JPH044984Y2 - - Google Patents
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- JPH044984Y2 JPH044984Y2 JP1981097543U JP9754381U JPH044984Y2 JP H044984 Y2 JPH044984 Y2 JP H044984Y2 JP 1981097543 U JP1981097543 U JP 1981097543U JP 9754381 U JP9754381 U JP 9754381U JP H044984 Y2 JPH044984 Y2 JP H044984Y2
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- mirror
- light flux
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は切換え操作によつて複光束分光光度計
としても単光束分光光度計としても使用できるよ
うにした分光光度計に関する。
としても単光束分光光度計としても使用できるよ
うにした分光光度計に関する。
複光束分光光度計は回転鏡で光束を２分割する
ので、２つの光束は夫々チヨツピングされてお
り、チヨツピングの周期と同程度以上の速さで変
化する試料の測定はできない。例えばチヨツピン
グの速さが60Hzとすると約17m sec程度の時間内
に相当な変化をする試料の測定はできない。そこ
でこのような高速変化をする試料の測定には回転
鏡のような運動部の不要な単光速分光光度計を用
いることになるが、場合によつて２種の分光光度
計を使い分けることは面倒であり、また設備費の
面でも負担が大きい。従つて一つの分光光度計で
簡単な切換え操作で複光束型としても単光束型と
しても使用できる分光光度計が望まれる。本考案
はこのような要求に応ずるためになされたもので
ある。以下実施例によつて本考案を説明する。
ので、２つの光束は夫々チヨツピングされてお
り、チヨツピングの周期と同程度以上の速さで変
化する試料の測定はできない。例えばチヨツピン
グの速さが60Hzとすると約17m sec程度の時間内
に相当な変化をする試料の測定はできない。そこ
でこのような高速変化をする試料の測定には回転
鏡のような運動部の不要な単光速分光光度計を用
いることになるが、場合によつて２種の分光光度
計を使い分けることは面倒であり、また設備費の
面でも負担が大きい。従つて一つの分光光度計で
簡単な切換え操作で複光束型としても単光束型と
しても使用できる分光光度計が望まれる。本考案
はこのような要求に応ずるためになされたもので
ある。以下実施例によつて本考案を説明する。
第１図は本考案の一実施例分光光度計を示す。
Ｌは光源、Ｍは分光器、CHは回転鏡で軸Ｘを中
心に回転せしめられ、分光器Ｍの出射光束を鏡ｍ
２とｍ３の方向に２分割する。ｍ１は分光器Ｍの
出射光を回転鏡CHの方へ反射する鏡である。SC
は試料室で２光束ｆ１，ｆ２の光路内に対照セル
Re及び試料セルSpがセツトできるようになつて
いる。２光束ｆ１，ｆ２は鏡ｍ４，ｍ５によつて
反射されるビームコンバイナーｍ６に入射せしめ
られる。ビームコンバイナーｍ６は平行三角条を
形成した鏡でｍ４，ｍ５から入射した光束を共通
の光検出器Ｄに入射させる２光束ｆ１，ｆ２は交
互に光検出器Ｄに入射する。ビームコンバイナー
ｍ６は光拡散板でもよく、或は鏡ｍ４，ｍ５の向
きを適当にし、光束ｆ１，ｆ２が90°前後の角度
で交わるようにし、その交点に光検出器Ｄの感光
面が位置するようにしてビームコンバナーを無し
にすることもできる。分光器Ｍの出射光は鏡ｍ
１、回転鏡CHで反射され、分光器出射光束とＰ
点で交わるように光路が形成されて光束ｆ２とな
る。この交点Ｐに向つて出入自在に平面鏡ｍ７が
設けられている。この平面鏡が図示実線位置に後
退しているときは分光器Ｍの出射光は鏡ｍ１に入
射して回転鏡CHの方向に反射され、装置は複光
束分光光度計として機能する。平面鏡ｍ７を図示
点線位置に前進させると、分光器Ｍからの出射光
は直接鏡ｍ３の方向に反射され、光束ｆ１がなく
なつて装置はｆ２だけの単光束分光光度計とな
る。この場合単光束の光路は複光束の場合の光束
ｆ２の光路がそのまゝ用いられている。Swは３
連スイツチで平面鏡ｍ７の動きと連動して測光回
路を複光束測定用と単光束測定用とに切換える。
Ｌは光源、Ｍは分光器、CHは回転鏡で軸Ｘを中
心に回転せしめられ、分光器Ｍの出射光束を鏡ｍ
２とｍ３の方向に２分割する。ｍ１は分光器Ｍの
出射光を回転鏡CHの方へ反射する鏡である。SC
は試料室で２光束ｆ１，ｆ２の光路内に対照セル
Re及び試料セルSpがセツトできるようになつて
いる。２光束ｆ１，ｆ２は鏡ｍ４，ｍ５によつて
反射されるビームコンバイナーｍ６に入射せしめ
られる。ビームコンバイナーｍ６は平行三角条を
形成した鏡でｍ４，ｍ５から入射した光束を共通
の光検出器Ｄに入射させる２光束ｆ１，ｆ２は交
互に光検出器Ｄに入射する。ビームコンバイナー
ｍ６は光拡散板でもよく、或は鏡ｍ４，ｍ５の向
きを適当にし、光束ｆ１，ｆ２が90°前後の角度
で交わるようにし、その交点に光検出器Ｄの感光
面が位置するようにしてビームコンバナーを無し
にすることもできる。分光器Ｍの出射光は鏡ｍ
１、回転鏡CHで反射され、分光器出射光束とＰ
点で交わるように光路が形成されて光束ｆ２とな
る。この交点Ｐに向つて出入自在に平面鏡ｍ７が
設けられている。この平面鏡が図示実線位置に後
退しているときは分光器Ｍの出射光は鏡ｍ１に入
射して回転鏡CHの方向に反射され、装置は複光
束分光光度計として機能する。平面鏡ｍ７を図示
点線位置に前進させると、分光器Ｍからの出射光
は直接鏡ｍ３の方向に反射され、光束ｆ１がなく
なつて装置はｆ２だけの単光束分光光度計とな
る。この場合単光束の光路は複光束の場合の光束
ｆ２の光路がそのまゝ用いられている。Swは３
連スイツチで平面鏡ｍ７の動きと連動して測光回
路を複光束測定用と単光束測定用とに切換える。
第２図は測光回路の一例で第１図の光検出器Ｄ
に後続する回路である。この図で連動している３
個のスイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３が第１図にSwで
代表的に示した３連スイツチである。第２図は単
光束測定モードで鏡ｍ７は第１図点線位置に前進
している。鏡ｍ７を第１図実線位置に後退させる
とスイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３は夫々反対側の接点
に切換わる。PC１，PC２は発光ダイオードとホ
トトランジスタを対向させた光電検出器で回転鏡
CHに連動した羽根によつて発光ダイオードとホ
トトランジスタ間の光束が断続され、その結果
CHの動きに同期したパルスを出力する役割をな
す。Sw４，Sw５はPC１，PC２より出力された
パルスに応じて開閉され信号を分割する働きをす
る。この構成で光束ｆ１の光検出信号はスイツチ
Sw４を通り、光束ｆ２の光検出信号はスイツチ
Sw５を通ることになる。平面鏡ｍ７を前進させ
て単光束測定モード（図示状態）になるとスイツ
チＳ１がオフとなるため回転鏡CHの位置に関係
なくフオトカプラPC１，PC２の出力はハイレベ
ルとなり（発光ダイオードが発光しないから）ス
イツチSw４，Sw５は共に連続的に導通状態とな
る。もつともこの場合Sw４のオンオフはどちら
でもよい。このモードでは光束ｆ２だけが形成さ
れており、その光検出信号はプリアンプＡ、スイ
ツチSw５を経て信号ホールド回路Ｈ２に入力さ
れ、Ｈ２の出力が試料信号となる。他方コンパレ
ータCpの＋端子にはDC−DCコンバータＥの出
力を抵抗Ｒ１，Ｒ２で分割した電圧が入力され、
−端子には定電圧源ｅの電圧が基準信号として印
加され、Cpの出力がDC−DCコンバータＥに入
力されているのでＥの出力電圧は一定になるよう
にコントロールされ、この電圧が光検出器（光電
子増倍管）Ｄのダイノードに印加され、光検出感
度は一定に保たれる。次に複光束測定モードの場
合について説明する。このときは平面鏡ｍ７が後
退せしめられ、スイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３は図で
反対側の接点に切換えられるから、信号ホールド
回路Ｈ２には光束ｆ２の検出信号がホールドさ
れ、信号ホールド回路Ｈ１には光束ｆ１の検出信
号がホールドされる。Ｈ２の出力は前述と同様試
料信号となる。Ｈ１の出力はコンパレータCpの
−端子に入力され、Cpの＋端子が基準電圧源e1
に接続される。この結果光束ｆ１の検出出力が一
定になるようにいわゆるダイノードフイードバツ
クループが形成される。
に後続する回路である。この図で連動している３
個のスイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３が第１図にSwで
代表的に示した３連スイツチである。第２図は単
光束測定モードで鏡ｍ７は第１図点線位置に前進
している。鏡ｍ７を第１図実線位置に後退させる
とスイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３は夫々反対側の接点
に切換わる。PC１，PC２は発光ダイオードとホ
トトランジスタを対向させた光電検出器で回転鏡
CHに連動した羽根によつて発光ダイオードとホ
トトランジスタ間の光束が断続され、その結果
CHの動きに同期したパルスを出力する役割をな
す。Sw４，Sw５はPC１，PC２より出力された
パルスに応じて開閉され信号を分割する働きをす
る。この構成で光束ｆ１の光検出信号はスイツチ
Sw４を通り、光束ｆ２の光検出信号はスイツチ
Sw５を通ることになる。平面鏡ｍ７を前進させ
て単光束測定モード（図示状態）になるとスイツ
チＳ１がオフとなるため回転鏡CHの位置に関係
なくフオトカプラPC１，PC２の出力はハイレベ
ルとなり（発光ダイオードが発光しないから）ス
イツチSw４，Sw５は共に連続的に導通状態とな
る。もつともこの場合Sw４のオンオフはどちら
でもよい。このモードでは光束ｆ２だけが形成さ
れており、その光検出信号はプリアンプＡ、スイ
ツチSw５を経て信号ホールド回路Ｈ２に入力さ
れ、Ｈ２の出力が試料信号となる。他方コンパレ
ータCpの＋端子にはDC−DCコンバータＥの出
力を抵抗Ｒ１，Ｒ２で分割した電圧が入力され、
−端子には定電圧源ｅの電圧が基準信号として印
加され、Cpの出力がDC−DCコンバータＥに入
力されているのでＥの出力電圧は一定になるよう
にコントロールされ、この電圧が光検出器（光電
子増倍管）Ｄのダイノードに印加され、光検出感
度は一定に保たれる。次に複光束測定モードの場
合について説明する。このときは平面鏡ｍ７が後
退せしめられ、スイツチＳ１，Ｓ２，Ｓ３は図で
反対側の接点に切換えられるから、信号ホールド
回路Ｈ２には光束ｆ２の検出信号がホールドさ
れ、信号ホールド回路Ｈ１には光束ｆ１の検出信
号がホールドされる。Ｈ２の出力は前述と同様試
料信号となる。Ｈ１の出力はコンパレータCpの
−端子に入力され、Cpの＋端子が基準電圧源e1
に接続される。この結果光束ｆ１の検出出力が一
定になるようにいわゆるダイノードフイードバツ
クループが形成される。
上述実施例において光源Ｌと光検出器Ｄの位置
を置換えた構成でも本考案が成立することは云う
までもない。また試料室SCから対照、試料両セ
ツトを取除き、試料セルSpの位置に光束ｆ２に
対し斜めに反射鏡をセツトし、平面鏡ｍ７を前進
させて単光束モードにすればモノクロメータとし
て使用することもできる。
を置換えた構成でも本考案が成立することは云う
までもない。また試料室SCから対照、試料両セ
ツトを取除き、試料セルSpの位置に光束ｆ２に
対し斜めに反射鏡をセツトし、平面鏡ｍ７を前進
させて単光束モードにすればモノクロメータとし
て使用することもできる。
本考案分光光度計は上述したような構成で単一
光路内に鏡を出入させるだけで複光束、単光束何
れの測定にも使用できるので測定対象によつて分
光光度計を変える面倒さがなく、一台の装置で
色々な測定に使用できるので経済的である。
光路内に鏡を出入させるだけで複光束、単光束何
れの測定にも使用できるので測定対象によつて分
光光度計を変える面倒さがなく、一台の装置で
色々な測定に使用できるので経済的である。
第１図は本考案の一実施例分光光度計の平面
図、第２図は同じく測光部の回路図である。 Ｌ……光源、Ｍ……分光器、CH……回転鏡、
SC……試料室、ｍ６……ビームコンバイナー、
Ｄ……光検出器、ｍ７……複光束一単光束切換え
用平面鏡。
図、第２図は同じく測光部の回路図である。 Ｌ……光源、Ｍ……分光器、CH……回転鏡、
SC……試料室、ｍ６……ビームコンバイナー、
Ｄ……光検出器、ｍ７……複光束一単光束切換え
用平面鏡。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 連続１光束を２光束に分割し、或は連続２光束
を１光路上に乗せる手段として回転鏡を用いた複
光束分光光度計において、２光束に分割される前
の１光束部分或は２光束が１光路上に乗せられた
後の１光束部分に一つの鏡ｍ１を挿入して、 ２光束に分割される前の１光束部分の上記鏡に
入射する前の光束と上記回転鏡から反射された光
束とが交差するようにし、 或は２光束が１光束になつた後の１光束部分の
上記鏡から反射された光束と上記回転鏡に入射す
る光束とが交差するようにして、 上記交差位置と上記鏡と上記回転鏡との間に形
成される三角形の光路の上記交差位置における頂
角の二等分線の上記三角光路の外に向かう方向を
反射面の法線方向として、上記交差位置に進退自
在に鏡を設けてなる分光光度計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981097543U JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
| GB08208786A GB2112164B (en) | 1981-06-29 | 1982-03-25 | Single and double-beam spectrophotometer |
| US06/362,887 US4455097A (en) | 1981-06-29 | 1982-03-29 | Spectrophotometer |
| DE19823211722 DE3211722A1 (de) | 1981-06-29 | 1982-03-30 | Spektralphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981097543U JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582641U JPS582641U (ja) | 1983-01-08 |
| JPH044984Y2 true JPH044984Y2 (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=14195150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981097543U Granted JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4455097A (ja) |
| JP (1) | JPS582641U (ja) |
| DE (1) | DE3211722A1 (ja) |
| GB (1) | GB2112164B (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5940144A (ja) * | 1982-08-30 | 1984-03-05 | Shimadzu Corp | 積分球式複光束反射測定装置 |
| IT1178645B (it) * | 1983-12-30 | 1987-09-09 | Mine Safety Appliances Co | Analizzatore ad infrarossi |
| US4647199A (en) * | 1984-09-14 | 1987-03-03 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic shutter system |
| EP0176826A3 (en) * | 1984-09-24 | 1987-09-02 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements |
| US5049740A (en) * | 1984-12-26 | 1991-09-17 | Hughes Aircraft Company | Multiple field of view sensor |
| US4594511A (en) * | 1985-03-29 | 1986-06-10 | Sri International | Method and apparatus for double modulation spectroscopy |
| DE3539667A1 (de) * | 1985-11-08 | 1987-05-14 | Bruker Analytische Messtechnik | Optisches spektrometer, insbesondere infrarot-spektrometer |
| US4888484A (en) * | 1986-02-20 | 1989-12-19 | Automatik Machinery Corporation | Apparatus and method for spectrophotometric analysis of a material in a moving process stream |
| US4795256A (en) * | 1987-03-09 | 1989-01-03 | Photon Technology International, Inc. | Dual-wavelength spectrophotometry system |
| US5383023A (en) * | 1993-03-01 | 1995-01-17 | Walleczek; Jan | Method and apparatus for performing dual-beam dual-wavelength fluorescence spectrophotometric evaluation of a biological specimen |
| US5381010A (en) * | 1993-12-03 | 1995-01-10 | Sleepair Corporation | Periodically alternating path and alternating wavelength bridges for quantitative and ultrasensitive measurement of vapor concentration |
| US6831740B2 (en) | 2000-05-26 | 2004-12-14 | J.A. Woollam Co. Inc. | Methodology for improving precision of data acquired by spectrophotometer systems |
| JP2002139380A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
| US9140601B2 (en) * | 2011-01-28 | 2015-09-22 | Rudolph Technologies, Inc. | Position sensitive detection optimization |
| US10082466B2 (en) | 2016-04-26 | 2018-09-25 | Molecular Devices, Llc | Methods and systems for optical-based measurement with selectable excitation light paths |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5412384U (ja) * | 1977-06-28 | 1979-01-26 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5011266B1 (ja) * | 1968-12-31 | 1975-04-30 | ||
| JPS545987B2 (ja) * | 1972-12-28 | 1979-03-23 |
-
1981
- 1981-06-29 JP JP1981097543U patent/JPS582641U/ja active Granted
-
1982
- 1982-03-25 GB GB08208786A patent/GB2112164B/en not_active Expired
- 1982-03-29 US US06/362,887 patent/US4455097A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-03-30 DE DE19823211722 patent/DE3211722A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5412384U (ja) * | 1977-06-28 | 1979-01-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3211722A1 (de) | 1983-01-13 |
| JPS582641U (ja) | 1983-01-08 |
| US4455097A (en) | 1984-06-19 |
| GB2112164B (en) | 1985-02-27 |
| GB2112164A (en) | 1983-07-13 |
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