JPH0450723A - 機器特性診断システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、一定のモデルに基づいて機器の特性を表すパ
ラメータ群およびパラメータ値が機器の仕様変更の際ま
たは時間の経過とともに変動する機器において、機器の
正常・異常を判断する基になるパラメータの標準値また
は機器特性の標準値をモデルの全体的な整合性を保ちな
がら迅速かつ適切に変化させ、正確な機器特性の判断を
可能にする機器特性診断システムに関する。

（従来の技術） 機器の特性が正常かどうか、そしてもし異常な場合は何
がどのように悪いのかを突き止める機器特性診断システ
ムにおいては、従来衣のような判定が行われていた。

（１）第１７図に示すように、一定のモデルの下で機器
の特性を一元的に（単独で）評価できる各状態量（パラ
メータ；寸法、重量、電圧、電流、流量、速度、圧力な
ど）について、機器特性の状態の判定する基になる判定
基準値または判定基準領域（標準値±α）を設定し、こ
れをその状態量の実際の観測結果と比較して機器の状態
の正常・異常を判断する。

（２）一元的なパラメータでは機器の特性を表現しにく
い場合、第１８図に示すように、Ｐ１Ｐ２．・・・・・
・、ＰＮの複数のパラメータの組からなる多次元データ
セットで機器の特性を表し、各パラメータのしきい値（
標準値）を結んでできる境界面を基準に、多次元データ
セットの現実の観測結果を判断し、機器状態の正常・異
常を判定する。

（３）第１９図に示すように、パラメータ（状態量）の
明確な状態計測が困難などの理由で状態量の傾向等を定
性的（アナログ的）に表現せざるを得ない場合、例えば
「急激で大幅な上昇」というアナログ的な表現によって
基準状態を記述し、いわゆる［ｊｆ・・・、ｔｈｅｎ・
・・（もし・・・ならば、・・・）の条件文・結果文）
」の因果関係（プロダクションルール）を基に観測され
る状態量を判断し、機器状態の正常・異常を判定する。

上述の（１）、（２）、（３）のどの判定方法がとられ
るかどうかは、機器の特性がどのように把握されるかに
よる。

（発明が解決しようとする課題） ところで、機器特性の状態判断に当って必要な知識は、
第２０図のように整理して表すことができる。すなわち
機器特性の状態判断に当って必要な知識の集合１は、機
器特性を表すパラメータが一元的か、多次元データセッ
トか、あるいは定性的記述かを問わず、機器特性の状態
を推定する理論的なモデルが構築でき、実際に得られる
パラメータ（一元的か、多次元データセットか、定性的
かを問わない）の種類・数が定まる状態（以下「状態ａ
」と呼ぶ）に関する知識２と、機器特性を記述し、しか
も時間の経過とともにパラメータの種類・数が変化する
モデルは構築できるが、そのモデルの変化に対応するパ
ラメータの種類の変動時期が明確にとらえら゛れない状
態に関する知識（以下「状態ｂ」と呼ぶ）３と、機器特
性を記述する初期のモデルは構築でき、しかもそのモデ
ルは時間の経過とともに変更を要することは分かってい
るが、その新しいモデルおよびモデルの変更に伴って追
加・変更されるべきパラメータかどのようなものかにつ
いて断片的な判断根拠しかない状態に関する知識（以下
「状態Ｃ」と呼ぶ）４を含み、さらに機器特性判断の根
拠がまったく不明の状態５も包含する。

そして、ある特定の機器の仕様について、知識２が得ら
れても、もしその仕様に変更があれば、通常機器特性の
判定基準値は変化する。このときはその変化した判定基
準値が得られるように、知識２の内容もこれに伴って変
更を要する。

また知識３についても、時間の経過とともにパラメータ
の種類の変動が明らかになった時点で、機器特性の判定
基準値をより正確にするため、そのパラメータの種類の
変動を取り入れたモデルによって新たに判定基準値を定
める必要がある。

さらに知識４については、機器特性の判断に関して、断
片的な新しい判断根拠となるパラメータが得られたり、
断片的な判断根拠となるバラメ夕の変更を余儀なくされ
た場合は、新たに機器特性の推論モデルを構築しながら
パラメータを追加・変更し、より正確な判定基準値を得
る必要がある。

ところが、従来は上述のような全体として整合性のある
判断基準値の変更は行われていない。すなわち、機器仕
様の変更があっても直ちに標準値の変更は行われず、古
い仕様の下での判定基準値では正確な機器特性の診断が
できないことが明らかになった時点で、上述の（１）、
（２）、（３）のいずれかの判定方法によってその都度
試行錯誤的に判定基準値を変更していたため、正確な判
定基準値設定の遅れから機器の特性を誤って判断してし
まうことがあった。

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、仕様変
更や時間の経過など機器特性の判断に関するパラメータ
の変動要因が発生したときは、機器特性の判断に必要な
パラメータすべてをモデルに基づいて整合性よく迅速に
修正し、的確な判断基準値を定めて正確な機器特性の状
態判断を可能にする機器特性診断システムを提供するこ
とを目的とする。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段） 本発明は上記課題を解決するために、機器の特性を表す
種々のパラメータの実測値が入力されるデータ入力処理
部と、前記パラメータの標準値が入力される基準データ
ベース収納部と、これらデータ入力処理部および基準デ
ータベース収納部からそれぞれパラメータの実測値と標
準値が入力され、両者を比較して機器の特性か正常か否
かを判断する判断処理部とを備え、さらに機器の種々の
仕様変更および各仕様変更によって標準値が修正を要す
るパラメータとそのパラメータの修正された標準値とを
関連づける仕様−パラメータ関連手段を有し、仕様の変
更があったときはこの変更が入力されると前記仕様−パ
ラメータ関連手段を基に標準値の修正が必要なパラメー
タとその修正された標準値を割り出し、前記基準データ
ベース収納部に納められた対応するパラメータの標準値
を修正された標準値で置き換えるデータベース管理部を
具備する機器特性診断システムを提供する。

また本発明は、時間の経過とともにパラメータ群および
パラメータ値の変動を伴って変化する機器特性の標準値
が入力されるデータ入力処理部と、前記時間の経過とと
もに変化する機器特性の標準値が入力される基準データ
ベース収納部と、これらデータ入力処理部および基準デ
ータベース収納部からそれぞれ機器特性の実測値と標準
値が入力され、両者を比較して機器の特性が正常か否か
を判断する判断処理部とを備え、さらに時間の経過とと
もにパラメータ群およびパラメータ値の変動を加味して
新たに機器特性の標準値を定め、前記基準データベース
収納部に納められた対応する機器特性の標準値を時間の
経過とともにこの新たに定めた標準値で置き換えるデー
タペース管理部を具備する機器特性診断システムを提供
する。

（作用） 本発明の第１の発明に係る機器特性診断システムにおい
ては、機器の仕様変更があったときは、その変更された
仕様をデータペース管理部に入力する。するとデータペ
ース管理部では、予め機器の種々の仕様と各仕様におけ
る種々のパラメータの標準値とを関連づけた仕様−パラ
メータ関連手段を基に、その仕様変更によって修正を要
するすべてのパラメータを割り出し、これらのパラメー
タの標準値を新しい仕様に合致するものに一括して修正
する。

また、本発明の第２の発明に係る機器特性診断システム
においては、データペース管理部において、時間の経過
とともに使用するパラメータの種類が異なる機器特性の
種々の推論モデルに基づいて、所定の時間経過後に、そ
れまでのモデルに基づく機器の標準値に適当な係数を乗
するなどして新たなモデルにおける機器の標準値を定め
る。

そして第１および第２の発明とも、データペース管理部
で修正されたパラメータの標準値または機器特性の標準
値は、基準データベース収納部に送られて、従前の標準
値と置き換えられ、判断処理部ではこの基準データベー
ス収納部から送られる新しい標準値とデータ入力処理部
から送られるパラメータまたは機器特性の観測値を比較
することにより、仕様変更や時間経過など機器特性に変
化を与える要因に整合性よく対応した正確な機器特性の
状態判断ができる。

（実施例） 以下第１図ないし第１６図を参照して本発明の詳細な説
明する。

第１図は本発明の機器特性診断システム１０の一例を示
す構成図である。この機器特性診断システム１０は、デ
ータ入力処理部１１、基準データベース収納部１２、判
断処理部１３および基準データベース管理部１４を備え
る。

データ入力処理部１１は、機器特性または一定のモデル
下で機器特性を表すパラメータの観測値が入力され、こ
の観測値を判断処理部１３に送る。

また基準データベース収納部１２は、機器特性の標準値
、または一定のモデル下で機器特性を表すパラメータの
標準値が基準データベース管理部１４を通して入力され
る。そして判断処理部１３では、データ入力処理部１１
と基準データベース収納部１２からそれぞれ送られてく
る機器特性または一定のモデル下で機器特性を表すパラ
メータの観測値と標準値を比較して機器特性の正常・異
常を判断する。

さらに、この機器特性診断システム１０においては、基
準データベース管理部１４の第１実施例として、予め機
器の仕様と機器特性に関わるパラメータを含んで構築さ
れるモデル下において、機器を試運転し、上述の機器特
性に関わるパラメータのうち機器の仕様変更によって影
響を受けるすべてのパラメータ、および仕様変更の程度
とこれに対応する各パラメータの標準値を調べて作成し
たテーブルまたは樹木図などの仕様−パラメータ関連手
段を納める。そ１．て、機器の実稼働時には、機器の仕
様変更が入力されると、この仕様−パラメータ関連手段
に基づいて、仕様変更によって標準値を改める必要のあ
るパラメータおよびその新たな標準値を速やかに検索し
、割り出したパラメータとその新たな標準値を基準デー
タベース収納部１２に送って、それまでの標準値と置き
換える。

したがって、機器仕様の変更があったときは、一定の機
器特性の推論モデル下において、速やかにこれに対応す
るパラメータの標準値を基準にして、新たな仕様の下で
の機器特性の正常・異常を正確に判断することができる
。

以下、上述の仕様−パラメータ関連手段としてのテーブ
ルまたは樹木図をパラメータの類型に応じて分類し、パ
ラメータの類型別に機器の仕様変更に対する基準データ
ベース管理部１４の対応を説明する。

すでに述べたように、機器の特性を表すパラメータは定
量的なものと定性的なものに分けられ、定量的なものは
さらにパラメータが一元的なものと多次元のデータセッ
トを構成するものに分類される。そしてパラメータによ
って構成される機器特性の推論モデルは、仕様の変更に
よって直接影響を受けるパラメータだけを含む場合と、
仕様変更によって直接影響を受けるパラメータだけでな
く、このパラメータに関連するため、自身も仕様変更に
よって間接的に影響を受け、標準値を変更する必要のあ
るパラメータをも含む場合がある。

このとき相互に関連するパラメータは、上述のに一元的
」、「多次元データセットＪおよび「定性的ヨに分類さ
れる各カテゴリーにおいて、互いに同一カテゴリー内に
属することもあれば、異なるカテゴリーに跨がることも
ある。

そこで上述のすべてのケースについて、以下第２図ない
し第１０図のフローチャートを参照しながら、機器の仕
様変更に対応してパラメータの標準値を変更する手順を
説明する。

第２図、第３図および第４図は、機器特性の推論モデル
が機器の仕様変更によって直接影響を受けるパラメータ
だけを含む場合を対象にしており、それぞれパラメータ
が「一元的ヨ、「多次元データセラトコ、および「アナ
ログ的・定性的」の場合に対応する。

すなわち、第２図においては、基準データ入力処理部１
４は、機器の仕様変更の内容が入力されると、予め作成
しておいた仕様−パラメータ関連手段としての仕様−デ
ータファイル関連テーブル（または仕様−データファイ
ル関連樹木図）を参照しながら、入力された内容の仕様
変更において、変更すべき一元的パラメータを求め、さ
らにこのパラメータの仕様ごとの標準値を格納するデー
タファイルから入力された仕様に対応する標準値を検索
する。もし仕様変更に直接影響される一元的パラメータ
が複数個ある場合には、それぞれの新しい標準値を連続
して検索してから、変更すべきパラメータの標準値を一
括して基準データベース収納部１２へ送り、標準値の入
れ替えか行われる。したがって、このケースでは仕様変
更の内容を一度基準データベース管理部１４に入力すれ
ば、その後は必要なパラメータの標準値の変更が自動的
にかつ速やかに行われる。

第３図および第４図は、それぞれパラメータが多次元デ
ータセットおよび定性的記述条件（ｉｆ文などの条件文
）の場合に、第２図と同様に基準データベース管理部１
４で仕様−データファイル関連テーブルを用いて、標準
値を変更すべき多次元データセットおよび定性的記述条
件（ｉｆ文などの条件文）、ならびにその新しい標準値
を検索し、さらに基準データベース収納部１２内の標準
値を新しいものに入れ替える工程を示す。

また第５図ないし第７図は、機器特性の推論モデルが機
器の仕様変更によって直接影響を受けるパラメータだけ
でなく、このパラメータに関連することにより仕様変更
によって直接影響を受けるパラメータをも含み、しかも
これら相互に関連するパラメータが、それぞれ「一元的
」、「多次元データセット」および「アナログ的・定性
的」の同一カテゴリーに属する場合を対象にしており、
第５図は「一元的」、第６図は「多次元データセット」
、そして第７図は「アナログ的鳴定性的」の場合に対応
する。

すなわち、第５図においては、基準データベース管理部
１４は、機器の仕様変更の内容が入力されると、予め作
成しておいた仕様−パラメータ関連手段としての仕様−
データファイル関連テーブル（または仕様−データファ
イル関連樹木図）を参照しながら、入力された内容の仕
様変更によって直接影響を受け、標準値を変更すべき一
元的パラメータを求め、さらにこのパラメータの仕様ご
との標準値を格納するデータファイルから入力された仕
様に対応する標準値を検索する。もし仕様変更に直接影
響される一元的パラメータが複数個ある場合には、それ
ぞれの新しい標準値を連続して検索してから、変更すべ
きパラメータの標準値を一括して基準データベース収納
部１２へ送り、標準値の入れ替えが行われる。

ついで、基準データ間相互関連テーブル（これも仕様−
パラメータ関連手段に含まれる）を用い、仕様変更によ
って直接影響されるパラメータに関連することにより仕
様変更に間接的に影響される一元的パラメータ（基準デ
ータ）を検索する。そしてこの関連するパラメータの検
索が終わったら、次は同じく仕様−パラメータ関連手段
を構成する基準データーデータファイル関連テーブルに
よって、その関連する一元的パラメータの仕様変更に対
応する標準値（基準データ値）を連続的に検索し、変更
すべき関連パラメータの標準値を一括して基準データベ
ース収納部１２へ送って標準値の入れ替えをする。

第６図および第７図は、仕様変更によって直接影響を受
けるパラメータがそれぞれ多次元データセットおよび定
性的記述条件の場合に、第５図と同様に基準データベー
ス管理部１４でまず仕様−データファイル関連テーブル
を用いて、仕様変更によって直接影響を受けて標準値を
変更すべきパラメータ、およびその新しい標準値を検索
して、基準データベース収納部１２内の標準値を新しい
ものに入れ替える工程を示し、さらに基準データ間相互
関連テーブルによってすでに標準値の変更がすんだパラ
メータに関連する同一カテゴリー（それぞれ多次元デー
タセットおよび定性的）パラメータを検索し、続いて基
準データーデータファイル関連テーブルによってその関
連するパラメータの新しい標準値を検索して基準データ
ベース収納部１２で標準値の入れ替えをする工程を示す
。

第８図ないし第１０図は、機器特性の推論モデルが機器
の仕様変更によって直接影響を受けるパラメータだけで
なく、このパラメータに関連することにより仕様変更に
よって直接影響を受けるパラメータをも含み、しかもこ
れら相互に関連するパラメータが、それぞれ「一元的」
、「多次元データセット」および「アナログ的・定性的
」の異なるカテゴリーに属する場合を対象にしている。

すなわち、第８図においては、基準データベース管理部
１４は、機器の仕様変更の内容が入力されると、予め作
成しておいた仕様−パラメータ関連手段としての仕様−
データファイル関連テーブル（または仕様−データファ
イル関連樹木図）を参照しながら、入力された内容の仕
様変更によって直接影響を受け、標準値を変更すべき一
元的パラメータを求め、さらにこのパラメータの仕様ご
との標準値を格納するデータファイルから入力された仕
様に対応する標準値を検索する。もし仕様変更に直接影
響される一元的パラメータが複数個ある場合には、それ
ぞれの新しい標準値を連続して検索してから、変更すべ
きパラメータの標準値を一括して基準データベース収納
部１２へ送り、標準値の入れ替えが行われる。

ついで、基準データ間相互関連テーブル（これも仕様−
パラメータ関連手段に含まれる）を用い、仕様変更によ
って直接影響されるパラメータに関連することにより仕
様変更に間接的に影響される異なるカテゴリー（多元的
または定性的）に属するパラメータ（基準データ）を検
索する。そしてこの関連するパラメータの検索が終わっ
たら、次は同じく仕様−パラメータ関連手段を構成する
基準データーデータファイル関連テーブルによって、そ
の関連するパラメータの仕様変更に対応する標準値（基
準データ値）を連続的に検索し、変更すべき関連パラメ
ータの標準値を一括して基準データベース収納部１２へ
送って標準値の入れ替えをする。

第９図および第１０図は、仕様変更によって直接影響を
受けるパラメータがそれぞれ多次元データセットおよび
定性的記述条件の場合に、第８図と同様に基準データベ
ース管理部１４でまず仕様−データファイル関連テーブ
ルを用いて、仕様変更によって直接影響を受けて標準値
を変更すべきパラメータ、およびその新しい標準値を検
索して、基準データベース収納部１２内の標準値を新し
いものに入れ替える工程を示し、さらに基準データ間相
互関連テーブルによってすでに標準値の変更がすんだパ
ラメータに関連する異なるカテゴリーのパラメータ（第
９図の場合は一元的または定性的パラメータ、第１０図
の場合は一元的または多次元データセットパラメータ）
を検索し、続いて基準データーデータファイル関連テー
ブルによってその関連するパラメータの新しい標準値を
検索して基準データベース収納部１２で標準値の入れ替
えをする工程を示す。

したがって、この実施例によれば、前述の状態（ａ）に
おいて、パラメータによって構成される機器特性の推論
モデルが、仕様の変更によって直接影響を受けるパラメ
ータだけを含む場合、仕様変更によって直接影響を受け
るパラメータだけでなく、このパラメータに関連するパ
ラメータをも含み、しかも相互に関連するパラメータが
「一元的」、「多次元データセット」および「定性的」
に分類される各カテゴリーにおいて、互いに同一カテゴ
リー内に属するとき、および異なるカテゴリーに跨がる
ときのすべてのケースについて、仕様変更の内容を一度
知らせれば、自動的に標準値変更の必要のあるすべての
パラメータの標準値を漏れなく一括して速やかに変更す
ることができ、仕様変更に際しても正確な機器特性の状
態判断が可能になる。

この実施例は、機器特性の推論に掛かるパラメータの種
類・数が時間が経過しても変化せず、機器の全運転期間
に渡って機器特性の推論モデルが１個ですむ場合に適用
される。

つぎに、機器特性の推論に掛かるパラメータが定量的で
はあるが、その種類・数が時間の経過とともに変化する
場合における本発明の機器特性診断システムの対応を、
第２実施例として説明する。

本実施例においては、予め機器特性の推論について時間
の経過とともに用いるパラメータの種類・数が異なって
くる種々のモデルを構築し、機器を試運転して時間の経
過とともに各モデルの適合性を調べてモデルの交換時期
を定める。そのとき、その交換時期に新旧のモデルによ
ってそれぞれ推論される機器特性の標準値を比較して両
者の値の比率を求め、基準データペース管理部１４に記
憶しておく。そして機器の実稼働時には、基準データペ
ース管理部１４において、時間の経過によってモデルの
交換時期に達したらそれまでのモデルで推論される機器
特性の標準値に先に求めた比率を乗じ、新しいモデル下
での機器特性の標準値を算出する。その後は、この新た
な機器特性の標準値を基準データペース収納部１２に送
って、それまでの標準値と置き換える。

したがって、機器特性の推論に掛かるパラメータの種類
・数が時間とともに変動して、一つのモデルでは機器の
全使用期間に渡って正確な推論を行うことができない場
合でも、時間の経過とともに、機器特性の正常・異常を
正確に判断することができる。

この場合における本実施例の機器特性診断システムの対
応を以下により詳しく説明する。

第１１図は、中性子の検出に用いる核***計数管２０の
基本構造を示す模式図である。核***計数管２０は、パ
ルス出力型の二重管構造の電離箱で、陰極である外管２
１の内部に陽極の内管２２を納めて、しかも両管２１，
２２の間にはアルゴンなどの期待を封入する。そして外
管２１の内面にはウランなどの核***性物質を塗布する
。

外管２１と内管２２の間に入射する中性子は、この核分
裂性物質に衝突して核***を生じさせ、高エネルギーの
核***破片が封入されている気体を電離させる。電離に
よって発生した気体のイオンと電子は、それぞれクーロ
ン力によって各電極に補集され、補集されたイオンの数
に比例したパルス波形が観測される。

核***計数管２０に印加される電圧と気体の電離によっ
て発生する電流は、第１２図に示すように、互いに２極
管としての電流・電圧特性を有する。そして、核***計
数管２０から出力されるパルスの波高とパルス幅は、核
***計数管の有感部（センサ）の形状、封入気体の種類
と圧力、および印加電圧をパラメータとする推論モデル
によって一意的に定゛まる。したがって、第１３図に示
す核***計数管の各パルス波形は、核***計数管の各パ
ラメータの特性の相違を表す。

さて、このようにして、所定のパラメータとパルス波形
の関係を把握し、後はパルス波形によって補集イオン数
を計数する核***計数管であるが、時間の経過とともに
、次の２つの理由により、パルス波形から観測される補
集イオン数の値が不正確になることがある。

（Ｉ）時間の経過とともに、当初の推論モデルで想定し
ている封入ガスの成分比にないガスが混入したり、特定
のガスが流失するなどして、パルス波形（核***計数管
という機器の特性）を記述するのに必要なパラメータの
種類が変動する場合。

この場合、変動後のパラメータの種類・数は予想できる
ものとする。そうするとパラメータの変動に対応したモ
デルは事前に構築できるが、パラメータの変動時期がし
れないとき（例えば、核***計数管の作動中は封入ガス
の成分比を直接知ることはできない）は、モデルの交換
をパラメータの変動と同時に行うことはできず、パラメ
ータの変動前のモデルでパルス波形を判断することから
推定する補集イオンの数が不正確になる。

（ｎ）時間の経過とともに、予定外の加振や顕著な温度
変化あるいは圧力変化のため内部構造物が破損したり形
状が変化してしまうなどして当初の推論モデルで想定し
ていない、基本設計から外れるような新しいパラメータ
を検討しなければならない場合。この場合、変動後のパ
ラメータの種類・数は直ち〜には予想できないものとす
る。

以下に上述の理由（Ｉ）、（ＩＩ）をより詳しく説明し
、これに対する本機器特性診断システムの対応を示す。

まず理由（Ｉ）とは、例えば時間とともに変化する核分
裂計数管の機器特性である波形を、核***計数管の稼働
初期にはパラメータＮｌ、　Ｎ２゜・・・、Ｎｊで記述
していたとき、ガス成分比の変化等でパラメータＭｌ、
Ｍ２．・・・、Ｍｋの追加があって、波形の推論モデル
Ｓ　（ｔ）をＳｌ　（ｔ、　Ｎ１、Ｎ２．・・・、Ｎｊ
）（以下簡単のため５Ｌ（ｔ）と記す）から８２　（ｔ
、　Ｎｌ、　Ｎ２．・・・、Ｎｊ。

Ｍｌ、Ｍ２．・・・、Ｍｋ）（以下簡単のため５２（１
）と記す）に変化させる必要があるときのことをいう。

このときパラメータＮｌ、Ｎ２．・・・Ｎｊ、Ｍｌ、Ｍ
２．・・・、Ｍｋと、推論モデル５１（１）および８２
　（ｔ）は知れているため、機器（核***計数管）を実
稼働に先立って試運転する。

すると、第１４図に示すように、ｔｏ（機器の稼働開始
時）≦ｔ≦ｔ１のときは当初予想されるパラメータｔ、
Ｎｌ、Ｎ２．　・・・、Ｎｊの下に、５１（ｔ）の関数
形で表される波形が観測されるが、ｔ≦ｔ１になると、
徐々にこの波形Ｓｌ　（ｔ）から推測されるイオン数は
実際のものとずれてくることが分かる。したがって、こ
のｔｌを経過した時点で、パラメータＭｌ、　Ｍ２．・
・・、Ｍｋの新たな追加を疑うことになるが、機器の内
部は伺い知ることができない。そうしているうちに、や
がてｔ≧ｔ２となるとると、観測される波形は、パラメ
ータｔ、Ｎｌ、Ｎ２．・・・、Ｎｊ、Ｍｌ、Ｍ２゜・・
・、Ｍｋを想定したＳ２　（ｔ）の方にフィツトするこ
とが分かる。

よって、機器の実稼働時の判定基準波形Ｓはｔ≦ｔ１の
ときは問題な（Ｓ＝８１　（ｔ）である。

しかしｔ１≦ｔ≦ｔ２のときも、新たなパラメータの追
加を断定することはできないので、定基準波形Ｓは依然
としてＳｌ　（ｔ）を用いざるを得ない。モしてｔ≧ｔ
２となったときは、試運転時のｔ＝ｔ２における８２　
（ｔ）と３２　（ｔ）の比αを用いて、Ｓ　（ｔ）＝８
１　（ｔ）Ｘ　（１＋αｔ）で表す。

こうして、基準データベース管理部１４では、時間ごと
の判定基準波形Ｓの算定方法を記憶しておき、所定時間
経過の度に観測波形を基に判定基準波形Ｓを割り８し、
基準データベース収納部１２にこの判定基準波形Ｓを送
り出して、それまでの判定基準波形を適当なものに置き
換え、判断処理部における正確な判断に資する。

第１５図に、ある機器仕様の下における上述の機器特性
標準値の変更の手順を要約して示す。

このように、本実施例の機器特性診断システムによれば
、時間の経過とともにパラメータの種類φ数が変動して
、１個のモデルだけでは機器の全使用期間に渡って正確
な特性状態の判断を行うことが困難な場合でも、変動の
前後におけるパラメータの種類・数が分かり、しかもこ
れらパラメータの変動に対応する各推論モデルが判明し
ているときは、機器を試運転して、パラメータの変動時
期を確認しておき、さらにその変化の前後における両推
論モデルの関係を定める。こうすれば、たとえ機器稼働
から時間が経過するにつれてパラメータが検証の不可能
な状態下で変動する場合でも、その変動に対応して整合
性よく特性状態の判定基準値を定めていくことができる
。

次に理由（ｎ）の場合の本発明の機器特性診断システム
の対応を説明する。例えば核***計数管を原子炉内に設
置して連続使用している状態で内部構造に予定外の変化
が起き、推論モデルに新しいパラメータＭｘ導入の必要
が生じたときは、このパラメータＭｘの同定のため、印
加電圧を変化させてパルス出力の変化を観察してみる。

そして推論モデルにおけるパルス波形ＳＬ　（ｔ）の印
加電圧（パラメータＮ１とする）への理論的な依存性は
、 Δ５Ｓ１＝６８１（ｔ）／δＮ１・・・・・・（１）で
示される。

これに対して、印加電圧を変化させたときに観測される
パルス波形Ｓｘ　（ｔ）の変化量は、Δ５Ｓｘ＝δＳｘ
　（ｔ）　／δＮ　１　・・・−（２）となる。

よって、観測されるパルス波形Ｓｘ　（ｔ）のパラメー
タＭｘの導入による変化量δＳｘ／δＭｘは、推論モデ
ルにおけるパルス波形ＳＬ　（ｔ）のパラメータＭｘに
よる理論的な変化量と式（１）（２）を用いて、例えば
、 δＳｘ／δＭｘ＝　［（δ５ｌ（ｔ）／δＮｌ）／（δ
５ｌ（ｔ）／δＮｌ）］　　　（δＳｌ　（ｔ）７６Ｍ
　ｘ　） ＝　（ΔＳＳｘ／Δ５ＳＩ） （δ５ｌ（ｔ）／δＭｘ）　・・・・・・（３）と表せ
る。

パラメータＭｘを組み入れて観測結果Ｓｘ　（ｔ）に適
合するモデルをつくるためには、式（３）において、そ
れぞれΔＳＳｘ、ΔＳＳ１およびδ５１（ｔ）／δＭｘ
を求めなければならない。

ΔＳＳｘとΔＳＳ１は、それぞれ観測結果と理論計算に
より得られる。またδ３１（ｔ）／δＭＸを求めるため
には、まずパラメータＭｘの正体をつかむ必要がある。

この場合にはパラメータＭＸについて仮説を立て、この
仮説に基づいて現象（例えばパルス出力変化）の推定を
行う。そしてこの推定結果が観測結果とどの程度一致す
るかを分析することにより仮説が正しいかどうかの判定
を行う（仮説検定または生成検査）。そして種々の仮説
を検証することにより、パラメータＭｘの素性が推測さ
れる。パラメータＭｘが定まればδ５ｌ（ｔ）／δＭｘ
が推定され、ついで式（３）によってδＳｘ／δＭｘが
導出される。こうすればＳｘ　（ｔ）がＳＬ　（ｔ）を
変えて新しくモデルとして採用することができ、パラメ
ータＭｘ比現後の機器特性の推定に用いることができる
。

第１６図は上述のケースにおいて、例えば核***計数管
の８カパルスの波高、パルス幅、パルス数および印加電
圧がそれぞれ標準値をオーバーするという機器特性の異
常時に、経験１〜４に基づいて、不純物ガス発生、封入
ガスの圧力変化および外部ノイズ混入という仮説を立て
、それを出力パルスの波高、パルス幅、パルス数および
印加電圧の変化によって検証しながら、仮説検定をし、
パラメータＭｘの決定をするというプロセスを示す流れ
図である。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の機器特性診断システムに
よれば、機器特性の判断において考えられるあらゆる可
能性を想定して分類し、すべてのケースについて基準デ
ータベース管理部を機能を整えるため、仕様変更あるい
は時間の経過によるパラメータおよび機器特性推論モデ
ルの変化に対して、自動的に対応の漏れなく、かつ理論
的な整合性よくパラメータの標準値およびモデルを変更
１７、正確な機器特性の状態判断が可能になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の機器特性診断システムの一例を示す構
成図、第２図は機器の仕様変更時に一次元パラメータの
標準値を修正する手順を示す流れ図、第３図は機器の仕
様変更時に多次元データセットパラメータの標準値を修
正する手順を示す流れ図、第４図は機器の仕様変更時に
定性的条件記述パラメータの標準値を修正する手順を示
す流れ図、第５図は機器の仕様変更時に一次元パラメー
タの標準値を関連−次元パラメータの標準値をも含めて
修正する手順を示す流れ図、第６図は機器の仕様変更時
に他次元データセットパラメータの標準値を関連多次元
データセットパラメータの標準値をも含めて修正する手
順を示す流れ図、第７図は機器の仕様変更時に定性的条
件記述パラメータの標準値を関連定性的条件記述パラメ
ータの標準値をも含めて修正する手順を示す流れ図、第
８図は機器の仕様変更時に一次元パラメータの標準値を
関連多次元データセットまたは定性的条件記述パラメー
タの標準値をも含めて修正する手順を示す流れ図、第９
図は機器の仕様変更時に多次元データセットパラメータ
の標準値を関連−次元または定性的条件記述パラメータ
の標準値をも含めて修正する手順を示す流れ図、第１０
図は機器の仕様変更時に定性的条件記述パラメータの標
準値を関連−次元または多次元データセットパラメータ
の標準値をも含めて修正する手順を示す流れ図、第１１
図は核***計数管の基本構造を示す構成図、第１２図は
核***計数管における印加電圧と電離電流の関係を示す
グラフ図、第１３図は核***計数管の種々のパルス出力
波形を示すグラフ図、第１４図は時間経過によるパラメ
ータの変動と核***計数管に観測パルス出力波形とパル
ス８カの判定基準波形の関係を示すグラフ図、第１５図
はパラメータとモデルの変更時期が不明の場合の機器特
性標準値変更の手順を示すグラフ図、第１６図は予期し
得ないパラメータが発生する場合にそのパラメータを同
定する手順を示す流れ図、第１７図は一次元パラメータ
で機器特性を判断する場合の判定基準を示すグラフ図、
第１８図は多次元データセットパラメータで機器特性を
判断する場合の判定１準を示すグラフ図、第１９図は定
性的条件記述パラメータで機器特性を判断する場合の判
定基準を示すグラフ図、第２０図は機器特性の状態判断
に当たって必要な知識の集合を説明するペン図である。 １１・・・データ入力処理部、１２・・・基準データベ
ース収納部、１３・・・判断処理部、１４・・・基準デ
ータペース管理部。 出願人代理人　　　波　多　野　　　久第１１図 第１２図 印力Ｏ霊斤 第１３図 第１７図 ｆ３ｆｔ　間 第１９ｗ１ Ｗ！開 ＊２０ｒｓ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、機器の特性を表す種々のパラメータの実測値が入力
   されるデータ入力処理部と、前記パラメータの標準値が
   入力される基準データベース収納部と、これらデータ入
   力処理部および基準データベース収納部からそれぞれパ
   ラメータの実測値と標準値が入力され、両者を比較して
   機器の特性が正常か否かを判断する判断処理部とを備え
   、さらに機器の種々の仕様変更および各仕様変更によっ
   て標準値が修正を要するパラメータとそのパラメータの
   修正された標準値とを関連づける仕様−パラメータ関連
   手段を有し、仕様の変更があったときはこの変更が入力
   されると前記仕様−パラメータ関連手段を基に標準値の
   修正が必要なパラメータとその修正された標準値を割り
   出し、前記基準データベース収納部に納められた対応す
   るパラメータの標準値を修正された標準値で置き換える
   データベース管理部を具備する機器特性診断システム。 ２、時間の経過とともにパラメータ群およびパラメータ
   値の変動を伴って変化する機器特性の標準値が入力され
   るデータ入力処理部と、前記時間の経過とともに変化す
   る機器特性の標準値が入力される基準データベース収納
   部と、これらデータ入力処理部および基準データベース
   収納部からそれぞれ機器特性の実測値と標準値が入力さ
   れ、両者を比較して機器の特性が正常か否かを判断する
   判断処理部とを備え、さらに時間の経過とともにパラメ
   ータ群およびパラメータ値の変動を加味して新たに機器
   特性の標準値を定め、前記基準データベース収納部に納
   められた対応する機器特性の標準値を時間の経過ととも
   にこの新たに定めた標準値で置き換えるデータベース管
   理部を具備する機器特性診断システム。