JPH05502624A - 缶端部封缶剤塗布機械における欠陥検出装置及び方法 - Google Patents

缶端部封缶剤塗布機械における欠陥検出装置及び方法

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JPH05502624A JP3502695A JP50269590A JPH05502624A JP H05502624 A JPH05502624 A JP H05502624A JP 3502695 A JP3502695 A JP 3502695A JP 50269590 A JP50269590 A JP 50269590A JP H05502624 A JPH05502624 A JP H05502624A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 缶端部封缶剤塗布機械における欠陥検出装置及び方法発明の技術分野 本発明の技術分野は缶端封缶剤塗布機械における制御プロセスに関し、特に、封 缶剤塗布物の欠陥検出に関する。
発明の背履 本発明は、金属缶の製造に役立つ。金属缶は包装において種々の使用に用いられ ている。金属缶は代表的にはスチールもしくはアルミニウムのいずれかにより構 成されている。スチール缶の代表的な構造は3つの部分を使用する。始めに、ス チールシートか巻かれて円筒となる。その後、この円筒は円形底部及び円形上部 でもって結合される。これら円形底部及び円形上部は、以後、缶端部という。
アルミニウム缶の代表的な構造は2つの部分を使用する。第1の部分は一体の円 筒及び底部である。第2の部分はスチーノ略丘に使用されたものと同様の缶端部 である。
スチール缶及びアルミニウム缶のいずれの場合にも、同様な技術を用いて缶端部 を基部構造に取付けるのに用いる。缶端部の外周エツジは円筒基部のエツジ上に 回転され、そこで曲げられて形つけられる。この結合においてより良好な封缶を 達成するためには、通常、缶端部の外周に環状パターンで塗布された封缶剤を用 いる。この封缶剤は缶端部が円筒上に曲げられたときに缶端部と円筒基部とのる 。これらの機械は開発が進んでおり、高速度で動作する。代表的な設備において は、缶端部は供給部から塗布が発生するステーションに逐一供給される。この塗 布ステーションにおいては、缶端部はその対称軸の回りで自転する。高圧状態の 封缶剤の供給部に関してニードル弁が用いられる。ニードル弁か開とされ、これ により、封缶剤が自転している缶端部上に吹きつけられる。代表的には、ニード ル弁は、缶端部の1回転期間以上、ある場合には缶端部の2と1/2回転期間以 上、開とされ、封缶剤のより平坦な層を提供する。封缶剤の塗布が発生すると、 ニードル弁は閉とされる。この後、缶端部は塗布ステーションを離れる。代表的 には、輸送機構が用いられ、上記缶端部を集合ステーションに移動する。この集 合ステーションでは、缶の他の部分との組み立て前の缶端部か集合させられてい る。1つの缶端部か集合ステーションに移動している間、缶端部供給部から他の 缶端部かデ布ステーションにもたらせ、その後が自転されて封缶剤塗布を受ける 準備に入る。
上述の缶端部封缶剤塗布機械は高度に専用化されて非常に高速度で動作する。
この種の代表的な機械は1針当たり100個の缶端部上に封缶剤を塗布する。こ の技術は比較的古くまた高度に洗練されているので、欠陥の缶端部塗布の発生は 非常に低い。この種の代表的な機械においては、欠陥塗布発生は数1000個の 処理された缶端部当たり1個より少ない(あるときにさらに少ない)。これは比 較的低い欠陥率に見えるが、このような欠陥レベルも問題を引き起こすことがあ る。このような缶は、しばしば、汚染しやすい食料品もしくは高圧下で貯蔵され る材料に用いられる。また、ある場合、缶に封止された材料は科学的に活性的で あって不完全な封止を冒すことかできる。また、缶端部を缶基部本体に取り付け るための曲げ形付はプロセス(crimping process)は封缶剤欠 陥の検出を困難にしている。代表的には、この曲げ形付はプロセスは、少なくと も短い時間、封缶剤がなくとも適切な封缶をなす。このように、たとえば圧力状 態の缶が封缶工場を離れるときには正常となるが、出荷時に圧力状態の内容物を わずかにだめにしリークすることか知られている。このような場合、代表的には 、ロット全体を破棄して他の欠陥の缶か最終消費者に出荷されないようにするこ とが必要である。これは、特に、封止された材料が食料品である場合である。
封缶剤の欠陥塗布結果となるいくつかのノナリオか知られている。最も重大な欠 陥においては、封缶剤のある部分によってニードル弁か妨害されてニードル弁か 開とならない。このような場合、封缶剤は缶端部に塗布されず、従って、缶の結 合部には封止かされない。他の種の欠陥においては、ニードル弁は部分的に妨害 され、この場合、不充分な封缶剤か缶端部に塗布される。また、封缶剤中の泡が 特別の缶端部の塗布中に到達すると、封缶剤の不充分な塗布か発生する。これは 封缶剤が缶端部上に塗布されない期間を発生させ、この結果、封缶剤抛坏充分こ れらの缶端部上の封缶剤塗布物の欠陥を検出する努力がなされている。従来技術 は缶端部上に塗布された封缶剤の検査を含む。第1の型のシステムは赤外線源及 び赤外線センサを用いる。赤外線源は塗布された封缶剤の環状ストリップに指向 している。センサは封缶剤ストリップ及び隣接の非被覆の缶端部から反射した赤 外線を検出する。封缶剤塗布物中の飛びはね(skip)もしくは隙間(voi d)は塗布された封缶剤とむき出しの缶端部との間のコントラスト比の関数とし て検出される。このようなシステムは光源及びセンサの整夕11(alignm ent)に脱感である。
また、封缶剤の色変化もしくは缶端部の反射率は測定の精度に悪影響する。さら に、この種のシステムは光と封缶剤の厚い被覆とを区jすできるのではなく、大 きな隙間もしくは飛びはねのみを検出てきることによって制限される。
第2の型のシステムは機械映像(vision)を用いる。被覆された缶端部の 像は缶端部が封缶剤塗布ステーションを離れた後に形成される。この像はディジ タル化され、ディジタル化された像は無欠陥の標準缶端部から反射された像と比 較される。このシステムは代表的には標本の反射率と標準の反射率とを比較する 。この方法は封缶剤の完全に不変な反射率に依存する。この方法は、飛びはね、 隙間等の大きな欠陥を検出てき、缶端部の物理的寸法を決定する付加的能力も有 する。
封缶剤塗布物を検出する従来の努力は完全には成功していない。代表的な機械映 像システムは光源及び視覚センサの位置において非常に精密な許容差を必要とす る。赤外線検出システムにおいても同様である。代表的には封缶剤検出はむしろ 汚い環境において発生するので、これら従来システムの光源及びセンサは常に清 潔にしておかなければならない。この検出システムの保守は缶端部上の封缶剤の 塗布に利用される時間を少なくする。従来システムに用いられるセンサは代表的 には非常に高価である。また、このような従来システムは大量のコンピュータ処 理能力を必要とし、これはさらに欠陥検出システムの費用に追加される。従って 、缶端部封缶剤塗布における欠陥を検出するための技術においては、高価でなく かつ保守をほとんど必要としないことが要求される。
弁型の概略 本発明は封缶剤塗布機械において用いられる被制御弁を介して封缶剤の流量に関 する量を検出することによって動作する。好ましい実施例においては、この量は ニードル弁の弁室の圧力である。缶端部が封缶剤神布の位置あるときに、近接検 出器は電子的コントローラに知らせる。これにより電子的コントローラは特別の 缶端部に特別の読み取りを相互関連つける。電子的コントローラはニードル弁の 開閉動作期間の少なくとも一所定期間に封缶剤の流量をモニタする。これらの所 定期間の1つにおいて異常を検出すると電子的コントローラは拒否信号を発生し 、これにより、輸送機構は次のステーションへ缶端部の流れから上記特別の缶端 部を除去して拒否パイル中に置くことになる。
本発明の好ましい実施例によれば、封缶剤の流量に関係する量はニードル弁の弁 室内の圧力である。この圧力は比較的安全なレベルとなるようにされて0る期間 だけモニタされる。この期間中は、弁圧力は比較的定常的であって静的圧力より わずかに低いが、封缶剤は缶端部上に定常的に塗布される。この期間中には、電 丑勺コントローラは平均圧力レベルを計算する。この平均圧力レベルは上限値及 び下限値と比較される。平均圧力が上限値及び下限値の範囲外のときに、圧力異 常が検出されて缶端部が拒否される。
上述の上限圧力値及び下限圧力値は初めに経験的に設定される。これら経験的な 限界値は特殊な型の封缶剤塗布機械の正常な動作中の期待レベルの観察に基づく 。
限界圧力値の上記設定は封缶剤塗布機械の動作中に適宜調整され、これにより、 基本圧力における操作者の初期変化を考慮する。このような機械の弁は代表的に は磨耗してこれらの開口径を増大させる。このように、封缶剤塗布機械の操作者 が封缶剤の圧力をモニタしかつ周期的に調整することが必要である。圧力は僅か に減少させて弁開口の磨耗を補償させるようにしなければならない。さもな0と 、弁開口の磨耗量がより大きくなる程、缶端部に塗布される封缶剤の量か増大す る。
好ましい実施例においては、圧力異常に対する限界圧力値は以前の所定数の弁開 動作に対して測定された圧力レベルの重み付けされた平均値に基づいて調整され る。以前の弁開動作中に測定された圧力レベルの平均圧力からの上述の計算に基 つく限界圧力値の調整により欠陥検出器は圧力における変化を補償する。
さらに、本発明の好ましい一形態においては、電子的コントローラは初期期間に おける平均圧力を限界圧力値と比較する。この初期期間は弁室内の圧力が弁の彷 期間動作後低下してその後回復したときの時間に対応する。圧力異常は初期期間 平均圧力か限界圧力値(つまり、静的圧力レベルより大きく下回らないイωより 大きくなったときに検出される。上述の場合と同様に、この限界圧力値は封缶剤 塗布機械の正常な動作中の圧力のmllから経験的に決定できる。しかしながら 、好ましい実施例においては、この限界圧力値は以前の所定数の弁開動作中に測 定された圧力平均値の重み付けされた平均値に基ついて決定される。
本発明のさらに他の実施例によれば、測定された量は使用された被制御弁を流れ る封缶剤の流量である。この流量は流量センサによって直邦■1淀できる。ある いは、この流量は校正オリフィスの一方側の圧力微分値を検出することによって も測定できる。次に、この圧力微分値は封缶剤の流量に変換される。この実施例 においては、電子的コントローラは定常状態期間及び初期弁開期間における流量 異常のためにチェックする。この実施例における流量異常のためのテストは上述 の圧力センサの実施例と同様の各期間の平均流量に対してなされる。また、上述 奥面9閘単に脱型 本発明の上述の形態及び他の形態は次の図面に関連した以下の本発明の説明から より明確になる。
図1は本発明の好ましい実施例における封缶剤塗布機械の関連する機械的部分の 構成及び電子的コントローラを概略的に示す。
図2は本発明の好ましい実施例の電気的接続、特に、電子的コントローラの電気 的接続を概略形式で示す。
図4は弁が部分的に妨げられたときの圧力曲線を示す。
図5は定常状態圧力が正しくなく封缶剤塗布が不充分となる期間の圧力曲線を示 す。
図6は図1、図2に示すコンピュータコントローラの本発明を実行するための制 御フローチャートを示す。
図7は本発明の他の実施例における封缶剤塗布機械の関連する機械的部分の構成 及び電子的コントローラを概略的に示す。
図8は本発明のさらに他の実施例における封缶剤塗布機械の関連する機械的部分 の構成及び電子的コントローラを概略的に示す。
好ましい実施例の詳細な説明 図1は本発明の好ましい実施例のMIMa<r部分を概略的に示す。図1の実施 例においては、被制御弁を流れる封缶剤の流量に関係する量は弁室内の圧力であ る。
図1は封缶剤欠陥の検出用コントローラを含む封缶剤塗布機械IOを示す。図1 に示される構造の一部は従来技術に従って構成され、図1の他の部分は本発明に 従って構成される。封缶剤塗布機械10の動作は以下の説明で明らかとなる。
封缶剤塗布機械10は缶端部30に封缶剤タンクを塗布させる。缶端部30は缶 端部30上32から引き下げられ、塗布位置34に移動する。塗布位置34では 、缶端部はモータ40によって回転する。圧力源20はタンク22内の液状封缶 剤を作動させ、タンク22はさらに弁アセンブリ24に取り付けられている。
弁アセンブリ24は弁室26及びニードル弁27を含む。従来技術によれば、缶 端部30はモータ40によって自転されている間に、封缶斉挫布機械はニードル 弁27を即桐こ開とする。このように、封缶剤タンクからの封缶剤の一部は缶端 部30上に環状ストリップ形で塗布される。従来技術によれば、ニードル弁27 は代表的にはモータ40による缶端部30のほぼ2と1/2回転たけ開とされる 。
次に、封缶剤塗布機械IOはニードル弁26を閉とする。しかる後に、缶端部3 0は最後に塗布位置34から搬送されてパイル36に位置する。従来技術によれ ば、缶端部30の塗布位置34への搬送動作、従って、蓄積パイル36への搬送 動作は、スピニングモータ40のタイミング及びニードル弁27の開と共に、封 缶剤塗布機械動作システムによって同時に移動される。この動作システムは、複 雑な機械的カム機構、電気的機構、もしくは水力機構、もしくは空気機構である 。
封缶剤塗布機械10の動作のこの部分の正確なことは従来技術であり、本発明と 関係ない。
本発明の好ましい実施例によれば、封缶剤塗布機械IOは、コンピュータコント ローラioo、圧力検出器110、近接センサ120、拒否装置130、キーボ ード140、及びディスプレイ150を含んでいる。コンピュータコントローラ は圧力センサ110から弁室26内の圧力を示す信号を受ける。さらに、コンピ ュータコントローラ100は近接センサ120から信号を受ける。近接センサ1 20は缶端部30か封缶剤塗布位置34に到漣したことを示す信号を発生する。
コンピュータコントローラ100はこの信号を用いて測定プロセスの開始を決定 し、この測定プロセスにおいてはコンピュータコントローラ100は圧力センサ 1、 I Oによって感知された圧力をモニタする。以下により詳細に説明する ように、ニードル弁27か開となっている間の1つもしくはそれ以上の所定数の 時間内でコンピュータコントローラ100は圧力センサ100によって感知され た弁室26内の圧力をモニタする。コンピュータコントローラ100がこれらの 時間のいずれかにおいて圧力異常を検出したときには、コンピュータコントロー ラ100は拒否装置130を動作させる。拒否装置130は缶端部30を蓄積パ イル36へのラインを拒否装置38へのライン\移行させる。コンピュータコン トローラ100は適切な時間に拒否装置130に信号を発生し、これにより、圧 力異常が発生したときには拒否パイル38へ分岐された缶端部30は封缶剤位置 34にあったものと同一であることを確保する。コンピュータコントローラ10 0と封缶剤塗布機械10の操作者とのインターフェイスはキーボード+40及び ディスプレイ+50によって行われる。
図2はコンピュータコントローラ100のより詳細を概略図式で示す。コンピュ ータコントローラ+00は、中央処理装置101、入力バッファ102、入力バ ッファ]、 03、キーボードバッファ104、ランダムアクセスメモリ105 、リートオンリメモ1月06、出力駆動装置107、及びディスプレイ駆動装置 108を含む。中央処理装置101はコンピュータコントローラ100の主要な 処理及び制御機能を提供する。本発明の好ましい実施例によれば、中央処理装置 101はIntel 8088マイクロプロセツサあるいはそれと同等のものに よって構成されている。
圧力センサ110は入力バッファ102を介してコンピュータコントローラ10 0に接続されている。本発明の好ましい実施例によれば、圧力センサ110はK i 1ite Sem1conductor Productsによって製造さ れたBM100O高精度小型叩力変換器である。この圧力変換器は薄いステンレ ス鋼ダイヤフラムよりなり、このダイヤフラムは一面の圧力と他の面の標準圧力 との差に基づいてたわむ。このステンレス鋼ダイヤフラム上には1セントのピエ ゾ抵抗素子か結合されている。代表的な形態においては、これらピエゾ抵抗素子 はホイットストーンプリツノとして形成されている。ステンレス鋼ダイヤプラム におけるたわみはこれらピエゾ抵抗素子の抵抗差による。これらピエゾ抵抗素子 の抵抗比は圧力の指示を提供する。
入力バッファ102は、ホイットストーンブリッジのバイアス回路、このブリッ ジの対向点間の電圧を感知する感知回路、及びアナログ/ディジタル変換器コア を含み、このアナログ、/ディジタル変換器コアは感知された電流信号を中央処 理装置、101によって取扱い可能なディジタル数に変換する。
近接センサ120は缶端部30が封缶剤塗布ステーション30に至漣したことを 検出して信号を発生する。好ましい実施例においては、近接センサ120は封缶 剤塗布機械10のフィート機構に接続され、上記信号を発生する。近接信号が発 生する正確な時間は次の2つの要因を除いて重要でない。第1に、ニードル弁2 7か開となって特別の缶端部30上に封缶剤を塗布する時間の前に、上記近接信 号を確実に受けとらなければならない。第2に、この近接信号の受信からニード ル弁27の開までの時間は比較的一定でなければならない。これは、この近接信 号により、コンピュータコントローラ100が圧力センサ110からの圧力をモ ニタする所定の期間を設定するからである。入力バッファ103は近接センサ1 20からの信号を受信し、中央処理装置101によって読み取り可能な信号を形 成する。これは中央処理装置+01への割り込み信号の性質であり、この場合、 中央処理装置lotはこの割り込み信号に基づいて優先機能を実行する。あるい は、入力バッファ103は中央処理装置101に周期的に読みだされるレンスタ をセットもしくはリセットできる。この場合、中央処理装置101は十分な頻度 て読み出されるようにプログラムされ、近接信号の検出とニードル弁27の開と の時間差に大きな変化かないことを保証する。
キーボード140はコンピュータコントローラ100の操作者制御を可能にする 。キーボー1’ l 40により封缶剤タンク10の操作者はコンピュータコン トローラ100の動作モードを制御できる。また、キーボード140により操作 者はコンピュータコントローラ100の動作に必要とされる定数を入力できる。
キーボードバッファ104はキーボード140からの信号を受信してこれらの信 号を中央処理装置+01によって認識できる型の信号に変換する。
中央処理装置101はランダムアクセスメモリ105及びリードオンリメモリ1 06を含むメモリユニットに双方向的に結合されている。リードオンリメモリ1 06は永久型メモリであって、中央処理装置101の制御のためのプログラム及 び正常な動作に必要な定数を格納している。リードオンリメモ1月06は製造と 同時に永久的に固定され、半導体によって製造されたリードオンリメモリで構成 することもてきる。あるいは、特に、比較的少数のコンピュータコントローラ1 00が同一のプログラムを有している設備に対しては、リードオンリメモ1月0 6はプログラマブルリードオンリメモリで構成できる。プログラマブルリードオ ンリメモリはコンピュータコントローラ100に設置される前に電気的にプログ ラムされる。プログラムがリードオンリメモリ106内に固定されることを除け ば、メモリのこれら2つの形式のメモリは同一に動作する。必要とされるり一ド オンリメモリの量は主に中央処理装置101によって実行されるプログラムの複 雑さに依存する。ランダムアクセスメモリ105は好ましくはいわゆるスタティ ックランダムアクセスメモリにより構成される。このメモリは中央処理装置10 1からの電気的信号によって繰り返し読出し再書込みできる。本発明の好ましい 実施例によれば、ランダムアクセスメモリ105は192にバイトのメモリであ る。
コンピュータコントローラ100は出力駆動回路107に接続され、出力駆動回 路107は拒否装置130に接続されている。中央処理装置101は出力駆動回 路107に信号を送出し、缶端部30か拒否されていることを示す。次に、出力 駆動回路107は拒否装置130に対して必要な信号を発生し、その特別の缶端 部30を拒否する。上述のごとく、この拒否信号の発生時間は選択され、この結 果、特別の缶端部30上の封缶塗布機械圧力異常の発生は拒否装置130によっ て拒否されている同一の缶端部30に導かれるようにする。これは圧力異常の検 出後の所定時間に拒否信号を発生することを意味する。この所定時間は、封缶塗 布機械10が特別の缶端部30を塗布位置34から拒否装置+30の近傍に輸送 するのに必要な時間に対応する。
コンピュータコントローラ100はディスプイ駆動装置108に接続され、ディ スプレイ駆動装置108はディスプレイ150に接続されている。中央処理装置 +01は操作者に通信ずへきメソセーノに対応する信号をディスプレイ駆動装置 108に送出する。次にディスプレイ駆動装置108は必要な信号を発生してデ ィスプレイ150に必要な表示をさせる。コンピュータコントローラ100のよ うに小型のコンピュータにおいては、通常、陰極線管ディスプレイを駆動するビ デオ信号を用いる。ディスプレイ駆動装置108及びディスプレイ1.50によ りコンピュータコントローラ1.00は操作者に対して命令の要求、入力コマン ドの認識等の通信を行える。
図3はニードル弁27の正常動作中の圧力対時間曲線を示す。本発明の好ましい 実施例によれば、時間対圧力曲線は複数のモニタ領域に分割される。時間T。
は近接信号の受信時間である。上述のごとく、この近接信号はニードル弁27か 開となる時間より早くなるように選択されなければならない。第1の領域310 (以下、領域Iとする)はニードル弁27の開に実質的に一致する時間T1で開 始し時間T2て終了する。領域1ては、圧力曲線は供給圧力(0,0とする)よ り実質的な低下を示し、その後、供給圧力に極く近くまで回復する。この圧力低 下及び回復はニードル弁27の初期的な開に対応する。領域Iでは、封缶剤か流 れ出して圧力の低下を招き、その後、定常状態条件に漸近して圧力が回復する。
缶端部30上の封缶剤の適格な塗布を得るためには、領域Iにおける平均圧力3 15はある上限圧力値313より低くなければならないことか分かった。コンピ ュータコントローラ100の機能の1つは領域Iにおける平均圧力315を測定 して上限圧力値3 ]、 3ど比較することである。
第2の時間領域320(以下、領域■とする)は時間T2て開始し、時間′F。
で終了する。領域■は弁の初期的な開から定常状態条件への遷移領域である。領 域■内のこの遷移においては、圧力は供給源の静的圧力より一般的に低いピーク 値に到達し、その後、定常状態圧ツノもしくはその近傍まで低下する。領域■内 における圧力対時間曲線の本質はこの領域の圧ツノに基ついて制御ができる程に は充分には不変でないことが分かった。従って、本発明の好ましい実施例によれ ば、コンピュータコントローラ100は領域Hにおいて測定された圧力をいかな る限界圧力値とも比較しない。
第3の領域330(以下、領域■とする)は時間T3て開始し時間T4て終了す る。領域■の圧力は一般的に定常状態圧力である。このときには、弁ハウシンク 24内の圧力は→伽こ圧力源20によって提供される静的圧力より小さい比較的 定常の量である。封缶塗布機械に塗布される封缶剤の大部分は領域IIIにおい て発生するものと考えられる。コンピュータコントローラ+00の機能1つは領 域■における平均圧力335を測定して上限圧力値333及び下限圧力値337 と比較することである。平均圧力が上限圧力値333と下限圧力値337との間 以外であるときに、圧力異常か検出される。
第4の時間340(以下、領域■とする)は時間T、で開始し、次のサイクルに 対応する次の近接信号まで続く。ニードル弁27は領域■では閉である。領域■ ては、圧力は領域■の定常状態圧力から回復し、圧力源20によって提供される 静的圧力に戻る。この期間では、実際には、圧力は静的圧力を超えるオーバシュ ートを含み、その後、緩和されて静的圧力に向かう。この領域■での圧力測定値 に基づく制御可能な程、領域■ての圧力に一定でないことが分かる。従って、本 発明の好ましい実施例では、領域■で測定された圧力はいかなる限界圧力値とも 比較しない。
図4はニードル弁27は初めに開となるかその後妨害された場合の圧力対時間曲 線を示す。領域Iでは圧力は初めに圧力源20によって提供される静的圧力より 低下するが、領域■の平均圧力315は上限圧力値313より低くならない。
その後、圧力は静的以上にはね上かり、その後、静的圧力近傍に回復する。また 、領域■の平均圧力335は上限圧力値333と下限圧力値337との間に存在 しない。コンピュータコントローラ100はこの圧力対時間曲線に対応する缶端 部30を拒否する。
図5はニードル弁27が何らかの理由により封缶側塗布期間のすべてに旦って開 とならない場合を示す。この場合、圧力対時間曲線は圧力源20の名目上の圧力 近傍で比較的定常となる。領域■ての平均圧力313及び領域■ての平均圧力は 圧力源20によって提供される静的圧力と同一である。コンピュータコントロー ラ1. OOは図5に示す圧力対時間曲線を有する缶端部30を拒否する。
領域■、■、■、■の境界を形成する時間T、 、T、、T’、 、T、 、T 、は各種の封缶塗布機械1.0に対して経験的に定められる。この領域境界の経 験的決定は独立に証明された適正な封缶剤塗布の複数の場合の圧力対時間曲線を 観察することによってなされる。一般に、最低圧力を有する圧力対時間曲線の部 分(領域I)及び定常圧力を有する部分(領域■)に比較的容易に決定できる。
他の実施例においては、上述の時間のいくつかは、時間T1に対して経験的に設 定され、時間T、はコンピュータコントローラ100によって決定される。本発 明によれば、時間T1はニードル弁27か開となった時間とすべきである。この 他の実施例においては、コンピュータコントローラ100は測定された圧力が所 定のしきい値より低下した最も早い時間を決定する。次に、この最も早い時刻を 時間TIとする。時間T2、T、 、T、は時間T1に基づいて決定する。さら に洗練された他の実施例では、時間T1を規定するしきい値は、測定された圧力 が現在の缶端部30に対する所定しきい値より低下した最も早い時間と測定され た圧力がそれ以前の所定数の缶端部30に対する所定しきい値より低下した最も 早い時間との重み付けされた平均値に基ついて決定される。
図6はコンピュータコントローラ100の中央処理装置101の本発明を実行す るための制御フローチャートを示す。本発明の好ましい実施例においては、図6 に示すプログラム200はコンピュータコントローラ100のリードオンリメモ 1月06に格納されている。中央処理装置101はこのプログラムに応答して圧 力異常か検出されたときにはいつでも拒否装置130を活性化させる。
図6に示すプログラム200はコンピュータコントローラ100力体発明のプロ セスを制御するのに必要な正確かつ詳細なステップを示すものではない。図6は 必要なプログラムの一般的な全体概略を示す。コンピュータプログラミング技術 における当業者は、特別の中央処理装置101がこれに対応する命令セットと共 に選択されれば、本発明の説明と関連付けたこの図から必要な正確なプログラム を作りだすことか出来る。また、図6に示すプログラム200は本発明を実行す るための単なるプログラムの−PIてしかない。本発明は図6に示すプログラム 200の詳細に限定されるものでない。
プログラム200は開始ブロック201で開始する。まず、プログラム200は 近接信号が近接センサ120から受信されたか否かを判捌1する(判拐リブロッ ク202)。近接信号か受信されていなければ、プログラム200は中央処理装 置101に対して判別ブロック202に戻らせるようにし、この信号の追求を継 続する。近接信号か検出されて制御を開始できることを示すまで、中央処理装置 101はこのループに留まる。
近接信号を受信すると、プログラム200は中央処理装置101に対してリアル タイムクロックを開始させるWブロック203)。このリアルタイムクロックを 用いて時間Tl、T2、T3、T4を判別し、これにより、領域■、■、■、■ の境界を判別する。次にプログラム200はクロックの開始後時間T、が経過し たか否かを’1J151i11する(判別ブロック204)。この時間が経過し ていないときには、プログラム200は処理ブロック204をこの時間経過する 前で繰り返す。このように、コンピュータコントローラ100は領域Iの開始を 待って測定を実行する。
領域1の開始を受けると、プログラム200は中央処理装置101に対して圧力 センサ110からの圧力データを格納させるようにする。本発明の好ましい実施 例においては、入力バッファ102は中央処理装置101の動作速度に同期して 圧力センサのアナログ出力を繰り返してサンプルする。入力バッファ102は各 サンプルされたアナログ値を中央処理装置101によって取扱可能なディジタル 値に変換する。領域■の時間では、中央処理装置101はこれらディジタル化さ れた圧力サンプル値をランダムアクセスメモリ105に格納する。これら格納さ れた圧力値は後に中央処理装置101による圧力異常検出において用いられる。
次に、プログラム200は領域Iの終了を示す時間T2が経過したか否かを判別 する(Ilffllブロック206)。この時間が経過していなければ、制御は 処理ブロック205に戻り、検出された圧力を再びサンプルして格納する。中央 処理装置101は領域■の終了まで測定された圧力の受信カリ格納を行うループ に留まる。
次に、プログラム200は領域■の開始を示す時間T3が経過したか否かを判別 する(1’+15311ブロツク207)。本発明の好ましい実施例によれば、 コンピュータコントローラ100は領域■の圧力に対して感知しない。従って、 コンピュータコントローラ100はこの時間においてはアイドル状態である。時 間T3か経過していなければ、プログラム200はこの時間が経過するまで判別 ブロック207を繰り返す。その後、領域■では、中央処理装置101は上述と 同様に入カバソファ102からサンプルされたディジタル圧力データを受取り格 納する処理ブロック208)。この圧力データはランダムアクセスメモ1月05 の他の部分に格納され、後に、圧力異常の半11911に用いられる。
次に、プログラム200は領域■の終了を示す時間T、か経過したか否かを判別 する(判別ブロック209)。この時間が経過していなければ、制御は処理ブロ ック208に戻り、入力バンファ102からの次のサンプル圧力値を受取り格納 する。プログラム200は時間T4の終了によって決定される領域■の終了まで このループに留まる。
領域■の終了時には、コンピュータコントローラ100は欠陥の封缶剤塗布物の 検出のためのすべての圧力データの格納を完了する。次に、プログラム200は ランダムアクセスメモ1月05に格納されたサンプル圧力データを解析して圧力 異常の有無を判F311する。一般に、領域■もしくは領域■における圧力異常 の検出によりコンピュータコントローラ100は該当缶端部30を拒否する。
次に、プログラム200は領域Iの平均圧力を計算する処理ブロック210)。
次に、この平均圧力AP21は領域Iの上限圧力値313ど比較される(半間リ ブロック211)。これは APzt < Hzt ただし、RZIは領域■の上限圧力値313、か否かを判別する。この判%l! 果が否のときには、圧力異常が検出されたことになる。この場合、プログラム2 00は拒否ルーチンに進むが、これについては後述する。
計算された平均圧力A P z 1がこの1153+1を通過すると、プログラ ム200は領域Iの圧力限界値を自動的に更新すぺぎか否かをIJ5jlする( 豹拐リブロック2I2)。
好ましくは、コンピュータコントローラ100により圧力上限値H21を自動的 に更新すべきか否かの操作者選択をできる。この操作者選択はキーボード140 を介してコンピュータコントローラ1.00に伝達される。この圧力上限値が更 新すべきときには、圧力上限値H2□は更新される(資)理ブロック213)。
値H,Nは一般に初めは経験的に決定される。この初期値H2Iはリードオンリ メモ1月06に格納することもでき、また、キーボード130を介して入力する こともできる。
自動限界更新豹拐すは好ましくは缶端部30の標本の圧力APzlの平均値のな ましく直皮ひこの標本に対する圧力の範囲のなまし値に基ついてなされる。本発 明の好ましい実施例によれば、この標本は以前のすへての缶端部30より少ない 。代表的には、本発明は各100個の缶端部30当たり最後の5個の缶端部30 の標本を用いる。なまし平均値SM2..は次のごとく計算される。
SMz!+ −(100%−3F)X MPzl + SF X SMz1+  −まただし、SFは0%と100%との間のなまし係数、M P z 、は標本 の要素の平均圧力AP;zの平均値、SM、、、は計算すべきなまし平均値、S MZIJ −1はなまし平均値の前回値である。このアルゴリズムは指数的平均 法として知られている。最大の重みは最後にI11定された値に与えられ、その 前に測定された値は各前回の発生毎にSFの係数の重みで減少する。なまし範F flJ S R21hは次のごとく計算される。
5RZIJ = (100%−5F) X Rzl + SF X 5RZII −まただし、SFはなまじ係数、RZIは領域Iの標本内での最大平均圧力A  P z 1と最小平均圧力AP21との差から計算される範囲、5R21Jは計 算すべきなまし範囲、SR,21J−1は、なまし範囲の前回値である。次に、 領域■の更新された上限圧力値)Telは次のごとく計算される。
Hz1=SMz1 +(SR,zl x LFHz+ + LOHzj)ただし 、LFH2,は領域Iに対して経験的に決定された限界係数上限値であって0き 2との開の値、LOH2,は領域■に対して経験的に決定された限界オフセット 上限値である。
次に、プログラム200は領域■における平均圧力AP2111を計算する処理 ブロック214)。このプロセスはランダムアクセスメモ1月05から領域■中 に格納された圧力サンプル値の読出し及び平均圧力APz++1の計算を含む。
次に、プログラム200はこの平均圧力AP7111が所定の上限圧力値333 と所定の下限圧力値337との間にあるか否かを豹罪1する処理ブロック215 )。この判別は、 Lz+II< APzltl< HztIjただし、AP21.[は領域mにお ける計算された平均圧力値、L、1j!は下限圧力値337、H2IIIは上限 圧力値333である、を満足するか否かである。
上述のごとく、下限圧力値L7111及び上限圧力値H2I11は一般に経験的 に決定される。平均圧力AP21+1がこれらの限界値の間になければ、プロク ラム200は拒否ルーチンに進むが、これについては後述する。
領域■において計算された平均圧力A P z 1+ tが下限圧力値L211 1と上限圧力値F■、1.1との間にあるときには、プログラム200はこれら 上限圧力値、下限圧力値を自動的に更新すべきか否かを豹拐11する(判別ブロ ック216)。好ましくは、コンピュータコントローラ100により上限圧力値 H2III及び下限圧力値Lllllを自動的に更新すへぎか否かの操作者選択 をできる。この操作者選択はキーボード140を介してコンピュータコントロー ラ100に伝達される。これらの圧力限界値が更新すべきときには、自動的にプ ログラム200はこれら限界値を更新する処理ブロック217)。値Hz1と同 様に上限圧力値H2111及び下限圧力値L□l、は一般に初めは経験的に決定 される。これらの初期値はリードオンリメモ1月06に格納することもでき、ま た、キーボード130を介して入力することもできる。上限圧力値Hz++1及 び下限圧力値Lz・1、の自動限界更新!l’l拐+1は好ましくは缶端部30 の標本の圧力A P z + t 1の平均値のなまじ値及びこの標本に対する 圧力の範囲のなまし値に基づいてなされる。上述のごとくこの標本は以前のすべ ての缶端部30より少ない。なまし平均値S Mz 1114は次のごと(計算 される。
SMzII+1= (100%−3F) X MPzl;]+ SF X SM ZIIIJ −まただし、SFは0%と100%との間のなまし係数、M P  z l+ +はAP7111の平均値、SMzm+は計算すべきなまし平均値、 SMZIIIJ −1はなまじ平均値の前回値である。なまし範囲SR7□j、 は次のごとく計算される。
5R2111j−(100%−3F) X Hzt、1+SF X 5RZII IJ−まただし、SFはなまじ係数、R21+1は領域■の標本内での最大平均 圧力AP21,1と最小平均圧力A P 、 、 、 、との差から計算される 範囲、5Rzl++Jは計算すべきなまし範囲、5R2111,−1はなまじ範 囲の前回値である。次に、領域■の更新された上限圧力値H20,及び下限圧力 値L−ztuは次のごとく計算される。
Hz++t−SMz+++ + C3Rz11+ X LFH2111+ LO Hz+1+)Lz+1+=SMzm (SRz11+ X LFLzm + L OLz1]+)ただし、LFH2,、、は領域■に対して経験的に決定された限 界係数上限値であって0と2との間の値、LOH21,1は領域mに対して経験 的に決定された限界オフセット上限値、LFL、、□は領域■に対して経験的に 決定された限界係数下限値であって0と2との間の値、LOL2.、lは領域■ に対して経験的に決定された限界オフセット下限値である。次に、プログラム2 00は判捌1ブロック202に戻り、次の缶端部30に対する近接信号の次の検 出を待つ。
上述の説明に従い圧力異常が検出されたときには、プログラム200は拒否ルー チンを実行する。始めに、プログラム200は拒否信号を発生して特別の缶端部 30を拒否する時間か否かを!1J153+1する(駒間11ブロック218) 。上述のごとく、特別の缶端部30が塗布ステーション34にxjRする時から 拒否装置130に到達する時までには一定の時間かある。コンピュータコントロ ーラ100は缶端部30を拒否する前にこの時間が経過するのを待つ。この時間 が経過すると、缶端部は出力駆動装置107を介して拒否装置130をトリガす ることによって拒否される0個里ブロック219)。これによりこの特別の缶端 部30は拒否パイル38に移動する。
他の実施例はコンピュータコントローラ100によって時間T、を決定する。
この他の実施例においては、コンピュータコントローラ100は測定された圧力 が所定のしきい値より小さくなったときの近接信号の受信後の最も早い時間を判 別する。次に、この最も早い時間を時開T1とする。各領域I、■、■、■の時 間T、 、T、 、T、は時間T;に対して規定される。
上述の他の実施例を構成するために、図6に示すプログラム200に少し修正が 必要である。処理ブロック203と判別ブロック204とは交替する。プログラ ム200は最後に測定された圧力P1か開始圧力しきい値■]、1□、1より小 さいか否かを判別する。この判拐[結果が否であればこの!!J1531は是と なるまで繰り返される。この判別が是となって領域Iの開始を示せば、クロック が開始する。各判別ブロック20G、207.209は、近接信号を受信したと きの時間T。に対してではなく上述のごとく判別された時間T1に対して時間T 、 、T、 、T、を決定するように、修正する。
さらにこの実施例の改良において、現在の缶端部に対して所定圧力値が所定しき い値より低下したときの最も早い時間とそれ以前の缶端部30に対する重み付は 平均値に基ついて決定される。このように、時間T1は次のごとく設定される。
T、1 =(1,00%−5F) x Tti + SF x Tl、−まただ し、SFはなまじ係数、Tllは現在の缶端部30に対して計算されたなまし時 間T、 、T、□はホリ定王力値か圧力しきい値H1l l l 1より低下し たときの時間、Tll−lは時間T1の前回のなまし値である。
図6に示すプログラム200は中央処理装置101によって同時に実行されるい くつかの処理タスクの1っである唯一の処理タスクを示す。多重同時タスクのプ ログラミング技術は従来技術であり、本発明に何ら関係しない。中央処理装置1 01は中央処理装置101かアイドル状態として説明されたプログラム200の 休止期間に上述の他のタスクを実行できる。特に、缶端部の拒否時間の前に新し い近接信号の受信が可能である。このように、同−封缶剤倖布機械10上で2つ の缶端部30に対する処理が重複することがある。さらに、コンピュータコント ローラ]、 00はキーボード140を介する操作者入力及びディスプレイ15 0を介する操作者出力を動作するようにプログラムされる。最後に、ノングルコ ンピユータコントローラ1. OOか2つの封缶剤塗布機械10を同時に運転で きる処理能力及び記憶容量を有することもてきる。このような場合、図6に示す 制御処理か2つ同時に発生する。
プログラム200はリアルタイム制御用であるので、種々のステップの順序及び 構成は図6に示すものと異ならせることもできる。このような相違は特別の設備 の特別なタイミング要求に適応するために必要である。たとえば、平均圧力AP 、1に基つく拒否判別は他の処理が発生しなければ領域Hの時間に発生させるこ ともてきる。図1〜図6に関して上述した実施例は被制御弁24を流れる流量の 測定の代用として弁室26内の圧力を測定する。多くの場合、これは有利な技術 である。被制御弁24はしばしば圧力センザを受けるのに適当な未使用ポートを 有し、これにより、本発明を従来の封缶剤塗布機械10に改造することが比較的 容易である。圧力センサは比較的安定しており、この応用において校正し易い。
高圧化された封缶剤の唯一の供給源を1つ以上の被制御弁に用いると、図1に示 す装置の使用は[である。特に、上述の実施例は、被制御弁か校正のために閉と されている時間、比較的安定な圧力測定を必要とする。1つの封缶剤圧力源によ り1つ以上の被制御弁24を供給するときには、これらの弁は位相ずれして開さ れる。特に、同一の封缶剤圧力源によって供給される3もしくはそれ以上の弁に ついては、基本圧力は不安定となり、この技術は信頼性が低い。このような場合 、封缶剤の流量に関する他の量を測定する方がよい。
図7、図8は本発明の他の実施例を示す。図7は圧力センサl ]、 0の代わ りに封缶剤タンク22と被制御弁24との間の封缶剤ラインに流量センサ1.  l 1を設けた封缶剤塗布機械13を示す。流量センサ111の出力は、図1の 圧力センサ110の出力がコンピュータコントローラ100に供給されるのと同 様に、コンピュータコントローラ100に供給される。図8は、圧力センサ11 0の代わりに、封缶剤タンク22と被制御弁24との間の封缶剤ラインに、第1 の圧力センサ113、所定の寸法のオリフィスを有する流Jitill限器11 7、及び第2の圧力センサ117を設けた封缶剤塗布機械17を示す。圧力セン サ113.115の出力は、図1の圧力センサ110の出力がコンピュータコン トローラ100に供給されるのと同様に、コンピュータコントローラ1.00に 供給される。従来技術の庫裡に従い、コンピュータコントローラ+00は、圧力 センサ113.115によって測定された流量制限器117の両側の圧力差、流 量鄭j限器117のオリフィスの既知の寸法、及び封缶剤の既知の性質から被制 御弁24への封缶剤五量を計算する。
コンピュータコントローラ100は、上述の実施例と同様な方法て、流量センサ 111 (図7)によって測定された流量もしくは圧力センサ1.13.115 によって測定された圧力から計算された流量を用いる。領域■ては、流量は初め にピーク値まで増大し、その後、低い値に戻る。領域■ては、コンピュータコン トローラ100は平均流量を計算し、所定の下限流量値LR、Lど比較する。こ の所定の下限流量値L Rz 1は、上述のH71の調整と同様な方法で、領域 ■の前の平均f′L量値に基ついて自動的に調整できる。同様に、領域■の平均 流量は所定の下限流量値LRz11+と所定の上限流量値HR71,1との間に なければならない。この所定の下限流量値LR,,,,及び上限流量値HRz1 zは、上述のL2111、H2111の調整と同様な方法で、領域■の前の平均 流量値に基ついて自動的に調整できる。
特表子5−502624 (10) FIG −7 要約書 本発明は封缶剤塗布機械において用いられるニードル弁の弁室内の封缶剤流量に 関係する量を検出することによって封缶剤塗布欠陥を検出する。缶端部(30) か封缶剤を塗布する位置にあるときに、近接検出器(120)は電子的ロントロ ーラ(100)に指示する。好ましくは、電子的コントローラはニードル弁(2 7)の開閉動作期間の少なくとも一所定期間に弁室(26)内の圧力をモニタす る。これらの所定期間の1つにおいて異常を検出すると電子的コントローラは拒 否信号を発生し、これにより、輸送機構は次のステーションへ缶端部の流れから 上記特別の缶端部を除去して拒否パイル中に置くことになる。このモニタはニー ドル弁の初期開期間及び封缶剤流量か比較的定常のときに行われる。また、被制 御弁への封缶剤の流量は直掻■す定することも流量制限器(117)の両側で測 定された圧力の差からも測定できる。
国際調査報告

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.缶端部を保持するステーションと、封缶剤の圧力源と、前記ステーションに おける缶端部に封缶剤を塗布させるために開とされ、該封缶剤の塗布を停止させ るために閉とされ、前記圧力源に接続された弁室を有する被制御弁と、缶端部を 前記ステーションへ及び該ステーションから輸送させる輸送機構とを有する缶端 部に封缶剤を塗布するための機械において、缶端部が缶端部を保持する前記ステ ーションにあるときに近接信号を発生する近接検出器と、 前記被制御弁に結合され、該被制御弁を流れる封缶剤の流量に関係する量を検出 するセンサと、 前記近接検出器及び前記センサに接続され、前記近接信号の後の少なくとも1つ の所定期間に前記センサによって検出された量をモニタし、該所定期間の1つに おける前記量に不規則性を検出した後に拒否信号を発生するコントローラと、前 記輸送機構及び前記コントローラに接続され、前記拒否信号を受信した後に、前 記輸送機構から該当缶端部を取り除く拒否装置と、を具備する封缶剤塗布機械。 2.前記センサは、前記被制御弁に結合され、前記弁室内の圧力を検出する圧力 センサよりなる請求項1に記載の封缶剤塗布機械。 3.前記コントローラの前記近接信号の後の少なくとも1つの所定期間は初期の 圧力低下及び前記被制御弁の開後の回復に対応する初期弁開期間を含む請求項2 に記載の封缶剤塗布機械。 4.前記初期弁開期間は前記近接信号の受信後の所定時間で開始し所定期間を有 する請求項3に記載の封缶剤塗布機械。 5.前記初期弁開期間は前記近接信号の受信後に前記圧力センサによって検出さ れた前記圧力が所定の圧力しきい値より低下したときに開始し所定期間を有する 請求項3に記載の封缶剤塗布機械。 6.前記初期弁開期間は、前記近接信号の受信後に、現在の近接信号に対して前 記圧力センサによって検出された前記圧力が所定の圧力しきい値より低下したと きの最も早い時間と少なくともいくつかのそれ以前の近接信号に対して前記圧力 センサによって検出された前記圧力が所定の圧力しきい値より低下したときの最 も早い時間との重み付け平均が経過したときに開始し所定期間を有する請求項3 に記載の封缶剤塗布機械。 7.さらに、前記コントローラは、 前記初期弁開期間中に前記平均圧力を計算する手段と、前記初期弁開期間中に前 記計算された平均圧力が所定圧力より大きいときに前記拒否信号を発生する手段 と、 を含む請求項3に記載の封缶剤塗布機械。 8.さらに、前記コントローラは、 以前の缶端部に対する弁開に対応する少なくともいくつかの以前の近接信号に対 する前記初期弁開期間に計算された平均圧力の中心傾向値を計算する手段と、現 在の近接信号に対する前記所定圧力を、以前の近接信号に対する前記初期弁開期 間に計算された平均圧力の中心傾向値とオフセット圧力との和によって計算する 手段と を含む請求項7に記載の封缶剤塗布機械。 9.前記少なくともいくつかの以前の近接信号は複数のグループの所定数の近接 信号の各グループの選択されたサブセットよりなる請求項8に記載の封缶剤塗布 機械。 10.前記少なくともいくつかの以前の近接信号は複数のグループの100個の 近接信号の各グループの最後の5個の近接信号よりなる請求項9に記載の封缶剤 塗布機械。 11.前記コントローラは、複数のグループの所定数の近接信号の各グループの 選択されたサブセットに対する前記初期弁開期間に計算された平均圧力の前記中 心傾向値を、 SMj=(100%−SF)×MP+SF×SMj−1ただし、SMjは計算す べき前記計算された平均圧力の前記中心傾向値、SFは0%と100%との間の なまし係数、MPは最新のグループの所定数の近接信号の前記選択されたサブセ ットの平均圧力の平均値、SMj−1は前記計算された平均圧力の中心傾向値の 前回値、 により計算する請求項9に記載の封缶剤塗布機械。 12.さらに、前記コントローラは、 複数のグループの所定数の近接信号の各グループの選択された前記サブセットに 対する前記初期弁開期間に計算された平均圧力の範囲値を計算する手段と、現在 の近接信号に対する所定圧力を、複数のグループの所定数の近接信号の各グルー プの選択された前記サブセットに対する前記初期弁開期間に計算された平均圧力 の計算された中心傾向値と、複数のグループの所定数の近接信号の各グループの 選択された前記サブセットに対する前記初期弁開期間に計算された平均圧力の計 算された範囲値の定数倍と、前記オフセット圧力との和により計算する手段と、 を含む請求項9に記載の封缶剤塗布機械。 13.前記コントローラは、複数のグループの所定数の近接信号の各グループの 選択されたサブセットに対する前記初期弁開期間に計算された平均圧力の前記範 囲値を、 SRj=(100%−SF)×RP+SF×SRj−1ただし、SRjは計算す べき前記計算された平均圧力の前記範囲値、SFは0%と100%との間のなま し係数、RPは最新のグループの所定数の近接信号の前記選択されたサブセット の平均圧力の範囲値、SRj−1は前記計算された平均圧力の範囲値の前回値、 により計算する請求項12に記載の封缶剤塗布機械。 14.前記コントローラの前記近接信号の後の少なくとも1つの所定期間は前記 被制御弁が閉となる前に封缶剤が塗布されている比較的定常の圧力期間に対応す る定常状態期間を含む請求項2に記載の封缶剤塗布機械。 15.前記定常状態期間は前記近接信号の受信後の所定時間で開始し所定期間を 有する請求項14に記載の封缶剤塗布機械。 16.前記定常状態期間は前記近接信号の受信後に前記圧力センサによって検出 された前記圧力が所定の圧力しきい値より低下したときに開始し所定期間を有す る請求項14に記載の封缶剤塗布機械。 17.前記定常状態期間は、前記近接信号の受信後に、現在の近接信号に対して 前記圧力センサによって検出された前記圧力が所定の圧力しきい値より低下した ときの最も早い時間と少なくともいくつかのそれ以前の近接信号に対して前記圧 力センサによって検出された前記圧力が所定の圧力しきい値より低下したときの 最も早い時間との重み付け平均が経過したときに開始して所定期間を有する請求 項14に記載の封缶剤塗布機械。 18.さらに、前記コントローラは、 前記定常状態期間中に前記平均圧力を計算する手段と、前記定常状態期間中に前 記計算された平均圧力が第1の所定圧力より大きいときもしくは該第1の所定圧 力より小さい第2の所定圧力より小さいときに前記拒否信号を発生する手段と、 を含む請求項14に記載の封缶剤塗布機械。 19.さらに、前記コントローラは、 以前の缶端部に対する弁開に対応する少なくともいくつかの以前の近接信号に対 する前記定常状態期間に計算された平均圧力の中心傾向値を計算する手段と、現 在の近接信号に対する前記第1の所定圧力を、以前の近接信号に対する前記定常 状態期間に計算された平均圧力の中心傾向値と第1のオフセット圧力との和によ って計算する手段と、 現在の近接信号に対する前記第2の所定圧力を、以前の近接信号に対する前記定 常状態期間に計算された平均圧力の中心傾向値と第2のオフセット圧力との差に よって計算する手段と、 を含む請求項18に記載の封缶剤塗布機械。 20.前記少なくともいくつかの以前の近接信号は複数のグループの所定数の近 接信号の各グループの選択されたサブセットよりなる請求項19に記載の封缶剤 塗布機械。 21.前記少なくともいくつかの以前の近接信号は複数のグループの100個の 近接信号の各グループの最後の5個の近接信号よりなる請求項20に記載の封缶 剤塗布機械。 22.前記コントローラは、複数のグループの所定数の近接信号の各グループの 選択されたサブセットに対する前記定常状態期間に計算された平均圧力の前記中 心傾向値を、 SMj=(100%−SF)×MP+SF×SMj−1ただし、SMjは計算す べき前記計算された平均圧力の前記中心傾向値、SFは0%と100%との間の なまし係数、MPは最新のグループの所定数の近接信号の前記選択されたサブセ ットの平均圧力の平均値、SMj−1は前記計算された平均圧力の中心傾向値の 前回値、 により計算する請求項20に記載の封缶剤塗布機械。 23.さらに、前記コントローラは、 複数のグループの所定数の近接信号の各グループの選択された前記サブセットに 対する前記定常状態期間に計算された平均圧力の範囲値を計算する手段と、現在 の近接信号に対する前記第1の所定圧力を、複数のグループの所定数の近接信号 の各グループの選択された前記サブセットに対する前記定常状態期間に計算され た平均圧力の計算された中心傾向値と、複数のグループの所定数の近接信号の各 グループの選択された前記サブセットに対する前記定常状態期間に計算された平 均圧力の計算された範囲値の第1の定数倍と、前記第1のオフセット圧力との和 により計算する手段と、 現在の近接信号に対する前記第2の所定圧力を、複数のグループの所定数の近接 信号の各グループの選択された前記サブセットに対する前記定常状態期間に計算 された平均圧力の計算された中心傾向値と、複数のグループの所定数の近接信号 の各グループの選択された前記サブセットに対する前記定常状態期間に計算され た平均圧力の計算された範囲値の第2の定数倍及び前記第2のオフセット圧力の 和との差により計算する手段と、 を含む請求項20に記載の封缶剤塗布機械。 24.前記コントローラは、複数のグループの所定数の近接信号の各グループの 選択されたサブセットに対する前記定常状態期間に計算された平均圧力の前記範 囲値を、 SRj=(100%−SF)×RP+SF×SRj−1ただし、SRjは計算す べき前記計算された平均圧力の前記範囲値、SFは0%と100%との間のなま し係数、RPは最新のグループの所定数の近接信号の前記選択されたサブセット の平均圧力の範囲値、SRj−1は前記計算された平均圧力の範囲値の前回値、 により計算する請求項23に記載の封缶剤塗布機械。 25.前記センサは、前記圧力源と前記被制御弁との間に結合され前記弁室への 流量を検出する流量センサよりなる請求項1に記載の封缶剤塗布機械。 26.前記流量センサは、第1の圧力センサ、所定のオリフィスを有する流量制 限器、及び前記圧力源と前記被制御弁との間にタンデムに結合された第2の圧力 センサよりなり、 前記コントローラは、前記第1、第2の圧力センサに接続され、該第1、第2の 圧力センサによって測定された各圧力の差及び前記所定のオリフィスの寸法に基 づいて前記被制御弁への封缶剤の流量を判別する手段を含む、請求項25に記載 の封缶剤塗布機械。 27.前記コントローラの前記近接信号の後の少なくとも1つの所定期間は前記 被制御弁の開後の回復に対応する初期弁開期間を含む請求項25に記載の封缶剤 塗布機械。 28.さらに、前記コントローラは、 前記初期弁開期間中に前記封缶剤の平均流量を計算する手段と、前記初期弁開期 間中に前記計算された平均流量が所定流量より小さいときに前記拒否信号を発生 する手段と、 を含む請求項27に記載の封缶剤塗布機械。 29.さらに、前記コントローラは、 以前の缶端部に対する弁開に対応する少なくともいくつかの以前の近接信号に対 する前記初期弁開期間に計算された平均流量の中心傾向値を計算する手段と、現 在の近接信号に対する前記所定流量を、以前の近接信号に対する前記初期弁開期 間に計算された平均流量の中心傾向値とオフセット圧力との差によって計算する 手段と を含む請求項28に記載の封缶剤塗布機械。 30.前記コントローラの前記近接信号の後の少なくとも1つの所定期間は前記 被制御弁が閉となる前の比較的定常の流量期間に対応する定常状態期間を含む請 求項25に記載の封缶剤塗布機械。 31.さらに、前記コントローラは、 前記定常状態期間中に前記平均流量を計算する手段と、前記定常状態期間中に前 記計算された平均流量が第1の所定流量より小さいときもしくは該第1の所定流 量より大きい第2の所定流量より大きいときに前記拒否信号を発生する手段と、 を含む請求項30に記載の封缶剤塗布機械。 32.さらに、前記コントローラは、 以前の缶端部に対する弁開に対応する少なくともいくつかの以前の近接信号に対 する前記定常状態期間に計算された平均流量の中心傾向値を計算する手段と、現 在の近接信号に対する前記第1の所定流量を、以前の近接信号に対する前記定常 状態期間に計算された平均流量の中心傾向値と第1のオフセット流量との差によ って計算する手段と、 現在の近接信号に対する前記第2の所定流量を、以前の近接信号に対する前記定 常状態期間に計算された平均流量の中立傾向値と第2のオフセット流量との和に よって計算する手段と を含む請求項31に記載の封缶剤塗布機械。 33.缶端部を保持するステーションと、封缶剤の圧力源と、前記ステーション における缶端部に封缶剤を塗布させるために開とされ、該封缶剤の塗布を停止さ せるために閉とされ、前記圧力源に接続された弁室を有する被制御弁と、缶端部 を前記ステーションへ及び該ステーションから輸送させる輸送機構とを有する缶 端部に封缶剤を塗布するための機械において、缶端部が缶端部を保持する前記ス テーションにあるときに近接信号を発生する近接検出器と、 前記被制御弁に結合され、該被制御弁を流れる封缶剤の流量に関係する量を検出 するセンサと、 前記近接検出器及び前記センサに接続され、該近接信号の受信直後に開始して第 1の所定期間を有する前記被制御弁の開後の初期封缶剤流量期間に対応する初期 弁開期間及び前記近接信号の受信後の所定時間に開始して第2の所定期間を有す る前記被制御弁の閉の前の比較的定常の封缶剤流量期間に対応する定常状態期間 に前記センサによって検出された量をモニタし、前記初期弁開期間もしくは前記 定常状態期間における前記量に不規則性を検出した後に拒否信号を発生するコン トローラと、 前記輸送機構及び前記コントローラに接続され、前記拒否信号を受信した後に前 記輸送機構から該当缶端部を取り除く拒否装置とを具備する封缶剤塗布機械。 34.前記センサは、前記圧力源と前記被制御弁との間に結合され、前記弁室へ の流量を検出する流量センサよりなる請求項33に記載の封缶剤塗布機械。 35.前記流量センサは、第1の圧力センサ、所定のオリフィスを有する流量制 限器、及び前記圧力源と前記被制御弁との間にタンデムに結合された第2の圧力 センサよりなり、 前記コントローラは、前記第1、第2の圧力センサに接続され、該第1、第2の 圧力センサによって測定された各圧力の差及び前記所定のオリフィスの寸法に基 づいて前記被制御弁への封缶剤の流量を判別する手段を含む、請求項34に記載 の封缶剤塗布機械。 36.前記センサは、前記被制御弁に結合され、前記弁室内の圧力を検出する圧 力センサよりなる請求項33に記載の封缶剤塗布機械。 37.さらに、前記コントローラは、 前記初期弁開期間における封缶剤の流量に関係する平均量を計算する手段と、前 記定常状態期間における封缶剤の流量に関係する平均量を計算する手段と、前記 初期弁開期間における封缶剤の流量に関係する計算された平均量が第1の所定量 より小さいとき、前記定常状態期間における封缶剤の流量に関係する計算された 平均量が第2の所定量より小さいとき、もしくは、前記定常状態期間における封 缶剤の流量に関係する計算された平均量が第3の所定量より大きいときに、前記 拒否信号を発生する手段と、 を含む請求項33に記載の封缶剤塗布機械。 38.さらに、前記コントローラは、以前の缶端部に対する前記被制御弁の閉に 対応する少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記初期弁開期間におけ る流量に関係する計算された平均量の中心傾向値を計算する手段と、前記少なく ともいくつかの以前の近接信号に対する前記初期弁開期間における流量に関係す る計算された平均量の範囲値を計算する手段と、現在の近接信号に対する前記第 1の所定量を、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記初期弁開 期間における流量に関係する計算された平均量の範囲値と、前記少なくともいく つかの以前の近接信号に対する前記初期弁開期間における流量に関係する計算さ れた平均量の中心傾向値の第1の所定の定数倍及び第1のオフセット量との差と して計算する手段と、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定 常状態期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾向値を計算する手 段と、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期間にお ける流量に関係する計算された平均量の範囲値を計算する手段と、現在の近接信 号に対する前記第2の所定量を、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対 する前記定常状態期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾向値と 、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期間における 流量に関係する計算された平均量の範囲値の第2の所定の定数倍及び第2のオフ セット量との差として計算する手段と、現在の近接信号に対する前記第3の所定 量を、前記計算された中心傾向値の第1の所定の定数倍と第1のオフセット量と の和として計算する手段と、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する 前記定常状態期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾向値を計算 する手段と、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期 間における流量に関係する計算された平均量の範囲値を計算する手段と、現在の 近接信号に対する前記第2の所定量を、前記少なくともいくつかの以前の近接信 号に対する前記定常状態期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾 向値と、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期間に おける流量に関係する計算された平均量の範囲値の第2の所定の定数倍及び第2 のオフセット量との差として計算する手段と、現在の近接信号に対する前記第3 の所定重を、前記少なくともいくつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期 間における流量に関係する計算された平均量の中心傾向値と、前記少なくともい くつかの以前の近接信号に対する前記定常状態期間における流量に関係する計算 された平均量の範囲値の第3の所定の定数倍及び第3のオフセット量との和とし て計算する手段と、を含む請求項37に記載の封缶剤塗布機械。 39.缶端部を保持するステーションにおける缶端部に高圧化された封缶剤を塗 布させる被制御弁を有する機械において不適な封缶剤塗布を検出する方法であっ て、 缶端部が缶端部を保持する前記ステーションにあることを検出するステップと、 前記被制御弁を流れる封缶剤の流量に関係する量を検出するステップと、缶端部 を保持する前記ステーションにおける缶端部が検出された後の少なくとも1つの 所定期間に封缶剤の流量に関係する前記量をモニタするステップと、前記所定期 間の1つにおける封缶剤の流量に関係する前記量に不規則性を検出した後に缶端 部を拒否するステップと、 を具備する封缶剤塗布不適検出方法。 40.前記封缶剤の流量に関係する量を検出するステップは前記被制御弁の弁室 への封缶剤流量を測定するステップよりなる請求項39に記載の封缶剤塗布不適 検出方法。 41.前記被制御弁の弁室への封缶剤流量を測定するステップは、封缶剤を高圧 化された封缶剤源から所定のオリフィスを有する流量制限器を介して前記被制御 弁へ供給するステップと、前記流量制限器の上流における圧力を検出するステッ プと、前記流量制限器の下流における圧力を検出するステップと、前記流量制限 器の上流、下流において測定された各圧力の差及び前記所定のオリフィスの寸法 に基づいて前記被制御弁への封缶剤の流量を判別するステップと、よりなる請求 項40に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 42.前記封缶剤の流量に関係する量を検出するステップは前記被制御弁の弁室 内の圧力を測定するステップよりなる請求項39に記載の封缶剤塗布不適検出方 法。 43.缶端部を保持する前記ステーションにおいて缶端部を検出した後の少な、 とも1つの所定期間は前記被制御弁の開後の初期の封缶剤流量に対応する初期弁 開期間を含む請求項39に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 44.さらに、前記初期弁開期間中に前記封缶剤流量に関係する平均量を計算す るステップを具備し、 前記缶端部を拒否するステップは前記初期弁開期間中に前記計算された封缶剤平 均量が第1の所定量より小さいときに該当缶端部を拒否するステップを含む請求 項43に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 45.さらに、缶端部を保持する前記ステーションにおける缶端部の少なくとも いくつかの以前の検出に対する前記初期弁開期間における封缶剤流量に関係する 平均量の中心傾向値を計算するステップと、現在の近接信号に対する前記第1の 所定量を、缶端部を保持する前記ステーションにおける缶端部のいくつかの以前 の検出に対する前記初期弁開期間に計算された封缶剤流量に関係する平均量の中 心傾向値と第1のオフセット圧力との差によって計算するステップと を具備する請求項44に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 46.缶端部を保持する前記ステーションにおける缶端部の検出後の少なくとも 1つの所定期間は前記被制御弁が閉となる前の定常状態期間を含む請求項39に 記載の封缶剤塗布不適検出方法。 47.さらに、前記定常状態期間中に封缶剤流量に関係する前記平均量を計算す るステップを具備し、 前記缶端部を拒否するステップは前記定常状態期間中に封缶剤流量に関係する前 記計算された平均量が第1の所定量より小さいときもしくは該第1の所定量より 大きい第2の所定量より大きいときに前記缶端部拒否するステップを含む請求項 46に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 48.さらに、缶端部を保持する前記ステーションにおける少なくともいくつか の以前の缶端部の検出に対する前記定常状態期間の封缶剤流量に関係する前記平 均量の中心傾向値を計算するステップと、現在の近接信号に対する前記第1の所 定量を、缶端部を保持する前記ステーションにおけるいくつかの以前の缶端部の 検出に対する前記定常状態期間に計算された封缶剤流量に関係する平均量の中心 傾向値と第1のオフセット量との差によって計算するステップと、 現在の近接信号に対する前記第3の所定量を、缶端部を保持する前記ステーショ ンにおけるいくつかの以前の缶端部の検出に対する前記定常状態期間に計算され た封缶剤流量に関係する平均量の中心傾向値と第2のオフセット量との和によっ て計算するステップと、 を具備する請求項47に記載の封缶剤塗布不適検出方法。 49,缶端部を保持する前記ステーションにおける缶端部の検出後の前記少なく とも1つの所定期間は前記被制御弁が開となる後の初期流量期間に対応する初期 弁開期間及び前記被制御弁が閉となる前の定常状態期間を含む請求項39に記載 の封缶剤塗布不適検出方法。 50.さらに、前記初期弁開期間における封缶剤流量に関係する平均量を計算す るステップと、 前記定常状態期間における封缶剤流量に関係する平均量を計算するステップと、 を具備し、 前記缶端部を拒否するステップは、前記初期弁開期間における封缶剤流量に関係 する計算された平均量が第1の所定量より小さいとき、前記定常状態期間におけ る封缶剤流量に関係する計算された平均量が第2の所定量より小さいとき、もし くは、前記定常状態期間における封缶剤流量に関係する計算された平均量が第3 の所定量より大きいときに、該当缶端部を拒否するステップを含む請求項49に 記載の封缶剤塗布不適検出方法。 51.さらに、缶端部を保持する前記ステーションにおけるいくつかの以前の缶 端部の検出前記初期弁開期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾 向値を計算するステップと、 現在の近接信号に対する前記第1の缶端部を保持する前記ステーションにおける いくつかの以前の缶端部の検出前記初期弁開期間における流量に関係する計算さ れた平均量の中心傾向値と第1のオフセット量との差として計算するステップと 、 缶端部を保持する前記ステーションにおけるいくつかの以前の缶端部の検出に対 する前記定常状態期間における流量に関係する計算された平均量の中心傾向値を 計算するステップと、 現在の近接信号に対する前記第2の所定量を、缶端部を保持する前記ステーショ ンにおけるいくつかの以前の缶端部の検出前記初期弁開期間における流量に関係 する計算された平均量の中心傾向値と第2のオフセット量との差として計算する ステップと、 現在の近接信号に対する前記第3の所定量を、缶端部を保持する前記ステーショ ンにおけるいくつかの以前の缶端部の検出に対する前記定常状態期間における流 量に関係する計算された平均量の中心傾向値と第3のオフセット量との和として 計算するステップと、 を具備する請求項50に記載の封缶剤塗布不適検出方法。
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