JPH04346052A - 引張試験片の絞り測定方法及び装置 - Google Patents
引張試験片の絞り測定方法及び装置Info
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- JPH04346052A JPH04346052A JP12024391A JP12024391A JPH04346052A JP H04346052 A JPH04346052 A JP H04346052A JP 12024391 A JP12024391 A JP 12024391A JP 12024391 A JP12024391 A JP 12024391A JP H04346052 A JPH04346052 A JP H04346052A
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- 238000009864 tensile test Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 17
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 12
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 235000013361 beverage Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、鋼板の引張試験途中
での引張試験片の平行部の絞り値測定、特に絞り位置を
判定しながら絞り値を測定する引張試験片の絞り値測定
方法および装置に関する。
での引張試験片の平行部の絞り値測定、特に絞り位置を
判定しながら絞り値を測定する引張試験片の絞り値測定
方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】鋼板の引張試験に使用する引張試験片は
、JISや各船級協会等の規格により形状寸法が定めら
れている。このような引張試験片の種類は、大別して丸
棒型と平板型に分けられる。鋼板の引張試験は、ほとん
ど平板型の試験片を用いて行なわれるが、鋼板の板厚が
厚くて平板型の試験片を用いると、引張荷重が試験機の
容量を超えるような場合には丸棒型が用いられる。
、JISや各船級協会等の規格により形状寸法が定めら
れている。このような引張試験片の種類は、大別して丸
棒型と平板型に分けられる。鋼板の引張試験は、ほとん
ど平板型の試験片を用いて行なわれるが、鋼板の板厚が
厚くて平板型の試験片を用いると、引張荷重が試験機の
容量を超えるような場合には丸棒型が用いられる。
【0003】鋼板の引張試験においては、引張強さや耐
力値等の測定の外に、必要に応じて試験片破断時の試験
片の絞り量(断面積減少量)の測定を要求される。
力値等の測定の外に、必要に応じて試験片破断時の試験
片の絞り量(断面積減少量)の測定を要求される。
【0004】また、自動車の車体や飲料缶等のように、
薄鋼板を絞り加工して造る材料の絞り性を評価する試験
として、ランクフォード試験がある。ランクフォード試
験は、薄鋼板から試験片の長手方向が圧延方向、圧延方
向と直角方向および圧延方向に対して45度方向になる
ような3種類の引張試験片を採取し、この3種類の引張
試験片を用いて引張試験を行なう。そして、例えば標点
間距離を20mmとして、前記標点間距離が20%伸び
たときのそれぞれの引張試験片の平行部の幅A0の幅減
少後の幅Aを測定し、絞り(φ、%)を(1)式により
求めるものである。 φ={(A0−A)/A}×100…………(1)
薄鋼板を絞り加工して造る材料の絞り性を評価する試験
として、ランクフォード試験がある。ランクフォード試
験は、薄鋼板から試験片の長手方向が圧延方向、圧延方
向と直角方向および圧延方向に対して45度方向になる
ような3種類の引張試験片を採取し、この3種類の引張
試験片を用いて引張試験を行なう。そして、例えば標点
間距離を20mmとして、前記標点間距離が20%伸び
たときのそれぞれの引張試験片の平行部の幅A0の幅減
少後の幅Aを測定し、絞り(φ、%)を(1)式により
求めるものである。 φ={(A0−A)/A}×100…………(1)
【0
005】従来、引張試験片の絞り量を測定する技術とし
ては、特開平2ー103442号公報に開示されている
技術がある。この技術は、図9に示すように、レーザ外
径測定部56の投光部57aより、試験片51の平行部
に試験片の長手方向と直交する方向にスイープするレー
ザビームの平行光線を照射し、試験片51を透過してき
たレーザ光線を受光部57bにより受光し、複数の画素
の各画素毎の輝度を、輝度の大きさに対応した電気信号
に変換させてコントローラ部58に送り、コントローラ
部58では受信した電気信号から影が生じている時間の
長さを演算し、この時間の長さを基に試験片51の平行
部の長手方向の任意位置における幅または外径を演算す
る。
005】従来、引張試験片の絞り量を測定する技術とし
ては、特開平2ー103442号公報に開示されている
技術がある。この技術は、図9に示すように、レーザ外
径測定部56の投光部57aより、試験片51の平行部
に試験片の長手方向と直交する方向にスイープするレー
ザビームの平行光線を照射し、試験片51を透過してき
たレーザ光線を受光部57bにより受光し、複数の画素
の各画素毎の輝度を、輝度の大きさに対応した電気信号
に変換させてコントローラ部58に送り、コントローラ
部58では受信した電気信号から影が生じている時間の
長さを演算し、この時間の長さを基に試験片51の平行
部の長手方向の任意位置における幅または外径を演算す
る。
【0006】駆動部59は、制御部61の指令により投
受光ユニット57を、試験片51の平行部の範囲で往復
移動させるようになっているので、測定部56は試験片
51の平行部の長手方向の各位置における幅または直径
を連続的に測定する。制御部61は、ユニット57を初
期は試験片51の全平行部間を、ある程度のくびれが生
じた後は、くびれ部内で往復運動をさせる。そして、演
算部60では、測定部56により最小直径値が検出され
る度にその値を記憶し、試験片破断後の最小値と、試験
前の試験片直径値とから絞り値が算出される。
受光ユニット57を、試験片51の平行部の範囲で往復
移動させるようになっているので、測定部56は試験片
51の平行部の長手方向の各位置における幅または直径
を連続的に測定する。制御部61は、ユニット57を初
期は試験片51の全平行部間を、ある程度のくびれが生
じた後は、くびれ部内で往復運動をさせる。そして、演
算部60では、測定部56により最小直径値が検出され
る度にその値を記憶し、試験片破断後の最小値と、試験
前の試験片直径値とから絞り値が算出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のように特開平2
ー103442号公報開示の技術により絞りを測定しよ
うとすると、投受光ユニット全体を試験片の全平行部間
あるいはくびれ部内で往復移動させなければならないの
で、そのための駆動部が必要となり、装置の構造が大が
かりとなるという問題点がある。
ー103442号公報開示の技術により絞りを測定しよ
うとすると、投受光ユニット全体を試験片の全平行部間
あるいはくびれ部内で往復移動させなければならないの
で、そのための駆動部が必要となり、装置の構造が大が
かりとなるという問題点がある。
【0008】また、投受光ユニットの往復駆動によって
試験機に振動が発生し、引張試験の荷重、伸びデータの
測定に影響を及ぼす可能性がある。さらには、試験片の
くびれ部は破断直前にくびれの進行速度が最大となるが
、投受光ユニットの往復移動の速度は10mm/sまた
は20mm/sと原理上高速にはできないため、試験片
の破断の瞬間のくびれ部の最小値を必ずしも検出するこ
とはできないので、絞り値の測定に誤差が生じるという
問題点がある。
試験機に振動が発生し、引張試験の荷重、伸びデータの
測定に影響を及ぼす可能性がある。さらには、試験片の
くびれ部は破断直前にくびれの進行速度が最大となるが
、投受光ユニットの往復移動の速度は10mm/sまた
は20mm/sと原理上高速にはできないため、試験片
の破断の瞬間のくびれ部の最小値を必ずしも検出するこ
とはできないので、絞り値の測定に誤差が生じるという
問題点がある。
【0009】この発明は、従来技術の上記のような問題
点を解消し、簡単な設備で他の引張試験値に悪影響を及
ぼさないで、正確な絞りが測定できる引張試験片の絞り
値測定方法および装置を提供することを目的としている
。
点を解消し、簡単な設備で他の引張試験値に悪影響を及
ぼさないで、正確な絞りが測定できる引張試験片の絞り
値測定方法および装置を提供することを目的としている
。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係る引張試験
片の絞り値測定方法は、引張試験中の引張試験片の絞り
を測定する方法において、この引張試験片の平行部に平
行部と直交する方向から試験片の長手方向および幅方向
にスイープさせたレーザ光を照射し、この照射したレー
ザ光のうちの引張試験片を透過したレーザ光を、引張試
験片を挟んでレーザ光を照射した側とは反対側に設けた
CCDカメラで受光し、このCCDカメラで受光した画
素毎の輝度信号を画像演算処理装置に送り、この画像演
算処理装置により引張試験片の絞り位置および絞りを演
算するものである。
片の絞り値測定方法は、引張試験中の引張試験片の絞り
を測定する方法において、この引張試験片の平行部に平
行部と直交する方向から試験片の長手方向および幅方向
にスイープさせたレーザ光を照射し、この照射したレー
ザ光のうちの引張試験片を透過したレーザ光を、引張試
験片を挟んでレーザ光を照射した側とは反対側に設けた
CCDカメラで受光し、このCCDカメラで受光した画
素毎の輝度信号を画像演算処理装置に送り、この画像演
算処理装置により引張試験片の絞り位置および絞りを演
算するものである。
【0011】また、この発明に係る引張試験片の絞り値
測定装置は、引張試験片の平行部に平行部と直交する方
向から試験片の長手方向および幅方向にスイープさせた
レーザー光を照射するレーザー光照射装置と、このレー
ザー光照射装置により照射されたレーザー光のうちの引
張試験片を透過したレーザー光を、引張試験片を挟んで
レーザー光を照射した側とは反対側で受光するCCDカ
メラと、このCCDカメラで受光した画素毎の輝度信号
を受け画像演算処理をする画像演算処理装置とからなる
ものである。
測定装置は、引張試験片の平行部に平行部と直交する方
向から試験片の長手方向および幅方向にスイープさせた
レーザー光を照射するレーザー光照射装置と、このレー
ザー光照射装置により照射されたレーザー光のうちの引
張試験片を透過したレーザー光を、引張試験片を挟んで
レーザー光を照射した側とは反対側で受光するCCDカ
メラと、このCCDカメラで受光した画素毎の輝度信号
を受け画像演算処理をする画像演算処理装置とからなる
ものである。
【0012】
【作用】引張試験片の平行部に平行部と直交する方向か
ら、試験片の長手方向および幅方向にスイープさせたレ
ーザ光の平行光を照射すると、引張試験片を挟んで平行
光の照射側に対向する位置に引張試験片の平行部の影が
形成される。この影をCCDカメラで撮影し得られた画
像から影の部分のみを抽出することによって引張試験編
の平行部の全長にわたってのプロフィールデータを得る
ことができる。そして、このプロフィールデータから、
引張試験片の平行部の長さ方向の幅分布を知ることがで
き、この幅分布から平行部の幅が最小となる位置と幅寸
法を求めることができる。
ら、試験片の長手方向および幅方向にスイープさせたレ
ーザ光の平行光を照射すると、引張試験片を挟んで平行
光の照射側に対向する位置に引張試験片の平行部の影が
形成される。この影をCCDカメラで撮影し得られた画
像から影の部分のみを抽出することによって引張試験編
の平行部の全長にわたってのプロフィールデータを得る
ことができる。そして、このプロフィールデータから、
引張試験片の平行部の長さ方向の幅分布を知ることがで
き、この幅分布から平行部の幅が最小となる位置と幅寸
法を求めることができる。
【0013】
【実施例】本発明の一実施例を図面を参照しながら説明
する。図1は引張試験片の絞り測定装置の構成図、図2
は引張試験片の平行部に照射するレーザ光の照射範囲を
示す説明図である。引張試験片1の平行部に、レーザ投
光器2から引張試験片1の幅方向および長手方向にスイ
ープさせたレーザ光を、図2の点線の範囲1aに照射し
、引張試験片1を挟んで対向させて設置したCCDカメ
ラ3で透過光を受光する。CCDカメラ3の画像は、画
像演算装置4に送られ、画像演算することによって引張
試験片の平行部のプロフィールを測定し、前記プロフィ
ールデータから絞り量を演算する。
する。図1は引張試験片の絞り測定装置の構成図、図2
は引張試験片の平行部に照射するレーザ光の照射範囲を
示す説明図である。引張試験片1の平行部に、レーザ投
光器2から引張試験片1の幅方向および長手方向にスイ
ープさせたレーザ光を、図2の点線の範囲1aに照射し
、引張試験片1を挟んで対向させて設置したCCDカメ
ラ3で透過光を受光する。CCDカメラ3の画像は、画
像演算装置4に送られ、画像演算することによって引張
試験片の平行部のプロフィールを測定し、前記プロフィ
ールデータから絞り量を演算する。
【0014】図3はレーザ投光器2の構造を説明する説
明図、図4はレーザ光を引張試験片1の幅方向および長
手方向にスイープさせる方法を示す説明図である。レー
ザ投光器2のレーザ発信器21から照射したレーザビー
ム光21aは、多角形回転ミラー22で反射し、前記多
角形回転ミラー22の回転に伴って、図4のように試験
片の長手方向(垂直方向)にスイープする。さらに試験
片の長手方向にスイープしたレーザ光21aは、多角形
回転ミラー23で反射し、前記多角形回転ミラー23の
回転に伴って、図4のように試験片の幅方向(水平方向
)にスイープする。例えば多角形回転ミラー22の面数
を8面で、その回転数を2400rpmとし、多角形回
転ミラー23の面数を8面で、その回転数を60rpm
とするとレーザ光25の投光範囲において、その水平方
向に60回レーザビーム21aをスイープさせる間に垂
直方向に1回スイープする。これを1秒間に8回繰り返
す。
明図、図4はレーザ光を引張試験片1の幅方向および長
手方向にスイープさせる方法を示す説明図である。レー
ザ投光器2のレーザ発信器21から照射したレーザビー
ム光21aは、多角形回転ミラー22で反射し、前記多
角形回転ミラー22の回転に伴って、図4のように試験
片の長手方向(垂直方向)にスイープする。さらに試験
片の長手方向にスイープしたレーザ光21aは、多角形
回転ミラー23で反射し、前記多角形回転ミラー23の
回転に伴って、図4のように試験片の幅方向(水平方向
)にスイープする。例えば多角形回転ミラー22の面数
を8面で、その回転数を2400rpmとし、多角形回
転ミラー23の面数を8面で、その回転数を60rpm
とするとレーザ光25の投光範囲において、その水平方
向に60回レーザビーム21aをスイープさせる間に垂
直方向に1回スイープする。これを1秒間に8回繰り返
す。
【0015】このように上下左右にスイープするレーザ
光25は、レンズ24を通して図4のように平行光21
bに変換される。前記平行光21bは、引張試験片1の
平行部に照射され、図2の照射範囲1aの中で引張試験
片1の平行部で遮光されない範囲の透過光が、図1にお
けるCCDカメラ3で受光される。CCDカメラ3の受
光素子は、例えば水平方向×垂直方向の画素数が102
4×1024画素で構成された画像を形成させる。前記
受光素子からの画像信号は、出力回路を通して各画素そ
れぞれについての位置と濃淡レベルの画像データとして
、レーザビーム光21aの照射範囲で、レーザビーム2
1aが垂直方向に1回スイープする間に1回画像演算装
置3から出力される。
光25は、レンズ24を通して図4のように平行光21
bに変換される。前記平行光21bは、引張試験片1の
平行部に照射され、図2の照射範囲1aの中で引張試験
片1の平行部で遮光されない範囲の透過光が、図1にお
けるCCDカメラ3で受光される。CCDカメラ3の受
光素子は、例えば水平方向×垂直方向の画素数が102
4×1024画素で構成された画像を形成させる。前記
受光素子からの画像信号は、出力回路を通して各画素そ
れぞれについての位置と濃淡レベルの画像データとして
、レーザビーム光21aの照射範囲で、レーザビーム2
1aが垂直方向に1回スイープする間に1回画像演算装
置3から出力される。
【0016】図5はCCDカメラ3の受光素子の受光状
況を示した説明図である。引張試験片1で遮光された受
光領域と、引張試験片1で遮光されない受光領域は、そ
れぞれにほぼ均一な輝度レベルである。引張試験片1で
遮光された受光領域と引張試験片1で遮光されない受光
領域の境界には、遮光された受光領域および遮光されな
い受光領域とは共に異なる輝度レベルの画素がXi方向
に2ケ所存在する。この状況は、図6のYm(試験片の
長手方向の任意の位置)の画素位置におけるXi方向(
試験片の幅方向)の受光レベルの分布から明かである。
況を示した説明図である。引張試験片1で遮光された受
光領域と、引張試験片1で遮光されない受光領域は、そ
れぞれにほぼ均一な輝度レベルである。引張試験片1で
遮光された受光領域と引張試験片1で遮光されない受光
領域の境界には、遮光された受光領域および遮光されな
い受光領域とは共に異なる輝度レベルの画素がXi方向
に2ケ所存在する。この状況は、図6のYm(試験片の
長手方向の任意の位置)の画素位置におけるXi方向(
試験片の幅方向)の受光レベルの分布から明かである。
【0017】図7はCCDカメラの受光素子のXn,Y
mの画素に着目した受光状況を示す説明図である。画素
11の全面積に対し、部分的に引張試験片1の遮光部1
2が存在するため、前記画素11の全面積と遮光部12
の面積の比率で受光レベルが低下するものと考えられる
。 前記境界の画素11の遮光部12の幅xは、図7の受光
レベルを、遮光されない受光領域をS0、遮光された受
光領域をS1、境界をSX とし、画素11の幅をwと
したとき、次の(2)式で求められる。 x={(SX−S1)/(S0−S1)}×w
…………(2)
mの画素に着目した受光状況を示す説明図である。画素
11の全面積に対し、部分的に引張試験片1の遮光部1
2が存在するため、前記画素11の全面積と遮光部12
の面積の比率で受光レベルが低下するものと考えられる
。 前記境界の画素11の遮光部12の幅xは、図7の受光
レベルを、遮光されない受光領域をS0、遮光された受
光領域をS1、境界をSX とし、画素11の幅をwと
したとき、次の(2)式で求められる。 x={(SX−S1)/(S0−S1)}×w
…………(2)
【0018】図8は画像演算装置4の機
能構成図である。検出器2から送られた画像データは、
画像受信部に取り込まれ、2値化処理部42に送られる
。前記2値化処理部32では、図2の引張試験片1で遮
光された範囲と透過光の受光範囲との境界の画素の位置
データおよび輝度データと、前記引張試験片1で遮光さ
れた範囲の平均輝度データと、透過光受光範囲の平均輝
度データを境界抽出部43に送るとともに、あらかじめ
設定部47で設定された2値化しきい値で2値化画像に
変換された画像データ、例えば図2の引張試験片1で遮
光された範囲を黒レベル、透過光の受光範囲を白レベル
とした画像データが画像バッファー44に送られる。
能構成図である。検出器2から送られた画像データは、
画像受信部に取り込まれ、2値化処理部42に送られる
。前記2値化処理部32では、図2の引張試験片1で遮
光された範囲と透過光の受光範囲との境界の画素の位置
データおよび輝度データと、前記引張試験片1で遮光さ
れた範囲の平均輝度データと、透過光受光範囲の平均輝
度データを境界抽出部43に送るとともに、あらかじめ
設定部47で設定された2値化しきい値で2値化画像に
変換された画像データ、例えば図2の引張試験片1で遮
光された範囲を黒レベル、透過光の受光範囲を白レベル
とした画像データが画像バッファー44に送られる。
【0019】前記画像バッファー44の2値化画像デー
タは、演算部45に送られる。前記演算部45では、境
界抽出部43からの境界部の輝度レベルと、前記引張試
験片1で遮光された範囲の平均輝度データと、透過光受
光範囲の平均輝度データから、引張試験片1で遮光され
た範囲と透過光の受光範囲との境界のXi方向2ケ所の
画素に対して、前述の計算方法によってそれぞれの遮光
幅XRおよびXL(XRは右側の遮光幅、XLは左側の
遮光幅)を求める。そして前記遮光幅XRおよびXLと
前記境界の画素に隣接する黒レベルの画素数Nの幅N・
wに視野の大きさの重みkをかけることにより、引張試
験片1の平行部のYj 方向の任意の位置の幅Wを(
3)式で求める。 W=k・(N・w+XR+XL)…………(3)
タは、演算部45に送られる。前記演算部45では、境
界抽出部43からの境界部の輝度レベルと、前記引張試
験片1で遮光された範囲の平均輝度データと、透過光受
光範囲の平均輝度データから、引張試験片1で遮光され
た範囲と透過光の受光範囲との境界のXi方向2ケ所の
画素に対して、前述の計算方法によってそれぞれの遮光
幅XRおよびXL(XRは右側の遮光幅、XLは左側の
遮光幅)を求める。そして前記遮光幅XRおよびXLと
前記境界の画素に隣接する黒レベルの画素数Nの幅N・
wに視野の大きさの重みkをかけることにより、引張試
験片1の平行部のYj 方向の任意の位置の幅Wを(
3)式で求める。 W=k・(N・w+XR+XL)…………(3)
【00
20】(3)式同様に演算部45における以上の処理を
、Yj方向に繰り返すことによって、引張試験片1の平
行部全体の幅プロフィールが得られる。そして演算部4
5は前記幅プロフィールから引張試験片1の平行部の幅
の最小値を、絞り値として画像出力部46に出力すると
ともに、アナログあるいはデイジタル信号を外部に出力
する。画像出力部46は、画像受信部41の生画像ある
いは画像バッファー44の2値画像と絞り値を、文字デ
ータとしてモニタ出力する。設定部47は、2値化処理
部42への2値化しきい値の設定と、画像出力部46へ
の生画像あるいは2値画像の出力切り替え設定と、引張
試験片1の伸び信号入力から、結果出力タイミングを決
定し、演算部45に指令を与える。同期部48は、画像
演算装置4の各部の処理が同期して動作するように、各
部に同一の同期信号を送るものである。
20】(3)式同様に演算部45における以上の処理を
、Yj方向に繰り返すことによって、引張試験片1の平
行部全体の幅プロフィールが得られる。そして演算部4
5は前記幅プロフィールから引張試験片1の平行部の幅
の最小値を、絞り値として画像出力部46に出力すると
ともに、アナログあるいはデイジタル信号を外部に出力
する。画像出力部46は、画像受信部41の生画像ある
いは画像バッファー44の2値画像と絞り値を、文字デ
ータとしてモニタ出力する。設定部47は、2値化処理
部42への2値化しきい値の設定と、画像出力部46へ
の生画像あるいは2値画像の出力切り替え設定と、引張
試験片1の伸び信号入力から、結果出力タイミングを決
定し、演算部45に指令を与える。同期部48は、画像
演算装置4の各部の処理が同期して動作するように、各
部に同一の同期信号を送るものである。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の引張試験
片の絞り測定方法及びその装置においては、引張試験中
の引張試験片の平行部のプロフィールから非接触で瞬時
に絞り位置が確実に特定でき、かつ精度良く絞り値が測
定できるので測定値の信頼性が高い。
片の絞り測定方法及びその装置においては、引張試験中
の引張試験片の平行部のプロフィールから非接触で瞬時
に絞り位置が確実に特定でき、かつ精度良く絞り値が測
定できるので測定値の信頼性が高い。
【0022】しかも本装置は静止状態で測定ができるの
で、引張試験の荷重、伸びの測定に影響を与えることは
ない。本装置に対し、引張試験機の制御信号で測定タイ
ミング等をコントロールすれば、絞り測定を含む試験作
業が全自動化できる。
で、引張試験の荷重、伸びの測定に影響を与えることは
ない。本装置に対し、引張試験機の制御信号で測定タイ
ミング等をコントロールすれば、絞り測定を含む試験作
業が全自動化できる。
【0023】さらには、ランクフォード試験において、
評点間距離が20%伸びた絞り測定のタイミングで引張
試験を停止させる必要がないので、従来ランクフォード
試験用の試験片と引張試験用の試験片を別々に作成して
いたのを、本装置を採用することによって共用すること
ができ、試験片の加工本数と試験本数を減らすことがで
きる。
評点間距離が20%伸びた絞り測定のタイミングで引張
試験を停止させる必要がないので、従来ランクフォード
試験用の試験片と引張試験用の試験片を別々に作成して
いたのを、本装置を採用することによって共用すること
ができ、試験片の加工本数と試験本数を減らすことがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】引張試験片の絞り測定装置の構成図である。
【図2】引張試験片の平行部に照射するレーザ光の照射
範囲を示す説明図である。
範囲を示す説明図である。
【図3】レーザ投光器の構造を示す説明図である。
【図4】レーザ光を3次元振動させ照射する過程を示す
説明図である。
説明図である。
【図5】CCDカメラの受光素子の受光状況を示す説明
図である。
図である。
【図6】受光素子のYj方向の画素位置YmにおけるX
i方向の受光レベルを示す説明図である。
i方向の受光レベルを示す説明図である。
【図7】受光素子のXn,Ymの画素に着目した受光状
況を示す説明図である。
況を示す説明図である。
【図8】画像演算装置の機能構成を示す構成図である。
【図9】従来の絞り測定装置の説明図である。
1 引張試験片
2 レーザ投光器
3 CCDカメラ
4 画像演算装置
21 レーザ発信器
22 回転ミラー
23 回転ミラー
24 レンズ
41 画像受信部
42 2値化処理部
43 境界抽出部
44 画像バッファー
45 演算部
46 画像出力部
47 設定部
48 同期部
Claims (2)
- 【請求項1】 引張試験中の引張試験片の絞りを測定
する方法において、この引張試験片の平行部に平行部と
直交する方向から試験片の長手方向および幅方向にスイ
ープさせたレーザ光を照射し、この照射したレーザ光の
うちの引張試験片を透過したレーザ光を、引張試験片を
挟んでレーザ光を照射した側とは反対側に設けたCCD
カメラで受光し、このCCDカメラで受光した画素毎の
輝度信号を画像演算処理装置に送り、この画像演算処理
装置により引張試験片の絞り位置および絞りを演算する
ことを特徴とする引張試験片の絞り測定方法。 - 【請求項2】 引張試験片の平行部に平行部と直交す
る方向から試験片の長手方向および幅方向にスイープさ
せたレーザ光を照射するレーザ光照射装置と、このレー
ザ光照射装置により照射されたレーザ光のうちの引張試
験片を透過したレーザ光を、引張試験片を挟んでレーザ
光を照射した側とは反対側で受光するCCDカメラと、
このCCDカメラで受光した画素毎の輝度信号を受け画
像演算処理をする画像演算処理装置とからなることを特
徴とする引張試験片の絞り測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12024391A JPH04346052A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 引張試験片の絞り測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12024391A JPH04346052A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 引張試験片の絞り測定方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04346052A true JPH04346052A (ja) | 1992-12-01 |
Family
ID=14781382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12024391A Pending JPH04346052A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 引張試験片の絞り測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04346052A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325403A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP12024391A patent/JPH04346052A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325403A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
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