JPH0523012B2 - - Google Patents

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JPH0523012B2
JPH0523012B2 JP8629486A JP8629486A JPH0523012B2 JP H0523012 B2 JPH0523012 B2 JP H0523012B2 JP 8629486 A JP8629486 A JP 8629486A JP 8629486 A JP8629486 A JP 8629486A JP H0523012 B2 JPH0523012 B2 JP H0523012B2
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JP
Japan
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quadrupole
charged
axis
charged beam
electric field
Prior art date
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JP8629486A
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English (en)
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JPS62243230A (ja
Inventor
Yoshihiro Tamura
Takao Kato
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Canon Anelva Corp
Original Assignee
Anelva Corp
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Publication date
Application filed by Anelva Corp filed Critical Anelva Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はE×B速度選別器に係り、特に、選別
された所要の荷電粒子ビームを集束して尖鋭なビ
ームを形成する新しい構造のE×B速度選別器に
関する。
(技術の背景) 半導体装置の製造工程において、半導体基体の
選択された領域に不純物を導入する方法として、
イオン注入法が広く行なわれている。
イオン注入法では周知の如く、イオン源で形成
された所要の不純物イオンが、引出し、分離及び
加速の過程を経て、目的とするイオン折込み部に
導入されるが、イオンビームは通常直径5乃至10
mm程度の太さとなつている。このイオンビームの
直径に対して、半導体基体のイオン注入領域のパ
ターンの寸法は通常は!?かに小さく、半導体基体
面上を皮膜で被覆し、所要のイオン注入領域上の
皮膜を選択的に除去してマスクを形成し、このマ
スクを介してイオン注入が行なわれている。
しかるに半導体装置の高速化、高集積密度化を
推進するために、イオン注入領域のパターンも微
細化が必要となり、前記マスク形成の困難さが高
まるとともに、イオン注入に際してマスクを使用
することなく尖鋭な不純物イオンビームを用い
て、不純物導入領域のみに選択的に不純物を照射
する方法が要求されている。
(従来の技術) ウイーンフイルターとも呼ばれているE×B速
度選別器は、一般的には、平行な2枚の電極とこ
れらに直交する2枚の磁極とにより構成されてお
り、イオンビーム等の荷電ビームの速度選別に用
いられている。
第2図は、従来の一般的なE×B速度選別器の
構成図である。図において、1,2は電極対であ
り、電極1,2の間に、X軸方向にEOなる電界
が形成される。3,4は磁極対であり、磁極3,
4の間に、Y軸方向にBOなる磁界が形成される。
一般に、電極1,2は互いに平行であり、磁極
3,4もまた互いに平行であり、電界EOと磁界
BO、即ち、X軸とY軸は互いに直交している。
荷電ビームの進入方向(光軸)5は、X,Y両
軸に垂直なZ軸であり、光軸5が絞り部材6を貫
く位置に絞り孔60が設けられている。
ここで、荷電ビームを構成する荷電粒子(イオ
ン、電子等)の質量をm、電荷をe、前記X,
Y,Z座標系に対する位置を(x,y,z)、速
度を(x〓,y〓,z〓)、加速度を(x¨,y¨,z¨)と
すれ
ば、第1図の構成のE×B速度選別器内における
荷電粒子の運動方程式は次式に示すとおりであ
る。
mx=e(EO−zBO) ……(1) my=o ……(2) mz=exBO ……(3) ここで、(1)式においてz〓=EO/BOであれば、
mx¨=oとなり、X軸方向に対して、電界EOと磁
界BOが荷電粒子に作用する力が互に平衡する。
従つて第2図にて、Z軸方向に運動し、かつ、 z〓=EO/BO ……(4) であるような荷電粒子すなわち速度vO=(O,O,
EO/BO)なる荷電粒子は、等速で直進し、絞り
部材6の絞り孔60を通過する。また速度zが前
述の条件(4)から外れる場合には、XZ平面に平行
な力が作用して、X軸の正、もしくは負の方向に
偏向される。
さて、荷電ビームの速度vがvOにほぼ等しいと
するとき、Z軸(光軸)近傍の荷電粒子の運動方
程式は、(1)〜(3)式を線型化して次の(5)式のように
得られる。
x¨=−e2/m2BO 2x ……(5) (5)式は、Z軸(光軸)からのX軸方向の変位X
に比例した加速度が荷電粒子に作用し、荷電ビー
ムがX軸方向(電界方向)につき、Z軸上に集束
されることを示している。
さて、従来は、このようにして荷電ビームがE
×B速度選別器を通過することで、電界方向につ
いて集束を受けるが、それは電界方向についての
みであり、得られる荷電ビームがZ軸の回りで対
称形にならないという欠点があつた。
この欠点を解決する方法としては、特開昭59−
3856が開示するような、磁極を相互に傾けて磁界
を円弧状にする方法が考えられているが、必要と
する荷電ビームの種類に応じて傾斜の程度を変え
る必要があり、また傾斜の精度の再現性が乏しく
装置が複雑化、大型化するという欠点があつた。
(発明の目的) 本発明は、広い速度分布を持つ荷電ビームに対
して、所望の速度を有する荷電ビームのみを取り
出し、かつ集束し、高品質の荷電ビームを形成す
ることのできるE×B速度選別器を提供すること
を目的とする。
(問題を解決するための手段) 本発明は、上記の問題を解決するため、相互に
対向して配設されて静電界を形成する電極と、相
互に対向して配設されて前記静電界と交叉する静
磁界を形成する磁極と、を具備して四極子を構成
し、かかる四極子の少くとも2個を、互の静電界
の方向を交叉させ、かつ、光軸及び該光軸上に配
設された絞り孔を共通にして、縦属接続的に配置
した構成のE×B速度選別器によつて上記目的を
達成したものである。
(作用) 前記のように縦属接続された、前段と後段の二
つの四極子のうら、前段の四極子の作用は、既述
のE×B速度選別器の作用と変らない。後段の四
極子の電極対によつて形成される電界が、前段の
場合におけると同様に、後段の適宜位置にとつ
た、後段の四極子内における荷電粒子の運動方程
式は、次式で与えられる。
mx¨=o ……(6) my¨=e(ER−z〓BR) ……(7) mz¨=ey〓BR ……(8) この四極子では、X軸方向に磁界が作用し、Y
軸方向に電界が作用しているためである。
ここでは、後段の四極子の電界をER、磁界を
BRとしている。そして、先の(5)式に対応する式
としては、(9)式が得られる。
y¨=−e2/m2BR 2y ……(9) 前段と同じ考え方で、後段では荷電ビームは、
Y軸方向(後段四極子の電界方向)につき、Z軸
上に集束されることを示す。
即ち、EO/BO=ER/BR ……(10) が満足されるとき、vO=(O,O,EO/BO)=
(O,O,ER/BR)なる速度を有する荷電ビーム
を絞り孔60から取り出すことが可能である。
更に集束作用について検討を加えると次のよう
になる。
前段の四極子における荷電ビームサイクロトロ
ン半径rOと後段の四極子における荷電ビームのサ
イクロトロン半径rRは、次式で与えれる。
rO=mvO/eBO ……(11) rR=mvO/eBR ……(12) ここで前段の四極子の有効長をLO、後段の四
極子の有効長をLR前段と後段の四極子間の距離
をLdとすれば rO/sin(LO/rO)= LR+Ld+rR/sin(LR/rR) ……(13) なる条件を満たすとき、荷電ビームは後段の四極
子より f=rR/sin(LR/rR) ……(14) だけ距離を隔てたところにZ軸に対して対称に集
束される。
従つて、前段、後段の四極子の電界、磁界EO
BO、EO,BO、有効長LO,LR、前段、後段の四極
子の間隔Ldを荷電ビームの速度、分解能等に応
じて選択することが必要ではあるが、これにより
本発明の目的が達成される。
(実施例) 第1図は、本発明の実施例である。
第1図において、前段の四極子の符号は従来の
第2図と同様である。後段の四極子にては、7,
8は電極、9,10は磁極、11は荷電ビームの
焦点面を示す。本実施例では既述のように、電極
1,2は互いに平行であり、磁極3,4も互いに
平行であり、これと同様に、電極7,8、磁極
9,10もまたそれぞれ互いに平行であるが、電
極1,2が形成する電界EOと、電極7,8が形
成する電界ERとは、互いに直交するように前段
の四極子と後段の四極子とは互に縦属接続されて
配置されている。
また前段の四極子の有効長LO、後段の四極子
の有効長LR、四極子の間隔をLd、後段の四極子
の焦点距離をfとすることは第2図の通りであ
る。また、絞り部材6の表面、焦点面11はとも
に光軸5に対して垂直である。
前述の通り、前段四極子の磁極3,4の間に磁
場BOが+Y方向に形成されていて、電荷q、質
量mなる荷電粒子が光軸5に沿つて前段四極子に
入射した場合、磁場BOにより−X方向に偏向さ
れる。そして、荷電ビームの速度がvOにほぼ等し
い場合、(4)式を満たすように電界EOが電極1,
2の間に+X方向に形成されているため該荷電ビ
ームは前段四極子の内部を光軸5に沿つて直進
し、同時にX方向につき、Z軸上へと集束作用を
受ける。
次に、実施例においては、更に後段の四極子が
縦属接続されているので、後段の四極子の磁極
9,10の間に磁場BRが+X方向に形成される
ときは、前記荷電粒子は、磁場BRにより−Y方
向に、偏向される。
ここで(10)式を満たすように電場ERが電極7,
8の間に形成されておれば、荷電粒子は後段四極
子内を直進し、また荷電ビームはY軸方向につ
き、Z軸上へと集束作用を受ける。
ここで、更に(11),(12),(13)式で示す条件を満たす
構成によれば、後段四極子から(14)式で示される距
離fを隔てた焦点面11上に、絞り部材6の絞り
孔60を通過した荷電ビームが、Z軸(光軸)5
の回りにつき、対称形に集束される。
なお、電極、磁極の形状、構造は本実施例に限
られるものではないし、また電場、磁場の形成方
法も、本実施例に限るものではない。
例えば、前段と後段の四極子の電界は、互に直
交でなく斜交するものでもよい。
さらにまた、四極子間の距離Ldを可変とする
機能を附加するなどによつて更に汎用性を拡大す
ることができる。
(発明の効果) 本発明によりエネルギー分布を有する荷電ビー
ム、例えば異なる質量、電荷を有する複数種より
構成されるイオンビームより、特定の速度、質量
のみを有する荷電ビームを選別し、かつこれを集
束して、高品質の荷電ビームを形成することがで
き、例えば、半導体基板を、マスクを用いること
なく直接微細加工することなどが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のE×B速度選別器の
構成を示す図。第2図は従来のE×B速度選別器
の同様の図。 1,2,7,8……電極、3,4,9,10…
…磁極、5……光軸、6……絞り部材、60……
絞り孔、11……焦点面。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 相互に対向して配設されて静電界を形成する
    電極と、相互に対向して配設されて前記静電界と
    交叉する静磁界を形成する磁極と、を具備して四
    極子を構成し、かかる四極子の少くとも2個を、
    互の静電界の方向を交叉させ、かつ、光軸及び該
    光軸上に配設された絞り孔を共通にして、縦属接
    続的に配置したことを特徴とするEXB速度選別
    器。
JP8629486A 1986-04-15 1986-04-15 E×b速度選別器 Granted JPS62243230A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8629486A JPS62243230A (ja) 1986-04-15 1986-04-15 E×b速度選別器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8629486A JPS62243230A (ja) 1986-04-15 1986-04-15 E×b速度選別器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62243230A JPS62243230A (ja) 1987-10-23
JPH0523012B2 true JPH0523012B2 (ja) 1993-03-31

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JP8629486A Granted JPS62243230A (ja) 1986-04-15 1986-04-15 E×b速度選別器

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