JPH05111460A - Endoscope device for three-dimensional measurement - Google Patents
Endoscope device for three-dimensional measurementInfo
- Publication number
- JPH05111460A JPH05111460A JP3317970A JP31797091A JPH05111460A JP H05111460 A JPH05111460 A JP H05111460A JP 3317970 A JP3317970 A JP 3317970A JP 31797091 A JP31797091 A JP 31797091A JP H05111460 A JPH05111460 A JP H05111460A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measurement
- circuit
- measuring
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
- Endoscopes (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、撮像手段により得られ
た撮像信号に基づいて、少なくとも測定光投影光学系か
らの測定光を制御する３次元計測用内視鏡装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an endoscope apparatus for three-dimensional measurement which controls at least measurement light from a measurement light projection optical system based on an image pickup signal obtained by an image pickup means.
【０００２】[0002]
【従来技術】体腔内などに挿入することによって、体腔
内の深部などを観察したり、必要に応じて処置具を用い
ることにより、治療処置なども行うことのできる内視鏡
が医療分野において広く用いられるようになった。又、
工業分野においても、ジェットエンジン内部とかプラン
ト内部などの検査に内視鏡が広く用いられる。2. Description of the Related Art An endoscope is widely used in the medical field for observing a deep part in a body cavity by inserting it into a body cavity or the like, and performing a medical treatment by using a treatment tool if necessary. It came to be used. or,
In the industrial field, endoscopes are widely used for inspecting the inside of jet engines or the inside of plants.
【０００３】この内視鏡による観察の場合において、腫
瘍などの被検査対象物の大きさなどを計測することが診
断などを行う場合必要になる。In the case of observation with this endoscope, it is necessary to measure the size of an object to be inspected such as a tumor when making a diagnosis.
【０００４】このため、例えば特願平１ー３４２２２９
号で、本出願人は計測のための測定光を投影する測定光
投影光学系と通常照明光により立体観察を可能とする装
置を提案した。Therefore, for example, Japanese Patent Application No. 1-342229
In this issue, the applicant proposed a measuring light projecting optical system for projecting measuring light for measurement and an apparatus capable of stereoscopic observation with normal illumination light.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、この
ような従来例の３次元計測用内視鏡装置は、測定光投影
光学系による測定光の照射強度は固定され、一方、被写
体からの反射光は距離等により一定していない。このた
め、反射光の強度により測定誤差が大きくなり測定不能
になる場合がある。従来の３次元計測用内視鏡装置で
は、術者は、このような状態を認識できず、反射光の強
度により測定誤差の大きな測定を行う虞があった。However, in such a conventional three-dimensional measurement endoscope apparatus, the irradiation intensity of the measurement light by the measurement light projection optical system is fixed, while the reflected light from the subject is reflected. Is not constant due to distance. Therefore, the measurement error may increase due to the intensity of the reflected light, and the measurement may not be possible. In the conventional endoscope apparatus for three-dimensional measurement, the operator may not be able to recognize such a state, and there is a risk of making a measurement with a large measurement error due to the intensity of the reflected light.
【０００６】本発明は上述した点にかんがみてなされた
もので、少なくとも、術者が反射光の強度により測定誤
差が大きく測定不能の状態を認識でき、さらに、照射光
及び測定光のうち少なくとも測定光の照射強度を制御で
きる３次元計測用内視鏡装置を提供することを目的とす
る。The present invention has been made in view of the above points, and at least the operator can recognize a state in which measurement is impossible due to the intensity of reflected light and measurement is impossible. An object is to provide an endoscopic device for three-dimensional measurement capable of controlling the irradiation intensity of light.
【０００７】[0007]
【問題点を解決する手段】本発明の３次元計測用内視鏡
装置は、距離などの計測のための３次元的計測用の測定
光を投影する測定光投影光学系と、照明光を広域的に照
射する照明光学系と、前記測定光投影光学系に測定光を
伝送する測定光伝送部材と、前記照明光学系に通常照明
光を伝送する照明光伝送部材と、前記測定光または照明
光による光学像を撮像する撮像手段とを有する計測用内
視鏡と、前記測定光伝送部材と前記照明光伝送部材と
に、測定光及び照明光を供給する機能を有する光源装置
と、前記撮像手段により得られた撮像信号により、前記
測定光投影光学系からの測定光及び前記照明光学系から
の照明光のうち少なくとも該測定光投影光学系からの測
定光を制御する制御手段とを備えている。The endoscope apparatus for three-dimensional measurement according to the present invention includes a measurement light projection optical system for projecting measurement light for three-dimensional measurement for measuring distance and the like, and a wide range of illumination light. Illuminating optical system for irradiating light, a measuring light transmitting member for transmitting measuring light to the measuring light projecting optical system, an illuminating light transmitting member for transmitting normal illuminating light to the illuminating optical system, and the measuring light or illuminating light And a light source device having a function of supplying measurement light and illumination light to the measurement light transmission member and the illumination light transmission member, and the imaging means. A control means for controlling at least the measurement light from the measurement light projection optical system among the measurement light from the measurement light projection optical system and the illumination light from the illumination optical system by the image pickup signal obtained by ..
【０００８】[0008]
【作用】 前記広域照射手段により、少なくとも前記撮
像手段の全撮像領域に、前記測定光投影光学系からの測
定光を照射する。The wide-range irradiation means irradiates at least the entire imaging area of the imaging means with the measurement light from the measurement light projection optical system.
【０００９】[0009]
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を具体
的に説明する。Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.
【００１０】図１ないし図３は本発明の第１実施例に係
り、図１は第１実施例の３次元計測用内視鏡装置の全体
構成を示す構成図、図２は電子内視鏡の先端面を示す断
面図、図３は測定光を入射端面側でスキャンした場合に
おけるＣＣＤで撮像される光スポットを示す説明図であ
る。1 to 3 relate to a first embodiment of the present invention, FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a three-dimensional measuring endoscope apparatus of the first embodiment, and FIG. 2 is an electronic endoscope. FIG. 3 is a cross-sectional view showing the front end face of FIG. 3, and FIG. 3 is an explanatory view showing a light spot imaged by the CCD when the measurement light is scanned on the incident end face side.
【００１１】図１に示すように、第１実施例の３次元計
測用内視鏡装置１は、撮像手段を内蔵した３次元計測用
電子内視鏡（以下、電子スコープと記す）２と、この電
子スコープ２に通常照明光を供給する通常照明光供給手
段及び測定光光源手段３と信号処理及び距離計算を行う
信号処理手段４とを内蔵した光源・処理装置５と、信号
処理手段４で信号処理されて生成された標準的な映像信
号を表示するカラーモニタ６とから構成される。As shown in FIG. 1, a three-dimensional measuring endoscope apparatus 1 according to the first embodiment includes a three-dimensional measuring electronic endoscope (hereinafter referred to as an electronic scope) 2 having a built-in image pickup means. A light source / processing device 5 having a normal illumination light supply means and a measurement light source means 3 for supplying normal illumination light to the electronic scope 2 and a signal processing means 4 for performing signal processing and distance calculation, and a signal processing means 4. The color monitor 6 displays a standard video signal generated by signal processing.
【００１２】上記電子スコープ２は、体腔内などに挿入
できるように細長で可撓性を有する挿入部７と、この挿
入部７の後端に連設された太幅の操作部８と、この操作
部８の側部から延出されたユニバーサルケーブル９とか
らなり、このユニバーサルケーブル９の端部に取り付け
た総合コネクタ１１を光源・処理装置５に着脱自在で接
続することができる。The electronic scope 2 has an elongated and flexible insertion portion 7 so that it can be inserted into a body cavity and the like, and a wide operation portion 8 continuously provided at the rear end of the insertion portion 7, A universal cable 9 extending from a side portion of the operation portion 8 and a general connector 11 attached to an end portion of the universal cable 9 can be detachably connected to the light source / processing device 5.
【００１３】上記挿入部７は先端側から硬質の先端部１
２と、湾曲自在の湾曲部１３と、可撓性の可撓管部１４
とからなり、操作部８の側面に設けた湾曲ノブ１５を操
作することによって、湾曲部１３を湾曲できるようにな
っている。The insertion portion 7 has a hard tip portion 1 from the tip side.
2, a bendable bending portion 13, and a flexible flexible tube portion 14
The bending portion 13 can be bent by operating the bending knob 15 provided on the side surface of the operation portion 8.
【００１４】上記挿入部７内には通常照明光を伝送する
ライトガイド１６と、測定光を伝送する測定光伝送手段
としてのイメージガイド１７が挿通され、これらライト
ガイド１６とイメージガイド１７は、ユニバーサルケー
ブル９内も挿通され、各端部のライトガイドコネクタ１
６ａとイメージガイドコネクタ１７ａが総合コネクタ１
１で一体的に固定されている。A light guide 16 for transmitting normal illumination light and an image guide 17 as a measuring light transmitting means for transmitting the measuring light are inserted into the insertion portion 7. The light guide 16 and the image guide 17 are universal. The light guide connector 1 at each end is also inserted through the cable 9.
6a and image guide connector 17a are integrated connector 1
1 is fixed integrally.
【００１５】上記光源・処理装置５には上記ライトガイ
ドコネクタ１６ａとイメージガイドコネクタ１７ａをそ
れぞれ着脱自在で接続できるライトガイドコネクタ受け
１８とイメージガイドコネクタ受け１９が設けてある。
上記光源・処理装置５内には上記ライトガイドコネクタ
受け１８の奥に白色光を発生するランプ２１及びコンデ
ンサレンズ２２が配置され、ランプ２１の白色照明光を
レンズ２２で集光してライトガイドコネクタ１６ａに供
給できるようにしてある。The light source / processing device 5 is provided with a light guide connector receiver 18 and an image guide connector receiver 19 to which the light guide connector 16a and the image guide connector 17a can be detachably connected.
Inside the light source / processing device 5, a lamp 21 and a condenser lens 22 for generating white light are arranged behind the light guide connector receiver 18, and the white illumination light of the lamp 21 is condensed by the lens 22 to form a light guide connector. 16a.
【００１６】また、イメージガイドコネクタ受け１９の
奥にレーザ光を発生する半導体レーザ２３とコンデンサ
レンズ２４が配置され、半導体レーザ２３による可集光
性のレーザ光、つまり測定光をコンデンサレンズ２４で
集光し、イメージガイドコネクタ１７ａを形成するファ
イババンドル端面に例えば図３（ａ）に示すように直線
状にスキャンする測定光を照射する。Further, a semiconductor laser 23 for generating a laser beam and a condenser lens 24 are arranged in the back of the image guide connector receiver 19, and the condensable laser beam by the semiconductor laser 23, that is, measurement light is collected by the condenser lens 24. Then, the end face of the fiber bundle forming the image guide connector 17a is irradiated with the measuring light which is linearly scanned as shown in FIG. 3A, for example.
【００１７】上記ライトガイドコネクタ１６ａに供給さ
れた照明光は、ライトガイド１６で伝送され、先端部１
２に固定された出射側の端面からさらに照明レンズ２５
を経て被写体２６側に出射され、被写体２６側を広域照
明する。この照明レンズ２５はライトガイド１６の出射
側端面から該照明レンズ２５のフォーカス距離とは異な
る距離に取付けられている。The illumination light supplied to the light guide connector 16a is transmitted by the light guide 16 and the tip 1
From the end face on the emission side fixed to 2 to the illumination lens 25
Then, the light is emitted to the subject 26 side and illuminates the subject 26 side over a wide area. The illumination lens 25 is mounted at a distance different from the focus distance of the illumination lens 25 from the exit side end surface of the light guide 16.
【００１８】また、イメージガイドコネクタ１７ａに照
射された測定光はイメージガイド１７における測定光が
照射されたファイバで伝送され、先端部１２に固定され
た出射側端面からさらに投影（投光）レンズ２７を経て
被写体２６側に出射され、被写体２６面に微小な光スポ
ットを形成する。この投影レンズ２７はイメージガイド
１７の出射側端面から該投影レンズ２７のフォーカス距
離に取付けられており、出射側端面のファイバから出射
される測定光は殆ど広がることなく、被写体２６面上に
微小な光スポットを形成できるようにしてある。The measuring light emitted to the image guide connector 17a is transmitted by the fiber irradiated with the measuring light in the image guide 17, and is further projected (projected) from the emission side end face fixed to the tip portion 12. Then, the light is emitted to the subject 26 side to form a minute light spot on the subject 26 surface. The projection lens 27 is attached at the focus distance of the projection lens 27 from the exit side end face of the image guide 17, and the measurement light emitted from the fiber of the exit side end face hardly spreads on the surface of the subject 26. A light spot can be formed.
【００１９】上記半導体レーザ２３とコンデンサレンズ
２４は、圧電素子２８によって振動的に駆動される台２
９に取り付けられ、この圧電素子２８に測定光走査制御
手段３０から駆動信号を印加することによって、圧電素
子２８は図１において、例えば矢印で示すように上下方
向に振動移動する。この上下方向に振動移動により、半
導体レーザ２３も同様に振動移動され、投影レンズ２７
を経て被写体２６側に測定光が直線状にスキャンする。The semiconductor laser 23 and the condenser lens 24 are vibratingly driven by a piezoelectric element 28.
9 is applied to the piezoelectric element 28 by applying a drive signal from the measuring light scanning control means 30 to the piezoelectric element 28, the piezoelectric element 28 vibrates vertically as shown by an arrow in FIG. By vibrating and moving in the vertical direction, the semiconductor laser 23 also vibrates and moves, and the projection lens 27
After that, the measurement light linearly scans the subject 26 side.
【００２０】この圧電素子２８は測定光走査制御手段３
０から例えば階段波の駆動信号によって、駆動され、こ
の駆動により、イメージガイドコネクタ１７ａのファイ
ババンドルに照射される測定光は一定間隔を隔てたファ
イバ毎に順次照射され、図３（ａ）に示すようにファイ
ババンドルのほぼ直径の範囲を段階的でかつ直線的に走
査する。The piezoelectric element 28 is a measuring light scanning control means 3
The measurement light is driven by a drive signal of, for example, a staircase wave from 0, and by this drive, the measurement light emitted to the fiber bundle of the image guide connector 17a is sequentially emitted to the fibers at regular intervals, as shown in FIG. Thus, a substantially linear range of the fiber bundle is scanned stepwise and linearly.
【００２１】上記照明光で広域的に照明された被写体２
６は先端部１２の観察窓に取り付けられた対物レンズ３
１によって、その焦点面に配置された撮像素子としての
ＣＣＤ３２の撮像面に結像される。A subject 2 illuminated with the illumination light over a wide area
6 is an objective lens 3 attached to the observation window of the tip portion 12
1 forms an image on the image pickup surface of the CCD 32 as an image pickup element arranged on the focal plane thereof.
【００２２】この撮像面の前には例えばモザイクカラー
フィルタ３３が取り付けてあり、光学的に色分離する。
このＣＣＤ３２は信号ケーブル３４を介してコネクタ１
１の信号コネクタ３５と接続され、この信号コネクタ３
５が接続される信号コネクタ受け３６を経て映像回路４
１と、距離計算回路４２、ピークホールド回路４４に接
続される。この映像回路４１は、ＣＣＤ３２からの撮像
信号より標準的な映像信号を生成し、モニタ６に出力す
るようになっている。また、距離計算回路４２は、測定
光による撮像信号から被写体２６までの距離を計算しそ
の値を距離表示回路４３に出力し、この距離表示回路４
３により距離が表示できるようになっている。A mosaic color filter 33, for example, is attached in front of this image pickup surface to optically separate colors.
This CCD 32 has a connector 1 through a signal cable 34.
1 is connected to the signal connector 35, and the signal connector 3
The video circuit 4 through the signal connector receiver 36 to which 5 is connected.
1 is connected to the distance calculation circuit 42 and the peak hold circuit 44. The video circuit 41 is adapted to generate a standard video signal from the image pickup signal from the CCD 32 and output it to the monitor 6. Further, the distance calculation circuit 42 calculates the distance from the image pickup signal by the measurement light to the subject 26, outputs the value to the distance display circuit 43, and the distance display circuit 4
The distance can be displayed by 3.
【００２３】前記ピークホールド回路４４は、ＣＣＤ３
２からの撮像信号のピーク値をホールドし、このホール
ドされたピーク値は、比較回路４５で所定の基準電圧４
６と比較され、ＣＣＤ３２からの撮像信号のピーク値が
この基準電圧４６よりも小さい場合、すなわち、測定光
に対する被写体２６からの反射光が小さい場合、カウン
タ４７でカウントし、所定のカウント数に達したら距離
表示回路４３に、例えば、「測定不能」等のエラー情報
を表示させるようになっている。The peak hold circuit 44 includes the CCD 3
2 holds the peak value of the image pickup signal, and the held peak value is applied to a predetermined reference voltage 4 by the comparison circuit 45.
6, when the peak value of the image pickup signal from the CCD 32 is smaller than the reference voltage 46, that is, when the reflected light from the subject 26 with respect to the measurement light is small, the counter 47 counts and reaches a predetermined count number. After that, the distance display circuit 43 is made to display error information such as "measurement impossible".
【００２４】また、前記信号処理手段４は、前記ピーク
ホールド回路４４及び前記カウンタ４７をリセットし、
カウンタ４７が所定のカウント数に達したら、前記測定
光走査制御手段３０の走査及び前記半導体レーザ２３の
発光を停止させるコントロール回路４８を備えている。Further, the signal processing means 4 resets the peak hold circuit 44 and the counter 47,
A control circuit 48 is provided for stopping the scanning of the measuring light scanning control means 30 and the emission of the semiconductor laser 23 when the counter 47 reaches a predetermined count number.
【００２５】この実施例では、対物レンズ３１と投影レ
ンズ２７は、例えば、図２に示すように、隣接して先端
部１２に設けられ、これらの一方または、点線で示すよ
うに両側に照明レンズ２５が設けてある。In this embodiment, the objective lens 31 and the projection lens 27 are provided adjacent to each other on the front end portion 12 as shown in FIG. 2, and one of them or both side illumination lenses are shown by a dotted line. 25 are provided.
【００２６】また、この実施例では図１に示すように台
２９を上下方向に振動した場合、イメージガイド１７の
入射端面側ではレーザ光はファイババンドルを上下方向
に走査し、この走査により、出射端面側では、図１では
水平方向にスキャンした状態に対応し、投影レンズ２７
を経て被写体２６側に投影される測定光は図２に示す対
物レンズ３１の光軸と投影レンズ２７の光軸を含む面ｍ
内で、該投影レンズ２７により放射状に出射されるよう
にしてある。In this embodiment, when the table 29 is vibrated in the vertical direction as shown in FIG. 1, the laser beam scans the fiber bundle in the vertical direction on the incident end face side of the image guide 17, and the laser beam is emitted by this scanning. On the end face side, the projection lens 27 corresponds to the state of scanning in the horizontal direction in FIG.
The measurement light projected to the subject 26 side via the plane m includes the optical axis of the objective lens 31 and the optical axis of the projection lens 27 shown in FIG.
The projection lens 27 radially emits the light.
【００２７】このように構成された３次元計測用内視鏡
装置１は、上述のように台２９は段階的に走査されるの
で、例えば被写体２６の表面が平面であり、この面に垂
直に先端部１２の端面が臨む状態で測定光をスキャンし
た場合には、ＣＣＤ３２の撮像面には図３（ｂ）に示す
ように段階的な走査に対応して、殆ど一定間隔のスポッ
ト列ｓが現れるようになる。このスポット列ｓの間隔は
スコープ２の先端面と被写体２６との距離に依存して変
化し、三角測量の原理から実際のスポットの距離を算出
することができる。このスポット列ｓの数或いは段階波
のピッチは１フィールドまたは１フレームの期間におい
て、各スポットをＣＣＤ３２の出力信号から分離認識で
きる数以内或いはピッチ以上に設定される。In the three-dimensional measurement endoscope apparatus 1 thus constructed, the table 29 is scanned stepwise as described above, so that the surface of the subject 26 is a plane and is perpendicular to this plane, for example. When the measurement light is scanned with the end face of the tip portion 12 facing, spot lines s having almost constant intervals are formed on the image pickup surface of the CCD 32 corresponding to the stepwise scanning as shown in FIG. 3B. It will appear. The interval between the spot rows s changes depending on the distance between the tip surface of the scope 2 and the subject 26, and the actual spot distance can be calculated from the principle of triangulation. The number of the spot trains s or the pitch of the stepped waves is set within the number or pitches in which each spot can be separately recognized from the output signal of the CCD 32 in one field or one frame period.
【００２８】一方、被写体２６の表面が凹凸面である場
合には、その凹凸面に応じて一定間隔でないスポット列
が直線状に現れるようになる。この場合にもＣＣＤ３２
上での各スポットの位置情報から三角測量の原理を用い
て、被写体２６面に実際に形成されているそのスポット
位置までの距離を算出することができ、上記距離計算回
路４２はこの距離の算出を行う。On the other hand, when the surface of the subject 26 is a concave-convex surface, spot rows that are not at regular intervals appear linearly according to the concave-convex surface. Even in this case, the CCD 32
From the position information of each spot above, the distance to the spot position actually formed on the surface of the subject 26 can be calculated using the principle of triangulation, and the distance calculation circuit 42 calculates this distance. I do.
【００２９】なお、凹凸量の大きい部分では被写体２６
の面上のスポットが重なってしまうこともあるため、使
用状況に応じて上記段階波のピッチの大きさを可変設定
できるようにしている。上記距離計算回路４２はＣＣＤ
３２の出力信号を色分離し、例えば、レーザ光の波長の
信号成分を抽出し、この信号成分からこの信号成分の包
絡線検波信号或いは低域信号を減算してスポットを検出
して、ＣＣＤ３２面上でのスポット位置を求めるように
している。It should be noted that the object 26
Since the spots on the surface may overlap, the pitch size of the step wave can be variably set according to the use situation. The distance calculation circuit 42 is a CCD
The output signal of 32 is color-separated, for example, the signal component of the wavelength of the laser light is extracted, the envelope detection signal or the low frequency signal of this signal component is subtracted from this signal component to detect the spot, and the CCD 32 surface I try to find the spot position above.
【００３０】また、ピークホールド回路４４は、ＣＣＤ
３２からの撮像信号のピーク値をホールドし、このホー
ルドされたピーク値は、比較回路４５で所定の基準電圧
４６と比較され、ＣＣＤ３２からの撮像信号のピーク値
がこの基準電圧４６よりも小さい場合、すなわち、測定
光に対する被写体２６からの反射光が小さい場合、カウ
ンタ４７でカウントし、所定のカウント数に達したら、
距離表示回路４３に、例えば、「測定不能」等のエラー
情報を表示させるとともに、コントロール回路４８は、
ピークホールド回路４４及びカウンタ４７をリセット
し、カウンタ４７が所定のカウント数に達したら、測定
光走査制御手段３０の走査及び前記半導体レーザ２３の
発光を停止させる。The peak hold circuit 44 is a CCD
When the peak value of the image pickup signal from 32 is held, the held peak value is compared with a predetermined reference voltage 46 by the comparison circuit 45, and when the peak value of the image pickup signal from the CCD 32 is smaller than this reference voltage 46. That is, when the reflected light from the subject 26 with respect to the measurement light is small, the counter 47 counts, and when a predetermined count number is reached,
The distance display circuit 43 is caused to display error information such as “measurement impossible”, and the control circuit 48
The peak hold circuit 44 and the counter 47 are reset, and when the counter 47 reaches a predetermined count number, the scanning of the measurement light scanning control means 30 and the emission of the semiconductor laser 23 are stopped.
【００３１】したがって、本第１実施例の３次元計測用
内視鏡装置１は、測定光に対する被写体２６からの反射
光が小さく測定誤差を大きくなり距離測定が不可能な場
合、距離表示回路４３にエラー情報を表示させるととも
に、コントロール回路４８により測定光走査制御手段３
０の走査及び前記半導体レーザ２３の発光を停止させ、
３次元測定が不能であることを術者に速やかに知らせる
とともに、測定を停止できるので、術者は測定系の調整
あるいは変更等を行うことにより、確実かつ効率的に、
所望の測定強度は得られる測定系で３次元測定を行うこ
とができる。Therefore, in the endoscope apparatus 1 for three-dimensional measurement according to the first embodiment, when the reflected light from the subject 26 with respect to the measurement light is small and the measurement error is large and the distance measurement is impossible, the distance display circuit 43 is provided. The error information is displayed on the display and the control circuit 48 controls the measuring light scanning control means 3
0 scanning and emission of the semiconductor laser 23 are stopped,
Since the operator can be promptly notified that three-dimensional measurement is not possible and the measurement can be stopped, the operator can adjust and change the measurement system to ensure reliable and efficient operation.
The desired measurement intensity can be three-dimensionally measured with the obtained measurement system.
【００３２】図４は第２実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing the overall configuration of the endoscope apparatus for three-dimensional measurement according to the second embodiment.
【００３３】第２実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
０は、第１実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じなので、異なる構成のみ説明し、同一の構成に対し
ては同一の符号をつけ説明を省略する。The endoscope apparatus 10 for three-dimensional measurement of the second embodiment.
Since 0 is almost the same as the endoscope apparatus for three-dimensional measurement of the first embodiment, only different configurations will be described, and the same configurations will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.
【００３４】図４に示すように、第２実施例の光源・処
理装置５ａの信号処理手段４ａは、ピークホールド回路
４４によりホールドされたＣＣＤ３２からの撮像信号の
ピーク値を積分する積分回路５１と、半導体レーザの照
射強度を制御するレーザ駆動制御回路５０と、前記積分
回路５１の値によりレーザ駆動制御回路５０及び、測定
光走査制御手段３０を制御するコントロール回路４８ａ
とを備えている。As shown in FIG. 4, the signal processing means 4a of the light source / processing device 5a of the second embodiment has an integrating circuit 51 for integrating the peak value of the image pickup signal from the CCD 32 held by the peak hold circuit 44. A laser drive control circuit 50 for controlling the irradiation intensity of the semiconductor laser, and a control circuit 48a for controlling the laser drive control circuit 50 and the measuring light scanning control means 30 according to the values of the integration circuit 51.
It has and.
【００３５】その他の構成は第１実施例と同じである。The other structure is the same as that of the first embodiment.
【００３６】このような構成された３次元計測用内視鏡
装置１００は、積分回路５１でＣＣＤ３２からの各スポ
ットの撮像信号のピーク値を積分し、コントロール回路
４８ａは、この積分値が所定の値よりも小さい場合ある
いは大きい場合には、測定光走査制御手段３０を制御し
て該当するスポット位置に対応したファイバ端面に測定
光を照射させるとともに、レーザ駆動制御回路５０に対
して、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強
度を制御する。また、レーザ駆動制御回路５０により、
適正な測定強度が得られず測定不能の場合は、第１実施
例と同様に、距離表示回路４３にエラー情報を表示させ
るとともに、測定光走査制御手段３０の走査及び半導体
レーザ２３の発光を停止させる。In the three-dimensional measuring endoscope apparatus 100 having such a configuration, the integrating circuit 51 integrates the peak value of the image pickup signal of each spot from the CCD 32, and the control circuit 48a sets the integrated value to a predetermined value. When the value is smaller or larger than the value, the measuring light scanning control means 30 is controlled to irradiate the measuring light to the fiber end face corresponding to the corresponding spot position, and the laser drive control circuit 50 is appropriately measured. The irradiation intensity of the measurement light is controlled so that the intensity can be obtained. Further, by the laser drive control circuit 50,
If an appropriate measurement intensity cannot be obtained and measurement is impossible, error information is displayed on the distance display circuit 43, and scanning of the measurement light scanning control means 30 and emission of the semiconductor laser 23 are stopped, as in the first embodiment. Let
【００３７】その他の作用は第１実施例と同じである。The other operations are the same as in the first embodiment.
【００３８】したがって、本第２実施例の３次元計測用
内視鏡装置１００は、第１実施例の効果に加えて、測定
光に対する被写体２６からの反射光が所定の測定強度の
範囲外にあり、測定に誤差が生じる場合においても、測
定光の照射強度を制御することにより所定の測定強度を
得ることができる。Therefore, in addition to the effect of the first embodiment, the endoscope apparatus 100 for three-dimensional measurement according to the second embodiment has the effect that the reflected light from the subject 26 with respect to the measurement light is out of the predetermined measurement intensity range. Even if an error occurs in the measurement, a predetermined measurement intensity can be obtained by controlling the irradiation intensity of the measurement light.
【００３９】図５は第３実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing the overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to the third embodiment.
【００４０】第３実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
１は、第１実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じなので、異なる構成のみ説明し、同一の構成に対し
ては同一の符号をつけ説明を省略する。Endoscope device 10 for three-dimensional measurement of the third embodiment
Since 1 is almost the same as the endoscope apparatus for three-dimensional measurement of the first embodiment, only different configurations will be described, and the same configurations will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.
【００４１】すなわち、第３実施例の３次元計測用内視
鏡装置１０１の光源・処理装置５ｂの信号処理手段４ｂ
は、映像回路４１と、距離計算回路４２及び距離表示回
路４３と、この距離計算回路４２により計算された距離
に応じて半導体レーザ２３の照射強度を制御するレーザ
駆動制御回路５０とから構成され、レーザ駆動制御回路
５０により、適正な測定強度が得られず測定不能の場合
は、第１実施例と同様に、距離表示回路４３にエラー情
報を表示させるとともに、測定光走査制御手段３０の走
査及び半導体レーザ２３の発光を停止させる。その他の
構成、作用は第１実施例と同じである。That is, the signal processing means 4b of the light source / processing device 5b of the three-dimensional measuring endoscope apparatus 101 of the third embodiment.
Is composed of a video circuit 41, a distance calculation circuit 42 and a distance display circuit 43, and a laser drive control circuit 50 for controlling the irradiation intensity of the semiconductor laser 23 according to the distance calculated by the distance calculation circuit 42. When the laser drive control circuit 50 cannot obtain a proper measurement intensity and measurement cannot be performed, error information is displayed on the distance display circuit 43 and scanning of the measurement light scanning control means 30 is performed as in the first embodiment. The light emission of the semiconductor laser 23 is stopped. Other configurations and operations are the same as those in the first embodiment.
【００４２】このように構成された本第３実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０１は、第１実施例の効果に加え
て、距離計算回路４２により計算された距離に応じて、
半導体レーザ２３の照射強度を制御することができるの
で、常に所定の測定強度で３次元測定を行うことができ
る。The endoscope apparatus 101 for three-dimensional measurement according to the third embodiment having the above-described structure has the effects of the first embodiment, and in addition to the distance calculated by the distance calculating circuit 42,
Since the irradiation intensity of the semiconductor laser 23 can be controlled, three-dimensional measurement can always be performed at a predetermined measurement intensity.
【００４３】図６は第４実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram showing the overall configuration of the endoscope apparatus for three-dimensional measurement according to the fourth embodiment.
【００４４】第４実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
２は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、光源・処理装置５ｃの測定光光
源手段３ｃは、コンデンサレンズ２２とライトガイドコ
ネクタ１６ａとの間に、ライトガイドコネクタ１６ａ端
面に入射するランプ２１からの白色照明光の入射光量を
制御する絞り装置５２を備え、信号処理手段４ｃは、距
離計算回路４２により計算された距離に応じて、この絞
り装置５２の絞り量を制御する絞り駆動回路５３を備え
ていて、その他の構成は第３実施例と同じである。Endoscope device 10 for three-dimensional measurement of the fourth embodiment
2 is almost the same as the endoscope apparatus for three-dimensional measurement of the third embodiment. That is, the measurement light source means 3c of the light source / processing device 5c is a diaphragm for controlling the amount of white illumination light incident from the lamp 21 incident on the end face of the light guide connector 16a between the condenser lens 22 and the light guide connector 16a. The signal processing means 4c is provided with a device 52, and an aperture drive circuit 53 for controlling the aperture amount of the aperture device 52 according to the distance calculated by the distance calculation circuit 42. Same as the example.
【００４５】このように構成された本第４実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０２は、第３実施例の効果に加
え、絞り駆動回路５３により距離に応じて絞り装置５２
の絞り量を制御するので、常に適切な照明光下で、被写
体２６を観察できるという効果もある。In addition to the effects of the third embodiment, the three-dimensional measurement endoscope apparatus 102 of the fourth embodiment having the above-described structure has the diaphragm drive circuit 53 for adjusting the diaphragm device 52 according to the distance.
Since the aperture amount is controlled, the subject 26 can always be observed under appropriate illumination light.
【００４６】図７は第５実施例に係る３次元計測用内視
鏡装置の全体構成を示す構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram showing the overall configuration of the endoscope apparatus for three-dimensional measurement according to the fifth embodiment.
【００４７】第５実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
３は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、図７に示すように、第５実施例
の３次元計測用内視鏡装置１０３においては、光源・処
理装置５ｄは、ランプ２１のランプ電流を制御するラン
プ電流制御回路６３と、ＣＣＤ３２からの撮像信号より
観察時の照明光量の平均値を算出する平均値算出回路６
０と、この平均値算出回路６０からの照明光量の平均値
に基づいて所定の照明光量が得られるように前記ランプ
電流制御回路６３を制御する自動調光回路６１と、ＣＣ
Ｄ３２からの撮像信号のピーク値をホールドするピーク
ホールド回路４４と前記平均値算出回路６を切り換える
切換スイッチ（以下、ＳＷと略記する）６４と、半導体
レーザ２３の照射強度を制御するレーザ駆動制御回路５
０と自動調光回路６１及び切換ＳＷ６４に測光開始指示
を出す測光開始指示ＳＷ６２とを備え、前記自動調光回
路６１は前記測光開始指示ＳＷ６２により測光開始指示
を受けると、前記ピークホールド回路４４にホールドさ
れたピーク値を切換ＳＷ６４を介して入力し、このピー
ク値をに基づいて前記レーザ駆動制御回路５０を制御
し、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強度
を制御するようになっている。尚、前記自動調光回路６
１での前記レーザ駆動制御回路５０の制御は、たとえ
ば、第１実施例で示したように、比較器を用いることに
よって制御を行っても良いし、また、第２実施例で示し
たように積分器を用いて行っても良い。Endoscope device 10 for three-dimensional measurement of the fifth embodiment
3 is almost the same as the endoscope apparatus for three-dimensional measurement of the third embodiment. That is, as shown in FIG. 7, in the endoscope apparatus 103 for three-dimensional measurement according to the fifth embodiment, the light source / processing device 5 d includes the lamp current control circuit 63 for controlling the lamp current of the lamp 21 and the CCD 32. Average value calculation circuit 6 for calculating the average value of the illumination light quantity at the time of observation from the image pickup signal
0, an automatic light control circuit 61 for controlling the lamp current control circuit 63 so as to obtain a predetermined amount of illumination light based on the average value of the amount of illumination light from the average value calculation circuit 60, and CC
A peak hold circuit 44 for holding the peak value of the image pickup signal from D32, a changeover switch (hereinafter abbreviated as SW) 64 for switching the average value calculation circuit 6, and a laser drive control circuit for controlling the irradiation intensity of the semiconductor laser 23. 5
0 and an automatic light adjustment circuit 61 and a light measurement start instruction SW62 for issuing a light measurement start instruction to the switch SW64. When the automatic light adjustment circuit 61 receives a light measurement start instruction from the light measurement start instruction SW62, the peak hold circuit 44 is provided. The held peak value is input through the switching SW 64, the laser drive control circuit 50 is controlled based on this peak value, and the irradiation intensity of the measurement light is controlled so that an appropriate measurement intensity can be obtained. Is becoming The automatic dimming circuit 6
The control of the laser drive control circuit 50 in 1 may be performed by using a comparator as shown in the first embodiment, or as shown in the second embodiment. You may perform using an integrator.
【００４８】その他の構成は第３実施例と同じである。The other structure is the same as that of the third embodiment.
【００４９】このように構成された本第５実施例の３次
元計測用内視鏡装置１０３は、第３実施例の効果に加
え、平均値算出回路６０及び自動調光回路６１により観
察時において、所定の照明光量が得られるように照明光
量の平均値に基づいてランプ２１のランプ電流を制御す
るので、常に適切な照明光下で、被写体２６を観察でき
るという効果がある。In addition to the effect of the third embodiment, the three-dimensional measuring endoscope apparatus 103 of the fifth embodiment having the above-described structure has the mean value calculation circuit 60 and the automatic light control circuit 61 at the time of observation. Since the lamp current of the lamp 21 is controlled on the basis of the average value of the amount of illumination light so that a predetermined amount of illumination light can be obtained, there is an effect that the subject 26 can always be observed under appropriate illumination light.
【００５０】尚、各実施例において、電子スコープは、
照明光を伝送するライトガイドと、測定光を伝送するイ
メージガイドとを備えて構成したが、本発明はこれに限
らず、１つのイメージガイドを用いてハーフプリズムに
より分離して照明光と測定光とを照射する構成とした電
子スコープでも良い。In each embodiment, the electronic scope is
Although the light guide for transmitting the illumination light and the image guide for transmitting the measurement light are provided, the present invention is not limited to this, and the illumination light and the measurement light are separated by a half prism using one image guide. An electronic scope configured to irradiate and may be used.
【００５１】また、各実施例において、カラー画像を得
るために、照明光発生手段は、ランプ２１の白色照明光
を照射しＣＣＤ３２撮像面の前に、モザイクカラーフィ
ルタ３３を取り付け、光学的に色分離する色分離方式と
したが、本発明はこれに限らず、例えば、モータによっ
て回転駆動されるＲＧＢ回転円板にランプの白色照明光
が照射され、このＲＧＢ回転円板を通して生成されたＲ
ＧＢ光を照射する面順次方式としても良い。Further, in each of the embodiments, in order to obtain a color image, the illumination light generating means irradiates the white illumination light of the lamp 21 and attaches the mosaic color filter 33 in front of the image pickup surface of the CCD 32 to optically color the image. Although the color separation system for separation is used, the present invention is not limited to this, and, for example, the R rotary disc generated by irradiating the RGB rotary disc driven by the motor with the white illumination light of the lamp is generated.
A frame-sequential method in which GB light is emitted may be used.
【００５２】さらに、各実施例において、少なくとも測
定光を伝送するのに用いられるイメージガイドの代わり
に、屈折率分布型レンズとかリレーレンズ系を用いるこ
ともできるし、ライトガイドのように一方の端面と他方
の端面におけるファイバの配置に規則性がないものに対
して、相関付ける手段を設けたライトガイドを用いるこ
ともできる。Further, in each of the embodiments, a gradient index lens or a relay lens system may be used instead of at least the image guide used for transmitting the measurement light, and one end face like a light guide may be used. It is also possible to use a light guide provided with a correlating means for the case where the arrangement of the fibers on the other end face is not regular.
【００５３】さらにまた、上述の各実施例では光源装置
側で測定光を、例えば圧電素子でメカニカルにスキャン
して、像伝送手段の一方の端面への入射位置を変えてい
るが、圧電素子の代わりにＫＤＰなどの光学素子を用い
て、この素子の電気信号に対する光学特性を制御して同
等の機能をもたせることもできる。また、メカニカルな
どでスキャンするのでなく、像伝送手段の一方の端面に
対向して複数のＬＥＤを一定間隔などでライン状などに
配置し、これらを同時に点灯させても良い（選択的に駆
動しても良い）。Furthermore, in each of the above-described embodiments, the measuring light is mechanically scanned on the light source device side by, for example, a piezoelectric element to change the incident position on one end face of the image transmitting means. Alternatively, an optical element such as KDP may be used to control the optical characteristics of the element with respect to an electric signal so as to have the same function. Instead of scanning mechanically, a plurality of LEDs may be arranged in a line or the like facing one end surface of the image transmission means at regular intervals, and these LEDs may be turned on at the same time (selectively driven). May be).
【００５４】また、測定光スポットは図３などでは直線
に沿って形成される場合について説明してあるが、これ
に限定されるものでなく、例えば正方格子状など２次元
的な広がりを有するように形成しても良い。また、２次
元的に測定光スポットを形成した場合には、それらの測
定光スポットの距離を算出して、被写体表面の凹凸形状
を３次元的に表示させることもできる。この場合、必要
に応じ、補間して測定点以外の凹凸形状を求めるように
しても良い。Further, although the measurement light spot is described as being formed along a straight line in FIG. 3 etc., it is not limited to this, and it may have a two-dimensional spread such as a square lattice shape. It may be formed in Further, when the measurement light spots are formed two-dimensionally, the distance between the measurement light spots can be calculated and the uneven shape of the subject surface can be displayed three-dimensionally. In this case, if necessary, it is possible to interpolate to obtain the uneven shape other than the measurement points.
【００５５】尚、測定光の波長は可視光域内でもよい
し、可視光域以外でも良い。また、上述した各実施例を
部分的に組み合わせて異なる実施例を形成しても良い。The wavelength of the measuring light may be within the visible light range or may be outside the visible light range. Further, different embodiments may be formed by partially combining the respective embodiments described above.
【００５６】さらに、総合コネクタにより電子スコープ
を一体的に光源処理装置に接続するとしたが、これに限
らず、ライトガイドコネクタ、イメージガイドコネクタ
及び信号コネクタを、それぞれ別体あるいは複数組み合
わせて光源処理装置に着脱自在に接続するように構成し
ても良い。Further, although it has been stated that the electronic scope is integrally connected to the light source processing device by the general connector, the light source processing device is not limited to this, and the light guide connector, the image guide connector and the signal connector may be provided separately or in combination. It may be configured to be detachably connected to.
【００５７】[0057]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、本
発明の３次元計測用内視鏡装置は、少なくとも、術者が
反射光の強度により測定誤差が大きく測定不能の状態を
認識でき、さらに、照射光及び測定光のうち少なくとも
測定光の照射強度を制御できるという効果がある。As described above, according to the present invention, the endoscopic apparatus for three-dimensional measurement according to the present invention allows at least the operator to recognize a large measurement error due to the intensity of reflected light and an unmeasurable state. Further, there is an effect that at least the irradiation intensity of the measurement light of the irradiation light and the measurement light can be controlled.
【図１】 第１実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to a first embodiment.
【図２】 第１実施例に係る電子スコープの先端面を示
す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a front end surface of the electronic scope according to the first embodiment.
【図３】 第１実施例に係る測定光を入射端面側でスキ
ャンした場合におけるＣＣＤで撮像される光スポットを
示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a light spot imaged by a CCD when the measurement light according to the first embodiment is scanned on the incident end face side.
【図４】 第２実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing an overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to a second embodiment.
【図５】 第３実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing an overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to a third embodiment.
【図６】 第４実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram showing an overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to a fourth embodiment.
【図７】 第５実施例に係る３次元計測用内視鏡装置の
全体構成を示す構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram showing an overall configuration of a three-dimensional measurement endoscope apparatus according to a fifth embodiment.
１…３次元計測用内視鏡装置 ２…電子スコープ ３…光源手段 ４…信号処理手段 ５…光源・処理装置 ２３…半導体レーザ ２７…投影レンズ ２８…圧電素子 ３０…測定光走査制御手段 ３２…ＣＣＤ ４１…映像回路 ４２…距離計算回路 ４３…距離表示回路 ４４…ピークホールド回路 ４５…比較回路 ４７…カウンタ ４８…コントロール回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Endoscopic device for three-dimensional measurement 2 ... Electronic scope 3 ... Light source means 4 ... Signal processing means 5 ... Light source / processing device 23 ... Semiconductor laser 27 ... Projection lens 28 ... Piezoelectric element 30 ... Measuring light scanning control means 32 ... CCD 41 ... Image circuit 42 ... Distance calculation circuit 43 ... Distance display circuit 44 ... Peak hold circuit 45 ... Comparison circuit 47 ... Counter 48 ... Control circuit
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成４年３月３日[Submission date] March 3, 1992
【手続補正１】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】００４７[Correction target item name] 0047
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【００４７】第５実施例の３次元計測用内視鏡装置１０
３は、第３実施例の３次元計測用内視鏡装置とほとんど
同じである。すなわち、図７に示すように、第５実施例
の３次元計測用内視鏡装置１０３においては、光源・処
理装置５ｄは、ランプ２１のランプ電流を制御するラン
プ電流制御回路６３と、ＣＣＤ３２からの撮像信号より
観察時の照明光量の平均値を算出する平均値算出回路６
０と、この平均値算出回路６０からの照明光量の平均値
に基づいて所定の照明光量が得られるように前記ランプ
電流制御回路６３を制御する自動調光回路６１と、ＣＣ
Ｄ３２からの撮像信号のピーク値をホールドするピーク
ホールド回路４４と前記平均値算出回路６０を切り換え
る切換スイッチ（以下、ＳＷと略記する）６４と、半導
体レーザ２３の照射強度を制御するレーザ駆動制御回路
５０と自動調光回路６１及び切換ＳＷ６４に測光開始指
示を出す測光開始指示ＳＷ６２とを備え、前記自動調光
回路６１は前記測光開始指示ＳＷ６２により測光開始指
示を受けると、前記平均値算出回路６０にて算出された
観察光の平均値を切換ＳＷ６４を介して入力し、このピ
ーク値をに基づいて前記レーザ駆動制御回路５０を制御
し、適正な測定強度が得られるように測定光の照射強度
を制御するようになっている。尚、前記自動調光回路６
１での前記レーザ駆動制御回路５０の制御は、たとえ
ば、第１実施例で示したように、比較器を用いることに
よって制御を行っても良いし、また、第２実施例で示し
たように積分器を用いて行っても良い。Endoscope device 10 for three-dimensional measurement of the fifth embodiment
3 is almost the same as the endoscope apparatus for three-dimensional measurement of the third embodiment. That is, as shown in FIG. 7, in the endoscope apparatus 103 for three-dimensional measurement according to the fifth embodiment, the light source / processing device 5 d includes the lamp current control circuit 63 for controlling the lamp current of the lamp 21 and the CCD 32. Average value calculation circuit 6 for calculating the average value of the illumination light quantity at the time of observation from the image pickup signal
0, an automatic light control circuit 61 for controlling the lamp current control circuit 63 so as to obtain a predetermined amount of illumination light based on the average value of the amount of illumination light from the average value calculation circuit 60, and CC
A peak hold circuit 44 for holding the peak value of the image pickup signal from D32, a changeover switch (hereinafter abbreviated as SW) 64 for switching the average value calculation circuit 60 , and a laser drive control circuit for controlling the irradiation intensity of the semiconductor laser 23. 50, an automatic light control circuit 61, and a photometry start instruction SW62 for issuing a photometry start instruction to the switching SW64. When the automatic light control circuit 61 receives the photometric start instruction by the photometry start instruction SW62, the average value calculation circuit 60. Calculated by
The average value of the observation light is input via the switching SW 64, the laser drive control circuit 50 is controlled based on this peak value, and the irradiation intensity of the measurement light is controlled so that an appropriate measurement intensity can be obtained. Is becoming The automatic dimming circuit 6
The control of the laser drive control circuit 50 in 1 may be performed by using a comparator as shown in the first embodiment, or as shown in the second embodiment. You may perform using an integrator.
Claims (1)
の測定光を投影する測定光投影光学系と、 照明光を広域的に照射する照明光学系と、 前記測定光投影光学系に測定光を伝送する測定光伝送部
材と、前記照明光学系に通常照明光を伝送する照明光伝
送部材と、前記測定光または照明光による光学像を撮像
する撮像手段とを有する計測用内視鏡と、 前記測定光伝送部材と前記照明光伝送部材とに、測定光
及び照明光を供給する機能を有する光源装置と、 前記撮像手段により得られた撮像信号により、前記測定
光投影光学系からの測定光及び前記照明光学系からの照
明光のうち少なくとも該測定光投影光学系からの測定光
を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする３次元
計測用内視鏡装置。1. A measurement light projection optical system for projecting measurement light for three-dimensional measurement for measuring a distance and the like, an illumination optical system for radiating illumination light over a wide area, and the measurement light projection optical system. A measuring endoscope having a measuring light transmitting member for transmitting measuring light, an illuminating light transmitting member for transmitting normal illuminating light to the illuminating optical system, and an imaging means for taking an optical image of the measuring light or the illuminating light. A light source device having a function of supplying measurement light and illumination light to the measurement light transmission member and the illumination light transmission member; and an imaging signal obtained by the imaging means, from the measurement light projection optical system. An endoscopic apparatus for three-dimensional measurement, comprising: a control unit that controls at least the measurement light from the measurement light projection optical system among the measurement light and the illumination light from the illumination optical system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/279,082 US5436655A (en) | 1991-08-09 | 1994-07-22 | Endoscope apparatus for three dimensional measurement for scanning spot light to execute three dimensional measurement |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3-212177 | 1991-08-23 | ||
| JP21217791 | 1991-08-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05111460A true JPH05111460A (en) | 1993-05-07 |
Family
ID=16618189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3317970A Withdrawn JPH05111460A (en) | 1991-08-09 | 1991-12-02 | Endoscope device for three-dimensional measurement |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05111460A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007135756A (en) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Olympus Corp | Endoscope apparatus |
| JP2010115391A (en) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Hoya Corp | Endoscope apparatus |
| JP2012078709A (en) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Olympus Corp | Guide tube device and endoscope system |
-
1991
- 1991-12-02 JP JP3317970A patent/JPH05111460A/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007135756A (en) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Olympus Corp | Endoscope apparatus |
| US8400500B2 (en) | 2005-11-16 | 2013-03-19 | Olympus Corporation | Endoscope with alternating irradiate light |
| JP2010115391A (en) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Hoya Corp | Endoscope apparatus |
| US8947514B2 (en) | 2008-11-14 | 2015-02-03 | Hoya Corporation | Endoscope system with scanning function |
| JP2012078709A (en) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Olympus Corp | Guide tube device and endoscope system |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10104363B2 (en) | Optical system in 3D focus scanner | |
| US6809866B2 (en) | Optical imaging apparatus | |
| EP1464165B1 (en) | Imaging device and related methods | |
| US5436655A (en) | Endoscope apparatus for three dimensional measurement for scanning spot light to execute three dimensional measurement | |
| JP3667302B2 (en) | Optical analyzer | |
| KR20110094283A (en) | Endoscopic led light source having a feedback control system | |
| JPH02287311A (en) | Endoscope device with measuring mechanism | |
| JP2022027501A (en) | Imaging device, method for performing phase-difference auto-focus, endoscope system, and program | |
| JP6738465B2 (en) | Endoscope system | |
| WO2017149586A1 (en) | Optical scanning imaging projection apparatus and endoscope system | |
| JP3776561B2 (en) | 3D measuring endoscope device | |
| JPH0141964B2 (en) | ||
| JPH05111460A (en) | Endoscope device for three-dimensional measurement | |
| JPH0541901A (en) | Endoscope for three-dimensional measurement | |
| JP2005279028A (en) | Endoscope | |
| JP3191932B2 (en) | Measurement endoscope device | |
| JPH0552533A (en) | Endoscope apparatus for three-dimensional measurement | |
| JP2003290131A (en) | Stereoscopic endoscope | |
| JPH0542097A (en) | Endoscope for three-dimensional measurement | |
| JP3096326B2 (en) | Endoscope device | |
| JP4750192B2 (en) | Pattern projection apparatus and endoscope apparatus | |
| JPH11342105A (en) | Observation device for endoscope | |
| JPH0552531A (en) | Endoscope apparatus for three-dimensional measurement | |
| JPH10161041A (en) | Light source device for endoscope | |
| JPH05341206A (en) | Stereoscopic endoscope device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990311 |