JPH04289516A - 光ディスク再生装置のデ−タスライス回路 - Google Patents
光ディスク再生装置のデ−タスライス回路Info
- Publication number
- JPH04289516A JPH04289516A JP7818691A JP7818691A JPH04289516A JP H04289516 A JPH04289516 A JP H04289516A JP 7818691 A JP7818691 A JP 7818691A JP 7818691 A JP7818691 A JP 7818691A JP H04289516 A JPH04289516 A JP H04289516A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- pass filter
- dust
- reference voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 43
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims abstract description 41
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク再生装置のデ
ータスライス回路に係り、特にCDプレーヤ、CD−R
OM、CD−V、CD−Iなどで、RF信号を波形整形
してディジタル信号に変換する光ディスク再生装置のデ
ータスライス回路に関する。
ータスライス回路に係り、特にCDプレーヤ、CD−R
OM、CD−V、CD−Iなどで、RF信号を波形整形
してディジタル信号に変換する光ディスク再生装置のデ
ータスライス回路に関する。
【0002】
【従来の技術】CDプレーヤでは、CDの記録信号を光
ピックアップで検出し、ヘッドアンプで電流−電圧変換
と演算を行ってRF信号を作成し、ディジタル信号処理
回路でオーディオサンプルデータを復調するようになっ
ている。ところで、CDにはディジタル信号が記録され
ているが、光ピックアップやヘッドアンプの周波数特性
のため、ヘッドアンプから出力されるRF信号はアナロ
グ波形となる。よって、CDプレーヤにはヘッドアンプ
から出力されるRF信号を波形整形して二値化RF信号
(EFM信号)を作成するデータスライス回路が設けら
れている。
ピックアップで検出し、ヘッドアンプで電流−電圧変換
と演算を行ってRF信号を作成し、ディジタル信号処理
回路でオーディオサンプルデータを復調するようになっ
ている。ところで、CDにはディジタル信号が記録され
ているが、光ピックアップやヘッドアンプの周波数特性
のため、ヘッドアンプから出力されるRF信号はアナロ
グ波形となる。よって、CDプレーヤにはヘッドアンプ
から出力されるRF信号を波形整形して二値化RF信号
(EFM信号)を作成するデータスライス回路が設けら
れている。
【0003】図3に従来のデータスライス回路の構成を
示す。ヘッドアンプから出力されたアナログのRF信号
はRFアンプ1で増幅されたあと、データスライス回路
2で波形整形されて二値化RF信号が作成される。RF
アンプ1から出力されるアナログのRF信号は、CDの
製造上のバラツキなどで低周波成分に変動が生じており
、この変動成分を取り除くためまずハイパスフィルタ2
aでAC結合させたあと、EFMコンパレータ2bの非
反転入力端子に入力される。EFMコンパレータ2bの
反転入力端子には、比較用基準電圧Eref が入力さ
れている。EFMコンパレータ2bは、ハイパスフィル
タ2aの出力と比較用基準電圧Eref を比較し、ハ
イパスフィルタ2aの出力が比較用基準電圧Eref
を上回っているときHレベル、下回っているときLレベ
ルを出力して、アナログのRF信号を二値化RF信号(
EFM信号)に変換し、後段のディジタル信号処理回路
3へ出力する。
示す。ヘッドアンプから出力されたアナログのRF信号
はRFアンプ1で増幅されたあと、データスライス回路
2で波形整形されて二値化RF信号が作成される。RF
アンプ1から出力されるアナログのRF信号は、CDの
製造上のバラツキなどで低周波成分に変動が生じており
、この変動成分を取り除くためまずハイパスフィルタ2
aでAC結合させたあと、EFMコンパレータ2bの非
反転入力端子に入力される。EFMコンパレータ2bの
反転入力端子には、比較用基準電圧Eref が入力さ
れている。EFMコンパレータ2bは、ハイパスフィル
タ2aの出力と比較用基準電圧Eref を比較し、ハ
イパスフィルタ2aの出力が比較用基準電圧Eref
を上回っているときHレベル、下回っているときLレベ
ルを出力して、アナログのRF信号を二値化RF信号(
EFM信号)に変換し、後段のディジタル信号処理回路
3へ出力する。
【0004】ここで、ハイパスフィルタ2aの出力に直
流成分が含まれていなければ、比較用基準電圧Eref
は0Vに固定すればよいが、実際には、AC結合だけ
ではCDの製造上のバラツキなどで発生するアシンメト
リーを完全に除去できないので、比較用基準電圧Ere
f を0Vに固定してしまうと、正確な波形整形ができ
ない。具体的には、ハイパスフィルタ2aの出力に+の
直流成分があるとき、比較用基準電圧Eref =0V
では、EFMコンパレータ2bから出力される二値化R
F信号のデューティ比が50パーセントより大きくなり
、逆に、ハイパスフィルタ2aの出力に−の直流成分が
あるとき、EFMコンパレータ2bから出力される二値
化RF信号のデューティ比が50パーセントより小さく
なる。
流成分が含まれていなければ、比較用基準電圧Eref
は0Vに固定すればよいが、実際には、AC結合だけ
ではCDの製造上のバラツキなどで発生するアシンメト
リーを完全に除去できないので、比較用基準電圧Ere
f を0Vに固定してしまうと、正確な波形整形ができ
ない。具体的には、ハイパスフィルタ2aの出力に+の
直流成分があるとき、比較用基準電圧Eref =0V
では、EFMコンパレータ2bから出力される二値化R
F信号のデューティ比が50パーセントより大きくなり
、逆に、ハイパスフィルタ2aの出力に−の直流成分が
あるとき、EFMコンパレータ2bから出力される二値
化RF信号のデューティ比が50パーセントより小さく
なる。
【0005】このため、図3では比較用基準電圧Ere
f を制御して正確な波形整形ができるようにしている
。即ち、まず、ディジタル信号処理回路3に入力された
二値化RF信号を内部のバッファアンプ3aを介して取
り出し、ローパスフィルタ2cに入力して直流成分を検
出する。二値化RF信号は、「0」と「1」の生起確率
が各々50パーセントなので、比較用基準電圧Eref
が適切でありEFMコンパレータ2bで正確な波形整
形ができていれば、二値化RF信号の直流成分は、二値
化RF信号の波高値をVD とすると、VD /2とな
る。
f を制御して正確な波形整形ができるようにしている
。即ち、まず、ディジタル信号処理回路3に入力された
二値化RF信号を内部のバッファアンプ3aを介して取
り出し、ローパスフィルタ2cに入力して直流成分を検
出する。二値化RF信号は、「0」と「1」の生起確率
が各々50パーセントなので、比較用基準電圧Eref
が適切でありEFMコンパレータ2bで正確な波形整
形ができていれば、二値化RF信号の直流成分は、二値
化RF信号の波高値をVD とすると、VD /2とな
る。
【0006】比較用基準電圧Eref が不適切であり
EFMコンパレータ2bで正確な波形整形ができないと
き、例えば、比較用基準電圧Eref が低過ぎると二
値化RF信号のデューティ比が大きくなって、二値化R
F信号の直流成分はVD /2より大きくなり、逆に、
基準電圧Eref が高過ぎると二値化RF信号のデュ
ーティ比が小さくなって、二値化RF信号の直流成分は
、VD /2より小さくなる。よって、ローパスフィル
タ2cの出力電圧で比較用基準電圧Eref をフィー
ドバック制御すれば、EFMコンパレータ2bで正確な
波形整形を行わせることができる。
EFMコンパレータ2bで正確な波形整形ができないと
き、例えば、比較用基準電圧Eref が低過ぎると二
値化RF信号のデューティ比が大きくなって、二値化R
F信号の直流成分はVD /2より大きくなり、逆に、
基準電圧Eref が高過ぎると二値化RF信号のデュ
ーティ比が小さくなって、二値化RF信号の直流成分は
、VD /2より小さくなる。よって、ローパスフィル
タ2cの出力電圧で比較用基準電圧Eref をフィー
ドバック制御すれば、EFMコンパレータ2bで正確な
波形整形を行わせることができる。
【0007】ローパスフィルタ2cの出力電圧は減算回
路2dで所定の基準電圧Ecが減算されたあと、比較用
基準電圧Eref としてEFMコンパレータ2bの反
転入力端子に印加される。減算回路2dの利得は、ロー
パスフィルタ2cの出力電圧と基準電圧Ecの差が、丁
度、ハイパスフィルタ2aの出力の直流オフセット電圧
に等しくなるように設定されている。
路2dで所定の基準電圧Ecが減算されたあと、比較用
基準電圧Eref としてEFMコンパレータ2bの反
転入力端子に印加される。減算回路2dの利得は、ロー
パスフィルタ2cの出力電圧と基準電圧Ecの差が、丁
度、ハイパスフィルタ2aの出力の直流オフセット電圧
に等しくなるように設定されている。
【0008】図3のデータスライス回路の動作を簡単に
説明すると、ハイパスフィルタ2aを通過したRF信号
に直流成分がなく、また、比較用基準電圧Eref が
0Vとなっているとき、二値化RF信号の直流成分はV
D /2で、減算回路2dの出力は0Vに維持される。 この状態から、ハイパスフィルタ2aから出力されるR
F信号に+(−)の直流成分が乗ると、二値化RF信号
の直流成分はVD /2より大きく(小さく)なり、減
算回路2dの出力電圧が0Vより高く(低く)なって、
比較用基準電圧Eref がRF信号に対し最適となる
方向に修正される。この結果、EFMコンパレータ2b
は常に正確な波形整形動作が行われることになる。
説明すると、ハイパスフィルタ2aを通過したRF信号
に直流成分がなく、また、比較用基準電圧Eref が
0Vとなっているとき、二値化RF信号の直流成分はV
D /2で、減算回路2dの出力は0Vに維持される。 この状態から、ハイパスフィルタ2aから出力されるR
F信号に+(−)の直流成分が乗ると、二値化RF信号
の直流成分はVD /2より大きく(小さく)なり、減
算回路2dの出力電圧が0Vより高く(低く)なって、
比較用基準電圧Eref がRF信号に対し最適となる
方向に修正される。この結果、EFMコンパレータ2b
は常に正確な波形整形動作が行われることになる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3のよう
に構成されたデータスライス回路において、ローパスフ
ィルタ2cの時定数の影響で、ハイパスフィルタ2aを
通ったRF信号の直流成分が変動しても、比較用基準電
圧Eref は直ちに追従することができず、遅れが生
じる。このため、EFMコンパレータ2bから出力され
る二値化RF信号にエラーが生じることになるが、正常
な再生状態にあれば、エラーは小さく、ディジタル信号
処理回路3でエラー訂正されるので問題はない。
に構成されたデータスライス回路において、ローパスフ
ィルタ2cの時定数の影響で、ハイパスフィルタ2aを
通ったRF信号の直流成分が変動しても、比較用基準電
圧Eref は直ちに追従することができず、遅れが生
じる。このため、EFMコンパレータ2bから出力され
る二値化RF信号にエラーが生じることになるが、正常
な再生状態にあれば、エラーは小さく、ディジタル信号
処理回路3でエラー訂正されるので問題はない。
【0010】けれども、CDに傷や埃があったり、指紋
のような大きなよごれがあったりしたとき、二値化RF
信号に大きなエラーが生じる場合があり、ディジタル信
号処理回路3で訂正不能となるので、問題である。CD
上の指紋を光ピックアップのレーザビームが通過すると
き、RF信号のエンベロープは図4(1)の実線A,B
のようになり、指紋を通過している間、RF信号の上側
エンベロープAが落ち込む。このとき、ローパスフィル
タ2cの時定数が大きいと、比較用基準電圧Eref
は破線Cの如く変化し、指紋を通過している間、比較用
基準電圧Eref が不適切となり、二値化RF信号に
大きなエラーが生じる。これに対し、ローパスフィルタ
2cの時定数が小さいと、比較用基準電圧Eref は
一点鎖線Dの如く変化し、指紋を通過している間、RF
信号の上側エンベロープAの落ち込みに比例して比較用
基準電圧Eref も低下し、適正状態を保つので、二
値化RF信号のエラーは小さくなる。
のような大きなよごれがあったりしたとき、二値化RF
信号に大きなエラーが生じる場合があり、ディジタル信
号処理回路3で訂正不能となるので、問題である。CD
上の指紋を光ピックアップのレーザビームが通過すると
き、RF信号のエンベロープは図4(1)の実線A,B
のようになり、指紋を通過している間、RF信号の上側
エンベロープAが落ち込む。このとき、ローパスフィル
タ2cの時定数が大きいと、比較用基準電圧Eref
は破線Cの如く変化し、指紋を通過している間、比較用
基準電圧Eref が不適切となり、二値化RF信号に
大きなエラーが生じる。これに対し、ローパスフィルタ
2cの時定数が小さいと、比較用基準電圧Eref は
一点鎖線Dの如く変化し、指紋を通過している間、RF
信号の上側エンベロープAの落ち込みに比例して比較用
基準電圧Eref も低下し、適正状態を保つので、二
値化RF信号のエラーは小さくなる。
【0011】また、CD上の傷や埃を光ピックアップの
レーザビームが通過するとき、RF信号のエンベロープ
は図4(2)の実線a,bのようになり、傷や埃を通過
している間、RF信号が欠落する。このとき、ローパス
フィルタ2cの時定数が小さいと、比較用基準電圧Er
ef は一点鎖線dの如く変化し、傷や埃を通過後にR
F信号が正常に戻っても比較用基準電圧Eref がま
だ暫く不適切なので(図4(2)のτの期間参照)、二
値化RF信号に大きなエラーが生じる。これに対し、ロ
ーパスフィルタ2cの時定数が大きいと、比較用基準電
圧Eref は破線Cの如く変化し、傷や埃を通過後に
RF信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧Eref
は既に適正値となっているので、二値化RF信号のエ
ラーは小さくなる。
レーザビームが通過するとき、RF信号のエンベロープ
は図4(2)の実線a,bのようになり、傷や埃を通過
している間、RF信号が欠落する。このとき、ローパス
フィルタ2cの時定数が小さいと、比較用基準電圧Er
ef は一点鎖線dの如く変化し、傷や埃を通過後にR
F信号が正常に戻っても比較用基準電圧Eref がま
だ暫く不適切なので(図4(2)のτの期間参照)、二
値化RF信号に大きなエラーが生じる。これに対し、ロ
ーパスフィルタ2cの時定数が大きいと、比較用基準電
圧Eref は破線Cの如く変化し、傷や埃を通過後に
RF信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧Eref
は既に適正値となっているので、二値化RF信号のエ
ラーは小さくなる。
【0012】この結果、従来のデータスライス回路では
、傷や埃と、指紋の一方のエラーに強くすると、他方の
エラーに弱くなり、傷や埃と、指紋の両方のエラーに強
くすることができなかった。
、傷や埃と、指紋の一方のエラーに強くすると、他方の
エラーに弱くなり、傷や埃と、指紋の両方のエラーに強
くすることができなかった。
【0013】以上から本発明の目的は、光ディスク上の
傷や埃と、指紋の両方のエラーに強くすることができる
光ディスク再生装置のデータスライス回路を提供するこ
とにある。
傷や埃と、指紋の両方のエラーに強くすることができる
光ディスク再生装置のデータスライス回路を提供するこ
とにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明においては、AC
結合を通したあとのRF信号を、所定の比較用基準電圧
と比較して二値化するコンパレータと、コンパレータか
ら出力される二値化RF信号中の直流成分を取り出すロ
ーパスフィルタと、ローパスフィルタの出力と所定の基
準電圧を入力し、所定の演算を行って比較用基準電圧を
発生し、コンパレータへ出力する演算回路を設けた光デ
ィスク再生装置のデータスライス回路において、光ディ
スクの傷、埃を検出するディフェクト回路と、前記ロー
パスフィルタと前記コンパレータの間で、ディフェクト
回路が傷、埃を検出していないときはサンプリング動作
を行い、ディフェクト回路が傷、埃を検出しているとき
はホールド動作を行うサンプル・ホールド回路を設ける
とともに、前記ローパスフィルタの時定数を小さくした
ことにより達成される。
結合を通したあとのRF信号を、所定の比較用基準電圧
と比較して二値化するコンパレータと、コンパレータか
ら出力される二値化RF信号中の直流成分を取り出すロ
ーパスフィルタと、ローパスフィルタの出力と所定の基
準電圧を入力し、所定の演算を行って比較用基準電圧を
発生し、コンパレータへ出力する演算回路を設けた光デ
ィスク再生装置のデータスライス回路において、光ディ
スクの傷、埃を検出するディフェクト回路と、前記ロー
パスフィルタと前記コンパレータの間で、ディフェクト
回路が傷、埃を検出していないときはサンプリング動作
を行い、ディフェクト回路が傷、埃を検出しているとき
はホールド動作を行うサンプル・ホールド回路を設ける
とともに、前記ローパスフィルタの時定数を小さくした
ことにより達成される。
【0015】
【作用】本発明によれば、ローパスフィルタの時定数を
小さくしておくとともに、光ディスクの傷、埃を検出し
、光ディスクの傷、埃が検出されないときは、ローパス
フィルタとコンパレータの間に設けたサンプル・ホール
ド回路にサンプリング動作を行わせ、光ディスクの傷、
埃が検出されたときは、前記サンプル・ホールド回路に
ホールド動作を行わせる。これにより、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通過しないと
きは、時定数の小さいローパスフィルタの出力に基づき
比較用基準電圧が形成されるので、光ピックアップのレ
ーザビームが光ディスク上の指紋を通過してもコンパレ
ータ出力のエラーが小さくなり、また、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通過するとき
は、直前のローパスフィルタ出力に基づく比較用基準電
圧がホールド出力されるので、傷や埃を通過直後にRF
信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧は既に適正値
となっており、二値化RF信号のエラーは小さくなる。
小さくしておくとともに、光ディスクの傷、埃を検出し
、光ディスクの傷、埃が検出されないときは、ローパス
フィルタとコンパレータの間に設けたサンプル・ホール
ド回路にサンプリング動作を行わせ、光ディスクの傷、
埃が検出されたときは、前記サンプル・ホールド回路に
ホールド動作を行わせる。これにより、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通過しないと
きは、時定数の小さいローパスフィルタの出力に基づき
比較用基準電圧が形成されるので、光ピックアップのレ
ーザビームが光ディスク上の指紋を通過してもコンパレ
ータ出力のエラーが小さくなり、また、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通過するとき
は、直前のローパスフィルタ出力に基づく比較用基準電
圧がホールド出力されるので、傷や埃を通過直後にRF
信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧は既に適正値
となっており、二値化RF信号のエラーは小さくなる。
【0016】
【実施例】図1は、本発明の一実施例に係わるCDプレ
ーヤのデータスライス回路の回路図である。なお、図3
と同一の構成部分には同一の符号が付してある。
ーヤのデータスライス回路の回路図である。なお、図3
と同一の構成部分には同一の符号が付してある。
【0017】1はアナログのRF信号を増幅するRFア
ンプ、2AはRF信号を波形整形して二値化RF信号を
作成するデータスライス回路であり、2aはAC結合用
のハイパスフィルタであり、RF信号中の直流成分を除
去する。2bはEFMコンパレータであり、非反転入力
端子に入力されたハイパスフィルタ2aの出力と反転入
力端子に入力された比較用基準電圧Eref ′を比較
し、ハイパスフィルタ2aの出力が比較用基準電圧Er
ef ′を上回っているときHレベル、下回っていると
きLレベルを出力して、二値化RF信号を作成する。3
は二値化RF信号を入力して、オーディオサンプルデー
タやサブコードデータの復調を行うディジタル信号処理
回路であり、入力した二値化RF信号をバッファアンプ
3aを介して外部へ出力する。
ンプ、2AはRF信号を波形整形して二値化RF信号を
作成するデータスライス回路であり、2aはAC結合用
のハイパスフィルタであり、RF信号中の直流成分を除
去する。2bはEFMコンパレータであり、非反転入力
端子に入力されたハイパスフィルタ2aの出力と反転入
力端子に入力された比較用基準電圧Eref ′を比較
し、ハイパスフィルタ2aの出力が比較用基準電圧Er
ef ′を上回っているときHレベル、下回っていると
きLレベルを出力して、二値化RF信号を作成する。3
は二値化RF信号を入力して、オーディオサンプルデー
タやサブコードデータの復調を行うディジタル信号処理
回路であり、入力した二値化RF信号をバッファアンプ
3aを介して外部へ出力する。
【0018】2cはディジタル信号処理回路3のバッフ
ァアンプ3aから二値化RF信号を入力し、直流成分を
取り出すローパスフィルタであり、時定数は小さく設定
されている。2dは減算回路であり、ローパスフィルタ
2cの出力電圧から所定の基準電圧Ecを減算し、比較
用基準電圧Eref として出力する。減算回路2dの
利得は、ローパスフィルタ2cの出力電圧と基準電圧E
cの差が、丁度、ハイパスフィルタ2の出力の直流オフ
セット電圧(直流成分)に等しくなるように設定されて
いる。
ァアンプ3aから二値化RF信号を入力し、直流成分を
取り出すローパスフィルタであり、時定数は小さく設定
されている。2dは減算回路であり、ローパスフィルタ
2cの出力電圧から所定の基準電圧Ecを減算し、比較
用基準電圧Eref として出力する。減算回路2dの
利得は、ローパスフィルタ2cの出力電圧と基準電圧E
cの差が、丁度、ハイパスフィルタ2の出力の直流オフ
セット電圧(直流成分)に等しくなるように設定されて
いる。
【0019】2eはディフェクト回路であり、RF信号
を入力し、エンベロープ検波を行うなどして、光ディス
ク上の傷、埃を検出する。ディフェクト回路2eは、傷
、埃を検出している間、Hレベルのディフェクト信号を
出力し、傷、埃を検出していないときはLレベルのディ
フェクト信号を出力する。2fは減算回路2dの出力側
とEFMコンパレータ2bの反転入力端子の間に設けら
れたサンプル・ホールド回路であり、ディフェクト回路
2eからディフェクト信号を入力し、該ディフェクト信
号がLレベルの間はサンプリング動作を行って、減算回
路2dから入力した比較用基準電圧Eref をそのま
まEFMコンパレータ3へ出力し、ディフェクト信号が
Hレベルの間はホールド動作を行って、ディフェクト信
号がHレベルになる直前に減算回路2dから入力した比
較用基準電圧Eref をホールド出力する。
を入力し、エンベロープ検波を行うなどして、光ディス
ク上の傷、埃を検出する。ディフェクト回路2eは、傷
、埃を検出している間、Hレベルのディフェクト信号を
出力し、傷、埃を検出していないときはLレベルのディ
フェクト信号を出力する。2fは減算回路2dの出力側
とEFMコンパレータ2bの反転入力端子の間に設けら
れたサンプル・ホールド回路であり、ディフェクト回路
2eからディフェクト信号を入力し、該ディフェクト信
号がLレベルの間はサンプリング動作を行って、減算回
路2dから入力した比較用基準電圧Eref をそのま
まEFMコンパレータ3へ出力し、ディフェクト信号が
Hレベルの間はホールド動作を行って、ディフェクト信
号がHレベルになる直前に減算回路2dから入力した比
較用基準電圧Eref をホールド出力する。
【0020】図2はデータスライス回路の動作を示す線
図であり、以下、この図に従って説明する。
図であり、以下、この図に従って説明する。
【0021】光ピックアップのレーザビームが光ディス
ク上の傷、埃を通過していないとき、ディフェクト回路
2eはLレベルのディフェクト信号を出力している(図
2(2)参照)。このとき、サンプル・ホールド回路2
fは減算回路2dから出力された比較用基準電圧Ere
f をそのままEFMコンパレータ2bの反転入力端子
に出力する。
ク上の傷、埃を通過していないとき、ディフェクト回路
2eはLレベルのディフェクト信号を出力している(図
2(2)参照)。このとき、サンプル・ホールド回路2
fは減算回路2dから出力された比較用基準電圧Ere
f をそのままEFMコンパレータ2bの反転入力端子
に出力する。
【0022】よって、EFMコンパレータ2bの反転入
力端子に入力される比較用基準電圧Eref ′は、時
定数の小さなローパスフィルタ2cの出力電圧に従い変
化する。図2(1)の左側に示す如く、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の指紋を通過すると、R
F信号の上側エンベロープAの落ち込みに比例して比較
用基準電圧Eref ′も低下し、適正状態を保つので
、二値化RF信号のエラーは小さくなる。
力端子に入力される比較用基準電圧Eref ′は、時
定数の小さなローパスフィルタ2cの出力電圧に従い変
化する。図2(1)の左側に示す如く、光ピックアップ
のレーザビームが光ディスク上の指紋を通過すると、R
F信号の上側エンベロープAの落ち込みに比例して比較
用基準電圧Eref ′も低下し、適正状態を保つので
、二値化RF信号のエラーは小さくなる。
【0023】これと異なり、図2(1)の右側に示す如
く、光ピックアップのレーザビームが光ディスク上の傷
、埃を通過すると、ディフェクト回路2eはHレベルの
ディフェクト信号を出力する(図2(2)参照)。この
とき、サンプル・ホールド回路2fはレーザビームが光
ディスク上の傷、埃を通過する直前に減算回路2dから
出力された比較用基準電圧Eref をホールド出力す
る。
く、光ピックアップのレーザビームが光ディスク上の傷
、埃を通過すると、ディフェクト回路2eはHレベルの
ディフェクト信号を出力する(図2(2)参照)。この
とき、サンプル・ホールド回路2fはレーザビームが光
ディスク上の傷、埃を通過する直前に減算回路2dから
出力された比較用基準電圧Eref をホールド出力す
る。
【0024】よって、レーザビームが光ディスク上の傷
、埃を通過している間、EFMコンパレータ2bの反転
入力端子に入力される比較用基準電圧Eref ′は、
図2(1)の実線Eの如く変化し、傷や埃を通過後にR
F信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧Eref
は既に適正値となっているので、二値化RF信号のエラ
ーは小さくなる。
、埃を通過している間、EFMコンパレータ2bの反転
入力端子に入力される比較用基準電圧Eref ′は、
図2(1)の実線Eの如く変化し、傷や埃を通過後にR
F信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧Eref
は既に適正値となっているので、二値化RF信号のエラ
ーは小さくなる。
【0025】指紋や傷、埃によりEFMコンパレータ2
bから出力される二値化RF信号に小さなエラーが生じ
ても、ディジタル信号処理回路3はエラー訂正により正
しいデータを復調することができる。
bから出力される二値化RF信号に小さなエラーが生じ
ても、ディジタル信号処理回路3はエラー訂正により正
しいデータを復調することができる。
【0026】なお、上記した実施例では減算回路の出力
側にサンプル・ホールド回路を設けたが、ローパスフィ
ルタ2cの出力側に設けてもよい。
側にサンプル・ホールド回路を設けたが、ローパスフィ
ルタ2cの出力側に設けてもよい。
【0027】
【発明の効果】以上本発明によれば、光ディスクの傷、
埃を検出するディフェクト回路と、ローパスフィルタと
コンパレータの間で、ディフェクト回路が傷、埃を検出
していないときはサンプリング動作を行い、ディフェク
ト回路が傷、埃を検出しているときはホールド動作を行
うサンプル・ホールド回路を設けるとともに、ローパス
フィルタの時定数を小さくし、光ディスクの傷、埃を検
出し、光ディスクの傷、埃が検出されないときは、ロー
パスフィルタとコンパレータの間に設けたサンプル・ホ
ールド回路にサンプリング動作を行わせ、光ディスクの
傷、埃が検出されたときは、前記サンプル・ホールド回
路にホールド動作を行わせるように構成したから、光ピ
ックアップのレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通
過しないときは、時定数の小さいローパスフィルタの出
力に基づき比較用基準電圧が形成されるので、光ピック
アップのレーザビームが光ディスク上の指紋を通過して
もコンパレータ出力のエラーが小さくなり、また、光ピ
ックアップのレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通
過するときは、直前のローパスフィルタ出力に基づく比
較用基準電圧がホールド出力されるので、傷や埃を通過
後にRF信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧は既
に適正値となっており、二値化RF信号のエラーは小さ
くなる。
埃を検出するディフェクト回路と、ローパスフィルタと
コンパレータの間で、ディフェクト回路が傷、埃を検出
していないときはサンプリング動作を行い、ディフェク
ト回路が傷、埃を検出しているときはホールド動作を行
うサンプル・ホールド回路を設けるとともに、ローパス
フィルタの時定数を小さくし、光ディスクの傷、埃を検
出し、光ディスクの傷、埃が検出されないときは、ロー
パスフィルタとコンパレータの間に設けたサンプル・ホ
ールド回路にサンプリング動作を行わせ、光ディスクの
傷、埃が検出されたときは、前記サンプル・ホールド回
路にホールド動作を行わせるように構成したから、光ピ
ックアップのレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通
過しないときは、時定数の小さいローパスフィルタの出
力に基づき比較用基準電圧が形成されるので、光ピック
アップのレーザビームが光ディスク上の指紋を通過して
もコンパレータ出力のエラーが小さくなり、また、光ピ
ックアップのレーザビームが光ディスク上の傷、埃を通
過するときは、直前のローパスフィルタ出力に基づく比
較用基準電圧がホールド出力されるので、傷や埃を通過
後にRF信号が正常に戻ったとき、比較用基準電圧は既
に適正値となっており、二値化RF信号のエラーは小さ
くなる。
【図1】本発明の一実施例に係るCDプレーヤのデータ
スライス回路の回路図である。
スライス回路の回路図である。
【図2】図1のデータスライス回路の動作を示す線図で
ある。
ある。
【図3】従来のCDプレーヤのデータスライス回路の回
路図である。
路図である。
【図4】図3のデータスライス回路の動作を示す線図で
ある。
ある。
2A データスライス回路
2a ハイパスイルタ
2b EFMコンパレータ
2c ローパスフィルタ
2d 減算回路
2e ディフェクト回路
2f サンプル・ホールド回路
Claims (1)
- 【請求項1】 AC結合を通したあとのRF信号を、
比較用基準電圧と比較して二値化するコンパレータと、
コンパレータから出力された二値化RF信号中の直流成
分を取り出すローパスフィルタと、ローパスフィルタの
出力と所定の基準電圧を入力し、所定の演算を行って比
較用基準電圧を発生し、コンパレータへ出力する演算回
路を設けた光ディスク再生装置のデータスライス回路に
おいて、光ディスクの傷、埃を検出するディフェクト回
路と、前記ローパスフィルタと前記コンパレータの間で
、ディフェクト回路が傷、埃を検出していないときはサ
ンプリング動作を行い、ディフェクト回路が傷、埃を検
出しているときはホールド動作を行うサンプル・ホール
ド回路を設けるとともに、前記ローパスフィルタの時定
数を小さくしたこと、を特徴とする光ディスク再生装置
のデータスライス回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7818691A JPH04289516A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光ディスク再生装置のデ−タスライス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7818691A JPH04289516A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光ディスク再生装置のデ−タスライス回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04289516A true JPH04289516A (ja) | 1992-10-14 |
Family
ID=13654950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7818691A Withdrawn JPH04289516A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光ディスク再生装置のデ−タスライス回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04289516A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100583711B1 (ko) * | 2003-12-01 | 2006-05-26 | 산요덴키가부시키가이샤 | 컴팩트 디스크 재생 장치용 rf 회로 |
JP2009076120A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Panasonic Corp | 信号再生装置 |
JP2010092552A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-04-22 | Rohm Co Ltd | データスライス回路及びこれを用いた光ディスク装置 |
-
1991
- 1991-03-19 JP JP7818691A patent/JPH04289516A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100583711B1 (ko) * | 2003-12-01 | 2006-05-26 | 산요덴키가부시키가이샤 | 컴팩트 디스크 재생 장치용 rf 회로 |
JP2009076120A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Panasonic Corp | 信号再生装置 |
JP2010092552A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-04-22 | Rohm Co Ltd | データスライス回路及びこれを用いた光ディスク装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH10134369A (ja) | 光ディスク再生装置のトラック検出回路 | |
EP0814462A3 (en) | Signal recovery and error detection means for an information recording medium | |
JPS5848209A (ja) | 情報信号有無判別回路装置 | |
US5450389A (en) | Digital signal reproducing apparatus for reducing the adverse influence of asymmetry | |
JPH0680554B2 (ja) | 2値化信号発生回路 | |
JP2000322745A (ja) | ブランク検出回路及びその方法 | |
JPH04289516A (ja) | 光ディスク再生装置のデ−タスライス回路 | |
KR100249224B1 (ko) | 미로신호 검출방법 및 장치 | |
US20060077802A1 (en) | Optical disk device | |
US20040223433A1 (en) | Optical disc playback apparatus, microcomputer, and rotational speed control method for optical disc playback apparatus | |
KR100396660B1 (ko) | 광 기록매체의 결함영역 제어 방법 및 장치 | |
JP4697298B2 (ja) | コンパレータおよび光ディスク記録再生装置 | |
JP2000040201A (ja) | デジタル記録システムのビットエラーレートの推定評価方法 | |
JPH07105116B2 (ja) | 記録媒体の再生装置 | |
KR100194221B1 (ko) | 광 디스크 플레이어의 에러 보상형 데이터 재생장치 | |
JPS61208634A (ja) | 情報再生装置 | |
JP2002319239A (ja) | 情報再生装置 | |
JPH07235068A (ja) | 光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路 | |
JP2776406B2 (ja) | 再生デジタルデータのad変換装置 | |
JPH07192285A (ja) | 光ディスク装置 | |
JPS59110041A (ja) | 光記憶装置の読出し回路 | |
JP2507019B2 (ja) | 記録再生装置 | |
JPH0444328B2 (ja) | ||
JP2002008241A (ja) | 光ディスク再生装置 | |
JP2000339863A (ja) | 再生装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |