JPH0474919A - コークス塊の粒径の測定方法 - Google Patents
コークス塊の粒径の測定方法Info
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- JPH0474919A JPH0474919A JP18774590A JP18774590A JPH0474919A JP H0474919 A JPH0474919 A JP H0474919A JP 18774590 A JP18774590 A JP 18774590A JP 18774590 A JP18774590 A JP 18774590A JP H0474919 A JPH0474919 A JP H0474919A
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- coke
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コークス塊の粒径の測定方法に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕コーク
ス塊の特性は、コークスの製造やコークスを使用した高
炉の生産効率に大きな影響を与える。このような特性の
一つに、粒径を挙げることができる。
ス塊の特性は、コークスの製造やコークスを使用した高
炉の生産効率に大きな影響を与える。このような特性の
一つに、粒径を挙げることができる。
従来、次のようにしてコークス塊の平均粒径を測定して
いた。すなわち、まず、種々のサイズの格子状の篩目を
用いて、コークス塊をサイズ別に選別する。次いで、選
別した各コークス塊の群ごとに、重量比を利用して、加
重平均によってコークス塊の平均粒径を算出していた。
いた。すなわち、まず、種々のサイズの格子状の篩目を
用いて、コークス塊をサイズ別に選別する。次いで、選
別した各コークス塊の群ごとに、重量比を利用して、加
重平均によってコークス塊の平均粒径を算出していた。
このようにして、測定したコークス（４ＢＰ−３００ν
Ｑｃｏｋｅ）の粒度分布は、例えば、第２図に示す通り
である。ここで、図中Ｉは、ワーフ前のコークスの粒径
の累積パーセント特性を示す特性線であり、■は、コー
ク（ｃ ｏ ｋ ｅ）ビン上でのコークスの粒径の累積
パーセント特性を示す特性線であり、■は、コークビン
グリズリ−後のコークスの粒径の累積パーセント特性を
示す特性線である。
Ｑｃｏｋｅ）の粒度分布は、例えば、第２図に示す通り
である。ここで、図中Ｉは、ワーフ前のコークスの粒径
の累積パーセント特性を示す特性線であり、■は、コー
ク（ｃ ｏ ｋ ｅ）ビン上でのコークスの粒径の累積
パーセント特性を示す特性線であり、■は、コークビン
グリズリ−後のコークスの粒径の累積パーセント特性を
示す特性線である。
しかしながら、このような従来の平均粒径の測定方法に
よるものでは、あくまで、各コークス塊群の測定値が得
られるだけであり、個々のコークス塊の形状及び平均粒
径を得ることはできない。
よるものでは、あくまで、各コークス塊群の測定値が得
られるだけであり、個々のコークス塊の形状及び平均粒
径を得ることはできない。
つまり、コークス塊の群の重量比に基づいたデータであ
るため、データの根拠には、個々のコークス塊の特性を
考慮する概念はない。この結果、従来の方法によって得
られたコークス塊の平均粒径は、コークス製造の際のコ
ークス炉の操業因子や、コークス使用時の高炉の操業因
子とコークス塊の特性の相関性についての信頼性、精度
も不十分なものであった。
るため、データの根拠には、個々のコークス塊の特性を
考慮する概念はない。この結果、従来の方法によって得
られたコークス塊の平均粒径は、コークス製造の際のコ
ークス炉の操業因子や、コークス使用時の高炉の操業因
子とコークス塊の特性の相関性についての信頼性、精度
も不十分なものであった。
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、個々
のコークス塊の平均粒径を極めて容易に且つ正確に測定
して信頼性、精度の点で優れたコークス塊の粒径の測定
方法を提供するものである。
のコークス塊の平均粒径を極めて容易に且つ正確に測定
して信頼性、精度の点で優れたコークス塊の粒径の測定
方法を提供するものである。
本発明は、コークス塊にＸ線ビームを透過するように照
射しつつ、該コークス塊の所定の断面全域に沿って該Ｘ
線ビームを走査する工程と、前記コークス塊を透過した
透過Ｘ線を連続的に検出する工程と、該透過Ｘ線の検出
信号に基づいて前記所定断面の断層画像を得る工程と、
該断層画像に基づいて前記コークス塊の平均粒径を算出
する工程とを具備することを特徴とするコークス塊の粒
径の測定方法である。
射しつつ、該コークス塊の所定の断面全域に沿って該Ｘ
線ビームを走査する工程と、前記コークス塊を透過した
透過Ｘ線を連続的に検出する工程と、該透過Ｘ線の検出
信号に基づいて前記所定断面の断層画像を得る工程と、
該断層画像に基づいて前記コークス塊の平均粒径を算出
する工程とを具備することを特徴とするコークス塊の粒
径の測定方法である。
本発明のコークス塊の粒径の測定方法によれば、コーク
ス塊にＸ線を照射して透過Ｘ線を連続的に検出し、この
透過Ｘ線の強度分布からコークス塊の所定断面の断層画
像を得、更に、得られた断層画像に基づいてコークス塊
の平均粒径を算出する。
ス塊にＸ線を照射して透過Ｘ線を連続的に検出し、この
透過Ｘ線の強度分布からコークス塊の所定断面の断層画
像を得、更に、得られた断層画像に基づいてコークス塊
の平均粒径を算出する。
これにより、個々のコークス塊の平均粒径を極めて容易
に且つ正確に測定できる。
に且つ正確に測定できる。
以下、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
この実施例では、Ｘ線コンピューター断層装置（以下、
Ｘ線ＣＴと記す）を使用した。
Ｘ線ＣＴと記す）を使用した。
まず、コークス塊を、Ｘ１１ＩＣＴの試料載置台に載せ
る。次に、試料載置台を、Ｘ線管及びこれに対向して配
置した検出器を有する検出部の開口部に導き、コークス
塊の撮影部位を所定位置に位置付ける。
る。次に、試料載置台を、Ｘ線管及びこれに対向して配
置した検出器を有する検出部の開口部に導き、コークス
塊の撮影部位を所定位置に位置付ける。
次に、コークス塊に向けて、Ｘ線管からＸ線ビームを照
射し、コークス塊を透過したＸ線を検出器により検出す
る。この状態で、Ｘ線管及び検出器の対を、検出部に設
けられた駆動装置により、コークス塊の所定の横断面に
沿ってＸ線ビームを走査するように回転させる。この走
査は、後述する演算部により制御して行う。
射し、コークス塊を透過したＸ線を検出器により検出す
る。この状態で、Ｘ線管及び検出器の対を、検出部に設
けられた駆動装置により、コークス塊の所定の横断面に
沿ってＸ線ビームを走査するように回転させる。この走
査は、後述する演算部により制御して行う。
このようにして、検出された透過Ｘ線の強度を、検出器
に接続された演算部に伝達する。演算部は、この信号を
画像化処理して、第１図に示す如く、コークス塊の所定
の断層画像１を得る。断層画像１を、演算部に接続され
た表示部に表示する。表示された断層画像１を、更にマ
ルチフォーマットカメラで撮影する。
に接続された演算部に伝達する。演算部は、この信号を
画像化処理して、第１図に示す如く、コークス塊の所定
の断層画像１を得る。断層画像１を、演算部に接続され
た表示部に表示する。表示された断層画像１を、更にマ
ルチフォーマットカメラで撮影する。
次に、断層画像１の解析処理を演算部で行い、コークス
塊の３軸方向（Ｘ軸、ｙ軸、２軸）の寸法を算出する。
塊の３軸方向（Ｘ軸、ｙ軸、２軸）の寸法を算出する。
次いで、これらの算出値から、演算部で算術平均、調和
平均、幾何平均等の計算方法により、コークス塊の平均
粒径（Ｒ）を算出する。
平均、幾何平均等の計算方法により、コークス塊の平均
粒径（Ｒ）を算出する。
このようにして、例えば５個のコークス塊１〜５の３軸
調和平均粒径（Ｒ，） 、３軸幾何平均粒径（Ｒ２）及
びこれらのコークス塊群の平均粒径を測定した結果を、
次の第１表に示す。
調和平均粒径（Ｒ，） 、３軸幾何平均粒径（Ｒ２）及
びこれらのコークス塊群の平均粒径を測定した結果を、
次の第１表に示す。
第１表
コー り ス塊 ３軸ｌｌｌ１平均粒径 （Ｒ＋
’） ３軸履何平均粒径 （Ｒ２）（ｃｍ ）
（ｃｍ ）１
７．３３ ８．０７２
１２．９０ １３
．２８３ ９．２３
９．２８４ １２．８
７ １３．０９５
１５．５０ １５．０９．
５値のコークス塊 １１．５７
１１．７６の平均粒径 このようにして、個々のコークス塊の平均粒径や複数個
のコークス塊の平均粒径を容易に且つ正確に測定できる
。これらの粒径データを基準にした個々のコークス塊の
特性データに対応した最適のコークス炉の操業条件を決
定し、製造されるコークスの品質を高めることができる
。同様に、コ−クス塊を使用する高炉の運転を個々のコ
ークス塊の粒径データに基づいて制御して生産効率を高
めることもできる。
’） ３軸履何平均粒径 （Ｒ２）（ｃｍ ）
（ｃｍ ）１
７．３３ ８．０７２
１２．９０ １３
．２８３ ９．２３
９．２８４ １２．８
７ １３．０９５
１５．５０ １５．０９．
５値のコークス塊 １１．５７
１１．７６の平均粒径 このようにして、個々のコークス塊の平均粒径や複数個
のコークス塊の平均粒径を容易に且つ正確に測定できる
。これらの粒径データを基準にした個々のコークス塊の
特性データに対応した最適のコークス炉の操業条件を決
定し、製造されるコークスの品質を高めることができる
。同様に、コ−クス塊を使用する高炉の運転を個々のコ
ークス塊の粒径データに基づいて制御して生産効率を高
めることもできる。
以上説明した如くに、本発明のコークス塊の粒径の測定
方法によれば、個々のコークス塊の平均粒径をデータを
正確且つ容易に得ることができる。
方法によれば、個々のコークス塊の平均粒径をデータを
正確且つ容易に得ることができる。
この粒径データに基づいて、コークス製造時及び使用時
での各種操業条件を高い精度で制御できる等顕著な効果
を有するものである。
での各種操業条件を高い精度で制御できる等顕著な効果
を有するものである。
第１図は、本発明の実施例で得られるコークス塊の断層
画像の一例を示す断面図、第２図は、従来の測定方法に
より得られるコークス塊の粒径分布を示す特性図である
。 １・・・断層画像。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
画像の一例を示す断面図、第２図は、従来の測定方法に
より得られるコークス塊の粒径分布を示す特性図である
。 １・・・断層画像。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- コークス塊にＸ線ビームを透過するように照射しつつ、
該コークス塊の所定の断面全域に沿って該Ｘ線ビームを
走査する工程と、前記コークス塊を透過した透過Ｘ線を
連続的に検出する工程と、該透過Ｘ線の検出信号に基づ
いて前記所定断面の断層画像を得る工程と、該断層画像
に基づいて前記コークス塊の平均粒径を算出する工程と
を具備することを特徴とするコークス塊の粒径の測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18774590A JPH0474919A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | コークス塊の粒径の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18774590A JPH0474919A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | コークス塊の粒径の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474919A true JPH0474919A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16211457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18774590A Pending JPH0474919A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | コークス塊の粒径の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0474919A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102403248A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-04-04 | 河北普兴电子科技股份有限公司 | 硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测方法 |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP18774590A patent/JPH0474919A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102403248A (zh) * | 2011-11-23 | 2012-04-04 | 河北普兴电子科技股份有限公司 | 硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测方法 |
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