JPH05307013A - Inspecting method using thermographic device - Google Patents
Inspecting method using thermographic deviceInfo
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- JPH05307013A JPH05307013A JP4135967A JP13596792A JPH05307013A JP H05307013 A JPH05307013 A JP H05307013A JP 4135967 A JP4135967 A JP 4135967A JP 13596792 A JP13596792 A JP 13596792A JP H05307013 A JPH05307013 A JP H05307013A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、サーモグラフ
ィ装置により建物の外壁の剥離を検査する際に用いて好
適な検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method suitable for use in, for example, inspecting a building exterior wall for peeling by a thermography device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】建物の外壁面のモルタルやタイルの剥離
箇所の検査をサーモグラフィ装置を用いて行うことが近
時普及し始めている。この検査方法は、剥離部が健全部
と比較して熱容量が小さいために、外部からの負荷に対
して応答が早いことを利用している。例えば、朝太陽光
が壁面に当たる前には健全部も剥離部もほぼ同一温度で
あったものが、太陽光が当たり始めると、剥離部は急激
に温度が上昇するのに対し、建物の中心部と密着してい
る健全部はゆっくり上昇するので、適当なタイミングで
サーモグラフィ装置を用いて赤外像（温度分布像）を撮
影すると、剥離部のみが高温になって健全部との区別が
可能である。2. Description of the Related Art Recently, it has become widespread to inspect a mortar on an outer wall of a building or a peeling point of a tile by using a thermography device. This inspection method utilizes the fact that the peeled portion has a smaller heat capacity than the sound portion, and therefore has a quick response to an external load. For example, before the morning sunlight hits the wall surface, the sound part and the exfoliation part had almost the same temperature, but when the sunlight starts to hit, the exfoliation part suddenly rises in temperature, while the central part of the building Since the healthy part that is in close contact with the robot slowly rises, if you take an infrared image (temperature distribution image) with a thermography device at an appropriate timing, only the peeled part will be hot and you can distinguish it from the healthy part. is there.
【０００３】逆に、日中太陽光により温度が上昇した壁
面が、夕方になって低下して行く際、剥離部は急激に温
度が低下するのに対し、健全部はゆっくり低下するの
で、剥離部のみが低温になって健全部との区別が可能で
ある。On the contrary, when the wall surface whose temperature has risen due to sunlight during the day goes down in the evening, the temperature of the peeling part drops sharply, while the temperature of the healthy part drops slowly. Only the part becomes cold and it is possible to distinguish it from the healthy part.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】この様な、サーモグラ
フィ装置を用いた剥離検査を行う際、壁面の光吸収率や
放射率が一様であれば問題ないが、壁面が部分的に黒く
あるいは白く汚れていたりして、太陽光の吸収率が部分
的に変化したり、サーモグラフィ装置で測定する赤外線
波長帯域における放射率が部分的に変わると、その部分
は他の部分より高温あるいは低温に表示されるため、実
際には剥離していないのに剥離部と間違った判断をされ
かねない。When performing a peeling inspection using such a thermographic device, there is no problem if the light absorption rate and the emissivity of the wall surface are uniform, but the wall surface is partially black or white. If the absorptivity of sunlight partially changes or the emissivity in the infrared wavelength band measured by the thermography device partially changes due to dirt, that part is displayed as higher or lower temperature than other parts. Therefore, even if it is not actually peeled off, it may be erroneously judged as a peeled portion.
【０００５】本発明は上述した点に鑑みてなされたもの
であり、壁面の汚れなどがあっても正確に検査を行うこ
とのできるサーモグラフィ装置を用いた検査方法を提供
することを目的としている。The present invention has been made in view of the above points, and it is an object of the present invention to provide an inspection method using a thermography device which can perform an accurate inspection even if a wall surface is contaminated.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明のサーモグラフィ装置を用いた第１の検査方
法は、（ａ）同一視野について赤外像データと可視像デ
ータを取得するステップと、（ｂ）両画像データについ
て空間的な強度変化に基づいて輪郭画像データを求める
ステップと、（ｃ）求めた２つの輪郭画像データに基づ
いて２つの輪郭画像を比較表示するステップとからなる
ことを特徴としている。In order to achieve this object, a first inspection method using a thermographic device of the present invention is (a) a step of acquiring infrared image data and visible image data for the same visual field. And (b) a step of obtaining contour image data based on a spatial intensity change for both image data, and (c) a step of comparing and displaying two contour images based on the obtained two contour image data. It is characterized by
【０００７】さらに、本発明のサーモグラフィ装置を用
いた第２の検査方法は、（ａ）同一視野について赤外像
データと可視像データを取得するステップと、（ｂ）両
画像データを適宜なスレッショルドレベルに基づいて二
値化することにより、二値化赤外像データ及び二値化可
視像データを求めるステップと、（ｃ）二値化赤外像デ
ータ及び二値化可視像データに基づき二値化赤外像及び
二値化可視像を比較表示するステップとからなることを
特徴としている。Further, the second inspection method using the thermographic device of the present invention is such that (a) a step of acquiring infrared image data and visible image data for the same field of view, and (b) both image data are appropriately selected. Binarization based on the threshold level to obtain binarized infrared image data and binarized visible image data, and (c) binarized infrared image data and binarized visible image data. And a step of comparing and displaying the binarized infrared image and the binarized visible image.
【０００８】さらに、本発明のサーモグラフィ装置を用
いた第３の検査方法は、（ａ）同一視野について赤外像
データと可視像データを取得するステップと、（ｂ）両
画像データを適宜なスレッショルドレベルに基づいて二
値化することにより、二値化赤外像データ及び二値化可
視像データを求めるステップと、（ｃ）二値化赤外像デ
ータと二値化可視像データを論理演算した画像データを
求めるステップとからなることを特徴としている。Furthermore, the third inspection method using the thermographic device of the present invention is such that (a) a step of acquiring infrared image data and visible image data for the same visual field, and (b) both image data are appropriately selected. A step of obtaining binarized infrared image data and binarized visible image data by binarizing based on the threshold level; (c) binarized infrared image data and binarized visible image data And a step of obtaining image data obtained by logically calculating.
【０００９】[0009]
【作用】本発明のサーモグラフィ装置を用いた第１の検
査方法では、取得した赤外像データと可視像データのそ
れぞれについて、大きな強度変化を示す画素を結んだ輪
郭画像データを求め、求めた２つの輪郭画像データに基
づいて２つの輪郭画像を比較表示するため、輪郭の形状
及び大きさの比較から剥離に起因する温度変化なのか、
汚れに起因する温度変化なのかを判別することができ
る。In the first inspection method using the thermographic device of the present invention, the contour image data obtained by connecting the pixels showing a large intensity change is obtained and obtained for each of the acquired infrared image data and visible image data. Since the two contour images are compared and displayed on the basis of the two contour image data, whether the temperature change caused by peeling is caused by comparing the contour shapes and sizes.
It is possible to determine whether the temperature change is due to dirt.
【００１０】さらに、本発明のサーモグラフィ装置を用
いた第２の検査方法では、取得した赤外像データと可視
像データをそれぞれ適宜なスレッショルドレベルに基づ
いて二値化して二値化赤外像データ及び二値化可視像デ
ータを求め、求めた二値化赤外像データ及び二値化可視
像データに基づき二値化赤外像及び二値化可視像を比較
表示するため、二値化された領域の形状を比較すること
により、剥離に起因する温度変化なのか、汚れに起因す
る温度変化なのかを判別することができる。Further, in the second inspection method using the thermographic device of the present invention, the obtained infrared image data and visible image data are binarized based on appropriate threshold levels, and the binarized infrared image is obtained. Data and binarized visible image data are obtained, and in order to compare and display the binarized infrared image and the binarized visible image based on the obtained binarized infrared image data and the binarized visible image data, By comparing the shapes of the binarized regions, it is possible to determine whether the temperature change is caused by peeling or the temperature change is caused by stains.
【００１１】さらに、本発明のサーモグラフィ装置を用
いた第３の検査方法では、二値化赤外像データと二値化
可視像データを論理演算した画像データを求めているた
め、この画像データに基づいて剥離に起因する温度変化
なのか、汚れに起因する温度変化なのかを判別すること
ができる。Further, in the third inspection method using the thermographic device of the present invention, image data obtained by logically operating the binarized infrared image data and the binarized visible image data is obtained. It is possible to determine whether the temperature change is caused by the peeling or the temperature change is caused by the stain based on the.
【００１２】以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳
説する。An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【００１３】[0013]
【実施例】図１は本発明の方法を実施するための装置構
成の一例を示しており、図１において建物１の外壁を望
める位置に、サーモグラフィ装置のカメラ部２が配置さ
れている。このカメラ部２は、視野からの赤外線及び可
視光線を走査集光する光学的走査機構と、走査集光され
た赤外線及び可視光線を検出するための赤外線検出器及
び可視光線検出器を備えており、例えば、２つの検出器
を光路上に選択的に配置することにより、赤外像又は可
視像を選択的に撮影することができる。1 shows an example of an apparatus configuration for carrying out the method of the present invention. In FIG. 1, a camera section 2 of a thermography apparatus is arranged at a position where the outer wall of a building 1 can be seen. The camera unit 2 includes an optical scanning mechanism that scans and collects infrared rays and visible rays from the field of view, and an infrared detector and a visible ray detector that detect the infrared rays and visible rays that are scanned and condensed. For example, an infrared image or a visible image can be selectively taken by selectively disposing two detectors on the optical path.
【００１４】カメラ部２から得られた赤外線映像信号及
び可視光線映像信号は、処理装置３へ送られて処理され
た後、画像メモリ４ａ，４ｂへ赤外画像データ及び可視
画像データとして夫々格納される。５は格納された赤外
画像データ及び可視画像データを読出して画像処理する
ための画像処理装置であり、処理結果を表示する表示装
置６を備えている。７は、画像メモリ４ａ，４ｂに格納
された赤外画像データ及び可視画像データに基づく画像
を表示するための表示装置である。The infrared image signal and the visible ray image signal obtained from the camera unit 2 are sent to the processing unit 3 and processed, and then stored in the image memories 4a and 4b as infrared image data and visible image data, respectively. It Reference numeral 5 denotes an image processing device for reading out the stored infrared image data and visible image data and performing image processing, and includes a display device 6 for displaying a processing result. Reference numeral 7 is a display device for displaying an image based on the infrared image data and the visible image data stored in the image memories 4a and 4b.
【００１５】上記構成において、まず、カメラ部２を用
いて建物１の外壁を撮影することにより、画像メモリ４
ａ，４ｂに赤外画像データ及び可視画像データを夫々格
納する。赤外画像データは、前述のごとく、例えば太陽
光が照射し始めて剥離部の温度が十分に上昇しているが
健全部の温度はあまり上昇していないタイミングを選ん
で取得する。可視画像データは、同一視野を良い照明状
態のもとで撮影すれば良く、温度上昇との関係を考慮す
る必要はない。この撮影により、例えば図２（ａ）に示
す赤外画像及び図２（ｂ）に示す可視画像が夫々画像メ
モリ４ａ，４ｂに格納されたものとする。図２（ａ）の
赤外画像中には、高温部Ｈ1 ，Ｈ2 が出現しており、図
２（ｂ）の可視画像中にも、汚れと見られる輝度の低い
部分ｈが出現している。In the above-mentioned structure, first, the outer wall of the building 1 is photographed by using the camera unit 2 to obtain the image memory 4
Infrared image data and visible image data are stored in a and 4b, respectively. As described above, the infrared image data is acquired, for example, by selecting a timing at which the temperature of the peeling portion has risen sufficiently and the temperature of the sound portion has not risen so much since the irradiation of sunlight has started. The visible image data need only be taken in the same field of view under good illumination conditions, and it is not necessary to consider the relationship with the temperature rise. It is assumed that, by this photographing, for example, the infrared image shown in FIG. 2A and the visible image shown in FIG. 2B are stored in the image memories 4a and 4b, respectively. In the infrared image of FIG. 2 (a), high temperature portions H1 and H2 appear, and in the visible image of FIG. 2 (b), a low brightness portion h that appears to be a stain appears. ..
【００１６】第１の本発明では、画像処理装置におい
て、図３の処理流れ図に示すように、赤外画像データ及
び可視画像データのそれぞれについて例えば２次微分処
理を行う。この２次微分処理により、隣り合う画素との
間での強度変化の大きな画素が抽出され、輪郭を示す輪
郭画像データを得ることができる。そして、得られた赤
外輪郭画像データと可視輪郭画像データを表示装置６へ
送って例えば、表示装置の画面に赤外輪郭画像と可視輪
郭画像を図４（ａ）に示すように並べて表示すれば、２
つの輪郭画像の形状、大きさ、位置などを比較すること
ができる。この比較により、赤外輪郭画像中に出現した
高温部の輪郭と可視画像中の低輝度部ｈの輪郭が形状、
大きさ、位置でほぼ一致すれば、高温度Ｈ1 は、剥離に
よるものではなく汚れによるものであると判断すること
ができる。可視画像中に対応するものがない高温部Ｈ2
は剥離部である可能性が高いと判断できる。なお、２つ
の画像を並べて表示するだけではなく、例えば色を変え
て重畳表示したりすれば、比較はさらに容易になる。According to the first aspect of the present invention, in the image processing apparatus, as shown in the processing flow chart of FIG. 3, the infrared image data and the visible image data are subjected to, for example, the second derivative processing. By this second-order differentiation processing, a pixel having a large intensity change between adjacent pixels is extracted, and contour image data indicating a contour can be obtained. Then, the obtained infrared contour image data and visible contour image data are sent to the display device 6 and, for example, the infrared contour image and the visible contour image are displayed side by side on the screen of the display device as shown in FIG. If 2
The shape, size, position, etc. of two contour images can be compared. By this comparison, the contour of the high temperature portion appearing in the infrared contour image and the contour of the low brightness portion h in the visible image are shaped,
If the size and the position are substantially the same, it can be determined that the high temperature H1 is not due to peeling but due to dirt. High temperature part H2 with no corresponding in the visible image
It can be judged that there is a high possibility that it is a peeling part. It should be noted that the comparison becomes easier if not only the two images are displayed side by side but also different images are displayed in a superimposed manner.
【００１７】第２の本発明では、画像処理装置におい
て、図５の処理流れ図に示すように、赤外画像データ及
び可視画像データのそれぞれについて二値化処理を行
う。二値化処理にあたっては、赤外画像の場合、赤外画
像中の高温部と周囲の低温部とを区別できる中間の温度
レベルをスレッショルドレベルとし、可視画像の場合、
可視画像中の低輝度部と周囲の高輝度部とを区別できる
中間の強度レベルをスレッショルドレベルとする。二値
化処理後の赤外画像データ及び可視画像データを表示装
置６へ送って例えば、表示装置の画面に二値化赤外画像
と二値化可視画像を図４（ｂ）に示すように並べて表示
すれば、２つの二値化画像を比較することができる。図
４（ｂ）では、赤外画像の高温部Ｈが白（「１」）、他
の部分が黒（「０」）で二値化表示され、可視画像の低
輝度部ｈが白（「１」）、他の部分が（「０」）で二値
化表示されている。この比較により、赤外画像中に出現
した高温部と可視画像中の低輝度部が形状、大きさ、位
置でほぼ一致すれば、高温度Ｈは、剥離によるものでは
なく汚れによるものであると判断することができる。仮
に一致しなければ、高温部Ｈは剥離による可能性が高い
と判断できる。In the second aspect of the present invention, in the image processing apparatus, as shown in the processing flow chart of FIG. 5, binarization processing is performed for each of infrared image data and visible image data. In the binarization process, in the case of an infrared image, the threshold temperature is an intermediate temperature level that can distinguish the high temperature part in the infrared image from the surrounding low temperature part, and in the case of a visible image,
A threshold level is an intermediate intensity level that can distinguish a low-luminance portion in a visible image from a high-luminance portion in the surroundings. The infrared image data and the visible image data after the binarization processing are sent to the display device 6, and for example, the binarized infrared image and the binarized visible image are displayed on the screen of the display device as shown in FIG. When displayed side by side, two binary images can be compared. In FIG. 4B, the high temperature part H of the infrared image is binarized and displayed in white (“1”) and the other part is black (“0”), and the low-luminance part h of the visible image is white (“ 1 ”), and the other part is binarized and displayed as (“ 0 ”). According to this comparison, if the high-temperature portion appearing in the infrared image and the low-luminance portion in the visible image substantially match in shape, size, and position, the high temperature H is not due to peeling but to dirt. You can judge. If they do not match, it can be determined that there is a high possibility that the high temperature portion H is due to peeling.
【００１８】なお、二値化赤外画像と二値化可視画像の
２つの画像データに基づいて論理演算を行えば比較がよ
り容易になる。例えば図４（ｂ）に示されている２つの
画像の論理積（ＡＮＤ）を求めて画像として表示する
と、白と白の重なった部分のみが白で表示されるし、論
理差（ＮＯＴ）を求めて表示すると、２つの画像の一致
しない部分のみが残り、比較が容易となる。The comparison becomes easier by performing a logical operation based on two image data of the binarized infrared image and the binarized visible image. For example, when the logical product (AND) of the two images shown in FIG. 4B is obtained and displayed as an image, only the part where white and white overlap is displayed in white, and the logical difference (NOT) is displayed. When obtained and displayed, only the non-matching portions of the two images remain and comparison becomes easy.
【００１９】上記実施例では、温度上昇の場合について
説明したが、温度が低下する場合についても全く同様に
適用できることは言うまでもない。In the above embodiment, the case where the temperature rises has been described, but it goes without saying that the same can be applied to the case where the temperature falls.
【００２０】[0020]
【発明の効果】以上詳述したごとく、本発明によれば、
壁面の汚れなどがあっても正確に検査を行うことのでき
るサーモグラフィ装置を用いた検査方法が実現される。As described in detail above, according to the present invention,
An inspection method using a thermography device that can accurately inspect even if the wall surface is contaminated is realized.
【図１】本発明の方法を実施するための装置構成の一例
を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an example of an apparatus configuration for carrying out a method of the present invention.
【図２】画像メモリ４ａ，４ｂに格納された赤外画像及
び可視画像を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an infrared image and a visible image stored in image memories 4a and 4b.
【図３】本発明に基づく処理流れ図である。FIG. 3 is a process flow diagram according to the present invention.
【図４】表示装置６に表示される画像を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an image displayed on a display device 6.
【図５】本発明に基づく処理流れ図である。FIG. 5 is a process flow diagram according to the present invention.
【符号の説明】 １ 建物 ２ カメラ部 ３ 処理装置 ４ａ，４ｂ 画像メモリ ５ 画像処理装置 ６ 表示装置[Explanation of reference numerals] 1 building 2 camera unit 3 processing device 4a, 4b image memory 5 image processing device 6 display device
Claims (3)
可視像データを取得するステップと、（ｂ）両画像デー
タについて空間的な強度変化に基づいて輪郭画像データ
を求めるステップと、（ｃ）求めた２つの輪郭画像デー
タに基づいて２つの輪郭画像を比較表示するステップと
からなるサーモグラフィ装置を用いた検査方法。1. A step of: (a) acquiring infrared image data and visible image data for the same field of view; and (b) obtaining contour image data based on a spatial intensity change for both image data, c) An inspection method using a thermography device, which comprises a step of comparing and displaying two contour images based on the obtained two contour image data.
可視像データを取得するステップと、（ｂ）両画像デー
タを適宜なスレッショルドレベルに基づいて二値化する
ことにより、二値化赤外像データ及び二値化可視像デー
タを求めるステップと、（ｃ）二値化赤外像データ及び
二値化可視像データに基づき二値化赤外像及び二値化可
視像を比較表示するステップとからなるサーモグラフィ
装置を用いた検査方法。2. Binarization by: (a) acquiring infrared image data and visible image data for the same field of view; and (b) binarizing both image data based on an appropriate threshold level. Obtaining infrared image data and binarized visible image data, and (c) binarized infrared image and binarized visible image based on the binarized infrared image data and binarized visible image data. An inspection method using a thermographic device, which comprises a step of comparing and displaying.
可視像データを取得するステップと、（ｂ）両画像デー
タを適宜なスレッショルドレベルに基づいて二値化する
ことにより、二値化赤外像データ及び二値化可視像デー
タを求めるステップと、（ｃ）二値化赤外像データと二
値化可視像データを論理演算した画像データを求めるス
テップとからなるサーモグラフィ装置を用いた検査方
法。3. Binarization by: (a) acquiring infrared image data and visible image data for the same field of view; and (b) binarizing both image data based on an appropriate threshold level. A thermographic device comprising: a step of obtaining infrared image data and binarized visible image data; and (c) a step of obtaining image data obtained by logically operating the binarized infrared image data and the binarized visible image data. The inspection method used.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4135967A JPH05307013A (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Inspecting method using thermographic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4135967A JPH05307013A (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Inspecting method using thermographic device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05307013A true JPH05307013A (en) | 1993-11-19 |
Family
ID=15164047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4135967A Pending JPH05307013A (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Inspecting method using thermographic device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05307013A (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003339648A (en) * | 2002-05-24 | 2003-12-02 | Communication Research Laboratory | Living body diagnostic apparatus using image |
| US7044634B2 (en) * | 2001-01-26 | 2006-05-16 | Rolf Sandvoss | Thermography method |
| JP2011099687A (en) * | 2009-11-04 | 2011-05-19 | Daiwa Odakyu Construction Co Ltd | Method for detecting modified part of concrete surface layer by infrared method |
| JP2013179515A (en) * | 2012-02-29 | 2013-09-09 | Aiphone Co Ltd | Interphone system |
| JP2015141084A (en) * | 2014-01-28 | 2015-08-03 | 三菱重工業株式会社 | Image correction method, and inspection method and inspection device using the same |
| WO2015137019A1 (en) * | 2014-03-13 | 2015-09-17 | コニカミノルタ株式会社 | Temperature monitoring device and temperature monitoring method |
| WO2020039606A1 (en) * | 2018-08-20 | 2020-02-27 | コニカミノルタ株式会社 | Gas detection device, information processing device, and program |
| WO2022153852A1 (en) * | 2021-01-14 | 2022-07-21 | 富士フイルム株式会社 | Image analysis device, image analysis method, and program |
-
1992
- 1992-04-28 JP JP4135967A patent/JPH05307013A/en active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7044634B2 (en) * | 2001-01-26 | 2006-05-16 | Rolf Sandvoss | Thermography method |
| JP2003339648A (en) * | 2002-05-24 | 2003-12-02 | Communication Research Laboratory | Living body diagnostic apparatus using image |
| JP2011099687A (en) * | 2009-11-04 | 2011-05-19 | Daiwa Odakyu Construction Co Ltd | Method for detecting modified part of concrete surface layer by infrared method |
| JP2013179515A (en) * | 2012-02-29 | 2013-09-09 | Aiphone Co Ltd | Interphone system |
| JP2015141084A (en) * | 2014-01-28 | 2015-08-03 | 三菱重工業株式会社 | Image correction method, and inspection method and inspection device using the same |
| WO2015137019A1 (en) * | 2014-03-13 | 2015-09-17 | コニカミノルタ株式会社 | Temperature monitoring device and temperature monitoring method |
| WO2020039606A1 (en) * | 2018-08-20 | 2020-02-27 | コニカミノルタ株式会社 | Gas detection device, information processing device, and program |
| JPWO2020039606A1 (en) * | 2018-08-20 | 2021-08-26 | コニカミノルタ株式会社 | Gas detectors, information processing devices and programs |
| US11197065B2 (en) | 2018-08-20 | 2021-12-07 | Konica Minolta, Inc. | Gas detection device, information processing device, and program |
| WO2022153852A1 (en) * | 2021-01-14 | 2022-07-21 | 富士フイルム株式会社 | Image analysis device, image analysis method, and program |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000215 |