JPH0534735B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0534735B2 JPH0534735B2 JP61206882A JP20688286A JPH0534735B2 JP H0534735 B2 JPH0534735 B2 JP H0534735B2 JP 61206882 A JP61206882 A JP 61206882A JP 20688286 A JP20688286 A JP 20688286A JP H0534735 B2 JPH0534735 B2 JP H0534735B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- incident
- optical axis
- optical
- polarizing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 81
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 25
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、光学的情報記録、読取装置における
光学ヘツドに関するものであり、更に詳しくは、
光源として半導体レーザなどを用いた場合に、発
生する光ビームの光軸に対し直交する面内におけ
る光量分布が楕円形状になる傾向にあるので、こ
れを真円形に整形する光学手段を兼ねうる偏光ビ
ームスプリツタを用いた光学ヘツドに関するもの
である。
光学ヘツドに関するものであり、更に詳しくは、
光源として半導体レーザなどを用いた場合に、発
生する光ビームの光軸に対し直交する面内におけ
る光量分布が楕円形状になる傾向にあるので、こ
れを真円形に整形する光学手段を兼ねうる偏光ビ
ームスプリツタを用いた光学ヘツドに関するもの
である。
光情報担体（以下デイスク、と略す）に光学的
に情報を記録または再生するための光学ヘツドに
おいては、光源とし従来よりヘリウム・ネオンレ
ーザ、アルゴンレーザ等のガスレーザが用いられ
てきたが、近年小型でかつ直接変調の可能な半導
体レーザが用いられるようになつてきた。周知の
ように、一般に半導体レーザは、その光出力が15
〜25mWと従来のガスレーザに比較して小さく、
さらにその光ビームは遠視野像が楕円になるとい
う非等方的なもの（換言すると、半導体レーザか
らの発光ビームの断面パターンが真円形でなく楕
円形になるということ）が通例である。
に情報を記録または再生するための光学ヘツドに
おいては、光源とし従来よりヘリウム・ネオンレ
ーザ、アルゴンレーザ等のガスレーザが用いられ
てきたが、近年小型でかつ直接変調の可能な半導
体レーザが用いられるようになつてきた。周知の
ように、一般に半導体レーザは、その光出力が15
〜25mWと従来のガスレーザに比較して小さく、
さらにその光ビームは遠視野像が楕円になるとい
う非等方的なもの（換言すると、半導体レーザか
らの発光ビームの断面パターンが真円形でなく楕
円形になるということ）が通例である。
このため、レーザ光源として半導体レーザを用
いた光学ヘツドにおいては、レーザ光源から対物
レンズに至る光学系の光利用効率を高めることが
必要である。更にデイスクに高密度で情報を記録
するためには、対物レンズに入射する光ビーム
を、その縦横比を等しく、等方的な光ビーム（ビ
ームをその発光方向に対して垂直な方向において
切断したときの断面形状が真円であるような光ビ
ーム）に整形することも必要である。
いた光学ヘツドにおいては、レーザ光源から対物
レンズに至る光学系の光利用効率を高めることが
必要である。更にデイスクに高密度で情報を記録
するためには、対物レンズに入射する光ビーム
を、その縦横比を等しく、等方的な光ビーム（ビ
ームをその発光方向に対して垂直な方向において
切断したときの断面形状が真円であるような光ビ
ーム）に整形することも必要である。
従来より、半導体レーザを用いた光学ヘツドに
おいては、光利用効率を高めるために半導体レー
ザから出射する光ビームを開口数の大きなコリメ
ートレンズにより平行な光ビームに変換するとと
もに、コリメートレンズと対物レンズとの光路中
に、非等方的な光ビームを等方的な光ビームに変
換するための補正手段を設けるのが通例である。
このため、従来より第１図及び第２図に示すよう
な光学ヘツドが用いられてきた。
おいては、光利用効率を高めるために半導体レー
ザから出射する光ビームを開口数の大きなコリメ
ートレンズにより平行な光ビームに変換するとと
もに、コリメートレンズと対物レンズとの光路中
に、非等方的な光ビームを等方的な光ビームに変
換するための補正手段を設けるのが通例である。
このため、従来より第１図及び第２図に示すよう
な光学ヘツドが用いられてきた。
第１図は光ビームの補正手段として整形プリズ
ムを用いた光学ヘツドの斜視図である。第１図に
おいて、半導体レーザ１から放射状に出射した非
等方的な光ビーム１１は、コリメートレンズ２に
より平行光ビーム１２に変換され、整形プリズム
３により縦横に等方性を持つた入射光１３に整形
される。
ムを用いた光学ヘツドの斜視図である。第１図に
おいて、半導体レーザ１から放射状に出射した非
等方的な光ビーム１１は、コリメートレンズ２に
より平行光ビーム１２に変換され、整形プリズム
３により縦横に等方性を持つた入射光１３に整形
される。
入射光１３は偏光ビームスプリツタ４の入射面
４ａに入射し、偏光面４ｂを通過した後、第１出
射面４ｃから第１出射光１４として出射する。第
１出射光１４は４分の１波長板５を通過し、対物
レンズ６により集光されてデイスクに照射され
る。デイスク７による反射光は再び対物レンズ
６，４分の１波長板５を通過して偏光ビームスプ
リツタ４の第１出射面４ｃに入射し、偏光面４ｂ
により反射されて第２出射面４ｄから第２出射光
１５として出射する。第２出射光１５は集光レン
ズ８により集束されて円筒レンズ９を通過した
後、検出素子１０に照射される。
４ａに入射し、偏光面４ｂを通過した後、第１出
射面４ｃから第１出射光１４として出射する。第
１出射光１４は４分の１波長板５を通過し、対物
レンズ６により集光されてデイスクに照射され
る。デイスク７による反射光は再び対物レンズ
６，４分の１波長板５を通過して偏光ビームスプ
リツタ４の第１出射面４ｃに入射し、偏光面４ｂ
により反射されて第２出射面４ｄから第２出射光
１５として出射する。第２出射光１５は集光レン
ズ８により集束されて円筒レンズ９を通過した
後、検出素子１０に照射される。
上記の構成において、第１出射光１４と第２出
射光１５とは直交するものの、整形プリズム３に
入射する光ビーム１２は上記した第１出射光１４
及び第２出射光１５と互いに斜交するために、半
導体レーザ１及びコリメートレンズ２を、第１図
に示したその他の光学部品に対して斜交させて配
置する必要がある。このため、各光学部品を高精
度で組立てることが難しいという欠点がある。
射光１５とは直交するものの、整形プリズム３に
入射する光ビーム１２は上記した第１出射光１４
及び第２出射光１５と互いに斜交するために、半
導体レーザ１及びコリメートレンズ２を、第１図
に示したその他の光学部品に対して斜交させて配
置する必要がある。このため、各光学部品を高精
度で組立てることが難しいという欠点がある。
更に、偏光ビームスプリツタ４の入射面４ａに
入射する入射光１３は、ほとんどが偏光面４ｂを
通過して、第１出射面４ｃから出射するものの、
半導体レーザ１から出射する光ビーム１１が完全
な直線偏光であないために、入射光１３の一部
は、偏光面４ｂで反射され、更に面４ｅで反射さ
れ、再び偏光面４ｂで反射されることによつて、
入射面４ａから出射し、入射光１３と同じ光軸を
逆に辿つて、半導体レーザ１に帰還する。レーザ
の出射光が再びレーザに帰還することは、特に半
導体レーザにおいては、レーザ光に雑音が発生す
るという欠点となる。
入射する入射光１３は、ほとんどが偏光面４ｂを
通過して、第１出射面４ｃから出射するものの、
半導体レーザ１から出射する光ビーム１１が完全
な直線偏光であないために、入射光１３の一部
は、偏光面４ｂで反射され、更に面４ｅで反射さ
れ、再び偏光面４ｂで反射されることによつて、
入射面４ａから出射し、入射光１３と同じ光軸を
逆に辿つて、半導体レーザ１に帰還する。レーザ
の出射光が再びレーザに帰還することは、特に半
導体レーザにおいては、レーザ光に雑音が発生す
るという欠点となる。
第２図は光ビームの整形手段として、第１図に
おける整形プリズムの代りに、２枚の円柱レンズ
を用いるようにした従来の光学ヘツドの平面図で
ある。なお、記載されていない光学部品は第１図
に示したものと同様のものを用いる。
おける整形プリズムの代りに、２枚の円柱レンズ
を用いるようにした従来の光学ヘツドの平面図で
ある。なお、記載されていない光学部品は第１図
に示したものと同様のものを用いる。
第２図において、半導体レーザ１から放射状に
出射した非等方的な光ビーム１１は、コリメート
レンズ２により、平行光ビーム１２に変換され、
円柱レンズ２０，２１により、縦横に等方性を持
つた入射光１３に整形される。入射光１３は偏光
ビームスプリツタ４の入射面４ａに入射し、偏光
面４ｂを通過した後、第１出射面４ｃから出射す
る。この第１出射光１４と同じ光軸を逆に戻つて
きたデイスクからの反射光は再び偏光ビームスプ
リツタ４の第１出射面４ｃに入射し、偏光面４ｂ
により反射されて第２出射面４ｄから第２出射光
１５として出射する。第２図の構成においては、
光ビーム１２の光軸と入射光１３の光軸とが一致
しているため、半導体レーザ１及びコリメートレ
ンズ２を光学ヘツドを構成するその他の光学部品
に対して斜交させて配置する必要がないが、部品
点数が増えるとともに、境界面の増加により光量
が減少し、さらに迷光の発生が増加するという欠
点がある。更に、コリメートレンズ２、円筒レン
ズ２０，２１の光軸を正確に一致させ、かつ相互
の位置を正確に配置するためには、組立、調整が
複雑になるという欠点がある。
出射した非等方的な光ビーム１１は、コリメート
レンズ２により、平行光ビーム１２に変換され、
円柱レンズ２０，２１により、縦横に等方性を持
つた入射光１３に整形される。入射光１３は偏光
ビームスプリツタ４の入射面４ａに入射し、偏光
面４ｂを通過した後、第１出射面４ｃから出射す
る。この第１出射光１４と同じ光軸を逆に戻つて
きたデイスクからの反射光は再び偏光ビームスプ
リツタ４の第１出射面４ｃに入射し、偏光面４ｂ
により反射されて第２出射面４ｄから第２出射光
１５として出射する。第２図の構成においては、
光ビーム１２の光軸と入射光１３の光軸とが一致
しているため、半導体レーザ１及びコリメートレ
ンズ２を光学ヘツドを構成するその他の光学部品
に対して斜交させて配置する必要がないが、部品
点数が増えるとともに、境界面の増加により光量
が減少し、さらに迷光の発生が増加するという欠
点がある。更に、コリメートレンズ２、円筒レン
ズ２０，２１の光軸を正確に一致させ、かつ相互
の位置を正確に配置するためには、組立、調整が
複雑になるという欠点がある。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな
くし、半導体レーザ光の非等方性を補正できると
ともに、偏光ビームスプリツタへの入射光軸と、
互いに直交する２つの出射光軸のうちの何れか一
方とが互いに平行であり、偏光ビームスプリツタ
の偏光面からの反射光に起因する迷光が半導体レ
ーザに帰還せず、しかも部品点数の少ない光学ヘ
ツドを提供することにある。
くし、半導体レーザ光の非等方性を補正できると
ともに、偏光ビームスプリツタへの入射光軸と、
互いに直交する２つの出射光軸のうちの何れか一
方とが互いに平行であり、偏光ビームスプリツタ
の偏光面からの反射光に起因する迷光が半導体レ
ーザに帰還せず、しかも部品点数の少ない光学ヘ
ツドを提供することにある。
上記した目的を達成するために、本発明による
光学ヘツドにおいては、その偏光ビームスプリツ
タとして、 入射面と第１および第２の各出射面と、その内
部に偏光面と、前記入射面に入射した光ビームを
前記偏光面に導く反射面とをもち、入射面に光ビ
ームが入射されるのに応じて前記第１および第２
の各出射面から、その出射光軸が相互に直交する
如き第１および第２の各光ビームを出射し、前記
入射面への入射光軸と前記第１および第２の各出
射光軸が同一平面内に位置し、かつ前記入射光軸
と前記第１の出射光軸とが直交し、さらに前記入
射光軸の入射面に対する斜交角に前記入射交ビー
ムを非等方性ビームから等方性ビームに整形する
に足る角度をもたせた偏光ビームスプリツタであ
つて、 前記した入射面、反射面、偏光面、第１出射
面、第２出射面の各面以外に、前記入射光軸に対
して平行な面と垂直な面とを備えるとともに、前
記した第１出射面と第１出射光軸および第２出射
面と第２出射光軸とがそれぞれ斜交している偏光
ビームスプリツタを用いた。
光学ヘツドにおいては、その偏光ビームスプリツ
タとして、 入射面と第１および第２の各出射面と、その内
部に偏光面と、前記入射面に入射した光ビームを
前記偏光面に導く反射面とをもち、入射面に光ビ
ームが入射されるのに応じて前記第１および第２
の各出射面から、その出射光軸が相互に直交する
如き第１および第２の各光ビームを出射し、前記
入射面への入射光軸と前記第１および第２の各出
射光軸が同一平面内に位置し、かつ前記入射光軸
と前記第１の出射光軸とが直交し、さらに前記入
射光軸の入射面に対する斜交角に前記入射交ビー
ムを非等方性ビームから等方性ビームに整形する
に足る角度をもたせた偏光ビームスプリツタであ
つて、 前記した入射面、反射面、偏光面、第１出射
面、第２出射面の各面以外に、前記入射光軸に対
して平行な面と垂直な面とを備えるとともに、前
記した第１出射面と第１出射光軸および第２出射
面と第２出射光軸とがそれぞれ斜交している偏光
ビームスプリツタを用いた。
以下、本発明の詳細を図に示す実施例により説
明する。第３図は、本発明による光学ヘツドの一
実施例を示す斜視図である。
明する。第３図は、本発明による光学ヘツドの一
実施例を示す斜視図である。
第３図において、半導体レーザ１から放射状に
出射した非等方的な光ビーム１１はコリメートレ
ンズ２により平行光ビームである入射光１２に変
換され、偏光ビームスプリツタ３０の入射面３０
ａに斜めに入射することによつて縦横に等方性を
持つた光ビーム１３に整形され、偏光ビームスプ
リツタ３０内部の反射面３０ｂにより反射され
て、入射光ビーム１２の光軸と直交する光ビーム
１６となり、偏光面３０ｃを通過し、第１出射光
１４として第１出射面３０ｄより、該出射面３０
ｄに斜交して出射する。
出射した非等方的な光ビーム１１はコリメートレ
ンズ２により平行光ビームである入射光１２に変
換され、偏光ビームスプリツタ３０の入射面３０
ａに斜めに入射することによつて縦横に等方性を
持つた光ビーム１３に整形され、偏光ビームスプ
リツタ３０内部の反射面３０ｂにより反射され
て、入射光ビーム１２の光軸と直交する光ビーム
１６となり、偏光面３０ｃを通過し、第１出射光
１４として第１出射面３０ｄより、該出射面３０
ｄに斜交して出射する。
第１出射交１４は４分の１波長板５を通過し、
対物レンズ６により集光されて、デイスク７に照
射される。デイスク７による反射光は再び対物レ
ンズ６、４分の１波長板５を通過し、偏光ビーム
シスリツタ３０の第１出射面３０ｄに斜交して入
射し、偏光面３０ｃにより反射され、第２出射面
３０ｅから、第１出射光１４に直交する第２出射
光１５として、該第２出射面３０ｅに遮交して出
射する。第２出射交１５は集光レンズ８により収
束光ビーム１６となり、円筒レンズ９を通過した
後、検出素子１０に照射される。
対物レンズ６により集光されて、デイスク７に照
射される。デイスク７による反射光は再び対物レ
ンズ６、４分の１波長板５を通過し、偏光ビーム
シスリツタ３０の第１出射面３０ｄに斜交して入
射し、偏光面３０ｃにより反射され、第２出射面
３０ｅから、第１出射光１４に直交する第２出射
光１５として、該第２出射面３０ｅに遮交して出
射する。第２出射交１５は集光レンズ８により収
束光ビーム１６となり、円筒レンズ９を通過した
後、検出素子１０に照射される。
第４図は、第３図における偏光ビームスプリツ
タ３０のみを第３図に示す矢印Ａ方向から見た平
面図である。
タ３０のみを第３図に示す矢印Ａ方向から見た平
面図である。
第４図の構成において、半導体レーザの波長に
おける偏光ビームスプリツタ３０の光屈折率をｎ
とし、光ビームの非等方性を補正するための紙面
に平行な面内における光ビーム１２の拡大率をｍ
とすると、スプリツタ３０における図示の角θ1は
次の式(1)、角θ2は同じく式(2)で表わされる角度と
なる。
おける偏光ビームスプリツタ３０の光屈折率をｎ
とし、光ビームの非等方性を補正するための紙面
に平行な面内における光ビーム１２の拡大率をｍ
とすると、スプリツタ３０における図示の角θ1は
次の式(1)、角θ2は同じく式(2)で表わされる角度と
なる。
θ1＝1＋45゜ ……(1)
θ1＝（2−1）／２＋90゜……(2)
但し
2＝sin-1（sin（1）／ｎ） ……(4)
なお、上記の構成においては、角θ3≠θ4、入射
面３０ａに対する入射光１２の入射角は1であ
り、入射光ビーム１２は紙面に平行な方向よりも
紙面に垂直な方向に長い断面形状を成しているも
のとする。
面３０ａに対する入射光１２の入射角は1であ
り、入射光ビーム１２は紙面に平行な方向よりも
紙面に垂直な方向に長い断面形状を成しているも
のとする。
例えばプリズムの屈折率ｎ＝1.51のとき、拡大
率ｍ＝2.40とすると、θ1＝116.05゜、θ2＝73.87゜に
すれば縦：横１：2.40の非等方性のある光ビーム
１２の偏光ビームスプリツタ３０への入射光軸
と、互いに直交する２つの出射光軸１４，１５の
うちの一方である出射光軸１５とが互いに平行に
なり、かつ等方性のある光ビーム１３を得ること
ができる。
率ｍ＝2.40とすると、θ1＝116.05゜、θ2＝73.87゜に
すれば縦：横１：2.40の非等方性のある光ビーム
１２の偏光ビームスプリツタ３０への入射光軸
と、互いに直交する２つの出射光軸１４，１５の
うちの一方である出射光軸１５とが互いに平行に
なり、かつ等方性のある光ビーム１３を得ること
ができる。
以上説明した如き構成による偏光ビームスプリ
ツタ３０では、光ビーム１６の一部は偏光面３０
ｃで反射するものの、該反射光は入射面３０ａへ
は、光ビーム１３と異なつた角度で入射するため
に、半導体レーザ１に帰還することはない。
ツタ３０では、光ビーム１６の一部は偏光面３０
ｃで反射するものの、該反射光は入射面３０ａへ
は、光ビーム１３と異なつた角度で入射するため
に、半導体レーザ１に帰還することはない。
また平行光ビーム１２、出射光ビーム１５はデ
イスク７と並行になるため薄型な光学ヘツドの構
成が可能となる。しかも、光ビームの通過または
反射する境界面の数は第１図に示した従来の光学
ヘツドの同等の機能を果たす部分よりも１つ減
り、また第２図に示す従来の光学ヘツドよりも３
つ減つているので、迷光の問題も軽減され、さら
に反射面３０ｂに反射コーテイングを施すことに
より、光利用率も向上する。
イスク７と並行になるため薄型な光学ヘツドの構
成が可能となる。しかも、光ビームの通過または
反射する境界面の数は第１図に示した従来の光学
ヘツドの同等の機能を果たす部分よりも１つ減
り、また第２図に示す従来の光学ヘツドよりも３
つ減つているので、迷光の問題も軽減され、さら
に反射面３０ｂに反射コーテイングを施すことに
より、光利用率も向上する。
なお第４図において、第１出射光１４と第１出
射面３０ｄが直交せず、また同様に第２出射光１
５と第２出射面３０ｅが直交しない様に、角度
θ1，θ2，θ3，θ4の値を定めていることが認めされ
るであろう。
射面３０ｄが直交せず、また同様に第２出射光１
５と第２出射面３０ｅが直交しない様に、角度
θ1，θ2，θ3，θ4の値を定めていることが認めされ
るであろう。
以上の構成によつて光ビーム１６の第１出射面
３０ｄによる反射光が存在しても、該反射光は光
ビーム１６と同じ光軸を逆に辿ることはなくな
る。また、以上の事柄は第２出射面３０ｅについ
ても同様である。
３０ｄによる反射光が存在しても、該反射光は光
ビーム１６と同じ光軸を逆に辿ることはなくな
る。また、以上の事柄は第２出射面３０ｅについ
ても同様である。
以上説明したように、従来の光学ヘツドにおい
ては、偏光ビームスプリツタの偏光面からの反射
光が半導体レーザに帰還してノイズが発生すると
ともに、非等方性な光ビームの補正にプリズムを
用いた場合は入射光軸と出射光軸とが斜交して光
学部品を高精度で組立てることが困難であり、ま
た２個の円筒レンズにより光ビームを補正した場
合は、入射光と出射光とは直交または平行である
ものの、光学部品の数が増加するとともに、各光
学部品の組立てに更に高い精度が要求されるとい
う欠点があつたが、本発明による光学ヘツドにお
いては、非等方性の光ビームを補正するためのプ
リズムと偏光ビームスプリツタとを一体化して新
たな偏光ビームスプリツタとし、そのプリズム部
分で補正された光ビームをスプリツタ部分へ導く
ための反射面（第４図３０ｂ）を設けるととも
に、入射光軸と入射面とを適当に斜交させること
により、入射光軸と相互に直交する２つの出射光
軸のうち一方とが直交、他方とが平行となり、か
つ偏光面からの反射光が半導体レーザに帰還する
ことがないために、上記した従来技術の欠点を解
決し得たものである。さらに補正用プリズムとス
プリツタとの一体化により、光ビームの通過する
境界面数が少なくなるため、光利用率も向上し、
また光学ヘツド部分を薄型化できるという効果も
ある。
ては、偏光ビームスプリツタの偏光面からの反射
光が半導体レーザに帰還してノイズが発生すると
ともに、非等方性な光ビームの補正にプリズムを
用いた場合は入射光軸と出射光軸とが斜交して光
学部品を高精度で組立てることが困難であり、ま
た２個の円筒レンズにより光ビームを補正した場
合は、入射光と出射光とは直交または平行である
ものの、光学部品の数が増加するとともに、各光
学部品の組立てに更に高い精度が要求されるとい
う欠点があつたが、本発明による光学ヘツドにお
いては、非等方性の光ビームを補正するためのプ
リズムと偏光ビームスプリツタとを一体化して新
たな偏光ビームスプリツタとし、そのプリズム部
分で補正された光ビームをスプリツタ部分へ導く
ための反射面（第４図３０ｂ）を設けるととも
に、入射光軸と入射面とを適当に斜交させること
により、入射光軸と相互に直交する２つの出射光
軸のうち一方とが直交、他方とが平行となり、か
つ偏光面からの反射光が半導体レーザに帰還する
ことがないために、上記した従来技術の欠点を解
決し得たものである。さらに補正用プリズムとス
プリツタとの一体化により、光ビームの通過する
境界面数が少なくなるため、光利用率も向上し、
また光学ヘツド部分を薄型化できるという効果も
ある。
第１図は光学ヘツドの従来例を示す斜視図、第
２図は同じく他の従来例を示す説明図、第３図は
本発明による光学ヘツドの一実施例を示す斜視
図、第４図は第３図における偏光ビームスプリツ
タ３０を矢印Ａ方向から見た平面図、である。 符号説明、１……半導体レーザ、２……コリメ
ートレンズ、５……1/4波長板、６……対物レン
ズ、７……デイスク、８……集光レンズ、９……
円柱レンズ、１０……検出素子、３０……偏光ビ
ームスプリツタ。
２図は同じく他の従来例を示す説明図、第３図は
本発明による光学ヘツドの一実施例を示す斜視
図、第４図は第３図における偏光ビームスプリツ
タ３０を矢印Ａ方向から見た平面図、である。 符号説明、１……半導体レーザ、２……コリメ
ートレンズ、５……1/4波長板、６……対物レン
ズ、７……デイスク、８……集光レンズ、９……
円柱レンズ、１０……検出素子、３０……偏光ビ
ームスプリツタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 半導体レーザ光源と、半導体レーザから出射
したレーザ光を光情報担体上に集光するための対
物レンズと、光情報担体からの反射光を半導体レ
ーザから対物レンズに至る光路から分離するため
の偏光ビームスプリツタと、偏光ビームスプリツ
タにより分離された反射光を検出するための検出
手段とを少なくとも備えた光学ヘツドにおいて、 前記偏光ビームスプリツタとして、入射面と第
１および第２の各出射面と、その内部に偏光面
と、前記入射面に入射した光ビームを前記偏光面
に導く反射面とをもち、入射面に光ビームが入射
されるのに応じて前記第１および第２の各出射面
から、その出射光軸が相互に直交する如き第１お
よび第２の各光ビームを出射し、前記入射面への
入射光軸と前記第１および第２の各出射光軸が同
一平面内に位置し、かつ前記入射光軸と前記第１
の出射光軸とが直交し、さらに前記入射光軸の入
射面に対する斜交角に前記入射光ビームを非等方
性ビームから等方性ビームに整形するに足る角度
をもたせた偏光ビームスプリツタであつて、 前記した入射面、反射面、偏光面、第１出射
面、第２出射面の各面以外に、前記入射光軸に対
して平行な面と垂直な面とを備えるとともに、前
記した第１出射面と第１出射光軸および第２出射
面と第２出射光軸とがそれぞれ斜交している偏光
ビームスプリツタを用いたことを特徴とする光学
ヘツド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61206882A JPS6278743A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61206882A JPS6278743A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 光学ヘツド |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58062989A Division JPS59188852A (ja) | 1983-04-12 | 1983-04-12 | 偏光ビ−ムスプリツタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6278743A JPS6278743A (ja) | 1987-04-11 |
| JPH0534735B2 true JPH0534735B2 (ja) | 1993-05-24 |
Family
ID=16530608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61206882A Granted JPS6278743A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6278743A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0244535A (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | 光ヘッド装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5528590A (en) * | 1972-10-24 | 1980-02-29 | Mca Disco Vision | Information reading device in video disk player and method thereof |
| JPS59128510A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-24 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 偏光ビ−ム・スプリツタのビ−ム・パタ−ン整形装置 |
| JPS59129950A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式ピツクアツプ |
-
1986
- 1986-09-04 JP JP61206882A patent/JPS6278743A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5528590A (en) * | 1972-10-24 | 1980-02-29 | Mca Disco Vision | Information reading device in video disk player and method thereof |
| JPS59128510A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-24 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 偏光ビ−ム・スプリツタのビ−ム・パタ−ン整形装置 |
| JPS59129950A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式ピツクアツプ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6278743A (ja) | 1987-04-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4731772A (en) | Optical head using hologram lens for both beam splitting and focus error detection functions | |
| JPS629537A (ja) | 光学式ピツクアツプ装置 | |
| JPS6111947A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| US5745304A (en) | Integrated optical pickup system capable of reading optical disks of different thickness | |
| US6510119B2 (en) | Optical head device | |
| JPH0534735B2 (ja) | ||
| JP2849176B2 (ja) | 光情報記録・再生用ヘッド | |
| JPH0533466B2 (ja) | ||
| JP2605469B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
| KR100248023B1 (ko) | 디스크 호환성을 가지는 초해상 기록재생용 광픽업 | |
| JP2501097B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JP2825873B2 (ja) | 光導波路 | |
| JPH0562238A (ja) | 光学装置および光ピツクアツプ装置 | |
| US20020021494A1 (en) | Optical device | |
| JP2001076368A (ja) | 光学ヘッドおよび１／４波長板 | |
| JPH04209335A (ja) | 発光部材 | |
| JPS61178740A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| JPH0728099B2 (ja) | 半導体レ−ザ光コリメ−ト装置 | |
| JP2537338B2 (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JP2735137B2 (ja) | 光学式情報記録再生装置の光学系 | |
| JPH02276046A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JPH02273337A (ja) | 光学ヘッド | |
| JPH06236564A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH0528524A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| JPH0191327A (ja) | 光学ヘッド |