JPH05256889A - Connection inspecting device - Google Patents
Connection inspecting deviceInfo
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- JPH05256889A JPH05256889A JP4052073A JP5207392A JPH05256889A JP H05256889 A JPH05256889 A JP H05256889A JP 4052073 A JP4052073 A JP 4052073A JP 5207392 A JP5207392 A JP 5207392A JP H05256889 A JPH05256889 A JP H05256889A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は接続検査装置、特に、リ
ードピンとプリント配線板との接続状態を検査する接続
検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connection inspection device, and more particularly to a connection inspection device for inspecting a connection state between a lead pin and a printed wiring board.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来の接続検査装置について図面を参照
して説明する。図３は従来の一例を示すブロック図であ
る。2. Description of the Related Art A conventional connection inspection apparatus will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example.
【０００３】図３に示す接続検査装置は、ＩＣ３００
と、リ―ドピン３０１と、プリント配線基板３１０と、
スプリングプロ―ブ３２０と、ドライバ回路３３０と、
レシ―バ回路３４０とを含んで構成される。The connection inspection device shown in FIG.
A lead pin 301, a printed wiring board 310,
A spring probe 320, a driver circuit 330,
The receiver circuit 340 is included.
【０００４】ここで、プリント配線基板３１０にＩＣ３
００が実装されており、ＩＣ３００のリ―ドピン３０１
に、スプリングプロ―ブ３２０が接続されている。スプ
リングプロ―ブ３２０には、ドライバ回路３３０とレシ
―バ回路３４０が接続されている。被検査対象物である
プリント配線基板３１０にＩＣ３００が実装されたパッ
ケージに電源を供給し、ドライバ回路３３０からスプリ
ングプロ―ブ３２０を介してＩＣ３００に検査信号を入
力し、ＩＣ３００を動作させてＩＣ３００の出力信号を
スプリングプロ―ブ３２０を介してレシ―バ回路３４０
に入力する。Here, the IC 3 is mounted on the printed wiring board 310.
00 is mounted, and the lead pin 301 of the IC 300 is mounted.
A spring probe 320 is connected to the. A driver circuit 330 and a receiver circuit 340 are connected to the spring probe 320. Power is supplied to the package in which the IC 300 is mounted on the printed wiring board 310, which is the object to be inspected, and the inspection signal is input from the driver circuit 330 to the IC 300 via the spring probe 320 to operate the IC 300 to operate the IC 300. The output signal is sent to the receiver circuit 340 via the spring probe 320.
To enter.
【０００５】または、ＩＣ３００の出力リ―ドピンに該
当するスプリングプロ―ブ３２０に接続されたドライバ
回路３３０からの検査信号は、配線パタ―ン３５０を介
して接続されるＩＣ３００の入力リ―ドピンに該当する
スプリングプロ―ブ３２０に接続されたレシ―バ回路３
４０に入力される。Alternatively, the inspection signal from the driver circuit 330 connected to the spring probe 320 corresponding to the output lead pin of the IC 300 is input to the input lead pin of the IC 300 connected through the wiring pattern 350. Receiver circuit 3 connected to the corresponding spring probe 320
40 is input.
【０００６】レシ―バ回路３４０の出力値を期待値と比
較することにより、良または不良の判定が行われる。By comparing the output value of the receiver circuit 340 with an expected value, it is judged whether the output is good or bad.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の接続検
査装置は、パッケージに搭載されたＩＣに電源を供給
し、ＩＣの論理機能の検査を行う事により接続状態の検
査を行なったり、または、ドライバ回路からの出力信号
をレシ―バ回路で受けることにより、接続状態の検査が
行われるので、スプリングプロ―ブ毎にドライバ回路と
レシ―バ回路が各々必要となり、さらに、表面実装構造
であると共にリ―ドピン間隔が狭いため、スプリングプ
ロ―ブを接続させるのが非常に困難であり、且つ、構成
が複雑となると共に、高価となる欠点がある。The above-described conventional connection inspection apparatus supplies power to the IC mounted on the package and inspects the logical function of the IC to inspect the connection state, or Since the connection state is inspected by receiving the output signal from the driver circuit in the receiver circuit, a driver circuit and a receiver circuit are required for each spring probe, and the surface mounting structure is also provided. At the same time, since the lead pin interval is narrow, it is very difficult to connect the spring probe, and the structure becomes complicated and expensive.
【０００８】本発明の目的は、接続検査装置を被検査対
象であるパッケージへの電源の供給を必要とせず、その
パッケージの実装されたＩＣ接続間の１箇所とＩＣの共
通の電源端子に接続し、被検査パッケージの接続検査を
行うことにある。An object of the present invention is to connect a connection inspection device to a common power supply terminal of an IC and one place between IC connections in which the package is mounted, without supplying power to the package to be inspected. Then, the connection inspection of the package to be inspected is performed.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明の接続検査装置
は、回路網の検査部位に接触させるプロ―ブと、前記プ
ロ―ブに印加する電源と、前記電源に直列に接続された
抵抗と、前記抵抗両端の電圧を増幅する増幅回路と、前
記増幅回路の出力信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄコンバ―タと、前記Ａ／Ｄコンバ―タの出力信号を予
め定められた基準値と比較するディジタルコンパレ―タ
回路とを備えて構成される。A connection inspection device of the present invention comprises a probe to be brought into contact with an inspection portion of a circuit network, a power source applied to the probe, and a resistor connected in series to the power source. , An amplifier circuit for amplifying the voltage across the resistor, and A / A for converting the output signal of the amplifier circuit into a digital signal
It comprises a D converter and a digital comparator circuit for comparing the output signal of the A / D converter with a predetermined reference value.
【００１０】[0010]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【００１１】図１に示す接続検査装置は、プロ―ブ１０
の一端に抵抗２０の一端が接続され、抵抗２０の他端に
は電源３０の一方が接続され、電源３０の他方には、プ
ロ―ブ１１が接続されている。抵抗２０の両端には、増
幅回路４０が接続されている。増幅回路４０の出力信号
は、Ａ／Ｄコンパレ―タ５０の入力端子５１に接続され
ている。Ａ／Ｄコンパレ―タ５０の出力端子５３は、デ
ィジタルコンパレ―タ回路６０の一方の入力端子６１に
接続され、さらに、ディジタルコンパレ―タ回路６０の
他方の入力端子には、入力端子７１が接続されている。
ディジタルコンパレ―タ回路６０の出力端子６３は、出
力端子６４に接続されている。Ａ／Ｄコンパレ―タ５０
の入力端子５２には、入力端子５５と接続されている。The connection inspection device shown in FIG.
Is connected to one end of the resistor 20, one end of the power source 30 is connected to the other end of the resistor 20, and the probe 11 is connected to the other side of the power source 30. An amplifier circuit 40 is connected to both ends of the resistor 20. The output signal of the amplifier circuit 40 is connected to the input terminal 51 of the A / D comparator 50. The output terminal 53 of the A / D comparator 50 is connected to one input terminal 61 of the digital comparator circuit 60, and the input terminal 71 is connected to the other input terminal of the digital comparator circuit 60. Has been done.
The output terminal 63 of the digital comparator circuit 60 is connected to the output terminal 64. A / D comparator 50
The input terminal 52 is connected to the input terminal 55.
【００１２】図２は本発明の一使用例を示す回路図であ
る。ＩＣ１００のトランジスタ１０エミッタ１は、出力
ピン１０４と、抵抗１０２の一方に接続されている。抵
抗１０２は、ＩＣ１００の第一の共通電源端子１０３に
接続されている。出力ピン１０４は、配線パタ―ンを介
して終端抵抗またはインピ―ダンス整合の抵抗２００の
一方とＩＣ３０８の入力ピン３０４及びトランジスタ３
０５のベ―スと抵抗３０２の一方に接続されている。抵
抗２００の他方２０３は、ＩＣ１００の第一の共通電源
端子１０３と同様なパッケージ上の電源に接続される。
さらに、抵抗３０２の他方もＩＣ１００と同様にＩＣ３
０８の第一の共通電源である３０３に接続されている。
本発明の接続検査装置４００の一方のプロ―ブ１０はＩ
Ｃ３０８の入力ピン３０４に接続され、接続検査装置４
００の他方のプロ―ブ１１はパッケージ上共通電源例え
ば、ＩＣ１００またはＩＣ３０８の第一の共通電源端子
に接続されている。FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of use of the present invention. The transistor 10 emitter 1 of the IC 100 is connected to the output pin 104 and one of the resistors 102. The resistor 102 is connected to the first common power supply terminal 103 of the IC 100. The output pin 104 is connected to one of the terminating resistor or the impedance matching resistor 200, the input pin 304 of the IC 308, and the transistor 3 via the wiring pattern.
No. 05 base and one of the resistors 302 are connected. The other 203 of the resistor 200 is connected to a power supply on the package similar to the first common power supply terminal 103 of the IC 100.
Further, the other side of the resistor 302 is the same as the IC100 in the IC3.
08 is connected to 303 which is the first common power supply.
One of the probes 10 of the connection inspection device 400 of the present invention is I
Connected to the input pin 304 of C308, the connection inspection device 4
The other probe 11 of 00 is connected to a common power source on the package, for example, the first common power terminal of the IC 100 or IC 308.
【００１３】次に、本発明の動作を図面を参照して説明
する。最初に、正常に接続されている時本発明の接続検
査装置４００いわゆる抵抗２０に流れる電流は、次の様
な式にて表される。Next, the operation of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the current flowing in the so-called resistor 20 of the connection inspection apparatus 400 of the present invention when normally connected is expressed by the following equation.
【００１４】Ｉ＝Ｖ／Ｒ 他だし、Ｖは、電源３０の電源電圧であり一定である。I = V / R, and V is the power supply voltage of the power supply 30 and is constant.
【００１５】Ｒは、｛（Ｒ１×Ｒ２）×Ｒ３／Ｒ１×Ｒ
２＋（Ｒ１＋Ｒ２）×Ｒ３｝＋Ｒ４である。R is {(R1 × R2) × R3 / R1 × R
2+ (R1 + R2) × R3} + R4.
【００１６】尚、この場合、Ｒ１はＩＣ１００の抵抗１
０２、Ｒ２は終端抵抗２００、Ｒ３はＩＣ３０８の抵抗
３０２、Ｒ４は抵抗２０である。In this case, R1 is the resistance 1 of the IC100.
02 and R2 are terminating resistors 200, R3 is a resistor 302 of the IC 308, and R4 is a resistor 20.
【００１７】そこで、接続不良が発生すると電流値が減
少する。よって、この時の電流値をＩｄとすると、Ｉ〉
Ｉｄの関係が成り立つ。本発明では、抵抗２０に流れる
電流を電圧値として得られる。前記電圧を増幅回路にて
増幅された電圧信号は、入力端子５５から入力される変
換クロック信号によりＡ／Ｄコンバ―タ５０にてディジ
タル電圧値に変換され、前記ディジタル電圧値と入力端
子７１を介して予め入力されている正常時の電流値を電
圧値に換算したデ―タが、ディジタルコンパレ―タ６０
にて比較され、Ｉ〉Ｉｄの時、出力信号が出力端子６４
に出力される。Therefore, when connection failure occurs, the current value decreases. Therefore, if the current value at this time is Id, I>
The relationship of Id is established. In the present invention, the current flowing through the resistor 20 can be obtained as a voltage value. The voltage signal amplified by the amplifier circuit is converted into a digital voltage value by the A / D converter 50 by the conversion clock signal input from the input terminal 55, and the digital voltage value and the input terminal 71 are connected to each other. The data obtained by converting the current value in the normal state, which has been input in advance through the digital converter, into a voltage value is used as the digital comparator 60.
When I> Id, the output signal is output terminal 64.
Is output to.
【００１８】[0018]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の接続検査
装置は、被検査対象物であるパッケージへの電源の供給
を必要とせず、そのパッケージに実装されたＩＣ接続間
の１箇所とパッケージの第一の共通電源に接続し、被検
査対象物を検査できるようにしたことにより、入出力ピ
ンのピッチ間隔が狭ピッチのパッケ―ジが表面実装され
ていても、ＩＣの入出力ピン及び終端抵抗の接続状態が
検査でき、構成が簡単となりさらに、安価にすることが
できるという効果がある。As described above, the connection inspection apparatus of the present invention does not require the supply of power to the package which is the object to be inspected, and one point between the IC connections mounted on the package and the package. By connecting to the first common power supply of No. 1 and making it possible to inspect an object to be inspected, even if a package having a narrow pitch of input / output pins is surface-mounted, There is an effect that the connection state of the terminating resistor can be inspected, the configuration is simplified, and the cost can be reduced.
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の一使用例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a usage example of the present invention.
【図３】従来の一例を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example.
１０，１１ プロ―ブ ２０ 抵抗 ３０ 電源 ４０ 増幅回路 ５０ Ａ／Ｄコンバ―タ ６０ ディジタルコンパレ―タ回路 １００，３０８ ＩＣ １０１，３０５ トランジスタ １０４ 出力ピン １０２，３０２ 抵抗 ２００ 終端抵抗 ４００ 接続検査装置 ３００ ＩＣ ３０１ リ―ドピン ３１０ プリント配線基板 ３２０ スプリングプロ―ブ ３３０ ドライバ回路 ３４０ レシ―バ回路 ３５０ 配線パタ―ン 10, 11 probe 20 resistance 30 power supply 40 amplification circuit 50 A / D converter 60 digital comparator circuit 100, 308 IC 101, 305 transistor 104 output pin 102, 302 resistance 200 termination resistance 400 connection inspection device 300 IC 301 Lead pin 310 Printed wiring board 320 Spring probe 330 Driver circuit 340 Receiver circuit 350 Wiring pattern
Claims (1)
と、前記プロ―ブに印加する電源と、前記電源に直列に
接続された抵抗と、前記抵抗両端の電圧を増幅する増幅
回路と、前記増幅回路の出力信号をディジタル信号に変
換するＡ／Ｄコンバ―タと、前記Ａ／Ｄコンバ―タの出
力信号を予め定められた基準値と比較するディジタルコ
ンパレ―タ回路とを含むことを特徴とする接続検査装
置。1. A probe for contacting an inspection part of a circuit network, a power supply applied to the probe, a resistor connected in series to the power supply, and an amplifier circuit for amplifying a voltage across the resistor. An A / D converter for converting the output signal of the amplifier circuit into a digital signal, and a digital comparator circuit for comparing the output signal of the A / D converter with a predetermined reference value. A connection inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4052073A JPH05256889A (en) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | Connection inspecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4052073A JPH05256889A (en) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | Connection inspecting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05256889A true JPH05256889A (en) | 1993-10-08 |
Family
ID=12904649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4052073A Withdrawn JPH05256889A (en) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | Connection inspecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05256889A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5921249A (en) * | 1997-07-14 | 1999-07-13 | Schweitzer-Mauduit International, Inc. | High and low porosity wrapping papers for smoking articles |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP4052073A patent/JPH05256889A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5921249A (en) * | 1997-07-14 | 1999-07-13 | Schweitzer-Mauduit International, Inc. | High and low porosity wrapping papers for smoking articles |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |