JPH044165Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH044165Y2 JPH044165Y2 JP2278786U JP2278786U JPH044165Y2 JP H044165 Y2 JPH044165 Y2 JP H044165Y2 JP 2278786 U JP2278786 U JP 2278786U JP 2278786 U JP2278786 U JP 2278786U JP H044165 Y2 JPH044165 Y2 JP H044165Y2
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- roll
- parts
- inspection
- passage
- dropping
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- Expired
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Special Conveying (AREA)
- Branching, Merging, And Special Transfer Between Conveyors (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、例えば小さな螺子等の如き微小部品
の検品に当たり、その外形寸法を計測して良品と
不良品とに判別して仕分けをすると言う作業を自
動的に行なわせるための微小部品用検品機に関す
るものであつて、その検品作業が著しく迅速に成
されるように構成したことを特徴とするものであ
る。
の検品に当たり、その外形寸法を計測して良品と
不良品とに判別して仕分けをすると言う作業を自
動的に行なわせるための微小部品用検品機に関す
るものであつて、その検品作業が著しく迅速に成
されるように構成したことを特徴とするものであ
る。
(従来の技術)
従来、螺子等の微小部品の検品は抜取り検査方
式に依存するものであつた。そして、その計測
は、ノギス等計測器具または拡大鏡計測等に依存
することを通例とするものであつた。
式に依存するものであつた。そして、その計測
は、ノギス等計測器具または拡大鏡計測等に依存
することを通例とするものであつた。
(考案が解決しようとする問題点)
近来、螺子締めの如き作業は、自動機械の採用
に基づき無人的に行なわれるようになつてきた。
この場合、螺子寸法が規格品以外であると、その
都度、機械が停止してしまうこととなる。従つ
て、螺子寸法の正確性が極めて重要となり、上記
した如き抜取り検査方式ではなく、全品検査方式
を採ることが必然要求されることとなる。然し
乍、上記した如きノギス等計測器具または拡大鏡
計測等に依存して検品すると言う作業形態では、
時間が掛り過ぎ、全品検査方式用としては全く不
適当なものである。
に基づき無人的に行なわれるようになつてきた。
この場合、螺子寸法が規格品以外であると、その
都度、機械が停止してしまうこととなる。従つ
て、螺子寸法の正確性が極めて重要となり、上記
した如き抜取り検査方式ではなく、全品検査方式
を採ることが必然要求されることとなる。然し
乍、上記した如きノギス等計測器具または拡大鏡
計測等に依存して検品すると言う作業形態では、
時間が掛り過ぎ、全品検査方式用としては全く不
適当なものである。
本考案は上記のような問題点の解決化を図つた
ことを特徴とするものである。
ことを特徴とするものである。
(問題点を解決するための手段)
本考案は、微小部品検品用案内通路1の下方
に、適正部品落下用通路2と不適正部品落下用通
路3とを連設すると共に、両落下通路2,3を切
り換えるための仕分けゲート4を設け、上記検品
用案内通路1のほぼ中央部分には該通路1を隔て
てランプ7と光信号検出用カメラ8を相対向させ
て装設すると共に、該カメラ8を介して送られて
来るデーター信号を適、不適に判別して上記仕分
けゲート4の所定作動を行なわせるための制御機
9を該カメラ8に連結し、更に、上記した検品用
案内通路1の上方寄りに、該通路1内に供給され
る微小部品Aをその周縁で受け止めた後に下方に
送る如く回転する第1ロール5を装設すると共
に、上記光信号検出用カメラ8の前方位置で微小
部品Aをその周縁で一旦受け止めた後に下方に送
る如く間欠回転する第2ロール6を装設し、上記
第1ロール5の周速を、検品用案内通路1に対す
る微小部品Aの供給速度より遅くかつ第2ロール
6の間欠的周速より低速なものとするように構成
したことを特徴とする微小部品用検品機に係るも
のである。
に、適正部品落下用通路2と不適正部品落下用通
路3とを連設すると共に、両落下通路2,3を切
り換えるための仕分けゲート4を設け、上記検品
用案内通路1のほぼ中央部分には該通路1を隔て
てランプ7と光信号検出用カメラ8を相対向させ
て装設すると共に、該カメラ8を介して送られて
来るデーター信号を適、不適に判別して上記仕分
けゲート4の所定作動を行なわせるための制御機
9を該カメラ8に連結し、更に、上記した検品用
案内通路1の上方寄りに、該通路1内に供給され
る微小部品Aをその周縁で受け止めた後に下方に
送る如く回転する第1ロール5を装設すると共
に、上記光信号検出用カメラ8の前方位置で微小
部品Aをその周縁で一旦受け止めた後に下方に送
る如く間欠回転する第2ロール6を装設し、上記
第1ロール5の周速を、検品用案内通路1に対す
る微小部品Aの供給速度より遅くかつ第2ロール
6の間欠的周速より低速なものとするように構成
したことを特徴とする微小部品用検品機に係るも
のである。
(作用)
第1図に示す状態に於て、検品用案内通路1の
上端から連続的に供給される微小部品Aは、第1
ロール5に依つて受け止められると共に、該第1
ロール5の回転に基づき、該検品用案内通路1内
を落下することとなる。該落下する微小部品A
は、今度は間欠回動する第2ロール6に依つて受
け止められ、一旦停止した後に再び落下させられ
る。
上端から連続的に供給される微小部品Aは、第1
ロール5に依つて受け止められると共に、該第1
ロール5の回転に基づき、該検品用案内通路1内
を落下することとなる。該落下する微小部品A
は、今度は間欠回動する第2ロール6に依つて受
け止められ、一旦停止した後に再び落下させられ
る。
この時、一旦停止させられた該微小部品Aは、
この段階で、ランプ7及び光信号検出用カメラ8
を介して、その外形寸法が読み取られ、これを電
気信号に変換して制御機9に送ることとなる。
この段階で、ランプ7及び光信号検出用カメラ8
を介して、その外形寸法が読み取られ、これを電
気信号に変換して制御機9に送ることとなる。
送られた電気信号は制御機9に予め設定されて
いる規格データーと対比され、その適、不適を判
別し、然る後、該判別出力に基づき仕分けゲート
4に対する所定の作動を行なわせることとなる。
いる規格データーと対比され、その適、不適を判
別し、然る後、該判別出力に基づき仕分けゲート
4に対する所定の作動を行なわせることとなる。
従つて、上記第2ロール6を介して一旦停止さ
せられた微小部品Aは、その適、不適の判定が成
され、仕分けゲート4の作動に基づき、適正部品
落下用通路2または不適正部品落下用通路3の何
れかに導かれることとなる。
せられた微小部品Aは、その適、不適の判定が成
され、仕分けゲート4の作動に基づき、適正部品
落下用通路2または不適正部品落下用通路3の何
れかに導かれることとなる。
(実施例)
本考案の構成を図面に示す実施例について詳細
に説明すれば次の通りである。
に説明すれば次の通りである。
第1図において、1は微小部品検品用案内通
路、2は適正部品落下用通路、3は該適正部品落
下用通路2の上端寄りから分岐する如く連設した
不適正部品落下用通路であつて、両通路2,3は
上記微小部品検品用案内通路1の下端部に連設し
てある。
路、2は適正部品落下用通路、3は該適正部品落
下用通路2の上端寄りから分岐する如く連設した
不適正部品落下用通路であつて、両通路2,3は
上記微小部品検品用案内通路1の下端部に連設し
てある。
4は上記両通路2,3の始端部分に装設した仕
分けゲートであつて、検品用案内通路1から落下
してくる検品済み微小部品を、その良否に即応し
てこれを適正部品落下用通路2側または不適正部
品落下用通路3側の何れかに仕分け案内するため
のものである。また、該仕分けゲート4は、電磁
ソレノイドを介してその作動が行なわれるように
構成してあり、該作動は後記する制御機9から送
られる信号に基づき自動的に成されるように構成
してある。
分けゲートであつて、検品用案内通路1から落下
してくる検品済み微小部品を、その良否に即応し
てこれを適正部品落下用通路2側または不適正部
品落下用通路3側の何れかに仕分け案内するため
のものである。また、該仕分けゲート4は、電磁
ソレノイドを介してその作動が行なわれるように
構成してあり、該作動は後記する制御機9から送
られる信号に基づき自動的に成されるように構成
してある。
5は検品用案内通路1の上端寄りに装設した第
1ロールであつて、該第1ロール5はその周縁が
検品用案内通路1の内部に臨まされており、該通
路1の上端から落下供給される微小部品Aを該周
縁で受け止めた後に下方に送るような回転が成さ
れるように構成してある。
1ロールであつて、該第1ロール5はその周縁が
検品用案内通路1の内部に臨まされており、該通
路1の上端から落下供給される微小部品Aを該周
縁で受け止めた後に下方に送るような回転が成さ
れるように構成してある。
6は上記第1ロール5の下方に装設した第2ロ
ールであつて(第1図において、該第2ロール6
は第1ロール5と直角な方向に取り付けられてい
る)、該第2ロール6はその周縁が検品用案内通
路1の内部に臨まされており、第1ロール5を介
して該通路1内を送られてくる微小部品Aを、該
周縁で一旦停止させた後に下方に送るような間欠
回転が成されるように構成してある。Mは該第2
ロール6を回動させるためのモーターである。
ールであつて(第1図において、該第2ロール6
は第1ロール5と直角な方向に取り付けられてい
る)、該第2ロール6はその周縁が検品用案内通
路1の内部に臨まされており、第1ロール5を介
して該通路1内を送られてくる微小部品Aを、該
周縁で一旦停止させた後に下方に送るような間欠
回転が成されるように構成してある。Mは該第2
ロール6を回動させるためのモーターである。
また、第1ロール5と第2ロール6との回転で
あるが、これは、一般的には、第1ロール5の周
速は、検品用案内通路1に対する微小部品Aの供
給速度より遅く、かつ第2ロール6の間欠的周速
より低速なもの、好ましくは1/3程度とすること
が望ましい。これは、第2ロール5の位置で下記
する如き検品を行なうため、該第2ロール6位置
に微小部品Aが所定間隔をおいて次々と送られて
来るようにする必要があるからである。
あるが、これは、一般的には、第1ロール5の周
速は、検品用案内通路1に対する微小部品Aの供
給速度より遅く、かつ第2ロール6の間欠的周速
より低速なもの、好ましくは1/3程度とすること
が望ましい。これは、第2ロール5の位置で下記
する如き検品を行なうため、該第2ロール6位置
に微小部品Aが所定間隔をおいて次々と送られて
来るようにする必要があるからである。
7は上記第2ロール6の位置、すなわち、該第
2ロール6を介して微小部品Aがその間欠回転に
基づき停止される位置に装設したランプ、8は検
品用案内通路1を挟んで該ランプ7の前方位置に
相対向する如く装設した光信号検出用カメラであ
つて、該カメラ8はその前方にある微小部品Aの
外形寸法を読み取り、これを電気的信号に変換す
るためのものである。
2ロール6を介して微小部品Aがその間欠回転に
基づき停止される位置に装設したランプ、8は検
品用案内通路1を挟んで該ランプ7の前方位置に
相対向する如く装設した光信号検出用カメラであ
つて、該カメラ8はその前方にある微小部品Aの
外形寸法を読み取り、これを電気的信号に変換す
るためのものである。
9は制御機であつて、これは上記カメラ8を介
して送られて来る微小部品に関する読み取り信号
を判読すると共に、予め設定されている規格デー
ターと対比して、その適、不適の判別を行なうた
めのものである。該制御機9の判別出力信号は、
既述した如く仕分けゲート4の電磁ソレノイドに
送られ、該ソレノイドを働かせてゲート4の所定
仕分け作動を行なわせるように構成してある。
して送られて来る微小部品に関する読み取り信号
を判読すると共に、予め設定されている規格デー
ターと対比して、その適、不適の判別を行なうた
めのものである。該制御機9の判別出力信号は、
既述した如く仕分けゲート4の電磁ソレノイドに
送られ、該ソレノイドを働かせてゲート4の所定
仕分け作動を行なわせるように構成してある。
尚、上記制御機9は既述した第2ロール6の回
転用モーターMに接続することに依り、微小部品
Aの送りと該制御機9の判別作動とを同調させる
ように構成してある。
転用モーターMに接続することに依り、微小部品
Aの送りと該制御機9の判別作動とを同調させる
ように構成してある。
第2図は本考案の他の実施例を示したものであ
つて、微小部品検品用案内通路1を第1図に示す
如き垂直状ではなく傾斜状に構成した場合のもの
である。本考案はこのような形態で実施しても良
い。
つて、微小部品検品用案内通路1を第1図に示す
如き垂直状ではなく傾斜状に構成した場合のもの
である。本考案はこのような形態で実施しても良
い。
(考案の効果)
本考案は、検品用案内通路1の上方寄りに、該
通路1内に供給される微小部品Aをその周縁で受
け止めた後に下方に送る如く回転する第1ロール
5を装設すると共に、光信号検出用カメラ8の前
方位置で微小部品Aをその周縁で一旦受け止めた
後に下方に送る如く間欠回転する第2ロール6を
装設し、更に、上記第1ロール5の周速を、検品
用案内通路1に対する微小部品Aの供給速度より
遅くかつ第2ロール6の間欠的周速より低速なも
のとするように構成したことを要旨構成とするも
のである。
通路1内に供給される微小部品Aをその周縁で受
け止めた後に下方に送る如く回転する第1ロール
5を装設すると共に、光信号検出用カメラ8の前
方位置で微小部品Aをその周縁で一旦受け止めた
後に下方に送る如く間欠回転する第2ロール6を
装設し、更に、上記第1ロール5の周速を、検品
用案内通路1に対する微小部品Aの供給速度より
遅くかつ第2ロール6の間欠的周速より低速なも
のとするように構成したことを要旨構成とするも
のである。
本考案は上記の如き構成を採用したから、例え
ば小さな螺子等の如き微小部品の検品に当たり、
その外形寸法を計測して良品と不良品とに判別し
て仕分けをすると言う作業を自動的かつ極めて迅
速に行なわせるための微小部品用検品機の提供が
可能化されることとなる。
ば小さな螺子等の如き微小部品の検品に当たり、
その外形寸法を計測して良品と不良品とに判別し
て仕分けをすると言う作業を自動的かつ極めて迅
速に行なわせるための微小部品用検品機の提供が
可能化されることとなる。
すなわち、上記の如き構成に基づき、検品用案
内通路1内に連続的に供給される微小部品は、第
1ロール5の回転に基づき所定間隔を保つての落
下となるような規制が成され、次に、該微小部品
は第2ロール6を介して受け止められると共に、
その間欠回転に基づき一旦停止された後に落下さ
せられると言う落下規制が成されることとなり、
従つて、該微小部品Aの一旦停止に基づき光信号
検出用カメラ8等に依る所定の計測手段を採るこ
とが許容化されることとなるわけである。
内通路1内に連続的に供給される微小部品は、第
1ロール5の回転に基づき所定間隔を保つての落
下となるような規制が成され、次に、該微小部品
は第2ロール6を介して受け止められると共に、
その間欠回転に基づき一旦停止された後に落下さ
せられると言う落下規制が成されることとなり、
従つて、該微小部品Aの一旦停止に基づき光信号
検出用カメラ8等に依る所定の計測手段を採るこ
とが許容化されることとなるわけである。
図は本考案の実施例を示すものであつて、第1
図は本考案の説明用系統図、第2図は本考案他の
実施例を示す要部断面図である。 1……微小部品検品用案内通路、2……適正部
品落下用通路、3……不適正部品落下用通路、4
……仕分けゲート、5……第1ロール、6……第
2ロール、7……ランプ、8……光信号検出用カ
メラ、9……制御機。
図は本考案の説明用系統図、第2図は本考案他の
実施例を示す要部断面図である。 1……微小部品検品用案内通路、2……適正部
品落下用通路、3……不適正部品落下用通路、4
……仕分けゲート、5……第1ロール、6……第
2ロール、7……ランプ、8……光信号検出用カ
メラ、9……制御機。
Claims (1)
- 微小部品検品用案内通路1の下方に、適正部品
落下用通路2と不適正部品落下用通路3とを連設
すると共に、両落下通路2,3を切り換えるため
の仕分けゲート4を設け、上記検品用案内通路1
のほぼ中央部分には該通路1を隔ててランプ7と
光信号検出用カメラ8を相対向させて装設すると
共に、該カメラ8を介して送られて来るデーター
信号を適、不適に判別して上記仕分けゲート4の
所定作動を行なわせるための制御機9を該カメラ
8に連結し、更に、上記した検品用案内通路1の
上方寄りに、該通路1内に供給される微小部品A
をその周縁で受け止めた後に下方に送る如く回転
する第1ロール5を装設すると共に、上記光信号
検出用カメラ8の前方位置で微小部品Aをその周
縁で一旦受け止めた後に下方に送る如く間欠回転
する第2ロール6を装設し、上記第1ロール5の
周速を、検品用案内通路1に対する微小部品Aの
供給速度より遅くかつ第2ロール6の間欠的周速
より低速なものとするように構成したことを特徴
とする微小部品用検品機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2278786U JPH044165Y2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2278786U JPH044165Y2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62134014U JPS62134014U (ja) | 1987-08-24 |
JPH044165Y2 true JPH044165Y2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=30820500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2278786U Expired JPH044165Y2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH044165Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2519588B2 (ja) * | 1990-07-27 | 1996-07-31 | テンチ機械株式会社 | 菓子片の不良品検出方法 |
CN107504906A (zh) * | 2017-07-17 | 2017-12-22 | 广东溢达纺织有限公司 | 裁片尺寸检测方法 |
-
1986
- 1986-02-19 JP JP2278786U patent/JPH044165Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62134014U (ja) | 1987-08-24 |
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