JPH04315985A - 放射線計測装置 - Google Patents
放射線計測装置Info
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- JPH04315985A JPH04315985A JP3082542A JP8254291A JPH04315985A JP H04315985 A JPH04315985 A JP H04315985A JP 3082542 A JP3082542 A JP 3082542A JP 8254291 A JP8254291 A JP 8254291A JP H04315985 A JPH04315985 A JP H04315985A
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、蛍光体と光電変換素子
を備えてなる放射線計測装置に係り、特にＸ線ＣＴ装置
のＸ線検出器に好適な放射線計測装置に関するものであ
る。
を備えてなる放射線計測装置に係り、特にＸ線ＣＴ装置
のＸ線検出器に好適な放射線計測装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置用のＸ線検出器としてはＸ
ｅ電離箱検出器が主流であったが、分解能の向上に伴い
、優れたＸ線利用効率・感度を有する固体検出器が採用
されつつある。
ｅ電離箱検出器が主流であったが、分解能の向上に伴い
、優れたＸ線利用効率・感度を有する固体検出器が採用
されつつある。
【０００３】この固体検出器は、Ｘ線を光に変換する蛍
光体及び光を電流に変換する光電変換素子を主要部品（
検出器本体）として構成されるが、光電変換素子の暗電
流や、光電変換素子及び蛍光体の複合体の感度が、温度
によって変化するため、温度変化に対する対策が必要で
ある。
光体及び光を電流に変換する光電変換素子を主要部品（
検出器本体）として構成されるが、光電変換素子の暗電
流や、光電変換素子及び蛍光体の複合体の感度が、温度
によって変化するため、温度変化に対する対策が必要で
ある。
【０００４】この対策としては、図４に示すように検出
器を恒温に保つ方法がある（特願平１−２３３２６０号
参照）。以下、これにつき説明する。
器を恒温に保つ方法がある（特願平１−２３３２６０号
参照）。以下、これにつき説明する。
【０００５】図４において、入射したＸ線は蛍光体（一
般にシンチレータ）１０２により光に変換され、更に光
電変換素子（一般にシリコン・フォトダイオード）１０
１により電流に変換される。この電流は更にボンディン
グワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０６、
コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置２０
１に導かれる。
般にシンチレータ）１０２により光に変換され、更に光
電変換素子（一般にシリコン・フォトダイオード）１０
１により電流に変換される。この電流は更にボンディン
グワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０６、
コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置２０
１に導かれる。
【０００６】ここで、前記基板１０４は容器１０５内に
固定される。この容器１０５の底部外面には、ヒータ２
０２及び温度センサ２０３が固定される。また容器１０
５の外周には断熱材２０５が、断熱材２０５の外部には
温度コントローラ２０４が設置される。
固定される。この容器１０５の底部外面には、ヒータ２
０２及び温度センサ２０３が固定される。また容器１０
５の外周には断熱材２０５が、断熱材２０５の外部には
温度コントローラ２０４が設置される。
【０００７】温度コントローラ２０４は温度センサ２０
３で検出された温度を基準温度と比較し、それによりヒ
ータ２０２をＯＮ，ＯＦＦし、温度コントロールする。 これにより、容器１０５内部は一定温度に保たれる。ま
た断熱材２０５により熱抵抗を大きくして外部温度の影
響を少なくしている。
３で検出された温度を基準温度と比較し、それによりヒ
ータ２０２をＯＮ，ＯＦＦし、温度コントロールする。 これにより、容器１０５内部は一定温度に保たれる。ま
た断熱材２０５により熱抵抗を大きくして外部温度の影
響を少なくしている。
【０００８】なお、信号処理装置２０１は送られてきた
電流信号を電圧に変換した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一
般的な処理（Ｌｏｇ変換、オフセット補正など）を行っ
た後、図示しない記憶装置に一般的な処理が済んだ計測
データとして格納するものである。
電流信号を電圧に変換した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一
般的な処理（Ｌｏｇ変換、オフセット補正など）を行っ
た後、図示しない記憶装置に一般的な処理が済んだ計測
データとして格納するものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】図４に示す従来技術で
は、以下のような問題点があった。 （１）蛍光体１０２、光電変換素子１０１の温度を直接
測定しないため、外気の温度変動により誤差を生じやす
い。温度センサ２０３としては、例えば基板１０４の裏
面に熱電対や測温センサを固着することも考えられるが
、Ｘ線ＣＴ装置用の多チャンネルＸ線検出器は、その各
検出素子（チャンネル）の特性ばらつき低減に対する要
求が厳しく、上記熱電対や測温センサを直付けするとＸ
線を散乱する可能性があり、またノイズ混入の虞のある
金属を検出素子の近傍に設置することは困難である。 したがって、上記のように光電変換素子１０１の温度を
直接測定せず、外気の温度変動により誤差を生じやすい
ものとなっている。 （２）ヒータ２０２を使用するため、蛍光体１０２及び
光電変換素子１０１の温度が上昇し、光電変換素子１０
１の暗電流が増大すると共に、それらの感度が低下し、
Ｓ／Ｎが低下する。 （３）断熱材２０５を使用するため、装置全体が大きく
なる。 （４）ヒータ２０２の過熱による火災発生の危険性があ
る。 （５）部品点数が多く、構成が繁雑になる。 本発明の目的は、恒温装置（ヒータ、温度センサ、温度
コントローラ、断熱材などからなる）を用いずに、外気
の温度変動による誤差のない計測データが得られ、した
がって構成簡単で小形化が図れ、また火災発生の危険が
なく、しかもＳ／Ｎのよい高精度の計測データが得られ
る放射線計測装置を提供することにある。
は、以下のような問題点があった。 （１）蛍光体１０２、光電変換素子１０１の温度を直接
測定しないため、外気の温度変動により誤差を生じやす
い。温度センサ２０３としては、例えば基板１０４の裏
面に熱電対や測温センサを固着することも考えられるが
、Ｘ線ＣＴ装置用の多チャンネルＸ線検出器は、その各
検出素子（チャンネル）の特性ばらつき低減に対する要
求が厳しく、上記熱電対や測温センサを直付けするとＸ
線を散乱する可能性があり、またノイズ混入の虞のある
金属を検出素子の近傍に設置することは困難である。 したがって、上記のように光電変換素子１０１の温度を
直接測定せず、外気の温度変動により誤差を生じやすい
ものとなっている。 （２）ヒータ２０２を使用するため、蛍光体１０２及び
光電変換素子１０１の温度が上昇し、光電変換素子１０
１の暗電流が増大すると共に、それらの感度が低下し、
Ｓ／Ｎが低下する。 （３）断熱材２０５を使用するため、装置全体が大きく
なる。 （４）ヒータ２０２の過熱による火災発生の危険性があ
る。 （５）部品点数が多く、構成が繁雑になる。 本発明の目的は、恒温装置（ヒータ、温度センサ、温度
コントローラ、断熱材などからなる）を用いずに、外気
の温度変動による誤差のない計測データが得られ、した
がって構成簡単で小形化が図れ、また火災発生の危険が
なく、しかもＳ／Ｎのよい高精度の計測データが得られ
る放射線計測装置を提供することにある。
【００１０】本発明の他の目的は、温度センサを用いず
、光電変換素子の暗電流に基づいた信号を恒温制御のフ
ィードバック信号として恒温制御を行って温度制御の高
精度化を図り、精度の高い計測データが得られる放射線
計測装置を提供することにある。
、光電変換素子の暗電流に基づいた信号を恒温制御のフ
ィードバック信号として恒温制御を行って温度制御の高
精度化を図り、精度の高い計測データが得られる放射線
計測装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的は、放射線を蛍
光に変換する蛍光体と、この蛍光体に対応して配置され
、前記蛍光を電流に変換する光電変換素子と、前記蛍光
体，光電変換素子を収納する容器と、前記電流を計測し
、処理するための信号処理装置とを備えてなる放射線計
測装置において、放射線曝射一定時間前の前記光電変換
素子の暗電流を計測，保持し、その値から放射線曝射時
の前記光電変換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測
データに対する温度補正を行う温度補正処理装置を設け
ることにより達成される。
光に変換する蛍光体と、この蛍光体に対応して配置され
、前記蛍光を電流に変換する光電変換素子と、前記蛍光
体，光電変換素子を収納する容器と、前記電流を計測し
、処理するための信号処理装置とを備えてなる放射線計
測装置において、放射線曝射一定時間前の前記光電変換
素子の暗電流を計測，保持し、その値から放射線曝射時
の前記光電変換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測
データに対する温度補正を行う温度補正処理装置を設け
ることにより達成される。
【００１２】上記他の目的は、放射線を蛍光に変換する
蛍光体と、この蛍光体に対応して配置され、前記蛍光を
電流に変換する光電変換素子と、前記蛍光体，光電変換
素子を収納する容器と、この容器の内部を一定温度に保
持する恒温装置と、前記電流を計測し、処理するための
信号処理装置とを備えてなる放射線計測装置において、
放射線曝射一定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計
測，保持し、その値から放射線曝射時の前記光電変換素
子の温度を求め、その値に応じた信号を恒温制御のフィ
ードバック信号として前記恒温装置に与える暗電流フィ
ードバック装置を設けることにより達成される。
蛍光体と、この蛍光体に対応して配置され、前記蛍光を
電流に変換する光電変換素子と、前記蛍光体，光電変換
素子を収納する容器と、この容器の内部を一定温度に保
持する恒温装置と、前記電流を計測し、処理するための
信号処理装置とを備えてなる放射線計測装置において、
放射線曝射一定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計
測，保持し、その値から放射線曝射時の前記光電変換素
子の温度を求め、その値に応じた信号を恒温制御のフィ
ードバック信号として前記恒温装置に与える暗電流フィ
ードバック装置を設けることにより達成される。
【００１３】
【作用】光電変換素子（シリコン・フォトダイオードな
ど）の暗電流は、温度変化に対し、下式（１）に示すよ
うに一定の割合で変化する。
ど）の暗電流は、温度変化に対し、下式（１）に示すよ
うに一定の割合で変化する。
【００１４】
【数１】
【００１５】ただし、Ｉｄ（ｔ）は温度ｔ℃における暗
電流、Ｉｄ０は温度ｔ０℃における暗電流、αは温度係
数、である。αの値は、例えばシリコン・フォトダイオ
ードでは〜０．０７程度であり、温度が１０℃上昇する
と暗電流は約２倍になる。
電流、Ｉｄ０は温度ｔ０℃における暗電流、αは温度係
数、である。αの値は、例えばシリコン・フォトダイオ
ードでは〜０．０７程度であり、温度が１０℃上昇する
と暗電流は約２倍になる。
【００１６】このように暗電流を測定すれば光電変換素
子の温度を知ることができる。この原理を放射線計測装
置の温度特性の補正手段に適用すれば、従来より精度よ
く補正することができる。
子の温度を知ることができる。この原理を放射線計測装
置の温度特性の補正手段に適用すれば、従来より精度よ
く補正することができる。
【００１７】なお温度係数αは、予め特定の温度ｔ℃，
ｔ０℃における暗電流を実測し、（１）式により求めら
れる。そして、求められたαと、測定された暗電流によ
り、今度は逆に温度を求めることができる。
ｔ０℃における暗電流を実測し、（１）式により求めら
れる。そして、求められたαと、測定された暗電流によ
り、今度は逆に温度を求めることができる。
【００１８】前記温度補正処理装置は、放射線曝射一定
時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測，保持し、そ
の値から上式（１）により、放射線曝射時の前記光電変
換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測データに対す
る温度補正を行う。これにより、恒温装置（ヒータ、温
度センサ、温度コントローラ、断熱材など）を用いずに
、外気の温度変動による誤差のない計測データが得られ
、したがって構成簡単で小形化が図れ、また火災発生の
危険がなく、しかもＳ／Ｎのよい高精度の計測データが
得られることになる。
時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測，保持し、そ
の値から上式（１）により、放射線曝射時の前記光電変
換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測データに対す
る温度補正を行う。これにより、恒温装置（ヒータ、温
度センサ、温度コントローラ、断熱材など）を用いずに
、外気の温度変動による誤差のない計測データが得られ
、したがって構成簡単で小形化が図れ、また火災発生の
危険がなく、しかもＳ／Ｎのよい高精度の計測データが
得られることになる。
【００１９】また前記暗電流フィードバック装置は、放
射線曝射一定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測
，保持し、その値から上式（１）により、放射線曝射時
の前記光電変換素子の温度を求め、その値に応じた信号
を恒温制御のフィードバック信号として前記恒温装置に
与える。これにより、温度センサを用いず、光電変換素
子の暗電流に基づいた信号を恒温制御のフィードバック
信号として恒温制御を行って温度制御の高精度化を図り
、精度の高い計測データが得られることになる。
射線曝射一定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測
，保持し、その値から上式（１）により、放射線曝射時
の前記光電変換素子の温度を求め、その値に応じた信号
を恒温制御のフィードバック信号として前記恒温装置に
与える。これにより、温度センサを用いず、光電変換素
子の暗電流に基づいた信号を恒温制御のフィードバック
信号として恒温制御を行って温度制御の高精度化を図り
、精度の高い計測データが得られることになる。
【００２０】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明による放射線計測装置の一実施例
を示す構成図である。この図１において、１０１〜１０
８は各々第４図と同様である。２０１も図４と同様に信
号処理装置を示すが、本発明では後述温度補正処理装置
の一部をも構成している。１１１は、放射線曝射一定時
間前の光電変換素子１０２の暗電流を計測，保持し、そ
の値から放射線曝射時の光電変換素子１０２の温度を求
め、放射線曝射時の計測データに対する温度補正を行う
温度補正処理装置である。
する。図１は、本発明による放射線計測装置の一実施例
を示す構成図である。この図１において、１０１〜１０
８は各々第４図と同様である。２０１も図４と同様に信
号処理装置を示すが、本発明では後述温度補正処理装置
の一部をも構成している。１１１は、放射線曝射一定時
間前の光電変換素子１０２の暗電流を計測，保持し、そ
の値から放射線曝射時の光電変換素子１０２の温度を求
め、放射線曝射時の計測データに対する温度補正を行う
温度補正処理装置である。
【００２１】この温度補正処理装置１１１は、ここでは
、放射線曝射直前の光電変換素子１０１の暗電流を計測
（オフセットデータとして計測），保持する暗電流デー
タ保持回路１０９と、上記暗電流の計測値から放射線曝
射時の光電変換素子１０１の温度を求めるための温度特
性データが記録された温度特性データメモリ１１０と、
信号処理装置２０１とで構成されている。信号処理装置
２０１は、従来技術におけると同様の一般的な補正処理
を行うと共に、本発明では、暗電流データ保持回路１０
９と温度特性データメモリ１１０からのデータに基づき
、上式（１）によって光電変換素子１０１の温度を求め
、これにより、放射線曝射時の計測データに対する温度
補正を行うものである。
、放射線曝射直前の光電変換素子１０１の暗電流を計測
（オフセットデータとして計測），保持する暗電流デー
タ保持回路１０９と、上記暗電流の計測値から放射線曝
射時の光電変換素子１０１の温度を求めるための温度特
性データが記録された温度特性データメモリ１１０と、
信号処理装置２０１とで構成されている。信号処理装置
２０１は、従来技術におけると同様の一般的な補正処理
を行うと共に、本発明では、暗電流データ保持回路１０
９と温度特性データメモリ１１０からのデータに基づき
、上式（１）によって光電変換素子１０１の温度を求め
、これにより、放射線曝射時の計測データに対する温度
補正を行うものである。
【００２２】ここでは、温度補正処理装置１１１は光電
変換素子１０１及び蛍光体１０２の複合体の感度の温度
補正をも行うもので、温度特性データメモリ１１０には
、光電変換素子１０１の温度特性データに加えて、光電
変換素子１０１及び蛍光体１０２の複合体の感度の温度
特性データも記録されている。
変換素子１０１及び蛍光体１０２の複合体の感度の温度
補正をも行うもので、温度特性データメモリ１１０には
、光電変換素子１０１の温度特性データに加えて、光電
変換素子１０１及び蛍光体１０２の複合体の感度の温度
特性データも記録されている。
【００２３】次に動作について説明する。入射したＸ線
は蛍光体１０２により光に変換され、更に光電変換素子
１０１により電流に変換される。この電流は更にボンデ
ィングワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０
６、コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置
２０１及び暗電流データ保持回路１０９に送られる。信
号処理装置２０１は送られてきた電流信号を電圧に変換
した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一般的な処理（Ｌｏｇ変
換、オフセット補正など）を行った後、図示しない記憶
装置に一般的な処理が済んだ計測データとして格納する
。
は蛍光体１０２により光に変換され、更に光電変換素子
１０１により電流に変換される。この電流は更にボンデ
ィングワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０
６、コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置
２０１及び暗電流データ保持回路１０９に送られる。信
号処理装置２０１は送られてきた電流信号を電圧に変換
した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一般的な処理（Ｌｏｇ変
換、オフセット補正など）を行った後、図示しない記憶
装置に一般的な処理が済んだ計測データとして格納する
。
【００２４】暗電流データ保持回路１０９は、図２に示
すように、Ｘ線曝射直前のオフセットデータ（暗電流デ
ータも含む）計測時に、オフセットデータとしての暗電
流データ（暗電流値）を格納する。
すように、Ｘ線曝射直前のオフセットデータ（暗電流デ
ータも含む）計測時に、オフセットデータとしての暗電
流データ（暗電流値）を格納する。
【００２５】また前記信号処理装置２０１は、温度補正
処理装置１１１の信号処理部として、図２に示したシー
ケンスにより測定されたオフセットデータ（暗電流値）
と温度特性データメモリ１１０に格納されている暗電流
の温度特性データとに基づき、上式（１）を用いて光電
変換素子１０１の温度を求め、更に温度特性データメモ
リ１１０に格納されている光電変換素子１０１及び蛍光
体１０２の複合体の感度の温度特性データにより、計測
したＸ線データを補正する。
処理装置１１１の信号処理部として、図２に示したシー
ケンスにより測定されたオフセットデータ（暗電流値）
と温度特性データメモリ１１０に格納されている暗電流
の温度特性データとに基づき、上式（１）を用いて光電
変換素子１０１の温度を求め、更に温度特性データメモ
リ１１０に格納されている光電変換素子１０１及び蛍光
体１０２の複合体の感度の温度特性データにより、計測
したＸ線データを補正する。
【００２６】上述発明によれば、従来技術のように恒温
装置（ヒータ、温度センサ、温度コントローラ、断熱材
など）を用いずに、外気の温度変動による誤差のない計
測データを得ることができる。
装置（ヒータ、温度センサ、温度コントローラ、断熱材
など）を用いずに、外気の温度変動による誤差のない計
測データを得ることができる。
【００２７】なお、温度補正処理装置１１１の構成は上
述実施例のみに限定されないことは勿論である。次に、
他の発明の実施例を図３に示す。図３は、他の発明によ
る放射線計測装置の一実施例を示す構成図である。この
図３において、１０１〜１０８及び２０１は各々第４図
と同様である。
述実施例のみに限定されないことは勿論である。次に、
他の発明の実施例を図３に示す。図３は、他の発明によ
る放射線計測装置の一実施例を示す構成図である。この
図３において、１０１〜１０８及び２０１は各々第４図
と同様である。
【００２８】３０１は、放射線曝射一定時間前の光電変
換素子１０２の暗電流を計測，保持し、その値から放射
線曝射時の光電変換素子１０２の温度を求め、その値に
応じた信号を恒温制御のフィードバック信号として恒温
装置（ヒータ２０２、温度コントローラ２０４、断熱材
２０５などからなる）に与える暗電流処理装置である。
換素子１０２の暗電流を計測，保持し、その値から放射
線曝射時の光電変換素子１０２の温度を求め、その値に
応じた信号を恒温制御のフィードバック信号として恒温
装置（ヒータ２０２、温度コントローラ２０４、断熱材
２０５などからなる）に与える暗電流処理装置である。
【００２９】次に動作について説明する。入射したＸ線
は蛍光体１０２により光に変換され、更に光電変換素子
１０１により電流に変換される。この電流は更にボンデ
ィングワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０
６、コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置
２０１及び暗電流処理装置３０１に送られる。
は蛍光体１０２により光に変換され、更に光電変換素子
１０１により電流に変換される。この電流は更にボンデ
ィングワイヤ１０３、基板１０４上の導電パターン１０
６、コネクタ１０７、配線１０８を介して信号処理装置
２０１及び暗電流処理装置３０１に送られる。
【００３０】信号処理装置２０１は送られてきた電流信
号を電圧に変換した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一般的な
処理（Ｌｏｇ変換、オフセット補正など）を行った後、
図示しない記憶装置に一般的な処理が済んだ計測データ
として格納する。
号を電圧に変換した後、Ａ／Ｄ変換し、種々の一般的な
処理（Ｌｏｇ変換、オフセット補正など）を行った後、
図示しない記憶装置に一般的な処理が済んだ計測データ
として格納する。
【００３１】暗電流処理装置３０１は、放射線曝射一定
時間前の光電変換素子１０２の暗電流を計測，保持し、
その値から放射線曝射時の光電変換素子１０２の温度を
求め、その値に応じた信号を恒温制御のフィードバック
信号として恒温装置、詳しくは恒温装置の温度コントロ
ーラ２０４に与える。
時間前の光電変換素子１０２の暗電流を計測，保持し、
その値から放射線曝射時の光電変換素子１０２の温度を
求め、その値に応じた信号を恒温制御のフィードバック
信号として恒温装置、詳しくは恒温装置の温度コントロ
ーラ２０４に与える。
【００３２】温度コントローラ２０４は上記温度のフィ
ードバック信号を基準温度信号と比較し、それによりヒ
ータ２０２をＯＮ，ＯＦＦ又は電力連続制御し、温度コ
ントロールする。これにより、容器１０５内部は一定温
度に保たれる。
ードバック信号を基準温度信号と比較し、それによりヒ
ータ２０２をＯＮ，ＯＦＦ又は電力連続制御し、温度コ
ントロールする。これにより、容器１０５内部は一定温
度に保たれる。
【００３３】上述本発明によれば、従来技術では測定で
きなかったＸ線検出器本体（蛍光体１０２、光電変換素
子１０１部分の温度を正確に測定することができ、実質
的な温度制御精度を向上させることができる。
きなかったＸ線検出器本体（蛍光体１０２、光電変換素
子１０１部分の温度を正確に測定することができ、実質
的な温度制御精度を向上させることができる。
【００３４】なお上述実施例のいずれも、Ｘ線検出器の
１チャンネル分について説明したもので、実際には、上
述動作が全てのチャンネルについて行われる。
１チャンネル分について説明したもので、実際には、上
述動作が全てのチャンネルについて行われる。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、次
のような効果がある。まず、図１に示す発明によれば、
以下のような効果がある。 （１）ヒータ、温度センサ、温度コントローラ、断熱材
などからなる恒温装置が不要となり、構成簡単で小形化
が図れる。 （２）ヒータを排除することにより、火災に対する安全
性が向上する。 （３）温度センサによらず、光電変換素子の暗電流に基
づいて光電変換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測
データに対する温度補正を行うので、Ｓ／Ｎのよい高精
度の計測データが得られる。しかも多チャンネルＸ線検
出器の場合、各Ｘ線検出素子（チャンネル）の暗電流（
温度）は、通常のオフセットデータとして計測されるの
で、従来技術の温度センサのように特別な部品として付
加しなくとも、各Ｘ線検出素子（チャンネル）について
の暗電流（温度）として正確に把握することができ、温
度による特性変化を個別に、かつ高精度に補正すること
ができる。
のような効果がある。まず、図１に示す発明によれば、
以下のような効果がある。 （１）ヒータ、温度センサ、温度コントローラ、断熱材
などからなる恒温装置が不要となり、構成簡単で小形化
が図れる。 （２）ヒータを排除することにより、火災に対する安全
性が向上する。 （３）温度センサによらず、光電変換素子の暗電流に基
づいて光電変換素子の温度を求め、放射線曝射時の計測
データに対する温度補正を行うので、Ｓ／Ｎのよい高精
度の計測データが得られる。しかも多チャンネルＸ線検
出器の場合、各Ｘ線検出素子（チャンネル）の暗電流（
温度）は、通常のオフセットデータとして計測されるの
で、従来技術の温度センサのように特別な部品として付
加しなくとも、各Ｘ線検出素子（チャンネル）について
の暗電流（温度）として正確に把握することができ、温
度による特性変化を個別に、かつ高精度に補正すること
ができる。
【００３６】また、図３に示す発明によれば、以下のよ
うな効果がある。 （１）温度センサが不要となる。 （２）温度センサによらず、光電変換素子の暗電流に基
づいて光電変換素子の温度を求め、これを恒温制御のフ
ィードバック信号として恒温制御を行うので、Ｓ／Ｎの
よい高精度の計測データが得られる。しかも多チャンネ
ルＸ線検出器の場合、各Ｘ線検出素子（チャンネル）の
暗電流（温度）は、通常のオフセットデータとして計測
されるので、従来技術の温度センサのように特別な部品
として付加しなくとも、各Ｘ線検出素子（チャンネル）
についての暗電流（温度）として正確に把握することが
でき、温度による特性変化を個別に、かつ高精度に補正
することができる。
うな効果がある。 （１）温度センサが不要となる。 （２）温度センサによらず、光電変換素子の暗電流に基
づいて光電変換素子の温度を求め、これを恒温制御のフ
ィードバック信号として恒温制御を行うので、Ｓ／Ｎの
よい高精度の計測データが得られる。しかも多チャンネ
ルＸ線検出器の場合、各Ｘ線検出素子（チャンネル）の
暗電流（温度）は、通常のオフセットデータとして計測
されるので、従来技術の温度センサのように特別な部品
として付加しなくとも、各Ｘ線検出素子（チャンネル）
についての暗電流（温度）として正確に把握することが
でき、温度による特性変化を個別に、かつ高精度に補正
することができる。
【図１】本発明装置の一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明装置におけるデータ計測のシーケンスを
示す図である。
示す図である。
【図３】他の発明装置の一実施例を示す構成図である。
【図４】従来装置を示す構成図である。
【符号の説明】
１０１ 光電変換素子
１０２ 蛍光体
１０４ 基板
１０５ 容器
１０９ 暗電流データ保持回路
１１０ 温度特性データメモリ
１１１ 温度補正処理装置
２０１ 信号処理装置
２０２ ヒータ
２０３ 温度センサ
２０４ 温度コントローラ
２０５ 断熱材
３０１ 暗電流処理装置
Claims (2)
- 【請求項１】 放射線を蛍光に変換する蛍光体と、こ
の蛍光体に対応して配置され、前記蛍光を電流に変換す
る光電変換素子と、前記蛍光体，光電変換素子を収納す
る容器と、前記電流を計測し、処理するための信号処理
装置とを備えてなる放射線計測装置において、放射線曝
射一定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測，保持
し、その値から放射線曝射時の前記光電変換素子の温度
を求め、放射線曝射時の計測データに対する温度補正を
行う温度補正処理装置を具備することを特徴とする放射
線計測装置。 - 【請求項２】 放射線を蛍光に変換する蛍光体と、こ
の蛍光体に対応して配置され、前記蛍光を電流に変換す
る光電変換素子と、前記蛍光体，光電変換素子を収納す
る容器と、この容器の内部を一定温度に保持する恒温装
置と、前記電流を計測し、処理するための信号処理装置
とを備えてなる放射線計測装置において、放射線曝射一
定時間前の前記光電変換素子の暗電流を計測，保持し、
その値から放射線曝射時の前記光電変換素子の温度を求
め、その値に応じた信号を恒温制御のフィードバック信
号として前記恒温装置に与える暗電流フィードバック装
置を具備することを特徴とする放射線計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3082542A JPH04315985A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 放射線計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3082542A JPH04315985A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 放射線計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04315985A true JPH04315985A (ja) | 1992-11-06 |
Family
ID=13777396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3082542A Pending JPH04315985A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 放射線計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04315985A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202377A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
| US6713769B2 (en) * | 2002-02-07 | 2004-03-30 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method of sensing temperature of a digital X-ray imaging system |
| JP2008126064A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | General Electric Co <Ge> | データ取得システムをセンサ・アレイに熱的に結合するインタフェイス・アセンブリ |
| JP2012083307A (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-26 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置、放射線画像撮影システム、放射線検出プログラム、及び放射線検出方法 |
| JP2013180182A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-12 | Nippon Koden Corp | エアウェイアダプタおよび生体情報取得システム |
| JP2015158501A (ja) * | 2009-03-26 | 2015-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | データ取得 |
| CN106154305A (zh) * | 2015-04-17 | 2016-11-23 | Ge医疗***环球技术有限公司 | X射线探测器的温度修正***及方法 |
| JP2017015662A (ja) * | 2015-07-06 | 2017-01-19 | 株式会社日立製作所 | 放射線モニタ |
| US10667774B2 (en) | 2017-07-20 | 2020-06-02 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus |
| US11413000B2 (en) | 2020-02-14 | 2022-08-16 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus and storage medium |
-
1991
- 1991-04-15 JP JP3082542A patent/JPH04315985A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US8885795B2 (en) | 2010-10-14 | 2014-11-11 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, radiographic image capturing system, radiation detection method, and radiation detection program storage medium |
| JP2013180182A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-12 | Nippon Koden Corp | エアウェイアダプタおよび生体情報取得システム |
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| CN106154305B (zh) * | 2015-04-17 | 2020-12-11 | Ge医疗***环球技术有限公司 | X射线探测器的温度修正***及方法 |
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