JPH04370713A - 複数個の冗長なセンサ信号から有効な信号を選択する装置と方法 - Google Patents
複数個の冗長なセンサ信号から有効な信号を選択する装置と方法Info
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- JPH04370713A JPH04370713A JP4019344A JP1934492A JPH04370713A JP H04370713 A JPH04370713 A JP H04370713A JP 4019344 A JP4019344 A JP 4019344A JP 1934492 A JP1934492 A JP 1934492A JP H04370713 A JPH04370713 A JP H04370713A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B9/00—Safety arrangements
- G05B9/02—Safety arrangements electric
- G05B9/03—Safety arrangements electric with multiple-channel loop, i.e. redundant control systems
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- Safety Devices In Control Systems (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【発明の分野】この発明は全般的に制御装置内の信号選
択及び故障検出、更に具体的に云えば２つ又は更に多く
の冗長なセンサから有効な信号を選択するディジタル制
御装置に関する。
択及び故障検出、更に具体的に云えば２つ又は更に多く
の冗長なセンサから有効な信号を選択するディジタル制
御装置に関する。
【０００２】
【発明の背景】制御装置、特に航空機用の制御装置では
、装置の信頼性及び安全性を高める為に、冗長チャンネ
ルの信号処理が使われる場合が多い。航空機用機関の用
途では、ディジタル制御装置を使って、例えば定常状態
及び過渡状態の動力出力を利用し得る動力範囲にわたっ
て調整し、機関サイクルの効率を最大にし、動力変更の
際の必要な推力応答を発生し、あらゆる運転状態での安
定な運転を行なわせることが出来る。
、装置の信頼性及び安全性を高める為に、冗長チャンネ
ルの信号処理が使われる場合が多い。航空機用機関の用
途では、ディジタル制御装置を使って、例えば定常状態
及び過渡状態の動力出力を利用し得る動力範囲にわたっ
て調整し、機関サイクルの効率を最大にし、動力変更の
際の必要な推力応答を発生し、あらゆる運転状態での安
定な運転を行なわせることが出来る。
【０００３】ディジタル制御装置は、冗長性を持たせる
ことによって、装置の利用度及び性能を改善する為に、
より多くのセンサを使う傾向にある。信号を有効とする
為には、各々のセンサ信号に対して有効性試験を実施し
、その結果を選択論理回路によって処理しなければなら
ない。現在の装置は、有効性試験及び選択論理回路にわ
たって、例えば永続性カウンタ及びラッチを分散するこ
とにより、雑音に対する免疫性並びに間欠的な故障に対
する許容公差を達成している。現在の装置は、各々のセ
ンサの必要に合せて、有効性論理の設計を調整すること
も出来る。その結果、信号を有効と認める為に使われる
論理の規模及び複雑さが非常に急速に増大している。 全体的な複雑さを低下させて、雑音並びに異なる種類の
故障を扱うことが出来る様な信号有効認定方式に対する
要望がある。更に、いろいろな種類のセンサが扱える位
の融通性を持つ信号有効認定方法に対する要望がある。
ことによって、装置の利用度及び性能を改善する為に、
より多くのセンサを使う傾向にある。信号を有効とする
為には、各々のセンサ信号に対して有効性試験を実施し
、その結果を選択論理回路によって処理しなければなら
ない。現在の装置は、有効性試験及び選択論理回路にわ
たって、例えば永続性カウンタ及びラッチを分散するこ
とにより、雑音に対する免疫性並びに間欠的な故障に対
する許容公差を達成している。現在の装置は、各々のセ
ンサの必要に合せて、有効性論理の設計を調整すること
も出来る。その結果、信号を有効と認める為に使われる
論理の規模及び複雑さが非常に急速に増大している。 全体的な複雑さを低下させて、雑音並びに異なる種類の
故障を扱うことが出来る様な信号有効認定方式に対する
要望がある。更に、いろいろな種類のセンサが扱える位
の融通性を持つ信号有効認定方法に対する要望がある。
【０００４】米国特許第４，９１６，６１２号には、不
良でも作用する信号選択及び故障検出装置を設ける方式
が記載されている。この装置では、１対のセンサからの
出力を中間値選択器が受取る。中間値選択器は、感知さ
れた状態を表わす３番目の入力も受取る。正常の動作モ
―ドでは、即ち、第１及び第２のどちらの冗長な入力信
号も不良であったり或いは不良にならんとするばかりで
あったりしない時、正常モ―ド相補形フィルタによって
第３の入力信号が発生される。このフィルタは、状態の
変化速度を表わす状態速度信号を積分する。故障状態が
発生すると、中間値選択器に対する３番目の入力として
、正常モ―ド相補形フィルタの出力が、故障モ―ド相補
形フィルタの出力に差換えられる。
良でも作用する信号選択及び故障検出装置を設ける方式
が記載されている。この装置では、１対のセンサからの
出力を中間値選択器が受取る。中間値選択器は、感知さ
れた状態を表わす３番目の入力も受取る。正常の動作モ
―ドでは、即ち、第１及び第２のどちらの冗長な入力信
号も不良であったり或いは不良にならんとするばかりで
あったりしない時、正常モ―ド相補形フィルタによって
第３の入力信号が発生される。このフィルタは、状態の
変化速度を表わす状態速度信号を積分する。故障状態が
発生すると、中間値選択器に対する３番目の入力として
、正常モ―ド相補形フィルタの出力が、故障モ―ド相補
形フィルタの出力に差換えられる。
【０００５】この米国特許に記載される制御装置は航空
機用装置には適切であったかも知れないが、他の用途、
例えば航空機機関用には、種々の理由で適当でないこと
がある。第１に、選択論理を故障論理に結合するには、
制御装置を他の技術分野で使おうとする場合、論理構造
の設計のし直しを必要とすることがある。第２に、幾つ
かのセンサ、即ち、３つ又は更に多くのセンサから有効
な信号を選択する様に制御装置を拡張する場合、装置に
必要な論理の規模及び複雑さが急速に増大することがあ
る。３番目に、制御装置は、一旦不良と宣言された場合
、信号を回復させる手段を持っていない。電気的な故障
は一時的である場合が多く、故障した部品は短期間の故
障の後、正常な動作に戻ることがある。故障の後に信号
を回復させることが出来ない故障検出方法は、完全な冗
長性が利用出来るのに、その利点を十分に活用していな
いことがある。
機用装置には適切であったかも知れないが、他の用途、
例えば航空機機関用には、種々の理由で適当でないこと
がある。第１に、選択論理を故障論理に結合するには、
制御装置を他の技術分野で使おうとする場合、論理構造
の設計のし直しを必要とすることがある。第２に、幾つ
かのセンサ、即ち、３つ又は更に多くのセンサから有効
な信号を選択する様に制御装置を拡張する場合、装置に
必要な論理の規模及び複雑さが急速に増大することがあ
る。３番目に、制御装置は、一旦不良と宣言された場合
、信号を回復させる手段を持っていない。電気的な故障
は一時的である場合が多く、故障した部品は短期間の故
障の後、正常な動作に戻ることがある。故障の後に信号
を回復させることが出来ない故障検出方法は、完全な冗
長性が利用出来るのに、その利点を十分に活用していな
いことがある。
【０００６】
【発明の要約】この発明は、センサ信号が複数個の測定
信号及びモデル信号を含む場合、複数個の冗長なセンサ
信号から有効な信号を選択する装置を提供する。この装
置は、センサ信号に試験を実施することにより、複数個
の第１の合格／不合格信号を発生する手段を有する。更
に装置が、第１及び第２の合格／不合格信号に従って各
々の測定されたセンサ信号に複数個の加重値を割当てる
手段を有し、第２の合格／不合格信号は合格信号として
初期設定される。更に装置が、各々の測定されたセンサ
信号に対する加重値を加算して、各々の測定されたセン
サ信号に対する第２の合格／不合格信号を発生する手段
を有する。第１及び第２の合格／不合格信号に従ってセ
ンサ信号の各々に選択フラグを割当てる手段と、選択フ
ラグから有効な信号を選択する手段とをも設ける。
信号及びモデル信号を含む場合、複数個の冗長なセンサ
信号から有効な信号を選択する装置を提供する。この装
置は、センサ信号に試験を実施することにより、複数個
の第１の合格／不合格信号を発生する手段を有する。更
に装置が、第１及び第２の合格／不合格信号に従って各
々の測定されたセンサ信号に複数個の加重値を割当てる
手段を有し、第２の合格／不合格信号は合格信号として
初期設定される。更に装置が、各々の測定されたセンサ
信号に対する加重値を加算して、各々の測定されたセン
サ信号に対する第２の合格／不合格信号を発生する手段
を有する。第１及び第２の合格／不合格信号に従ってセ
ンサ信号の各々に選択フラグを割当てる手段と、選択フ
ラグから有効な信号を選択する手段とをも設ける。
【０００７】この発明は、センサ信号が複数個の測定信
号及びモデル信号を含んでいてよい様な、複数個の冗長
な信号から有効な信号を選択する方法を提供する。この
方法は、１）複数個のセンサ信号に一連の試験を実施し
て各々のセンサ信号に対する第１の合格／不合格信号を
求め、２）第２の合格／不合格信号は合格信号として初
期設定するものとして、第１及び第２の合格／不合格信
号に従って、各々の測定信号に複数個の加重値を割当て
る工程を含む。更にこの方法は、３）各々の測定された
センサ信号に対する加重値を加算し、４）加重値の和に
従って各々の測定されたセンサ信号に対して第２の合格
／不合格信号を発生する工程を含む。更にこの方法は、
５）各々のセンサ信号に対し、第１及び第２の合格／不
合格信号に従って複数個の選択フラグを割当て、６）選
択フラグに従って有効な信号を選択する工程を含む。
号及びモデル信号を含んでいてよい様な、複数個の冗長
な信号から有効な信号を選択する方法を提供する。この
方法は、１）複数個のセンサ信号に一連の試験を実施し
て各々のセンサ信号に対する第１の合格／不合格信号を
求め、２）第２の合格／不合格信号は合格信号として初
期設定するものとして、第１及び第２の合格／不合格信
号に従って、各々の測定信号に複数個の加重値を割当て
る工程を含む。更にこの方法は、３）各々の測定された
センサ信号に対する加重値を加算し、４）加重値の和に
従って各々の測定されたセンサ信号に対して第２の合格
／不合格信号を発生する工程を含む。更にこの方法は、
５）各々のセンサ信号に対し、第１及び第２の合格／不
合格信号に従って複数個の選択フラグを割当て、６）選
択フラグに従って有効な信号を選択する工程を含む。
【０００８】この発明の新規な特徴は特許請求の範囲に
具体的に記載してあるが、この発明の構成、作用及びそ
の他の目的並びに利点は、以下図面について詳しく説明
する所から更によく理解されよう。
具体的に記載してあるが、この発明の構成、作用及びそ
の他の目的並びに利点は、以下図面について詳しく説明
する所から更によく理解されよう。
【０００９】
【実施例の記載】図１はこの発明による好ましい実施例
のフィルタ式信号有効認定装置のブロック図を示す。装
置は、測定信号１０１，１０２及び例えばモデル信号１
０３に一連の試験を実施して、第１の合格／不合格信号
１１１乃至１１５を求める試験回路１０６乃至１１０を
有する。当業者であれば、信号１０３は例えば第３の測
定信号であってもよいことは明らかであろう。更に装置
が、第１の合格／不合格信号１１１乃至１１５及び第２
の合格／不合格信号１２４，１２５に従って、各々の測
定信号１０１，１０２に加重値１２０，１２１を割当て
ると共に、各々の測定信号１０１，１０２及びモデル信
号１０３に選択フラグ１１７乃至１１９を割当てる有効
認定論理回路１１６を有する。第２の合格／不合格信号
は「合格」信号１２４，１２５として初期設定される。 更に装置が、加重値１２０，１２１を各々の測定信号１
０１，１０２に対する既に記憶されている加重値１２０
，１２１と加算する有効フィルタ１２２，１２３を有す
る。各々の有効フィルタ１２２，１２３が測定信号１０
１，１０２に付設されている。第２の合格／不合格信号
１２４，１２５が、各々の有効フィルタ１２２，１２３
に於ける加重値１２０，１２１の和に応じて、各々の有
効フィルタ１２２，１２３によって発生される。各々の
有効フィルタ１２２，１２３に於ける加重値１２０，１
２１の和が予定の値に達した時、第２の「不合格」信号
１２４，１２５が発生される。更に装置が、選択フラグ
１１７乃至１１９に従って、有効な信号１０５を選択す
る選択論理回路１０４を有する。
のフィルタ式信号有効認定装置のブロック図を示す。装
置は、測定信号１０１，１０２及び例えばモデル信号１
０３に一連の試験を実施して、第１の合格／不合格信号
１１１乃至１１５を求める試験回路１０６乃至１１０を
有する。当業者であれば、信号１０３は例えば第３の測
定信号であってもよいことは明らかであろう。更に装置
が、第１の合格／不合格信号１１１乃至１１５及び第２
の合格／不合格信号１２４，１２５に従って、各々の測
定信号１０１，１０２に加重値１２０，１２１を割当て
ると共に、各々の測定信号１０１，１０２及びモデル信
号１０３に選択フラグ１１７乃至１１９を割当てる有効
認定論理回路１１６を有する。第２の合格／不合格信号
は「合格」信号１２４，１２５として初期設定される。 更に装置が、加重値１２０，１２１を各々の測定信号１
０１，１０２に対する既に記憶されている加重値１２０
，１２１と加算する有効フィルタ１２２，１２３を有す
る。各々の有効フィルタ１２２，１２３が測定信号１０
１，１０２に付設されている。第２の合格／不合格信号
１２４，１２５が、各々の有効フィルタ１２２，１２３
に於ける加重値１２０，１２１の和に応じて、各々の有
効フィルタ１２２，１２３によって発生される。各々の
有効フィルタ１２２，１２３に於ける加重値１２０，１
２１の和が予定の値に達した時、第２の「不合格」信号
１２４，１２５が発生される。更に装置が、選択フラグ
１１７乃至１１９に従って、有効な信号１０５を選択す
る選択論理回路１０４を有する。
【００１０】好ましい実施例では、３つのセンサ信号を
使う。２つのセンサ信号が測定信号１０１，１０２であ
り、３番目の信号はモデル信号１０３である。試験回路
１０６，１０７は測定信号１０１，１０２に対して範囲
／速度試験を行なうことが出来る。試験回路１０６，１
０７は、測定信号１０１，１０２が更新されているかど
うかを判定する活動試験も含んでいてよい。試験回路１
０８−１１０は、各々の測定信号１０１，１０２をモデ
ル信号１０３と比較し、測定信号１０１を測定信号１０
２と比較する比較試験を実施することが出来る。範囲／
速度試験及び比較信号の結果が合格／不合格信号１１１
−１１５である。有効認定論理回路１１６が、第１の合
格／不合格信号１１１−１１５及び第２の合格／不合格
信号１２４，１２５に従って、各々の測定信号１０１，
１０２に加重値１２０，１２１を割当てる。第２の合格
／不合格信号は「合格」信号として初期設定される。有
効認定論理回路１１６は、第１の合格／不合格信号１１
１−１１５及び第２の合格／不合格信号１２４，１２５
に従って、各々の測定信号１０１，１０２及びモデル信
号１０３に選択フラグ１１７−１１９をも割当てる。有
効フィルタ１２２，１２３が各々の測定信号１０１，１
０２に対し、加重値１２０，１２１を前に記憶されてい
る加重値１２０，１２１と加算する。各々の測定信号１
０１，１０２に対する第２の合格／不合格信号１２４，
１２５が、各々の有効フィルタ１２２，１２３にある加
重値１２０，１２１の和に従って、各々の有効フィルタ
１２２，１２３によって発生される。各々の有効フィル
タ１２２，１２３に於ける加重値１２０，１２１の和が
予定の値に達した時、第２の「不合格」信号１２４，１
２５が発生される。選択論理回路１０４が選択フラグ１
１７−１１９に従って、有効信号１０５を選択する。前
の有効信号の選択からの第２の合格／不合格信号１２４
，１２５が有効認定論理回路１１６に入力されることを
示す為に、計算遅延１２６，１２７が示されている。 この為、有効認定論理回路１１６は現在の有効信号の選
択に対する選択フラグ１１７−１１９を割当てることが
出来る。
使う。２つのセンサ信号が測定信号１０１，１０２であ
り、３番目の信号はモデル信号１０３である。試験回路
１０６，１０７は測定信号１０１，１０２に対して範囲
／速度試験を行なうことが出来る。試験回路１０６，１
０７は、測定信号１０１，１０２が更新されているかど
うかを判定する活動試験も含んでいてよい。試験回路１
０８−１１０は、各々の測定信号１０１，１０２をモデ
ル信号１０３と比較し、測定信号１０１を測定信号１０
２と比較する比較試験を実施することが出来る。範囲／
速度試験及び比較信号の結果が合格／不合格信号１１１
−１１５である。有効認定論理回路１１６が、第１の合
格／不合格信号１１１−１１５及び第２の合格／不合格
信号１２４，１２５に従って、各々の測定信号１０１，
１０２に加重値１２０，１２１を割当てる。第２の合格
／不合格信号は「合格」信号として初期設定される。有
効認定論理回路１１６は、第１の合格／不合格信号１１
１−１１５及び第２の合格／不合格信号１２４，１２５
に従って、各々の測定信号１０１，１０２及びモデル信
号１０３に選択フラグ１１７−１１９をも割当てる。有
効フィルタ１２２，１２３が各々の測定信号１０１，１
０２に対し、加重値１２０，１２１を前に記憶されてい
る加重値１２０，１２１と加算する。各々の測定信号１
０１，１０２に対する第２の合格／不合格信号１２４，
１２５が、各々の有効フィルタ１２２，１２３にある加
重値１２０，１２１の和に従って、各々の有効フィルタ
１２２，１２３によって発生される。各々の有効フィル
タ１２２，１２３に於ける加重値１２０，１２１の和が
予定の値に達した時、第２の「不合格」信号１２４，１
２５が発生される。選択論理回路１０４が選択フラグ１
１７−１１９に従って、有効信号１０５を選択する。前
の有効信号の選択からの第２の合格／不合格信号１２４
，１２５が有効認定論理回路１１６に入力されることを
示す為に、計算遅延１２６，１２７が示されている。 この為、有効認定論理回路１１６は現在の有効信号の選
択に対する選択フラグ１１７−１１９を割当てることが
出来る。
【００１１】前に述べた様に、第２の合格／不合格信号
１２４，１２５は「合格」信号１２４，１２５として初
期設定され、夫々の有効フィルタ１２２，１２３にある
加重値１２０，１２１の和が予定の値に達するまでは、
「合格」状態にとゞまる。第２の合格／不合格信号の内
の１つが「不合格」信号に設定されると、対応する有効
フィルタにある加重値１２０，１２１の和が初期値に減
数されるまで、それは「不合格」状態にとゞまる。こう
して、この発明は、故障状態が検出された後、故障状態
のフィルタ作用による又は遅延したリセットが出来る様
にする。
１２４，１２５は「合格」信号１２４，１２５として初
期設定され、夫々の有効フィルタ１２２，１２３にある
加重値１２０，１２１の和が予定の値に達するまでは、
「合格」状態にとゞまる。第２の合格／不合格信号の内
の１つが「不合格」信号に設定されると、対応する有効
フィルタにある加重値１２０，１２１の和が初期値に減
数されるまで、それは「不合格」状態にとゞまる。こう
して、この発明は、故障状態が検出された後、故障状態
のフィルタ作用による又は遅延したリセットが出来る様
にする。
【００１２】フィルタ式リセットの特徴は、第２の合格
／不合格信号１２４，１２５によって不良状態が宣言さ
れた後でも続けられる、信号試験１０６−１１０、加重
値１２０，１２１の割当て及び有効フィルタ１２２，１
２３に於ける加重値の加算の結果である。「不合格」か
ら「合格」状態に第２の合格／不合格信号１２４，１２
５を回復させることが出来る合計の回数が、第２の合格
／不合格信号１２４，１２５を回復させる度にインクレ
メントされるカウンタを使うことによって、有効フィル
タ１２２，１２３によって制限される。この為、所定の
期間内に反復的に故障する間欠的な測定信号１０１，１
０２は、最後にはラッチされた第２の「不合格」信号１
２４，１２５を発生する。
／不合格信号１２４，１２５によって不良状態が宣言さ
れた後でも続けられる、信号試験１０６−１１０、加重
値１２０，１２１の割当て及び有効フィルタ１２２，１
２３に於ける加重値の加算の結果である。「不合格」か
ら「合格」状態に第２の合格／不合格信号１２４，１２
５を回復させることが出来る合計の回数が、第２の合格
／不合格信号１２４，１２５を回復させる度にインクレ
メントされるカウンタを使うことによって、有効フィル
タ１２２，１２３によって制限される。この為、所定の
期間内に反復的に故障する間欠的な測定信号１０１，１
０２は、最後にはラッチされた第２の「不合格」信号１
２４，１２５を発生する。
【００１３】この発明では、有効フィルタ１２２，１２
３にある加重値１２０，１２１の加算に上限及び下限が
ある。好ましい実施例では、こう云う限界は、故障を宣
言する予定の値と初期設定された値とに夫々等しい。当
業者であれば、こう云う上限及び下限は、制御装置の特
定の用途に従って、異なる値を割当てることが出来るこ
とが理解されよう。
３にある加重値１２０，１２１の加算に上限及び下限が
ある。好ましい実施例では、こう云う限界は、故障を宣
言する予定の値と初期設定された値とに夫々等しい。当
業者であれば、こう云う上限及び下限は、制御装置の特
定の用途に従って、異なる値を割当てることが出来るこ
とが理解されよう。
【００１４】図２はこの発明による好ましい実施例のフ
ィルタ式信号有効認定方法のフロ―チャ―トである。こ
の方法は、センサ信号に一連の試験を実施して、第１の
合格／不合格信号を求める工程１と、第２の合格／不合
格信号が「合格」信号として初期設定されるものとして
、第１及び第２の合格／不合格信号に従って、各々のセ
ンサ信号に加重値を割当てる工程２とを含む。更にこの
方法は、各々のセンサ信号に対する加重値を前に割当て
られている加重値と加算する工程３と、各々のセンサ信
号に対する加重値の和に従って、第２の合格／不合格信
号を発生する工程４とを含む。更にこの方法は、第１及
び第２の合格／不合格信号に従って各々のセンサ信号に
対して選択フラグを割当てる工程５と、選択フラグに従
って有効信号を選択する工程６とを含む。
ィルタ式信号有効認定方法のフロ―チャ―トである。こ
の方法は、センサ信号に一連の試験を実施して、第１の
合格／不合格信号を求める工程１と、第２の合格／不合
格信号が「合格」信号として初期設定されるものとして
、第１及び第２の合格／不合格信号に従って、各々のセ
ンサ信号に加重値を割当てる工程２とを含む。更にこの
方法は、各々のセンサ信号に対する加重値を前に割当て
られている加重値と加算する工程３と、各々のセンサ信
号に対する加重値の和に従って、第２の合格／不合格信
号を発生する工程４とを含む。更にこの方法は、第１及
び第２の合格／不合格信号に従って各々のセンサ信号に
対して選択フラグを割当てる工程５と、選択フラグに従
って有効信号を選択する工程６とを含む。
【００１５】好ましい実施例では、対応するセンサに対
する加重値の和が上限に達した時、第２の「不合格」信
号が発生される。対応するセンサに対する加重値の和が
下限に達した時、第２の「合格」信号が発生される。こ
う云う限界は、故障を宣言する予定の値及び初期設定さ
れた値に夫々等しい。第２の合格／不合格信号を「不合
格」から「合格」状態へ回復させることが出来る合計回
数が限られており、この為、所定の期間内に反復的に故
障する間欠的な測定信号は、最終的にはラッチされた第
２の「不合格」信号を発生する。
する加重値の和が上限に達した時、第２の「不合格」信
号が発生される。対応するセンサに対する加重値の和が
下限に達した時、第２の「合格」信号が発生される。こ
う云う限界は、故障を宣言する予定の値及び初期設定さ
れた値に夫々等しい。第２の合格／不合格信号を「不合
格」から「合格」状態へ回復させることが出来る合計回
数が限られており、この為、所定の期間内に反復的に故
障する間欠的な測定信号は、最終的にはラッチされた第
２の「不合格」信号を発生する。
【００１６】この発明は複数個の冗長なセンサ信号から
有効な信号を選択する方法と装置を説明した。この発明
は、異なるセンサの種類及び異なる数のセンサ信号に対
処する様に、容易に変更することが出来る。例えば、３
重冗長装置では、モデル信号が第３のセンサであってよ
い。この為、余分の信号試験と余分の有効フィルタを追
加することが出来る。更に大規模な多重冗長装置では、
制御装置に幾つかの余分の信号試験を追加することが出
来る。然し、この拡張の為には、追加された測定信号毎
に、１つの有効フィルタを制御装置に追加すればよい。
有効な信号を選択する方法と装置を説明した。この発明
は、異なるセンサの種類及び異なる数のセンサ信号に対
処する様に、容易に変更することが出来る。例えば、３
重冗長装置では、モデル信号が第３のセンサであってよ
い。この為、余分の信号試験と余分の有効フィルタを追
加することが出来る。更に大規模な多重冗長装置では、
制御装置に幾つかの余分の信号試験を追加することが出
来る。然し、この拡張の為には、追加された測定信号毎
に、１つの有効フィルタを制御装置に追加すればよい。
【００１７】この発明の好ましい実施例を図面に示した
説明したが、当業者であれは、この実施例が例に過ぎな
いことが理解されよう。この発明の範囲内で、当業者に
は種々の変更が考えられよう。従って、この発明が特許
請求の範囲の記載のみによって限定されることを承知さ
れたい。
説明したが、当業者であれは、この実施例が例に過ぎな
いことが理解されよう。この発明の範囲内で、当業者に
は種々の変更が考えられよう。従って、この発明が特許
請求の範囲の記載のみによって限定されることを承知さ
れたい。
【図１】この発明による１実施例のフィルタ式信号有効
認定装置のブロック図。
認定装置のブロック図。
【図２】この発明の実施例によるフィルタ式信号有効認
定方法のフロ―チャ―ト。
定方法のフロ―チャ―ト。
１０１，１０２，１０３ 入力信号
１０６乃至１１０ 試験回路
１１６ 有効認定論理回路
１２０，１２１ 加重値
１２２，１２３ 有効フィルタ
Claims (18)
- 【請求項１】 複数個の冗長なセンサ信号から有効な
信号を選択する装置に於て、前記センサ信号に試験を実
施することにより、複数個の第１の合格／不合格信号を
発生する手段と、該第１の合格／不合格信号に従って、
前記センサ信号の各々に複数個の加重値を割当てる手段
と、前記センサ信号の各々に対する加重値を、前記加重
値の、前に記憶されている値と加算する手段とを有する
装置。 - 【請求項２】 前記加算する手段が、前記センサ信号
の各々に対する加重値の和に従って、第２の合格／不合
格信号を発生する請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 前記センサ信号の各々に対する加重値
の値が上限に達した時に、前記第２の不合格信号が発生
され、前記センサ信号の各々に対する加重値の和が下限
に達した時に、前記第２の合格信号が発生される請求項
２記載の装置。 - 【請求項４】 前記第１の合格／不合格信号に従って
、前記センサ信号の各々に複数個の選択フラグを割当て
る手段と、前記選択フラグに従って有効な信号を選択す
る手段とを有する請求項３記載の装置。 - 【請求項５】 前記加算する手段が、前記第２の不合
格信号から前記第２の合格信号までの、前記第２の合格
／不合格信号のリセットの回数を計数する手段を含み、
前記リセット回数が第１の予定の値に達した時、前記第
２の合格／不合格信号が第２の不合格信号にラッチされ
る請求項４記載の装置。 - 【請求項６】 前記センサ信号が複数個の測定信号及
びモデル信号で構成され、前記複数個の加重値が符号及
び大きさを含み、前記上限が第２の予定の値であり、前
記下限が初期設定した値であり、前記第２の合格／不合
格信号が合格信号として初期設定される請求項５記載の
装置。 - 【請求項７】 前記第１の合格／不合格信号に従って
前記センサ信号の各々に複数個の加重値を割当てる手段
が、前記第１及び第２の合格／不合格信号に従って、前
記センサ信号の各々に前記複数個の加重値及び複数個の
選択フラグを割当てる請求項３記載の装置。 - 【請求項８】 前記選択フラグに従って有効な信号を
選択する手段を有する請求項７記載の装置。 - 【請求項９】 前記加算する手段が、前記第２の不合
格信号から前記第２の合格信号までの前記第２の合格／
不合格信号のリセット回数を計数する手段を含み、該リ
セット回数が第１の予定の値に達した時、前記第２の合
格／不合格信号が前記第２の不合格信号にラッチされる
請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】 前記センサ信号が複数個の測定信号
及びモデル信号で構成され、前記複数個の加重値が符号
及び大きさを含み、前記上限が第２の予定の値であり、
前記下限が初期設定した値であり、第２の合格／不合格
信号が合格信号として初期設定される請求項９記載の装
置。 - 【請求項１１】 複数個の冗長な信号から有効な信号
を選択する方法に於て、複数個のセンサ信号に一連の試
験を実施して複数個の第１の合格／不合格信号を求め、
該第１の合格／不合格信号に従って前記センサ信号の各
々に複数個の加重値を割当て、前記センサ信号の各々に
対する加重値を該加重値の前の値と加算し、加重値の和
に従って各々のセンサ信号に対する第２の合格／不合格
信号を発生する工程を含む方法。 - 【請求項１２】 前記加重値の和が上限に達した時、
前記第２の不合格信号が発生され、前記加重値の和が下
限に達した時、前記第２の合格信号が発生される請求項
１１記載の方法。 - 【請求項１３】 前記第２の不合格信号から前記第２
の合格信号までの前記第２の合格／不合格信号のリセッ
ト回数を計数し、該リセット回数が第１の予定の値に達
した時、前記第２の合格／不合格信号を前記第２の不合
格信号にラッチする工程を含む請求項１２記載の方法。 - 【請求項１４】 前記第１の合格／不合格信号に従っ
て、前記センサ信号の各々に複数個の選択フラグを割当
て、該選択フラグに従って有効な信号を選択する工程を
含む請求項１３記載の方法。 - 【請求項１５】 前記センサ信号が複数個の測定信号
及びモデル信号で構成され、前記複数個の加重値が符号
及び大きさを含み、前記上限が第２の予定の値であり、
前記下限が初期設定した値であり、前記第２の合格／不
合格信号が合格信号として初期設定される請求項１４記
載の方法。 - 【請求項１６】 前記センサ信号の各々に対する複数
個の加重値が前記第１及び第２の合格／不合格信号に従
って割当てられる請求項１３記載の方法。 - 【請求項１７】 前記第１及び第２の合格／不合格信
号に従って前記センサ信号の各々に複数個の選択フラグ
を割当て、該選択フラグに従って有効な信号を選択する
工程を含む請求項１６記載の方法。 - 【請求項１８】 前記センサ信号が複数個の測定信号
及びモデル信号で構成され、前記複数個の加重値が符号
及び大きさを含み、前記上限が第２の予定の値であり、
前記下限が初期設定された値であり、前記第２の合格／
不合格信号が合格信号として初期設定される請求項１１
記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US69906591A | 1991-05-13 | 1991-05-13 | |
| US699,065 | 1991-05-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04370713A true JPH04370713A (ja) | 1992-12-24 |
Family
ID=24807779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4019344A Withdrawn JPH04370713A (ja) | 1991-05-13 | 1992-01-09 | 複数個の冗長なセンサ信号から有効な信号を選択する装置と方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5469447A (ja) |
| JP (1) | JPH04370713A (ja) |
| FR (1) | FR2676555B1 (ja) |
| GB (1) | GB2255838A (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR960024899A (ko) * | 1994-12-31 | 1996-07-20 | 김주용 | 대표값 선택기와 그 구현 방법 |
| US5680409A (en) * | 1995-08-11 | 1997-10-21 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Method and apparatus for detecting and identifying faulty sensors in a process |
| EP1112532B1 (en) | 1998-08-17 | 2003-04-02 | Aspen Technology, Inc. | Sensor validation apparatus and method |
| US6594620B1 (en) | 1998-08-17 | 2003-07-15 | Aspen Technology, Inc. | Sensor validation apparatus and method |
| SE522549C2 (sv) * | 2001-03-06 | 2004-02-17 | Goalart Ab | En anordning och ett förfarande för sensoranalys av en flödesprocess, för att detektera felaktiga larm och indikera larmsignalers tillförlitlighet till en operatör |
| US7093168B2 (en) | 2002-01-22 | 2006-08-15 | Honeywell International, Inc. | Signal validation and arbitration system and method |
| EP1468337A1 (en) * | 2002-01-22 | 2004-10-20 | Honeywell International Inc. | Signal validation and arbitration system and method |
| EP1391722A1 (en) * | 2002-08-09 | 2004-02-25 | University of Liege | Portable detection device and method for determining an element in a sample using Rutherford backscattering (RBS) and particle induced X-ray emission (PIXE) |
| US7451003B2 (en) * | 2004-03-04 | 2008-11-11 | Falconeer Technologies Llc | Method and system of monitoring, sensor validation and predictive fault analysis |
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| WO2007008940A2 (en) * | 2005-07-11 | 2007-01-18 | Brooks Automation, Inc. | Intelligent condition-monitoring and dault diagnostic system |
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| JP2013540326A (ja) * | 2010-10-11 | 2013-10-31 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 冗長センサ信号でシフトを検出するためのシステム、方法、及び装置 |
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| WO2018204540A1 (en) | 2017-05-02 | 2018-11-08 | Lateral Solutions, Inc. | Control system for machine with a plurality of components and methods of operation |
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| GB1253309A (en) * | 1969-11-21 | 1971-11-10 | Marconi Co Ltd | Improvements in or relating to data processing arrangements |
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-
1992
- 1992-01-09 JP JP4019344A patent/JPH04370713A/ja not_active Withdrawn
- 1992-01-09 GB GB9200365A patent/GB2255838A/en not_active Withdrawn
- 1992-01-10 FR FR929200212A patent/FR2676555B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-28 US US08/331,294 patent/US5469447A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2255838A (en) | 1992-11-18 |
| FR2676555A1 (fr) | 1992-11-20 |
| FR2676555B1 (fr) | 1994-03-04 |
| GB9200365D0 (en) | 1992-02-26 |
| US5469447A (en) | 1995-11-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |