JPH0436333B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、細胞等の微小粒子にレーザー光を
照射してその微小粒子による散乱光および／また
は蛍光を検出し、その散乱光や蛍光の検出データ
に基づいて微小粒子を分析する装置に関するもの
である。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application This invention irradiates microparticles such as cells with laser light, detects scattered light and/or fluorescence by the microparticles, and collects detected data of the scattered light and fluorescence. The present invention relates to an apparatus for analyzing microparticles based on .

従来技術 最近に至り、細胞等の微小粒子を液体に懸濁さ
せた懸濁液（試料）と生理食塩水等の不活性液を
層流状態に保持してその層流状態の試料にレーザ
ー光を照射し、試料中に含まれる微小粒子による
角度の異なる散乱光や波長の異なる蛍光を検出し
て、その検出データに基づいて微小粒子を分析す
る装置、すなわちいわゆるフローサイトメーター
と称される微小粒子分析装置が開発・実用化され
ている。Conventional technology Recently, a suspension (sample) in which microparticles such as cells are suspended in a liquid and an inert liquid such as physiological saline are maintained in a laminar flow state, and a laser beam is applied to the sample in the laminar flow state. A device that analyzes microparticles based on the detection data by irradiating the sample with light scattered at different angles and fluorescence of different wavelengths by microparticles contained in the sample, that is, a microscopic flow cytometer. Particle analyzers have been developed and put into practical use.

従来のこの種のフローサイトメーターとして
は、例えば第３図に示すように生理食塩水等の不
活性液（シース液）１を加圧してこれを管状のフ
ローセル２内に送り込み、一方予め試料細胞等の
微小粒子が懸濁された微小粒子懸濁液（試料）３
をフローセル２内のシース液のフロー（シース
流）の中心軸位置に注入して試料と不活性液を層
流状態に保持し、その層流状態の試料に対してレ
ーザー光源４からレーザー光を照射して、例えば
２個の検出器５，６を含む検出部７において試料
中の微小粒子による散乱光および／または蛍光を
検出し、その検出データをCPU等のデータ処理
部８に取込み、検出データを適宜処理して微小粒
子を分析するものが一般的である。ここで散乱光
や蛍光は、異なる角度での散乱光（代表的には前
方散乱光および直角散乱光）および異なる波長の
蛍光（代表的には赤色蛍光および緑色蛍光）のう
ちから２種以上を検出し、それらの強度、あるい
は対数強度、さらにはそれらの比などのうちから
２種以上の値を選んで分析のためのパラメータと
し、その２種以上のパラメータによつて細胞等の
微小粒子がいずれの種類のものであるか、あるい
は如何なる性状、機能のものであるか等を分析す
るのが通常である。 In a conventional flow cytometer of this type, for example, as shown in FIG. Microparticle suspension (sample) 3 in which microparticles such as
is injected into the central axis of the flow of sheath liquid (sheath flow) in the flow cell 2 to maintain the sample and inert liquid in a laminar flow state, and the laser light source 4 irradiates the sample in the laminar flow state. The scattered light and/or fluorescence caused by the microparticles in the sample is detected by the detection unit 7 including, for example, two detectors 5 and 6, and the detection data is taken into the data processing unit 8 such as a CPU and detected. Generally, the data is processed appropriately to analyze microparticles. Here, the scattered light and fluorescence include two or more types of scattered light at different angles (typically forward scattered light and right-angle scattered light) and fluorescence at different wavelengths (typically red fluorescence and green fluorescence). Detect and select two or more values from their intensities, logarithmic intensities, and their ratios as parameters for analysis, and use these two or more parameters to determine whether microparticles such as cells It is usual to analyze what type it is, and what properties and functions it has.

発明が解決しようとする問題点 ところで本出願人は既に特願昭59−146600号
（特願昭61−25040号）において、フローセル２に
試料やシース液を供給する手段９として、第４図
に示すようにいわゆるループインジエクタ１０を
用いたものを提案している。このループインジエ
クタ１０は内部に所定量の試料を保持し得る保持
ループ１１を備え、モータＭによつて駆動される
弁体１２の回転によつて保持ループ１１の両端に
接続される流路を切替えることにより所定量の試
料を保持ループ１１内に吸引保持させる工程と、
その保持ループ１１内の試料を押出してフローセ
ル２に供給する工程とが切替えられるようになつ
ている。すなわち第４図において、ループインジ
エクタ１０は保持ループの一端が第１ポートＰ１
に、他端が第２ポートＰ２に接続される状態と、
保持ループ１１の一端が第３ポートＰ３に、他端
が第４ポートＰ４に接続される状態とに切替えら
れるように構成されている。そしてシース液１を
収容したシース液容器１３は密閉容器とされて、
窒素ガス加圧源１４からのガス圧力によつてシー
ス液が吐出されるように構成されており、そのシ
ース液容器１３からのシース液流路１５は、バル
ブ１６および抵抗流路１７を介してループインジ
エクタ１０の第１ポートＰ１に接続されるととも
に、バルブ１８および抵抗流路１９を介してフロ
ーセル２のシース液供給管２Ａに接続されてい
る。一方試料３を収容した試料容器２０には試料
吸引ノズル２１が挿入され、その試料吸引ノズル
２１の基端側はループインジエクタ１０の第３ポ
ートＰ３に接続され、またループインジエクタ１
０の第４ポートＰ４は抵抗流路２２およびバルブ
２３、緩衝容器２４を介して真空ポンプ２５に接
続されており、さらにループインジエクタ１１の
第２ポートＰ２はフローセル２の試料注入管２Ｂ
に接続されている。Problems to be Solved by the Invention Incidentally, the present applicant has already disclosed in Japanese Patent Application No. 146,600/1983 (Patent Application No. 25,040/1982) that the method shown in FIG. As shown, a so-called loop injector 10 is proposed. This loop injector 10 is equipped with a holding loop 11 capable of holding a predetermined amount of sample inside, and a flow path is connected to both ends of the holding loop 11 by rotation of a valve body 12 driven by a motor M. a step of sucking and holding a predetermined amount of the sample in the holding loop 11 by switching;
The process of extruding the sample in the holding loop 11 and supplying it to the flow cell 2 can be switched. That is, in FIG. 4, the loop injector 10 has one end of the holding loop connected to the first port P1.
, the other end is connected to the second port P2,
The holding loop 11 is configured to be switched such that one end is connected to the third port P3 and the other end is connected to the fourth port P4. The sheath liquid container 13 containing the sheath liquid 1 is made into a closed container,
The sheath liquid is discharged by the gas pressure from the nitrogen gas pressurization source 14, and the sheath liquid flow path 15 from the sheath liquid container 13 is connected through a valve 16 and a resistance flow path 17. It is connected to the first port P1 of the loop injector 10, and is also connected to the sheath liquid supply pipe 2A of the flow cell 2 via a valve 18 and a resistance flow path 19. On the other hand, a sample suction nozzle 21 is inserted into the sample container 20 containing the sample 3, and the base end side of the sample suction nozzle 21 is connected to the third port P3 of the loop injector 10.
The fourth port P4 of the loop injector 11 is connected to the vacuum pump 25 via the resistance flow path 22, the valve 23, and the buffer container 24, and the second port P2 of the loop injector 11 is connected to the sample injection tube 2B of the flow cell 2.
It is connected to the.

第４図に示されるような供給手段９において
は、先ずループインジエクタ１０の保持ループ１
１の一端を第３ポートＰ３に、他端を第４ポート
Ｐ４に接続した状態とし、バルブ２３を開放させ
る。斯くすれば試料吸引ノズル２１から保持ルー
プ１１を経て緩衝容器２４に至る流路が形成され
るため、試料容器２０内の試料が真空ポンプ２５
の負圧によつて試料吸引ノズル２１から保持ルー
プ１１内に流入する。次いでループインジエクタ
１０を切替えて、その保持ループ１１の一端を第
１ポートＰ１に、他端を第２ポートＰ２に接続し
た状態とし、バルブ１６を開放させる。斯くすれ
ばシース液容器１３からループインジエクタ１０
の保持ループ１１を経てフローセル２の試料注入
管２Ｂに至る流路が形成されるから、保持ループ
１１内の試料がシース液容器１３からのシース液
によつて試料注入管２Ｂに押出され、フローセル
２内に注入される。なおこの段階では予めバルブ
１８を開いてシース液容器１３からバルブ１８お
よび抵抗流路１９を介してフローセル２のシース
液供給管２Ａにシース液を供給し、フローセル２
内にシース液を形成しておくことは勿論である。
また第４図の試料供給手段では、前述のようにル
ープインジエクタ１０の保持ループ１１に試料を
吸引保持する前の段階で予め各管路をシース液で
置換しておくのが通常である。 In the supply means 9 as shown in FIG. 4, first the holding loop 1 of the loop injector 10 is
1 is connected to the third port P3 and the other end is connected to the fourth port P4, and the valve 23 is opened. In this way, a flow path is formed from the sample suction nozzle 21 through the holding loop 11 to the buffer container 24, so that the sample in the sample container 20 is transferred to the vacuum pump 25.
The negative pressure causes the sample to flow from the sample suction nozzle 21 into the holding loop 11. Next, the loop injector 10 is switched so that one end of the holding loop 11 is connected to the first port P1 and the other end is connected to the second port P2, and the valve 16 is opened. In this way, the loop injector 10 can be removed from the sheath liquid container 13.
Since a flow path is formed through the holding loop 11 of the flow cell 2 to the sample injection tube 2B of the flow cell 2, the sample in the holding loop 11 is pushed out to the sample injection tube 2B by the sheath liquid from the sheath liquid container 13 and Injected into 2. At this stage, the valve 18 is opened in advance to supply the sheath liquid from the sheath liquid container 13 to the sheath liquid supply pipe 2A of the flow cell 2 via the valve 18 and the resistance flow path 19.
Needless to say, a sheath liquid must be formed inside the tube.
In addition, in the sample supply means shown in FIG. 4, each conduit is normally replaced with the sheath liquid in advance before the sample is suctioned and held in the holding loop 11 of the loop injector 10 as described above.

上述のような供給手段９においては、ループイ
ンジエクタ１０の保持ループ１１に一旦試料を収
容保持させてからその保持ループ１１内の試料を
シース液で押出す。したがつて試料注入管２Ｂか
らフローセル２内には、先ず試料注入管２Ｂ内に
残つているシース液が注入され、続いて試料が注
入されて、その後さらに押出しのためのシース液
が注入されることになる。すなわち試料のみが注
入されるのではなく、第５図に模式的に示すよう
に時間的にシース液１→試料３→シース液１の順
で注入されことになる。ここで、前後のシース液
１と試料３との境界付近２６，２７は試料とシー
ス液とが混合した領域となる。シース液と試料液
とは厳密には異なるものであるから、この混合領
域２６，２７ではノイズが発生するおそれがあ
る。しかるに従来のフローサイトメーターでは、
測定開始後の検出器からの検出データは常時デー
タ処理部に取込まれていたから、上述のような混
合領域２６，２７で発生するノイズも誤つて検出
データとして取込まれるおそれがあり、そのため
分析精度が低下するおそれがあつた。 In the supply means 9 as described above, the sample is once accommodated and held in the holding loop 11 of the loop injector 10, and then the sample in the holding loop 11 is pushed out with the sheath liquid. Therefore, first the sheath liquid remaining in the sample injection tube 2B is injected into the flow cell 2 from the sample injection tube 2B, then the sample is injected, and then the sheath liquid for extrusion is further injected. It turns out. That is, instead of only the sample being injected, as schematically shown in FIG. 5, sheath liquid 1 -> sample 3 -> sheath liquid 1 are injected in the order of time. Here, the areas 26 and 27 near the boundaries between the front and rear sheath liquids 1 and the sample 3 become areas where the sample and sheath liquid are mixed. Since the sheath liquid and the sample liquid are strictly different, there is a possibility that noise may occur in the mixing regions 26 and 27. However, with conventional flow cytometers,
Since the detection data from the detector after the start of measurement is constantly being imported into the data processing section, there is a risk that the noise generated in the mixing regions 26 and 27 as described above may also be mistakenly imported as detection data, which may affect the accuracy of the analysis. There was a risk that this would decrease.

また従来のフローサイトメーターでは、前述の
ように測定開始後の検出器からの検出データは常
時データ処理部に取込まれるため、測定開始後に
分析対象の微小粒子による検出データと誤認され
るような信号が検出器から発生するおそれがある
操作は行なうことができず、その場合には測定を
一旦停止せざるを得ない問題があつた。例えば第
４図に示すような供給手段９において、次々に異
なる種類の微小粒子を分析する場合、ある試料を
フローセル２の試料注入管２Ｂに注入した後、洗
浄液を各管路に流して管路内を洗浄する必要が生
じるが、この場合管路内に残つた微小粒子が洗浄
液とともにフローセル内に流れ込み、それが検出
器で検出されてしまうことがあるが、従来のフロ
ーサイトメータではこの場合の検出信号も検出デ
ータとしてデータ処理部に取込まれてしまう問題
があり、したがつて従来のフローサイトメータで
は洗浄時には一旦測定を停止せざるを得ず、この
ことが多数の試料、多種類の試料を分析する場合
の処理時間短縮による分析能率向上に対するネツ
クとなつていた。 In addition, in conventional flow cytometers, as mentioned above, the detection data from the detector is constantly taken into the data processing unit after the measurement starts, so there is a possibility that the detection data may be mistakenly recognized as detection data from the microparticles to be analyzed after the measurement starts. There was a problem in that it was impossible to perform operations that might cause a signal to be generated from the detector, and in that case, the measurement had to be temporarily stopped. For example, when different types of microparticles are to be analyzed one after another using the supply means 9 as shown in FIG. It is necessary to clean the inside of the pipe, but in this case, microparticles remaining in the pipe may flow into the flow cell together with the cleaning liquid and be detected by the detector. There is a problem that the detection signal is also taken into the data processing section as detection data, and therefore, with conventional flow cytometers, measurement has to be temporarily stopped during cleaning, which makes it difficult to handle large numbers of samples and various types of samples. This has become the key to improving analysis efficiency by shortening the processing time when analyzing samples.

したがつてこの発明は、微小粒子分析装置にお
ける供給手段等の各部の動作や状態に応じてデー
タ処理部に対する検出データの取込みを制御し得
るようになし、これによつて分析精度が低下する
おそれのある領域での検出データをカツトして分
析精度を向上させたり、あるいは測定を停止させ
ることなく洗浄等の種々の操作を行ない得るよう
にした微小粒子分析装置を提供することを目的と
するものである。 Therefore, the present invention makes it possible to control the intake of detection data to the data processing unit according to the operation and state of each part such as the supply means in a microparticle analyzer, thereby eliminating the possibility that analysis accuracy may deteriorate. The purpose is to provide a microparticle analyzer that can improve analysis accuracy by cutting detection data in a certain area, or perform various operations such as cleaning without stopping measurement. It is.

問題を解決するための手段 この発明の微小粒子分析装置は、微小粒子が懸
濁された試料とシース液としての不活性液とが供
給されるフローセルと、 前記不活性液をフローセル内に供給するととも
に、その不活性液によるシース流の中心軸位置に
前記試料液を注入してシース液と試料液との層流
を形成するための供給手段と、 前記層流状態の試料にレーザー光を照射するた
めのレーザー光源と、 前記レーザー光による微小粒子の散乱光およ
び／または蛍光を検出するための検出部と、 前記検出部から得られた検出データを処理して
前記微小粒子の性状を分析するためのデータ処理
部と、 各部の動作を制御するための制御部とを有して
なる微小粒子分析装置において、 前記データ処理部における検出データの取込を
指令するデータ取込指令回路と、 前記検出部から出力されたデータが微小粒子の
到来によるものであることを判別する粒子到来判
別回路と、 前記制御部からデータ取込指令回路に至る制御
ゲート信号系路とを設け、 前記粒子到来判別回路からの粒子到来信号と制
御部からの制御ゲート信号とがデータ取込指令回
路に入力された状態でそのデータ取込指令回路が
データの取込を指令するように構成したことを特
徴とするものである。Means for Solving the Problem The microparticle analyzer of the present invention includes a flow cell to which a sample in which microparticles are suspended and an inert liquid as a sheath liquid are supplied, and the inert liquid is supplied into the flow cell. Also, a supply means for injecting the sample liquid into a central axis position of the sheath flow caused by the inert liquid to form a laminar flow of the sheath liquid and the sample liquid, and irradiating the sample in the laminar flow state with a laser beam. a detection unit for detecting scattered light and/or fluorescence of the microparticles caused by the laser light; and processing detection data obtained from the detection unit to analyze the properties of the microparticles. A microparticle analyzer comprising: a data processing section for controlling operations; and a control section for controlling operations of each section; A particle arrival determination circuit that determines whether the data output from the detection section is due to the arrival of microparticles, and a control gate signal path from the control section to the data acquisition command circuit are provided, and the particle arrival determination circuit is provided. The data acquisition command circuit is characterized in that the data acquisition command circuit instructs data acquisition in a state in which a particle arrival signal from the circuit and a control gate signal from the control unit are input to the data acquisition command circuit. It is something.

ここで前記制御部は、例えば前記供給手段の動
作を制御する機能を有する構成とされる。 Here, the control section is configured to have a function of controlling the operation of the supply means, for example.

実施例 第１図はこの発明の微小粒子分析装置の電気的
構成部分の一例を概略的に示すものであり、微小
粒子による散乱光や蛍光を検出するための検出器
を備えた検出部７からの検出データは、分析用デ
ータ系路３０を経てパーソナルコンピユータ等の
データ処理部８に入力されて、その検出データに
基づいて微小粒子が分析される。すなわち例えば
前方散乱光や直角散乱光（90゜散乱光）などの異
なる角度での散乱光、あるいは赤色蛍光や緑色蛍
光などの異なる波長での蛍光の強度、あるいはそ
れらの対数強度、さらにはそれらの比などのうち
から２種以上をパラメータとし、その２種以上の
パラメータにより形成される二次元ヒストグラム
あるいは三次元以上の多次元ヒストグラム上にお
いてある領域内に含まれるか否かによつて細胞等
の微小粒子の種類、性状、機能などを分析する。
またこのデータ処理部８は、検出データのうちあ
るデータを比較用データとして用いて、検出デー
タのレベルがデータ処理部８において分析するに
適した有効な範囲内にあるか否かを判別するウイ
ンドウ機能、すなわち例えば不要なノイズを判別
除去するための下限値と過大な信号を判別除去す
るための下限値を設定して、比較用データのレベ
ルがその上限値と下限値との間にあるか否かを判
別する機能をも有する。なおここで比較用データ
の系路は、分析用検出データの系路３０とは異な
る比較用データ系路３７を経てデータ処理部８に
加えられる。一方制御部３１は、前述の供給手段
９（第４図参照）を含む各部を制御するためのも
のであり、この制御部３１からは供給手段９のバ
ルブやモータなどを制御する信号が出力されると
ともに、逆にそれらからの信号が入力される。ま
たこの制御部３１からは、供給手段９などの動作
もしくは状態に応じ、かつ検出データレベルが前
記範囲内にあるか否かのデータ処理部８でのウイ
ンドウ機能による判別結果に応じて制御ゲート信
号SAが制御ゲート信号系路３２に出力される。Embodiment FIG. 1 schematically shows an example of the electrical components of the microparticle analyzer of the present invention. The detection data is input to a data processing section 8 such as a personal computer via an analysis data line 30, and microparticles are analyzed based on the detection data. That is, for example, the intensity of scattered light at different angles, such as forward scattered light or right-angle scattered light (90° scattered light), or the intensity of fluorescence at different wavelengths, such as red fluorescence or green fluorescence, or their logarithmic intensities, or even their logarithmic intensities. Two or more of the ratios are used as parameters, and cells, etc. Analyze the type, properties, functions, etc. of microparticles.
The data processing unit 8 also has a window that uses certain data among the detected data as comparison data to determine whether the level of the detected data is within an effective range suitable for analysis in the data processing unit 8. For example, by setting a lower limit value for distinguishing and removing unnecessary noise and a lower limit value for discriminating and removing excessive signals, check whether the level of comparison data is between the upper limit value and the lower limit value. It also has a function to determine whether or not. Here, the comparison data path is applied to the data processing unit 8 via a comparison data path 37 that is different from the analysis detection data path 30. On the other hand, the control section 31 is for controlling various parts including the above-mentioned supply means 9 (see FIG. 4), and signals for controlling the valves, motors, etc. of the supply means 9 are output from this control section 31. At the same time, signals from them are also input. The control unit 31 also outputs a control gate signal in accordance with the operation or state of the supply means 9, etc., and in accordance with the determination result by the window function in the data processing unit 8 as to whether or not the detected data level is within the range. SA is output to the control gate signal path 32.

前記検出部７からの検出データは、粒子到来判
別回路３３へも加えられる。この粒子到来判別回
路３３は、細胞等の微小粒子が実際に到来したか
否か、すなわち検出部７で検出したデータが実際
に微小粒子について測定されたデータであるか否
かを判別するためのものであり、実際に微小粒子
による検出データである場合には粒子到来信号
SBを出力するように構成される。そして前記制
御部３１からの制御ゲート信号SAおよび粒子到
来判別回路３３からの粒子到来信号SBは、アン
ドゲート３４の入力側に並列入力として加えら
れ、そのアンドゲート３４の出力、すなわち前記
２信号SA，SBが揃つた時の信号出力はデータ取
込指令回路３５に入力される。このデータ取込指
令回路３５は、データ処理部８における検出部７
からの検出データの取込みを指令するデータ取込
指令信号SDを発生するものであり、そのデータ
取込信号SDは例えば検出部７からデータ処理部
８に至る分析用データ系路３０を開閉したりある
いはデータ処理部８の入力部の動作を制御するこ
とによつてデータの取込みを制御する。 The detection data from the detection section 7 is also applied to the particle arrival determination circuit 33. This particle arrival determination circuit 33 is used to determine whether or not microparticles such as cells have actually arrived, that is, whether or not the data detected by the detection unit 7 is data actually measured about microparticles. If the data is actually detected by microparticles, it is the particle arrival signal.
Configured to output SB. The control gate signal SA from the control section 31 and the particle arrival signal SB from the particle arrival determination circuit 33 are applied as parallel inputs to the input side of the AND gate 34, and the output of the AND gate 34, that is, the two signals SA , SB are completed, the signal output is input to the data acquisition command circuit 35. This data acquisition command circuit 35 is connected to the detection section 7 in the data processing section 8.
It generates a data acquisition command signal SD that instructs the acquisition of detection data from the detector, and the data acquisition signal SD opens and closes the analysis data path 30 from the detection section 7 to the data processing section 8, for example. Alternatively, data acquisition is controlled by controlling the operation of the input section of the data processing section 8.

第１図の基本構成においては、制御ゲート信号
SAと粒子到来信号SBとが揃つた時、すなわち供
給手段９における状態もしくは動作などがデータ
取込みを行なうに適した時期であつて、しかも検
出データレベルがデータ処理に適した範囲内にあ
り（制御ゲート信号SA出力）、しかもその時の検
出データが微小粒子によるものであると粒子到来
判別回路３３が判別（粒子到来信号SB出力）し
たときに、はじめてデータ取込指令回路３５がデ
ータ取込指令信号SDを出力し、データ処理部８
に分析用の検出データが取込まれ、その検出デー
タに基づいて微小粒子が分析される。 In the basic configuration shown in Figure 1, the control gate signal
When SA and the particle arrival signal SB are aligned, that is, when the state or operation of the supply means 9 is suitable for data acquisition, and the detected data level is within a range suitable for data processing (control Gate signal SA output), and when the particle arrival determination circuit 33 determines that the detected data at that time is due to microparticles (particle arrival signal SB output), the data acquisition command circuit 35 issues a data acquisition command signal. Output SD and data processing section 8
Detection data for analysis is taken in, and microparticles are analyzed based on the detection data.

例えば試料供給手段９として、第４図に示す如
くループインジエクタ１０を用いたものが使用さ
れている場合、制御部３１はループインジエクタ
１０を切替駆動するためのモータＭや各バルブ１
６，１８，２３を制御する信号を出力するが、こ
の場合既に述べた如く（第５図参照）、試料注入
管２Ｂからフローセル２にはシース液１→試料３
→シース液１の順で注入され、試料３と前後のシ
ース液１との境界付近は試料とシース液との混合
領域２６，２７となり、その付近の検出データに
はノイズが含まれるおそれがある。そこでそれら
の混合領域２６，２７を避けた適正領域２８のみ
において検出データをデータ処理部８に取込むよ
うに、例えばループインジエクタ１０を試料の注
入を行なう状態へ切替えた後一定時間経過してか
ら（すなわち前端側の混合領域２６が過ぎてか
ら）制御ゲート信号SAを出力し得る状態となり、
さらに一定時間経過後（但し後端側の混合領域２
７が到来する前）に制御ゲート信号SAを出力さ
せ得ない状態となるように制御部３１を設定す
る。このように設定しておけば、適正領域２８の
期間内に到来した検出データであつて、しかも前
述した如く比較用の検出データレベルが予め定め
た上限値と下限値との間にある時にはじめて制御
ゲート信号SAが出力され、しかも同時に粒子到
来信号SBが得られた時に分析用検出データの取
込みが行なわれることになる。 For example, when a loop injector 10 is used as the sample supply means 9 as shown in FIG.
6, 18, and 23, but in this case, as already mentioned (see Fig. 5), from the sample injection tube 2B to the flow cell 2, sheath liquid 1 → sample 3 is output.
→ Sheath liquid 1 is injected in this order, and the area near the boundary between sample 3 and the sheath liquid 1 before and after becomes a mixed area 26 and 27 of the sample and sheath liquid, and the detection data in that area may contain noise. . Therefore, for example, after a certain period of time has elapsed after the loop injector 10 is switched to the state for injecting the sample, the detection data is input into the data processing section 8 only in the appropriate region 28 that avoids the mixed regions 26 and 27. (i.e., after the mixing region 26 on the front end side has passed), the control gate signal SA can be output.
After a certain period of time has passed (however, mixing area 2 on the rear end side
The control unit 31 is set so that the control gate signal SA cannot be output before the arrival of the control gate signal SA. With this setting, only when the detection data arrives within the period of the appropriate area 28 and the detection data level for comparison is between the predetermined upper and lower limits as described above. When the control gate signal SA is output and the particle arrival signal SB is obtained at the same time, detection data for analysis will be captured.

なお第１図の例では比較用の検出データ処理部
８において分析するに適した有効な範囲内にある
か否かを判別するウインドウ機能をデータ処理部
８に持たせた構成としたが、場合によつては第１
図の鎖線で示すように別にウインドウ機能を有す
るデータ条件判別回路３６を設けておき、このデ
ータ条件判別回路３６において比較用の検出デー
タが予め設定した範囲内にあるか否かを判別し、
比較用の検出データがその範囲内にある場合にデ
ータ条件適合信号SCを出力するように構成して
も良く、この場合データ条件適合信号SCをデー
タ取込指令回路３５の入力側のアンドゲート３４
に加え、制御ゲート信号SA、粒子到来信号SBお
よびデータ条件適合信号SCとが揃つた時にアン
ドゲート３４からデータ取込指令回路３５に信号
が加えられてデータ取込指令回路３５がデータ取
込信号SDを出力するように構成すれば良い。 In the example shown in FIG. 1, the data processing section 8 is configured to have a window function for determining whether or not the detection data is within an effective range suitable for analysis in the comparison detection data processing section 8. depending on the first
As shown by the chain line in the figure, a data condition determination circuit 36 having a window function is separately provided, and this data condition determination circuit 36 determines whether or not the detected data for comparison is within a preset range.
The configuration may be such that the data condition conformity signal SC is output when the detection data for comparison is within the range; in this case, the data condition conformity signal SC is outputted to the AND gate 34 on the input side of the data acquisition command circuit 35.
In addition, when the control gate signal SA, particle arrival signal SB, and data condition compliance signal SC are all present, a signal is applied from the AND gate 34 to the data acquisition command circuit 35, and the data acquisition command circuit 35 outputs the data acquisition signal. All you have to do is configure it to output SD.

第２図には第１図の基本構成をさらに具体化し
た例を示す。 FIG. 2 shows an example in which the basic configuration of FIG. 1 is further embodied.

第２図において、検出部７を構成する検出器、
すなわち４個の光電子増倍管PM１〜PM４およ
びフオトダイオードPDの出力は、それぞれ前置
増幅器４１を経て利得制御回路４２によりそのレ
ベルが適切なレベルに調整された後、ホールド回
路４３に入力されて、CPU等からなる制御部３
１からの制御信号に応じて信号の波形のピーク値
もしくは面積値がホールドされ、さらにそのホー
ルドされたピーク値もしくは面積値が横軸データ
選択スイツチ群４４、縦軸データ選択スイツチ群
４５、第１比較用データ選択スイツチ群４６、お
よび第２比較用データ選択スイツチ群４７を経
て、それぞれ横軸データスケール回路群４８、縦
軸データスケール回路群４９、第１比較用スケー
ル回路群５０、および第２比較用スケール回路群
５１に入力される。ここで前記横軸データ選択ス
イツチ群４４および縦軸データ選択スイツチ群４
５は、それぞれ微小粒子を分析するための二次元
ヒストグラム（サイトグラム）の横軸データおよ
び縦軸データとして前記検出器PM１〜PM４、
PDのうちのいずれの検出器のデータを用いるか
を選択するためのものであり、一方第１比較用デ
ータ選択スイツチ群４６および第２比較用データ
選択スイツチ群４７は、前述のように検出データ
のレベルがデータ処理部８において処理するに適
した範囲内にあるか否かをデータ処理部８のウイ
ンドウ機能により判別するための第１比較用デー
タ、第２比較用データとしていずれの検出器から
のデータを用いるかを選択するものであり、これ
らのスイツチ群４４〜４７はいずれも制御部３１
からの制御信号によつて制御される。また横軸デ
ータスケール回路群４８および縦軸データスケー
ル回路群４９は、それぞれスイツチ群４４，４５
によつて選択された検出器の出力データを前記二
次元ヒストグラムの横軸データ、縦軸データとし
て使用するための各種のスケールに変換するため
のものであり、図示の例では検出器の出力データ
を直線増幅するリニアスケール回路Linと、対数
増幅するログスケール回路Logと、二種の検出器
の出力データの比をとる比スケール回路Divと、
同じく二種の検出器の出力データから偏光度を求
める偏光度スケール回路Ｐとを有するものとされ
ている。一方第１比較用データスケール回路群５
０および第２比較用データスケール回路群５１
は、それぞれスイツチ群４６，４７によつて選択
された検出器の出力データをデータ処理部８のウ
インドウ機能で判別させるために使用するスケー
ル、すなわちリニアスケールもしくはログスケー
ルに変換するためのものであり、それぞれリニア
スケール回路Linおよびログスケール回路Logと
によつて構成されている。 In FIG. 2, a detector constituting the detection unit 7,
That is, the outputs of the four photomultiplier tubes PM1 to PM4 and the photodiode PD pass through a preamplifier 41, have their levels adjusted to appropriate levels by a gain control circuit 42, and then are input to a hold circuit 43. , a control unit 3 consisting of a CPU, etc.
The peak value or area value of the signal waveform is held according to the control signal from 1, and the held peak value or area value is transmitted to the horizontal axis data selection switch group 44, the vertical axis data selection switch group 45, and the first Via the comparison data selection switch group 46 and the second comparison data selection switch group 47, the horizontal axis data scale circuit group 48, the vertical axis data scale circuit group 49, the first comparison scale circuit group 50, and the second It is input to a comparison scale circuit group 51. Here, the horizontal axis data selection switch group 44 and the vertical axis data selection switch group 4
5 represents the detectors PM1 to PM4 as horizontal axis data and vertical axis data of a two-dimensional histogram (cytogram) for analyzing microparticles, respectively.
The first comparison data selection switch group 46 and the second comparison data selection switch group 47 are used to select which detector data of the PD is to be used, while the first comparison data selection switch group 46 and the second comparison data selection switch group 47 The window function of the data processing unit 8 determines whether the level of the data is within a range suitable for processing in the data processing unit 8. These switch groups 44 to 47 are all controlled by the control section 31.
controlled by control signals from Further, the horizontal axis data scale circuit group 48 and the vertical axis data scale circuit group 49 include switch groups 44 and 45, respectively.
The purpose is to convert the output data of the detector selected by A linear scale circuit Lin for linear amplification, a log scale circuit Log for logarithmic amplification, and a ratio scale circuit Div for ratioing the output data of two types of detectors.
It also includes a polarization degree scale circuit P for determining the polarization degree from the output data of the two types of detectors. On the other hand, the first comparison data scale circuit group 5
0 and second comparison data scale circuit group 51
are for converting the output data of the detector selected by the switch groups 46 and 47 into a scale used for discrimination by the window function of the data processing unit 8, that is, a linear scale or a log scale. , are each composed of a linear scale circuit Lin and a log scale circuit Log.

前記横軸データスケール回路群４８および縦軸
データスケール回路群４９の出力は、それぞれ横
軸スケール選択スイツチ５２および縦軸スケール
選択スイツチ５３を経てサンプルホールド回路５
４，５５に入力される。前記横軸スケール選択ス
イツチ５２および縦軸スケール選択スイツチ５３
は、それぞれ横軸データのスケールおよび縦軸デ
ータのスケールを制御部３１からの制御信号に従
つて前述のリニアスケール、ログスケール、比ス
ケール、偏光度スケールのいずれかに選択するも
のであり、これらのスケール選択スイツチ５２，
５３によつて選択されたスケールの横軸データ、
縦軸データはそれぞれサンプルホールド回路５
４，５５によつてサンプルホールドされる。そし
てそのサンプルホールド回路５４，５５の出力
（アナログ出力）はＡ／Ｄ変換器５６，５７によ
つてデジタル信号に変換され、後述するようにイ
ンターフエース５８を介してデータ処理部（パー
ソナルコンピユータ）８に取込まれる。但しＡ／
Ｄ変換器５６，５７は常に動作するのではなく、
データ取込指令回路３５からのデータ取込指令信
号SDが入力された時のみ動作して、データ処理
部８でのデータ取込を可能とする。 The outputs of the horizontal axis data scale circuit group 48 and the vertical axis data scale circuit group 49 are sent to the sample hold circuit 5 via a horizontal axis scale selection switch 52 and a vertical axis scale selection switch 53, respectively.
4,55. The horizontal axis scale selection switch 52 and the vertical axis scale selection switch 53
The scale of the horizontal axis data and the scale of the vertical axis data are selected from the above-mentioned linear scale, log scale, ratio scale, and polarization degree scale, respectively, according to the control signal from the control unit 31. scale selection switch 52,
Horizontal axis data of the scale selected by 53,
Each vertical axis data is sampled and held by the sample hold circuit 5.
Sample and hold is carried out by 4 and 55. The outputs (analog outputs) of the sample and hold circuits 54 and 55 are converted into digital signals by A/D converters 56 and 57, and are sent to a data processing unit (personal computer) 8 via an interface 58 as described later. be taken into account. However, A/
The D converters 56 and 57 do not always operate,
It operates only when the data acquisition command signal SD from the data acquisition command circuit 35 is input, and enables the data processing section 8 to acquire data.

一方前記第１比較用データスケール回路群５０
および第２比較用データスケール回路群５１の出
力は、それぞれ第１比較用スケール選択スイツチ
５９および第２比較用スケール選択スイツチ６０
を経てサンプルホールド回路６１，６２に入力さ
れ、さらにそのサンプルホールド回路６１，６２
の出力はＡ／Ｄ変換器６３，６４に入力される。
前記第１比較用スケール選択スイツチ５９および
第２比較用スケール選択スイツチ６０は、データ
処理部８のウインドウ機能で判別するための第１
比較用データ、第２比較用データとしていずれの
スケールのデータを用いるかを選択するためのも
のであり、制御部３１からの制御信号によつて制
御される。前記Ａ／Ｄ変換器６３，６４の出力は
インターフエース５８を介してデータ処理部８に
入力される。 On the other hand, the first comparison data scale circuit group 50
The outputs of the second comparison data scale circuit group 51 are connected to the first comparison scale selection switch 59 and the second comparison scale selection switch 60, respectively.
is input to the sample and hold circuits 61 and 62 through the sample and hold circuits 61 and 62.
The outputs are input to A/D converters 63 and 64.
The first comparison scale selection switch 59 and the second comparison scale selection switch 60 are the first comparison scale selection switch 59 and the second comparison scale selection switch 60.
This is for selecting which scale of data is used as the comparison data and the second comparison data, and is controlled by a control signal from the control unit 31. The outputs of the A/D converters 63 and 64 are input to the data processing section 8 via an interface 58.

一方前記利得制御回路４２の出力は、粒子到来
判別回路３３へも加えられる。この粒子到来判別
回路３３は、利得制御回路４２の各検出器の出力
データのうちいずれの検出器からの出力を粒子到
来判別用の信号として用いるかを選択するための
信号選択スイツチ６５と、その信号選択スイツチ
６５で選択された信号と基準信号回路６６からの
所定レベルの基準信号SGとを比較する比較器６
７と、その比較器６７の出力が加えられる同期回
路６８とによつて構成されている。前記比較器６
７においては、信号選択スイツチ６５で選択され
た信号が基準信号SGのレベルよりも高い場合に
は粒子到来をあらわす信号が出力され、さらにそ
の信号が同期回路６８に入力されて、粒子到来タ
イミングの基準となる発振器６９からの同期信号
と同期がとられ、その同期をとられた信号が前記
粒子到来信号SBとして出力され、その粒子到来
信号SBが前記アンドゲート３４に加えられる。
またその粒子到来信号SBは、カウント回路７０
および近接粒子検知回路７１にも加えられる。カ
ウント回路７０は、粒子の到来個数を計数するた
めのものであり、粒子到来信号SBが入力される
たびごとにその信号をカウントする。また近接粒
子検知回路７１は、微小粒子が近接して到来した
こと、すなわち微小粒子がある間隔よりも短い間
隔で到来したことを検出するためのものであり、
この近接粒子検知回路７１において微小粒子が近
接して到来したことが検出された場合には、近接
粒子検知信号SHが出力されてその信号SHがキヤ
ンセル回路７２に加えられる。このキヤンセル回
路７２は、近接粒子検知信号SHが加えられた状
態で前記データ取込指令回路３５を無効にして、
データ取込指令信号SDを出力させないように制
御する。 On the other hand, the output of the gain control circuit 42 is also applied to the particle arrival determination circuit 33. This particle arrival determination circuit 33 includes a signal selection switch 65 for selecting the output from which of the output data of each detector of the gain control circuit 42 is to be used as a signal for determining particle arrival; A comparator 6 that compares the signal selected by the signal selection switch 65 with a reference signal SG of a predetermined level from a reference signal circuit 66.
7 and a synchronizing circuit 68 to which the output of the comparator 67 is added. The comparator 6
7, if the signal selected by the signal selection switch 65 is higher than the level of the reference signal SG, a signal indicating particle arrival is output, and this signal is further input to the synchronization circuit 68 to determine the particle arrival timing. It is synchronized with a synchronization signal from a reference oscillator 69, and the synchronized signal is output as the particle arrival signal SB, and the particle arrival signal SB is applied to the AND gate 34.
Further, the particle arrival signal SB is transmitted to the count circuit 70.
It is also added to the nearby particle detection circuit 71. The counting circuit 70 is for counting the number of arriving particles, and counts the particle arrival signal SB every time it is input. Further, the adjacent particle detection circuit 71 is for detecting that minute particles have arrived in close proximity, that is, that minute particles have arrived at an interval shorter than a certain interval,
When the nearby particle detection circuit 71 detects that a microparticle has arrived nearby, a nearby particle detection signal SH is output and the signal SH is applied to the cancel circuit 72. This cancel circuit 72 disables the data acquisition command circuit 35 when the nearby particle detection signal SH is applied.
Control so that the data acquisition command signal SD is not output.

前記制御部３１は、前記各スイツチ群４４〜４
７、各スイツチ５２，５３，５９，６０，６５お
よびホールド回路４３を制御するほか、インター
フエース７３を介して前記供給手段９の制御（例
えばモータＭやバルブ１６，１８，２３の制御）
を行なうとともに、その供給手段９の動作や状態
に応じ、またデータ処理部８でのウインドウ機能
による判別結果に応じ、インターフエース７３か
ら前述のアンドゲート３４の入力端に延びる制御
ゲート信号系路３２を介してデータ取込指令回路
３５の制御も行なう。 The control section 31 controls each of the switch groups 44 to 4.
7. In addition to controlling the switches 52, 53, 59, 60, 65 and the hold circuit 43, the supply means 9 is controlled via the interface 73 (for example, the motor M and the valves 16, 18, 23 are controlled)
At the same time, the control gate signal path 32 extending from the interface 73 to the input end of the AND gate 34 is controlled according to the operation and state of the supply means 9 and the determination result by the window function in the data processing section 8. The data retrieval command circuit 35 is also controlled via.

第２図に示される実施例においては、各検出器
PM１〜PM４、PDからの検出信号のピーク値も
しくは面積値がホールド回路４３によつて選択さ
れ、そしてそのホールド回路４３において選択さ
れた検出データのうちいずれの検出器のデータを
スケール回路群４８，４９の各スケール回路に与
えるかが横軸データ選択スイツチ群４４および縦
軸データ選択スイツチ群４５によつて選択され、
さらにスケール回路群４８，４９の各スケール回
路の出力のうちいずれのスケールのデータを横軸
データ、縦軸データとして用いるかがスケール選
択スイツチ５２，５３によつて選択される。そし
てこのようにして選択された横軸データ、縦軸デ
ータがサンプルホールドされてＡ／Ｄ変換器５
６，５７に加えられる。 In the embodiment shown in FIG.
The peak value or area value of the detection signals from PM1 to PM4 and PD is selected by the hold circuit 43, and the scale circuit group 48, 49 scale circuits is selected by a horizontal axis data selection switch group 44 and a vertical axis data selection switch group 45,
Further, scale selection switches 52 and 53 select which scale of the output of each scale circuit in scale circuit groups 48 and 49 is to be used as horizontal axis data and vertical axis data. Then, the horizontal axis data and vertical axis data selected in this way are sampled and held and sent to the A/D converter 5.
6,57.

一方ホールド回路４３から出力される各検出器
の出力信号のピーク値または面積値のデータのう
ちいずれの検出器のデータを第１比較用データ、
第２比較用データとして用いるかが第１比較用デ
ータ選択スイツチ群４６、第２比較用データ選択
スイツチ群４７によつて選択され、さらにそれら
のデータがリニヤスケール、ログスケールに変換
された後、各一方のスケールが第１比較用スケー
ル選択スイツチ５９、第２比較用スケール選択ス
イツチ６０により選択され、さらにサンプルホー
ルド回路６１，６２によりサンプルホールドされ
た後、Ａ／Ｄ変換器６３，６４によつてデジタル
信号に変換され、インターフエース５８を介して
データ処理部８に入力される。そしてこれらの比
較用データが予め設定した範囲（ウインドウ）内
にあるか否かが判別される。 On the other hand, among the peak value or area value data of the output signal of each detector outputted from the hold circuit 43, the data of any detector is used as the first comparison data.
The data to be used as the second comparison data is selected by the first comparison data selection switch group 46 and the second comparison data selection switch group 47, and after the data is converted into linear scale and log scale, One of the scales is selected by the first comparison scale selection switch 59 and the second comparison scale selection switch 60, and is further sampled and held by the sample and hold circuits 61 and 62, and then by the A/D converters 63 and 64. The signal is then converted into a digital signal and input to the data processing section 8 via the interface 58. Then, it is determined whether these comparison data are within a preset range (window).

また利得制御回路４２から出力される利得制御
済みの各検出器のいずれかの出力が粒子到来判別
回路３３の選択スイツチ６５によつて選択されて
比較器６７に入力され、その比較器６７において
あるレベル以上であること、すなわち微小粒子の
検出によるデータレベルであることが判別され
る。換言すれば微小粒子を含まない液体のみの信
号やノイズによる信号ではないことが判別され
る。そしてその比較器６７の出力は同期回路６８
によつて同期がとられ、粒子到来信号SBとして
アンドゲート３４の入力端に加えられる。 Further, the output of one of the gain-controlled detectors outputted from the gain control circuit 42 is selected by the selection switch 65 of the particle arrival determination circuit 33 and inputted to the comparator 67. It is determined that the level is higher than the level, that is, the data level is determined by the detection of microparticles. In other words, it is determined that the signal is not a signal only from liquid that does not contain microparticles or a signal due to noise. The output of the comparator 67 is output from the synchronous circuit 68.
The signal is synchronized by , and is applied to the input terminal of the AND gate 34 as a particle arrival signal SB.

そして既に述べたように供給手段９の状態が検
出データの取込みを行なうに適した時期、例えば
第５図の適正領域２８の期間内の時期にあること
が制御部３１において認識され、しかも前記各比
較用データが予め設定したウインドウ内にあるこ
とがデータ処理部８で判別されれば、制御ゲート
信号SAが制御部３１から出力され、制御ゲート
信号系路３２を経てアンドゲート３４の入力端に
加えられる。 As already mentioned, the control section 31 recognizes that the state of the supply means 9 is at a time suitable for capturing the detection data, for example, within the period of the appropriate region 28 in FIG. If the data processing unit 8 determines that the comparison data is within a preset window, the control gate signal SA is output from the control unit 31 and sent to the input terminal of the AND gate 34 via the control gate signal path 32. Added.

結局、供給手段９の状態が検出データの取込み
に適した時期にあつて、しかもデータが所定の範
囲内にあり、かつその検出データが微小粒子の到
来によるものであるときにはじめてアンドゲート
３４の入力が揃い、そのアンドゲート３４の出力
によつてデータ取込指令回路３５がデータ取込指
令信号SDを出力し、そのデータ取込指令信号SD
によつてＡ／Ｄ変換器５６，５７が動作状態とな
り、それらのＡ／Ｄ変換器５６，５７に加えられ
た検出データ（横軸データおよび縦軸データ）が
Ａ／Ｄ変換され、インターフエース５８を介して
データ処理部８に取込まれて、そのデータが処理
されて微小粒子が分析される。例えば横軸デー
タ、縦軸データによつて定まるサイトグラム上の
点が予め定めた領域の内側か外側かが判別されて
微小粒子の種類、性状などが分析される。 After all, the AND gate 34 is activated only when the state of the supply means 9 is at a time suitable for taking in the detected data, when the data is within a predetermined range, and when the detected data is due to the arrival of microparticles. When the inputs are aligned, the data acquisition command circuit 35 outputs the data acquisition command signal SD according to the output of the AND gate 34, and the data acquisition command signal SD
The A/D converters 56 and 57 are brought into operation, and the detected data (horizontal axis data and vertical axis data) applied to these A/D converters 56 and 57 is A/D converted, and the interface The data is input to the data processing unit 8 via the data processing unit 58, and the data is processed to analyze the microparticles. For example, it is determined whether a point on the cytogram determined by the horizontal axis data and the vertical axis data is inside or outside a predetermined area, and the type, properties, etc. of the microparticles are analyzed.

なお２個以上の微小粒子が近接して到来する場
合、後続の微小粒子に関しては近接粒子検知回路
７１から近接粒子検知信号SHがキヤンセル回路
７２に与えられて、データ取込指令回路３５から
データ取込信号SDが出力されなくなり、これに
より近接する後続粒子についての検出データはデ
ータ処理部８に取込まれないことになる。 Note that when two or more microparticles arrive close to each other, for the subsequent microparticles, the proximity particle detection signal SH is given from the proximity particle detection circuit 71 to the cancel circuit 72, and data acquisition is performed from the data acquisition command circuit 35. The input signal SD is no longer output, and as a result, the data processing unit 8 does not receive the detection data regarding the subsequent particles that are close to each other.

なおまた、試料やシース液を供給するための供
給手段９において、管路の洗浄を行なう場合、す
なわち試料をループインジエクタの保持ループに
吸引保持させる工程およびその保持ループ内の試
料をフローセルに注入する工程が終了した後、管
路にシース液やあるいは純水等の洗浄液を流す洗
浄工程を行なう場合でも、装置全体の動作は停止
させずに、フローセルに試料を注入する時期（あ
るいはその時期のうちでもさらに前述のような適
正領域２８にある時期）のみにおいて検出データ
の取込みを行なわせ得ることは勿論である。 Furthermore, in the supply means 9 for supplying the sample and sheath liquid, when cleaning the pipe line, that is, the process of sucking and holding the sample into the holding loop of the loop injector and injecting the sample in the holding loop into the flow cell. After the process of injecting the sample into the flow cell, even if a cleaning process is performed in which sheath liquid or cleaning liquid such as pure water is flowed into the pipe, the operation of the entire device is not stopped. Of course, it is also possible to capture the detection data only during the period in the appropriate region 28 as described above.

発明の効果 この発明の微小粒子分析装置によれば、各部の
動作を制御する制御部からデータ取込指令回路ま
で制御ゲート信号系路を設けることによつて、試
料やシース液を供給するための供給手段などの各
部の動作や状態に応じてデータ処理部に対するデ
ータの取込みを制御することができ、したがつて
分析精度を低下させるおそれがある領域での検出
データを取込まずに分析精度を向上させたり、あ
るいは測定を停止させることなく洗浄等の操作を
行なうことができ、したがつて分析精度の向上が
図れるとともに、多種類、多数の試料に対する連
続自動処理を可能にする等の種々の効果が得られ
る。Effects of the Invention According to the microparticle analyzer of the present invention, by providing a control gate signal path from the control section that controls the operation of each section to the data acquisition command circuit, it is possible to It is possible to control the data input to the data processing unit according to the operation and status of each part such as the supply means, thereby improving analysis accuracy without incorporating detected data in areas where there is a risk of reducing analysis accuracy. It is possible to perform operations such as cleaning without stopping the measurement, thereby improving analytical accuracy, and enabling continuous automatic processing of many types and samples. Effects can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図はこの発明の一実施例の微小粒子分析装
置の電気的回路部分を示すブロツク図、第２図は
第１図の回路をさらに具体化した例を示すブロツ
ク図、第３図は従来の一般的な微小粒子分析装置
の一例を示す略解図、第４図はこの発明に先行し
て提案されている微小粒子分析装置の供給手段を
示す略解図、第５図は第４図の供給手段を用いた
場合のフローセルに対する試料の注入状況の時間
的経過を示す模式図である。 １…不活性液（シース液）、２…フローセル、
３…試料、４…レーザー光源、５，６，PM１〜
PM４，PD…検出器、７…検出部、８…データ
処理部、９…供給手段、１０…ループインジエク
タ、１１…保持ループ、３１…制御部、３２…制
御ゲート信号系路、３３…粒子到来判別回路、３
５…データ取込指令回路、SA…制御ゲート信号、
SB…粒子到来信号。 Fig. 1 is a block diagram showing the electrical circuit portion of a microparticle analyzer according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing a further embodiment of the circuit shown in Fig. 1, and Fig. 3 is a conventional one. 4 is a schematic diagram showing an example of a general microparticle analyzer, and FIG. 4 is a schematic diagram showing a supply means of a microparticle analyzer proposed prior to this invention. FIG. FIG. 3 is a schematic diagram showing the time course of sample injection into a flow cell when the method is used. 1... Inert liquid (sheath liquid), 2... Flow cell,
3...Sample, 4...Laser light source, 5, 6, PM1~
PM4, PD...Detector, 7...Detection unit, 8...Data processing unit, 9...Supplying means, 10...Loop injector, 11...Holding loop, 31...Control unit, 32...Control gate signal path, 33...Particle Arrival determination circuit, 3
5...Data acquisition command circuit, SA...Control gate signal,
SB…Particle arrival signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 １ 微小粒子が懸濁された試料とシース液として
の不活性液とが供給されるフローセルと、 前記不活性液をフローセル内に供給するととも
に、その不活性液によるシース流の中心軸位置に
前記試料液を注入してシース液と試料液との層流
を形成するための供給手段と、 前記層流状態の試料にレーザー光を照射するた
めのレーザー光源と、 前記レーザー光による微小粒子の散乱光およ
び／または蛍光を検出するための検出部と、 前記検出部から得られた検出データを処理して
前記微小粒子の性状を分析するためのデータ処理
部と、 各部の動作を制御するための制御部とを有して
なる微小粒子分析装置において、 前記データ処理部における検出データの取込を
指令するデータ取込指令回路と、 前記検出部から出力されたデータが微小粒子の
到来によるものであることを判別する粒子到来判
別回路と、 前記制御部からデータ取込指令回路に至る制御
ゲート信号系路とを設け、 前記粒子到来判別回路からの粒子到来信号と制
御部からの制御ゲート信号とがデータ取込指令回
路に入力された状態でそのデータ取込指令回路が
データの取込を指令するように構成したことを特
徴とする微小粒子分析装置。 ２ 前記制御部が、前記供給手段の動作を制御す
る機能を有する構成とされている特許請求の範囲
第１項記載の微小粒子分析装置。[Scope of Claims] 1. A flow cell to which a sample in which microparticles are suspended and an inert liquid as a sheath liquid are supplied, and the inert liquid is supplied into the flow cell and a sheath flow caused by the inert liquid is provided. a supply means for injecting the sample liquid into a central axis position of the sheath liquid and the sample liquid to form a laminar flow of the sheath liquid and the sample liquid; a laser light source for irradiating the sample in the laminar flow state with a laser beam; and the laser. a detection unit for detecting scattered light and/or fluorescence of microparticles caused by light; a data processing unit for processing detection data obtained from the detection unit to analyze the properties of the microparticles; A microparticle analyzer comprising: a control unit for controlling operation; a data acquisition command circuit for instructing the data processing unit to acquire detection data; A particle arrival determination circuit that determines whether the particle arrival is due to the arrival of a particle, and a control gate signal path from the control section to the data acquisition command circuit are provided, and the particle arrival determination circuit from the particle arrival determination circuit and the control section are provided. 1. A microparticle analyzer characterized in that the data acquisition command circuit is configured to instruct data acquisition when a control gate signal from the data acquisition command circuit is inputted to the data acquisition command circuit. 2. The microparticle analyzer according to claim 1, wherein the control section has a function of controlling the operation of the supply means.