JPH05288783A - インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置 - Google Patents
インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置Info
- Publication number
- JPH05288783A JPH05288783A JP8407792A JP8407792A JPH05288783A JP H05288783 A JPH05288783 A JP H05288783A JP 8407792 A JP8407792 A JP 8407792A JP 8407792 A JP8407792 A JP 8407792A JP H05288783 A JPH05288783 A JP H05288783A
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- JP
- Japan
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- impedance
- measured
- transfer function
- signal generator
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 インピーダンス測定を行うにあたり、誤差の
割合が被測定物のインピーダンスに関わらない一定のも
のとなり、測定データへの信頼性を向上することのでき
るインピーダンス測定方法および装置を実現すること。 【構成】 信号発生器に対して直列に設けられた被測定
物と抵抗成分より成る閉回路での前記被測定物の伝達関
数を求め、該求められた伝達関数と前記抵抗成分のイン
ピーダンスとから被測定物のインピーダンスを算出する
ことを特徴とするインピーダンス測定方法。
割合が被測定物のインピーダンスに関わらない一定のも
のとなり、測定データへの信頼性を向上することのでき
るインピーダンス測定方法および装置を実現すること。 【構成】 信号発生器に対して直列に設けられた被測定
物と抵抗成分より成る閉回路での前記被測定物の伝達関
数を求め、該求められた伝達関数と前記抵抗成分のイン
ピーダンスとから被測定物のインピーダンスを算出する
ことを特徴とするインピーダンス測定方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物のインピーダ
ンスを測定方法に関し、特に、ＦＦＴアナライザ等によ
って求められる伝達関数を用いて測定を行うインピーダ
ンス測定方法に関する。
ンスを測定方法に関し、特に、ＦＦＴアナライザ等によ
って求められる伝達関数を用いて測定を行うインピーダ
ンス測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、被測定物のインピーダンスを測定
することは、被測定物の両端子間電圧ＶTと被測定物に
流れる電流Ｉとを測定し、これらの測定値をオームの法
則にあてはめて被測定物のインピーダンスＺを算出して
いた。
することは、被測定物の両端子間電圧ＶTと被測定物に
流れる電流Ｉとを測定し、これらの測定値をオームの法
則にあてはめて被測定物のインピーダンスＺを算出して
いた。
【０００３】インピーダンスＺはＶT／Ｉによって求ま
る。
る。
【０００４】被測定物の両端子間電圧ＶTおよび被測定
物に流れる電流Ｉは、これらが時間的に変化するもので
あるために、同時に測定する必要がある。
物に流れる電流Ｉは、これらが時間的に変化するもので
あるために、同時に測定する必要がある。
【０００５】従来これらの測定は、図３（ａ）に示すよ
うに信号発生器３０１に対して被測定物３０２と電流計
３０３とを直列に設け、信号発生器３０１の両端子間電
圧を測る電圧計３０４を設けたものや、図３（ｂ）に示
すように、信号発生器３０１に対して被測定物３０２と
電流計３０３とを直列に設け、被測定物３０２の両端子
間電圧を測る電圧計３０４を設けたもの等によって行わ
れていた。
うに信号発生器３０１に対して被測定物３０２と電流計
３０３とを直列に設け、信号発生器３０１の両端子間電
圧を測る電圧計３０４を設けたものや、図３（ｂ）に示
すように、信号発生器３０１に対して被測定物３０２と
電流計３０３とを直列に設け、被測定物３０２の両端子
間電圧を測る電圧計３０４を設けたもの等によって行わ
れていた。
【０００６】上述した各測定系のうち、図３（ａ）に示
したものにおいて電圧計３０４にて検出される電圧値
は、電流計３０３に流れる電流によって生じる誤差電圧
を含んだものとなってしまう。また、図３（ｂ）に示し
たものにおいて電流計３０３にて検出される電流値は、
電圧計３０４に流れる電流によって生じる誤差電流を含
んだものとなる。このような誤差を生じないものとする
ためには、内部抵抗が零の電流計もしくは内部抵抗が無
限大の電圧計を使用することが要求されるが、当然なが
らこのような電流計および電圧計が存在することはな
く、誤差は必然的に生じてしまう。
したものにおいて電圧計３０４にて検出される電圧値
は、電流計３０３に流れる電流によって生じる誤差電圧
を含んだものとなってしまう。また、図３（ｂ）に示し
たものにおいて電流計３０３にて検出される電流値は、
電圧計３０４に流れる電流によって生じる誤差電流を含
んだものとなる。このような誤差を生じないものとする
ためには、内部抵抗が零の電流計もしくは内部抵抗が無
限大の電圧計を使用することが要求されるが、当然なが
らこのような電流計および電圧計が存在することはな
く、誤差は必然的に生じてしまう。
【０００７】上記の誤差の割合は、一定である電流計お
よび電圧計の内部抵抗と、不定のものである被測定物の
インピーダンスによって決定されるため、測定の際に生
じる誤差の割合は、被測定物のインピーダンスによって
変化するものとなり、測定精度が一定のものとならな
い。
よび電圧計の内部抵抗と、不定のものである被測定物の
インピーダンスによって決定されるため、測定の際に生
じる誤差の割合は、被測定物のインピーダンスによって
変化するものとなり、測定精度が一定のものとならな
い。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の各測定
系においては、誤差の割合が被測定物のインピーダンス
に応じて変化してしまうため、測定精度が一定となら
ず、測定データへの信頼性が悪いという問題点がある。
系においては、誤差の割合が被測定物のインピーダンス
に応じて変化してしまうため、測定精度が一定となら
ず、測定データへの信頼性が悪いという問題点がある。
【０００９】本発明は上述したような従来の技術が有す
る問題点に鑑みてなされたものであって、誤差の割合が
被測定物のインピーダンスに関わらない一定のものとな
り、測定データへの信頼性を向上することのできるイン
ピーダンス測定方法および装置を実現することを目的と
する。
る問題点に鑑みてなされたものであって、誤差の割合が
被測定物のインピーダンスに関わらない一定のものとな
り、測定データへの信頼性を向上することのできるイン
ピーダンス測定方法および装置を実現することを目的と
する。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明のインピーダンス
測定方法は、信号発生器に対して直列に設けられた被測
定物と抵抗成分より成る閉回路での前記被測定物の伝達
関数を求め、該求められた伝達関数と前記抵抗成分のイ
ンピーダンスとから被測定物のインピーダンスを算出す
る。
測定方法は、信号発生器に対して直列に設けられた被測
定物と抵抗成分より成る閉回路での前記被測定物の伝達
関数を求め、該求められた伝達関数と前記抵抗成分のイ
ンピーダンスとから被測定物のインピーダンスを算出す
る。
【００１１】また、本発明のインピーダンス測定装置
は、信号発生器に対して抵抗成分とともに直列に設けら
れて閉回路を構成する被測定物のインピーダンスを測定
するインピーダンス測定装置であって、前記信号発生器
の両端子間電圧が入力される第１の入力端子と、前記抵
抗成分の両端子間電圧が入力される第２の入力端子と、
予め与えられる抵抗成分のインピーダンスを記憶する記
憶部と、前記第１の入力端子と第２の入力端子への入力
内容から前記被測定物の伝達関数を算出し、さらに該算
出した伝達関数と前記記憶部に記憶されているインピー
ダンスとから前記被測定物のインピーダンスを求める演
算処理部とを有する。
は、信号発生器に対して抵抗成分とともに直列に設けら
れて閉回路を構成する被測定物のインピーダンスを測定
するインピーダンス測定装置であって、前記信号発生器
の両端子間電圧が入力される第１の入力端子と、前記抵
抗成分の両端子間電圧が入力される第２の入力端子と、
予め与えられる抵抗成分のインピーダンスを記憶する記
憶部と、前記第１の入力端子と第２の入力端子への入力
内容から前記被測定物の伝達関数を算出し、さらに該算
出した伝達関数と前記記憶部に記憶されているインピー
ダンスとから前記被測定物のインピーダンスを求める演
算処理部とを有する。
【００１２】
【作用】被測定物の伝達関数と、抵抗成分のインピーダ
ンスとから被測定物のインピーダンスが求められるた
め、誤差の割合が被測定物のインピーダンスに関わらな
いものとなり、測定精度が一定となる。
ンスとから被測定物のインピーダンスが求められるた
め、誤差の割合が被測定物のインピーダンスに関わらな
いものとなり、測定精度が一定となる。
【００１３】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１４】図１は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【００１５】本実施例は信号発生器１０１の出力に対し
て被測定物１０２と電流−電圧変換器１０３とを直列に
設け、信号発生器１０１の両端子間電圧および電流−電
圧変換器１０３にて検出される電圧値をチャンネルＣＨ
１およびＣＨ２にそれぞれ入力し、各検出電圧値から伝
達関数および被測定物１０２のインピーダンスを算出す
る伝達関数測定装置１０４（例えばＦＦＴアナライザ
等）より構成されている。
て被測定物１０２と電流−電圧変換器１０３とを直列に
設け、信号発生器１０１の両端子間電圧および電流−電
圧変換器１０３にて検出される電圧値をチャンネルＣＨ
１およびＣＨ２にそれぞれ入力し、各検出電圧値から伝
達関数および被測定物１０２のインピーダンスを算出す
る伝達関数測定装置１０４（例えばＦＦＴアナライザ
等）より構成されている。
【００１６】図２は、本発明の測定原理を示す回路図で
ある。
ある。
【００１７】信号発生器ＶSGに対してインピーダンスＺ
XとＲSとを直列に設けたときに流れる電流をＩX、イン
ピーダンスＺXの両端子間電圧をＶX、インピーダンスＲ
Sの両端子間電圧をＶa、インピーダンスＺXとＲSを合成
抵抗として見たときの総合の端子間電圧をＶbとし、す
ると、インピーダンスＺXは以下の式で表される。 ＺX＝ＶX／ＩX＝（Ｖb−Ｖa）／（Ｖa／ＲS）＝ＲS×
｛（Ｖb／Ｖa）−１｝ したがって、Ｖb／Ｖaで示される伝達関数Ｈabによりイ
ンピーダンスＺXを表すことができ、 ＺX＝ＲS×（Ｈab−１）となる。
XとＲSとを直列に設けたときに流れる電流をＩX、イン
ピーダンスＺXの両端子間電圧をＶX、インピーダンスＲ
Sの両端子間電圧をＶa、インピーダンスＺXとＲSを合成
抵抗として見たときの総合の端子間電圧をＶbとし、す
ると、インピーダンスＺXは以下の式で表される。 ＺX＝ＶX／ＩX＝（Ｖb−Ｖa）／（Ｖa／ＲS）＝ＲS×
｛（Ｖb／Ｖa）−１｝ したがって、Ｖb／Ｖaで示される伝達関数Ｈabによりイ
ンピーダンスＺXを表すことができ、 ＺX＝ＲS×（Ｈab−１）となる。
【００１８】図１に示したブロック図を図２に示した回
路図にあてはめ、被測定物１０２のインピーダンスを
Ｚ、チャンネルＣＨ１（第１の入力端子）およびＣＨ２
（第２の入力端子）にそれぞれ入力される電圧値をＶa
およびＶb、電流−電圧変換器１０３の電流−電圧変換
定数および入力インピーダンスをＲ0およびＲiとし、閉
回路内を流れる電流をｉとすると、 Ｚ＝（Ｖb−Ｒi×ｉ）／ｉ・・・・・・(1) ｉ＝Ｖa／Ｒ0・・・・・・(2) となり、式(1)，(2)より Ｚ＝（Ｒ0×Ｖb−Ｒi×Ｖa）／Ｖa・・・・・・(3) Ｈab＝Ｖb／Ｖa・・・・・・(4) であるため、これを(3)式に代入して Ｚ＝Ｒ0×Ｈab−Ｒi・・・・・・(5) となり、被測定物１０２のインピーダンスＺを、伝達関
数Ｈabと、一定値を保つ電流−電圧変換器１０３の電流
−電圧変換定数Ｒ0および入力インピーダンスＲiによっ
て表すことができ、測定の際に生じる誤差の割合および
測定精度を一定とすることができる。
路図にあてはめ、被測定物１０２のインピーダンスを
Ｚ、チャンネルＣＨ１（第１の入力端子）およびＣＨ２
（第２の入力端子）にそれぞれ入力される電圧値をＶa
およびＶb、電流−電圧変換器１０３の電流−電圧変換
定数および入力インピーダンスをＲ0およびＲiとし、閉
回路内を流れる電流をｉとすると、 Ｚ＝（Ｖb−Ｒi×ｉ）／ｉ・・・・・・(1) ｉ＝Ｖa／Ｒ0・・・・・・(2) となり、式(1)，(2)より Ｚ＝（Ｒ0×Ｖb−Ｒi×Ｖa）／Ｖa・・・・・・(3) Ｈab＝Ｖb／Ｖa・・・・・・(4) であるため、これを(3)式に代入して Ｚ＝Ｒ0×Ｈab−Ｒi・・・・・・(5) となり、被測定物１０２のインピーダンスＺを、伝達関
数Ｈabと、一定値を保つ電流−電圧変換器１０３の電流
−電圧変換定数Ｒ0および入力インピーダンスＲiによっ
て表すことができ、測定の際に生じる誤差の割合および
測定精度を一定とすることができる。
【００１９】伝達関数測定装置１０４には、電流−電圧
変換器１０３の電流−電圧変換定数Ｒ0および入力イン
ピーダンスＲiが記憶部（不図示）に与えられており、
これらの各値と信号発生器１０１の出力周波数を連続的
に変化させたときの実際の測定によって得られた伝達関
数Ｈabから被測定物１０２のインピーダンスＺを演算処
理部（不図示）にて算出し、表示装置（不図示）へ表示
する。
変換器１０３の電流−電圧変換定数Ｒ0および入力イン
ピーダンスＲiが記憶部（不図示）に与えられており、
これらの各値と信号発生器１０１の出力周波数を連続的
に変化させたときの実際の測定によって得られた伝達関
数Ｈabから被測定物１０２のインピーダンスＺを演算処
理部（不図示）にて算出し、表示装置（不図示）へ表示
する。
【００２０】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
【００２１】請求項１に記載の方法においては、回路の
伝達関数と一定値を保つ抵抗値とから被測定物のインピ
ーダンスを求めるため、測定精度を一定とし、測定デー
タの信頼性を向上することができる効果がある。
伝達関数と一定値を保つ抵抗値とから被測定物のインピ
ーダンスを求めるため、測定精度を一定とし、測定デー
タの信頼性を向上することができる効果がある。
【００２２】請求項２に記載のものにおいては、上記効
果を備えた装置を実現することができる効果がある。
果を備えた装置を実現することができる効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の測定原理を示す回路図である。
【図３】（ａ），（ｂ）のそれぞれは、従来の測定方法
を示す図である。
を示す図である。
１０１ 信号発生器 １０２ 被測定物 １０３ 電流−電圧変換器 １０４ 伝達関数測定装置
Claims (2)
- 【請求項１】 信号発生器に対して直列に設けられた被
測定物と抵抗成分より成る閉回路での前記被測定物の伝
達関数を求め、該求められた伝達関数と前記抵抗成分の
インピーダンスとから被測定物のインピーダンスを算出
することを特徴とするインピーダンス測定方法。 - 【請求項２】 信号発生器に対して抵抗成分とともに直
列に設けられて閉回路を構成する被測定物のインピーダ
ンスを測定するインピーダンス測定装置であって、 前記信号発生器の両端子間電圧が入力される第１の入力
端子と、 前記抵抗成分の両端子間電圧が入力される第２の入力端
子と、 予め与えられる抵抗成分のインピーダンスを記憶する記
憶部と、 前記第１の入力端子と第２の入力端子への入力内容から
前記被測定物の伝達関数を算出し、さらに該算出した伝
達関数と前記記憶部に記憶されているインピーダンスと
から前記被測定物のインピーダンスを求める演算処理部
とを有することを特徴とするインピーダンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8407792A JPH05288783A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8407792A JPH05288783A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05288783A true JPH05288783A (ja) | 1993-11-02 |
Family
ID=13820429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8407792A Withdrawn JPH05288783A (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05288783A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5512833A (en) * | 1993-08-24 | 1996-04-30 | Yazaki Corporation | Connector checking device |
| JP2005291972A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Casio Comput Co Ltd | 検査回路 |
| KR20110104439A (ko) * | 2010-03-16 | 2011-09-22 | 요코가와 덴키 가부시키가이샤 | Ａｃ 임피던스 측정 디바이스 |
| WO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
-
1992
- 1992-04-06 JP JP8407792A patent/JPH05288783A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5512833A (en) * | 1993-08-24 | 1996-04-30 | Yazaki Corporation | Connector checking device |
| JP2005291972A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Casio Comput Co Ltd | 検査回路 |
| KR20110104439A (ko) * | 2010-03-16 | 2011-09-22 | 요코가와 덴키 가부시키가이샤 | Ａｃ 임피던스 측정 디바이스 |
| WO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
| JPWO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2013-07-25 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
| US9140734B2 (en) | 2010-05-31 | 2015-09-22 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990608 |