JPH0532493A - 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法 - Google Patents

複合酸化物超電導薄膜の成膜方法

Info

Publication number
JPH0532493A
JPH0532493A JP3211504A JP21150491A JPH0532493A JP H0532493 A JPH0532493 A JP H0532493A JP 3211504 A JP3211504 A JP 3211504A JP 21150491 A JP21150491 A JP 21150491A JP H0532493 A JPH0532493 A JP H0532493A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
thin film
film
superconducting thin
holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3211504A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuki Nagaishi
竜起 永石
Shusuke Nakanishi
秀典 中西
Saburo Tanaka
三郎 田中
Hideo Itozaki
秀夫 糸▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=16607034&utm_source=***_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH0532493(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP3211504A priority Critical patent/JPH0532493A/ja
Priority to EP92402175A priority patent/EP0526326B2/en
Priority to DE69205911T priority patent/DE69205911T3/de
Priority to US07/921,336 priority patent/US5258366A/en
Publication of JPH0532493A publication Critical patent/JPH0532493A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/01Manufacture or treatment
    • H10N60/0268Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
    • H10N60/0296Processes for depositing or forming superconductor layers
    • H10N60/0521Processes for depositing or forming superconductor layers by pulsed laser deposition, e.g. laser sputtering; laser ablation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/28Vacuum evaporation by wave energy or particle radiation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S505/00Superconductor technology: apparatus, material, process
    • Y10S505/725Process of making or treating high tc, above 30 k, superconducting shaped material, article, or device
    • Y10S505/73Vacuum treating or coating
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S505/00Superconductor technology: apparatus, material, process
    • Y10S505/725Process of making or treating high tc, above 30 k, superconducting shaped material, article, or device
    • Y10S505/73Vacuum treating or coating
    • Y10S505/732Evaporative coating with superconducting material

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザ蒸着法により、膜特性の優れた複合酸
化物超電導薄膜を成膜する方法を提供する。 【構成】 使用するターゲットを裏面から積極的に冷却
しながら成膜処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は酸化物超電導薄膜の成膜
方法に関する。より詳細には、本発明は、レーザ蒸着法
による複合酸化物超電導薄膜の成膜法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】超電導現象は、液体ヘリウムによる冷却
が必須な極低温における固有の現象であるとかつては考
えられていた。しかしながら、1986年にベドノーツ、ミ
ューラー等によって、30Kで超電導状態を示す[La,Ba]2
CuO4 が発見されて以来、1987年にはチュー等によって
90K台の超電導臨界温度Tc を有するYBa2Cu3y が発
見され、続いて、1988年には前田等によって 100K以上
の臨界温度を示す所謂Bi系の複合酸化物系超電導材料が
発見された。これらの一連の複合酸化物系超電導材料
は、廉価な液体窒素による冷却で超電導現象を実現する
ことができるので、超電導技術の実用的な応用の可能性
が俄に取り沙汰されるようになった。
【0003】当初、これらの複合酸化物系超電導材料
は、固相反応法による焼結体として合成されていたが、
その後の研究の進捗により、今日では、薄膜として作製
することにより、極めて品質の高いものが得られるよう
になってきている。
【0004】特に、レーザ蒸着法は、基板上に堆積させ
た薄膜にアニール処理等の後処理を行うことなく、高い
超電導特性を発揮する超電導薄膜を成膜できることか
ら、目下最も期待されている成膜法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レーザ
蒸着法により酸化物超電導薄膜を成膜した場合、形成さ
れた薄膜自体の超電導特性は良好であるが、その表面に
微細な球状の酸化物粒が付着してしまうという問題が知
られている。
【0006】そこで、本発明は、レーザ蒸着法におい
て、より表面性状の優れた複合酸化物超電導薄膜を成膜
することができる新規な成膜方法を提供することをその
目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に従うと、レーザ
蒸着法により酸化物超電導薄膜を成膜する方法におい
て、使用するターゲットを裏面より積極的に冷却しなが
ら成膜処理を行うことを特徴とする複合酸化物超電導薄
膜の成膜方法が提供される。
【0008】
【作用】本発明に係る酸化物超電導薄膜の成膜方法は、
ターゲットを積極的に冷却しながらレーザ蒸着を行う点
にその主要な特徴がある。
【0009】即ち、レーザ蒸着法においてターゲットに
照射されるレーザビームのパワーレベルを仔細に検討す
ると、照射開始から終了までの時間の経過に従って変化
していることが判る。また、ターゲット表面上でのレー
ザビームのスポット内でも、スポットの中心をピークと
するパワー分布が生じる。このため、実際には、ターゲ
ット上で、不十分なエネルギー付与のために、完全なブ
ルームの発生には到らない領域が発生する。この領域
で、言わば蒸気となったターゲット材料が飛散中に凝縮
して前述のような酸化物粒を発生するものと考えられ
る。
【0010】これに対して、本発明に係る方法では、タ
ーゲットを積極的に冷却することにより、レーザビーム
のパワーレベルが不十分な領域では、ターゲット材料の
飛散が全く生じなくなる。従って、酸化物粒の発生も有
効に防止される。
【0011】尚、ターゲットの冷却は、例えば、ターゲ
ットホルダに冷媒を流し、これを成膜装置の外部を冷却
するような方法により実施でき、そのような装置は既に
知られている。
【0012】また、上述のような冷却の効果が効率良く
ターゲットの表面に現れるように、本発明に係る成膜方
法においては、使用するターゲットを薄くすることが好
ましい。
【0013】以下、実施例を挙げて本発明をより具体的
に説明するが、以下の開示は本発明の一実施例に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲を何ら限定するものではない。
【0014】
【実施例】図1は、本発明に係る成膜方法を実施する際
に使用することができる成膜装置の構成例を模式的に示
す図である。
【0015】同図に示すように、この成膜装置は、真空
槽1内に収容された基板ホルダ2およびターゲットホル
ダ3と、真空槽1に設けられた透明な窓4を介してター
ゲットにレーザビームを照射するレーザ装置5とをそれ
ぞれ備えている。
【0016】基板ホルダ2およびターゲットホルダ3
は、基板6およびターゲット7をそれぞれ所望の位置並
びに角度で保持できるように構成されている。また、レ
ーザ装置5は、レーザビーム収束用の光学系8を備えて
いる。
【0017】また、同図に示した装置においては、ター
ゲットホルダ3に、ウォータジャケット3aが設けられ
ており、このウォータジャッケト3aは、真空槽1の外
部に配置された循環路9a、9b、9cと連通してい
る。更に、循環路9cには、冷却器9が装着されてい
る。
【0018】以上のように構成された成膜装置において
は、レーザ装置を使用した成膜処理中に、ターゲットホ
ルダ3に保持したターゲット7を冷却することができ
る。 〔作製例1〕図1に示した成膜装置を使用して、Y系複
合酸化物超電導薄膜を作製した。
【0019】基板1としてはMgO単結晶の(100)基
板を使用し、レーザ蒸着法により成膜した。ターゲット
は、YBa2Cu3yなる組成を有する複合酸化物焼結体を
使用した。成膜条件は、下記の表1に示す通りである。
【0020】
【表1】
【0021】尚、ターゲットの冷却は、水冷されたター
ゲットホルダ3とターゲット7とをAgペーストにより熱
接触させて行った。
【0022】上述のようにして作製した試料と比較す
るために、同じ成膜装置を使用して、ターゲットを冷却
しないことを除いては同じ成膜条件で試料を作製し
た。
【0023】上記のような設定で、作製した1対の試料
について、それぞれ超電導特性を測定すると共に、走査
型電子顕微鏡により各試料表面における酸化物粒の密度
を測定した。測定結果を表2に示す。尚、臨界電流密度
は77Kにおいて測定した。
【0024】
【表2】
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る成膜
方法によれば、表面性状並びに超電導特性の優れた酸化
物超電導薄膜を再現性良く安定に成膜することが可能に
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る成膜方法を実施する際に使用する
ことができる成膜装置の構成を模式的に示す図である。
【符号の説明】
1 真空槽、 2 基板ホル
ダ、3 ターゲットホルダ、 4 窓、5
レーザ装置、 6 基板、7
ターゲット、 8 光学系、9 冷
却器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01B 12/06 ZAA 8936−5G H01L 21/268 Z 8617−4M (72)発明者 糸▲崎▼ 秀夫 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】レーザ蒸着法により酸化物超電導薄膜を成
    膜する方法において、使用するターゲットを裏面より積
    極的に冷却しながら成膜処理を行うことを特徴とする複
    合酸化物超電導薄膜の成膜方法。
JP3211504A 1991-07-29 1991-07-29 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法 Withdrawn JPH0532493A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3211504A JPH0532493A (ja) 1991-07-29 1991-07-29 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
EP92402175A EP0526326B2 (en) 1991-07-29 1992-07-28 Method for preparing a superconducting thin film of compound oxide
DE69205911T DE69205911T3 (de) 1991-07-29 1992-07-28 Verfahren zur Herstellung einer supraleitenden Dünnschicht aus Oxydverbindungen.
US07/921,336 US5258366A (en) 1991-07-29 1992-07-29 Laser evaporation method for forming high Tc superconducting films

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3211504A JPH0532493A (ja) 1991-07-29 1991-07-29 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0532493A true JPH0532493A (ja) 1993-02-09

Family

ID=16607034

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3211504A Withdrawn JPH0532493A (ja) 1991-07-29 1991-07-29 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5258366A (ja)
EP (1) EP0526326B2 (ja)
JP (1) JPH0532493A (ja)
DE (1) DE69205911T3 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013122073A (ja) * 2011-12-12 2013-06-20 Kinki Univ 薄膜形成装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5290761A (en) * 1992-10-19 1994-03-01 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for making oxide superconducting films by pulsed excimer laser ablation
US6270861B1 (en) * 1994-07-21 2001-08-07 Ut, Battelle Llc Individually controlled environments for pulsed addition and crystallization
AU5266900A (en) * 1999-05-24 2000-12-12 Potomac Photonics, Inc. Apparatus for fabrication of miniature structures
JP2002266072A (ja) * 2001-03-09 2002-09-18 Sumitomo Electric Ind Ltd 積層膜および成膜方法
EP2267179B1 (en) * 2009-06-25 2012-12-26 Solmates B.V. Target cooling device
CN108203812B (zh) * 2018-01-25 2020-02-07 京东方科技集团股份有限公司 一种基板固定载具、蒸镀设备及蒸镀方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63227766A (ja) * 1986-10-27 1988-09-22 Hitachi Ltd 超微粒子膜の形成方法
JPH0347959A (ja) * 1989-07-13 1991-02-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 有機超伝導薄膜

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013122073A (ja) * 2011-12-12 2013-06-20 Kinki Univ 薄膜形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69205911D1 (de) 1995-12-14
EP0526326A3 (en) 1993-04-21
EP0526326B2 (en) 1999-08-18
EP0526326A2 (en) 1993-02-03
DE69205911T3 (de) 2000-03-09
EP0526326B1 (en) 1995-11-08
DE69205911T2 (de) 1996-05-15
US5258366A (en) 1993-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05804A (ja) 大面積複合酸化物超電導薄膜の成膜装置
JPH0532493A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JP2917587B2 (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
US5264412A (en) Laser ablation method for forming oxide superconducting thin films using a homogenized laser beam
Shibata et al. Grain growth of polycrystalline silicon films on SiO2 by cw scanning electron beam annealing
JPH0532492A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JPH05286717A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JPH05186218A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JPH0531493B2 (ja)
JPH01212407A (ja) 超電導セラミック回路素子
RU2761855C1 (ru) Гибкий высокотемпературный сверхпроводник и способ его получения
JPH0297421A (ja) 高温超伝導薄膜の製造方法
JPH0532494A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JPH0532491A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JP2877696B2 (ja) 酸化物超電導体薄膜の製造方法
Vratskikh et al. Off-axis pulsed laser deposition of buffer and thin film on both sides of a sapphire substrate in a one-step process
JPH05302163A (ja) 複合酸化物超電導薄膜の成膜方法
JPS58176982A (ja) ジヨセフソン接合素子の製造方法
JPH02197565A (ja) レーザ蒸着装置用ターゲット
JP2817299B2 (ja) 複合酸化物超電導薄膜の作製方法
JP2953776B2 (ja) 酸化物超電導体薄膜の製造方法
JPH05193936A (ja) 1枚の基板の両面に酸化物超電導薄膜を成膜する方法
Luo et al. High-Quality Tl 2 Ba 2 Ca 2 Cu 3 O 10 Thin Films Fabricated via Laser Ablation
JPH0524803A (ja) レーザ蒸着法による酸化物超電導体の製造方法およびレーザ蒸着装置
JPH0446098A (ja) 超電導部材

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19981008