JPH0545396A - ノイズ試験器 - Google Patents
ノイズ試験器Info
- Publication number
- JPH0545396A JPH0545396A JP3229419A JP22941991A JPH0545396A JP H0545396 A JPH0545396 A JP H0545396A JP 3229419 A JP3229419 A JP 3229419A JP 22941991 A JP22941991 A JP 22941991A JP H0545396 A JPH0545396 A JP H0545396A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- noise
- power supply
- inductive load
- feeder line
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気機器が使用されている環境に即して電気
機器のノイズ耐性を試験する。 【構成】 ノイズを発生する誘導性負荷を駆動するスイ
ッチを設け、誘導性負荷のへの給電線の一部を、ノイズ
耐性を試験しようとする電気機器への給電線の一部に混
触させたものである。
機器のノイズ耐性を試験する。 【構成】 ノイズを発生する誘導性負荷を駆動するスイ
ッチを設け、誘導性負荷のへの給電線の一部を、ノイズ
耐性を試験しようとする電気機器への給電線の一部に混
触させたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電気機器に及ぶ誘導ノイ
ズの影響を試験するノイズ試験器に関する。
ズの影響を試験するノイズ試験器に関する。
【０００２】
【従来技術】産業機器が設置され使用される環境はさま
ざまであり、その中で物理量を測定したり制御したりす
る系が広く用いられている。
ざまであり、その中で物理量を測定したり制御したりす
る系が広く用いられている。
【０００３】たとえばガス製造用の設備を考えてみる
と、製造されるガスの熱量を測定し、その測定結果に基
づいてガスの熱量を制御する測定制御系が設けられてい
る。ガス熱量の測定にはガスの流れにより振動するスプ
ールの振動数を電気的に検知するセンサと、このセンサ
に電源電圧を供給する直流駆動の変換器とが用いられる
が、通常この系の近傍にはガス管の電磁弁やイグニッシ
ョンを駆動するための交流１００Ｖの給電線が引き回さ
れていることが多い。
と、製造されるガスの熱量を測定し、その測定結果に基
づいてガスの熱量を制御する測定制御系が設けられてい
る。ガス熱量の測定にはガスの流れにより振動するスプ
ールの振動数を電気的に検知するセンサと、このセンサ
に電源電圧を供給する直流駆動の変換器とが用いられる
が、通常この系の近傍にはガス管の電磁弁やイグニッシ
ョンを駆動するための交流１００Ｖの給電線が引き回さ
れていることが多い。
【０００４】このような環境において、電磁弁を開閉し
たりイグニッションをＯＮ／ＯＦＦしたりすると、給電
線を流れる衝撃波により生じたノイズが電磁誘導により
センサからの出力線に混入して変換器からのガス熱量出
力信号にひげ部分が含まれてしまうことがあり、熱量測
定に影響が及んで的確な熱量制御ができなくなるという
問題がある。
たりイグニッションをＯＮ／ＯＦＦしたりすると、給電
線を流れる衝撃波により生じたノイズが電磁誘導により
センサからの出力線に混入して変換器からのガス熱量出
力信号にひげ部分が含まれてしまうことがあり、熱量測
定に影響が及んで的確な熱量制御ができなくなるという
問題がある。
【０００５】そこで従来では、このような電気機器への
誘導ノイズの影響を調べるためにインパルスノイズシミ
ュレータや雷サージ試験機などのノイズ試験器が用いら
れており、いずれもインパルス状または雷サージ状の擬
似信号を発生させ、これを電源ラインに重畳させて電気
機器の動作を観測するものである。
誘導ノイズの影響を調べるためにインパルスノイズシミ
ュレータや雷サージ試験機などのノイズ試験器が用いら
れており、いずれもインパルス状または雷サージ状の擬
似信号を発生させ、これを電源ラインに重畳させて電気
機器の動作を観測するものである。
【０００６】たとえば、インパルスノイズシミュレータ
の場合には、同軸ケーブルを充電しておき、この電荷を
水銀リレーを介して一気に放電させて立ち上がり時間が
１〜１．２sec 程度のインパルス波形を発生させてい
る。こうして発生したインパルス状信号を電源ラインの
ライン間またはラインとアースとの間に印加し、同じ環
境で使用している電気機器への影響を調べることにより
機器のノイズ耐性を知ることができる。
の場合には、同軸ケーブルを充電しておき、この電荷を
水銀リレーを介して一気に放電させて立ち上がり時間が
１〜１．２sec 程度のインパルス波形を発生させてい
る。こうして発生したインパルス状信号を電源ラインの
ライン間またはラインとアースとの間に印加し、同じ環
境で使用している電気機器への影響を調べることにより
機器のノイズ耐性を知ることができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のノイ
ズ試験機は汎用性のものなので、ある特定の環境で使用
されている特定の電気機器に及ぶ誘導ノイズの影響を調
べようとすると、たとえばインパルスノイズシミュレー
タを用いる場合は同軸ケーブルを充電しなければならな
いという煩わしさのほかに、ノイズシミュレータで発生
させるインパルス状信号をその環境で実際に発生する誘
導ノイズの大きさや性質に合わせて調整する必要がある
ため、準備が厄介である。
ズ試験機は汎用性のものなので、ある特定の環境で使用
されている特定の電気機器に及ぶ誘導ノイズの影響を調
べようとすると、たとえばインパルスノイズシミュレー
タを用いる場合は同軸ケーブルを充電しなければならな
いという煩わしさのほかに、ノイズシミュレータで発生
させるインパルス状信号をその環境で実際に発生する誘
導ノイズの大きさや性質に合わせて調整する必要がある
ため、準備が厄介である。
【０００８】本発明は上記の点にかんがみてなされたも
ので、煩わしい調整をすることなく電気機器が実際に使
用される環境に即した状況で誘導ノイズを発生させる電
気機器のノイズ耐性を試験することを目的とする。
ので、煩わしい調整をすることなく電気機器が実際に使
用される環境に即した状況で誘導ノイズを発生させる電
気機器のノイズ耐性を試験することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、ノイズを発生する誘導性負荷を
駆動するスイッチを設け、誘導性負荷のへの給電線の一
部を、ノイズ耐性を試験しようとする電気機器への給電
線の一部に混触させたものである。
に、本発明においては、ノイズを発生する誘導性負荷を
駆動するスイッチを設け、誘導性負荷のへの給電線の一
部を、ノイズ耐性を試験しようとする電気機器への給電
線の一部に混触させたものである。
【００１０】
【作用】スイッチを閉じて誘導性負荷を駆動するとノイ
ズが発生してこのノイズを誘導性負荷への給電線と混触
させた電気機器の給電線へ誘導し、電気機器にノイズを
印加することにより電気機器のノイズ耐性を試験するこ
とができる。
ズが発生してこのノイズを誘導性負荷への給電線と混触
させた電気機器の給電線へ誘導し、電気機器にノイズを
印加することにより電気機器のノイズ耐性を試験するこ
とができる。
【００１１】
【実施例】以下本発明を図面に基づいて説明する。
【００１２】図１は本発明によるノイズ試験機の一実施
例の電気回路を示す。図示した実施例は電磁弁が使用さ
れている環境下で電気機器のノイズ耐性を試験するのに
用いられるノイズ試験器である。
例の電気回路を示す。図示した実施例は電磁弁が使用さ
れている環境下で電気機器のノイズ耐性を試験するのに
用いられるノイズ試験器である。
【００１３】ノイズ試験器は、ノイズ耐性を試験しよう
とする直流駆動（この実施例では２４Ｖ）の電気機器１
００の給電線１０ａ、１０ｂ間に、スイッチ１とリレー
２のコイル２ａとを直列に接続するとともに、リレー２
の接点２ｂと、電磁弁３と、この電磁弁３への給電用交
流電源４とを給電線２０により直列に接続して構成した
閉回路を有して成り、重要なことは、閉回路の給電線２
０の一部を電気機器１００の給電線１０ａおよび１０ｂ
と混触させている点である。
とする直流駆動（この実施例では２４Ｖ）の電気機器１
００の給電線１０ａ、１０ｂ間に、スイッチ１とリレー
２のコイル２ａとを直列に接続するとともに、リレー２
の接点２ｂと、電磁弁３と、この電磁弁３への給電用交
流電源４とを給電線２０により直列に接続して構成した
閉回路を有して成り、重要なことは、閉回路の給電線２
０の一部を電気機器１００の給電線１０ａおよび１０ｂ
と混触させている点である。
【００１４】直流給電線１０ａ，１０ｂと交流給電線２
０とを混触させる態様は、一方を他方の周囲に巻いた
り、両方を撚ったりなど種々考えられるが、前者より後
者の方がノイズ誘導上効果的であることが本発明者らの
実験で確認されている。
０とを混触させる態様は、一方を他方の周囲に巻いた
り、両方を撚ったりなど種々考えられるが、前者より後
者の方がノイズ誘導上効果的であることが本発明者らの
実験で確認されている。
【００１５】次に、上記構成のノイズ試験器を用いて電
気機器のノイズ耐性を試験する方法について説明する。
気機器のノイズ耐性を試験する方法について説明する。
【００１６】図示したように、電気機器１００に直流電
圧を印加した状態でスイッチ１をＯＮすると、リレー２
のコイル２ａに通電され、接点２ｂが閉成される。その
結果、電磁弁３が交流電源４から給電され、始動時に給
電線２０にノイズが発生する。その結果、混触状態にあ
る直流給電線１０ａ、１０ｂにノイズが誘導されて、電
気機器１００の電源電圧に混入して印加される。この時
の電気機器１００の出力信号をたとえば記録計で記録す
ることによりノイズの影響を調べることができる。ノイ
ズ試験の結果をみて環境に適した仕様の電気機器を設計
するなり、回路を変更するなり、ノイズキラーを設置す
るなど必要な対策をとることができる。
圧を印加した状態でスイッチ１をＯＮすると、リレー２
のコイル２ａに通電され、接点２ｂが閉成される。その
結果、電磁弁３が交流電源４から給電され、始動時に給
電線２０にノイズが発生する。その結果、混触状態にあ
る直流給電線１０ａ、１０ｂにノイズが誘導されて、電
気機器１００の電源電圧に混入して印加される。この時
の電気機器１００の出力信号をたとえば記録計で記録す
ることによりノイズの影響を調べることができる。ノイ
ズ試験の結果をみて環境に適した仕様の電気機器を設計
するなり、回路を変更するなり、ノイズキラーを設置す
るなど必要な対策をとることができる。
【００１７】ノイズ試験が１回だけであればスイッチ１
の開閉は手動で行えばよいが、長期間にわたり定期的に
行ってデータをとるような場合は自動的に行うようにす
ることができ、ノイズ注入のタイミングは可変に変更で
きるようになっている。
の開閉は手動で行えばよいが、長期間にわたり定期的に
行ってデータをとるような場合は自動的に行うようにす
ることができ、ノイズ注入のタイミングは可変に変更で
きるようになっている。
【００１８】このように、電気機器が使用される環境に
おいて、ノイズ発生の原因となる電磁弁をノイズ試験器
の一部に含めたことにより、環境に即したノイズ試験が
可能になる。ノイズ発生の原因となる負荷としては種々
考えられるが、多くの場合誘導性負荷である。また、ノ
イズ耐性を試験しようとする電気機器およびノイズ発生
の原因となる誘導性負荷は直流駆動でも交流駆動でもよ
い。試験の対象となる電気機器としては上述したガス熱
量測定における変換器のほかに、誘導ノイズを受ける可
能性のある機器ならば何でもよい。
おいて、ノイズ発生の原因となる電磁弁をノイズ試験器
の一部に含めたことにより、環境に即したノイズ試験が
可能になる。ノイズ発生の原因となる負荷としては種々
考えられるが、多くの場合誘導性負荷である。また、ノ
イズ耐性を試験しようとする電気機器およびノイズ発生
の原因となる誘導性負荷は直流駆動でも交流駆動でもよ
い。試験の対象となる電気機器としては上述したガス熱
量測定における変換器のほかに、誘導ノイズを受ける可
能性のある機器ならば何でもよい。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、ノイズ発生の原因となる誘導性負荷を含む閉回路を
スイッチで開閉することによりノイズを発生させ、閉回
路を構成する給電線の一部をいまノイズ耐性を試験しよ
うとする電気機器の給電線の一部と混触させ、スイッチ
を閉成したとき発生するノイズを誘導させるようにした
ので、電気機器が使用される環境の中でノイズ試験がで
きるという効果が得られる。また、従来のインパルスノ
イズシミュレータのように、試験に先立って同軸ケーブ
ルを充電するような煩わしさがない。
は、ノイズ発生の原因となる誘導性負荷を含む閉回路を
スイッチで開閉することによりノイズを発生させ、閉回
路を構成する給電線の一部をいまノイズ耐性を試験しよ
うとする電気機器の給電線の一部と混触させ、スイッチ
を閉成したとき発生するノイズを誘導させるようにした
ので、電気機器が使用される環境の中でノイズ試験がで
きるという効果が得られる。また、従来のインパルスノ
イズシミュレータのように、試験に先立って同軸ケーブ
ルを充電するような煩わしさがない。
【図１】本発明によるノイズ試験器の一実施例の電気回
路図である。
路図である。
１ スイッチ ２ リレー ２ａ コイル ２ｂ 接点 ３ 電磁弁 ４ 交流電源 １０ａ，１０ｂ 給電線 ２０ 給電線 １００ 電気機器
Claims (1)
- 【請求項１】 ノイズを発生する誘導性負荷を駆動する
スイッチを有し、前記誘導性負荷への給電線の一部を、
ノイズ耐性を試験しようとする電気機器への給電線の一
部に混触させて成ることを特徴とするノイズ試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3229419A JPH0545396A (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | ノイズ試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3229419A JPH0545396A (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | ノイズ試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545396A true JPH0545396A (ja) | 1993-02-23 |
Family
ID=16891936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3229419A Withdrawn JPH0545396A (ja) | 1991-08-15 | 1991-08-15 | ノイズ試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0545396A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5171817B2 (ja) * | 2007-05-28 | 2013-03-27 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置および試験方法 |
| JP2016189663A (ja) * | 2015-03-30 | 2016-11-04 | 株式会社パナソニックシステムネットワークス開発研究所 | 電磁界模擬装置 |
| JP2021117156A (ja) * | 2020-01-28 | 2021-08-10 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 試験システム、試験方法、及びプログラム |
| CN113939888A (zh) * | 2019-05-28 | 2022-01-14 | 菲尼克斯电气公司 | 预测初级继电器故障的方法 |
-
1991
- 1991-08-15 JP JP3229419A patent/JPH0545396A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5171817B2 (ja) * | 2007-05-28 | 2013-03-27 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置および試験方法 |
| US8433990B2 (en) | 2007-05-28 | 2013-04-30 | Advantest Corporation | Semiconductor test apparatus and test method |
| JP2016189663A (ja) * | 2015-03-30 | 2016-11-04 | 株式会社パナソニックシステムネットワークス開発研究所 | 電磁界模擬装置 |
| CN113939888A (zh) * | 2019-05-28 | 2022-01-14 | 菲尼克斯电气公司 | 预测初级继电器故障的方法 |
| CN113939888B (zh) * | 2019-05-28 | 2024-01-05 | 菲尼克斯电气公司 | 预测初级继电器故障的方法 |
| US11965932B2 (en) | 2019-05-28 | 2024-04-23 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Method for predicting the failure of elementary relays |
| JP2021117156A (ja) * | 2020-01-28 | 2021-08-10 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 試験システム、試験方法、及びプログラム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981112 |