JPH05330958A - メタライズ下地層形成用ガラス組成物 - Google Patents

メタライズ下地層形成用ガラス組成物

Info

Publication number
JPH05330958A
JPH05330958A JP13501892A JP13501892A JPH05330958A JP H05330958 A JPH05330958 A JP H05330958A JP 13501892 A JP13501892 A JP 13501892A JP 13501892 A JP13501892 A JP 13501892A JP H05330958 A JPH05330958 A JP H05330958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass composition
particle size
powder
minutes
plating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13501892A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshito Nogami
芳人 野上
Yoshifumi Yamashita
芳文 山下
Keiko Fukuda
桂子 福田
Yukikazu Moritsu
幸和 森津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Okuno Chemical Industries Co Ltd
Original Assignee
Okuno Chemical Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Okuno Chemical Industries Co Ltd filed Critical Okuno Chemical Industries Co Ltd
Priority to JP13501892A priority Critical patent/JPH05330958A/ja
Publication of JPH05330958A publication Critical patent/JPH05330958A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Glass Compositions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 (a)SiO2分4〜80重量%、(b)B2
3分1〜40重量%、(c)(R12O分、(R2)O
分、(R3)O2分および(R423の少なくとも1種
(ただし、R1はLi、NaおよびKの少なくとも1種
であり、R2はMg、Ca、Ba、Zn、CdおよびP
bの少なくとも1種であり、R3はTi、ZrおよびM
nの少なくとも1種であり、R4はAlおよび/又はB
iである。)1〜80重量%からなるメタライズ下地層
形成用ガラス組成物。セラミックス板の表面にこのガラ
ス組成物によりガラス層を形成させ、その上にメタライ
ズして導電体層を形成させる。 【効果】 セラミックス板と導電体層とを強固に接合す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミックスをメタラ
イズする際の下地層を形成するために有用なガラス組成
物に関する。
【0002】
【従来の技術】セラミックス基板はセラミックス板上に
導電体層を形成させたものであり、耐熱性、放電性等が
良好であり、しかも、低熱膨脹性であるという優れた特
性を有する。
【0003】セラミックス基板を作製する方法として
は、以下の様な方法が行われている。 (1)セラミックス板をフッ酸、硝酸等でエッチングし
た後にメッキする方法。 (2)セラミックス板上にMo、W等の高融点金属の粉
末を塗布して窒素雰囲気中で高温処理(1500〜18
00℃)する方法。
【0004】(3)Au、Ag、Pt等の貴金属粉末又
はCu、Ni、Al等の高導電性卑金属粉末と低融点ガ
ラスフリット等のバインター成分とを有機ビヒクルに混
合分散させた、いわゆる厚膜導電性ペーストをセラミッ
クス上に塗布し、加熱して焼き付ける方法。
【0005】(4)所定の形状の銅板をセラミックス上
に置き、窒素雰囲気中で1100〜1500℃で加熱圧
着する方法。
【0006】しかしながら、これらの方法にはそれぞれ
以下の様な問題があり、いずれも、工業的な実施を考え
た場合、熟成した技術とは言えなかった。
【0007】(1)の方法では、セラミックス板の品質
によって接合強度が一定せず、また耐薬品性が高いセラ
ミックスの場合には、効果的なエッチングが困難であ
り、高い接合強度を得られない。
【0008】(2)の方法では、導電体層の接合強度は
高いが、高温度と雰囲気調節が必要なため、生産性が低
いという欠点がある。更に、直接半田付けを行うことが
できないのでメッキ工程が必要になり、また電気導体と
して抵抗が高いという欠点もある。
【0009】(3)の方法において貴金属を使用する場
合にはコストが高く、電気導体として使用するとマイグ
レーションの問題がある。また、卑金属を使用する場合
には加熱時に雰囲気調節する必要があり、処理が煩雑で
ある。
【0010】(4)の方法では、加熱時の雰囲気調節が
必要であるために操作が煩雑であることに加えて、銅板
の厚さが0.2〜0.3mm程度以上必要であり、銅板
のパターニング精度が悪いという欠点がある。
【0011】本発明者は、このような問題を解決するた
めの有効な手段の一つとして、メタライズするセラミッ
クス板の表面に導電体との接着性が比較的良好なガラス
層を形成させてセラミックス板と導電体層との接合強度
を向上させる方法が有効であろうとの予測に従って検討
してきたが、今までのところセラミックス板の表面を処
理するためのガラスとしてどのようなものが優れている
か見出すには至っていなかった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、セラ
ミックス基板を作製する際に、セラミックス板と導電体
層との接合強度を向上させるためのメタライズ下地層形
成用ガラスの原料として好適なガラス組成物を提供する
ことにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記のよう
な課題を解決するため鋭意研究を行った結果、SiO2
粉末及びB23粉末からなるガラス組成物に更に特定の
金属酸化物粉末を配合する場合には、セラミックスと導
電体層(金属)との接合強度を向上させる特性(以下、
接合強度特性という。)が著しく向上することを見出
し、本発明を完成した。
【0014】すなわち、本発明は、(a)SiO2分含
有量4〜80重量%、(b)B23分含有量1〜40重
量%、(c)(R12O分、(R2)O分、(R3)O2
分及び(R423分の少なくとも1種の含有量1〜8
0重量%(ただし、R1はLi、NaおよびKの少なく
とも1種であり、R2はMg、Ca、Ba、Zn、Cd
およびPbの少なくとも1種であり、R3はTi、Zr
およびMnの少なくとも1種であり、R4はAlおよび
/又はBiである。)からなるメタライズ下地層形成用
ガラス組成物である。
【0015】以下、本発明を詳細に説明する。
【0016】本発明のガラス組成物は必須成分として、
SiO2分、B23分並びに(R1 2O分、(R2)O
分、(R3)O2分および(R443分からなる群から
選ばれた1種以上の成分(以下、R1、R2、R3および
4を含む成分を総称してR成分という。ただし、R1
Li、NaおよびKの少なくとも1種であり、R2はM
g、Ca、Ba、Zn、CdおよびPbの少なくとも1
種であり、R3はTi、ZrおよびMnの少なくとも1
種であり、R4はAlおよび/又はBiである。)を含
むものである。
【0017】各成分の含有量は、SiO2分が4〜80
重量%好ましくは20〜80重量%であり、B23分が
1〜40重量%好ましくは5〜20重量%であり、R成
分が1〜80重量%好ましくは10〜70重量%であ
る。
【0018】R成分については、単独で使用しても効果
はあるが、二種以上のものを併用するのが好ましい。具
体的には、(R2)O分と(R423分との二種を併用
したもの、(R12O分、(R2)O分および(R3)O
2分の三種を併用したものが優れた特性を有する。ま
た、(R12O分、(R2)O分、(R3)O2分および
(R423分それぞれについても、1種を単独で使用
してもよいし、2種以上を併用してもよい。
【0019】なお、R成分の含有量が多すぎても少なす
ぎても接合強度特性が低下し、SiO2分の含有量とそ
の他の成分の含有量とのバランスが悪いとセラミックス
板に塗布した後に加熱する際にガラス化しにくくなり使
用特性が悪くなる。また、30重量%以下好ましくは1
0重量%以下であれば必須成分以外の成分を含有するこ
とができるが、接合強度特性の点からは必須成分以外の
成分の含有量は少ない方が好ましく、各必須成分はでき
るだけ高純度のものを使用するのがよい。
【0020】本発明のガラス組成物はセラミックスの表
面に塗布されるものであり、通常粉末の状態で使用され
る。本発明のガラス組成物を粉末として使用する場合、
その粒径について特に限定はないが、接合強度特性の点
から粒径が小さいものが好ましく、具体的には粒径が
0.1〜100μm好ましくは0.1〜50μmの範囲
内にあるものが適している。
【0021】粉末状の本発明のガラス組成物を製造する
方法としては、特に限定はないが、例えば、各成分をそ
れぞれ単独で粉砕して得た粉末を適当な割合で配合する
方法、二成分以上を混合粉砕し必要に応じて残りの成分
の粉末を配合する方法、二成分以上を配合して加熱溶融
させた後に粉砕し必要に応じて残りの成分の粉末を配合
する方法等を挙げることができる。
【0022】ただし、均一なガラス層を形成させること
を考慮すると、いくつかの成分を配合して加熱溶融させ
た後に粉砕し、残りの成分の粉末を配合する方法によっ
て製造したガラス組成物が優れている。また、このよう
にして製造したものを使用する場合、セラミックス上に
塗布した後に加熱溶融させてガラス層を形成させる際の
加熱温度を低くすることができる。
【0023】各成分の粉砕には一般に使用されている各
種のミル、例えばボールミルを使用することができ、各
成分の配合にはミルの他、一般に使用されているミキサ
ー、ライカイ機等を適宜選択して使用することができ
る。また、各成分の粒径を整えるためには粉砕した後に
振い分け等して分級することが有効である。
【0024】本発明のガラス組成物でメタライズ用下地
層を形成することが有効なセラミックスについては、特
に限定はなく、例えば耐熱温度が500℃以上のセラミ
ックス材料から、誘電率、絶縁性、誘電正接等のセラミ
ックス基板用として必要な特性を考慮し、使用目的に応
じて適宜選択することができる。具体的には、アルミ
ナ、ジルコニア、ベリリア、ムライト、ホルステライ
ト、コーディライト、チタン酸鉛、チタン酸バリウム、
チタン酸ジルコン酸鉛等の酸化物系セラミックス、窒化
ケイ素、窒化アルミニウム等の非酸化物系セラミックス
等を挙げることができる。
【0025】以下、本発明のガラス組成物の使用方法の
具体例としてセラミックス基板を作製する方法及び回路
パターンを形成する方法について説明する。
【0026】まず、メタライズの対象となるセラミック
ス板に本発明のガラス組成物を塗布する。塗布方法は特
に限定されないが、代表的なものとして、(1)粉末状
のガラス組成物を直接塗布する方法、(2)粉末状のガ
ラス組成物を溶射する方法、(3)粉末状のガラス組成
物を溶剤に分散させてスプレー塗装する方法、(4)粉
末状のガラス組成物を有機ビヒクルに分散させて塗布す
る方法を挙げることができる。
【0027】ただし、塗膜の厚さを調整しやすい点から
ガラス組成物を有機ビヒクルに分散させて塗布する方法
が優れている。この際に使用する有機ビヒクルとして
は、例えば、エチルセルロース樹脂、アクリル樹脂等の
有機高分子化合物をイソプロピルアルコール、パインオ
イル、ブチルカルビトールアセテート等の有機溶剤に溶
解したものを挙げることができる。有機ビヒクルにガラ
ス組成物を分散させた分散液を塗布する方法としては、
例えば、ハケ塗り、スクリーン印刷、スプレー塗装を挙
げることができる。
【0028】なお、ガラス組成物の塗布量は通常0.0
05〜2g/cm2程度とするのがよい。
【0029】次に、セラミックス板上に塗布したガラス
組成物を加熱溶融させてガラス層を形成させる。この際
の加熱温度は500〜1500℃程度が好ましく、加熱
時間は3〜60分程度が好ましい。加熱時の雰囲気は特
に限定されず、例えば、空気、窒素ガス、水素ガス、ア
ルゴンガス等の雰囲気でよい。
【0030】そして、表面にガラス層を形成させたセラ
ミックス板を室温まで冷却させた後、ガラス層上にメタ
ライズして金属皮膜を形成させる。金属皮膜を形成させ
る方法としては、(1)メッキ法、(2)蒸着法、
(3)スパッタ法等の通常の方法を挙げることができ、
いずれについても常法に従って行えばよい。
【0031】(1)の方法としては、例えば、触媒物質
を付着させた後、無電解ニッケルメッキや無電解銅メッ
キを行う方法を挙げることができる。この際の触媒付着
方法は常法でよく、例えば、感受性付与及び触媒付与の
二工程による方法、触媒ペーストを印刷して焼成する方
法がある。なお、形成させるメッキ皮膜の種類として
は、従来のメッキ法により作製されるセラミック基板と
同様のものでよく、例えば、無電解ニッケルメッキ皮膜
や無電解銅メッキ皮膜の単独皮膜の他に、これらの上に
電気銅メッキを行うことによって厚い金属層を形成させ
たものを挙げることができる。
【0032】(2)蒸着法としては、通常の真空蒸着法
でよく、例えば、高真空中で銅等の金属を加熱蒸発させ
て、ガラス層上に金属皮膜を形成させる方法を挙げるこ
とができる。この際、蒸着させる金属としては、蒸着で
きるものであれば特に限定はなく、例えば、金、銀、
銅、ニッケル等を挙げることができる。
【0033】(3)スパッタ法としては、例えば、10
-1〜10-3Torr程度の真空中でグロー放電を起こさ
せ、陰極降下によって陽イオンを陰極に加速衝撃させて
ガラス層上に金属皮膜を形成させる方法を挙げることが
できる。この際、スパッタする金属としては、例えば、
金、銅、ニッケル、白金、モリブデン等を挙げることが
できる。
【0034】セラミックス基板に回路パターンを形成す
る方法については、メッキ法によりメタライズして作製
される従来のセラミックス基板の場合と同様でよい。例
えば、一旦セラミックス基板を作製してからその金属皮
膜上にエツチングレジストを印刷してエッチングにより
回路パターンを形成する、いわゆるサブトラクティブ法
を採用してもよく、メッキ法により金属皮膜を形成する
際に、ガラス層上に無電解メッキ用触媒を付与した後に
メッキレジストにより必要な回路パターンを形成してか
ら電解メッキにより回路パターンを直接形成する、いわ
ゆるアディティブ法を採用してもよい。
【0035】
【作用】本発明のガラス組成物は、セラミックス板上に
塗布した状態で加熱することによってメタライズの下地
となるガラス層を形成するものであり、本発明者の知見
によると、本発明によるガラス層の表面には0.1〜1
00μm程度の凹凸が存在し、この凹凸の作用により、
メタライズされる金属とセラミックス板との接合強度が
著しく向上するものと考えられる。
【0036】
【実施例】
実施例1 粒径が約30μmのSiO2粉末139g、粒径が約2
0μmのB23粉末28g、粒径が約10μmのCaO
粉末14g、粒径が約20μmのTiO2粉末8g及び
粒径が約10μmのAl23粉末28gを配合し、白金
ルツボ中で温度1450℃で60分間加熱して溶融させ
た。この溶融物を冷却させた後、ボールミルで粉砕して
粒径が1〜10μmの粉末を回収し、回収した粉末に粒
径が1〜10μmのSiO2粉末を100g配合して粉
末状のガラス組成物を得た。
【0037】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを19g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから870℃で2
0分間加熱した。
【0038】アルミナ板を室温まで冷却させた後、無電
解メッキ用触媒付与液(商標“CCP−4230”、奥
野製薬工業株式会社製)中に25℃で5分間浸漬して銅
メッキ皮膜を形成させた後、更に電気銅メッキを行い銅
メッキ厚が40μmのセラミックス基板を作製した。
【0039】そして、銅メッキ表面に、2×2mmの正
方形の形状にマスキングインキ(商標“トップレジスト
G”、奥野製薬工業株式会社製)を5箇所スクリーン印
刷した後、UV照射を行ってマスキングインキを硬化さ
せた。この試料を塩化第2鉄水溶液中に50℃で浸漬し
て、マスキング部分以外の銅メッキ部分を溶解した後、
塩化メチレン液中に浸漬してマスキングインキを剥離除
去した。
【0040】下記のようにして接合強度を測定したとこ
ろ5.5kg/mm2という非常に高い接合強度を有す
るものであった。また、メッキ皮膜のシート抵抗は0.
1mΩ/口であり、非常に高い導電性を有するものであ
った。
【0041】(接合強度の測定)まず、銅メッキ皮膜上
に直径1.0mmの銅線を鉛対錫の配合割合が37:6
3のハンダを用いて260℃でハンダ付けする。次に、
25℃でこの銅線をアルミナ板に対して垂直方向に引張
り、メッキ皮膜が剥離したときの引張り強度を測定し、
この値を接合強度とする。
【0042】実施例2 粒径が約1μmのSiO2粉末75g、粒径が約0.5
μmのB23粉末20g、粒径が約0.5μmのLi2
O粉末17.5g、粒径が約1μmのMgO粉末7.5
g、粒径が約1μmのPbO粉末12.5g、粒径が約
3μmのZrO2粉末10gを配合し、白金ルツボ中で
温度1300℃で30分間加熱して溶融させた。この溶
融物を冷却させた後、ボールミルで粉砕して粒径が5〜
30μmの粉末を回収し、回収した粉末に粒径が約10
μmのAl23粉末を100g配合して粉末状のガラス
組成物を得た。
【0043】次に、得られたガラス組成物80gにメタ
ノール10gとイソプロピルアルコール10gとからな
る混合溶媒を加えて、これを5×5×0.1cmの窒化
アルミニウム焼結体にガラス組成物の塗布量が0.00
8g/cm2となるようにスプレー塗装し、150℃で
10分間予備加熱した後、1000℃で10分間加熱し
た。
【0044】窒化アルミニウム焼結体を室温まで冷却し
た後、以下の(1)〜(3)に示す方法に従って無電解
銅メッキを行い、セラミックス基板を作製した。
【0045】(1)脱脂:アルコール液中に5分間浸漬
する。
【0046】(2)触媒付与:センシタイザー液に25
℃で3分間浸漬後、水洗する。センシタイザー液として
はセンシタイザー(商標“TMPセンシタイザー”、奥
野製薬工業株式会社製)100ml/l水溶液を使用
し、アクチベーター液としてはアクチベーター(商標
“TMPアクチベーター”、奥野製薬工業株式会社製)
100ml/l水溶液を使用する。
【0047】(3)無電解銅メッキ:無電解銅メッキ液
(商標“OPCカッパー”、奥野製薬工業株式会社製)
中に55℃で210分間浸漬する。
【0048】以上のようにして作製したセラミックス基
板は厚さ15μmの銅メッキ皮膜からなる導電体層を有
するものであった。
【0049】実施例1と同様にして接合強度を測定した
ところ4.0kg/cm2という高い接合強度を有する
ものであった。また、銅皮膜のシート抵抗は0.5mΩ
/口であり、十分な導電性を有するものであった。
【0050】実施例3 実施例1と同様にして、有機ビヒクルとガラス組成物と
を混合して得た組成物を200メッシュのスクリーンに
より5×5×0.06cmのアルミナ板にガラス組成物
量が0.008g/cm2となる割合で塗布した後、9
50℃で5分間加熱した。
【0051】次に、実施例2に示した(1)(2)によ
り触媒付与した後、実施例2で使用したのと同様の無電
解メッキ液中に55℃で30分間浸漬して厚さが2μm
の銅皮膜を形成させた。そして、銅メッキ表面にメッキ
用マスキングインキ(商標名「フォトマールMT」奥野
製薬工業株式会社製)を2×2mmの正方形の形状で5
箇所残してスクリーン印刷した後、UV照射を10秒間
行ってマスキングインキを硬化させてから、電気銅メッ
キを行い銅メッキの厚さを30μmとした。その後、塩
化メチレン液中に浸漬してマスキングインキを剥離除去
してから、過硫酸アンモニウム水溶液に20℃で浸漬し
て無電解メッキのみの部分を溶解させた。
【0052】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ5.0kg/cm2という
高い接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシ
ート抵抗は0.2mΩ/口であり、高い導電性を有する
ものであった。
【0053】実施例4 実施例1と同様にして有機ビヒクルとガラス組成物とを
混合して得た組成物を200メッシュのスクリーンによ
り5×5×0.06cmのアルミナ板にガラス組成物量
が0.008g/cm2となる割合で塗布した後、95
0℃で5分間加熱した。
【0054】アルミナ板を室温まで冷却させた後、真空
蒸着装置の中に配置し、10-6Torrの真空度で金属
銅を加熱蒸着させて銅皮膜を形成させた。次に、酸活性
化した後、実施例2で使用したのと同様の無電解メッキ
液中に55℃で30分間浸漬して厚さ2μmの銅皮膜を
形成させた。そして、更に電気銅メッキを行い銅メッキ
厚が20μmのセラミックス基板を作製した。
【0055】実施例1と同様にマスキング及びエッチン
グを行った後、銅メッキ皮膜の接合強度を測定したとこ
ろ4.6kg/mm2という高い接合強度を有するもの
であった。また、銅皮膜のシート抵抗は0.2mΩ/口
であり、高い導電性を有するものであった。
【0056】実施例5 粒径が約5μmのSiO2粉末80g、粒径が約10μ
mのB23粉末20g及び粒径が約10μmのLi2
粉末20gを配合し、白金ルツボ中で温度1400℃で
60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0057】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間加熱した。
【0058】アルミナ板を室温まで冷却させた後、ホー
ニングをしてガラス表面を粗面化した。粗面化したアル
ミナ板を十分水洗し、乾燥した後、真空蒸着装置の中に
配置し、10-6Torrの真空度で金属銅を加熱蒸着さ
せて銅皮膜を形成させた。次に、酸活性化した後、実施
例2で使用したのと同様の無電解メッキ液中に55℃で
30分間浸漬して厚さ2μmの銅皮膜を形成させた。そ
して、更に電気銅メッキを行い銅メッキ厚が20μmの
セラミックス基板を作製した。
【0059】実施例1と同様にマスキング及びエッチン
グを行った後、銅メッキ皮膜の接合強度を測定したとこ
ろ1.5kg/mm2という接合強度を有するものであ
った。また、銅皮膜のシート抵抗は0.2mΩ/口であ
り、高い導電性を有するものであった。
【0060】実施例6 粒径が約5μmのSiO2粉末80g、粒径が約10μ
mのB23粉末20g及び粒径が約20μmのPbO粉
末33gを配合し、白金ルツボ中で温度1300℃で6
0分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0061】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから850℃で1
0分間加熱した。
【0062】アルミナ板を室温まで冷却させた後、ホー
ニングをしてガラス表面を粗面化した。粗面化したアル
ミナ板を十分水洗し、乾燥した後、真空蒸着装置の中に
配置し、10-6Torrの真空度で金属銅を加熱蒸着さ
せて銅皮膜を形成させた。次に、酸活性化した後、実施
例2で使用したのと同様の無電解メッキ液中に55℃で
30分間浸漬して厚さ2μmの銅皮膜を形成させた。そ
して、更に電気銅メッキを行い銅メッキ厚が20μmの
セラミックス基板を作製した。
【0063】実施例1と同様にマスキング及びエッチン
グを行った後、銅メッキ皮膜の接合強度を測定したとこ
ろ1.0kg/mm2という接合強度を有するものであ
った。また、銅皮膜のシート抵抗は0.2mΩ/口であ
り、高い導電性を有するものであった。
【0064】実施例7 粒径が約5μmのSiO2粉末80g、粒径が約10μ
mのB23粉末20g及び粒径が約20μmのBi23
粉末25gを配合し、白金ルツボ中で温度1350℃で
60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0065】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから850℃で1
0分間加熱した。
【0066】アルミナ板を室温まで冷却させた後、ホー
ニングをしてガラス表面を粗面化した。粗面化したアル
ミナ板を十分水洗し、乾燥した後、真空蒸着装置の中に
配置し、10-6Torrの真空度で金属銅を加熱蒸着さ
せて銅皮膜を形成させた。次に、酸活性化した後、実施
例2で使用したのと同様の無電解メッキ液中に55℃で
30分間浸漬して厚さ2μmの銅皮膜を形成させた。そ
して、更に電気銅メッキを行い銅メッキ厚が20μmの
セラミックス基板を作製した。
【0067】実施例1と同様にマスキング及びエッチン
グを行った後、銅メッキ皮膜の接合強度を測定したとこ
ろ1.2kg/mm2という接合強度を有するものであ
った。また、銅皮膜のシート抵抗は0.2mΩ/口であ
り、高い導電性を有するものであった。
【0068】実施例8 粒径が約5μmのSiO2粉末130g、粒径が約10
μmのB23粉末36g及び粒径が約20μmのCaO
粉末30gを配合し、白金ルツボ中で温度1500℃で
60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0069】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1200℃で
10分間加熱した。
【0070】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0071】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ3.0kg/cm2という
接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシート
抵抗は0.1mΩ/口であり、高い導電性を有するもの
であった。
【0072】実施例9 粒径が約5μmのSiO2粉末115g、粒径が約10
μmのB23粉末30g及び粒径が約5μmのZnO粉
末25gを配合し、白金ルツボ中で温度1450℃で6
0分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0073】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1050℃で
10分間加熱した。
【0074】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0075】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ2.5kg/cm2という
接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシート
抵抗は0.1mΩ/口であり、高い導電性を有するもの
であった。
【0076】実施例10 粒径が約5μmのSiO2粉末110g、粒径が約10
μmのB23粉末30g及び粒径が約30μmのTiO
粉末15gを配合し、白金ルツボ中で温度1450℃で
60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0077】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1100℃で
10分間加熱した。
【0078】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0079】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ3.5kg/cm2という
接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシート
抵抗は0.1mΩ/口であり、高い導電性を有するもの
であった。
【0080】実施例11 粒径が約5μmのSiO2粉末110g、粒径が約10
μmのB23粉末25g及び粒径が約10μmのMnO
2粉末10gを配合し、白金ルツボ中で温度1500℃
で60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させ
た後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末
状のガラス組成物を得た。
【0081】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1200℃で
10分間加熱した。
【0082】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0083】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ2.5kg/cm2という
接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシート
抵抗は0.1mΩ/口であり、高い導電性を有するもの
であった。
【0084】実施例12 粒径が約5μmのSiO2粉末120g、粒径が約10
μmのB23粉末30g及び粒径が約3μmのAl23
粉末50gを配合し、白金ルツボ中で温度1600℃で
60分間加熱して溶融させた。この溶融物を冷却させた
後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜10μmの粉末状
のガラス組成物を得た。
【0085】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1200℃で
10分間加熱した。
【0086】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0087】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ4.0kg/cm2という
接合強度を有するものであった。また、銅皮膜のシート
抵抗は0.1mΩ/口であり、高い導電性を有するもの
であった。
【0088】比較例1 粒径が約5μmのSiO2粉末120g及び粒径が約1
0μmのB23粉末60gを配合し、白金ルツボ中で温
度1450℃で60分間加熱して溶融させた。この溶融
物を冷却させた後、ボールミルで粉砕して粒径が1〜1
0μmの粉末状のガラス組成物を得た。
【0089】次に、得られた粉末状のガラス組成物10
0gにエチルセルロース15重量%とパインオイル85
重量%とからなる有機ビヒクルを25g加えて混合し、
3本ロールを3回通して塗布用組成物を得た。この塗布
用組成物を5×5×0.1cmのアルミナ板に200メ
ッシュスクリーンを使用してガラス組成物の塗布量が
0.008g/cm2となるようにスクリーン印刷した
後、150℃で10分間予備加熱してから1100℃で
10分間加熱した。
【0090】次に、実施例3と同様の方法で触媒付与、
無電解メッキ、メッキ用マスキング、電気銅メッキ及び
無電解銅メッキ部分のみの溶解を行った。
【0091】残った銅メッキ皮膜の接合強度を実施例1
と同様にして測定したところ0.1kg/cm2という
非常に低い接合強度で、実用に適さないものであった。
【0092】比較例2 粒径が約10μmのSiO2粉末110g及び粒径が約
20μmのAl23粉末30gを配合し、白金ルツボ中
で温度1600℃で60分間加熱して溶融させたが、均
一なガラスにはならなかった。これ以上の温度でガラス
を溶融させることは実用上非常に不都合であり、本発明
における用途には適さないものである。
【0093】
【発明の効果】本発明のガラス組成物によって、セラミ
ックスをメタライズする際の下地層を形成させれば、メ
タライズによる金属皮膜とセラミックスとの接合強度を
向上させることができるとともに金属皮膜の十分な導電
性や良好なハンダ付け特性を確保することができる。
【0094】また、本発明のガラス組成物を使用する場
合、メタライズの下地層をセラミックス上に形成させる
のに特殊な工程や条件を必要としないので、セラミック
ス基板の生産効率が良好となる。
【0095】さらに、本発明のガラス組成物は目的に応
じて各種の金属皮膜に対応できるので適用範囲が広いと
いう利点がある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)SiO2分含有量4〜80重量%、
    (b)B23分含有量1〜40重量%、(c)(R12
    O分、(R2)O分、(R3)O2分及び(R423分の
    少なくとも1種の含有量1〜80重量%(ただし、R1
    はLi、NaおよびKの少なくとも1種であり、R2
    Mg、Ca、Ba、Zn、CdおよびPbの少なくとも
    1種であり、R3はTi、ZrおよびMnの少なくとも
    1種であり、R4はAlおよび/又はBiである。)か
    らなるメタライズ下地層形成用ガラス組成物。
JP13501892A 1992-05-27 1992-05-27 メタライズ下地層形成用ガラス組成物 Pending JPH05330958A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13501892A JPH05330958A (ja) 1992-05-27 1992-05-27 メタライズ下地層形成用ガラス組成物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13501892A JPH05330958A (ja) 1992-05-27 1992-05-27 メタライズ下地層形成用ガラス組成物

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05330958A true JPH05330958A (ja) 1993-12-14

Family

ID=15142011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13501892A Pending JPH05330958A (ja) 1992-05-27 1992-05-27 メタライズ下地層形成用ガラス組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05330958A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0782059A (ja) * 1993-06-16 1995-03-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 高熱伝導性基板およびその製造方法
JP2013220982A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Central Glass Co Ltd ガラス粉末材料及び多孔質なガラス質膜の製造方法。
JP2015070047A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板および電子装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0782059A (ja) * 1993-06-16 1995-03-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 高熱伝導性基板およびその製造方法
JP2013220982A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Central Glass Co Ltd ガラス粉末材料及び多孔質なガラス質膜の製造方法。
JP2015070047A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板および電子装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4391742A (en) Paste composition for the production of electrically conductive and solderable structures
JPH0149652B2 (ja)
KR900008274B1 (ko) 저항회로 형성방법
KR960006983B1 (ko) 전기 전도성 패턴의 형성 방법
JPH05235497A (ja) 銅導電性ペースト
JPH0817241A (ja) 銅導体ペーストおよび銅導体膜の製造方法
US4567111A (en) Conductive pigment-coated surfaces
JPH05330958A (ja) メタライズ下地層形成用ガラス組成物
JPH0227832B2 (ja) Seramitsukusukiban
EP0834370A1 (en) Coated metal powder and process for preparing the same by decomposition
JPH08167768A (ja) 回路パターンの形成方法及びそのペースト
JPS62136501A (ja) セラミツク用メタライズ粉およびこれを用いたセラミツク用メタライズペ−スト
JP2733613B2 (ja) 導電性ペーストおよび回路基板
JPH0693307A (ja) メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物
JP3701038B2 (ja) 厚膜銅導体ペースト組成物及びそれを用いた回路基板の製造方法
JPH07130573A (ja) 導電性金属被覆セラミックス粉末
JPH09198920A (ja) 銅導体ペースト及び該銅導体ペーストを印刷した基板
RU2083064C1 (ru) Способ изготовления электропроводящих серебряных покрытий
JPH01198403A (ja) パラジウム被覆銀粉,その製造方法,及び導電性被膜形成用組成物
JPS62186407A (ja) 導電性組成物
JPS587203B2 (ja) 導電塗料
JPS58130590A (ja) セラミツク配線基板および該セラミツク配線基板を用いた厚膜ハイブリツドic
JP3075287B2 (ja) 電子部品用パラジウム薄膜形成方法
JP2000011759A (ja) 導体組成物
JPS60149670A (ja) 導舗性ペ−スト