JPH04319820A - Intra-device monitoring system - Google Patents

Intra-device monitoring system

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Publication number
JPH04319820A
JPH04319820A JP8705691A JP8705691A JPH04319820A JP H04319820 A JPH04319820 A JP H04319820A JP 8705691 A JP8705691 A JP 8705691A JP 8705691 A JP8705691 A JP 8705691A JP H04319820 A JPH04319820 A JP H04319820A
Authority
JP
Japan
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test pattern
signal
circuit
transmission
system transmission
Prior art date
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Pending
Application number
JP8705691A
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Japanese (ja)
Inventor
Nagahiko Namikado
南角 長彦
Hitoshi Wakamatsu
若松 均
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Miyagi Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Miyagi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Miyagi Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH04319820A publication Critical patent/JPH04319820A/en
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Abstract

PURPOSE:To quickly restore a fault in a transmission device by specifying the fault area with extremely high accuracy. CONSTITUTION:A transmitter having redundant constitution is provided with a transmission circuit part 5 and a reception circuit part 11 which are connected to each other via the transmission lines 14 and 15. The part 5 includes the test pattern inserting cirkcuits 1 and 2 which insert the test patterns into the 0-system and 1-system transmission signals 12 and 13 respectively and the selective circuits 3 and 4 which select the output signals of both circuits 1 and 2 and outputs these signals to the lines 14 and 15. The part 11 is provided with the selection circuits 6 and 7 which select the signals inputted via the lines 14 and 15, the test pattern detecting circuits 8 and 9 which detect the test pattern included in those selected signals and then detect the faults, and a selective circuit 10 which selects the output signal received from the circuit 6 or 7 as a reception signal 16.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、送信回路部と受信回路
部と両者を接続する伝送路とを有し1対1の冗長構成を
とる伝送装置の障害を監視する装置内監視方式に関する
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an in-device monitoring system for monitoring failures in a transmission device that has a one-to-one redundant configuration and has a transmitter circuit section, a receiver circuit section, and a transmission line that connects the two.

【0002】0002

【従来の技術】従来のこの種の装置内監視方式について
、図2に示すブロック図を参照して説明する。
2. Description of the Related Art A conventional internal monitoring system of this type will be explained with reference to a block diagram shown in FIG.

【0003】この伝送装置は、通信信号等の伝送信号を
送信する送信回路部23と、伝送信号を伝送する0系お
よび1系伝送路30,31と、伝送信号を受信する受信
回路部27とを含んでいる。また、この伝送装置は現用
系として使われる第1の系である0系と予備系として使
われる第2の系である1系を有する1対1の冗長構成を
とっている。
[0003] This transmission device includes a transmission circuit section 23 that transmits transmission signals such as communication signals, 0-system and 1-system transmission lines 30 and 31 that transmit transmission signals, and a reception circuit section 27 that receives transmission signals. Contains. Further, this transmission device has a one-to-one redundant configuration having a first system, system 0, used as a working system and a system 1, a second system used as a backup system.

【0004】送信回路部23は、0系から0系送信信号
28を、1系から1系送信信号29を入力する。0系送
信信号28は、テストパターン挿入回路21によって、
送信回路部23,0系および1系伝送路30,31およ
び受信回路部27の障害検出のためのテストパターンを
挿入されて、0系伝送路30に出力される。1系送信信
号29は、テストパターン挿入回路22によって、上述
したテストパターンを挿入されて、0系伝送路30に出
力される。
The transmission circuit section 23 receives a 0-system transmission signal 28 from the 0-system and a 1-system transmission signal 29 from the 1-system. The 0-system transmission signal 28 is processed by the test pattern insertion circuit 21.
Test patterns for detecting failures in the transmitting circuit section 23, 0-system and 1-system transmission lines 30, 31, and the receiving circuit section 27 are inserted and output to the 0-system transmission line 30. The test pattern insertion circuit 22 inserts the above-mentioned test pattern into the 1-system transmission signal 29 and outputs it to the 0-system transmission line 30.

【0005】受信回路部27は、0系および1系伝送路
30,31からそれぞれ、テストパターン挿入回路21
,22から出力された0系および1系の信号を入力する
。テストパターン検出回路24は、0系伝送路30から
入力された信号から、テストパターンのエラーを検出す
る。テストパターンにエラーがあれば、0系に障害があ
ることになる。テストパターン検出回路25は、1系伝
送路31から入力された信号から、テストパターンのエ
ラーを検出する。テストパターンにエラーがあれば、1
系に障害があることになる。一方、0系および1系伝送
路30,31から入力された信号は、選択回路26のそ
れぞれ異なる入力端子に入力される。そして、どちらか
一方の信号が選択されて受信信号32として、受信回路
部27から出力される。
[0005] The receiving circuit section 27 receives test pattern insertion circuits 21 from the 0-system and 1-system transmission lines 30 and 31, respectively.
, 22 are input. The test pattern detection circuit 24 detects an error in the test pattern from the signal input from the 0-system transmission line 30. If there is an error in the test pattern, there is a failure in the 0 system. The test pattern detection circuit 25 detects an error in the test pattern from the signal input from the 1-system transmission line 31. If there is an error in the test pattern, 1
There will be a problem in the system. On the other hand, signals input from the 0-system and 1-system transmission lines 30 and 31 are input to different input terminals of the selection circuit 26, respectively. Then, one of the signals is selected and output from the receiving circuit section 27 as the received signal 32.

【0006】今、現用として使用されている0系に障害
があると、受信回路部27は、選択回路26を1系に切
り替え、1系の信号を受信信号32として出力する。同
様に、予備系が使用されていてテストパターン検出回路
25が障害を検出した場合には、選択回路26は0系に
切り替えられる。
[0006] If there is a failure in the 0 system currently in use, the receiving circuit section 27 switches the selection circuit 26 to the 1 system and outputs the signal of the 1 system as the received signal 32. Similarly, if the backup system is being used and the test pattern detection circuit 25 detects a failure, the selection circuit 26 is switched to the 0 system.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】この従来の装置内監視
方式では、テストパターン検出回路にてエラーが検出さ
れた際、そのエラーの原因が送信回路部にあるのか、伝
送路にあるのか、あるいは受信回路部内にあるのか判断
できず、障害の復旧にも手間どるという欠点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] In this conventional device monitoring system, when an error is detected in the test pattern detection circuit, it is difficult to determine whether the cause of the error is in the transmitting circuit, the transmission path, or There was a drawback that it was not possible to determine whether the problem was in the receiving circuit, and it took time to recover from the failure.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の装置内監視方式
は、送信回路部と受信回路部と前記送信回路部と前記受
信回路部とを接続する0系および1系伝送路とを有し、
1対1の冗長構成をとる伝送装置において、前記送信回
路部は、入力された0系送信信号に前記伝送装置の障害
検出のためのテストパターンを挿入する第1のテストパ
ターン挿入回路と、入力された1系送信信号に前記テス
トパターンを挿入する第2のテストパターン挿入回路と
、前記第1および第2のテストパターン挿入回路の出力
信号のどちらかを選択して前記0系伝送路に出力する第
1の選択回路と、前記第1および第2のテストパターン
挿入回路の出力信号のどちらかを選択して前記1系伝送
路に出力する第2の選択回路とを有し、前記受信回路部
は、前記0系伝送路から入力された信号が分岐された一
方の信号と前記1系伝送路から入力された信号が分岐さ
れた一方の信号のどちらかを選択する第3の選択回路と
、前記0系伝送路から入力された信号が分岐された他方
の信号と前記1系伝送路から入力された信号が分岐され
た他方の信号のどちらかを選択する第4の選択回路と、
前記第3の選択回路から出力された信号に含まれる前記
テストパターンを検出して前記伝送装置の障害を検出す
る第1のテストパターン検出回路と、前記第4の選択回
路から出力された信号に含まれる前記テストパターンを
検出して前記伝送装置の障害を検出する第2のテストパ
ターン検出回路と、前記第3および第4の選択回路から
出力された信号のどちらかを選択し受信信号とする第5
の選択回路とを備えている。
[Means for Solving the Problems] The in-device monitoring system of the present invention includes a transmitting circuit section, a receiving circuit section, and 0-system and 1-system transmission lines connecting the transmitting circuit section and the receiving circuit section. ,
In a transmission device having a one-to-one redundant configuration, the transmission circuit section includes a first test pattern insertion circuit that inserts a test pattern for detecting a failure in the transmission device into an input 0-system transmission signal; a second test pattern insertion circuit that inserts the test pattern into the transmitted 1-system transmission signal, and output signals of the first and second test pattern insertion circuits to be output to the 0-system transmission line; and a second selection circuit that selects one of the output signals of the first and second test pattern insertion circuits and outputs the selected signal to the 1-system transmission line, and the receiving circuit a third selection circuit that selects one of the signals inputted from the 0-system transmission path and one of the signals inputted from the 1-system transmission path branched; , a fourth selection circuit that selects one of the other signal from which the signal input from the 0-system transmission line is branched and the other signal from which the signal input from the 1-system transmission line is branched;
a first test pattern detection circuit that detects the test pattern included in the signal output from the third selection circuit to detect a failure in the transmission device; A second test pattern detection circuit detects the included test pattern to detect a failure in the transmission device, and one of the signals output from the third and fourth selection circuits is selected as a received signal. Fifth
selection circuit.

【0009】[0009]

【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【0011】この伝送装置は、図2に示す従来の伝送装
置と同様に、送信回路部5と、受信回路部11と、送信
回路部5と受信回路部11とを接続する0系および1系
伝送路14,15とを有し、1対1の冗長構成をとって
いる。
This transmission device, like the conventional transmission device shown in FIG. It has transmission lines 14 and 15, and has a one-to-one redundant configuration.

【0012】送信回路部5は、入力された0系送信信号
12に伝送装置の障害検出のためのテストパターンを挿
入するテストパターン挿入回路1と、入力された1系送
信信号13に同様のテストパターンを挿入するテストパ
ターン挿入回路2とを有している。選択回路3は、テス
トパターン挿入回路1,2の出力信号の分岐された信号
の一方をそれぞれ入力とし、選択された出力信号を0系
伝送路14に出力する。選択回路4は、テストパターン
挿入回路1,2の出力信号の分岐された信号の他方をそ
れぞれ入力とし、選択された出力信号を1系伝送路15
に出力する。
The transmission circuit section 5 includes a test pattern insertion circuit 1 that inserts a test pattern for detecting a failure in the transmission device into the input 0-system transmission signal 12, and a test pattern insertion circuit 1 that inserts a test pattern for detecting a failure in the transmission device into the input 0-system transmission signal 12, and a similar test into the input 1-system transmission signal 13. The test pattern insertion circuit 2 includes a test pattern insertion circuit 2 for inserting patterns. The selection circuit 3 inputs one of the branched output signals of the test pattern insertion circuits 1 and 2, and outputs the selected output signal to the 0-system transmission line 14. The selection circuit 4 inputs the other of the branched output signals of the test pattern insertion circuits 1 and 2, and sends the selected output signal to the 1-system transmission line 15.
Output to.

【0013】受信回路部11は、0系伝送路14から入
力された信号が分岐された一方の信号と1系伝送路15
から入力された信号が分岐された一方の信号とを入力し
、どちらかの信号を選択出力する選択回路6と、0系伝
送路14から入力された信号が分岐された他方の信号と
1系伝送路15から入力された信号が分岐された他方の
信号とを入力し、どちらかの信号を選択出力する選択回
路7とを有する。テストパターン検出回路8は、選択回
路6から出力された信号に含まれるテストパターンを検
出(監視)して0系および1系伝送路14,15を含む
伝送装置の障害を検出する。テストパターン検出回路9
も同様に、選択回路7から出力された信号に含まれるテ
ストパターンを検出(監視)して0系および1系伝送路
14,15を含む伝送装置の障害を検出する。選択回路
10は、選択回路6,7の出力信号をそれぞれ入力とし
、どちらかの出力信号を選択出力して受信信号16とし
、受信回路部11から出力する。
The receiving circuit section 11 splits one of the signals inputted from the 0-system transmission line 14 and the 1-system transmission line 15.
A selection circuit 6 receives one signal from which the signal inputted from the 0-system transmission line 14 is branched and selectively outputs either signal, and the other signal from which the signal input from the 0-system transmission line 14 is branched, It has a selection circuit 7 which inputs the signal input from the transmission path 15 and the other branched signal, and selectively outputs either signal. The test pattern detection circuit 8 detects (monitors) a test pattern included in the signal output from the selection circuit 6 to detect a failure in the transmission equipment including the 0-system and 1-system transmission lines 14 and 15. Test pattern detection circuit 9
Similarly, the test pattern included in the signal output from the selection circuit 7 is detected (monitored) to detect a failure in the transmission equipment including the 0-system and 1-system transmission lines 14 and 15. The selection circuit 10 inputs the output signals of the selection circuits 6 and 7, selects and outputs one of the output signals, and outputs the received signal 16 from the reception circuit section 11.

【0014】次に、図1に示された実施例の動作につい
て説明する。
Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be explained.

【0015】いま、伝送装置に障害がない通常状態のと
き、即ち、テストパターン検出回路8,9にエラーが検
出されない状態では、選択回路3,4,6,7および1
0は、図1の実線で示されるように信号選択を行ってい
る。0系送信信号12は、送信回路部5のテストパター
ン挿入回路1でテストパターンを挿入され、選択回路3
,0系伝送路14,選択回路6,10を経て、受信回路
部11の受信信号16として出力される。1系送信信号
13は、送信回路部5のテストパターン挿入回路2でテ
ストパターンを挿入され、選択回路4,1系伝送路15
,選択回路7まで伝達され、テストパターン検出回路9
によるエラー検出も行われるが、予備系の信号であるの
で、選択回路10によって受信回路部11の出力として
は阻止される。
Now, when the transmission device is in a normal state with no fault, that is, when no error is detected in the test pattern detection circuits 8 and 9, the selection circuits 3, 4, 6, 7 and 1
0 performs signal selection as shown by the solid line in FIG. A test pattern is inserted into the 0-system transmission signal 12 by the test pattern insertion circuit 1 of the transmission circuit section 5, and the test pattern is inserted into the 0-system transmission signal 12 by the selection circuit 3.
, 0-system transmission line 14 and selection circuits 6 and 10, and is output as a reception signal 16 to the reception circuit section 11. A test pattern is inserted into the 1st system transmission signal 13 by the test pattern insertion circuit 2 of the transmission circuit section 5, and the test pattern is inserted into the 1st system transmission signal 13 by the selection circuit 4 and the 1st system transmission line 15.
, is transmitted to the selection circuit 7, and is transmitted to the test pattern detection circuit 9.
Error detection is also carried out, but since it is a backup signal, it is blocked by the selection circuit 10 from being output from the receiving circuit section 11.

【0016】以下、この伝送装置において障害の原因と
なっている回路を探索する方法について説明する。
A method of searching for a circuit causing a failure in this transmission device will be described below.

【0017】図1に示された通常選択状態において、テ
ストパターン検出回路9がエラーを検出したときは、は
じめに選択回路7において、0系伝送路14を通る0系
送信信号12にテストパターンが挿入された信号を選択
する。そして、この信号をテストパターン検出回路9に
入力して、テストパターン検出回路9のチェックを行う
。この時点でエラーが発生したならば、テストパターン
検出回路9自体の障害と判断できる。この時点でエラー
がない場合は、選択回路7の選択を元に戻し、1系伝送
路15からの信号を選択するとともに、選択回路4にお
いては0系送信信号12を選択出力させる。そして、テ
ストパターン検出回路9に、1系伝送路15を通る、0
系送信信号12にテストパターンを挿入した信号を入力
してテストパターンのチェックを行う。ここでエラーが
発生しなければ1系伝送路15には障害がないことにな
り、送信回路部5に障害があることになる。もし、エラ
ーが発生すれば1系伝送路15の障害あるいは送信回路
部5の障害であると判断できる。
In the normal selection state shown in FIG. 1, when the test pattern detection circuit 9 detects an error, the selection circuit 7 first inserts a test pattern into the 0 system transmission signal 12 passing through the 0 system transmission line 14. Select the selected signal. This signal is then input to the test pattern detection circuit 9 to check the test pattern detection circuit 9. If an error occurs at this point, it can be determined that the test pattern detection circuit 9 itself is at fault. If there is no error at this point, the selection of the selection circuit 7 is returned to its original state, the signal from the 1-system transmission line 15 is selected, and the selection circuit 4 selectively outputs the 0-system transmission signal 12. Then, the test pattern detection circuit 9 receives the 0
A signal obtained by inserting a test pattern into the system transmission signal 12 is input to check the test pattern. If no error occurs here, it means that there is no fault in the 1-system transmission line 15, and that there is a fault in the transmitting circuit section 5. If an error occurs, it can be determined that there is a failure in the 1-system transmission line 15 or a failure in the transmission circuit section 5.

【0018】以上述べたように、受信回路部11におい
て障害を発見したとき、この原因が受信回路部11内の
障害、1系伝送路15の障害、送信回路部5の障害の順
で障害回路を切り分けることができる。
As described above, when a fault is discovered in the receiving circuit section 11, the cause is a fault in the receiving circuit section 11, a fault in the 1-system transmission line 15, and a fault in the transmitting circuit section 5, in that order. can be separated.

【0019】同様にして、テストパターン検出回路8に
てエラーを検出したときにも、エラーの原因となった回
路を、前述と同じ手順により切り分けることができる。
Similarly, when an error is detected in the test pattern detection circuit 8, the circuit that caused the error can be isolated using the same procedure as described above.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、送信回路
部および受信回路部内に第1および第2の系の信号通路
を切り替えて受信できる選択回路を設けたので、受信回
路部内のテストパターン検出回路において障害が発見さ
れた場合、受信側回路部の障害、伝送路あるいは送信回
路部の障害、送信回路部の障害という順序で障害の原因
となる回路を切り分けることができ、障害発生部位の特
定を極めて細かくすることができ、障害の復旧が迅速に
できるという効果を有する。
As explained above, the present invention includes a selection circuit in the transmitting circuit section and the receiving circuit section that can switch the signal paths of the first and second systems to receive signals. If a fault is discovered in the detection circuit, it is possible to isolate the circuit causing the fault in the following order: fault in the receiving side circuit, fault in the transmission line or transmitting circuit, and fault in the transmitting circuit. This has the effect that identification can be made extremely detailed and failures can be recovered quickly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

【図2】従来例のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2,21,22    テストパターン挿入回路3
,4,6,7,10,26    選択回路5,23 
   送信回路部 8,9,24,25    テストパターン検出回路1
1,27    受信回路部 12,28    0系送信信号 13,29    1系送信信号 14,30    0系伝送路 15,31    1系伝送路 16,32    受信信号
1, 2, 21, 22 Test pattern insertion circuit 3
, 4, 6, 7, 10, 26 selection circuit 5, 23
Transmission circuit section 8, 9, 24, 25 Test pattern detection circuit 1
1, 27 Receiving circuit section 12, 28 0 system transmission signal 13, 29 1 system transmission signal 14, 30 0 system transmission line 15, 31 1 system transmission line 16, 32 Reception signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  送信回路部と受信回路部と前記送信回
路部と前記受信回路部とを接続する0系および1系伝送
路とを有し、1対1の冗長構成をとる伝送装置において
、前記送信回路部は、入力された0系送信信号に前記伝
送装置の障害検出のためのテストパターンを挿入する第
1のテストパターン挿入回路と、入力された1系送信信
号に前記テストパターンを挿入する第2のテストパター
ン挿入回路と、前記第1および第2のテストパターン挿
入回路の出力信号のどちらかを選択して前記0系伝送路
に出力する第1の選択回路と、前記第1および第2のテ
ストパターン挿入回路の出力信号のどちらかを選択して
前記1系伝送路に出力する第2の選択回路とを有し、前
記受信回路部は、前記0系伝送路から入力された信号が
分岐された一方の信号と前記1系伝送路から入力された
信号が分岐された一方の信号のどちらかを選択する第3
の選択回路と、前記0系伝送路から入力された信号が分
岐された他方の信号と前記1系伝送路から入力された信
号が分岐された他方の信号のどちらかを選択する第4の
選択回路と、前記第3の選択回路から出力された信号に
含まれる前記テストパターンを検出して前記伝送装置の
障害を検出する第1のテストパターン検出回路と、前記
第4の選択回路から出力された信号に含まれる前記テス
トパターンを検出して前記伝送装置の障害を検出する第
2のテストパターン検出回路と、前記第3および第4の
選択回路から出力された信号のどちらかを選択し受信信
号とする第5の選択回路とを有することを特徴とする装
置内監視方式。
1. A transmission device having a one-to-one redundant configuration, including a transmitting circuit section, a receiving circuit section, and 0-system and 1-system transmission lines connecting the transmitting circuit section and the receiving circuit section, The transmission circuit unit includes a first test pattern insertion circuit that inserts a test pattern for detecting a failure of the transmission device into the input 0-system transmission signal, and a first test pattern insertion circuit that inserts the test pattern into the input 1-system transmission signal. a second test pattern insertion circuit that selects one of the output signals of the first and second test pattern insertion circuits and outputs it to the 0-system transmission line; a second selection circuit that selects one of the output signals of the second test pattern insertion circuit and outputs the selected signal to the 1-system transmission line; A third method for selecting one of the signals from which the signal is branched and one signal from which the signal input from the first system transmission line is branched.
and a fourth selection for selecting either the other signal from which the signal input from the 0-system transmission line is branched, or the other signal from which the signal input from the 1-system transmission line is branched. a first test pattern detection circuit that detects a fault in the transmission device by detecting the test pattern included in the signal output from the third selection circuit; a second test pattern detection circuit that detects the test pattern included in the transmitted signal to detect a fault in the transmission device; and a signal output from the third and fourth selection circuits. An in-device monitoring system characterized by comprising a fifth selection circuit that uses a signal as a signal.
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