JPH04316007A - 自動合焦装置 - Google Patents

自動合焦装置

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JPH04316007A
JPH04316007A JP3108215A JP10821591A JPH04316007A JP H04316007 A JPH04316007 A JP H04316007A JP 3108215 A JP3108215 A JP 3108215A JP 10821591 A JP10821591 A JP 10821591A JP H04316007 A JPH04316007 A JP H04316007A
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JP
Japan
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focus
optical system
area
photoelectric conversion
plane
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3108215A
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English (en)
Inventor
Shinichi Kodama
児玉 晋一
Hisashi Goto
尚志 後藤
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH04316007A publication Critical patent/JPH04316007A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動焦点式カメラに於
けるコントラスト方式による自動合焦装置に係り、特に
、フォーカスエリアの位置に応じた合焦点検出方法の改
良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より自動合焦装置を搭載した自動焦
点式カメラが種々発表されている。このような自動合焦
装置を実現するために、映像信号に基づいて合焦点検出
を行うコントラスト方式と称されるシステムが利用され
ている。
【0003】即ち、映像信号を用いて、その周波数成分
の変化に注目し合焦点検出を行うシステムは、NHK技
法第17巻1号にて石田他により発表された“山登りサ
ーボ方式によるテレビカメラの自動焦点調整”の中で開
示されている。図15にレンズデフォーカスと特定周波
数成分の電圧値を示す。同図から理解されるように、合
焦時は鮮悦度が高い、つまり特定波成分が大きい。逆に
非合焦時は、鮮悦度が低下し、エッジ部がボケる、つま
り特定波成分が小さくなる。特に、特定周波数成分が高
周波数成分の時に、顕著にこの現象が発生する。このよ
うに特定周波数成分の変化に着目し、周波数成分のピー
ク位置へ撮影光学系を駆動する。
【0004】また、画面の位置に応じて光学系の収差を
記憶しておき、その情報を基に測距情報を補正する方式
が特開昭62−189415号公報に開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、画面全体の
任意の位置に於いて合焦点検出を行う場合、画面が中心
より離れるに従って撮影光学系の収差による影響が大き
くなる。図16はその様子を示すものである。同図に於
いて、横軸は光軸方向の位置を示し、縦軸は画面中央(
軸上)からの距離を示し、横軸と縦軸の交点が画面中央
(軸上)でのベストピント位置となる。同図から分かる
ように、軸外に行くほど光学系の収差により、サジタル
像面(S面:軸上を中心とした円の接線方向)及びメリ
ディオナル像面(M面:軸上を中心とした円の放線方向
)のベストピント位置は、軸上と大きくズレてしまうば
かりでなく、S面とM面でも大きく異なることがある。 これしまた、デフォーカスと特定周波数成分(MTF)
のある軸外での特性を示す図17からも理解されよう。 軸上と軸外のベストピントのズレ、または軸外でのS面
とM面のMTF特性を光学系で抑え込もうとすると、光
学系の大型化,コストアップにつながり実用的ではない
【0006】さらに、エリアセンサを通常に読み出す場
合は、スキャン方向が1方向のため画面の位置によって
は、S面又はM面の1方しか検出できないことがある。 1方向スキャンの場合、S面又はM面しか検出できない
エリアを、図18に示す。スキャン方向は水平方向とす
ると図中のA付近では、接線方向の成分(S面)しか検
出できず、またB付近では放線方向(M面)しか検出で
きない。また、A付近で放線方向の成分(M面)を検出
しようとすると、垂直方向にスキャンする必要がある。 さらに、同図に図示してない領域は1方向スキャンにて
も、ある程度S面,M面の情報を含んでいるが、場所に
よっては、ベスト位置ではないことがある。また、S面
またはM面の補正を、特開昭62−189415号公報
に開示されているように行おうとすると、膨大な補正デ
ータとなり経済的ではない。
【0007】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、光電変換素子の読み出し方向を画面内のフォーカス
エリアの位置に応じて変えることで、簡単な構成で常に
良好なピント状態を提供し得る自動合焦装置を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の自動合焦装置は、撮影光学系と、この撮
影光学系からの光分布を電気信号分布に変換する光電変
換手段と、この光電変換手段の出力信号から特定周波数
成分を抜き出す周波数検出手段と、この周波数検出手段
の出力に基づいて上記撮影光学系の合焦点を検出する合
焦点検出手段と、この合焦点検出手段の出力に基づいて
上記撮影光学系を合焦点に駆動する駆動手段とを有する
自動合焦装置に於いて、上記光電変換手段の出力信号か
ら特定周波数成分を抜き出すエリアを指定する指定手段
と、この指定手段によって指定されたエリアの位置に応
じて上記光電変換手段の光電変換素子の読み出し方向を
変更する読み出し方向変更手段とを備えている。
【0009】
【作用】本発明による自動合焦装置では、読み出し方向
変更手段が、指定手段によって光電変換手段の出力信号
から特定周波数成分を抜き出すエリアとして指定された
エリアの位置に応じて、光電変換手段の光電変換素子の
読み出し方向を変更するようにしているので、簡単な構
成で常に良好なピント状態を提供できるようになる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。図1はその構成を示す図である。即ち、撮影光
学系12は、被写体からの光束を光電変換素子14に導
く。この光電変換素子14は、撮影光学系12からの光
分布を電気信号の分布に変換する。周波数検出回路16
は、この光電変換素子14から出力される画素信号及び
投影信号から特定周波数を抜き出す。
【0011】合焦点検出回路18は、上記周波数検出回
路16からの信号と、後述する駆動回路20を介して得
た上記撮影光学系12の情報(MTF特性,レンズ位置
,絞り,焦点距離,等)を基に、駆動回路20へ駆動信
号を出力し、撮影光学系ぬふの合焦点を検出し、また後
述するエリア指定回路22からの特定エリア指定信号に
基づき、光電変換素子14の特定エリアの信号を読み出
し、さらに後述する表示回路24に特定エリア,合焦マ
ーク等を表示する。光電変換素子読み出し回路26は、
光電変換素子14の読み出しを、エリア指定回路22の
情報を合焦点検出回路18で変換された値に基づいて行
う。
【0012】駆動回路20は、撮影光学系12の情報を
合焦点検出回路18へ出力し、合焦点検出回路18から
の駆動信号に基づいて撮影光学系12を駆動する。エリ
ア指定回路22は、フォーカスエリアを外部から設定す
る。表示回路24は、エリア指定回路22からのフォー
カスエリア位置信号と、合焦点検出回路18からの合焦
信号を表示する。
【0013】このような構成の自動合焦装置は、エリア
設定回路22の情報に基づいて、光電変換素子14から
の信号読み出し方向を、S面とM面を含む角度(画面中
心から放線方向と接線方向とに所定の角度を有する)に
設定することで、設定されたフォーカスエリアにて、S
面,M面に片寄らない合焦点(S面のベスト位置とM面
のベスト位置の間でベスト位置)を検出できる。
【0014】次に、各部を詳細に説明する。
【0015】即ち、光電変換素子14は、MOS型固体
撮像素子等のX−Yアドレス指定タイプの固体撮像素子
(以下MOSと記す)にて構成する。周波数検出回路1
6、複数のバンドパスフィルタ(BPF)で構成し、複
数のBPFをそれぞれ撮影光学系12の条件により切り
換えて用い、合焦点検出回路18へ出力する。合焦点検
出回路18は、周波数検出回路16の信号をA/D変換
し、フォーカスエリア内の周波数成分のディジタル値を
加算し、駆動回路20を駆動しながら加算値のピーク位
置、つまり撮影光学系12の合焦位置を検出する。また
、BPFの切り換え制御は撮影光学系12の絞り,焦点
距離,MTF特性,撮影光学系の位置等の光学情報によ
り行う。
【0016】フォーカスエリアを設定するエリア指定回
路22は、ジョイスティック,ファーストレリーズと兼
用または、特願平2−235074号にて開示されてい
る方式を用いる。撮影素子読み出し回路26は、エリア
指定回路22のフォーカスエリアの位置信号を、合焦点
検出回路18を介して入手し、MOS14のフォーカス
エリア内をS面とM面に45°の方向に読み出す。表示
回路24は、エリア指定回路22からのフォーカスエリ
アの情報に基づきファインダ内に表示する。さらに合焦
点検出回路18からの合焦状態信号にて合焦状態を表示
する。駆動回路20は、撮影光学系12の各種特性を合
焦点検出回路18に出力すると共に、合焦点検出回路1
8からの駆動信号を受けて撮影光学系12を駆動する。
【0017】次に、合焦点検出回路18にて、特定周波
数を検出する部分の構成を図2に示す。即ち、周波数検
出回路16の信号からフォーカスエリアに対応する領域
を抜き出すウィンド回路181,ウィンド回路181に
て抜き出された周波数信号をA/D変換するA/D変換
回路182,抜き出されたディジタル信号をディジタル
加算する加算回路183により構成すされる。
【0018】周波数を抜き出す時の様子を、図3の(A
)乃至(C)に示す。同図の(A)はBPF出力を、(
B)はフォーカスエリアに対応したウィンド領域を示し
、(C)はA/D変換のサンプリング状態を示している
【0019】次に、図4のサブルーチンプログラムFM
のフローチャートを参照して、検出動作を説明する。
【0020】即ち、先ず、各種フラグやレジスタ(F(
0),F(1),PK,PF,PQ)をイニシャライズ
する(ステップS10)。そして、フォーカスエリア再
設定の判定を行い(ステップS20)、フォーカスエリ
ア再設定の時には、エリア設定回路22にてフォーカス
エリアを再設定する(ステップS30)。また、フォー
カスエリアを再設定しない時には、ステップS40に進
む。
【0021】このステップS40では、設定されたフォ
ーカスエリアの位置情報に基づいてセンサのスキャン方
向を決定するサブルーチンプログラムSHを行なう。そ
の後、AF状態を、つまり山のピークを検出したかを判
定する(フラグPK=1)(ステップS50)。ここで
、PK=0(山のピークを検出してない)と判定された
時には、山登方式によるオートフォーカスを行うサブル
ーチンプログラムYAFを実行する(ステップS60)
。また、PK=1(山のピークを検出している)と判定
された場合には、合焦状態を検出するサブルーチンプロ
グラムGAFを実行する(ステップS70)。そして、
いずれかのサブルーチン実行後、割り込み判定を行い(
ステップS80)、割り込みがない場合には上記ステッ
プS20へ戻り、また割り込みが発生した場合には本サ
ブルーチンプログラムMFを抜ける。
【0022】上記ステップS40にて実行されるセンサ
のスキャン方向を決定するサブルーチンプログラムSH
のフローチャートを図5に示す。
【0023】このサブルーチンプログラムSHが開始さ
れると、先ず、設定されたフォーカスエリアの中心座標
((x0,y0):画面中心が原点となる)を検出する
(ステップS401)。次に、センサ面照度に応じて加
算読み出しをする量Kを決定する(AEセンサ又は本セ
ンサの積分時間と出力レベルによって決める)(ステッ
プS402)。そして、(|y0/x0|,K)に基づ
くテーブル(図6)を参照して(ステップS403)、
そのテーブルより各係数を読み込み、またその他の係数
をイニシャライズする(ステップS404)。
【0024】ここで、フォーカスエリアの中心座標のお
おまかな判定を行なう(フラグFGの判定:FGは|y
0/x0|の大きさによって決定される)(ステップS
405)。
【0025】フラグFG=1ならば、センサのH(水平
)方向の読み出しアドレスを、H1=H0+h+haか
らHk=H0+K−1+h+haまでとし、同時にON
する(ステップS406)。ただし、H0はフォーカス
エリアにほぼ対応するエリアの最初のH方向のアドレス
を示すものとする。次に、センサのV(垂直)方向の読
み出しアドレスを、V1=V0+vからVp=V0+v
+p−1まで同時にONする(ステップS407)。 ただし、V0はフォーカスエリアにほぼ対応するエリア
の最初のV方向アドレスを示し、pはV方向加算係数で
ある。そして、同時にONした信号を読出し(ステップ
S408)、フォーカスエリアにほぼ対応するエリアの
信号を読出したかを判定する(ステップS409)。
【0026】まだ全て読出してない場合は、係数Δhの
判定を行なう(ステップS410)。ここで、Δhは、
読み出し角度を決定する係数であり、H方向に続けて読
出す画素数に対応している。h=Δhでないと判定され
たならば、hをインクリメントした後(ステップ411
)、上記ステップS406へ戻る。また、h=Δhと判
定されたならば、h=0,ha=ha+Δh+K+q,
v=v+1とした後(ステップS412)、上記ステッ
プS406へ戻る。
【0027】上記ステップS405に於いて、フラグF
G=1でないと判定された場合には、先ず、センサのH
方向の読み出しアドレスを、H1=H0+hからHp=
H0+h+p−1まで同時にONする(ステップS41
3)。次に、センサのV方向の読み出しアドレスを、V
1=V0+v+vaからVk=V0+v+va+K−1
まで同時にONする(ステップS414)。そして、同
時にONした信号を読出し(ステップS415)、フォ
ーカスエリアにほぼ対応するエリアの信号を読出したか
を判定する(ステップS416)。
【0028】まだ全て読出してない場合は、係数Δvの
判定を行なう(ステップS417)。ここで、Δvは、
読み出し角度を決定する係数であって、V方向に続けて
読出す画素数に対応している。v=Δvでないと判定さ
れたならば、vをインクリメントした後(ステップS4
18)、上記ステップS413へ戻る。また、v=Δv
と判定されたならば、h=h+1,v=0,va=va
+Δv+K+qとした後(ステップS419)、上記ス
テップS413へ戻る。
【0029】上記ステップS409,S416に於いて
、フォーカスエリアにほぼ対応するエリアの信号を読出
したならば、本シーケンスを抜け、図4に示したフロー
チャートに戻る。
【0030】図6は、上記ステップS403に於いてK
=1とK=3の場合に参照するテーブルを示す図である
。ただし、同図中のΔh,Δvでの「99」は無限を意
味するものとする。
【0031】図7は、上記ステップS60にて実行され
るサブルーチンプログラムYAFのフローチャートであ
る。
【0032】このサブルーチンプログラムYAFが開始
されると、先ず、駆動方向の判定(駆動方向判定の判定
フラグPF=1)が行なわれる(ステップS601)。 ここで、PF=0と判定されたならば、撮影光学系12
を正転駆動する(ステップS602)。また、PF=1
と判定されたならば、撮影光学系12を逆転駆動する(
ステップS603)。
【0033】次に、周波数記憶レジスタF(1)のデー
タをレジスタF(0)に移した後(ステップS604)
、このレジスタF(1)にフォーカスエリアの周波数成
分を格納する(ステップS605)。ここで、合焦状態
を判定(F(0)>F(1))し(ステップS606)
、F(0)>F(1)と判定されたならば、さらに合焦
点を越えたかを判定、つまり山のピークを越えたかを判
定する(フラグPQ=1)(ステップS607)。
【0034】PQ=0(山のピークを越えてない)と判
定されたならば、撮影光学系12の駆動判定フラグPF
=1とした後(ステップS613)、本サブルーチンプ
ログラムYAFを抜けて、図4のフローチャートへ戻る
。また、上記ステップS606に於いて、F(0)>F
(1)でないと判定されたならば、PQ=1とした後(
ステップS612)、本サブルーチンプログラムYAF
を抜けて、図4のフローチャートへ戻る。
【0035】上記ステップS607に於いて、PQ=1
と判定されたならば、次に、駆動方向の判定、つまりフ
ラグPFの判定(PF=1)を行う(ステップS608
)。PF=1と判定されたならば、即ち撮影光学系12
を逆転駆動しながら山のピークを越えた場合には、合焦
位置まで撮影光学系12を正転駆動する(ステップS6
10)。また、PF=0と判定されたならば、即ち撮影
光学系12を正転駆動しながら山のピークを越えた場合
には、合焦位置まで撮影光学系12を逆転駆動する(ス
テップS609)。そして、撮影光学系12が合焦状態
に成ったことを示すフラグPK(山のピークを検出して
いる)をPK=1とした後(ステップS611)、本サ
ブルーチンプログラムYAFを抜けて、図4のフローチ
ャートへ戻る。
【0036】図8は、上記ステップS70にて実行され
るサブルーチンプログラムGAFのフローチャートであ
る。
【0037】このサブルーチンプログラムGAFが開始
されると、先ず、フォーカスエリアの周波数データをレ
ジスタF(1)に格納した後(ステップS701)、初
期データの判定、つまり合焦位置へ撮影光学系12を駆
動した後の最初の周波数データかどうかの判定を行なう
(ステップS702)。最初のデータであると判定され
た場合、F(1)−εをレジスタF(0)に格納する(
ステップS703)。ここで、εは、合焦判定に際して
の所定値であって、撮影光学系12の特性により変わる
ものである。また、初期データでないと判定された場合
は、このステップS703)を飛び越して、次のステッ
プS704へ進む。
【0038】このステップS704に於いては、合焦点
状態の判定、即ち合焦レベルにあるか否かの判定(F(
0)<F(1))を行う(ステップS704)。F(0
)<F(1)、即ち合焦レベルにあると判定されたなら
ば、本サブルーチンプログラムGAFを抜けて、図4の
フローチャートへ戻る。また、F(0)<F(1)では
ない、つまり合焦レベルから外れたと判定されたときに
は、フラグPKをPK=0にした後(ステップS705
)、本サブルーチンプログラムGAFを抜けて、図4の
フローチャートへ戻る。
【0039】ここで、フォーカスエリアの位置によって
、どの方向に抜き出すかを図9の(A)乃至(C)に示
す。フォーカスエリア30がファインダ32中に同図の
(A)のように設定された場合、画面中心からδx,δ
y、または画面の水平方向からのδθを検出し、スキャ
ン方向δγを次のように設定する。 δγ=|90−δθ|°        (0°≦θ≦
90°)また、δγに90°ずらした方向δβにスキャ
ンしても良い。
【0040】今、同図の(B)に示すようにフォーカス
エリア内のスキャンの方向が決定されたとすると、同図
の(C)に示すようにフォーカスエリア内の画素を読み
出す。同図の(C)に示す場合では、2画素読み出しを
行っている。また、フォーカスエリア30のエッジの影
響を少なくするために、スキャン範囲はフォーカスエリ
ア30より大きな範囲で行う。
【0041】図10の(A)乃至(G)及び図11の(
A)乃至(E)に上記以外の読み出し方式の一例を示す
。即ち、図10の(A)乃至(G)は、1画素づつ読み
出した場合を示すもので、画面を画面中心に対して7方
位放線方向に分割してフォーカスエリアの位置により前
記7方向から読み出し方向を選択する。また、図11の
(A)乃至(E)は、画素加算読み出しの場合を示す図
である。
【0042】MOSセンサ14の概略を図12に示す。 Hデコーダ40,Vデコーダ42を独立に制御すること
で任意に画素を読み出す。また、画素同時読み出しは、
例えば、H方向2画素の場合は、Hデコーダ40にて、
2画素に関するゲートをONし、電流加算アンプ44に
て混合読み出しをする。
【0043】表示回路24の表示の様子を図13の(A
)に示す。同図に示すように、ファインダ32内には、
合焦,前ピン,後ピンを表示するLED50とフォーカ
スエリア30に対応するフォーカスエリア52,54が
表示される。ここで、フォーカスエリア52の位置がイ
ニシャライズ位置であり、54は任意位置にフォーカス
エリアが設定されたときである。フォーカスエリア54
が任意位置に設定された時には、フォーカスエリア52
の表示は消え、フォーカスエリア54の表示だけとなる
【0044】図13の(B)は、図13の(A)の表示
方式を示す図である。即ち、1次または2次結像面近傍
に散乱型液晶60を用いてファインダ光学系62に像を
導く。この散乱型結晶60は、制御信号にてフォーカス
エリア52又は54の部分を着色表示する。
【0045】以上のように、本実施例によれば、大規模
なメモリを使うこともなく、シンプルな回路にて、光学
系に発生するS面とM面の合焦位置の差を補正すること
ができる。
【0046】なお、本実施例では、センサにMOSを用
いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、非破
壊でランダムアクセス可能なセンサ、例えば、SIT(
Static Induction Transist
or )型固体撮像素子,CMD(Charge Mo
dulation Device)型固体撮像素子等を
用いても良い。また、CCDとディレイライン(アナロ
グメモリライン)を用いて、図14に示すように行って
もよい。図14は、CCD70より読み出された信号を
フォーカスエリアに対応したスキャン方向に、ディレイ
ライン72を用いて並び替えて、再度周波数検出を行う
【0047】また、周波数検出回路をアナログフィルタ
で構成したが、A/D後ディジタルフィルタで構成して
も良い。さらには、S面,M面と45°をなすように信
号を抜き出しているが、撮影光学系の特性(S面,M面
とフォーカスエリア位置)によって、他の角度に設定し
ても良い。
【0048】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
光電変換素子の読み出し方向を画面内のフォーカスエリ
アの位置に応じて変えることで、簡単な構成で常に良好
なピント状態を提供し得る自動合焦装置を提供すること
ができる。
【0049】即ち、光学系に発生するサジタル像面とメ
ディオナル像面でのベストピント位置の補正を、補正デ
ータを持つことなく補正することができるので、高速且
つ安価なコストで精度の高い自動合焦装置を提供できる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る自動合焦装置のブロッ
ク構成図である。
【図2】図1中の合焦点検出回路18に於ける特定周波
数を検出する部分の構成を示す図である。
【図3】それぞれ周波数を抜き出す時の様子を示す図で
、(A)はBPF出力を示す図、(B)はフォーカスエ
リアに対応したウィンド領域を示す図、(C)はA/D
変換のサンプリング状態を示す図である。
【図4】実施例の検出動作を説明するためのサブルーチ
ンプログラムFMのフローチャートである。
【図5】図4中のセンサのスキャン方向を決定するサブ
ルーチンプログラムSHのフローチャートである。
【図6】(|y0/x0|,K)に基づく各係数値を示
すテーブルである。
【図7】図4中の山登方式によるオートフォーカスを行
うサブルーチンプログラムYAFのフローチャートであ
る。
【図8】図4中の合焦状態を検出するサブルーチンプロ
グラムGAFのフローチャートである。
【図9】(A)はフォーカスエリアの位置を示す図、(
B)は決定されたスキャン方向を示す図、(C)は読出
される画素を示す図である。
【図10】(A)乃至(G)は1画素づつ読み出す場合
の7個の読み出し方式を示す図である。
【図11】(A)乃至(E)は画素加算読み出しの場合
の5個の読み出し方式を示す図である。
【図12】MOSセンサの概略構成図である。
【図13】(A)は表示回路の表示の様子を示す図、(
B)は(A)の表示方式を示す図である。
【図14】センサの他の実施例を示すブロック構成図で
ある。
【図15】レンズデフォーカスと特定周波数成分の電圧
値との関係を示す図である。
【図16】撮影光学系の収差による影響を示す図である
【図17】デフォーカスと特定周波数成分のある軸外で
の特性を示す図である。
【図18】1方向スキャンの場合にS面又はM面しか検
出できないエリアを示す図である。
【符号の説明】
12…撮影光学系、14…光電変換素子、16…周波数
検出回路、18…合焦点検出回路、20…駆動回路、2
2…エリア指定回路、24…表示回路、26…光電変換
素子読み出し回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  撮影光学系と、この撮影光学系からの
    光分布を電気信号分布に変換する光電変換手段と、この
    光電変換手段の出力信号から特定周波数成分を抜き出す
    周波数検出手段と、この周波数検出手段の出力に基づい
    て上記撮影光学系の合焦点を検出する合焦点検出手段と
    、この合焦点検出手段の出力に基づいて上記撮影光学系
    を合焦点に駆動する駆動手段とを有する自動合焦装置に
    於いて、上記光電変換手段の出力信号から特定周波数成
    分を抜き出すエリアを指定する指定手段と、この指定手
    段によって指定されたエリアの位置に応じて上記光電変
    換手段の光電変換素子の読み出し方向を変更する読み出
    し方向変更手段と、を具備することを特徴とする自動合
    焦装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0834757A2 (en) * 1996-09-27 1998-04-08 Canon Kabushiki Kaisha Focus state detection apparatus

Cited By (3)

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EP0834757A3 (en) * 1996-09-27 1999-04-28 Canon Kabushiki Kaisha Focus state detection apparatus
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