JPH0498114A - Displacement measuring device - Google Patents
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- JPH0498114A JPH0498114A JP21591590A JP21591590A JPH0498114A JP H0498114 A JPH0498114 A JP H0498114A JP 21591590 A JP21591590 A JP 21591590A JP 21591590 A JP21591590 A JP 21591590A JP H0498114 A JPH0498114 A JP H0498114A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 103
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 142
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 51
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 22
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims 6
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 claims 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 29
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 12
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 abstract description 9
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 229910003781 PbTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000010979 ruby Substances 0.000 description 1
- 229910001750 ruby Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Magnetic Bearings And Hydrostatic Bearings (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、被測定物にスタイラスを接触させて相対的に
移動させることにより被測定物の形状を検知する変位測
定装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention provides a displacement measuring device that detects the shape of an object to be measured by bringing a stylus into contact with the object and moving it relatively. Regarding.
(従来の技術)
被測定物の形状を検知する変位測定装置は、軸方向に移
動自在に支持されたプローブ軸の先端部にスタイラスが
設けられ、このスタイラスを被測定物に接触させ、被測
定物の形状に倣って進退動作するスタイラスのストロー
クを前記プローブ軸に伝達するようになっている。前記
プローブ軸は、摩擦力を軽減するために空気軸受により
非接触軸支されている。また、前記スタイラスは、その
位置に関係なく被測定物に一定の接触圧で接触するよう
になっている。(Prior art) A displacement measuring device that detects the shape of an object to be measured is equipped with a stylus at the tip of a probe shaft supported movably in the axial direction, and the stylus is brought into contact with the object to be measured. The stroke of the stylus, which advances and retreats following the shape of the object, is transmitted to the probe shaft. The probe shaft is supported by an air bearing in a non-contact manner to reduce frictional force. Furthermore, the stylus is adapted to contact the object to be measured with a constant contact pressure regardless of its position.
すなわち、第10図は、従来の変位測定装置(^)を示
している。この変位測定装置(^)は、円筒状のハウジ
ング(X) と、このハウジング(Xl の内部に設
けられた空気軸受(+1) と、この空気軸受(B)に
軸方向に移動自在に軸支されたプローブ軸(C) と
、このプローブ軸(C)の先端に設けられたスタイラス
(f)) と、プローブ軸(C)の末端に設けられプ
ローブ軸(C)の移動量を検出するためのコーナキュー
ブ(Iりと、プローブ軸(C)の後端部に環装されたコ
ア(F)と、このコア(1’)を非接触で囲繞するよう
にハウジング(X)に設けられたバイアスコイル(Gl
とからなっている。前記プローブ軸(C) は、横断
面形状が矩形であって、これに対応して空気軸受(B)
の軸受穴も矩形になっていて、プローブ軸(C)の軸の
回りの回転を防止できるようになっている。That is, FIG. 10 shows a conventional displacement measuring device (^). This displacement measuring device (^) consists of a cylindrical housing (X), an air bearing (+1) provided inside this housing (Xl), and a shaft supported by this air bearing (B) so as to be movable in the axial direction. the probe shaft (C), the stylus (f)) installed at the tip of the probe shaft (C), and the stylus (f) installed at the end of the probe shaft (C) to detect the amount of movement of the probe shaft (C). A core (F) is attached to the rear end of the probe shaft (C) with a corner cube (I), and a housing (X) is provided to surround this core (1') without contact. Bias coil (Gl
It consists of The probe shaft (C) has a rectangular cross-sectional shape, and a corresponding air bearing (B).
The bearing hole is also rectangular to prevent rotation around the axis of the probe shaft (C).
一方、第11図は、従来の他の変位測定装置(旧を示し
ている。この変位測定装置(旧 は、円筒状のハウジン
グ(1)と、このハウジング(1)の内部に設けられた
軸受(」)と、この軸受(J)に軸方向に移動自在に静
圧軸支されたプローブ軸(K)と、このプローブ軸(K
)の先端に取付られたスタイラス(L)と、プローブ軸
(K)の後端に軸方向に沿って設けられた凹溝fM)
と、ハウジング(1)の内部に凹溝(M)に遊挿する
ように突設され回転止めピン(N) とからなってい
る。そして、軸受(11とプローブ軸(K) とのギ
ャップには、空気流路(P)を経由して空気流入口(R
)から圧縮空気が供給されるようになっている。さらに
、軸受(1) とプローブ軸(K) とのギャップ
に供給された圧縮空気は、空気流出[1(Sl から外
部に放出されるようになっている。そして、空気流出口
(P)の開「1面積の調整は、図示せぬ調整ねじにより
行うようになっている。On the other hand, Fig. 11 shows another conventional displacement measuring device (the old one). (''), a probe shaft (K) that is hydrostatically supported on this bearing (J) so as to be movable in the axial direction, and this probe shaft (K).
) attached to the tip of the stylus (L), and a concave groove fM) provided along the axial direction at the rear end of the probe shaft (K).
and a rotation stopper pin (N) that protrudes so as to be loosely inserted into a groove (M) inside the housing (1). In the gap between the bearing (11) and the probe shaft (K), an air inlet (R
) is supplied with compressed air. Furthermore, the compressed air supplied to the gap between the bearing (1) and the probe shaft (K) is discharged to the outside from the air outlet [1 (Sl). Adjustment of the opening area is performed using an adjustment screw (not shown).
(発明が解決しようとする課題)
しかして、前者の変位測定装置(八)においては、スタ
イラス(D)の被測定物への接触圧の調整は、バイアス
コイル(6)に印加する電流量を加減することにより行
うようになっている。そのため、バイアスコイル(G)
への電流の印加にともなう発熱が問題となる。すなわち
、温度管理が厳しい精密な測定や、長時間にわたる測定
では、バイアスコイル(G)の発熱は、データの信頼性
という点から重大な悪影響を与える虞がある。そこで、
この問題を解消するためには、放熱機構を付設する必要
があるが、変位測定装置(A)の構造の複雑化を招き、
設計上、好ましくなかった。また、従来の変位測定装置
(^)は、スタイラス(D)の被測定物への接触圧を検
出するセンサが設けられていないので、測定中における
接触圧の微妙な変動に忠実に即応して、バイアスコイル
(G)への印加電流の調整を行うことはできなかった。(Problem to be Solved by the Invention) However, in the former displacement measuring device (8), the contact pressure of the stylus (D) to the object to be measured is adjusted by adjusting the amount of current applied to the bias coil (6). This is done by adjusting the amount. Therefore, the bias coil (G)
Heat generation associated with the application of current to the device becomes a problem. That is, in precise measurements that require strict temperature control or measurements over a long period of time, the heat generated by the bias coil (G) may have a serious adverse effect on data reliability. Therefore,
In order to solve this problem, it is necessary to add a heat dissipation mechanism, but this will complicate the structure of the displacement measuring device (A).
I didn't like it by design. In addition, the conventional displacement measuring device (^) is not equipped with a sensor to detect the contact pressure of the stylus (D) on the object to be measured, so it can faithfully and immediately respond to subtle fluctuations in the contact pressure during measurement. , it was not possible to adjust the current applied to the bias coil (G).
したがって、この問題は、被測定物の形状を安定した状
態で測定するための大きな障害となっていた。Therefore, this problem has been a major obstacle to stable measurement of the shape of the object to be measured.
一方、後者の変位測定装置(11)においては、スタイ
ラス(1,)の被測定物への接触圧の調整は、調整ねじ
により空気流出口(S)の開[−1面積を加減して圧縮
空気の空気流出D(S)からの排出量を調整することに
より行なっていた。このため、接触圧の調整による空気
軸受特性の変化や測定中の接触圧の変動に対する配慮は
全くなされていなかった。On the other hand, in the latter displacement measuring device (11), the contact pressure of the stylus (1,) to the measured object is adjusted by adjusting the opening [-1 area of the air outlet (S)] using the adjustment screw. This was done by adjusting the amount of air discharged from the air outflow D(S). For this reason, no consideration was given to changes in air bearing characteristics due to adjustment of contact pressure or fluctuations in contact pressure during measurement.
本発明は、上記事情を参酌してなされたもので、発熱が
少なく且つ測定中における接触圧の変動がない変位測定
装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a displacement measuring device that generates little heat and does not cause fluctuations in contact pressure during measurement.
[発明の構成1
(課題を解決するための手段と作用)
本発明の変位測定装置は、接触圧検出部にて接触圧を検
出し、この検出した接触圧に基づいて、接触圧調整部に
よりプローブ軸の被測定物に対する接触圧を制御するよ
うにしたもので、変位測定中の微妙な接触圧変動に忠実
に即応して、リアルタイムで接触圧を厳密に制御するこ
とができる。[Structure 1 of the Invention (Means and Effects for Solving the Problems) The displacement measuring device of the present invention detects contact pressure in the contact pressure detection section, and based on the detected contact pressure, the contact pressure adjustment section It is designed to control the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured, and it is possible to precisely control the contact pressure in real time by faithfully and immediately responding to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement.
また、接触圧調整部は、はとんど発熱せず、発熱による
変位量測定値への悪影響がない。したがって、これらの
諸効果が相俟って、変位測定精度が著しく向上する。Further, the contact pressure adjustment section hardly generates heat, and the displacement measurement value is not adversely affected by the heat generation. Therefore, these effects work together to significantly improve displacement measurement accuracy.
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳述する。(Example) Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は、この実施例の変位測定装置(Pl)を示して
いる。この変位測定装置(Pl)は、円筒状のハウジン
グ(1)と、このハウジング(1)の内部に設けられた
空気軸受(2)と、この空気軸受(2)により軸方向に
移動自在に非接触軸支された円柱状のプローブ軸(3)
と、このプローブ軸(3)の前端に同軸に設けられ変位
量が測定される被測定物に直接当接するスタイラス(4
)と、プローブ軸(3)とスタイラス(4)の間に介設
されプローブ軸(3)の軸方向の移動を規制するストッ
パ(5)と、プローブ軸(3)の後端部に設けられこの
プローブ軸(3)の移動量を検出するためのコーナキュ
ーブ(6a)を有する測長部(6)と、プローブ軸(3
)及びハウジンク(1)の内部の後端部に設けられた接
触圧調整部(7) と、プローブ軸(3)とストッパ(
5)の間に設けられスタイラス(4)の被測定物への接
触圧を検出する接触圧検出部(8)と、この接触圧検出
部(8)における検出結果に基づいて接触圧調整部(7
)に接触圧を最適値にするための制御信号を印加する接
触圧制御部(9)とからなっている。しかして、ハウジ
ング(1)は、コーナキューブ(6a)を同軸に囲繞す
る第1ハウジング部(10)と、この第1ハウジング部
(10)に連接し接触圧調整部(7)を保持する第2ハ
ウジング部(11)と、この第2ハウジング部(11)
に連接し空気軸受(2)を保持する第3ハウジング部(
12)と、この第3ハウジング部(12)に連接し接触
圧検出部(8)を同軸に囲繞する第4ハウジング部(1
3)と、この第4ハウジング部(13)に連接しストッ
パ(5)が同軸に遊挿される第5ハウジング部(14)
とからなっている。この第5ハウジング部(14)は、
円筒部(15)と、この円筒部(15)の一端部に設け
られた端板(16)とからなっている。そして、円筒部
(15)の一端部側の周縁部にはテーパ面(16a)が
形成されている。このテーパ面(16a)には、一端部
が円筒部(15)の内部に開口する透孔(17)・・・
の他端部が開1コしている。また、端板(16)には、
ストッパ(5)の一部が挿通ずる透孔(18)が、同軸
に穿設されている。さらに、空気軸受(2)は、第3ハ
ウジング部(12)に内嵌された金属製のブツシュ(1
9)と、このブツシュ(19)の外面に設けられた一対
のリング状案内溝(20)、 (20) と、これら
の案内溝(20)、 (20)に連通してブツシュ(1
9)の等配位置にて複数個穿設されプローブ軸(3)向
かって圧縮空気を噴出する絞り孔(21)・・と、ブツ
シュ(19)の一対のリング状案内溝(20L (20
j間に等配して穿設され絞り孔(21)・・からブツシ
ュ(19)の内部に供給された空気を外部に排出するた
めの排気孔(22)・・・とからなっている。また、第
3ハウジング部(12)の排気孔(22)・・・に対応
する位置には、排気孔(22)・・・に対して同軸に排
気孔(22a)・・が穿設されている。また、第3ハウ
ジング部(12)の案内溝(20)、 (20)に対応
する位置には、圧縮空気をこれら案内溝(2G)、 (
20)に導入するための圧縮空気導入孔(24)、 (
24)が穿設されている。この圧縮空気導入孔(24)
、 (24)は、図示せぬ導管を介して、図示せぬ圧縮
空気源に接続されている。さらに、ストッパ(5)は、
プローブ軸(3)に同軸に連結され一端部が透孔(18
)から突出する軸部(25)と、この軸部(25)の中
途部に設けられた鍔部(26)とからなっている。しか
して、この鍔部(26)は、ブツシュ(19)と端板(
16)により規制される範囲内で進退自在となっ−Cい
る。さらに、スタイラス(11)は、軸部(25)の先
端に同軸に取付けられた基軸(27)と、この基軸(2
7)の先端に同軸に連結されたルビー製の球体部(28
)とからなっている。一方、測長部(6)は、プローブ
軸(3)の軸線に対して45度傾斜し且つ互いに直交す
る一対の反射面(21a)(29b)か設けられたコー
ナキューブ(6a)と、一対の反射面(29a)、 f
29t+)にて入反射したレーザ光(30)、(31)
の干渉特性によりプローブ軸(3)の変位量を検出する
レーザ干渉式測長器(32)とからなっている。上記レ
ーザ干渉式測長器(32)は、プローブ軸(3)の軸線
に沿って一対の反射面(29aL (29b)のうち一
方のものにレーザ光(30)を投射するように設けられ
ている。そして、一方の反射面(29a)に入射したレ
ーザ光(30)は、他方の反射面(29b)にて反射し
、このとき反射したレーザ光(31)が、再びプローブ
軸(3)の軸線に沿ってレーザ干渉式測長器(32)に
戻ってくるようになっている。さらに、接触圧調整部(
7)は、第2ハウジング部(11)に内嵌され非磁性体
からなる円筒状のボビン(33)と、このボビン(33
)にその軸線り向に埋設状態にて並設された一対の永久
磁石(34)、 (35) と、これら永久磁石(34
)、 (35)上に巻回された一対のコイル(36)、
(37) と、プローブ軸(3)のボビン(33)
に対向する位置に外嵌された円筒状のコア(38B!:
からなっている。そして、上記コイル(36)、 (3
7)は、図示せぬ電源から給電され、給電量の調整によ
りコイル(36)、 (37)並びに永久磁石(34)
、 (35) と、コア(38)との間に発生する磁力
を変化させることができるようになっている。この給電
によりコイル(36)、 (37)が発熱するので、第
2ハウジング部(11)の外周部には、鍔状のフィン(
39)・・・が突設されている。なお、コイル(36)
、 (3’l)並びに永久磁石(34)、 (35)
と、コア(38)との間に発生する磁力により、被測
定物に対するプローブ軸(3)の接触圧を発生させるよ
うにしている。この場合、永久磁石(34)、 (35
) とコア(38)との間に発生する磁力により、固定
的な基準接触圧POを得るようにしている。そして、コ
イル(36)、 (371とコア(38)との間に発生
する磁力により、上記固定的な基準接触圧POを増減さ
せ、所望の目標接触圧PAを得るようにしている。さら
に、接触圧検出部(8)は、第2図に示すように、スト
ッパ(5)の軸部(25)とプローブ軸(3)との間に
同軸に介挿・固定された円柱状の弾性体(40)と、こ
の弾性体(39)の外周面の軸線に直交する円周方向に
沿う4箇所に等配して貼着されたひずみゲージ(41)
・・・とからなっている。これらひずみゲージ(41)
・・・は、弾性体(40)の変形量に対応した大きさの
電圧の変位検出信号SΔ・・を出力するように設けられ
ている。そして、この弾性体(40)を囲繞する第4ハ
ウジング部(13)には、複数の透孔(42)・・・が
穿設されている。最後に、接触圧制御部(9)は、ひず
みゲージ(41)・・に電気的に接続され変位検出信号
SA・・・を増幅する増幅器(43)と、この増幅器(
43)の出力側に接続され増幅された変位検出信号SB
・・・を入力してこの変位検出信号SB・・・に基づい
て弾性体(40)の軸心部分におけるひずみ量を接触圧
Pとして算出するとともに弾性体(40)のプローブ軸
(3)の軸線に対する傾き八Tを算出する第1演算部(
44)と、被測定物に対するプローブ軸(3)の目標接
触圧PAを設定するための接触圧設定部(45)と、こ
の第1演算部(44)から出力された接触圧P及び傾き
八Tを示す電気信号SCを入力するとともに接触圧設定
部(45)から出力された目標接触圧PAを示す電気信
号SDを入力して目標接触圧PAと接触圧検出部(8)
にて検出された接触圧Pとの差である接触圧変動分ΔP
を解消させるための制御信号S ESFを出力する制御
部(48)と、この制御部(48)から出力された制御
信号SE、SFを増幅してコイル(36)、 (37)
に給電する増幅器(49)、 (5G+ と、レーザ干
渉式測長器(32)から出力されたプローブ軸(3)の
変位量を示す計測信号SGを並びに第1演算部(44)
から出力された接触圧P及び傾き八Tを示す電気信号S
Cを入力して弾性体(40)の軸心部分でのひずみ量ε
と傾き八Tを修正しプローブ軸(3)の真の変位量を算
出する第2演算部(51)とからなっている。FIG. 1 shows the displacement measuring device (Pl) of this embodiment. This displacement measuring device (Pl) includes a cylindrical housing (1), an air bearing (2) provided inside the housing (1), and a non-removal device that is movable in the axial direction by the air bearing (2). Contact-supported cylindrical probe shaft (3)
A stylus (4) is installed coaxially with the front end of the probe shaft (3) and directly contacts the object to be measured whose displacement is to be measured.
), a stopper (5) interposed between the probe shaft (3) and the stylus (4) and regulating the axial movement of the probe shaft (3), and a stopper (5) provided at the rear end of the probe shaft (3). A length measuring section (6) having a corner cube (6a) for detecting the amount of movement of the probe shaft (3),
), the contact pressure adjustment part (7) provided at the rear end inside the housing (1), the probe shaft (3) and the stopper (
5), which detects the contact pressure of the stylus (4) to the object to be measured, and a contact pressure adjustment unit (8) based on the detection result of the contact pressure detection unit (8). 7
) and a contact pressure control section (9) that applies a control signal to bring the contact pressure to an optimum value. Thus, the housing (1) includes a first housing part (10) that coaxially surrounds the corner cube (6a), and a first housing part (10) that is connected to the first housing part (10) and holds the contact pressure adjustment part (7). 2 housing part (11) and this second housing part (11)
A third housing part (
12), and a fourth housing part (12) that is connected to the third housing part (12) and coaxially surrounds the contact pressure detection part (8).
3), and a fifth housing part (14) which is connected to the fourth housing part (13) and into which the stopper (5) is loosely inserted coaxially.
It consists of This fifth housing part (14) is
It consists of a cylindrical part (15) and an end plate (16) provided at one end of the cylindrical part (15). A tapered surface (16a) is formed on the peripheral edge of the cylindrical portion (15) on one end side. This tapered surface (16a) has a through hole (17) whose one end opens inside the cylindrical portion (15).
The other end is open. In addition, the end plate (16) has
A through hole (18) through which a portion of the stopper (5) is inserted is coaxially bored. Further, the air bearing (2) is made of a metal bushing (1) fitted inside the third housing part (12).
9), a pair of ring-shaped guide grooves (20), (20) provided on the outer surface of this bush (19), and a bush (19) communicating with these guide grooves (20), (20).
A plurality of throttle holes (21) are drilled at equal positions in the probe shaft (3) and a pair of ring-shaped guide grooves (20L (20) in the bush (19)
It consists of exhaust holes (22), which are equally spaced between holes (21) and (22) for discharging the air supplied to the inside of the bush (19) from the throttle holes (21). Further, an exhaust hole (22a) is formed coaxially with the exhaust hole (22) at a position corresponding to the exhaust hole (22) of the third housing part (12). There is. In addition, compressed air is supplied to positions corresponding to the guide grooves (20), (20) of the third housing part (12).
Compressed air introduction hole (24) for introducing into (20), (
24) is perforated. This compressed air introduction hole (24)
, (24) are connected to a compressed air source (not shown) via a conduit (not shown). Furthermore, the stopper (5) is
It is coaxially connected to the probe shaft (3) and has a through hole (18) at one end.
) and a flange (26) provided in the middle of the shaft (25). Therefore, this flange (26) has a bush (19) and an end plate (
16) It is possible to freely advance and retreat within the range regulated by -C. Further, the stylus (11) has a base shaft (27) coaxially attached to the tip of the shaft portion (25), and a base shaft (27) that is coaxially attached to the tip of the shaft portion (25).
A ruby spherical part (28) coaxially connected to the tip of the
). On the other hand, the length measuring section (6) includes a corner cube (6a) provided with a pair of reflective surfaces (21a) and (29b) that are inclined at 45 degrees with respect to the axis of the probe shaft (3) and are perpendicular to each other. reflective surface (29a), f
Laser light (30), (31) incident and reflected at 29t+)
It consists of a laser interferometric length measuring device (32) that detects the amount of displacement of the probe axis (3) based on the interference characteristics of the probe axis (3). The laser interferometric length measuring device (32) is provided to project a laser beam (30) onto one of the pair of reflective surfaces (29aL (29b)) along the axis of the probe shaft (3). The laser beam (30) incident on one reflective surface (29a) is reflected on the other reflective surface (29b), and the reflected laser beam (31) returns to the probe axis (3). It returns to the laser interferometric length measuring device (32) along the axis of
7) includes a cylindrical bobbin (33) made of a non-magnetic material and fitted inside the second housing part (11), and this bobbin (33).
), a pair of permanent magnets (34) and (35) are buried in parallel in the axial direction, and
), (35) a pair of coils (36) wound on
(37) and the bobbin (33) of the probe shaft (3)
A cylindrical core (38B!:
It consists of And the above coil (36), (3
7) is supplied with power from a power source (not shown), and by adjusting the amount of power supplied, the coils (36), (37) and the permanent magnet (34)
, (35) and the core (38) can be changed. Since the coils (36) and (37) generate heat due to this power supply, a flange-shaped fin (
39) ... is provided protrudingly. In addition, the coil (36)
, (3'l) and permanent magnets (34), (35)
The contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured is generated by the magnetic force generated between the probe shaft (3) and the core (38). In this case, permanent magnets (34), (35
) and the core (38) to obtain a fixed reference contact pressure PO. The fixed reference contact pressure PO is increased or decreased by the magnetic force generated between the coils (36), (371) and the core (38) to obtain a desired target contact pressure PA.Furthermore, As shown in FIG. 2, the contact pressure detection unit (8) is a cylindrical elastic body inserted and fixed coaxially between the shaft part (25) of the stopper (5) and the probe shaft (3). (40), and strain gauges (41) affixed at four equal locations along the circumferential direction perpendicular to the axis of the outer peripheral surface of this elastic body (39).
It consists of... These strain gauges (41)
... are provided to output a displacement detection signal SΔ... having a voltage corresponding to the amount of deformation of the elastic body (40). A plurality of through holes (42) are bored in the fourth housing part (13) surrounding the elastic body (40). Finally, the contact pressure control section (9) includes an amplifier (43) that is electrically connected to the strain gauge (41) and amplifies the displacement detection signal SA;
43) is connected to the output side of the amplified displacement detection signal SB.
... is input, and based on this displacement detection signal SB..., the amount of strain at the axial center of the elastic body (40) is calculated as the contact pressure P, and the amount of strain on the probe axis (3) of the elastic body (40) is calculated. A first calculation unit (
44), a contact pressure setting unit (45) for setting the target contact pressure PA of the probe shaft (3) with respect to the object to be measured, and a contact pressure P and inclination 8 output from the first calculation unit (44). By inputting the electrical signal SC indicating T and also inputting the electrical signal SD indicating the target contact pressure PA output from the contact pressure setting section (45), the target contact pressure PA and the contact pressure detection section (8) are input.
The contact pressure variation ΔP is the difference between the contact pressure P detected at
A control section (48) that outputs a control signal SESF to eliminate
An amplifier (49) that supplies power to (5G+) and a measurement signal SG indicating the amount of displacement of the probe axis (3) output from the laser interferometric length measuring device (32) as well as the first calculation unit (44)
Electrical signal S indicating contact pressure P and slope 8T output from
Input C to calculate the amount of strain ε at the axial center of the elastic body (40)
and a second calculation unit (51) that corrects the inclination 8T and calculates the true displacement amount of the probe axis (3).
つぎに、上記構成の変位測定装置(Pl)の作動につい
て述べる。Next, the operation of the displacement measuring device (Pl) having the above configuration will be described.
まず、図示せぬ圧縮空気源から圧縮空気を圧縮空気導入
孔(2F)、 (24)から案内溝(20)、 (20
)に供給する。すると、圧縮空気は、これら案内溝(2
G)、 (20)から絞り孔(21)・・・を経由して
プローブ軸(3)とハウジング(・1)の内壁面との間
のギャップに供給される。その結果、プローブ軸(3)
は、ハウジング(1)に静圧軸支される。このとき、絞
り孔(21)・・・から噴出した圧縮空気は、排気孔(
22)・・排気孔(22a)・・・、透孔(17)・・
・及び透孔(42)・・・を介して、外部に放出される
。つぎに、被測定物にスタイラス(4)を当接させる。First, compressed air is supplied from a compressed air source (not shown) through the guide grooves (20), (20) through the compressed air introduction holes (2F), (24).
). Then, the compressed air flows through these guide grooves (2
G), is supplied from (20) to the gap between the probe shaft (3) and the inner wall surface of the housing (.1) via the aperture hole (21). As a result, the probe axis (3)
is hydrostatically supported in the housing (1). At this time, the compressed air ejected from the throttle hole (21)...
22)...Exhaust hole (22a)..., Through hole (17)...
・Through the through hole (42)..., it is released to the outside. Next, the stylus (4) is brought into contact with the object to be measured.
このとき、レーザ干渉式測長器(32)からは、レーザ
光(30)をコーナキューブ(6a)(7)反射面(2
9a) l:投射し、反射面(29b)から反射された
レーザ光(31)を受光して、プローブ軸(3)の変位
量を測定できるようにしておく。At this time, the laser beam (30) is transmitted from the laser interferometric length measuring device (32) to the corner cubes (6a) (7) and the reflecting surface (2).
9a) l: Project and receive the laser beam (31) reflected from the reflecting surface (29b) so that the amount of displacement of the probe axis (3) can be measured.
また、コイル(36)、 (37)には、所定量だけ給
電しておく。かくて、プローブ軸(3)がスタイラス(
4)を介して被測定物に当接した際には、プローブ軸(
3)は、矢印(52a)方向に後退するが、コイル(3
6)、 (37)並びに永久磁石(34)、 (35)
と、コア(38)との間に発生する磁力により、プロー
ブ軸(3)は、矢印(52b)方向に押し戻され、これ
により被測定物に対するプローブ軸(3)の接触圧が発
生する。その結果、弾性体(40)にひずみが発生ずる
。Further, a predetermined amount of power is supplied to the coils (36) and (37). Thus, the probe shaft (3) is connected to the stylus (
4) When the probe comes into contact with the object to be measured through the
3) retreats in the direction of the arrow (52a), but the coil (3)
6), (37) and permanent magnets (34), (35)
The probe shaft (3) is pushed back in the direction of the arrow (52b) by the magnetic force generated between the core (38) and the probe shaft (3), thereby generating contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured. As a result, strain occurs in the elastic body (40).
このひずみの発生に伴って、ひずみゲージ(41)・・
からは、弾性体(40)の変形量に対応した大きさの電
圧の変位検出信号SA・・・が、増幅器(43)・・・
に出力される。そして、これら増幅器(43)・・にて
は、変位検出信号SA・・・が増幅され、変位検出信号
SB・・・が第1演算部(44)に出力される。すると
、第1演算部(44)にては、変位検出信号SB・・・
に基づいて弾性体(40)の軸心部分におけるひずみF
itを接触圧Pとして算出するとともに、弾性体(40
)のプローブ軸(3)の軸線に対する傾きΔTを算出す
る。As this strain occurs, the strain gauge (41)...
A displacement detection signal SA of a voltage corresponding to the amount of deformation of the elastic body (40) is transmitted from the amplifier (43)...
is output to. These amplifiers (43)... amplify the displacement detection signals SA, and output the displacement detection signals SB... to the first calculation section (44). Then, the first calculation section (44) generates the displacement detection signal SB...
Strain F in the axial center portion of the elastic body (40) based on
It is calculated as the contact pressure P, and the elastic body (40
) with respect to the axis of the probe axis (3) is calculated.
そして、この第1演算部(44)からは、算出した接触
圧P及び傾き八Tを示す電気信号SCが制御部(48)
に出力される。一方、制御部(48)にては、接触圧設
定部(45)からの電気信号SDが示す目標接触圧PA
と接触圧検出部(8)にて検出された接触圧Pとの差で
ある接触圧変動分ΔPを解消させるための制御信号SE
、SFが、増幅器(49)、 (5(1)に出力される
。そして、制御信号SE、SFは、増幅器(491,(
511)にて増幅され、増幅された制御信号SE−,S
F−が、コイル(36)、 (37)に給電される。す
ると、制御信号SE”、SF−の給電により発生する可
変的磁力により、上記永久磁石(34)、(35)とコ
ア(38)との間に発生する固定的磁力による基準接触
圧POを増減させ、所望の目標接触圧PAを得る。この
ようなフィードバック制御は、変位測定中、継続してリ
アルタイムにて行われる。一方、測定中、第2演算部(
51)には、レーザ干渉式測長器(32)からプローブ
軸(3)の変位量を示す計測信号SG並びに第1演算部
(44)から接触圧P及び傾きΔTを示す電気信号SC
が印加されている。そして、この第2演算部(51)に
は、これら計測信号SGと電気信号SCとに基づいて、
弾性体(40)の軸心部分でのひずみ量εと傾きΔTを
修正しプローブ軸(3)の真の変位量を算出する。Then, from this first calculation section (44), an electric signal SC indicating the calculated contact pressure P and slope 8T is sent to a control section (48).
is output to. On the other hand, the control section (48) sets the target contact pressure PA indicated by the electrical signal SD from the contact pressure setting section (45).
and the contact pressure P detected by the contact pressure detection unit (8).
, SF are output to the amplifiers (49), (5(1).The control signals SE, SF are output to the amplifiers (491, (5(1)).
511) and the amplified control signals SE-, S
F- is supplied to the coils (36) and (37). Then, the reference contact pressure PO due to the fixed magnetic force generated between the permanent magnets (34), (35) and the core (38) is increased or decreased by the variable magnetic force generated by the power supply of the control signals SE'' and SF-. to obtain the desired target contact pressure PA. Such feedback control is continuously performed in real time during displacement measurement. On the other hand, during measurement, the second calculation unit (
51) includes a measurement signal SG indicating the amount of displacement of the probe shaft (3) from the laser interferometric length measuring device (32) and an electric signal SC indicating the contact pressure P and inclination ΔT from the first calculation section (44).
is applied. Based on the measurement signal SG and the electric signal SC, the second calculation unit (51)
The true displacement amount of the probe shaft (3) is calculated by correcting the strain amount ε and the inclination ΔT at the axial center portion of the elastic body (40).
そして、この真の変位量は、図示せぬデイスプレィ装置
にて表示される。This true amount of displacement is then displayed on a display device (not shown).
以上のように、この実施例の変位測定装置(Pl)は、
接触圧検出部(8)にて接触圧を検出し、この検出した
接触圧に基づいて、変位測定中の微妙な接触圧変動に忠
実に即応して、リアルタイムでプローブ軸(3)の被測
定物に対する接触圧を制御することができる。また、コ
イル(36)、 (3’+1並びに永久磁石(34)、
(35) と、コア(38)との間に発生する磁力に
より、被測定物に対するプローブ軸(3)の接触圧を発
生させるようにしているので、永久磁石(34)、 (
35)の分だけコイル(36)、 (37)への通電量
が少なくてすむので発熱量が小さく、それだけ発熱によ
る変位量測定値への悪影響を減殺ずることかできる。し
たがって、これらの諸効果が相俟って、変位測定精度が
著しく向上する。As mentioned above, the displacement measuring device (Pl) of this embodiment is
The contact pressure detection unit (8) detects the contact pressure, and based on the detected contact pressure, it faithfully and immediately responds to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement, and adjusts the probe axis (3) to be measured in real time. The contact pressure against objects can be controlled. In addition, the coil (36), (3'+1 and the permanent magnet (34),
(35) and the core (38) to generate contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured, so the permanent magnet (34),
35), the amount of current applied to the coils (36) and (37) can be reduced, so the amount of heat generated is small, and the adverse effect of heat generation on the measured displacement value can be reduced accordingly. Therefore, these effects work together to significantly improve displacement measurement accuracy.
なお、第3図は、本発明の他の実施例の変位測定装置(
P2)を示している。なお、この第3図において、接触
圧調整部f7−1)以外は、変位測定装ff1(PI)
と同一構成なので、同一部分には同一符号を付し、詳細
な説明を省略する。しかして、上記接触圧調整部(7−
1)は、第4図及び第5図に示すように、第2ハウジン
グ部(11)の内壁面にその円周方向に等配して3個固
設され且つ非磁性体からなる板状のスペーサ(6I)・
・・と、これらのスペーサ(61)・・上に固着された
板状をなす積層型の圧電アクチュエータ(62)・・・
と、これら圧電アクチュエータ(62)・・・上に固着
された強磁性体からなる板状のヨーク(63)・・・と
、これらヨーク(63)・・上に軸方向に2段に一定の
間隔をおいて隣接して固着された横断面が円弧状の永久
磁石(64)・・・と、これら永久磁石(64)・・・
に対向するようプローブ軸(3)の外周面に等配して目
、つ軸方向に2段に一定の間隔をおいて隣接して固着さ
れた横断面が円弧状の3対の永久磁石(65)・・・と
からなっている。そして、圧電アクチュエータ(62)
・・・は、増幅器(65)・・・を介して制御部(48
)に接続されている。また、圧電アクチュエータ(62
)・・・は、増幅器(65)・・・からの電圧の印加に
より変位測定装置(P2)の半径方向に伸縮自在に設け
られている。これらの圧電アクチュエータ(62)・・
・は、焼結したセラミックスを切断、加工し、これに電
極を塗布した後、接着若しくは圧着して積層化したもの
であって、セラミックスとしては、Pb(2+、Ti)
l]う(P Z T ) 、PbTi03系(PT)、
(Pb、 La) (zr、 Ti)03(r’ L
Z T )が好ましい。In addition, FIG. 3 shows a displacement measuring device according to another embodiment of the present invention (
P2) is shown. In addition, in this FIG. 3, except for the contact pressure adjustment part f7-1), the displacement measuring device ff1 (PI)
Since the configuration is the same as that, the same parts are given the same reference numerals and detailed explanations will be omitted. However, the contact pressure adjustment section (7-
1), as shown in FIGS. 4 and 5, three plate-shaped plates made of a non-magnetic material are fixedly arranged on the inner wall surface of the second housing part (11) at equal intervals in the circumferential direction. Spacer (6I)・
...and a plate-shaped laminated piezoelectric actuator (62) fixed on these spacers (61)...
, a plate-like yoke (63) made of a ferromagnetic material fixed on the piezoelectric actuator (62), and a fixed yoke (63) fixed in two stages in the axial direction on the yoke (63)... Permanent magnets (64) whose cross sections are arcuate and fixed adjacently at intervals, and these permanent magnets (64)...
Three pairs of permanent magnets (with arc-shaped cross sections) are fixed adjacent to each other at regular intervals in two stages in the axial direction, and are equally spaced on the outer peripheral surface of the probe shaft (3) so as to face the probe shaft (3). 65) It consists of... And a piezoelectric actuator (62)
... is connected to the control unit (48) via the amplifier (65)...
)It is connected to the. In addition, a piezoelectric actuator (62
) are provided to be expandable and contractible in the radial direction of the displacement measuring device (P2) by application of voltage from the amplifier (65). These piezoelectric actuators (62)...
・ is a product made by cutting and processing sintered ceramics, applying an electrode to it, and then bonding or pressing it to form a layer, and the ceramics include Pb(2+, Ti)
l]U(PZT), PbTi03 series (PT),
(Pb, La) (zr, Ti)03(r' L
Z T ) is preferred.
方、永久磁石(64)・・・と永久磁石(65)・・・
とは、第5図に示すように、磁気ループ(66)・・・
が形成され、互いに吸引力が作用するように、互いに対
向するもの同志が異極となり、目、っ、軸方向に2段に
隣接して並設されたもの同志の極性が互いに逆となるよ
うに設けられている。たとえば、永久磁石(64)の変
位測定装置(P2)への対向面がS極とすると、この永
久磁石(64)への永久磁石(65)の対向面は、N極
となっている。また、永久磁石(64)の変位量定装置
(P2)への対向面がS極とすると、軸方向に一定の間
隔をおいて隣接して設けられた永久磁石(64)の変位
測定装置(P2)への対向面はN極となる。On the other hand, permanent magnet (64)... and permanent magnet (65)...
As shown in Figure 5, the magnetic loop (66)...
are formed, and so that an attractive force acts on each other, things that are facing each other have different polarities, and things that are arranged side by side in two adjacent stages in the axial direction have opposite polarities. It is set in. For example, if the surface of the permanent magnet (64) facing the displacement measuring device (P2) is the south pole, the surface of the permanent magnet (65) facing the permanent magnet (64) is the north pole. Further, if the surface of the permanent magnet (64) facing the displacement measuring device (P2) is the S pole, the displacement measuring device (P2) of the permanent magnet (64) provided adjacently at a constant interval in the axial direction The surface facing P2) becomes the north pole.
そうして、永久磁石(64)・・・と永久磁石(65)
・・・との間隔は、圧電アクチュエータ(62)・・・
の矢印(67)方向の伸縮により、調整されるようにな
っている。Then, the permanent magnet (64)... and the permanent magnet (65)
The distance between the piezoelectric actuator (62)...
It is adjusted by expanding and contracting in the direction of the arrow (67).
しかして、上記構成の変位測定装置(P2)において、
まず、図示せぬ圧縮空気源から圧縮空気を圧縮空気導入
孔(24)、 (24)から案内溝(2G)、 (20
)に供給する。すると、圧縮空気は、これら案内溝(2
01,(20)から絞り孔(21)・・・を経由してプ
ローブ軸(3)とハウジング(1)の内壁面との間のギ
ャップに供給される。その結果、プローブ軸(3)は、
ハウジング(1)に静圧軸支される。このとき、絞り孔
(21)・・・から噴出した圧縮空気は、排気孔(22
)・・・、排気孔(22a)・・・、透孔(17)・・
・及び透孔(42)・・・を介して、外部に放出される
。つぎに、被測定物にスタイラス(4)を当接させる。Therefore, in the displacement measuring device (P2) having the above configuration,
First, compressed air is introduced from a compressed air source (not shown) through the compressed air introduction hole (24), (24) and the guide groove (2G), (20
). Then, the compressed air flows through these guide grooves (2
01, (20) to the gap between the probe shaft (3) and the inner wall surface of the housing (1) via the aperture holes (21). As a result, the probe axis (3) is
It is hydrostatically supported in the housing (1). At this time, the compressed air ejected from the throttle hole (21)...
)..., exhaust hole (22a)..., through hole (17)...
・Through the through hole (42)..., it is released to the outside. Next, the stylus (4) is brought into contact with the object to be measured.
このとき、レーザ干渉式測長器(32)からは、レーザ
光(30)をコーナキューブ(6a)の反射面(29a
)に投射し、反射面(29b)から反射されたレーザ光
(31)を受光して、プローブ軸(3)の変位量を測定
できるようにしておく。かくて、プローブ軸(3)がス
タイラス(4)を介して被測定物に当接した際には、プ
ローブ軸(3)は、矢印(52a)方向に後退するが、
永久磁石(64)・・・と永久磁石(65)・・・間に
発生する磁力により、プローブ軸(3) 4F、矢印(
52b)方向に押し戻され、これにより被測定物に対す
るプローブ軸(3)の接触圧が発生するの結果、弾性体
(40)にひずみが発生ずる。このひずみの発生に伴っ
て、ひずみゲージ(41)・・・からは、弾性体(40
)の変形眼に対応した大きさの電圧の変位検出信号SA
・・・が、増幅器(43)・・・に出力される。そして
、これら増幅器(43)・・・にては、変位検出信号S
Δ・・が増幅され、変位検出信号SB・・・が第1演算
部(44)に出力される。すると、第1演算部(44)
にては、変位検出信号SB・・・に基づいて弾性体(4
0)の軸心部分におけるひずみ量を接触圧Pとして算出
するとともに、弾性体(40)のプローブ軸(3)の軸
線に対する傾き八Tを算出する。そして、この第1演算
部(44)からは、算出した接触圧P及び傾き△Tを示
す電気信号SCが制御部(48)に出力される。一方、
制御部(48)にては、接触圧設定部(45)からの電
気信号SDが示す目標接触圧PAと接触圧検出部(8)
にて検出された接触圧Pとの差である接触圧変動分へP
を解消させるための制御信号SH・・・が、増幅器(6
5)、・・に出力される。そして、制御信号SH・・・
は、増幅器(65)・・・にて増幅され、増幅された制
御信号SH′が、圧電アクチュエータ(62)・・に給
電される。At this time, the laser beam (30) is transmitted from the laser interferometric length measuring device (32) to the reflecting surface (29a) of the corner cube (6a).
), and the displacement amount of the probe axis (3) can be measured by receiving the laser beam (31) reflected from the reflecting surface (29b). Thus, when the probe shaft (3) comes into contact with the object to be measured via the stylus (4), the probe shaft (3) retreats in the direction of the arrow (52a), but
The magnetic force generated between the permanent magnet (64) and the permanent magnet (65) causes the probe shaft (3) 4F, arrow (
52b), thereby generating contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured, and as a result, strain is generated in the elastic body (40). With the generation of this strain, the elastic body (40
) Displacement detection signal SA with a voltage corresponding to the deformed eye
... is output to the amplifier (43)... In these amplifiers (43)..., the displacement detection signal S
.DELTA.... is amplified, and displacement detection signals SB... are output to the first calculation section (44). Then, the first calculation section (44)
, the elastic body (4
0) is calculated as the contact pressure P, and the inclination 8T of the elastic body (40) with respect to the axis of the probe shaft (3) is calculated. The first calculation section (44) then outputs an electric signal SC indicating the calculated contact pressure P and slope ΔT to the control section (48). on the other hand,
In the control section (48), the target contact pressure PA indicated by the electric signal SD from the contact pressure setting section (45) and the contact pressure detection section (8) are determined.
To the contact pressure variation, which is the difference between the contact pressure P detected at P
The control signal SH... for eliminating the
5) Output to... Then, the control signal SH...
is amplified by the amplifier (65), and the amplified control signal SH' is supplied to the piezoelectric actuator (62).
すると、圧電アクチュエータ(62)・・は、制御信号
SH−の電圧の大きさに従って矢印(67)方向に伸縮
する。この圧電アクチュエータ(62)・・・の伸縮に
伴い永久磁石(64)・・′と永久磁石(65)・・・
との間隔が変化する。すると、この間隔が変化にしたが
って、第6図に示すように、永久磁石(64)・・と永
久磁石(65)・・・との磁気的吸引力も反比例的に変
化する。Then, the piezoelectric actuators (62) expand and contract in the direction of the arrow (67) according to the magnitude of the voltage of the control signal SH-. As the piezoelectric actuator (62)... expands and contracts, the permanent magnet (64)...' and the permanent magnet (65)...
The interval between the two changes. Then, as this interval changes, the magnetic attractive force between the permanent magnets (64) and the permanent magnets (65) changes inversely as shown in FIG. 6.
すなわち、圧電アクチュエータ(62)・・・の伸縮量
を制御信号SH−の印加により制御することにより、被
測定物に対するプローブ軸(3)の接触圧を調整するこ
とができる。ここで、第6図の曲線への勾配が大きいと
ころに永久磁石(64)・・・と永久磁石(65)・・
・との間隔を設定すると、圧電アクチュエータ(62)
・・・の変位ΔDに対する磁気的吸引力の変化ΔMを大
きくとることができる。したがって、変位測定中の微妙
な接触圧変動に忠実に即応して、リアルタイムでプロー
ブ軸(3)の被測定物に対する接触圧を所望値に制御で
きる。That is, by controlling the amount of expansion and contraction of the piezoelectric actuators (62) by applying the control signal SH-, the contact pressure of the probe shaft (3) with respect to the object to be measured can be adjusted. Here, the permanent magnet (64)... and the permanent magnet (65)...
・If you set the distance between the piezoelectric actuator (62)
It is possible to increase the change ΔM in the magnetic attraction force with respect to the displacement ΔD. Therefore, the contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured can be controlled to a desired value in real time in faithful response to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement.
以上のように、この実施例の変位測定装置(P2)は、
接触圧検出部(8)にて接触圧を検出し、この検出した
接触圧に基づいて、接触圧調整部(7−1)により、変
位測定中の微妙な接触圧変動に忠実に即応して、リアル
タイムでプローブ軸(3)の被測定物に対する接触圧を
制御することができる。As described above, the displacement measuring device (P2) of this embodiment is
The contact pressure detection unit (8) detects the contact pressure, and based on the detected contact pressure, the contact pressure adjustment unit (7-1) faithfully and immediately responds to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement. , the contact pressure of the probe shaft (3) to the object to be measured can be controlled in real time.
とくに、接触圧調整部(7−1)を構成している圧電ア
クチュエータ(62)・・・は、伸縮量の厳密な制御か
可能なので、接触圧の精密な制御が可能となる。In particular, since the piezoelectric actuator (62) constituting the contact pressure adjustment section (7-1) can strictly control the amount of expansion and contraction, it is possible to precisely control the contact pressure.
また、圧電アクチュエータ(62)・・・へ給電しても
、発熱の虞は、はとんどない。したがって、これらの諸
効果が相俟って、変位測定精度が著しく向」−する。Furthermore, even if power is supplied to the piezoelectric actuators (62), there is little risk of heat generation. Therefore, these effects work together to significantly improve displacement measurement accuracy.
つぎに、第7図は、この発明の他の実施例の変位測定装
置(P3)を示している。なお、この実施例において、
変位測定装置(Pl)と同一構成部分には同一符号を付
し、詳細な説明を省略する。Next, FIG. 7 shows a displacement measuring device (P3) according to another embodiment of the present invention. In addition, in this example,
Components that are the same as those of the displacement measuring device (Pl) are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
この変位測定装置(P3)は、円筒状のハウジング(+
) と、このハウジング(+)の内部に設けられた空気
軸受(2)と、この空気軸受(2)により軸方向に移動
自在に非接触軸支された円柱状のプローブ軸(3)と、
このプローブ軸(3)の前端に同軸に設けられ変位量が
測定される被測定物に直接当接するスタイラス(4)と
、プローブ軸(3)とスタイラス(4)の間に介設され
プローブ軸(3)の軸方向の移動を規制するストッパ(
5)と、プローブ軸(3)の後端部に設けられこのプロ
ーブ軸(3)の移動量を検出するためのコーナキューブ
(6a)を有する測長部(6)と、プローブ軸(3)及
びハウジング()の内部の後端部に設けられた接触圧調
整部(7−2)と、プローブ軸(3)とストッパ(5)
の間に設けられスタイラス(4)の被測定物への接触圧
を検出する接触圧検出部(8)と、この接触圧検出部(
8)における検出結果に基づいて接触圧調整部(7−2
)に接触圧を最適値にするための制御信号を印加する接
触圧制御部(9)とからなっている。しかして、ハウジ
ング(1)は、コーナキューブ(6a)を同軸に囲繞す
る第1ハウジング部(10)と、この第1ハウジング部
(10)に連接し接触圧調整部(7−21の一部を保持
する第2ハウジング部(11)と、この第2ハウジング
部(11)に連接し空気軸受(2)を保持する第3ハウ
ジング部(12)と、この第3ハウジング部(12)に
連接し接触圧検出部(8)を同軸に囲繞する第4ハウジ
ング部(13)と、この第4ハウジング部(13)に連
接しストッパ(5)が同軸に遊挿される第5ハウジング
部(14)とからなっている。しかして、空気軸受(2
)は、第3ハウジング部(12)に内嵌された金属製の
ブツシュ(19)と、このブツシュ(19)の外面に設
けられた一対のリング状案内溝(20)、(20)と、
これらの案内溝(211)、 (20)に連通してブツ
シュ(19)の等配位置にて複数個穿設されノ\ウジン
グ(1)に向かって圧縮空気を噴出する絞り孔(21)
・・・と、ブツシュ(1g)の一対のリング状案内溝(
20)、 (2G1 間及び第1ハウジング部(10)
側のリング状案内溝(20)に隣接して等開状態で穿設
され絞り孔(21)・・・からハウジング(1)の内部
に供給された空気を外部に排出するためのυ1気孔(2
2)・・・とからなっている。また、第3ハウジング部
(12)の排気孔(22)・・・に対応する位置には、
υ1気孔(22)・・・に対して同軸に排気孔(22a
)・・・が穿設されている。また、第3ハウジング部(
12)の案内溝(20L (20)に対応する位置には
、圧縮空気をこれら案内溝(20)(20)に導入する
ための圧縮空気導入孔(24)、 (24)が穿設され
ている。この圧縮空気導入孔(24)、(24)は、導
管(24a)を介して、第1の圧縮空気源(24b)に
接続されている。さらに、接触圧調整部(7−2)は、
第2ハウジング部(11)に内嵌されプローブ軸(3)
が遊挿される円筒状の電歪素子(71)と、プローブ軸
(3)の第3ハウジング部(12)における電歪素子(
71)に近接部位に設けられた段差部(72)と、第3
ハウジング部(12)に内嵌されたブツシュ(19)の
内面側に等配して設けられこの段差部(72)と電歪素
子(71)により挾まれた空間(73)に圧縮空気を噴
出する絞り孔(74)・・・と、第3ハウジング部(1
2)に内嵌されたブツシュ(71)の外面側に設けられ
絞り孔(74)・・・に連通ずるリング状の案内溝(7
5)と、第3ハウジング部(I2)の案内溝(75)に
対応する位置に穿設された圧縮空気導入孔(76)と、
この圧縮空気導入孔(76)に接続された導管(77)
と、この導管(77)を介して圧縮空気を圧縮空気導入
孔(76)に供給する第2の圧縮空気源(78)とから
なっている。そして、電歪素子(71)は、増幅器(7
9)を介して制御部(48)に接続されている。この電
歪素子(71)は、セラミックスを焼成したものであっ
て、セラミックスとしては、Pb (lt、 Ti)0
3(P Z T )、1’bTiO*系(PT) 、(
1’b、La)(2+4i)Og (PLZT)が好ま
しい。また、電歪素子(71)は、増幅器(79)から
の電圧の印加により変位測定装置(P3)の半径方向に
伸縮自在に設けられている。一方、プローブ軸(3)は
、電歪素子(71)を挿通ずる部分に直径はDlであり
、また、ブツシュ(71)を挿通する部分の直径はD2
であって、直径D1は直径D2よりも小さく(Dl、<
D2)設けられている。This displacement measuring device (P3) has a cylindrical housing (+
), an air bearing (2) provided inside the housing (+), and a cylindrical probe shaft (3) supported by the air bearing (2) so as to be movable in the axial direction in a non-contact manner.
A stylus (4) is provided coaxially with the front end of the probe shaft (3) and directly contacts the object to be measured whose displacement is to be measured, and a probe shaft is interposed between the probe shaft (3) and the stylus (4). (3) A stopper (
5), a length measuring section (6) having a corner cube (6a) provided at the rear end of the probe shaft (3) for detecting the amount of movement of the probe shaft (3), and a length measuring section (6) provided at the rear end of the probe shaft (3); and a contact pressure adjustment part (7-2) provided at the rear end inside the housing (), a probe shaft (3), and a stopper (5).
A contact pressure detection section (8) is provided between the stylus (4) and the object to be measured, and a contact pressure detection section (8) is provided between the stylus (4) and the object to be measured.
Based on the detection result in 8), the contact pressure adjustment section (7-2
) and a contact pressure control section (9) that applies a control signal to bring the contact pressure to an optimum value. Thus, the housing (1) includes a first housing part (10) that coaxially surrounds the corner cube (6a), and a part of the contact pressure adjustment part (7-21) that is connected to the first housing part (10). a second housing part (11) that holds the air bearing; a third housing part (12) that is connected to the second housing part (11) and holds the air bearing (2); and a third housing part (12) that is connected to the third housing part (12). A fourth housing part (13) coaxially surrounds the contact pressure detection part (8), and a fifth housing part (14) connected to the fourth housing part (13) into which the stopper (5) is loosely inserted coaxially. It consists of an air bearing (2
) includes a metal bushing (19) fitted into the third housing part (12), a pair of ring-shaped guide grooves (20), (20) provided on the outer surface of this bushing (19),
A plurality of throttling holes (21) are connected to these guide grooves (211) and (20) and are bored at equal locations on the bushing (19) to blow out compressed air toward the nozzle (1).
...and a pair of ring-shaped guide grooves of the bush (1g) (
20), (between 2G1 and the first housing part (10)
Adjacent to the side ring-shaped guide groove (20), υ1 air holes (υ1) are formed in an evenly open state to exhaust the air supplied to the inside of the housing (1) from the throttle holes (21) to the outside. 2
2) It consists of... Moreover, at the position corresponding to the exhaust hole (22) of the third housing part (12),
Exhaust hole (22a) coaxially with υ1 pore (22)...
)... are drilled. In addition, the third housing part (
Compressed air introduction holes (24), (24) for introducing compressed air into these guide grooves (20) (20) are bored at positions corresponding to the guide grooves (20L (20) of 12). The compressed air introduction holes (24), (24) are connected to the first compressed air source (24b) via the conduit (24a).Furthermore, the contact pressure adjustment section (7-2) teeth,
The probe shaft (3) is fitted into the second housing part (11).
a cylindrical electrostrictive element (71) into which is loosely inserted, and an electrostrictive element (71) in the third housing part (12) of the probe shaft (3).
71), and a step portion (72) provided in the vicinity of the third
Compressed air is ejected into a space (73) provided equidistantly on the inner surface of the bushing (19) fitted in the housing part (12) and sandwiched between the stepped part (72) and the electrostrictive element (71). The aperture hole (74)... and the third housing part (1
A ring-shaped guide groove (7) is provided on the outer surface of the bush (71) fitted in
5), a compressed air introduction hole (76) bored at a position corresponding to the guide groove (75) of the third housing part (I2),
A conduit (77) connected to this compressed air introduction hole (76)
and a second compressed air source (78) that supplies compressed air to the compressed air introduction hole (76) via this conduit (77). The electrostrictive element (71) is connected to the amplifier (7
9) to the control unit (48). This electrostrictive element (71) is made of fired ceramics, and the ceramics include Pb (lt, Ti)0
3 (P Z T ), 1'bTiO* system (PT), (
1′b, La)(2+4i)Og (PLZT) is preferred. Further, the electrostrictive element (71) is provided to be expandable and contractible in the radial direction of the displacement measuring device (P3) by applying a voltage from the amplifier (79). On the other hand, the probe shaft (3) has a diameter of Dl at the part where the electrostrictive element (71) is inserted, and a diameter of D2 at the part where the bushing (71) is inserted.
, the diameter D1 is smaller than the diameter D2 (Dl, <
D2) Yes.
したがって、段差部(72)は、直径D1と直径D2と
の径差により形成されている。さらに、電歪素子(71
)とプローブ軸(3)とのギャップε1は、ブツシュ(
71)とプローブ軸(3)とのギャップε2より小さく
(ε1〈ε2)設けられている。ただ、ギャップε1
は、電歪素子(71)への増幅器(79)からの電圧の
印加により可変となっている。Therefore, the stepped portion (72) is formed by the difference in diameter between the diameter D1 and the diameter D2. Furthermore, an electrostrictive element (71
) and the probe axis (3) is the gap ε1 between the bush (
71) and the probe shaft (3) (ε1<ε2) is provided smaller than the gap ε2. However, the gap ε1
is made variable by applying a voltage from the amplifier (79) to the electrostrictive element (71).
しかして、上記構成の変位測定装置(P3)において、
まず、第1及び第2の圧縮空気源(2,4b)、 (7
8)から圧縮空気を圧縮空気導入孔(24)、 (24
)、 (76)から案内溝(20)、 (20+、 (
75)に供給する。すると、圧縮空気は、これら案内溝
f20)、 (20)、 (75)から絞り孔(21)
・・・、 (74)・・・を経由してギャップε2並
びに段差部(72)と電歪素子(71)により挾まれた
空間(73)に供給される。その結果、プローブ軸(3
)は、ブツシュ(19)内に静圧軸支されると同時に、
空間(73)に供給された圧縮空気は、第8図に示すよ
うに、プローブ軸(3)に形成された段差部(72)に
対して矢印(80a )方向に作用し、この結果、プロ
ーブ軸(3)の被測定物に対する接触圧が発生する。Therefore, in the displacement measuring device (P3) having the above configuration,
First, the first and second compressed air sources (2, 4b), (7
8) through the compressed air introduction holes (24), (24
), (76) to the guide groove (20), (20+, (
75). Then, the compressed air flows from these guide grooves f20), (20), and (75) to the throttle hole (21).
..., (74)... to the space (73) sandwiched between the gap ε2, the stepped portion (72), and the electrostrictive element (71). As a result, the probe axis (3
) is hydrostatically supported in the bushing (19), and at the same time,
As shown in FIG. 8, the compressed air supplied to the space (73) acts on the stepped portion (72) formed on the probe shaft (3) in the direction of the arrow (80a), and as a result, the probe Contact pressure of the shaft (3) against the object to be measured is generated.
なお、このとき、絞り孔(21)・・・、 (74)
・・・から噴出した圧縮空気は、排気孔(22)・・、
排気孔(22a )透孔(17)・・・及び透孔(42
)・・・を介して、外部に放出される。このとき、レー
ザ干渉式測長器(32)がらは、レーザ光(30)をコ
ーナキューブ(6a)の反射面(29al に投射し、
反射面(29b)から反射されたレーザ光(31)を受
光して、プローブ軸(3)の変位量を測定できるように
しておく。かくて、プローブ軸(3)がスタイラス(4
)を介して被測定物に当接した際には、プローブ軸(3
)は、矢印(80b)方向に後退するが、段差部(72
)に対して矢印(80a)方向に作用する圧縮空気の力
により、プローブ軸(3)は、矢印(BOa)方向に押
し戻され、これにより被測定物に対するプローブ軸(3
)の接触圧が発生する。その結果、弾性体(4o)にひ
ずみが発生する。In addition, at this time, the aperture hole (21)..., (74)
The compressed air spewed out from the exhaust hole (22)...
Exhaust hole (22a) Through hole (17)...and Through hole (42)
)... is released to the outside. At this time, the laser interferometric length measuring device (32) projects the laser beam (30) onto the reflective surface (29al) of the corner cube (6a),
The laser beam (31) reflected from the reflective surface (29b) is received so that the amount of displacement of the probe shaft (3) can be measured. Thus, the probe shaft (3) is connected to the stylus (4).
), the probe shaft (3
) retreats in the direction of the arrow (80b), but the step part (72
), the probe shaft (3) is pushed back in the direction of the arrow (BOa) by the force of compressed air acting in the direction of the arrow (80a).
) contact pressure is generated. As a result, strain occurs in the elastic body (4o).
このひずみの発生に伴って、ひずみゲージ(41)・・
・からは、弾性体(40)の変形量に対応した大きさの
電圧の変位検出信号SA・・・が、増幅器(43)・・
・に出力される。そして、これら増幅器(43)・・・
にては、変位検出信号SA・・・が増幅され、変位検出
信号SB・が第1演算部(44)に出力される。すると
、第1演算部(44)にては、変位検出信号SB・・・
に基づいて弾性体(40)の軸心部分におけるひずみ量
を接触圧Pとして算出するとともに、弾性体(40)の
プローブ軸(3)の軸線に対する傾き八Tを算出する。As this strain occurs, the strain gauge (41)...
From the amplifier (43), a displacement detection signal SA of a voltage corresponding to the amount of deformation of the elastic body (40) is transmitted.
・Output to. And these amplifiers (43)...
In , the displacement detection signals SA... are amplified, and the displacement detection signals SB. are outputted to the first calculation section (44). Then, the first calculation section (44) generates the displacement detection signal SB...
Based on this, the amount of strain at the axial center of the elastic body (40) is calculated as the contact pressure P, and the inclination 8T of the elastic body (40) with respect to the axis of the probe shaft (3) is calculated.
そして、この第1演算部(44)からは、算出した接触
圧P及び傾き八Tを示す電気信号SCが制御部(48)
に出力される。一方、制御部(48)にては、接触圧設
定部(45)からの電気信号SDが示す目標接触圧PA
と接触圧検出部(8)にて検出された接触圧Pとの差で
ある接触圧変動分ΔPを解消させるための制御信号SJ
・・・が、増幅器(79)・・・に出力される。そして
、制御信号SJ・・・は、増幅器(79)・・・にて増
幅され、増幅された制御信号SJ−が、電歪素子(71
)に給電される。すると、電歪素子(71)は、制御信
号SJ−の電圧の大きさに従って矢印(81)方向に伸
縮する。この電歪素子(71)の伸縮に従って、電歪素
子(71)とプローブ軸(3)とのギャップε、が変化
する。すると、このギャップε1の゛変化によって、段
差部(72)に対して矢印(80a)方向に作用する圧
縮空気の力も反比例的に変化する。つまり、ギャップε
1が大きくなれば、接触圧は小さくなり、ギャップε1
が小さくなれば、接触圧は大きくなる。したがって、電
歪素子(71)の伸縮量を制御信号SJ−の印加により
制御することにより、被測定物に対するプローブ軸(3
)の接触圧を調整することができる。したがって、変位
測定中の微妙な接触圧変動に忠実に即応して、リアルタ
イムでプローブ軸(3)の被測定物に対する接触圧を所
望値に制御できる。Then, from this first calculation section (44), an electric signal SC indicating the calculated contact pressure P and slope 8T is sent to a control section (48).
is output to. On the other hand, the control section (48) sets the target contact pressure PA indicated by the electrical signal SD from the contact pressure setting section (45).
A control signal SJ for canceling the contact pressure variation ΔP, which is the difference between the contact pressure P detected by the contact pressure detection section (8)
... is output to the amplifier (79)... The control signal SJ... is amplified by the amplifier (79)..., and the amplified control signal SJ- is transmitted to the electrostrictive element (71)...
). Then, the electrostrictive element (71) expands and contracts in the direction of the arrow (81) according to the magnitude of the voltage of the control signal SJ-. As the electrostrictive element (71) expands and contracts, the gap ε between the electrostrictive element (71) and the probe shaft (3) changes. Then, as the gap ε1 changes, the force of the compressed air acting on the stepped portion (72) in the direction of the arrow (80a) also changes inversely. That is, the gap ε
1 becomes larger, the contact pressure becomes smaller, and the gap ε1
The smaller the contact pressure becomes, the larger the contact pressure becomes. Therefore, by controlling the amount of expansion and contraction of the electrostrictive element (71) by applying the control signal SJ-, the probe axis (3
) contact pressure can be adjusted. Therefore, the contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured can be controlled to a desired value in real time in faithful response to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement.
以上のように、この実施例の変位測定装置(P3)は、
接触圧検出部(8)にて接触圧を検出し、この検出した
接触圧に基づいて、接触圧調整部(7−2)により、変
位測定中の微妙な接触圧変動に忠実に即応して、リアル
タイムでプローブ軸(3)の被測定物に対する接触圧を
制御するこ吉ができる。As mentioned above, the displacement measuring device (P3) of this embodiment is
The contact pressure detection unit (8) detects the contact pressure, and based on the detected contact pressure, the contact pressure adjustment unit (7-2) faithfully and immediately responds to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement. , it is possible to control the contact pressure of the probe shaft (3) against the object to be measured in real time.
とくに、接触圧調整部(7−2)を構成している電歪素
子(71)は、伸縮量の厳密な制御が可能なので、接触
圧の精密な制御が可能となる。また、電歪素子(71)
へ給電しても、発熱の虞は、はとんどない。In particular, since the electrostrictive element (71) constituting the contact pressure adjustment section (7-2) can precisely control the amount of expansion and contraction, it is possible to precisely control the contact pressure. In addition, the electrostrictive element (71)
Even if power is supplied to the device, there is little risk of heat generation.
したがって、これらの諸効果が相俟って、変位測定精度
が著しく向」二する。Therefore, these effects combine to significantly improve displacement measurement accuracy.
つぎに、第9図は、他の実施例の変位測定装fW(P4
)を示すものであるが、この変位測定装置(P4)の接
触圧調整部(7−3)は、上記変位測定装置(P3)に
おいて、電歪素子(71)の代わりに、第1ハウジング
部(10)の鍔部(10g)と第3ハウジング部(12
)の鍔部(12g) との間に円板状の金属製の排気
調整板(91)を介装したものである。この排気調整板
(91)にプローブ軸(3)は、ギャップε、の間隔を
残して遊挿されている。このギャップε、と、ブツシュ
(71)とプローブ軸(3)とのギャップε2との関係
は、上記変位測定装置(P3)の場合と同じである。し
かし、ギャップε1の大きさは、不変である。そして、
この変位測定装置(P4)においては、絞り孔(74)
・・・から噴出する圧縮空気の圧力を、導管(77)の
中途部に設けられた噴出圧力調整部(92)により加減
することにより、段差部(72)に対して矢印(80a
)方向に作用する圧縮空気の力を正比例的に変化させ、
プローブ軸(3)の被測定物に対する接触圧を制御する
ようにしている。この実施例の変位測定装置(P4)も
上記変位測定装置(P3)と同様の効果を奏する。Next, FIG. 9 shows a displacement measuring device fW (P4) of another embodiment.
), the contact pressure adjusting section (7-3) of this displacement measuring device (P4) is connected to the first housing section instead of the electrostrictive element (71) in the displacement measuring device (P3). The flange (10g) of (10) and the third housing part (12
) A disc-shaped metal exhaust adjustment plate (91) is interposed between the flange (12g) and the flange (12g). The probe shaft (3) is loosely inserted into the exhaust adjustment plate (91) leaving a gap ε. The relationship between this gap ε and the gap ε2 between the bushing (71) and the probe shaft (3) is the same as in the case of the displacement measuring device (P3). However, the size of the gap ε1 remains unchanged. and,
In this displacement measuring device (P4), the aperture hole (74)
By adjusting the pressure of the compressed air ejected from the pipe (77) with the ejection pressure adjustment part (92) provided in the middle of the pipe (77), the arrow (80a) is adjusted with respect to the step part (72).
) changes the force of compressed air acting in the direction directly proportionally,
The contact pressure of the probe shaft (3) with respect to the object to be measured is controlled. The displacement measuring device (P4) of this embodiment also has the same effect as the displacement measuring device (P3) described above.
なお、上記四つの実施例において、プローブ軸の回転1
1二め機構については示さなかったが、回転1にめの具
体的な方式については限定されない。In addition, in the above four embodiments, the rotation of the probe axis 1
Although the first and second mechanisms are not shown, the specific system for the first rotation is not limited.
たとえば、ブツシュ又はプローブ軸に半径方向に立設し
たピンを、対向するプローブ軸又はブツシュにそれらの
軸方向に設けられた係止溝に、遊挿させることにより、
プローブ軸の回転11−めを行う方式などでもよい。さ
らにまた、上記四つの実施例において、接触圧検出部及
び接触圧制御部を省略し、接触圧調整部のみを備える変
位測定装置であってもよく、この場合でも、接触圧調整
部の発熱を防止できることによる格別の効果を奏するこ
とができる。For example, by loosely inserting a pin standing upright in the radial direction on a bushing or probe shaft into a locking groove provided in the opposing probe shaft or bushing in the axial direction,
A method of rotating the probe shaft 11-th may also be used. Furthermore, in the above four embodiments, the contact pressure detection section and the contact pressure control section may be omitted, and the displacement measuring device may be provided with only the contact pressure adjustment section. Even in this case, the heat generation of the contact pressure adjustment section may be reduced. By being able to prevent this, special effects can be achieved.
[発明の効果]
本発明の変位測定装置は、接触圧検出部にて接触圧を検
出し、この検出した接触圧に基づいて、接触圧調整部に
より、リアルタイムでプローブ軸の被測定物に対ジーる
接触圧を制御するようにしたものて、変位測定中の微妙
な接触圧変動に忠実に即応して接触圧を厳密に制御する
ことができる。[Effects of the Invention] In the displacement measuring device of the present invention, the contact pressure detection section detects the contact pressure, and based on the detected contact pressure, the contact pressure adjustment section adjusts the probe shaft to the object to be measured in real time. By controlling the contact pressure that occurs during displacement measurement, it is possible to faithfully and immediately respond to subtle contact pressure fluctuations during displacement measurement, and to precisely control the contact pressure.
また、接触圧調整部は、発熱の虞かほとんどないので、
発熱による測定精度の低下を防Iしてきる。In addition, the contact pressure adjustment part has almost no risk of generating heat, so
This prevents the measurement accuracy from decreasing due to heat generation.
したがって、これら諸効果が相俟って、変位測定精度が
著しく向上する。Therefore, these effects work together to significantly improve displacement measurement accuracy.
第1図は本発明の一実施例の変位測定装置の構成図、第
2図は第1図の変位測定装置の要部断面図、第3図は本
発明の他の実施例の変位測定装置の構成図、第4図は第
3図に示す変位測定装置の要部断面図、第5図は第4図
のV=−■線に沿う断面図、第6図は第3図に示す変位
測定装置の作用説明図、第7図は本発明の他の実施例の
変位測定装置の構成図、第8図は第7図に示す変位測定
装置の要部拡大図、第9図本発明の曲の実施例の変位測
定装置の構成図、第10図及び第11図は従来技術の説
明図である。
(1):ハウジング、 (2) :空気軸受、
(31ニブローブ軸、(4) スタイラス、 (6
) :測長部。
(7):接触圧調整部、(8) 接触圧検出部(9)
:接触圧制御部。FIG. 1 is a configuration diagram of a displacement measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of essential parts of the displacement measuring device shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a displacement measuring device according to another embodiment of the present invention. 4 is a sectional view of the main part of the displacement measuring device shown in FIG. 3, FIG. 5 is a sectional view taken along the line V=-■ in FIG. 4, and FIG. 7 is a configuration diagram of a displacement measuring device according to another embodiment of the present invention, FIG. 8 is an enlarged view of the main part of the displacement measuring device shown in FIG. 7, and FIG. 9 is an illustration of the operation of the measuring device. A configuration diagram of a displacement measuring device according to an embodiment of a song, and FIGS. 10 and 11 are explanatory diagrams of the prior art. (1): Housing, (2): Air bearing,
(31 nib lobe shaft, (4) stylus, (6
): Measurement section. (7): Contact pressure adjustment section, (8) Contact pressure detection section (9)
: Contact pressure control section.
Claims (10)
けられた静圧軸受と、この静圧軸受により軸方向に移動
自在に非接触軸支されたプローブ軸と、このプローブ軸
の一端に設けられ被測定物に当接するスタイラスと、上
記プローブ軸及び上記ハウジングの一部に設けられ上記
プローブ軸の上記被測定物に対する接触圧の大きさを調
整する接触圧調整部と、上記プローブ軸と上記スタイラ
スの間に設けられ上記接触圧を検出する接触圧検出部と
、この接触圧検出部における検出結果に基づいて上記接
触圧調整部に制御信号を印加し上記接触圧を制御する接
触圧制御部とを具備することを特徴とする変位測定装置
。(1) A cylindrical housing, a static pressure bearing provided inside the housing, a probe shaft supported by the static pressure bearing so as to be movable in the axial direction in a non-contact manner, and a probe shaft provided at one end of the probe shaft. a stylus that contacts the object to be measured; a contact pressure adjusting section that is provided on the probe shaft and a part of the housing and adjusts the magnitude of the contact pressure of the probe shaft to the object to be measured; a contact pressure detection section that is provided between the stylus and detects the contact pressure; and a contact pressure control section that applies a control signal to the contact pressure adjustment section based on the detection result of the contact pressure detection section to control the contact pressure. A displacement measuring device comprising:
に介装された柱状の弾性体と、この弾性体の外面に固着
されたひずみ検出センサとからなることを特徴とする請
求項(1)記載の変位測定装置。(2) Claim (2) characterized in that the contact pressure detection unit consists of a columnar elastic body interposed between the stylus and the probe shaft, and a strain detection sensor fixed to the outer surface of the elastic body. 1) Displacement measuring device as described.
けられた静圧軸受と、この静圧軸受により軸方向に移動
自在に非接触軸支されたプローブ軸と、このプローブ軸
の一端に設けられ被測定物に当接するスタイラスと、上
記プローブ軸及び上記ハウジングの一部に設けられ上記
プローブ軸の上記被測定物に対する接触圧の大きさを調
整する接触圧調整部とを具備し、上記接触圧調整部は、
上記ハウジングに内嵌された筒状のボビンと、上記プロ
ーブ軸の上記ボビンに対向する位置に外嵌された円筒状
のコアと、上記ボビンに設けられ上記コアとの間に磁気
的吸引力を固定的に発生させる永久磁石と、これら永久
磁石に重畳して巻回され上記コアとの間に磁気的吸引力
を可変的に発生させるコイルとからなることを特徴とす
る変位測定装置。(3) A cylindrical housing, a static pressure bearing provided inside the housing, a probe shaft supported by the static pressure bearing so as to be movable in the axial direction in a non-contact manner, and a probe shaft provided at one end of the probe shaft. a stylus that is brought into contact with the object to be measured; and a contact pressure adjusting section that is provided on the probe shaft and a part of the housing and adjusts the magnitude of the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured; The pressure adjustment part is
A magnetic attraction force is created between a cylindrical bobbin fitted inside the housing, a cylindrical core fitted externally on the probe shaft at a position opposite to the bobbin, and the core provided on the bobbin. 1. A displacement measuring device comprising: permanent magnets that are generated in a fixed manner; and a coil that is wound so as to be superimposed on these permanent magnets and that variably generates a magnetic attraction force between the permanent magnet and the core.
に対する接触圧を検出する接触圧検出部と、この接触圧
検出部における接触圧検出結果に基づいて接触圧調整部
のコイルに制御信号を印加しコアとの間に発生する磁気
的吸引力を加減させることにより上記接触圧を制御する
接触圧制御部とを具備することを特徴とする請求項(3
)記載の変位測定装置。(4) A contact pressure detection section provided on the probe shaft to detect the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured, and a control signal sent to the coil of the contact pressure adjustment section based on the contact pressure detection result in the contact pressure detection section. Claim (3) further comprising: a contact pressure control unit that controls the contact pressure by adjusting the magnetic attraction force generated between the applied magnetic force and the core.
) Displacement measuring device described.
けられた静圧軸受と、この静圧軸受により軸方向に移動
自在に非接触軸支されたプローブ軸と、このプローブ軸
の一端に設けられ被測定物に当接するスタイラスと、上
記プローブ軸及び上記ハウジングの一部に設けられ上記
プローブ軸の上記被測定物に対する接触圧の大きさを調
整する接触圧調整部とを具備し、上記接触圧調整部は、
ハウジングの内壁面にその円周方向に等配して複数個固
設され電圧の印加により径方向に変位するアクチュエー
タと、これらアクチュエータ上に固着された第1の永久
磁石と、これら第1の永久磁石に対向して上記プローブ
軸の外周面に等配して固着され上記第1の永久磁石との
間に磁気的吸引力を発生させる第2の永久磁石とを具備
し、上記アクチュエータにより上記第1の永久磁石と上
記第2の永久磁石との間隔を変化させることにより上記
磁気的吸引力を加減することを特徴とする変位測定装置
。(5) A cylindrical housing, a static pressure bearing provided inside the housing, a probe shaft supported by the static pressure bearing so as to be movable in the axial direction in a non-contact manner, and a probe shaft provided at one end of the probe shaft. a stylus that is brought into contact with the object to be measured; and a contact pressure adjusting section that is provided on the probe shaft and a part of the housing and adjusts the magnitude of the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured; The pressure adjustment part is
A plurality of actuators are fixedly disposed on the inner wall surface of the housing at equal intervals in the circumferential direction and are displaced in the radial direction by the application of a voltage, first permanent magnets fixed on these actuators, and these first permanent magnets. second permanent magnets that are fixed to the outer circumferential surface of the probe shaft at equal intervals facing the magnets and generate a magnetic attraction force between the second permanent magnets and the first permanent magnets; A displacement measuring device characterized in that the magnetic attraction force is adjusted by changing the distance between the first permanent magnet and the second permanent magnet.
に対する接触圧を検出する接触圧検出部と、この接触圧
検出部における接触圧検出結果に基づいて接触圧調整部
のアクチュエータに制御信号を印加し第1の永久磁石と
第2の永久磁石との間隔を変化させることにより上記接
触圧を制御する接触圧制御部とを具備することを特徴と
する請求項(5)記載の変位測定装置。(6) A contact pressure detection section provided on the probe shaft to detect the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured, and a control signal sent to the actuator of the contact pressure adjustment section based on the contact pressure detection result in the contact pressure detection section. The displacement measuring device according to claim (5), further comprising a contact pressure control unit that controls the contact pressure by applying the contact pressure and changing the distance between the first permanent magnet and the second permanent magnet. .
けられた静圧軸受と、大径部分と小径部分からなり上記
大径部分が上記静圧軸受により軸方向に移動自在に非接
触軸支されたプローブ軸と、このプローブ軸の一端に設
けられ被測定物に当接するスタイラスと、上記プローブ
軸及び上記ハウジングの一部に設けられ上記プローブ軸
の上記被測定物に対する接触圧の大きさを調整する接触
圧調整部とを具備し、上記接触圧調整部は、上記ハウジ
ングに取付けられ且つ上記プローブ軸の小径部分が遊挿
され電圧の印加により上記プローブ軸とのギャップ量が
調整自在な円筒状の電歪素子と、上記プローブ軸の上記
電歪素子に近接する部位にて上記プローブ軸の上記小径
部分と上記大径部分により形成された段差部と、上記ハ
ウジングに等配して設けられ上記段差部と上記電歪素子
により挾まれた空間に圧縮空気を噴出してこの圧縮空気
により上記プローブ軸に上記接触圧を付与する複数の絞
り孔とを具備することを特徴とする変位測定装置。(7) Consisting of a cylindrical housing, a hydrostatic bearing provided inside the housing, a large diameter portion and a small diameter portion, the large diameter portion is supported by the hydrostatic bearing in a non-contact manner so as to be movable in the axial direction. a stylus provided at one end of the probe shaft and in contact with the object to be measured; and a stylus provided at one end of the probe shaft and the probe shaft provided in a part of the housing to determine the magnitude of the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured. a cylindrical contact pressure adjusting section for adjusting the contact pressure; an electrostrictive element having a shape, a step portion formed by the small diameter portion and the large diameter portion of the probe shaft at a portion of the probe shaft near the electrostrictive element, and an electrostrictive element provided equidistantly on the housing. A displacement measuring device characterized by comprising a plurality of aperture holes that eject compressed air into the space sandwiched between the stepped portion and the electrostrictive element and apply the contact pressure to the probe shaft using the compressed air. .
に対する接触圧を検出する接触圧検出部と、この接触圧
検出部における接触圧検出結果に基づいて接触圧調整部
の電歪素子に制御信号を印加し上記プローブ軸と上記電
歪素子とのギャップ量を変化させることにより上記接触
圧を制御する接触圧制御部とを具備することを特徴とす
る請求項(7)記載の変位測定装置。(8) A contact pressure detection section provided on the probe shaft to detect the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured, and control to the electrostrictive element of the contact pressure adjustment section based on the contact pressure detection result in the contact pressure detection section. The displacement measuring device according to claim 7, further comprising a contact pressure control section that controls the contact pressure by applying a signal and changing the amount of gap between the probe shaft and the electrostrictive element. .
けられた静圧軸受と、大径部分と小径部分からなり上記
大径部分が上記静圧軸受により軸方向に移動自在に非接
触軸支されたプローブ軸と、このプローブ軸の一端に設
けられ被測定物に当接するスタイラスと、上記プローブ
軸及び上記ハウジングの一部に設けられ上記プローブ軸
の上記被測定物に対する接触圧の大きさを調整する接触
圧調整部とを具備し、上記接触圧調整部は、上記ハウジ
ングに取付けられ且つ上記プローブ軸の小径部分が遊挿
される排気調整板と、上記プローブ軸の上記排気調整板
に近接する部位にて上記プローブ軸の上記小径部分と上
記大径部分により形成された段差部と、上記ハウジング
に等配して設けられ上記段差部と上記排気調整板により
挾まれた空間に圧縮空気を噴出してこの圧縮空気により
上記プローブ軸に上記接触圧を付与する複数の絞り孔と
、これらの絞り孔に上記圧縮空気を圧力調整自在に供給
する圧縮空気供給手段とを具備することを特徴とする変
位測定装置。(9) Consisting of a cylindrical housing, a hydrostatic bearing provided inside the housing, a large diameter portion and a small diameter portion, the large diameter portion is supported by the hydrostatic bearing in a non-contact manner so as to be movable in the axial direction. a stylus provided at one end of the probe shaft and in contact with the object to be measured; and a stylus provided at one end of the probe shaft and the probe shaft provided in a part of the housing to determine the magnitude of the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured. a contact pressure adjustment part for adjustment, the contact pressure adjustment part being close to the exhaust adjustment plate attached to the housing and into which the small diameter portion of the probe shaft is loosely inserted, and the exhaust adjustment plate of the probe shaft. At the location, compressed air is ejected into a stepped portion formed by the small diameter portion and the large diameter portion of the probe shaft, and a space provided equidistantly on the housing and sandwiched by the stepped portion and the exhaust adjustment plate. and a plurality of throttle holes for applying the contact pressure to the probe shaft using the compressed air, and compressed air supply means for supplying the compressed air to these throttle holes in a pressure-adjustable manner. Displacement measuring device.
物に対する接触圧を検出する接触圧検出部と、この接触
圧検出部における接触圧検出結果に基づいて接触圧調整
部の圧縮空気供給手段に制御信号を印加し上記圧縮空気
の圧力を変化させることにより上記接触圧を制御する接
触圧制御部とを具備することを特徴とする請求項(9)
記載の変位測定装置。(10) A contact pressure detection section provided on the probe shaft to detect the contact pressure of the probe shaft against the object to be measured, and a compressed air supply means of the contact pressure adjustment section based on the contact pressure detection result in the contact pressure detection section. Claim (9) further comprising a contact pressure control section that controls the contact pressure by applying a control signal and changing the pressure of the compressed air.
Displacement measuring device as described.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2215915A JP2519823B2 (en) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | Displacement measuring device |
DE69108817T DE69108817T2 (en) | 1990-08-17 | 1991-08-14 | Displacement measuring device. |
US07/745,460 US5174039A (en) | 1990-08-17 | 1991-08-14 | Displacement-measuring apparatus, and static-pressure bearing device for use in the displacement-measuring apparatus |
EP91113693A EP0471371B1 (en) | 1990-08-17 | 1991-08-14 | Displacement-measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2215915A JP2519823B2 (en) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | Displacement measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0498114A true JPH0498114A (en) | 1992-03-30 |
JP2519823B2 JP2519823B2 (en) | 1996-07-31 |
Family
ID=16680362
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2519823B2 (en) |
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- 1990-08-17 JP JP2215915A patent/JP2519823B2/en not_active Expired - Fee Related
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