JPH05266534A - 光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界消去方法 - Google Patents
光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界消去方法Info
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- JPH05266534A JPH05266534A JP9390092A JP9390092A JPH05266534A JP H05266534 A JPH05266534 A JP H05266534A JP 9390092 A JP9390092 A JP 9390092A JP 9390092 A JP9390092 A JP 9390092A JP H05266534 A JPH05266534 A JP H05266534A
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- Japan
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- magneto
- optical disk
- head
- disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁界変調方式の光磁気ディスクの評価装置に
おいて、回転機構や光学ヘッドの漏れ磁界を消去し、テ
ストデータの書込み／消去におけるＣ／Ｎの低下を防止
する方法を提供する。 【構成】 光磁気ディスク１の上方の、磁気ヘッド３の
移動範囲に対応した位置に、漏れ磁界を消去し、磁気ヘ
ッド３の発生する磁界に対する漏れ磁界の影響を除去す
る消去マグネット７を設ける。 【効果】 目的が達成される。
おいて、回転機構や光学ヘッドの漏れ磁界を消去し、テ
ストデータの書込み／消去におけるＣ／Ｎの低下を防止
する方法を提供する。 【構成】 光磁気ディスク１の上方の、磁気ヘッド３の
移動範囲に対応した位置に、漏れ磁界を消去し、磁気ヘ
ッド３の発生する磁界に対する漏れ磁界の影響を除去す
る消去マグネット７を設ける。 【効果】 目的が達成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、磁気ヘッドを使用し
た光磁気ディスクの評価装置において、磁気ヘッドの発
生磁界に影響する、回転機構などの漏れ磁界を消去する
方法に関するものである。
た光磁気ディスクの評価装置において、磁気ヘッドの発
生磁界に影響する、回転機構などの漏れ磁界を消去する
方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスクは、書き換え可能な高密
度記録容量を有する記録媒体として開発が進められてい
る。書き換えのためには、記録されたデータを消去して
再書込みする、いわゆるオーバライトが重要である。こ
れに対していくつかの方法が発表されており、その中に
磁界変調方式がある。磁界変調方式は、特殊な磁性合金
の記録媒体が表面に蒸着された光磁気ディスクに対し
て、その上下に電磁コイルと光学ヘッドを対向して設
け、両者によりまず記録データを消去した後、新しいデ
ータの書込みを行い、光学ヘッドにより読み出しを行う
ものである。最初に提案されたものは電磁コイルがやや
大型であったため、高密度、高速度記録に難点があっ
た。これに対して電磁コイルとして、磁気ディスク装置
に使用されている小型軽量の磁気ヘッドを使用する方式
が考案され、さらに、この方式に対する記録性能を評価
するために評価装置が開発されている。
度記録容量を有する記録媒体として開発が進められてい
る。書き換えのためには、記録されたデータを消去して
再書込みする、いわゆるオーバライトが重要である。こ
れに対していくつかの方法が発表されており、その中に
磁界変調方式がある。磁界変調方式は、特殊な磁性合金
の記録媒体が表面に蒸着された光磁気ディスクに対し
て、その上下に電磁コイルと光学ヘッドを対向して設
け、両者によりまず記録データを消去した後、新しいデ
ータの書込みを行い、光学ヘッドにより読み出しを行う
ものである。最初に提案されたものは電磁コイルがやや
大型であったため、高密度、高速度記録に難点があっ
た。これに対して電磁コイルとして、磁気ディスク装置
に使用されている小型軽量の磁気ヘッドを使用する方式
が考案され、さらに、この方式に対する記録性能を評価
するために評価装置が開発されている。
【０００３】図３(a) は、上記の磁気ヘッドを使用した
磁界変調方式の光磁気ディスクに対する評価装置を示
し、(b) は部分図である。(a),(b) において、光磁気デ
ィスク（以下単にディスクという）１は透明な基板１a
の表面に前記した記録媒体１bが蒸着され、記録媒体１b
には円周方向に多数のトラックＴR の溝が設定されて
いる。ディスク１は回転機構２のスピンドル２a に装着
されてモータ２b により回転する。ディスク１に対し
て、その上側に磁気ヘッド３を、また下側に磁気ヘッド
３に対向して光学ヘッド４を設け、両者をキャリッジ機
構機構５の移動部５a に支持して、ディスク１の半径方
向に直線移動する。磁気ヘッド３はディスク１の回転に
より生ずるエアフローにより微小な高さ浮上する。記録
性能の評価においては、まず、光学ヘッド４の光源４a
より消去レベルのレーザビームを、対物レンズ４b によ
りスポットに絞り込んで媒体１b のトラックＴR の溝を
連続的に照射する。ディスクの回転により逐次にスポッ
トが照射された微小部分は、瞬間的に温度がキュリー点
より上昇する。書込み／消去回路６より磁気ヘッド３の
コイル３a に一定方向の消去電流を供給して消去磁界を
発生し、微小部分の磁化方向が一定方向に揃えられる。
ついで、コイル３a にテストデータの電流を供給して書
込み磁界を発生し、微小部分の磁化方向を反転する。こ
れに対して読み出しは、光源４a より読み出しレベルの
レーザスポットを照射し、反転磁化による反射光の偏光
面の回転角度を検出してデータが読み出され、読み出し
データは図示しないデータ処理部により処理されて、記
録性能が評価される。なお、テストにおいてはコイル３
a に供給する電流値を種々に変化してそれぞれに対する
Ｃ／Ｎ特性が評価される。
磁界変調方式の光磁気ディスクに対する評価装置を示
し、(b) は部分図である。(a),(b) において、光磁気デ
ィスク（以下単にディスクという）１は透明な基板１a
の表面に前記した記録媒体１bが蒸着され、記録媒体１b
には円周方向に多数のトラックＴR の溝が設定されて
いる。ディスク１は回転機構２のスピンドル２a に装着
されてモータ２b により回転する。ディスク１に対し
て、その上側に磁気ヘッド３を、また下側に磁気ヘッド
３に対向して光学ヘッド４を設け、両者をキャリッジ機
構機構５の移動部５a に支持して、ディスク１の半径方
向に直線移動する。磁気ヘッド３はディスク１の回転に
より生ずるエアフローにより微小な高さ浮上する。記録
性能の評価においては、まず、光学ヘッド４の光源４a
より消去レベルのレーザビームを、対物レンズ４b によ
りスポットに絞り込んで媒体１b のトラックＴR の溝を
連続的に照射する。ディスクの回転により逐次にスポッ
トが照射された微小部分は、瞬間的に温度がキュリー点
より上昇する。書込み／消去回路６より磁気ヘッド３の
コイル３a に一定方向の消去電流を供給して消去磁界を
発生し、微小部分の磁化方向が一定方向に揃えられる。
ついで、コイル３a にテストデータの電流を供給して書
込み磁界を発生し、微小部分の磁化方向を反転する。こ
れに対して読み出しは、光源４a より読み出しレベルの
レーザスポットを照射し、反転磁化による反射光の偏光
面の回転角度を検出してデータが読み出され、読み出し
データは図示しないデータ処理部により処理されて、記
録性能が評価される。なお、テストにおいてはコイル３
a に供給する電流値を種々に変化してそれぞれに対する
Ｃ／Ｎ特性が評価される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】さて、上記の光学ヘッ
ド４にはサーボ用のコイル（図示省略）があって磁界を
発生し、また回転機構２のモータ２b も同様に磁界を発
生する。これらによる漏れ磁界は磁気ヘッド３が発生す
る磁界に影響し、書込み／消去におけるテストデータの
Ｃ／Ｎが低下する現象が見出された。図４は漏れ磁界を
実測したデータの一例を示す。実測データは、回転機構
２と光学ヘッド４を動作状態とし、磁気ヘッド３の代わ
りにガウスメータを置き、回転機構２からディスク１の
外周までの範囲について測定したもので、漏れ磁界強度
はスピンドル２a の中心Ｏの付近では＋極の最大値を示
し、外周方向に漸次低下して−極となり、外周端で一定
値を示している。以上の漏れ磁界に対して、磁気ヘッド
３の磁界を漏れ磁界の影響を受けないほどの強度とする
ことが考えられるが、磁気ヘッド３を大きくすることは
本来の目的に反し、また評価装置においては前記したよ
うにコイル３a に対する供給電流値を変化してテストを
行うため、その磁界強度が小さい場合もあるので現実的
でない。一方、モータ２a と光学ヘッド４とを厳重に磁
気遮蔽することが考えられるが、このためにこれらの構
造を改造することは容易でない。そこで、実行が容易な
漏れ磁界の消去方法が望ましい。この発明は以上に鑑み
てなされたもので、回転機構や光学ヘッドの漏れ磁界を
消去し、テストデータのＣ／Ｎの低下を防止する方法を
提供することを目的とする。
ド４にはサーボ用のコイル（図示省略）があって磁界を
発生し、また回転機構２のモータ２b も同様に磁界を発
生する。これらによる漏れ磁界は磁気ヘッド３が発生す
る磁界に影響し、書込み／消去におけるテストデータの
Ｃ／Ｎが低下する現象が見出された。図４は漏れ磁界を
実測したデータの一例を示す。実測データは、回転機構
２と光学ヘッド４を動作状態とし、磁気ヘッド３の代わ
りにガウスメータを置き、回転機構２からディスク１の
外周までの範囲について測定したもので、漏れ磁界強度
はスピンドル２a の中心Ｏの付近では＋極の最大値を示
し、外周方向に漸次低下して−極となり、外周端で一定
値を示している。以上の漏れ磁界に対して、磁気ヘッド
３の磁界を漏れ磁界の影響を受けないほどの強度とする
ことが考えられるが、磁気ヘッド３を大きくすることは
本来の目的に反し、また評価装置においては前記したよ
うにコイル３a に対する供給電流値を変化してテストを
行うため、その磁界強度が小さい場合もあるので現実的
でない。一方、モータ２a と光学ヘッド４とを厳重に磁
気遮蔽することが考えられるが、このためにこれらの構
造を改造することは容易でない。そこで、実行が容易な
漏れ磁界の消去方法が望ましい。この発明は以上に鑑み
てなされたもので、回転機構や光学ヘッドの漏れ磁界を
消去し、テストデータのＣ／Ｎの低下を防止する方法を
提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成する漏れ磁界消去方法であって、光磁気ディスク評
価装置において、ディスクの上方の、磁気ヘッドの移動
範囲に対応した位置に、回転機構と光学ヘッドよりの漏
れ磁界に対して、逆極性を有する消去マグネットを設け
たものである。
達成する漏れ磁界消去方法であって、光磁気ディスク評
価装置において、ディスクの上方の、磁気ヘッドの移動
範囲に対応した位置に、回転機構と光学ヘッドよりの漏
れ磁界に対して、逆極性を有する消去マグネットを設け
たものである。
【０００６】
【作用】上記の漏れ磁界消去方法においては、磁気ヘッ
ドの移動範囲に対応してその上方に設けられた消去マグ
ネットにより、回転機構と光学ヘッドの漏れ磁界が消去
されるので、磁気ヘッドの発生磁界に対する漏れ磁界の
影響が除去され、Ｃ／Ｎが低下することなくテストデー
タの書込み／消去が良好になされる。
ドの移動範囲に対応してその上方に設けられた消去マグ
ネットにより、回転機構と光学ヘッドの漏れ磁界が消去
されるので、磁気ヘッドの発生磁界に対する漏れ磁界の
影響が除去され、Ｃ／Ｎが低下することなくテストデー
タの書込み／消去が良好になされる。
【０００７】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示し、図２は図
１に対する消去マグネットの磁界強度と、これによる漏
れ磁界の消去データの実測値を示す。図１において、光
磁気ディスク評価装置は前記した図３(a),(b) と同一と
し、ディスク１の上方の、磁気ヘッド３の移動範囲（実
際には図示のようにもっと広い範囲がよい）に対応した
位置に消去マグネット７を設ける。消去マグネット７は
上下方向に漏れ磁界と逆極性のＮＳ極を有するものと
し、これを支持具７a,７b により支持する。支持具によ
りディスク面に対する高さｈと傾斜角θを調整し、消去
マグネット７の磁界Ｈが漏れ磁界を消去して良好なＣ／
Ｎがえられるように設定する。
１に対する消去マグネットの磁界強度と、これによる漏
れ磁界の消去データの実測値を示す。図１において、光
磁気ディスク評価装置は前記した図３(a),(b) と同一と
し、ディスク１の上方の、磁気ヘッド３の移動範囲（実
際には図示のようにもっと広い範囲がよい）に対応した
位置に消去マグネット７を設ける。消去マグネット７は
上下方向に漏れ磁界と逆極性のＮＳ極を有するものと
し、これを支持具７a,７b により支持する。支持具によ
りディスク面に対する高さｈと傾斜角θを調整し、消去
マグネット７の磁界Ｈが漏れ磁界を消去して良好なＣ／
Ｎがえられるように設定する。
【０００８】図２において、実線のは前記した図４の
漏れ磁界強度の実測値である。点線のは、回転機構２
と光学ヘッド４の動作を停止し、磁気ヘッド３を取り除
いてガウスメータにより測定した消去マグネット７の磁
界強度Ｈの実測値を示し、曲線の漏れ磁界に対する対
称性はかならずしも良好ではない。これに対して一点鎖
線のは、回転機構２と光学ヘッド４を動作させた場合
の、消去マグネット７の磁界Ｈと漏れ磁界の総合特性を
示し、漏れ磁界は完全には消去されていない。しか
し、この状態で磁気ヘッド３を装着し、これと光学ヘッ
ド４によりテストデータの書込み／読み出し、または消
去を行ってＣ／Ｎを実測すると、ほぼ満足できるＣ／Ｎ
データがえられている。このように、漏れ磁界が完全に
消去されないのに良好なＣ／Ｎがえられる理由は、上記
の各磁界強度の測定においては、磁気ヘッド３が取り外
されてその磁界効果が無視されたためと考えられる。い
ずれにしても、Ｃ／Ｎ測定を併用して消去マグネット７
の高さｈと傾斜角θを調整することにより、良好なＣ／
Ｎを確保することができる。なお、上記の消去マグネッ
トによる漏れ磁界の消去方法は、評価装置に限らず、光
磁気ディスクのドライブ装置に対しても適用できるもの
である。
漏れ磁界強度の実測値である。点線のは、回転機構２
と光学ヘッド４の動作を停止し、磁気ヘッド３を取り除
いてガウスメータにより測定した消去マグネット７の磁
界強度Ｈの実測値を示し、曲線の漏れ磁界に対する対
称性はかならずしも良好ではない。これに対して一点鎖
線のは、回転機構２と光学ヘッド４を動作させた場合
の、消去マグネット７の磁界Ｈと漏れ磁界の総合特性を
示し、漏れ磁界は完全には消去されていない。しか
し、この状態で磁気ヘッド３を装着し、これと光学ヘッ
ド４によりテストデータの書込み／読み出し、または消
去を行ってＣ／Ｎを実測すると、ほぼ満足できるＣ／Ｎ
データがえられている。このように、漏れ磁界が完全に
消去されないのに良好なＣ／Ｎがえられる理由は、上記
の各磁界強度の測定においては、磁気ヘッド３が取り外
されてその磁界効果が無視されたためと考えられる。い
ずれにしても、Ｃ／Ｎ測定を併用して消去マグネット７
の高さｈと傾斜角θを調整することにより、良好なＣ／
Ｎを確保することができる。なお、上記の消去マグネッ
トによる漏れ磁界の消去方法は、評価装置に限らず、光
磁気ディスクのドライブ装置に対しても適用できるもの
である。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による漏
れ磁界消去方法においては、磁気ヘッドの移動範囲に対
応してその上方に設けられた消去マグネットにより、回
転機構と光学ヘッドの漏れ磁界が消去され、磁気ヘッド
の発生磁界に対する漏れ磁界の影響を除去して、Ｃ／Ｎ
が低下することなくテストデータの書込み／消去を良好
に行うことができるもので、磁気ヘッドを使用した磁界
変調方式の光磁気ディスク評価装置の信頼性に寄与する
ところには大きいものがある。
れ磁界消去方法においては、磁気ヘッドの移動範囲に対
応してその上方に設けられた消去マグネットにより、回
転機構と光学ヘッドの漏れ磁界が消去され、磁気ヘッド
の発生磁界に対する漏れ磁界の影響を除去して、Ｃ／Ｎ
が低下することなくテストデータの書込み／消去を良好
に行うことができるもので、磁気ヘッドを使用した磁界
変調方式の光磁気ディスク評価装置の信頼性に寄与する
ところには大きいものがある。
【図１】 この発明の一実施例における消去マグネット
の配置図を示す。
の配置図を示す。
【図２】 図１に対する消去マグネットの磁界と、これ
による漏れ磁界の消去データの実測値を示す。
による漏れ磁界の消去データの実測値を示す。
【図３】 (a) は磁気ヘッドを使用した磁界変調方式の
光磁気ディスクに対する評価装置を示し、(b) は部分図
である。
光磁気ディスクに対する評価装置を示し、(b) は部分図
である。
【図４】 光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界の実測デ
ータの一例を示す。
ータの一例を示す。
１…磁界変調方式の光磁気ディスク、または単にディス
ク、１a …透明基板、１b …記録媒体、２…回転機構、
２a …スピンドル、２b …モータ、３…磁気ヘッド、３
a …コイル、４…光学ヘッド、４a …光源、４b …対物
レンズ、５…キャリッジ機構機構、５a …移動部、６…
書込み／消去回路、７…消去マグネット、７a,７b …支
持具。
ク、１a …透明基板、１b …記録媒体、２…回転機構、
２a …スピンドル、２b …モータ、３…磁気ヘッド、３
a …コイル、４…光学ヘッド、４a …光源、４b …対物
レンズ、５…キャリッジ機構機構、５a …移動部、６…
書込み／消去回路、７…消去マグネット、７a,７b …支
持具。
Claims (1)
- 【請求項１】 磁界変調方式の光磁気ディスクを装着し
て回転する回転機構と、該光磁気ディスクの上側と下側
に対向した磁気ヘッドおよび光学ヘッドとを具備し、該
光学ヘッドよりのレーザスポットの連続投射と、該磁気
ヘッドの発生する磁界とにより、テストデータの書込み
／読み出し、および消去を行って上記光磁気ディスクの
媒体の記録性能を評価する光磁気ディスク評価装置にお
いて、上記光磁気ディスクの上方の、上記磁気ヘッドの
移動範囲に対応した位置に、上記回転機構と上記光学ヘ
ッドよりの漏れ磁界に対して、逆極性を有する消去マグ
ネットを設けたことを特徴とする、光磁気ディスク評価
装置の漏れ磁界消去方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9390092A JPH05266534A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界消去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9390092A JPH05266534A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界消去方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05266534A true JPH05266534A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=14095363
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9390092A Pending JPH05266534A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光磁気ディスク評価装置の漏れ磁界消去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05266534A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7724490B2 (en) | 2006-04-24 | 2010-05-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk degaussing device and degaussing method |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP9390092A patent/JPH05266534A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7724490B2 (en) | 2006-04-24 | 2010-05-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk degaussing device and degaussing method |
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