JPH0546044U - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents

半導体装置用リードフレーム

Info

Publication number
JPH0546044U
JPH0546044U JP9609591U JP9609591U JPH0546044U JP H0546044 U JPH0546044 U JP H0546044U JP 9609591 U JP9609591 U JP 9609591U JP 9609591 U JP9609591 U JP 9609591U JP H0546044 U JPH0546044 U JP H0546044U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
notch
mold
pad
outer frame
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9609591U
Other languages
English (en)
Other versions
JP2551835Y2 (ja
Inventor
昭男 江島
Original Assignee
株式会社三井ハイテツク
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社三井ハイテツク filed Critical 株式会社三井ハイテツク
Priority to JP1991096095U priority Critical patent/JP2551835Y2/ja
Publication of JPH0546044U publication Critical patent/JPH0546044U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2551835Y2 publication Critical patent/JP2551835Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂封止用の型を複雑にすることなく、樹脂
の充填を均等化すると共にボイドの発生のない良好なパ
ッケージ製品が得られるようにすること。 【構成】 幅方向の両端の外枠に挟まれた部分にパッ
ド,インナリード及びアウターリードのパターンを形成
し、アウターリードを除いて樹脂封止するに際し、一方
の外枠がパッド側を向く面に樹脂流入用の第1の切欠を
設け、他方の外枠には同様にパッド側を向く面に樹脂溜
り用の第2の切欠を設け、これらの第1,第2の切欠を
樹脂封止空間の領域に含まれるようにすると共にそれぞ
れ型に設けた樹脂供給ゲート及び空気抜き用の流路に臨
ませる。 【効果】 樹脂封止工程でのパッドやインナリードの変
形及びワイヤの破断等が防止でき、型に設ける空気抜き
用の流路も簡単なもので済む。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、半導体装置用のリードフレームに係り、特に素子搭載及びワイヤボ ンディング後の樹脂封止が良好に行えるようにしたリードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置の組立てに用いるリードフレームは、帯状の金属材料をプレス加工 によってパターンを打ち抜く方法によって製造される。このパターンは半導体素 子を搭載するパッド,その周りに配列したインナリード及びこのインナリードに 連なるアウターリードの組合せが主であり、製品仕様に応じて各種のパターンの ものが製造されている。そして、半導体素子をパッドに固定した後にこの半導体 素子とインナリードとの間をワイヤでボンディングし、更にアウターリードのみ を外に突き出すようにステージとインナリード部分を樹脂封止してパッケージと する。
【0003】 この樹脂封止の方法としては、たとえば特開平2−109343号公報に記載 されたものがある。これは、リードフレームの上下を挟む一対の樹脂封止用の上 型及び下型への樹脂の装入を円滑にし、更に封止開始時の空気の抜けを速やかに 行えるようにするために、樹脂溜部を設けた下型を使用するというものである。 このような樹脂溜部を備えていれば、樹脂封止空間の空気の抜けが速やかに行わ れ、ボイドの発生のない良好なパッケージ製品が得られる。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
ところが、樹脂封止用の金型は、リードフレームの大きさやパッケージの形状 等に応じて数多くのものを用意する必要がある。そして、仕様毎に型の内壁の形 状も複雑に異なり、型自体の製作にも非常な困難さを伴うことが多い。このため 、先の従来例のように、下型に樹脂溜を設けることは型の設計や製作が更に煩雑 になり、コスト面での障害を招きかねない。また、仕様によっては、樹脂溜を広 く造れない場合もあり、速やかな空気の抜けが不可能となるばかりか、全ての製 品に対応させることもできない。
【0005】 更に、近年、半導体装置の分野では、薄型でしかも小型のものの開発が一層進 み、特にICカードに用いられる半導体装置では全体の厚みが1ミリ以下とする 要求も次第に多くなった。また、記憶容量の大きい半導体装置の素子の場合では 、そのサイズも大きくなり、パッケージ寸法に対して占める素子の占有面積も拡 大することになる。
【0006】 このような背景に対し、樹脂封止の際に、リードフレームの上面側及び下面側 のそれぞれの樹脂封止空間の中にほぼ均等に樹脂を充填していかなければ、素子 を載せるパッド部分が充填圧の低い方向に撓むような変形を生じる。そして、こ の現象は、パッケージの厚さが薄いものほど顕著である。
【0007】 樹脂封止の際にリードフレームに変形を生じてしまうと、ワイヤボンディング したワイヤが破断したり、パッドの一部がパッケージから剥き出しになったりし て製品の不良率が高くなる。また、リードフレームへの影響だけでなく、上型と 下型に対してリードフレームの反りや変形が隙間を発生させるようになり、樹脂 が外に流れ出て樹脂バリの原因ともなる。
【0008】 このように、特にパッドのサイズが小さくて樹脂パッケージの厚さも薄いもの では、樹脂注入のバランスが崩れやすいため、不良率の低減にも限界があり歩留 りに大きな影響を与えている。
【0009】 本考案において解決すべき課題は、樹脂封止用の型を複雑にすることなく、樹 脂の充填を均等化すると共にボイドの発生のないパッケージ製品が得られるよう にすることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】 本考案は、金属薄板を素材とした帯状材料の幅方向の両端に外枠を残し、これ らの外枠の間にパッド,インナリード及びアウターリードのパターンを形成し、 前記帯状材料の上下面を樹脂封止用の型で覆い、更に前記アウターリードのみを 残して前記パッドからインナリード部分の領域を前記パッドに搭載した半導体素 子と共に樹脂によって封止されるリードフレームであって、前記幅方向の一端側 の外枠に、帯状材料の一面と他面側との樹脂封止空間を連通させる第1の切欠を 該外枠が前記パッドを向く側に沿って設け、更に、前記他端側の外枠に、前記樹 脂封止空間に沿って膨出する第2の切欠を設け、前記第1の切欠を前記樹脂封止 用の型に形成した樹脂供給ゲートに臨ませ、且つ前記第2の切欠を、前記樹脂封 止空間の外部に連通する空気流路に臨ませて前記型の中に装着可能としたことを 特徴とする。
【0011】
【作用】
リードフレームのパターンを形成した帯状材料を樹脂封止用の上型及び下型で 挟み込み、上型に開けた樹脂注入用のゲートから樹脂を注入すると、帯状材料の 外枠に設けた第1の切欠が樹脂材料の入口を大きく開くように位置するので、樹 脂はこの第1の切欠を抜けて上型及び下型の中へほぼ均等に流れ込む。このため 、帯状材料の上下面に注入される樹脂の量にバランスを持たせることができ、パ ッドやインナリード部分の撓みや位置ずれが防止される。
【0012】 また、他端側の外枠に設けた第2の切欠は、型に設けた空気抜き用の流路に連 通するので、この第2の切欠を樹脂溜りだけでなく空気抜きとして兼用できる。 このため、型に大きな空気抜き用の凹み等を設ける必要がなく、簡単な型の構造 で済むようになる。
【0013】
【実施例】
図1は本考案のリードフレームを樹脂封止したときの概略平面図である。
【0014】 図において、金属薄板の帯状材料1にリードフレームのパターンが打抜きやエ ッチング等によって形成されている。このパターンには、半導体素子6を搭載す るパッド2,その周りに配列した多数のインナリード3及びタイバー4によって これらのインナリード3に一体のアウターリード5を含んでいる。そして、これ らのリードフレームのパターンは、樹脂封止によるパッケージとした後に、アウ ターリード5までの部分を帯状材料1から切離し、タイバー4をカットするとと もにアウターリード5に必要な曲げ加工を施すことによって、最終製品が得られ る。
【0015】 図2は帯状材料1の中のパッド2のみのパターンを示す概略図であり、インナ リード3やアウターリード5を省略して示すものである。
【0016】 帯状材料1を用いてリードフレームのパターンを形成する場合、帯状材料1を コイル状に巻いておきこれを連続的又は間欠的にラインに流すことによって、パ ターンを順次形成していく製造方法が採用される。このような製造方法では、帯 状材料1に送りを与えたり位置決めのための孔が必要である。このことから、帯 状材料1にはその幅方向の両端に外枠1aを残し、この外枠1aに帯状材料1の 送りや位置決めに利用するための基準ピン孔1bを所定のピッチで開けたものが 使用される。一方、パッド2は支持片2aによって両側の外枠1aに連結された 状態に加工される。
【0017】 このようなリードフレームのパターン成形に対し、本考案では、金型による樹 脂封止の際のゲート側に対応させた位置に、下型内への樹脂の流れを促進させる ための構成を持たせる。すなわち、図2に示すように、一方の外枠1aにはパッ ド2を向く面に樹脂流入用切欠1cを第1の切欠として長さ方向に設け、図3( 図2のA−A線矢視断面図)のようにパッド2の外縁と外枠1aとの間の距離を 大きくする。
【0018】 また、他方の外枠1aには、同様のパッド2の方向を向く側に第2の切欠とし て樹脂溜り用切欠1dを設ける。この樹脂溜り用切欠1dは図1に示すようにパ ッド2を向く面に間口を設け、この間口から外側に開口域を大きくした形状を持 つ。なお、図4はこの樹脂溜用切欠1d部分の縦断面図であって、図2のB−B 線矢視に対応するものである。
【0019】 図5は、帯状材料1を上型10と下型11に挟んだ状態を示す要部の概略縦断 面図であり、樹脂流入用切欠1cにゲート11aが整合するように位置し、樹脂 溜り用切欠1dは上型10及び下型11によって作られた樹脂封入空間12に連 通している。そして、上型10の下面には樹脂を充填するときに樹脂封入空間1 2から空気を外に抜くための空気抜き溝10aを設ける。この空気抜き溝10a は、図1に示すように樹脂溜り用切欠1d部分から外に伸び、上型10の端面で 外部に開放するような流路を持つ。
【0020】 ここで、ゲート11aから樹脂を注入すると、樹脂は樹脂流入用切欠1cから 帯状材料1の上面側及び下面側に分配されるようにして充填される。すなわち、 樹脂流入用切欠1cを設けていない場合では、図5のようなゲート11aからの 樹脂の充填の際には、樹脂が上向きに樹脂封入空間12へ流れ込むので、帯状材 料1の上面側が先行して充填されやすい。これに対し、樹脂流入用切欠1cはゲ ート11aからの流路に連なるように位置しているので、この樹脂流入用切欠1 cから帯状材料1の下側の下型11方向へも流れ込みやすくなる。このため、上 型10側が先行して樹脂が充填されることがなくなり、上型10の中も下型11 の中もほぼ均等な充填速度で樹脂が封入される。
【0021】 このように、上型10と下型11への均等な充填によって、パッド2に掛かる 上からの負荷が大きくなることもなく、パッド2が下に撓むような変形を生じる ことが防止される。したがって、パッド2の位置が変化したり大きな撓みによっ て樹脂封止後にパッケージの下面から露出したりすることもない。更に、パッド 2の変形が抑えられることから、ボンディングしたワイヤが破断することもなく なる。
【0022】 また、注入された樹脂は図5において次第に右側に流れながら充填される。こ のとき、樹脂封入空間12の中の空気は、樹脂溜り用切欠1d側に押し流される ようになり、この樹脂溜り用切欠1dに連通している空気抜き溝10dから外に 排出される。そして、樹脂溜り用切欠1dは、図1に示すように比較的広く形成 しているので、空気抜き溝10aが小さいものであっても、この樹脂溜り用切欠 1dの中で空気の流れを淀ませるようにして排出できる。このため、型に樹脂溜 りを設けていなくても、帯状材料1の樹脂溜り用切欠1dが造る空間を利用する ことによって、樹脂封止時には樹脂封止空間12から速やかに空気を抜くことが できる。したがって、樹脂の中へのボイドの混入もなくなり、良好なパッケージ 製品が得られる。
【0023】
【考案の効果】
本考案では、リードフレームの帯状材料の外枠がパッドを向く側に樹脂流入用 切欠を設けているので、樹脂封止のときには樹脂がこの樹脂流入用切欠を抜けて 帯状材料の上下面側に均等に流れ込む。このため、リードフレームのパターンの 上下両面での充填圧を均等に維持でき、樹脂封止工程でのパッドやインナリード の変形及びボンディングしたワイヤの破断等が防止でき、不良率の低い樹脂封止 製品が得られる。
【0024】 また、樹脂流入用切欠とは対向する側の外枠に樹脂溜り用切欠を設けているの で、この樹脂溜り用切欠を樹脂封止時の空気抜きの流路に兼用できる。このため 、型に単純な空気抜き溝を設けておきこれに連なるように樹脂溜り用切欠を位置 させるようにすれば、型に複雑な空気抜きのための凹み等を設ける必要がない。 したがって、樹脂封止用の型の製作も簡単になり、仕様の異なるパッケージ製品 の製造にも充分対応でき、生産性の向上が図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のリードフレームを樹脂封止したときの
概略平面図である。
【図2】パッド部分のみのリードフレームのパターンを
示す概略斜視図である。
【図3】図2のA−A線矢視による縦断面図である。
【図4】樹脂溜り用切欠を示す図であって、図2のB−
B線矢視縦断面図である。
【図5】上型及び下型による樹脂封止の際の樹脂の流れ
を示す概略縦断面図である。
【符号の説明】
1 帯状材料 1a 外枠 1b 基準ピン孔 1c 樹脂流入用切欠(第1の切欠) 1d 樹脂溜り用切欠(第2の切欠) 2 パッド 3 インナリード 4 タイバー 5 アウターリード 6 半導体素子 10 上型 10a 空気抜き溝 11 下型 11a ゲート 12 樹脂封止空間

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属薄板を素材とした帯状材料の幅方向
    の両端に外枠を残し、これらの外枠の間にパッド,イン
    ナリード及びアウターリードのパターンを形成し、前記
    帯状材料の上下面を樹脂封止用の型で覆い、更に前記ア
    ウターリードのみを残して前記パッドからインナリード
    部分の領域を前記パッドに搭載した半導体素子と共に樹
    脂によって封止されるリードフレームであって、前記幅
    方向の一端側の外枠に、帯状材料の一面と他面側との樹
    脂封止空間を連通させる第1の切欠を該外枠が前記パッ
    ドを向く側に沿って設け、更に、前記他端側の外枠に、
    前記樹脂封止空間に沿って膨出する第2の切欠を設け、
    前記第1の切欠を前記樹脂封止用の型に形成した樹脂供
    給ゲートに臨ませ、且つ前記第2の切欠を、前記樹脂封
    止空間の外部に連通する空気流路に臨ませて前記型の中
    に装着可能としたことを特徴とする半導体装置用リード
    フレーム。
JP1991096095U 1991-11-22 1991-11-22 半導体装置用リードフレーム Expired - Fee Related JP2551835Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991096095U JP2551835Y2 (ja) 1991-11-22 1991-11-22 半導体装置用リードフレーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991096095U JP2551835Y2 (ja) 1991-11-22 1991-11-22 半導体装置用リードフレーム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0546044U true JPH0546044U (ja) 1993-06-18
JP2551835Y2 JP2551835Y2 (ja) 1997-10-27

Family

ID=14155837

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991096095U Expired - Fee Related JP2551835Y2 (ja) 1991-11-22 1991-11-22 半導体装置用リードフレーム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2551835Y2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015029143A (ja) * 2008-08-29 2015-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 樹脂封止型半導体装置とその製造方法、リードフレーム
US9171761B2 (en) 2008-08-29 2015-10-27 Semiconductor Components Industries, Llc Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and lead frame

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6281737A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法及びリ−ドフレ−ム

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6281737A (ja) * 1985-10-07 1987-04-15 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法及びリ−ドフレ−ム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015029143A (ja) * 2008-08-29 2015-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 樹脂封止型半導体装置とその製造方法、リードフレーム
US9171761B2 (en) 2008-08-29 2015-10-27 Semiconductor Components Industries, Llc Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and lead frame
US9905497B2 (en) 2008-08-29 2018-02-27 Semiconductor Components Industries, Llc Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and lead frame

Also Published As

Publication number Publication date
JP2551835Y2 (ja) 1997-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7019388B2 (en) Semiconductor device
WO2002020236A2 (en) A mold
JPH0697354A (ja) 開口部のあるフラッグを有する半導体装置
US8963300B2 (en) Semiconductor device with selective planished leadframe
US9054092B2 (en) Method and apparatus for stopping resin bleed and mold flash on integrated circuit lead finishes
US6303983B1 (en) Apparatus for manufacturing resin-encapsulated semiconductor devices
JPH0546044U (ja) 半導体装置用リードフレーム
JPH06104364A (ja) リードフレーム、これを用いた半導体チップのモールド方法及びモールド用金型
JPH065645A (ja) 半導体素子の樹脂成形方法
CN113013127A (zh) 用于半导体器件的引线框架、对应的半导体产品和方法
US20150144389A1 (en) Method of minimizing mold flash during dambar cut
JPH0574999A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2552139Y2 (ja) リードフレーム
JP2621814B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2704128B2 (ja) 半導体装置用リードフレームおよびその製造方法
JP4455166B2 (ja) リードフレーム
US8648452B2 (en) Resin molded semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2001044225A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP3550006B2 (ja) リードフレームとこれを用いた半導体装置
JPH0758262A (ja) リードフレーム
KR0152577B1 (ko) 각형 위치 정렬 핀을 이용한 외부리드의 언더 컷 방지 방법
JPH0236557A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置
JP4442210B2 (ja) 半導体パッケージの製造方法
JPH08167685A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH11243173A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees