JPH05149743A - Device for evaluating belt-like object to be measured - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To standardize devices without using any shift register by performing addition and subtraction on pulses outputted when a belt-like object to be inspected is carried in corresponding to the carrying direction of the object. CONSTITUTION:A plurality of inspecting devices 1a-1d are installed along the advancing direction A of the carrying line of a beltlike object T to be inspected. The devices 1a-1d respectively inspect the object T for, for example, qualities, insufficient thicknesses, surface defects, etc. In order to synchronize the operations of various kinds of equipment constituting the carrying line to each other, a loop L is provided and the length of the loop L is detected 3. A line synchronizing pulse generating apparatus 5 detects the running amount of the line by generating pulses synchronously to the movement of the object T and an adding/subtracting counter 7 adds/subtracts the pulse signals outputted from the apparatus 5 in accordance with the advancing direction of the line. An event generating position calculating circuit 9 calculates the position on the object T where the devices 1a-1d generate inspecting signals from the output of the counter 7, the value at the moment the devices 1a-1d generate the inspecting signals, and length of the loop L. From the calculated results of the circuit 9, a discrimination circuit 11 recognizes the signals generated from the various kinds of inspecting devices to the same point on the object T and judges the quality of the object T as a whole.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、搬送される鋼板、アル
ミ板、織物、フィルム等の帯板状体の製造ラインに於
て、当該ラインに沿って各種品質検査装置を設け、この
帯板状体の品質を検査し評価する帯板状被検体の評価装
置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a production line for a strip-shaped body such as a steel plate, an aluminum plate, a woven fabric, and a film to be conveyed, and various quality inspection devices are provided along the line. The present invention relates to a strip plate-shaped object evaluation device for inspecting and evaluating the quality of a strip.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来の帯板状体の品質を検査し評価する
評価装置を図６を参照して説明する。図６において、帯
板状の被検体Ｔは、ライン進行方向（図中矢印Ａで示
す）に沿って搬送される。また、この搬送の際に、被検
体Ｔは当該搬送ラインに沿って設けられる各種品質検査
装置１、例えば厚み計，幅計，表面検査機などにより、
順次、その品質が検査される。また、この搬送ラインを
構成する各種機器の動作同調のためにループＬが設けら
れることがあり、ループ長検出装置３は常時このループ
Ｌの長さを測定する。さらに、剪断機１３は被検体Ｔを
適当な長さで剪断するもので、通常、短い切板状にする
ラインと、長尺の巻物状にするラインとがある。以下、
長尺の巻物状にするラインを例に説明する。2. Description of the Related Art A conventional evaluation apparatus for inspecting and evaluating the quality of a strip plate will be described with reference to FIG. In FIG. 6, the strip-shaped subject T is transported along the line traveling direction (indicated by arrow A in the figure). In addition, at the time of this transportation, the subject T is detected by various quality inspection devices 1 provided along the transportation line, such as a thickness meter, a width meter, and a surface inspection machine.
The quality is inspected one after another. In addition, a loop L may be provided to synchronize the operation of various devices that make up the transport line, and the loop length detection device 3 constantly measures the length of the loop L. Further, the shearing machine 13 shears the subject T with an appropriate length, and usually has a line for making a short cut plate and a line for making a long scroll. Less than,
An explanation will be given by taking an example of a long scroll line.

【０００３】また従来、このようなラインに於ては、各
種品質検査装置１の信号をラインの動きに合わせてシフ
トレジスタなどでライン下流側の適当な位置までシフト
することにより、被検体Ｔの同一の場所に対する各検査
装置の信号を得て総合して品質を評価することが一般的
な方法である。Further, conventionally, in such a line, signals of various quality inspection devices 1 are shifted to an appropriate position on the downstream side of the line by a shift register or the like in accordance with the movement of the line so that the subject T is examined. It is a general method to obtain signals from each inspection device for the same place and evaluate the quality comprehensively.

【０００４】以下、このシフトレジスタのシフトを用い
た被検体Ｔの各種品質検査装置１による検査位置の一致
方法について説明する。ライン同期パルス発生器５は被
検体Ｔの動きに同期してパルスを発生し、シフトパルス
発生回路１０７はこのパルスをもとにライン単位長進行
毎にパルスを発生し、シフトレジスタ１０９中の信号を
シフトする。各シフトレジスタ１０９ａ、１０９ｂ、１
０９ｃ及び１０９ｄには、それぞれ各検査装置１ａ、１
ｂ、１ｃ及び１ｄの検出信号が入力される。A method of matching the inspection positions by the various quality inspection devices 1 for the subject T using the shift of the shift register will be described below. The line synchronization pulse generator 5 generates a pulse in synchronism with the movement of the subject T, and the shift pulse generation circuit 107 generates a pulse based on this pulse every time the line unit length advances, and a signal in the shift register 109. Shift. Each shift register 109a, 109b, 1
09c and 109d respectively include inspection devices 1a, 1
The detection signals b, 1c and 1d are input.

【０００５】このとき、ループＬより上流側の検査装置
１ａ及び１ｂの検出信号は、ループ長検出装置３が検出
するループＬの長さに応じて書込位置制御回路１０８
ａ、１０８ｂで位置制御された位置にそれぞれの検出信
号が入力される。この検出信号の入力位置は、検査信号
発生時点に於けるシフト終端位置と当該検査装置１間の
距離をシフト単位長で割った値がシフトレジスタビット
数になるように制御される。At this time, the detection signals of the inspection devices 1a and 1b on the upstream side of the loop L are the write position control circuit 108 according to the length of the loop L detected by the loop length detection device 3.
The respective detection signals are input to the positions whose positions are controlled by a and 108b. The input position of this detection signal is controlled so that the value obtained by dividing the distance between the shift end position and the inspection device 1 at the time of generation of the inspection signal by the shift unit length is the number of shift register bits.

【０００６】このようにシフトレジスタでシフトされて
出力される信号は、被検体Ｔの同一場所に対する検査信
号であるので、判定回路１１１でこれらシフトレジスタ
１０９ａ、１０９ｂ、１０９ｃ及び１０９ｄの検出信号
を総合判定して、そのシフトレジスタのビット位置に対
応する被検***置の品質が評価される。Since the signal shifted and output by the shift register in this manner is an inspection signal for the same location of the subject T, the determination circuit 111 combines the detection signals of these shift registers 109a, 109b, 109c and 109d. The quality of the subject position corresponding to the bit position of the shift register is evaluated.

【０００７】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来
の、各検査装置毎にシフトレジスタを対応させる方式
は、検査装置の増加にともないシフトレジスタの数も増
加しなければならない。また、シフトレジスタの容量
は、（シフト長／シフト単位長）×（信号のビット長）
であることから、例えば１００ｍを１０mm単位でシフト
し、信号が１６ビットとすると、 １００，０００／１０×１６＝１６０，０００ビット となり、１６０，０００ビットに対応し得るシフトレジ
スタが必要となり、コスト高となる。However, in the conventional system in which a shift register is made to correspond to each inspection device, the number of shift registers must be increased as the number of inspection devices is increased. The capacity of the shift register is (shift length / shift unit length) x (bit length of signal)
Therefore, for example, if 100 m is shifted by a unit of 10 mm and the signal is 16 bits, it becomes 100,000 / 10 × 16 = 160,000 bits, and a shift register capable of handling 160,000 bits is required, which results in cost reduction. It becomes high.

【０００８】上述したように、従来の帯板状体の品質を
検査し評価する評価装置はラインの構造に合わせて、シ
フトレジスタの数やビット長をそれぞれ変更して用意す
る必要があるために標準化が困難である。さらに、被検
体のラインは、加減速，前進，後退，ループ長の変動な
ど常にその状態が変化することから、ループ長や、ライ
ン進行方向の変化（前進，後退）に常時合わせてシフト
レジスタをコントロールする必要があり、その制御は複
雑なものとなる。As described above, since the conventional evaluation device for inspecting and evaluating the quality of the strip-shaped body needs to be prepared by changing the number of shift registers and the bit length according to the structure of the line. Standardization is difficult. Furthermore, since the line of the subject always changes its state such as acceleration / deceleration, forward movement, backward movement, and fluctuation of loop length, the shift register is always adjusted in accordance with the change in the loop length or the line traveling direction (forward movement, backward movement). It needs to be controlled, and that control is complicated.

【０００９】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、各検出装置毎にシフトレジスタを設ける必要がな
く、そのためレジスタの内容をラインの動きに同期させ
てライン進行方向の変化に対応してシフトする必要はな
く、一定のアルゴリズムで処理すればよいため、標準化
を容易に可能とする帯板状被検体の評価装置を提供する
ことを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and it is not necessary to provide a shift register for each detection device, and therefore, the contents of the register are synchronized with the movement of the line to cope with a change in the line advancing direction. Since it is not necessary to shift the values by using a fixed algorithm, it is an object of the present invention to provide an evaluation apparatus for a strip-shaped object that can be easily standardized.

【００１０】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願第１の発明は、帯板状被検体の搬送路に沿って設け
られる複数の検査手段と、前記帯板状被検体が所定長だ
け搬送される毎にパルスを発生するパルス発生手段と、
このパルス発生手段から出力されるパルスを前記帯板状
被検体の搬送方向に対応して加減算する加減算手段と、
この加減算手段からの信号を入力して帯板状被検体にお
ける前記検査手段による検査位置を演算する検査位置演
算手段と、この検査位置演算手段からの信号と前記複数
の検査手段からの信号を入力して当該帯板状被検体の品
質評価を行う判定手段とを有すること要旨とする。In order to achieve the above object, a first invention of the present application is to provide a plurality of inspection means provided along a conveyance path of a strip-shaped object, and the strip-shaped object having a predetermined length. Pulse generating means for generating a pulse each time it is transported,
Adder / subtractor for adding / subtracting the pulse output from the pulse generator in correspondence with the transport direction of the strip-shaped object,
An inspection position calculation means for inputting a signal from the addition / subtraction means to calculate an inspection position by the inspection means on the strip-shaped object, and a signal from the inspection position calculation means and the plurality of inspection means are input. Then, the gist of the present invention is to have a determining means for evaluating the quality of the strip-shaped object.

【００１１】また、本願第２の発明は、帯板状被検体の
搬送路に沿って設けられる複数の検査手段と、前記帯板
状被検体が所定長だけ搬送される毎にパルスを発生する
パルス発生手段と、このパルス発生手段から出力される
パルスを前記帯板状被検体の搬送方向に対応して加減算
する加減算手段と、この加減算手段からの信号を入力し
て帯板状被検体における前記検査手段による検査位置を
演算する検査位置演算手段と、この検査位置演算手段で
演算された検査位置を記憶する検査位置記憶手段と、こ
の検査位置記憶手段からの信号と前記加減算手段からの
信号とを入力して当該帯板状被検体の特定の検査位置が
所定の位置に到達したことを検出する位置検出手段とを
有することを要旨とする。In the second aspect of the present invention, a plurality of inspection means are provided along the conveyance path of the strip-shaped object, and a pulse is generated every time the strip-shaped object is conveyed by a predetermined length. In the strip-shaped object, the pulse generation means, the addition / subtraction means for adding / subtracting the pulse output from the pulse generation means in correspondence with the transport direction of the strip-shaped object, and the signal from the addition / subtraction means are input. Inspection position calculation means for calculating the inspection position by the inspection means, inspection position storage means for storing the inspection position calculated by the inspection position calculation means, a signal from the inspection position storage means and a signal from the addition / subtraction means And a position detecting means for detecting that a specific inspection position of the strip-shaped object has reached a predetermined position.

【００１２】[0012]

【作用】本願第１の発明の帯板状被検体の評価装置は、
複数の検査手段が帯板状被検体の搬送路に沿って設けら
れており、この帯板状被検体が所定長だけ搬送される毎
にパルス発生手段から出力されるパルスは加減算手段で
前記帯板状被検体の搬送方向に対応して加減算される。
さらに検査位置演算手段は加減算手段の信号を入力して
帯板状被検体における前記検査手段による検査位置が演
算され求められる。さらに判定手段では、この求められ
た各検査手段による検査位置とそれぞれの検査手段から
の信号が入力されて、当該帯板状被検体の同一検査位置
における総合的な品質評価が行なわれる。According to the first aspect of the present invention, there is provided a device for evaluating a strip-shaped object,
A plurality of inspection means are provided along the conveyance path of the strip-shaped object, and the pulse output from the pulse generation means is added or subtracted by the addition / subtraction means each time the strip-shaped object is conveyed for a predetermined length. The addition and subtraction are performed according to the transport direction of the plate-shaped object.
Further, the inspection position calculating means inputs the signal from the adding / subtracting means and calculates and obtains the inspection position of the strip-shaped subject by the inspection means. Further, in the judging means, the obtained inspection positions by the respective inspection means and the signals from the respective inspection means are inputted, and a comprehensive quality evaluation is performed at the same inspection position of the strip-shaped object.

【００１３】本願第２の発明の帯板状被検体の評価装置
は、複数の検査手段が帯板状被検体の搬送路に沿って設
けられており、またこの帯板状被検体が所定長だけ搬送
される毎にパルス発生手段からパルスが発生される。ま
た、このパルス発生手段から出力されるパルスは加減算
手段で前記帯板状被検体の搬送方向に対応して加減算さ
れる。さらに検査位置演算手段は加減算手段の信号を入
力して帯板状被検体における前記検査手段による検査位
置が演算され求められる。この検査位置は検査位置記憶
手段に記憶され、前記加減算手段からの信号と共に位置
検出手段に入力されて当該帯板状被検体の特定の検査位
置が所定の位置に到達したことが検出される。In the strip-plate-like subject evaluation apparatus according to the second aspect of the present invention, a plurality of inspection means are provided along the conveyance path of the strip-like subject, and the strip-like subject has a predetermined length. A pulse is generated from the pulse generating means each time the sheet is conveyed. Further, the pulse output from the pulse generating means is added / subtracted by the adding / subtracting means according to the carrying direction of the strip-shaped object. Further, the inspection position calculating means inputs the signal of the adding / subtracting means and calculates and obtains the inspection position of the strip-shaped object by the inspection means. This inspection position is stored in the inspection position storage means, and is input to the position detection means together with the signal from the addition / subtraction means, and it is detected that the specific inspection position of the strip-shaped object has reached a predetermined position.

【００１４】[0014]

【実施例】以下、図面を参照して本発明に係る一実施例
を説明する。図１は本発明に係る帯板状被検体の評価装
置の構成を示したブロック図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an apparatus for evaluating a strip-shaped subject according to the present invention.

【００１５】図１において、帯板状の被検体Ｔは搬送ラ
インの進行方向Ａに進む。このライン進行方向Ａに沿っ
て品質検査装置１が設置される。この品質検査装置１
は、複数の検査装置１ａ，〜，１ｄからなり、それぞれ
例えば、被検体Ｔの品質，厚み不良，表面欠陥などを検
知するための、例えば厚み計，幅計，表面検査機であ
る。また、これら搬送ラインを構成する各種機器の動作
同調のためにループＬが設けられ、このループＬの長さ
は、ループ長検出装置３によって検知される。In FIG. 1, a strip-plate-shaped subject T advances in the traveling direction A of the transport line. The quality inspection device 1 is installed along the line traveling direction A. This quality inspection device 1
Is a plurality of inspection devices 1a to 1d, which are, for example, a thickness meter, a width meter, and a surface inspection machine for detecting the quality, thickness defect, surface defect, and the like of the subject T, respectively. Further, a loop L is provided to synchronize the operation of various devices that form these transport lines, and the length of the loop L is detected by the loop length detection device 3.

【００１６】パルス発生手段としてのライン同期パルス
発生器５は、被検体Ｔの動きに同期してパルスを発生し
て、ラインの走行量を検知するものであり、加減算手段
としての加減カウンタ７は、このライン同期パルス発生
器５から出力されるパルス信号をラインの進行方向に応
じて加減算するものである。The line synchronizing pulse generator 5 as a pulse generating means detects a traveling amount of the line by generating a pulse in synchronization with the movement of the subject T, and the addition / subtraction counter 7 as an adding / subtracting means. The pulse signal output from the line synchronization pulse generator 5 is added or subtracted according to the traveling direction of the line.

【００１７】検査位置演算手段としてのイベント発生位
置計算回路９は、ライン同期パルス発生器５のパルスを
加減算した加減カウンタ７の出力と、各検査装置１ａ，
〜，１ｄが検査信号を発生した時点の加減カウンタ７の
値と、ループ長検出装置３の出力するループ長とからこ
の検査信号の発生箇所が帯板状の被検体Ｔのどの位置か
を計算するものである。The event generation position calculation circuit 9 as the inspection position calculation means outputs the output of the addition / subtraction counter 7 which adds / subtracts the pulse of the line synchronization pulse generator 5 and each inspection device 1a,
~, 1d is calculated from the value of the addition / subtraction counter 7 at the time when the inspection signal is generated and the loop length output from the loop length detecting device 3 at which position of the strip-shaped subject T the position where the inspection signal is generated. To do.

【００１８】判定手段としての判定回路１１は、イベン
ト発生位置計算回路９とこの計算結果から、被検体の同
一箇所に対する各種検査装置の発生する信号を知り、品
質を総合判定する判定回路とから構成される。剪断機１
３は所定の長さで帯板状の被検体Ｔを剪断（シャーカッ
ト）するものである。本実施例では、この剪断位置を起
点としている。次に、図２及び図３を参照して検査信号
発生点の位置決定方法について説明する。The judgment circuit 11 as the judgment means is composed of the event occurrence position calculation circuit 9 and a judgment circuit for comprehensively judging the quality by knowing the signals generated by various inspection devices for the same location of the subject from the calculation result. To be done. Shearing machine 1
3 is to shear (shear cut) the strip-shaped subject T having a predetermined length. In this embodiment, this shearing position is the starting point. Next, a method of determining the position of the inspection signal generation point will be described with reference to FIGS.

【００１９】まず、図２は、時刻ｔ＝Ｔ₀ に剪断機１３
による剪断が行なわれ、時刻ｔ＝Ｔ₁ で検査装置Ｂ_n か
ら検査信号が出て、時刻ｔ＝Ｔ₂ でこの信号に相当する
部分がトラッキング終点位置に達したものとしたとき
の、各時刻でのラインの状態を示すものである。図２か
らも明らかなように、この検査信号の被検体先端からの
距離Ｄ_Bnは、 Ｄ_Bn＝ｆ₁ ＋ａ₀ ＋Ｌ（Ｔ₁ ）＋ｂ_n …（１） 但し、ｆ₁ ：ｔ＝Ｔ₁ に於ける、被検体Ｔの先端と剪断
機１３との間の距離（ライン同期パルス発生器５のパル
スによる実測値） Ｌ（Ｔ₁ ）：ｔ＝Ｔ₁ に於けるループ長 ａ₀ ：剪断機１３とループ出口との間の距離（定数値） ｂ_n ：ループ前ｎ番目検査装置１_n とループ入口との間
の距離（定数値）で与えられる。First, in FIG. 2, the shearing machine 13 is operated at time t = T _0.
When the shearing is performed, the inspection signal is _output from the inspection device B _n at time t = T ₁ , and the portion corresponding to this signal reaches the tracking end position at time t = T ₂ , It shows the state of the line in. As is clear from FIG. 2, the distance D _Bn of the inspection signal from the subject tip is D _Bn = f ₁ + a ₀ + L (T ₁ ) + b _n (1) where f ₁ : t = T ₁ Between the tip of the subject T and the shearing machine 13 in the above (actual measurement value by the pulse of the line synchronization pulse generator 5) L (T ₁ ): loop length at t = T ₁ a ₀ : shearing machine 13 and the distance between the loop outlet (constant value) b _n: is given by the distance between the loop before the n-th test apparatus 1 _n and the loop inlet (constant value).

【００２０】また、ここでｆ₁ は、図１に示す加減カウ
ンタ７より次のように求められる。この加減カウンタ７
は適当な時点にリセットされ、搬送ライン前進で加算、
後退で減算されるものである。従って、この加減カウン
タ７の増加分は、ラインの進行した量を示す。ここで、
Ｃ₁ は剪断時点（ｔ＝Ｔ₀ ）から、検査信号発生時点
（ｔ＝Ｔ₁ ）までにラインの進んだ量であるから、 Ｃ₁ ＝Ｃ（Ｔ₁ ）−Ｃ（Ｔ₀ ） …（２） 但し、Ｃ（Ｔ₀ ）：ｔ＝Ｔ₀ に於けるカウンタ値 Ｃ（Ｔ₁ ）：ｔ＝Ｔ₁ に於けるカウンタ値 で与えられる。Further, here, f ₁ is obtained from the addition / subtraction counter 7 shown in FIG. 1 as follows. This adjustable counter 7
Are reset to appropriate points, and added as the transport line advances,
It is subtracted by the backward movement. Therefore, the increment of the addition / subtraction counter 7 indicates the amount of progress of the line. here,
Since C ₁ is the amount of advance of the line from the shearing time (t = T ₀ ) to the inspection signal generating time (t = T ₁ ), C ₁ = C (T ₁ ) −C (T ₀ ) ... ( 2) However, C (T ₀ ): counter value at t = T ₀ is given by C (T ₁ ): counter value at t = T ₁ .

【００２１】ループ長Ｌ（Ｔ₁ ）はループ長検出装置３
で与えられ、またａ₀ ，ｂ_n は各搬送ライン固有の値で
ある。従って、検査信号発生時点（ｔ＝Ｔ₁ ）に、この
検査信号が被検体先端からどの位置にあるかは、上記
（１）式で決定されることが判る。なお、ループ出側
（ループより上流側）の検査装置Ａ_n からの信号の場合
はさらに簡単化され、 Ｄ_An＝ｆ₁ ＋ａ_n …（３） となる。 但し、Ｄ_An：検査信号発生時点（ｔ＝Ｔ₁ ）に於ける被
検体先端からＡ_n までの距離 ａ_n ：剪断機１３とループ後ｎ番目検査装置（Ａ_n ）と
の間の距離 ａ₀ ：剪断機１３とループ出口との間の距離 ｂ_n ：ループ前ｎ番目検査装置とループ入口との間の距
離 で与えられる。また、ｆ₁ は上記（２）式で与えられ
る。The loop length L (T ₁ ) is the loop length detecting device 3
And a ₀ and b _n are values unique to each transport line. Therefore, it is understood that the position of this inspection signal from the tip of the subject at the time of the inspection signal generation (t = T ₁ ) is determined by the above equation (1). In the case of a signal from the inspection device A _n on the loop output side (upstream side from the loop), it is further simplified to D _An = f ₁ + a _n (3) However, D _An: test signal generating time distance (t = T ₁₎ from at subject the tip to the A _n a _n: the distance a between the shear 13 and the loop after n-th test device (A _{n) 0} : Distance between shearing machine 13 and loop exit bn: Distance between _nth pre-loop inspection device and loop entrance Further, f ₁ is given by the above equation (2).

【００２２】したがって、図１に示すイベント発生位置
計算回路によって、上記のアルゴリズムにしたがって各
検査装置の発生する検査信号が、被検体の先端からどの
位置であるかがわかれば、判定回路１１で同一点に於け
る各検査装置の信号からその箇所の品質は総合判定され
る。次に、図４に示す第２の実施例を参照してトラッキ
ングについて説明する。Therefore, if the event occurrence position calculation circuit shown in FIG. 1 knows the position of the inspection signal generated by each inspection device from the tip of the subject according to the above algorithm, the determination circuit 11 determines the same. The quality of the location is comprehensively judged from the signals of the inspection devices at one point. Next, tracking will be described with reference to the second embodiment shown in FIG.

【００２３】本実施例は、従来、ラインによっては、被
検体の不良箇所にマークをつけるためのマーカ１５や不
良箇所通過時にランプを点灯する表示器や、短尺被検体
に剪断する場合の被検体選別装置などに不良箇所の通過
タイミングで信号を与える必要が生じることがあった。
このような場合には、従来、信号をマーカ等の位置まで
トラッキングすることで対応するようにしてきた。本実
施例では以下に示す方法により、より効率的にして、か
つ同等の効果を得ようとするものである。According to the present embodiment, depending on the line, a marker 15 for marking a defective portion of the subject, an indicator for turning on a lamp when passing the defective portion, and a subject for shearing to a short subject have been conventionally used. In some cases, it was necessary to give a signal to a sorting device or the like at the passage timing of a defective portion.
Conventionally, such a case has been dealt with by tracking the signal to the position of a marker or the like. In the present embodiment, the method described below is intended to be more efficient and obtain the same effect.

【００２４】すなわち、図４に示す第２の実施例は、帯
板状の被検体Ｔの判定回路１１で欠陥箇所と総合判定さ
れた箇所に対してマークを付けるマーカ１５等に対し、
当該欠陥箇の到達を知らせることを目的とするものであ
る。尚、図１に示す評価装置と同一構成部分に対しては
同一符号を付与して、詳細な説明は省略する。That is, in the second embodiment shown in FIG. 4, in contrast to the marker 15 or the like that marks the portion comprehensively judged as defective by the judgment circuit 11 of the strip-shaped object T,
The purpose is to notify the arrival of the defect. The same components as those of the evaluation device shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【００２５】検査位置記憶手段としてのイベント発生位
置レジスタ１７は、イベント発生位置計算回路９Ａで計
算した各検査信号の発生点から被検体先端までの距離を
入力し記憶するものである。位置検出手段としての位置
判定回路１９は、イベント発生位置と、ループ長検出装
置３の与えるループ長と加減算カウンタ７の値とを入力
して、前述した図１に示す評価装置と同一の判定を行な
い、検査信号発生点がマーカ１５の位置に到達したこと
を検知するものである。The event occurrence position register 17 as the inspection position storage means inputs and stores the distance from the generation point of each inspection signal calculated by the event occurrence position calculation circuit 9A to the tip of the subject. The position determination circuit 19 as position detection means inputs the event occurrence position, the loop length given by the loop length detection device 3 and the value of the addition / subtraction counter 7, and makes the same determination as that of the evaluation device shown in FIG. It is performed to detect that the inspection signal generation point has reached the position of the marker 15.

【００２６】以下、作用を説明すると、図２に示すよう
に、ｔ＝Ｔ₁ で検査信号が発生し、この検査信号の発生
位置がｔ＝Ｔ₂ でループ後のトラッキング終点Ａに到達
したとすると、 Ｄ_Bn＝ｆ₂ ＋ｄ_a …（４） 但し、ｆ₂ ：ｔ＝Ｔ₂ に於ける被検体先端と剪断機との
間の距離 ｄ_a ：剪断機とトラッキング終点Ａとの間の距離 が成立する筈である。また、ｄ_a は固定値であり、ｆ₂
は、 ｆ₂ ＝＝Ｃ（Ｔ₂ ）−Ｃ（Ｔ₀ ） …（５） で算出される。 但し、Ｃ（Ｔ₂ ）：ｔ＝Ｔ₂ に於けるカウンタ値 Ｃ（Ｔ₀ ）：ｔ＝Ｔ₀ に於けるカウンタ値 である。さらに、（４），（５）式よりＣ（Ｔ₂ ）は、 Ｄ_Bn＝Ｃ（Ｔ₂ ）−Ｃ（Ｔ₀ ）＋ｄ_a Ｃ（Ｔ₂ ）＝Ｄ_Bn＋Ｃ（Ｔ₀ ）−ｄ_a …（６） で与えられる。The operation will be described below with reference to FIG.
And t = T₁An inspection signal is generated at
The position is t = T₂Reaches the tracking end point A after the loop
If you do, D_Bn= F₂+ D_a (4) However, f₂: T = T₂Between the tip of the subject and the shearing machine
Distance between d_a: The distance between the shear and the tracking end point A should hold. Also, d_aIs a fixed value and f₂
Is f₂== C (T₂) -C (T₀) ... (5) is calculated. However, C (T₂): T = T₂Counter value C (T₀): T = T₀Is the counter value in. Furthermore, from equations (4) and (5), C (T₂) Is D_Bn= C (T₂) -C (T₀) + D_a  C (T₂) = D_Bn+ C (T₀) -D_a It is given by (6).

【００２７】この右辺の値は、検査信号発生時点にわか
っている値であるので、カウンタの値を常時監視し、右
辺の値に達した時点に検査点がトラッキング位置に到達
したものとして出力すればよい。尚、検査装置１がルー
プＬより下流にある場合、Ｄ_Bnの代わりにＤ_Anにすれば
よいことはいうまでもない。なおトラッキング終点がル
ープＬより上流にある場合（例えば、Ｂ点）は、（４）
式の代わりに、 Ｄ_Bn＝ｆ₂ ＋ａ₀ ＋Ｌ（Ｔ₂ ）＋ｄ_b …（７） 但し、Ｌ（Ｔ₂ ）；ｔ＝Ｔ₂ に於けるループ長 ｄ_b ：ループ前のトラッキング終点Ｂとループ入口との
間の距離 とすればよい。従って、ｔ＝Ｔ₂ に於て、 Ｄ_Bn＝Ｃ（Ｔ₂ ）−Ｃ（Ｔ₀ ）＋ａ₀ ＋Ｃ（Ｔ₂₎＋ｄ_b ∴Ｃ（Ｔ₂ ）＋Ｃ（Ｔ₂ ）＝Ｄ_Bn＋Ｃ（Ｔ₀ ）−ａ₀ −ｄｂ が満足されるはずであり、（８）式の左辺は予め判って
いるのでカウンタとループ長の和Ｃ（Ｔ）＋Ｔ（Ｔ）の
値が（８）式の左辺に一致したとき、検査点がＢ点に達
したとすればよい。The value on the right side is unknown when the inspection signal is generated.
The counter value is constantly monitored and
The inspection point reaches the tracking position when the side value is reached.
It can be output as the output. In addition, the inspection device 1
If it is downstream from L, D_BnInstead of D_AnIf
It goes without saying that it is good. The tracking end point is
If it is upstream of the loop L (for example, point B), (4)
Instead of an expression, D_Bn= F₂+ A₀+ L (T₂) + D_b (7) However, L (T₂); T = T₂Loop length d_b: Between the tracking end point B before the loop and the loop entrance
It may be a distance between them. Therefore, t = T₂At D_Bn= C (T₂) -C (T₀) + A₀+ C (T₂₎+ D_b  ∴C (T₂) + C (T₂) = D_Bn+ C (T₀) -A₀-Db should be satisfied, and the left side of equation (8) should be known in advance.
Therefore, the sum of the counter and the loop length C (T) + T (T)
When the value matches the left side of equation (8), the inspection point reaches point B.
If you did.

【００２８】次に、図１に示す第１の実施例における複
数検査機の検査結果を総合判定する機能と図４に示す第
２の実施例における検査信号発生点が特定の位置に到達
したことを検知する機能とを共に有する第３の実施例を
図５に示す。Next, the function of comprehensively judging the inspection results of the plural inspection machines in the first embodiment shown in FIG. 1 and the fact that the inspection signal generating point in the second embodiment shown in FIG. 4 has reached a specific position. FIG. 5 shows a third embodiment having both the function of detecting

【００２９】尚、図１及び図４に示す評価装置と同一構
成部分に対しては同一符号を付与して、詳細な説明は省
略する。この第３の実施例によれば、検査信号の発生点
を知り、複数検査機の検査結果を総合判定する機能と検
査信号発生点が特定の位置に到達したことを検知する機
能とを併せ持つことから、単に総合判定するに止まらず
検査信号発生点すなわち欠陥が生じている箇所を適切に
指示し得る評価装置を提供できる。The same components as those of the evaluation apparatus shown in FIGS. 1 and 4 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. According to the third embodiment, it has both the function of knowing the generation point of the inspection signal and comprehensively judging the inspection results of the plurality of inspection machines and the function of detecting that the inspection signal generation point has reached a specific position. Therefore, it is possible to provide an evaluation device capable of appropriately indicating an inspection signal generation point, that is, a place where a defect has occurred, in addition to a comprehensive determination.

【００３０】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本願第１の発明の帯
板状被検体の評価装置は、帯板状被検体の搬送に伴って
出力されるパルスを帯板状被検体の搬送方向に対応して
加減算するようにしたので、シフトレジスタを必要とす
ることなく、複数の検査手段による帯板状被検体の同一
検査位置における総合的な品質評価を行ない得るもので
ある。As described above, in the strip plate-like object evaluation apparatus according to the first aspect of the present invention, the pulse output along with the conveyance of the strip-like object is directed in the conveying direction of the strip-like object. Since the addition and subtraction are performed correspondingly, it is possible to perform a comprehensive quality evaluation at the same inspection position of the strip-shaped object by a plurality of inspection means without using a shift register.

【００３１】また、本願第２の発明の帯板状被検体の評
価装置は、検査手段による検査位置を記憶するようにし
ているので、ラインの移動速度等の変動に拘らず当該検
査位置が所定の位置に到達したことを確実に検出するこ
とができる。Further, since the evaluation apparatus for the strip-shaped object of the second aspect of the present invention stores the inspection position by the inspection means, the inspection position is predetermined regardless of the fluctuation of the moving speed of the line. It is possible to reliably detect that the position has been reached.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図２】図１に示した実施例の作用を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an operation of the embodiment shown in FIG.

【図３】図１に示した実施例の作用を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an operation of the embodiment shown in FIG.

【図４】本発明に係る第２の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a second exemplary embodiment according to the present invention.

【図５】本発明に係る第３の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a third exemplary embodiment of the present invention.

【図６】従来例のブロック図である。FIG. 6 is a block diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

Ｔ 被検体 １ 検査装置 ３ ループ長検出装置 ５ ライン同期パルス発生器 ７ 加減カウンタ ９ イベント発生位置計算回路 １１ 判定回路 １３ 剪断機 １５ マーカ １７ イベント発生位置レジスタ １９ 位置判定回路 T subject 1 inspection device 3 loop length detection device 5 line synchronization pulse generator 7 adjustment counter 9 event generation position calculation circuit 11 determination circuit 13 shearing machine 15 marker 17 event generation position register 19 position determination circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 帯板状被検体の搬送路に沿って設けられ
る複数の検査手段と、 前記帯板状被検体が所定長だけ搬送される毎にパルスを
発生するパルス発生手段と、 このパルス発生手段から出力されるパルスを前記帯板状
被検体の搬送方向に対応して加減算する加減算手段と、 この加減算手段からの信号を入力して帯板状被検体にお
ける前記検査手段による検査位置を演算する検査位置演
算手段と、 この検査位置演算手段からの信号と前記複数の検査手段
からの信号を入力して当該帯板状被検体の品質評価を行
う判定手段とを有することを特徴とする帯板状被検体の
評価装置。1. A plurality of inspection means provided along a transportation path of a strip-shaped object, a pulse generating means for generating a pulse each time the strip-shaped object is transported by a predetermined length, and the pulse. Addition / subtraction means for adding / subtracting the pulse output from the generating means in correspondence with the transport direction of the strip-shaped object, and a signal from the addition / subtraction means is input to determine the inspection position of the strip-shaped object by the inspection means. It is characterized by having an inspection position calculating means for calculating and a judging means for inputting the signals from the inspection position calculating means and the signals from the plurality of inspection means to evaluate the quality of the strip-shaped object. Evaluation device for a strip-shaped object. 【請求項２】 帯板状被検体の搬送路に沿って設けられ
る複数の検査手段と、 前記帯板状被検体が所定長だけ搬送される毎にパルスを
発生するパルス発生手段と、 このパルス発生手段から出力されるパルスを前記帯板状
被検体の搬送方向に対応して加減算する加減算手段と、 この加減算手段からの信号を入力して帯板状被検体にお
ける前記検査手段による検査位置を演算する検査位置演
算手段と、 この検査位置演算手段で演算された検査位置を記憶する
検査位置記憶手段と、 この検査位置記憶手段からの信号と前記加減算手段から
の信号とを入力して当該帯板状被検体の特定の検査位置
が所定の位置に到達したことを検出する位置検出手段と
を有することを特徴とする帯板状被検体の評価装置。2. A plurality of inspection means provided along a transportation path of the strip-shaped object, a pulse generating means for generating a pulse each time the strip-shaped object is transported by a predetermined length, and the pulse. Addition / subtraction means for adding / subtracting the pulse output from the generating means in correspondence with the transport direction of the strip-shaped object, and a signal from the addition / subtraction means is input to determine the inspection position of the strip-shaped object by the inspection means. The inspection position calculating means for calculating, the inspection position storing means for storing the inspection position calculated by the inspection position calculating means, the signal from the inspection position storing means and the signal from the adding / subtracting means are inputted and the band concerned is inputted. An apparatus for evaluating a strip-shaped object, comprising: a position detection unit that detects that a specific inspection position of the plate-shaped object has reached a predetermined position.