JPH05188105A

JPH05188105A - インパルス応答測定装置

Info

Publication number: JPH05188105A
Application number: JP262692A
Authority: JP
Inventors: Kazuya Iwata; 和也岩田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-01-10
Filing date: 1992-01-10
Publication date: 1993-07-30
Anticipated expiration: 2016-03-05
Also published as: JP3139803B2

Abstract

(57)【要約】【目的】被測定物のインパルス応答を高精度に測定す
る。【構成】ディジタルソースなどから読みだしたディジタ
ル信号を入力端子１から入力する。このディジタル信号
をアナログ信号に変換した信号に対する被測定物の応答
信号を入力端子４から入力する。入力端子４から入力し
たアナログ信号を入力端子１から入力したディジタル信
号と同期させてＡ／Ｄ変換器５でディジタル信号に変換
する。この変換した信号と入力端子１から入力したディ
ジタル信号の時間ずれをこのディジタル信号を基準とし
て補正し、演算器11において、この補正した信号とディ
ジタル信号の比を周波数領域で算出し、再びこれを演算
器13で時間軸信号に変換し出力する。【効果】測定信号にインパルス信号を用いる必要がない
ため、信号が持つ時間軸方向の平均パワーが大きく、周
波数帯域が広帯域な信号を用いることで、被測定物の大
入力時の出力応答を測定できるなどの効果が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被測定物のインパルス
応答を測定するインパルス応答測定装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】コンパクトディスク（ＣＤ）に代表され
るディジタルオーディオの出現によって、ソースの音質
向上が著しくなった。これにともない音響機器の高音質
化を図るべく各部の検討がなされている。また、このよ
うな音響機器の高音質化を検討するにおいて、従来の音
響機器と高音質化を図った音響機器との音質差を聴感上
で確認するだけではなく、この音質差を定量的に確認す
るための測定手法の検討もなされている。すなわち測定
手法の一つとして、今日では被測定物のインパルス応答
を基に被測定物の過渡応答特性を多角的に解析する測定
手法が主流となっている。

【０００３】そこで、従来より以下に示すインパルス応
答測定装置が知られている。以下、従来のインパルス応
答測定装置について図８を用いて説明する。図８におい
て、81は測定用信号を発生する信号発生器、82は被測定
物、83は被測定物82の出力を入力する入力端子、84は入
力端子83から入力された信号をアナログ信号からディジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器（アナログ／ディジタ
ル変換器）、85はＡ／Ｄ変換器84の出力を同期加算する
演算器、86は演算器85の出力を出力する出力端子であ
る。図９は信号発生器81の動作説明図、図10はＡ／Ｄ変
換器84の動作説明図、図11は演算器85の動作説明図、図
12は演算器85の動作フローである。

【０００４】次に、この従来例の動作について説明をす
る。信号発生器81は図９(a) に示すようなパルス信号を
発生する。このパルス信号に対する被測定物82の応答信
号は図９(b) のようになる。この出力信号をＡ／Ｄ変換
器84でディジタル信号に変換すると、この変換した信号
は図９(c) のようになる。ところで、このインパルス応
答測定装置は、信号発生器81からインパルスに近い信号
を発生し、この信号発生器81の出力信号に対する被測定
物82の応答信号を被測定物82のインパルス応答としてい
る。この出力信号をＡ／Ｄ変換器84でディジタル信号に
変換する。すなわち、信号発生器81の出力パルスのパル
ス幅が小さいほど被測定物82のインパルス応答の精度が
上がる。

【０００５】しかも、このインパルス応答を用いて被測
定物82の特性を様々な角度から分析するためには、イン
パルス応答をディジタル信号に変換し保存する必要があ
る。そのため、被測定物82のインパルス応答信号はＡ／
Ｄ変換器84でディジタル信号に変換される。ところがＡ
／Ｄ変換器84はサンプリング周期間隔で入力信号をサン
プリングするためパルス幅が小さい信号をディジタル信
号に変換した場合図10に示すようになる。つまり、被測
定物82のインパルス応答信号を数回Ａ／Ｄ変換した場合
Ａ／Ｄ変換の開始タイミングにより異なる結果が得ら
れ、測定データの再現性および測定精度が低くなる。そ
こで、一つの被測定物に対して複数回の測定を行い、こ
の測定結果に対して演算器85により同期加算を行い、再
現性および測定精度の向上を図る。

【０００６】ここで、同期加算の手法としては、たとえ
ば図11(a) に示すようにＡ／Ｄ変換器84への入力信号が
所定の電圧値に最初に達したサンプリング点（時刻）、
すなわち入力信号をディジタル信号に変換したデータが
所定の数値に達した最初のサンプリング点（時刻）のデ
ータが図11(b) に示す演算器85内にあるメモリの所定の
アドレスに格納されるように測定データを配置する。

【０００７】これを図12に示す動作フローに従って説明
すると、まず最初、被測定物82に対し、信号発生器81の
出力信号に対するインパルス応答信号をＡ／Ｄ変換器84
でディジタル信号に変換し、演算器85でＡ／Ｄ変換され
たデータが所定の数値を越える最初のサンプリング点を
見つける。そして、このサンプリング点のデータが演算
器85内のメモリの所定アドレスに格納されるように測定
したデータを記憶する。次に、同一の被測定物82に対し
てインパルス応答を測定し、Ａ／Ｄ変換器84で変換され
たディジタルデータを演算器85が所定の数値に達した最
初のサンプリング点（時刻）を判断し、そのサンプリン
グ点のデータが演算器85内のメモリの所定アドレスに該
当するようにし、すでにメモリに記憶されているデータ
に加算して再びメモリに記憶する。以上の処理を所定回
行い平均化する。

【０００８】以上の同期加算を数式で表現する。Ａ／Ｄ
変換器84でディジタルデータに変換されたインパルス応
答信号をｘ（ｉ，ｊ）（ｉ＝１，２，…，Ｍｊ＝１，
２，…，Ｎ：ｉは測定回数、ｊはサンプリングナンバ
ー）、演算器85で所定の数値に最初に達したサンプリン
グ点をｍ、同期加算回数をＭとすれば演算器85の出力ｙ
（ｌ）（ｌ＝１，２，…，Ｎ）は（数１）となる。ま
た、サンプリング点ｍ（すなわちｉ＝ｍ）よりαサンプ
リング点以前（すなわちｉ＝ｍ−α）のデータから同期
加算するとすれば、ｉとｌの関係は（数２）となる。

【０００９】

【数１】

【００１０】

【数２】

【００１１】そして、演算器85の出力が出力端子86から
出力されるようになっている。このようにして、Ａ／Ｄ
変換器84のサンプリング速度の限界による、あるいはサ
ンプリング開始タイミングの不揃いによる測定データの
再現性に対する影響を除去している。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、被測定物のインパルス応答を高精度に測定
するには、高速でかつ量子化数の大きいＡ／Ｄ変換器が
必要であると言う問題と、および測定用信号は本来イン
パルスであるが現実にはインパルスを発生することは不
可能なため通常パルス状の信号を測定信号として用いる
が、このような測定信号では、信号の持つパワーが小さ
いため、たとえばスピーカのような大振幅時と小振幅時
で特性の異なる被測定物を対象とした場合、スピーカの
振動板の振動振幅が大振幅時に測定が困難であると言う
問題と、さらには、測定データの再現性を得るために同
期加算を行っているが現実には一サンプリング周期内の
任意の時刻にサンプリングしたデータの平均値、すなわ
ちサンプリング周期以下の時間窓でデータの平滑処理を
行ったデータであるため、被測定物のインパルス応答を
精度良く測定できないと言う問題を有していた。

【００１３】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、測定信号にインパルスを用いる必要がないため、信
号が持つ時間軸方向の平均パワーが大きく信号の持つ周
波数対域が広帯域な信号たとえばホワイトノイズを用い
ることにより、スピーカのような被測定物に対してスピ
ーカの振動板の振動振幅が小振幅時から大振幅時までの
インパルス応答を測定することを可能とすることと、測
定信号にインパルスを用いる必要がなくディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号を用いるため、デ
ィジタルソースなどのサンプリング周波数および量子化
数と同等の特性を持つＡ／Ｄ変換器を用いることで高精
度な測定を可能とすることと、ディジタルソースなどか
ら読みだしたディジタル信号を基準とし、Ａ／Ｄ変換時
に生じるサンプリング開始点の不揃いを除去することに
より測定データの再現性などにおよぼす影響を除去して
測定することを可能とすることと、測定時に用いるディ
ジタルソースなどから読みだしたディジタル信号をアナ
ログ信号に変換するＤ／Ａ変換器と被測定物の応答出力
をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器の信号に及ぼ
す影響を除去して測定することを可能とすることなどの
インパルス応答測定装置を提供することを目的とするも
のである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のインパルス応答測定装置は、ディジタルソー
スなどに記録されているディジタル信号を入力する第１
の入力端子と、第１の入力端子に入力されるディジタル
信号を記憶する第１の記憶手段と、第１の入力端子に入
力されるディジタル信号に同期した基準信号を発生する
第１の信号発生手段と、ディジタル信号をアナログ信号
に変換したアナログ信号に対する被測定物の応答出力信
号を入力する第２の入力端子と、第１の信号発生手段が
発生する基準信号に基づき第２の入力端子に入力される
アナログ信号をディジタル信号に変換する第１の変換手
段と、第１の変換手段の出力を記憶する第２の記憶手段
と、第２の記憶手段に記憶されている信号と第１の記憶
手段に記憶されている信号間の時間ずれを第１の記憶手
段に記憶されている信号を基準として検出し第２の記憶
手段に記憶されている信号に対して補正する第１の演算
手段と、第１の演算手段の出力を記憶する第３の記憶手
段と、第１の記憶手段に記憶されている信号のスペクト
ルを算出する第２の演算手段と、第３の記憶手段に記憶
されている信号のスペクトルを算出する第３の演算手段
と、第３の演算手段の出力を第２の演算手段の出力で除
算する第４の演算手段と、第４の演算手段の出力を記憶
する第４の記憶手段と、第４の記憶手段に記憶されてい
る信号を時間軸信号に変換する第５の演算手段で構成さ
れ、第５の演算手段の出力を出力するようにしたもので
ある。

【００１５】また、この目的を達成するために本発明の
インパルス応答測定装置は、ディジタルソースなどに記
録されているディジタル信号を入力する第３の入力端子
と、第３の入力端子に入力されるディジタル信号を記憶
する第５の記憶手段と、基準信号を発生する第２の信号
発生手段と、第２の信号発生手段が出力する基準信号を
動作基準としてディジタル信号をアナログ信号に変換す
る第２の変換手段と、第２の変換手段の出力信号を出力
する出力端子と、出力端子から出力されるアナログ信号
に対する被測定物の応答出力信号を入力する第４の入力
端子と、第４の入力端子に入力されるアナログ信号を第
２の信号発生手段が出力する基準信号を動作基準として
ディジタル信号に変換する第３の変換手段と、第３の変
換手段の出力を記憶する第６の記憶手段と、第６の記憶
手段に記憶されている信号と第５の記憶手段に記憶され
ている信号の時間ずれを第５の記憶手段に記憶されてい
る信号を基準として検出し第６の記憶手段に記憶されて
いる信号に対して補正する第６の演算手段と、第６の演
算手段の出力を記憶する第７の記憶手段と、第５の記憶
手段に記憶されている信号のスペクトルを算出する第７
の演算手段と、第７の記憶手段に記憶されている信号の
スペクトルを算出する第８の演算手段と、第８の演算手
段の出力を前記第７の演算手段の出力で除算する第９の
演算手段と、第９の演算手段の出力を記憶する第８の記
憶手段と、第８の記憶手段に記憶されている信号を時間
軸信号に変換する第10の演算手段で構成され、第10の演
算手段の出力を出力するようにしたものである。

【００１６】さらに、この目的を達成するために本発明
のインパルス応答測定装置は、ディジタルソースなどか
ら読みだしたディジタル信号を入力する第５の入力端子
と、第５の入力端子に入力されるディジタル信号を記憶
する第９の記憶手段と、第５の入力端子に入力されるデ
ィジタル信号に同期した基準信号を発生する第３の信号
発生手段と、ディジタル信号をアナログ信号に変換した
アナログ信号を入力する第６の入力端子と、ディジタル
信号をアナログ信号に変換したアナログ信号に対する被
測定物の応答出力信号を入力する第７の入力端子と、第
６の入力端子および第７の入力端子に入力されるアナロ
グ信号を選択切り換えする第１の信号切り換え手段と、
第１の信号切り換え手段の出力をディジタル信号に変換
する第４の変換手段と、第１の信号切り換え手段に同期
して第４の変換手段の出力を切り換え出力する第２の信
号切り換え手段と、第１の信号切り換え手段が第６の入
力端子に入力されたアナログ信号を選択したときの第４
の変換手段の出力を記憶する第10の記憶手段と、第１の
信号切り換え手段が第７の入力端子に入力されたアナロ
グ信号を選択したときの第４の変換手段の出力を記憶す
る第11の記憶手段と、第10の記憶手段に記憶されている
信号と第９の記憶手段に記憶されている信号間の時間ず
れを第９の記憶手段に記憶されている信号を基準として
検出し第10の記憶手段に記憶されている信号に対して補
正する第11の演算手段と、第11の演算手段の出力を記憶
する第12の記憶手段と、第11の記憶手段に記憶されてい
る信号と第９の記憶手段に記憶されている信号間の時間
ずれを第９の記憶手段に記憶されている信号を基準とし
て検出し第11の記憶手段に記憶されている信号に対して
補正する第12の演算手段と、第12の演算手段の出力を記
憶する第13の記憶手段と、第９の記憶手段に記憶されて
いる信号のスペクトルを算出する第13の演算手段と、第
12の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出
する第14の演算手段と、第13の記憶手段に記憶されてい
る信号のスペクトルを算出する第15の演算手段と、第14
の演算手段の出力を第13の演算手段の出力で除算する第
16の演算手段と、第16の演算手段の出力を記憶する第14
の記憶手段と、第15の演算手段の出力を第13の演算手段
の出力で除算する第17の演算手段と、第17の演算手段の
出力を記憶する第15の記憶手段と、第15の記憶手段に記
憶されている信号を第14の記憶手段に記憶されている信
号で除算する第18の演算手段と、第18の演算手段の出力
を記憶する第16の記憶手段と、第16の記憶手段に記憶さ
れている信号を時間軸信号に変換する第19の演算手段で
構成され、前記第19の演算手段の出力を出力するように
したものである。

【００１７】

【作用】本発明は上記した構成により、以下のような作
用をする。すなわち、ディジタルソースなどから読みだ
したディジタル信号を第１の入力端子に入力し、第１の
記憶手段に記憶する。そのとき、第１の信号発生手段は
入力されたディジタル信号に同期した基準信号を発生
し、第１の変換手段に供給する。また、前述のディジタ
ル信号をアナログ信号に変換した信号に対する被測定物
の応答信号を第２の入力端子に入力すると、第１の変換
手段は第１の信号発生手段が出力する基準信号に基づ
き、このアナログ信号をディジタル信号に変換する。変
換された信号は第２の記憶手段に記憶される。次に、第
１の演算手段は、第２の記憶手段に記憶されている信号
と第１の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを
第１の記憶手段に記憶されている信号を基準として補正
する。そして、第１の演算手段の出力である、第２の記
憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が第３の
記憶手段に記憶される。次に、第２の演算手段は第１の
記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出す
る。同様に第３の演算手段は第３の記憶手段に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する。そして、第４の演
算手段は第３の演算手段の出力を第２の演算手段の出力
で除算を行う。第４の演算手段の出力は第４の記憶手段
に記憶される。次に、第５の演算手段は第４の記憶手段
に記憶されているスペクトル信号を周波数領域から時間
軸領域に変換する。そして、第５の演算手段の出力を出
力する。すなわち、測定用信号に対する被測定物の出力
信号のスペクトルを測定用信号のスペクトルで周波数領
域において除算し、この除算結果を周波数領域から時間
軸領域に変換してインパルス応答を算出し出力するよう
にしている。

【００１８】また、本発明は上記した構成により、以下
のような作用をする。すなわち、ディジタルソースなど
から読みだしたディジタル信号を第３の入力端子に入力
し、第５の記憶手段に記憶する。第２の信号発生手段は
基準信号を発生し、第２および第３の変換手段に供給す
る。また、前述のディジタル信号を第２の信号発生手段
が発生する基準信号に基づきアナログ信号に変換し、出
力端子から出力する。この出力端子から出力されるアナ
ログ信号を被測定物に供給する。この信号に対する被測
定物の応答信号を第４の入力端子に入力すると、第３の
変換手段は第２の信号発生手段が出力する基準信号に基
づき、このアナログ信号をディジタル信号に変換する。
変換された信号は第６の記憶手段に記憶される。次に、
第６の演算手段は、第６の記憶手段に記憶されている信
号と第５の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれ
を第５の記憶手段に記憶されている信号を基準として補
正する。そして、第６の演算手段の出力である、第６の
記憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が第７
の記憶手段に記憶される。次に、第７の演算手段は第５
の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出す
る。同様に第８の演算手段は第７の記憶手段に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する。そして、第９の演
算手段は第８の演算手段の出力を第７の演算手段の出力
で除算を行う。第９の演算手段の出力は第８の記憶手段
に記憶される。次に、第10の演算手段は第８の記憶手段
に記憶されているスペクトル信号を周波数領域から時間
軸領域に変換する。そして、第10の演算手段の出力を出
力する。すなわち、測定用信号に対する被測定物の出力
信号のスペクトルを測定用信号のスペクトルで周波数領
域において除算し、この除算結果を周波数領域から時間
軸領域に変換してインパルス応答を算出し出力するよう
にしている。

【００１９】さらに、本発明は上記した構成により、以
下のような作用をする。すなわち、ディジタルソースな
どから読みだしたディジタル信号を第５の入力端子に入
力し、第９の記憶手段に記憶する。そのとき、第３の信
号発生手段は入力されたディジタル信号に同期した基準
信号を発生し、第４の変換手段に供給する。また、前述
のディジタル信号をアナログ信号に変換したアナログ信
号を第６の入力端子に、前述のディジタル信号をアナロ
グ信号に変換した信号に対する被測定物の応答信号を第
７の入力端子に入力すると、第１の信号切り換え手段は
第６および第７の入力端子に入力されるアナログ信号を
選択切り換えする。第１の信号切り換え手段で選択した
信号が第４の変換手段に入力される。第４の変換手段は
第３の信号発生手段が出力する基準信号に基づき、この
アナログ信号をディジタル信号に変換する。そして、第
６の入力端子から入力された信号を変換した信号は第２
の信号切り換え手段により第10の記憶手段に出力され、
第10の記憶手段で記憶される。また、第７の入力端子か
ら入力された信号を変換した信号は第２の信号切り換え
手段により第11の記憶手段に出力され、第11の記憶手段
で記憶される。次に、第11の演算手段は、第10の記憶手
段に記憶されている信号と第９の記憶手段に記憶されて
いる信号間の時間ずれを第９の記憶手段に記憶されてい
る信号を基準として補正する。そして、第11の演算手段
の出力である、第10の記憶手段に記憶されている信号に
対する補正出力が第12の記憶手段に記憶される。同様
に、第12の演算手段は、第11の記憶手段に記憶されてい
る信号と第９の記憶手段に記憶されている信号間の時間
ずれを第９の記憶手段に記憶されている信号を基準とし
て補正する。そして、第12の演算手段の出力である、第
11の記憶手段に記憶されている信号に対する補正出力が
第13の記憶手段に記憶される。次に、第13の演算手段は
第９の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算
出する。同様に、第14の演算手段は第12の記憶手段に記
憶されている信号のスペクトルを算出する。そして、第
15の演算手段は第13の記憶手段に記憶されている信号の
スペクトルを算出する。そして、第16の演算手段は第14
の演算手段の出力を第13の演算手段の出力で除算を行
う。第16の演算手段の出力は第14の記憶手段に記憶され
る。同様に、第17の演算手段は第16の演算手段の出力を
第14の演算手段の出力で除算を行う。第17の演算手段の
出力は第15の記憶手段に記憶される。次に、第18の演算
手段は、第15の記憶手段に記憶されている信号を第14の
記憶手段に記憶されている信号で除算を行う。そして、
その出力は第16の記憶手段に記憶される。そして、第19
の演算手段は、第８の記憶手段に記憶されているスペク
トル信号を周波数領域から時間軸領域に変換する。そし
て、第19の演算手段の出力を出力する。すなわち、測定
用信号に対する被測定物の出力信号のスペクトルを測定
用信号のスペクトルで周波数領域において除算し、この
除算結果を周波数領域から時間軸領域に変換してインパ
ルス応答を算出し出力するようにしている。

【００２０】

【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図１は本発明の第１の実施例におけ
るインパルス応答測定装置のブロック図を示す。図１に
おいて、１はディジタルソースなどから読みだしたディ
ジタル信号を入力する入力端子、２は入力端子１に入力
されたディジタル信号を記憶するメモリ、３は入力端子
１から入力されるディジタル信号に同期して基準信号を
発生する信号発生器、４はディジタル信号をアナログ信
号に変換した信号に対する被測定物の応答出力信号を入
力する入力端子、５は入力端子４に入力されたアナログ
信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、６はＡ
／Ｄ変換器５の出力を記憶するメモリ、７はメモリ６に
記憶されている信号とメモリ２に記憶されている信号間
との時間ずれをメモリ２に記憶されている信号を基準に
して補正する演算器、８は演算器７の出力を記憶するメ
モリ、９はメモリ２に記憶されている信号のスペクトル
を算出する演算器、10はメモリ８に記憶されている信号
のスペクトルを算出する演算器、11は演算器10の出力を
演算器９の出力で除算する演算器、12は演算器11の出力
を記憶するメモリ、13はメモリ12の記憶されているスペ
クトル信号を時間軸信号に変換する演算器、14は演算器
13の出力信号を出力する出力端子である。

【００２１】また、図２は第１の実施例におけるインパ
ルス応答測定装置の入力端子１，４に入力されるディジ
タル信号とアナログ信号を説明する説明図であり、21は
コンパクトディスク（ＣＤ）、22はＣＤ21を再生するＣ
Ｄプレーヤ、23はＣＤプレーヤ22のアナログ信号出力端
子、24はＣＤプレーヤ22のディジタル信号出力端子、25
は被測定物である。図３および図４は第１の実施例のイ
ンパルス応答測定装置における演算器７の動作説明図で
ある。

【００２２】このように構成された本発明の第１の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。たとえばホワイトノイズが記録されて
いるＣＤ21の所定のトラックをＣＤプレーヤ22で再生す
る。ディジタル信号出力端子24からは、ＣＤプレーヤ22
がＣＤ21から読み取ったディジタル信号が出力される。
このディジタル信号出力端子24を入力端子１に接続する
と、入力されたディジタル信号はメモリ２に記憶され
る。また、これと同時に信号発生器３は入力端子１から
入力されるディジタル信号に同期した基準信号を発生
し、その出力信号をＡ／Ｄ変換器５に供給する。

【００２３】さらに、同時刻にＣＤプレーヤ22のアナロ
グ信号出力端子23からは入力端子１に入力されるディジ
タル信号をアナログ信号に変換した信号が出力され、被
測定物25に供給される。すると、被測定物25は入力され
たアナログ信号に対する応答出力信号を出力し、この出
力信号は入力端子４に入力される。入力端子４から入力
されたアナログ信号はＡ／Ｄ変換器５に入力される。そ
して、Ａ／Ｄ変換器５は信号発生器３の出力信号を動作
基準として入力されたアナログ信号をディジタル信号に
変換する。そして、入力端子４から入力されたアナログ
信号をＡ／Ｄ変換器５でディジタル信号に変換した信号
がメモリ６に記憶される。すなわち、入力端子４に入力
されたアナログ信号は、入力端子１に入力されるディジ
タル信号と同期してディジタル信号に変換され、メモリ
６に記憶される。

【００２４】ところで、このようにしてメモリ２，６に
記憶された信号間には図３に示すような時間ずれＴ₀が
存在する。すなわち、入力端子１に入力されるディジタ
ル信号に同期してＡ／Ｄ変換器５が動作するため本来メ
モリ２とメモリ６に記憶されている信号間には時間ずれ
は存在しない。しかし、実際素子の動作速度には限界が
あるため時間ずれは発生する。しかし、そのずれは一定
である。すなわち、ｎサンプル目の時間ずれΔＴ（n)は
（数３）で表現できる。ΔＴ(n) を図３に示す。

【００２５】

【数３】

【００２６】そして、演算器７は、この時間ずれをメモ
リ２に記憶されている信号を基準として除去する。ここ
で、演算器７の動作は時間ずれの検出、検出した時
間ずれの補正の２段階からなる。この動作を説明する。
まず、メモリ２とメモリ６に記憶されている信号間の時
間ずれの検出は、メモリ２から時間ずれを検出するデー
タを中心に所定サンプル数のデータを抽出する。次に、
メモリ２から抽出したデータに相当するデータをメモリ
６からも抽出する。そして、このメモリ６から抽出した
データがサンプリングされた時刻からｋ／Ｎサンプル
（ｋ＝０，１，２，…，Ｎ−１）時間遅れしたＮ組のデ
ータを生成する。このＮ組のデータを生成する手法の一
例を以下に説明する。サンプリング周期をＴ_s、標本化
関数をＳ(m) （ｍ＝−Ｎ₀，…，０，…，Ｎ₀）とする
とｋ／Ｎサンプルに相当する時間ｔ _d(k) は（数４）と
なる。

【００２７】

【数４】

【００２８】また、メモリ６から抽出したデータをｘ
(i) （ｉ＝１，２，…，Ｍ）とすれば、ｘ(i) に対して
ｋ／Ｎサンプル時間遅れしたデータｘ_c（i,k)は、（数
５）となる。このｘ_c（i,k)を図４(a) に示す。

【００２９】

【数５】

【００３０】そして、以上の処理で生成したＮ組のデー
タｘ_c（i,k)とメモリ２から抽出したデータｙ(i) （ｉ
＝１，２，…，Ｍ）との相関係数Ｃ(k) を（数６）に基
づいて求める。

【００３１】

【数６】

【００３２】このように算出した相関係数が最大となる
とき、(k=k₀)の時間遅れｔ_d(k₀)がメモリ２とメモリ６
に記憶されている信号間の時間ずれとなる。このＣ(k)
を図４(b) に示す。ここで、Ｎを大きくすれば、時間ず
れの検出精度は向上する。

【００３３】次に、検出した時間ずれをメモリ６に記憶
されている信号に対して（数５）を用いて補正する。そ
して、この補正した信号がメモリ８に記憶される。以上
の処理により、メモリ２に記憶されている信号とメモリ
８に記憶されている信号間の時間ずれは除去され、メモ
リ８に記憶されている信号は、被測定物25のＣＤプレー
ヤ22がＣＤ21からメモリ２に記憶されている信号と同一
の信号を再生したアナログ再生信号に対する応答信号を
ディジタル信号に変換した信号である。

【００３４】以上のメモリ２およびメモリ８に記憶され
ているデータに対して信号処理を行い被測定物25のイン
パルス応答を測定するわけであるが、ここではまずその
測定原理について説明する。メモリ２およびメモリ８に
記憶されている信号をそれぞれｘ(i) ，ｙ(i) 、被測定
物25のインパルス応答をｈ(i) （ｉ＝０，１，…，Ｎ−
１）とすると、（数７）が成立する。

【００３５】

【数７】

【００３６】さらに、（数７）を周波数領域で記述する
と（数８）となる。

【００３７】

【数８】

【００３８】ただし、ｘ(i) ，ｙ(i) ，ｈ(i) のスペク
トルをＸ(k) ，Ｙ(k) ，Ｈ(k) とする。（数８）からＨ
(k) は（数９）で算出できる。

【００３９】

【数９】

【００４０】したがって、ｈ(i) はＨ(k) を周波数領域
から時間軸領域に変換することで算出することができ
る。次に、各部の動作説明を行う。演算器９，10はそれ
ぞれメモリ２および８に記憶されている信号のスペクト
ルを求める。ここで、時間離散信号からスペクトルを算
出する手法の一例としてＤＦＴを用いる。メモリ２およ
びメモリ８に記憶されている信号をそれぞれｘ(i) ，ｙ
(i) とすれば、それらのスペクトルのＸ(k)，Ｙ(k) は
（数10）、（数11）で表現できる。

【００４１】

【数10】

【００４２】

【数11】

【００４３】次に、演算器11は、このように算出したメ
モリ２および８に記憶されている信号のスペクトルの比
Ｈ(k) を（数９）に基づいて算出する。そして、算出さ
れた比がメモリ12に記憶される。次に、メモリ12に記憶
されているスペクトル信号が演算器13で（数12）に基づ
き再び時間軸信号ｈ(i) に変換される。

【００４４】

【数12】

【００４５】この変換され信号ｈ(i) が出力端子14から
出力される。したがって、本発明の第１の実施例では、
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
その読み取ったディジタル信号をアナログ信号に変換し
た信号に対する被測定物の応答出力であるアナログ信号
をソースに記録されているディジタル信号と同期した形
でディジタル信号に変換して、両者の時間ずれを除去し
た後、両信号のスペクトルを算出する。そして、周波数
領域上で両者の比を取り再び時間軸信号に変換する。以
上の処理より、被測定物のインパルス応答を測定するこ
とができる。

【００４６】なお、第１の実施例では、演算器７におい
てメモリ２，６に記憶されている信号間の時間ずれを算
出する際に、ｋ／Ｎサンプル時間差の有る信号を生成し
た。この生成に標本化関数を用いたが、これは以下の手
法を用いても可能である。すなわち、メモリ６から抽出
した信号をＤＦＴし、これに対して、振幅が１で、位相
Ｐ_h(k) が（数13）で表現される伝達関数Ｇ(k) （数1
4）を乗算し、乗算結果をＩＤＦＴすることでｋ／Ｎサ
ンプル時間遅れを持つデータが生成できる。

【００４７】

【数13】

【００４８】

【数14】

【００４９】また、第１の実施例では、演算器７におい
てメモリ２に記憶されている信号とメモリ６に記憶され
ている信号間の時間ずれを検出する際に、各メモリに記
憶されている信号の一ポイントを中心としたデータを抽
出して信号処理を行ったが、複数ポイントに対して時間
ずれを検出し、補正しても良い。

【００５０】さらに、第１の実施例では、１回の測定デ
ータからのみインパルス応答を測定しているが、測定時
に混入する外部雑音を除去するために複数回測定を行
い、得られた結果を加算平均しても良い。また、第１の
実施例では、ディジタルソースに記録されているディジ
タル信号を基準にして、Ａ／Ｄ変換時に生じるＡ／Ｄ変
換のラッチタイミングなどの時間ずれを除去しているた
め、従来のように加算平均を行うことによる測定データ
の品質劣化が生じない。図５は本発明の第２の実施例に
おけるインパルス応答測定装置のブロック図を示す。図
５において、51はディジタルソースなどから読みだした
ディジタル信号を入力する入力端子、52は入力端子51に
入力されたディジタル信号を記憶するメモリ、53は基準
信号を発生する信号発生器、54は入力端子51に入力され
るディジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換
器、55はＤ／Ａ変換器54の出力を出力する出力端子、56
は出力端子55から出力されるアナログ信号に対する被測
定物の応答出力を入力する入力端子、57は入力端子56か
ら入力されるアナログ信号をディジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器、58はＡ／Ｄ変換器57の出力を記憶するメ
モリ、59はメモリ58に記憶されている信号とメモリ52に
記憶されている信号間との時間ずれをメモリ52に記憶さ
れている信号を基準にして補正する演算器、510 は演算
器59の出力を記憶するメモリ、511 はメモリ52に記憶さ
れている信号のスペクトルを算出する演算器、512 はメ
モリ510 に記憶されている信号のスペクトルを算出する
演算器、513 は演算器512 の出力を演算器511 の出力で
除算する演算器、514 は演算器513 の出力を記憶するメ
モリ、515 はメモリ514 に記憶されているスペクトル信
号を時間軸信号に変換する演算器、516 は演算器515 の
出力信号を出力する出力端子である。

【００５１】このように構成された本発明の第２の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。まず、入力端子51にディジタルソース
などから読み出したディジタル信号が入力され、メモリ
52に記憶される。ここで、たとえば入力端子51に入力さ
れるディジタル信号は、第１の実施例のようなＣＤプレ
ーヤ22のディジタル出力端子24から出力されるディジタ
ル信号や、あるメモリに記憶されているディジタル信号
であっても良い。また、信号発生器53はＤ／Ａ変換器54
やＡ／Ｄ変換器57の動作基準となる信号（サンプリング
クロック）を発生し、Ｄ／Ａ変換器54およびＡ／Ｄ変換
器57にサンプリングクロックを供給する。

【００５２】Ｄ／Ａ変換器54は信号発生器53から出力さ
れるサンプリング信号のタイミングに従って入力端子51
から入力されるディジタル信号をアナログ信号に変換
し、出力端子55から出力する。出力端子55から出力され
たアナログ信号を被測定物に供給すると、被測定物は入
力された信号に対する応答出力信号を出力する。この応
答出力信号を入力端子56を介して入力する。すると、Ａ
／Ｄ変換器57は信号発生器53から出力されるサンプリン
グクロックのタイミングに従って、入力端子56から入力
されたアナログ信号をディジタル信号に変換する。変換
されたディジタル信号はメモリ58に記憶される。すなわ
ち、メモリ52とメモリ58にそれぞれ記憶されているディ
ジタル信号間には、原理的には時間ずれが存在しなく
て、実存する電子素子の動作速度に起因する時間ずれの
みが存在する。

【００５３】以下、メモリ52、メモリ58、演算器59、メ
モリ510 、演算器511 、演算器512、演算器513 、メモ
リ514 、演算器515 、出力端子516 は、それぞれ第１の
実施例のメモリ２、メモリ６、演算器７、メモリ８、演
算器９、演算器10、演算器11、メモリ12、演算器13、出
力端子14と全く同一の動作を行うのでその動作説明は省
略する。

【００５４】したがって、本発明の第２の実施例では、
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
その読みだしたディジタル信号を信号発生器で発生させ
た基準信号に基づきアナログ信号に変換しこの信号に対
する被測定物の応答出力であるアナログ信号を前述の基
準信号に基づいてディジタル信号に変換して、両者の時
間ずれを除去した後、両信号のスペクトルを算出する。
そして、周波数領域上で両者の比を取り再び時間軸信号
に変換する。以上の処理より、被測定物のインパルス応
答を測定することができる。

【００５５】なお、第２の実施例において、Ｄ／Ａ変換
器54は入力端子51から入力されたディジタル信号をアナ
ログ信号に変換したが、メモリ52に記憶されているディ
ジタル信号をアナログ信号に変換して出力端子55から出
力するようにしても良い。

【００５６】図６は本発明の第３の実施例におけるイン
パルス応答測定装置のブロック図を示す。図６におい
て、61はディジタルソースなどから読みだしたディジタ
ル信号を入力する入力端子、62は入力端子61に入力され
たディジタル信号を記憶するメモリ、63は基準信号を発
生する信号発生器、64は入力端子61に入力されるディジ
タル信号をアナログ信号に変更した信号を入力する入力
端子、65は入力端子64に入力されるアナログ信号に対す
る被測定物の出力応答信号を入力する入力端子、66は入
力端子64および入力端子65から入力される信号を選択切
り換えする信号切り換え器、67は信号切り換え器66の出
力をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、68はＡ／
Ｄ変換器67の出力を信号切り換え器66に同期して切り換
える信号切り換え器、69は信号切り換え器66が入力端子
64に入力される信号を選択したときのＡ／Ｄ変換器67の
出力を選択切り換えした信号切り換え器68の出力を記憶
するメモリ、610 は信号切り換え器66が入力端子65に入
力される信号を選択したときのＡ／Ｄ変換器67の出力を
選択切り換えした信号切り換え器68の出力を記憶するメ
モリ、611 はメモリ69に記憶されている信号とメモリ62
に記憶されている信号間との時間ずれをメモリ62に記憶
されている信号を基準にして補正する演算器、612 は演
算器611 の出力を記憶するメモリ、613 はメモリ610 に
記憶されている信号とメモリ62に記憶されている信号間
との時間ずれをメモリ62に記憶されている信号を基準に
して補正する演算器、614 は演算器613 の出力を記憶す
るメモリ、615 はメモリ62に記憶されている信号のスペ
クトルを算出する演算器、616 はメモリ612 に記憶され
ている信号のスペクトルを算出する演算器、617 はメモ
リ614 に記憶されている信号のスペクトルを算出する演
算器、618 は演算器616 の出力を演算器615 の出力で除
算する演算器、619 は演算器617 の出力を演算器615 の
出力で除算する演算器、620 は演算器619 の出力を演算
器618 の出力で除算する演算器、621 は演算器620 の出
力を記憶するメモリ、622 はメモリ621 に記憶されてい
るスペクトル信号を時間軸信号に変換する演算器、623
は演算器622の出力信号を出力する出力端子である。図
７は第３の実施例の動作概念を説明する説明図である。

【００５７】このように構成された本発明の第３の実施
例のインパルス応答測定装置について、以下その動作に
ついて説明する。まず、入力端子61にディジタルソース
などから読み出したディジタル信号が入力され、メモリ
62に記憶される。ここで、たとえば入力端子61に入力さ
れるディジタル信号は、第１の実施例のようなＣＤプレ
ーヤ22のディジタル出力端子24から出力されるディジタ
ル信号とする。また、信号発生器63は入力端子61から入
力されるディジタル信号に同期してＡ／Ｄ変換器67の動
作基準となる信号（サンプリングクロック）を発生し、
Ａ／Ｄ変換器67にサンプリングクロックを供給する。

【００５８】また、入力端子64には、入力端子61から入
力されるディジタル信号をアナログ信号に変換した信
号、たとえばＣＤプレーヤ22のアナログ出力端子23から
出力されるアナログ信号が入力される。このアナログ信
号は信号切り換え器66により選択されＡ／Ｄ変換器67に
入力され、信号発生器63の出力するクロックに同期して
入力端子64から入力されるアナログ信号をディジタル信
号に変換する。そして、信号切り換え器68は信号切り換
え器66に同期して切り換わりＡ／Ｄ変換器67の出力をメ
モリ69で記憶される。同様に、入力端子64から入力され
るアナログ信号に対する被測定物の応答出力、たとえば
被測定物25の出力信号を入力端子65に入力される。そし
て、信号切り換え器66で選択されＡ／Ｄ変換器67で信号
発生器63の出力クロックを動作基準としてアナログ信号
をディジタル信号に変換し、信号切り換え器68で選択切
り換えされメモリ610 に記憶される。

【００５９】メモリ62、メモリ69およびメモリ610 にそ
れぞれ記憶されているディジタル信号間には、原理的に
は時間ずれが存在しなくて、実存する電子素子の動作速
度に起因する時間ずれのみが存在する。この時間ずれを
メモリ62に記憶されている信号を基準にして、演算器61
1 ではメモリ69とメモリ62に記憶されている信号間の時
間ずれを検出し、メモリ69に記憶されている信号に対し
てその時間ずれを補正し、その出力はメモリ612 に記憶
される。同様に、この時間ずれをメモリ62に記憶されて
いる信号を基準にして、演算器613 ではメモリ610 とメ
モリ62に記憶されている信号間の時間ずれを検出し、メ
モリ610 に記憶されている信号に対してその時間ずれを
補正し、その出力はメモリ613 に記憶される。この演算
器611 ，613 の動作は第１の実施例における演算器７と
同一の動作をする。

【００６０】次に、メモリ62，612 ，614 に記憶されて
いる信号のスペクトルがそれぞれ演算器615 ，616 ，61
7 で算出される。この演算器615 ，616 ，617 は第１の
実施例における演算器10と同一の動作を行う。そして、
演算器618 は演算器616 の出力を演算器615 の出力で除
算する。また、演算器619 は演算器617 の出力を演算器
615 の出力で除算する。この演算器618 および619 は第
１の実施例の演算器11と同一の動作をする。次に、演算
器620 は演算器619 の出力を演算器618 の出力で除算す
る。その結果が、メモリ621 に記憶される。そして、演
算器622 はメモリ621 に記憶されているスペクトル信号
を時間軸信号に変換する。この演算器622 は第１の実施
例における演算器13と同一の動作を行う。そして、演算
器622 の出力が出力端子623 から出力される。

【００６１】次に、演算器618 ，619 ，622 の動作原理
を図７を用いて説明する。たとえばＣＤプレーヤ22のア
ナログ信号出力部分の伝達関数71をＨ₁(W) 、Ａ／Ｄ変
換器67の伝達関数72をＨ₂(w) 、被測定物25の伝達関数
73をＨ₃(w) とすれば、入力端子64から入力される信号
の入力端子61から入力される信号に対する伝達関数をＧ
₁(w) 、また、入力端子65から入力される信号の入力端
子61から入力される信号に対する伝達関数をＧ₂(w) と
すれば、信号切り換え器74,75 で選択切り換えられたと
きのそれぞれの関係は（数15）、（数16）で表すことが
できる。

【００６２】

【数15】

【００６３】

【数16】

【００６４】しかし、本来測定すべき伝達関数はＨ
₃(w) であるため、（数17）を用いることでＨ₃(w) が
算出できる。

【００６５】

【数17】

【００６６】このＨ₃(w) を時間軸信号に変換すること
で被測定物のインパルス応答を算出できる。したがっ
て、本発明の第３の実施例では、ディジタルソースなど
から読みだしたディジタル信号とその読みだしたディジ
タル信号を発生させた基準信号に基づきアナログ信号に
変換し、この信号に対する被測定物の応答出力であるア
ナログ信号を前述の基準信号に基づいてディジタル信号
に変換して、両者の時間ずれを除去した後、両信号のス
ペクトルを算出し、そして、周波数領域上で両者の比を
取り再び時間軸信号に変換する。以上の処理より、被測
定物のインパルス応答を測定することができる。

【００６７】すなわち、本発明の第３の実施例では、デ
ィジタルソースなどから読みだしたディジタル信号とそ
の読み取ったディジタル信号をアナログ信号に変換した
信号とこのアナログ信号に対する被測定物の応答出力で
あるアナログ信号をソースに記録されているディジタル
信号と同期した形でディジタル信号に変換して、三者の
時間ずれを除去した後、３信号のスペクトルを算出す
る。そして、周波数領域上でディジタルソースなどから
読みだしたディジタル信号とその信号をアナログ信号に
変換した信号との比とディジタルソースなどから読みだ
したディジタル信号とその信号をアナログ信号に変換し
た信号に対する被測定物の応答出力との比を算出し、さ
らに両者の比を算出し、再び時間軸信号に変換する。以
上の処理より、測定システムの特性の影響を受けずに被
測定物のインパルス応答を測定することができる。

【００６８】

【発明の効果】以上のように、本発明によればディジタ
ルソースなどから読みだしたディジタル信号をアナログ
信号に変換した信号に対する被測定物の応答出力信号を
ディジタルソースなどから読みだしたディジタル信号と
同期して入力し、ディジタル信号に変換する。この変換
した入力信号とディジタル信号の時間ずれをディジタル
信号を基準として補正し、補正した信号とディジタル信
号との比を周波数領域で算出し、再び時間軸信号に変換
することで被測定物のインパルス応答を算出する。

【００６９】したがって、本発明では、測定信号にイン
パルスを用いる必要がないため、信号が持つ時間軸方向
の平均パワーが大きく、信号の持つ周波数対域が広帯域
な信号たとえばホワイトノイズを用いることで、スピー
カのような被測定物に対してスピーカの振動板の振動振
幅が小振幅のときから大振幅のときまでのインパルス応
答を測定することが可能となる効果が得られる。また、
測定信号にインパルスを用いる必要がなくディジタルソ
ースに記録されている信号を用いるため、ディジタルソ
ースのサンプリング周波数および量子化数と同等の特性
を持つＡ／Ｄ変換器を用いることで高精度な測定が可能
となる効果が得られる。さらに、ディジタルソースに記
録されているディジタル信号を基準とし、Ａ／Ｄ変換時
に生じるサンプリング開始点の不揃いを除去することで
測定データの再現性などにおよぼす影響を除去して測定
することが可能となる効果が得られる。さらに、被測定
物に入力するアナログ信号すなわちディジタルソースな
どから読みだしたディジタル信号をアナログ信号に変換
した信号のディジタルソースなどから読みだしたディジ
タル信号に対する伝達関数と被測定物のディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号に対する伝達関数
を算出し、両者の比を算出することで、ディジタルソー
スなどから読みだしたディジタル信号をアナログ信号に
変換する部分および入力されたアナログ信号をディジタ
ル信号に変換する部分の測定信号に対する影響を除去し
て、被測定物のインパルス応答を測定することができる
効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。

【図２】本発明の第１の実施例におけるインパルス応答
測定装置に入力されるディジタル信号とアナログ信号を
説明する説明図である。

【図３】本発明の第１の実施例のインパルス応答測定装
置における時間ずれを説明する説明図である。

【図４】本発明の第１の実施例のインパルス応答測定装
置における演算器の動作を説明する説明図である。

【図５】本発明の第２の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。

【図６】本発明の第３の実施例におけるインパルス応答
測定装置のブロック図である。

【図７】本発明の第３の実施例の動作を説明する説明図
である。

【図８】従来のインパルス応答測定装置である。

【図９】同従来のインパルス応答測定装置における信号
発生器の動作説明図である。

【図10】同従来のインパルス応答測定装置におけるＡ／
Ｄ変換器の動作説明図である。

【図11】同従来のインパルス応答測定装置における演算
器の動作説明図である。

【図12】同従来のインパルス応答測定装置における演算
器の動作フロー図である。

【符号の説明】

１入力端子２メモリ３入力端子４Ａ／Ｄ変換器５信号発生器６メモリ７演算器８メモリ９演算器 10 演算器 11 演算器 12 メモリ 13 演算器 14 出力端子

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｈ０４Ｒ 3/00 ３１０ 8622−5Ｈ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディジタルソースなどから読みだしたデ
ィジタル信号を入力する第１の入力端子と、前記第１の
入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第１の
記憶手段と、前記第１の入力端子に入力されるディジタ
ル信号に同期した基準信号を発生する第１の信号発生手
段と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換したア
ナログ信号に対する被測定物の応答出力信号を入力する
第２の入力端子と、前記第２の入力端子に入力されるア
ナログ信号をディジタル信号に変換する第１の変換手段
と、前記第１の変換手段の出力を記憶する第２の記憶手
段と、前記第２の記憶手段に記憶されている信号と前記
第１の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを前
記第１の記憶手段に記憶されている信号を基準として検
出し前記第２の記憶手段に記憶されている信号に対して
補正する第１の演算手段と、前記第１の演算手段の出力
を記憶する第３の記憶手段と、前記第１の記憶手段に記
憶されている信号のスペクトルを算出する第２の演算手
段と、前記第３の記憶手段に記憶されている信号のスペ
クトルを算出する第３の演算手段と、前記第３の演算手
段の出力を前記第２の演算手段の出力で除算する第４の
演算手段と、前記第４の演算手段の出力を記憶する第４
の記憶手段と、前記第４の記憶手段に記憶されている信
号を時間軸信号に変換する第５の演算手段とを備え、前
記第５の演算手段の出力を出力することを特徴とするイ
ンパルス応答測定装置。
【請求項２】第１の変換手段は第１の信号発生手段が
出力する基準信号に基づき動作することを特徴とする請
求項１記載のインパルス応答測定装置。
【請求項３】ディジタルソースなどに記録されている
ディジタル信号を入力する第３の入力端子と、前記第３
の入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第５
の記憶手段と、基準信号を発生する第２の信号発生手段
と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換する第２
の変換手段と、前記第２の変換手段の出力信号を出力す
る出力端子と、前記出力端子から出力されるアナログ信
号に対する被測定物の応答出力信号を入力する第４の入
力端子と、前記第４の入力端子に入力されるアナログ信
号をディジタル信号に変換する第３の変換手段と、前記
第３の変換手段の出力を記憶する第６の記憶手段と、前
記第６の記憶手段に記憶されている信号と前記第５の記
憶手段に記憶されている信号間の時間ずれを前記第５の
記憶手段に記憶されている信号を基準として検出し前記
第６の記憶手段に記憶されている信号に対して補正する
第６の演算手段と、前記第６の演算手段の出力を記憶す
る第７の記憶手段と、前記第５の記憶手段に記憶されて
いる信号のスペクトルを算出する第７の演算手段と、前
記第７の記憶手段に記憶されている信号のスペクトルを
算出する第８の演算手段と、前記第８の演算手段の出力
を前記第７の演算手段の出力で除算する第９の演算手段
と、前記第９の演算手段の出力を記憶する第８の記憶手
段と、前記第８の記憶手段に記憶されている信号を時間
軸信号に変換する第10の演算手段とを備え、前記第10の
演算手段の出力を出力することを特徴とするインパルス
応答測定装置。
【請求項４】第２の変換手段および第３の変換手段は
第２の信号発生手段が出力する基準信号に基づき動作す
ることを特徴とする請求項３記載のインパルス応答測定
装置。
【請求項５】ディジタルソースなどから読みだしたデ
ィジタル信号を入力する第５の入力端子と、前記第５の
入力端子に入力されるディジタル信号を記憶する第９の
記憶手段と、前記第５の入力端子に入力されるディジタ
ル信号に同期した基準信号を発生する第３の信号発生手
段と、前記ディジタル信号をアナログ信号に変換したア
ナログ信号を入力する第６の入力端子と、前記ディジタ
ル信号をアナログ信号に変換したアナログ信号に対する
被測定物の応答出力信号を入力する第７の入力端子と、
前記第６の入力端子および前記第７の入力端子に入力さ
れるアナログ信号を選択切り換えする第１の信号切り換
え手段と、前記第１の信号切り換え手段の出力をディジ
タル信号に変換する第４の変換手段と、前記第４の変換
手段の出力を前記第１の信号切り換え手段と同期して切
り換え出力する第２の信号切り換え手段と、前記第１の
信号切り換え手段が前記第６の入力端子に入力されたア
ナログ信号を選択したときの前記第２の信号切り換え手
段が出力する前記第４の変換手段の出力を記憶する第10
の記憶手段と、前記第１の信号切り換え手段が前記第７
の入力端子に入力されたアナログ信号を選択したときの
前記第２の信号切り換え手段が出力する前記第４の変換
手段の出力を記憶する第11の記憶手段と、前記第10の記
憶手段に記憶されている信号と前記第９の記憶手段に記
憶されている信号間の時間ずれを前記第９の記憶手段に
記憶されている信号を基準として検出し前記第10の記憶
手段に記憶されている信号に対して補正する第11の演算
手段と、前記第11の演算手段の出力を記憶する第12の記
憶手段と、前記第11の記憶手段に記憶されている信号と
前記第９の記憶手段に記憶されている信号間の時間ずれ
を前記第９の記憶手段に記憶されている信号を基準とし
て検出し前記第11の記憶手段に記憶されている信号に対
して補正する第12の演算手段と、前記第12の演算手段の
出力を記憶する第13の記憶手段と、前記第９の記憶手段
に記憶されている信号のスペクトルを算出する第13の演
算手段と、前記第12の記憶手段に記憶されている信号の
スペクトルを算出する第14の演算手段と、前記第13の記
憶手段に記憶されている信号のスペクトルを算出する第
15の演算手段と、前記第14の演算手段の出力を前記第13
の演算手段の出力で除算する第16の演算手段と、前記第
16の演算手段の出力を記憶する第14の記憶手段と、前記
第15の演算手段の出力を前記第13の演算手段の出力で除
算する第17の演算手段と、前記第17の演算手段の出力を
記憶する第15の記憶手段と、前記第15の記憶手段に記憶
されている信号を前記第14の記憶手段に記憶されている
信号で除算する第18の演算手段と、前記第18の演算手段
の出力を記憶する第16の記憶手段と、前記第16の記憶手
段に記憶されている信号を時間軸信号に変換する第19の
演算手段とを備え、前記第19の演算手段の出力を出力す
ることを特徴とするインパルス応答測定装置。
【請求項６】第４の変換手段は第３の信号発生手段が
出力する基準信号に基づき動作することを特徴とする請
求項５記載のインパルス応答測定装置。