JPH044984Y2 - - Google Patents
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- JPH044984Y2 JPH044984Y2 JP1981097543U JP9754381U JPH044984Y2 JP H044984 Y2 JPH044984 Y2 JP H044984Y2 JP 1981097543 U JP1981097543 U JP 1981097543U JP 9754381 U JP9754381 U JP 9754381U JP H044984 Y2 JPH044984 Y2 JP H044984Y2
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は切換え操作によつて複光束分光光度計
としても単光束分光光度計としても使用できるよ
うにした分光光度計に関する。
としても単光束分光光度計としても使用できるよ
うにした分光光度計に関する。
複光束分光光度計は回転鏡で光束を2分割する
ので、2つの光束は夫々チヨツピングされてお
り、チヨツピングの周期と同程度以上の速さで変
化する試料の測定はできない。例えばチヨツピン
グの速さが60Hzとすると約17m sec程度の時間内
に相当な変化をする試料の測定はできない。そこ
でこのような高速変化をする試料の測定には回転
鏡のような運動部の不要な単光速分光光度計を用
いることになるが、場合によつて2種の分光光度
計を使い分けることは面倒であり、また設備費の
面でも負担が大きい。従つて一つの分光光度計で
簡単な切換え操作で複光束型としても単光束型と
しても使用できる分光光度計が望まれる。本考案
はこのような要求に応ずるためになされたもので
ある。以下実施例によつて本考案を説明する。
ので、2つの光束は夫々チヨツピングされてお
り、チヨツピングの周期と同程度以上の速さで変
化する試料の測定はできない。例えばチヨツピン
グの速さが60Hzとすると約17m sec程度の時間内
に相当な変化をする試料の測定はできない。そこ
でこのような高速変化をする試料の測定には回転
鏡のような運動部の不要な単光速分光光度計を用
いることになるが、場合によつて2種の分光光度
計を使い分けることは面倒であり、また設備費の
面でも負担が大きい。従つて一つの分光光度計で
簡単な切換え操作で複光束型としても単光束型と
しても使用できる分光光度計が望まれる。本考案
はこのような要求に応ずるためになされたもので
ある。以下実施例によつて本考案を説明する。
第1図は本考案の一実施例分光光度計を示す。
Lは光源、Mは分光器、CHは回転鏡で軸Xを中
心に回転せしめられ、分光器Mの出射光束を鏡m
2とm3の方向に2分割する。m1は分光器Mの
出射光を回転鏡CHの方へ反射する鏡である。SC
は試料室で2光束f1,f2の光路内に対照セル
Re及び試料セルSpがセツトできるようになつて
いる。2光束f1,f2は鏡m4,m5によつて
反射されるビームコンバイナーm6に入射せしめ
られる。ビームコンバイナーm6は平行三角条を
形成した鏡でm4,m5から入射した光束を共通
の光検出器Dに入射させる2光束f1,f2は交
互に光検出器Dに入射する。ビームコンバイナー
m6は光拡散板でもよく、或は鏡m4,m5の向
きを適当にし、光束f1,f2が90°前後の角度
で交わるようにし、その交点に光検出器Dの感光
面が位置するようにしてビームコンバナーを無し
にすることもできる。分光器Mの出射光は鏡m
1、回転鏡CHで反射され、分光器出射光束とP
点で交わるように光路が形成されて光束f2とな
る。この交点Pに向つて出入自在に平面鏡m7が
設けられている。この平面鏡が図示実線位置に後
退しているときは分光器Mの出射光は鏡m1に入
射して回転鏡CHの方向に反射され、装置は複光
束分光光度計として機能する。平面鏡m7を図示
点線位置に前進させると、分光器Mからの出射光
は直接鏡m3の方向に反射され、光束f1がなく
なつて装置はf2だけの単光束分光光度計とな
る。この場合単光束の光路は複光束の場合の光束
f2の光路がそのまゝ用いられている。Swは3
連スイツチで平面鏡m7の動きと連動して測光回
路を複光束測定用と単光束測定用とに切換える。
Lは光源、Mは分光器、CHは回転鏡で軸Xを中
心に回転せしめられ、分光器Mの出射光束を鏡m
2とm3の方向に2分割する。m1は分光器Mの
出射光を回転鏡CHの方へ反射する鏡である。SC
は試料室で2光束f1,f2の光路内に対照セル
Re及び試料セルSpがセツトできるようになつて
いる。2光束f1,f2は鏡m4,m5によつて
反射されるビームコンバイナーm6に入射せしめ
られる。ビームコンバイナーm6は平行三角条を
形成した鏡でm4,m5から入射した光束を共通
の光検出器Dに入射させる2光束f1,f2は交
互に光検出器Dに入射する。ビームコンバイナー
m6は光拡散板でもよく、或は鏡m4,m5の向
きを適当にし、光束f1,f2が90°前後の角度
で交わるようにし、その交点に光検出器Dの感光
面が位置するようにしてビームコンバナーを無し
にすることもできる。分光器Mの出射光は鏡m
1、回転鏡CHで反射され、分光器出射光束とP
点で交わるように光路が形成されて光束f2とな
る。この交点Pに向つて出入自在に平面鏡m7が
設けられている。この平面鏡が図示実線位置に後
退しているときは分光器Mの出射光は鏡m1に入
射して回転鏡CHの方向に反射され、装置は複光
束分光光度計として機能する。平面鏡m7を図示
点線位置に前進させると、分光器Mからの出射光
は直接鏡m3の方向に反射され、光束f1がなく
なつて装置はf2だけの単光束分光光度計とな
る。この場合単光束の光路は複光束の場合の光束
f2の光路がそのまゝ用いられている。Swは3
連スイツチで平面鏡m7の動きと連動して測光回
路を複光束測定用と単光束測定用とに切換える。
第2図は測光回路の一例で第1図の光検出器D
に後続する回路である。この図で連動している3
個のスイツチS1,S2,S3が第1図にSwで
代表的に示した3連スイツチである。第2図は単
光束測定モードで鏡m7は第1図点線位置に前進
している。鏡m7を第1図実線位置に後退させる
とスイツチS1,S2,S3は夫々反対側の接点
に切換わる。PC1,PC2は発光ダイオードとホ
トトランジスタを対向させた光電検出器で回転鏡
CHに連動した羽根によつて発光ダイオードとホ
トトランジスタ間の光束が断続され、その結果
CHの動きに同期したパルスを出力する役割をな
す。Sw4,Sw5はPC1,PC2より出力された
パルスに応じて開閉され信号を分割する働きをす
る。この構成で光束f1の光検出信号はスイツチ
Sw4を通り、光束f2の光検出信号はスイツチ
Sw5を通ることになる。平面鏡m7を前進させ
て単光束測定モード(図示状態)になるとスイツ
チS1がオフとなるため回転鏡CHの位置に関係
なくフオトカプラPC1,PC2の出力はハイレベ
ルとなり(発光ダイオードが発光しないから)ス
イツチSw4,Sw5は共に連続的に導通状態とな
る。もつともこの場合Sw4のオンオフはどちら
でもよい。このモードでは光束f2だけが形成さ
れており、その光検出信号はプリアンプA、スイ
ツチSw5を経て信号ホールド回路H2に入力さ
れ、H2の出力が試料信号となる。他方コンパレ
ータCpの+端子にはDC−DCコンバータEの出
力を抵抗R1,R2で分割した電圧が入力され、
−端子には定電圧源eの電圧が基準信号として印
加され、Cpの出力がDC−DCコンバータEに入
力されているのでEの出力電圧は一定になるよう
にコントロールされ、この電圧が光検出器(光電
子増倍管)Dのダイノードに印加され、光検出感
度は一定に保たれる。次に複光束測定モードの場
合について説明する。このときは平面鏡m7が後
退せしめられ、スイツチS1,S2,S3は図で
反対側の接点に切換えられるから、信号ホールド
回路H2には光束f2の検出信号がホールドさ
れ、信号ホールド回路H1には光束f1の検出信
号がホールドされる。H2の出力は前述と同様試
料信号となる。H1の出力はコンパレータCpの
−端子に入力され、Cpの+端子が基準電圧源e1
に接続される。この結果光束f1の検出出力が一
定になるようにいわゆるダイノードフイードバツ
クループが形成される。
に後続する回路である。この図で連動している3
個のスイツチS1,S2,S3が第1図にSwで
代表的に示した3連スイツチである。第2図は単
光束測定モードで鏡m7は第1図点線位置に前進
している。鏡m7を第1図実線位置に後退させる
とスイツチS1,S2,S3は夫々反対側の接点
に切換わる。PC1,PC2は発光ダイオードとホ
トトランジスタを対向させた光電検出器で回転鏡
CHに連動した羽根によつて発光ダイオードとホ
トトランジスタ間の光束が断続され、その結果
CHの動きに同期したパルスを出力する役割をな
す。Sw4,Sw5はPC1,PC2より出力された
パルスに応じて開閉され信号を分割する働きをす
る。この構成で光束f1の光検出信号はスイツチ
Sw4を通り、光束f2の光検出信号はスイツチ
Sw5を通ることになる。平面鏡m7を前進させ
て単光束測定モード(図示状態)になるとスイツ
チS1がオフとなるため回転鏡CHの位置に関係
なくフオトカプラPC1,PC2の出力はハイレベ
ルとなり(発光ダイオードが発光しないから)ス
イツチSw4,Sw5は共に連続的に導通状態とな
る。もつともこの場合Sw4のオンオフはどちら
でもよい。このモードでは光束f2だけが形成さ
れており、その光検出信号はプリアンプA、スイ
ツチSw5を経て信号ホールド回路H2に入力さ
れ、H2の出力が試料信号となる。他方コンパレ
ータCpの+端子にはDC−DCコンバータEの出
力を抵抗R1,R2で分割した電圧が入力され、
−端子には定電圧源eの電圧が基準信号として印
加され、Cpの出力がDC−DCコンバータEに入
力されているのでEの出力電圧は一定になるよう
にコントロールされ、この電圧が光検出器(光電
子増倍管)Dのダイノードに印加され、光検出感
度は一定に保たれる。次に複光束測定モードの場
合について説明する。このときは平面鏡m7が後
退せしめられ、スイツチS1,S2,S3は図で
反対側の接点に切換えられるから、信号ホールド
回路H2には光束f2の検出信号がホールドさ
れ、信号ホールド回路H1には光束f1の検出信
号がホールドされる。H2の出力は前述と同様試
料信号となる。H1の出力はコンパレータCpの
−端子に入力され、Cpの+端子が基準電圧源e1
に接続される。この結果光束f1の検出出力が一
定になるようにいわゆるダイノードフイードバツ
クループが形成される。
上述実施例において光源Lと光検出器Dの位置
を置換えた構成でも本考案が成立することは云う
までもない。また試料室SCから対照、試料両セ
ツトを取除き、試料セルSpの位置に光束f2に
対し斜めに反射鏡をセツトし、平面鏡m7を前進
させて単光束モードにすればモノクロメータとし
て使用することもできる。
を置換えた構成でも本考案が成立することは云う
までもない。また試料室SCから対照、試料両セ
ツトを取除き、試料セルSpの位置に光束f2に
対し斜めに反射鏡をセツトし、平面鏡m7を前進
させて単光束モードにすればモノクロメータとし
て使用することもできる。
本考案分光光度計は上述したような構成で単一
光路内に鏡を出入させるだけで複光束、単光束何
れの測定にも使用できるので測定対象によつて分
光光度計を変える面倒さがなく、一台の装置で
色々な測定に使用できるので経済的である。
光路内に鏡を出入させるだけで複光束、単光束何
れの測定にも使用できるので測定対象によつて分
光光度計を変える面倒さがなく、一台の装置で
色々な測定に使用できるので経済的である。
第1図は本考案の一実施例分光光度計の平面
図、第2図は同じく測光部の回路図である。 L……光源、M……分光器、CH……回転鏡、
SC……試料室、m6……ビームコンバイナー、
D……光検出器、m7……複光束一単光束切換え
用平面鏡。
図、第2図は同じく測光部の回路図である。 L……光源、M……分光器、CH……回転鏡、
SC……試料室、m6……ビームコンバイナー、
D……光検出器、m7……複光束一単光束切換え
用平面鏡。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 連続1光束を2光束に分割し、或は連続2光束
を1光路上に乗せる手段として回転鏡を用いた複
光束分光光度計において、2光束に分割される前
の1光束部分或は2光束が1光路上に乗せられた
後の1光束部分に一つの鏡m1を挿入して、 2光束に分割される前の1光束部分の上記鏡に
入射する前の光束と上記回転鏡から反射された光
束とが交差するようにし、 或は2光束が1光束になつた後の1光束部分の
上記鏡から反射された光束と上記回転鏡に入射す
る光束とが交差するようにして、 上記交差位置と上記鏡と上記回転鏡との間に形
成される三角形の光路の上記交差位置における頂
角の二等分線の上記三角光路の外に向かう方向を
反射面の法線方向として、上記交差位置に進退自
在に鏡を設けてなる分光光度計。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981097543U JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
GB08208786A GB2112164B (en) | 1981-06-29 | 1982-03-25 | Single and double-beam spectrophotometer |
US06/362,887 US4455097A (en) | 1981-06-29 | 1982-03-29 | Spectrophotometer |
DE19823211722 DE3211722A1 (de) | 1981-06-29 | 1982-03-30 | Spektralphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1981097543U JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS582641U JPS582641U (ja) | 1983-01-08 |
JPH044984Y2 true JPH044984Y2 (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=14195150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1981097543U Granted JPS582641U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 分光光度計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4455097A (ja) |
JP (1) | JPS582641U (ja) |
DE (1) | DE3211722A1 (ja) |
GB (1) | GB2112164B (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940144A (ja) * | 1982-08-30 | 1984-03-05 | Shimadzu Corp | 積分球式複光束反射測定装置 |
IT1178645B (it) * | 1983-12-30 | 1987-09-09 | Mine Safety Appliances Co | Analizzatore ad infrarossi |
US4647199A (en) * | 1984-09-14 | 1987-03-03 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic shutter system |
EP0176826A3 (en) * | 1984-09-24 | 1987-09-02 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements |
US5049740A (en) * | 1984-12-26 | 1991-09-17 | Hughes Aircraft Company | Multiple field of view sensor |
US4594511A (en) * | 1985-03-29 | 1986-06-10 | Sri International | Method and apparatus for double modulation spectroscopy |
DE3539667A1 (de) * | 1985-11-08 | 1987-05-14 | Bruker Analytische Messtechnik | Optisches spektrometer, insbesondere infrarot-spektrometer |
US4888484A (en) * | 1986-02-20 | 1989-12-19 | Automatik Machinery Corporation | Apparatus and method for spectrophotometric analysis of a material in a moving process stream |
US4795256A (en) * | 1987-03-09 | 1989-01-03 | Photon Technology International, Inc. | Dual-wavelength spectrophotometry system |
US5383023A (en) * | 1993-03-01 | 1995-01-17 | Walleczek; Jan | Method and apparatus for performing dual-beam dual-wavelength fluorescence spectrophotometric evaluation of a biological specimen |
US5381010A (en) * | 1993-12-03 | 1995-01-10 | Sleepair Corporation | Periodically alternating path and alternating wavelength bridges for quantitative and ultrasensitive measurement of vapor concentration |
US6831740B2 (en) | 2000-05-26 | 2004-12-14 | J.A. Woollam Co. Inc. | Methodology for improving precision of data acquired by spectrophotometer systems |
JP2002139380A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
US9140601B2 (en) * | 2011-01-28 | 2015-09-22 | Rudolph Technologies, Inc. | Position sensitive detection optimization |
US10082466B2 (en) | 2016-04-26 | 2018-09-25 | Molecular Devices, Llc | Methods and systems for optical-based measurement with selectable excitation light paths |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5412384U (ja) * | 1977-06-28 | 1979-01-26 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5011266B1 (ja) * | 1968-12-31 | 1975-04-30 | ||
JPS545987B2 (ja) * | 1972-12-28 | 1979-03-23 |
-
1981
- 1981-06-29 JP JP1981097543U patent/JPS582641U/ja active Granted
-
1982
- 1982-03-25 GB GB08208786A patent/GB2112164B/en not_active Expired
- 1982-03-29 US US06/362,887 patent/US4455097A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-03-30 DE DE19823211722 patent/DE3211722A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5412384U (ja) * | 1977-06-28 | 1979-01-26 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3211722A1 (de) | 1983-01-13 |
JPS582641U (ja) | 1983-01-08 |
US4455097A (en) | 1984-06-19 |
GB2112164B (en) | 1985-02-27 |
GB2112164A (en) | 1983-07-13 |
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