Ｖ／Ｆコンバ―タの代りにＩ／Ｆ
（電流／周波数）コンバ―タを用いることも可能であ
り、この場合には電流信号を電圧信号に変換する必要が
ないので、ノイズの影響を少なくすることができる。
（電流／周波数）コンバ―タを用いることも可能であ
り、この場合には電流信号を電圧信号に変換する必要が
ないので、ノイズの影響を少なくすることができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、光電変換信号をその大
きさに応じた周波数信号に変換することにより距離検出
を行うので、短時間で高精度の測距動作を行うことが可
能となる。
きさに応じた周波数信号に変換することにより距離検出
を行うので、短時間で高精度の測距動作を行うことが可
能となる。
【図１】本発明における距離検出装置の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図２】図１に示した距離検出装置の動作を示した波形
図である。
図である。
【図３】従来例を示した説明図である。
１２……投光素子 １６……受光素子 ２１……Ｖ／Ｆコンバ―タ（変換回路） ２２……カウンタ（計数回路） ２３……演算回路（距離選定回路）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 対象物を照射する照射光を生じる投光素
子と、上記照射光によって照射された対象物からの反射
光を受光して光電変換信号を生じる受光素子と、上記光
電変換信号をその大きさに応じた周波数信号に変換する
変換回路と、上記周波数信号を入力する計数回路と、上
記計数回路で計数された計数値に基いて上記対象物まで
の距離を選定する距離選定回路とからなる距離検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15633791A JPH055620A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 距離検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15633791A JPH055620A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 距離検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH055620A true JPH055620A (ja) | 1993-01-14 |
Family
ID=15625570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15633791A Pending JPH055620A (ja) | 1991-06-27 | 1991-06-27 | 距離検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH055620A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6529281B2 (en) * | 1998-12-28 | 2003-03-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Position sensitive detectors and distance measuring apparatus using them |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63150613A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-06-23 | Seikosha Co Ltd | 測距装置 |
| JPS63290907A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 距離計測装置 |
| JPH01254807A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-11 | Canon Inc | 測距装置 |
| JPH0259608A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 車両用測距装置および車両 |
| JP3119710B2 (ja) * | 1992-01-22 | 2000-12-25 | 株式会社日立製作所 | 炉内中性子束モニターの取外し方法及び装置 |
-
1991
- 1991-06-27 JP JP15633791A patent/JPH055620A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63150613A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-06-23 | Seikosha Co Ltd | 測距装置 |
| JPS63290907A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 距離計測装置 |
| JPH01254807A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-11 | Canon Inc | 測距装置 |
| JPH0259608A (ja) * | 1988-08-25 | 1990-02-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 車両用測距装置および車両 |
| JP3119710B2 (ja) * | 1992-01-22 | 2000-12-25 | 株式会社日立製作所 | 炉内中性子束モニターの取外し方法及び装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6529281B2 (en) * | 1998-12-28 | 2003-03-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Position sensitive detectors and distance measuring apparatus using them |
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