JPH0512934B2 - - Google Patents

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JPH0512934B2
JPH0512934B2 JP2080784A JP2080784A JPH0512934B2 JP H0512934 B2 JPH0512934 B2 JP H0512934B2 JP 2080784 A JP2080784 A JP 2080784A JP 2080784 A JP2080784 A JP 2080784A JP H0512934 B2 JPH0512934 B2 JP H0512934B2
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JP
Japan
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irradiation power
ultrasonic
irradiation
probe
ultrasound
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP2080784A
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English (en)
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JPS60165947A (ja
Inventor
Ikuji Seo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は超音波診断装置に関するものである。
[発明の技術的背景とその問題点] 超音波診断装置の臨床応用は著しく進んでお
り、例えば産科領域においても超音波によるスク
リーニングが一般的となつている。
一方、超音波診断装置では超音波画像の画質を
良くするために、リニアプローブ、セクタプロー
ブ等の各種プローブへの印加電圧を高めて被検体
に照射する照射パワーを大きくし、S/N比の向
上を図る傾向にある。
しかしながら、照射パワーを大きくした場合に
は被検体、特に胎児等への影響を無視することが
できないという問題があつた。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、被検体への全照射パワーを計測、表示するこ
とにより被検体に対する全照射パワーの許容限度
を認識することに寄与し得る超音波診断装置の提
供を目的とするものである。
[発明の概要] 上記目的を達成するための本発明の概要は、超
音波プローブから被検体内へ超音波を送波すると
ともにその反射信号を受波して超音波画像を得る
超音波診断装置本体と、前記超音波プローブに対
応する予め設定された照射パワーデータと照射時
間との積を演算して全照射パワーを計測する全照
射パワー計測手段と、前記全照射パワー計測手段
の出力を表示する表示手段とを備えたことを特徴
とするものである。
[発明の実施例] 以下に本発明の原理及び実施例を詳細に説明す
る。
第1図は、超音波の全照射パワーを計測する原
理を示すものである。
同図aは、後述するプローブに印加する電圧f
(t)の波形を振幅V、パルス幅τ、超音波繰り返し
周波数Tとして示すものであり、この電圧f(t)の
フーリエ変換された波形F(f)は同図bに示すよう
になる。
また、プローブの伝達関数H(f)は、そのプロー
ブの振動子等の音響特性が既知であれば第1図c
で示すように容易に求めることができる。
したがつて、プローブから被検体内へ照射され
る超音波の送信音圧パワーP0(f)は下記(1)式で表
わすことができる。
P0(f)=F(f)・H(f) (1) また、プローブの単位時間当りの照射パワー
P1は(1)式に基づき下記(2)式で表わすことができ
る。
P1=∫F(f)・H(f)df (2) すなわち、第1図dの斜線部で示す部分の積分
値を求めればよい。
超音波診断装置では、前記振幅V、パルス幅
τ、超音波繰り返し周波数Tは可変であるため(2)
式により予め単位時間当りの照射パワーを計算し
て記憶しておき、この値と超音波の照射時間tと
の積P1・tを求めれば被検体に対する全照射パ
ワーを知ることができる。
次に、上述した原理を実現するための実施例を
第2図を参照して説明する。
同図において、超音波診断装置はリニアプロー
ブ、セクタプローブ等、被検体内へ超音波を送波
するとともにその反射信号を受波するプローブ1
を備えた超音波診断装置本体2と、全照射パワー
計測手段3と、超音波診断装置本体2及び全照射
パワー計測手段3の出力を表示する表示手段4と
から構成されている。
全照射パワー計測手段3は、プローブ1に対し
て印加する電圧H(f)の振幅V、パルス幅τ、超音
波繰り返し周波数T等の照射パワーデータをプロ
ーブ1の種類毎に記憶した記憶手段(ROM)5
と、プローブ1から被検体へ照射される超音波の
照射時間を計測する時間カウンター6と、記憶手
段5及び時間カウンター6の出力を乗算し、その
結果を表示手段4へ送出する乗算器7とを有して
構成されている。
表示手段4は、超音波診断装置本体2から出力
される被検体の画像データを画像表示するモニタ
ー部8と、全照射パワー計測手段の出力を表示す
る全照射パワー表示部(例えばデイジタルカウン
ター)9と、その全照射パワー表示部9の表示値
をリセツトするリセツトボタン10とを有して構
成されている。
次に、上記構成の超音波診断装置の作用を説明
する。
被検体内へ超音波を照射する場合にまずその走
査方式に対応したプローブ1が選択される。
このプローブ1の選択の際の切り替え信号は超
音波診断装置本体2から記憶手段5へ送出され、
そのプローブ1に対応する照射パワーデータが読
み出されて乗算器7へ送られる。
一方、プローブ1から被検体内へ超音波が照射
されると、その照射時間tが時間カウンター6に
より計数され、この結果が乗算器7へ送られる。
乗算器7により両者の積P1・t、すなわち全
照射パワーを求める演算が行なわれ、この結果が
表示手段4の全照射パワー表示部9へ送出されて
表示される。
操作者は全照射パワー表示部9の表示値により
被検体に対する全照射パワーを認識することがで
きる。
このようにして、各種のプローブ1毎にその全
照射パワーを知ることができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものでは
なく、その要旨の範囲内で種々の変形が可能であ
る。
例えば、全照射パワーが被検体に対する許容値
に接近した場合に、プローブからの超音波照射を
自動的に停止させるようにしてもよい。
また、上述した実施例では全照射パワー計測手
段の出力と、超音波診断装置本体の出力とを1台
の表示手段によりそれぞれ表示する場合について
説明したが、全照射パワー計測手段の出力のみを
表示する表示手段を別体として構成することもで
きる。
[発明の効果] 以上詳述した本発明によれば、プローブから被
検体内へ照射される全照射パワーを計測、表示す
ることが可能となるため、被検体に対する超音波
の影響を未然に防止し得る超音波診断装置を提供
し得るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理を示すものであり、同図
aはプローブに印加する電圧の波形図、同図bは
同図aの波形をフーリエ変換した状態を示す説明
図、同図cはプローブの伝達関数を示す説明図、
同図dはプローブからの照射パワーを示す説明
図、第2図は本発明の実施例を示すブロツク図で
ある。 1……プローブ、2……超音波診断装置本体、
3……全照射パワー計測手段、4……表示手段、
5……記憶手段、6……時間カウンター、7……
乗算器、8……モニター部、9……全照射パワー
表示部、10……リセツトボタン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 超音波プローブから被検体内へ超音波を送波
    するとともにその反射信号を受波して超音波画像
    を得る超音波診断装置本体と、前記超音波プロー
    ブに対応する予め設定された照射パワーデータと
    照射時間との積を演算して全照射パワーを計測す
    る全照射パワー計測手段と、前記全照射パワー計
    測手段の出力を表示する表示手段とを備えたこと
    を特徴とする超音波診断装置。 2 前記全照射パワー計測手段は、予め特性の異
    なる2種類以上の超音波プローブ毎の印加電圧、
    超音波パルス幅、超音波繰り返し周波数を有する
    照射パワーデータを記憶する記憶手段と、超音波
    プローブから被検体内へ照射される超音波の照射
    時間を計測する照射時間計測手段と、駆動超音波
    プローブに対応して前記記憶手段から読み出され
    た照射パワーデータと前記照射時間との積を演算
    する演算手段とを具備することを特徴とする請求
    項1記載の超音波診断装置。 3 前記全照射パワー計測手段は、予め設定され
    た被検体に対する全照射パワーの照射許容値に対
    し計測された全照射パワーが接近した場合に超音
    波プローブからの超音波照射を停止させることを
    特徴とする請求項1または2記載の超音波診断装
    置。
JP2080784A 1984-02-09 1984-02-09 超音波診断装置 Granted JPS60165947A (ja)

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JP2080784A JPS60165947A (ja) 1984-02-09 1984-02-09 超音波診断装置

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JP2080784A JPS60165947A (ja) 1984-02-09 1984-02-09 超音波診断装置

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Publication Number Publication Date
JPS60165947A JPS60165947A (ja) 1985-08-29
JPH0512934B2 true JPH0512934B2 (ja) 1993-02-19

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ID=12037306

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2080784A Granted JPS60165947A (ja) 1984-02-09 1984-02-09 超音波診断装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63120611U (ja) * 1987-01-28 1988-08-04
JP2682265B2 (ja) * 1991-05-30 1997-11-26 松下電器産業株式会社 超音波診断装置

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Publication number Publication date
JPS60165947A (ja) 1985-08-29

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