JPH04284662A - 半導体モジュールの実装構造 - Google Patents

半導体モジュールの実装構造

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Publication number
JPH04284662A
JPH04284662A JP3072202A JP7220291A JPH04284662A JP H04284662 A JPH04284662 A JP H04284662A JP 3072202 A JP3072202 A JP 3072202A JP 7220291 A JP7220291 A JP 7220291A JP H04284662 A JPH04284662 A JP H04284662A
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JP
Japan
Prior art keywords
bare
wiring board
bare lsi
lsi chips
patterns
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3072202A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichiro Tsubone
坪根 健一郎
Hiroyuki Takabayashi
高林 博幸
Akira Fukuoka
福岡 晃
Hiroyuki Ishikawa
浩之 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3072202A priority Critical patent/JPH04284662A/ja
Publication of JPH04284662A publication Critical patent/JPH04284662A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched

Landscapes

  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的に半導体モジュー
ルの実装構造に関し、特に高速動作する複数のベアLS
Iチップ間の漏話を防止するようにした半導体モジュー
ルの実装構造に関する。
【0002】コンピュータや電子交換機等の多量の情報
を処理する電子装置は、小型化、高速化、高信頼性への
要求が一段と高く、従って電子回路を高密度化すること
が必要とされる。このためチップ(半導体素子)自体の
集積度を高め、要求に対処している。
【0003】一方、さらに実装密度を高めるために、チ
ップを個々のパッケージに収めないで、ベアチップの状
態で多層プリント配線板上に複数個直接搭載するマルチ
チップモジュールの開発が各社で進められている。
【0004】この種のマルチチップモジュールでは、プ
リント配線板上に直接実装するベアLSIチップ間の漏
話を防止する実装構造が要求される。
【0005】
【従来の技術】従来のマルチチップ実装構造を、図3乃
至図5を参照して説明する。まず図3を参照すると、8
はLSIパッケージであり、ベアLSIチップ2をセラ
ミック基板4上に実装し、金属パッケージ6内に封入し
て構成されている。LSIパッケージ8はガラスハーメ
チック端子10を半田付することによりプリント配線板
12に固定される。ベアLSIチップ2とガラスハーメ
チック端子10とはワイヤボンディング接続されている
【0006】LSIパッケージ8搭載部分のプリント配
線板12にはそれぞれ穴13が形成されており、これら
の穴13中には金属パッケージ6を金属ケース14に電
気的に接続するための銀−エポキシ樹脂、半田等の導電
性材料16が充填されている。金属ケース14には金属
蓋18がスポット溶接されている。
【0007】図4は他の従来例断面図を示しており、こ
の従来例ではベアLSIチップ2がプリント配線板20
上に直接実装され、各々のベアLSIチップ2が金属キ
ャン22により封止されている。
【0008】図5はさらに他の従来例断面図を示してお
り、この従来例では複数のベアLSIチップ2をプリン
ト配線板20上に直接実装し、各々のベアLSIチップ
2を樹脂24で封止している。
【0009】図4及び図5の従来例においては、プリン
ト配線板20のグランドパターンはその端面部分で金属
ケース14に接続されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図3のマルチチップ実
装構造では、各々のベアLSIチップ2のグランドは金
属パッケージ6及び導電性物質16を介して直接金属ケ
ース14に接続されているため非常に安定している利点
はあるが、各ベアLSIチップ2を封止する金属パッケ
ージ6が高価であるという問題がある。
【0011】また、図4に示したマルチチップ実装構造
においては、金属キャン22の封止性が悪いとともに、
アースが弱いためにベアLSIチップ2の間の漏話現象
が発生するという問題がある。
【0012】図5に示した従来例においては、実装構造
が単純でコストメリットは大きいが、図4の実装構造と
同様にアースが弱いため、ベアLSIチップ2間の漏話
現象が発生するという問題がある。
【0013】上述した従来例を考案することにより、高
速動作するベアLSIチップが複数個実装されたマルチ
チップモジュールでの漏話発生原因は、以下のように整
理することができる。 (a)電源供給パターンやグランドパターンが複数のベ
アLSIチップに共通に使用されている。 (b)ベアLSIチップ実装部周辺のグランドが金属ケ
ースから遠いためグランドポテンシャルが低く、場所に
よりグランドポテンシャルのばらつきが大きい。 (c)ベアLSIチップ実装部周辺のグランドをスルー
ホールのみを介してとっているため、グランドポテンシ
ャルが低い。
【0014】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、高速動作する複数
のベアLSIチップ間の漏話を簡単な構造で防止し、モ
ジュールの低コスト化を図ることのできる半導体モジュ
ールの実装構造を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明によると、プリン
ト配線板のグランドパターンをベアLSIチップ毎に完
全に分離するとともに、電源パターンも細いパターンの
みにより互いに接続されるようにベアLSIチップ毎に
実質上分離して形成する。そして、プリント配線板を金
属ケース内に収容するとともに、プリント配線板上に直
接複数個のベアLSIチップを実装し、ベアLSIチッ
プ毎に設けられた前記グランドパターンをスルーホール
に挿入した金属ピンにより金属ケースに接続する。
【0016】
【作用】本発明では、プリント配線板のグランドパター
ンがベアLSIチップ毎に完全に分離され、電源パター
ンも実質上分離されているため、これらのパターンを介
しての信号の回り込みが減少する。
【0017】また、各グランドパターンを金属ピンを介
して直接金属ケースに接続しているため、ベアLSIチ
ップ周辺のグランドポテンシャルを強固にできるととも
にポテンシャルの均一化を図ることができるため、漏話
現象の発生を抑制することができる。
【0018】
【実施例】以下、図面を参照して本発明をその実施例に
基づいて詳細に説明する。
【0019】図1は本発明実施例断面図を示しており、
図2は実施例のグランドパターン模式図を示している。 32a,32bはベアLSIチップであり、プリント配
線板34のダイボンディング用パッド36a,36b上
に直接実装されている。
【0020】図2を参照すると、グランドパターン38
a,38bがベアLSIチップ32a,32b毎に完全
に分離して形成されている。各グランドパターン38a
,38bにはそれぞれ複数個の金属ピン挿入用のスルー
ホール40が各ベアLSIチップ32a,32bに近接
して設けられている。
【0021】グランドパターン38a,38bはその側
面部で半田46により金属ケース42と直接接続されて
いる。これに加えて図1に示すように、スルーホール4
0中に金属ピン50が挿入され、これらの金属ピン50
を介して各グランドパターン38a,38bが金属ケー
ス42と直接接続されている。ピン50は金属ケース4
2に、例えば溶接により固定され、各グランドパターン
38a,38bに半田付により接続されている。
【0022】特に図示しないが、電源パターンも各ベア
LSIチップ32a,32b毎に分離して形成し、これ
らの電源パターンをスルーホール等の細いパターンを介
して接続するように構成する。このように構成すること
により、電源供給を一系統で行うことができるとともに
、各ベアLSIチップ毎に電源パターンを実質上分離す
ることができる。
【0023】代案として、電源パターンを各ベアLSI
チップ32a,32b毎に完全に分離し、二系統で電源
供給を行うようにしても良い。図2において、39は信
号パターンであり、ダイボンディングパッド36a,3
6b上に実装された各ベアLSIチップ32a,32b
とボンディング接続される。
【0024】図1に示されるように、各ベアLSIチッ
プ32a,32bはエポキシ樹脂等の樹脂48により封
止される。金属ケース42には金属蓋44がスポット溶
接により固定される。
【0025】図2はグランドパターンを模式的に示して
いるが、プリント配線板34が多層の場合には、各グラ
ンドパターン38a,38bは内層に設けるのが一般的
である。また、スルーホール40は特性に応じて必要な
数だけ設けるようにする。スルーホール40の径につい
ては、接続信頼性や製造性を考慮すると直径1mm以上
が好ましい。金属ピン50の直径は接続信頼性から直径
0.6mm程度が望ましい。
【0026】
【発明の効果】本発明は以上詳述したように構成したの
で、高速動作するベアLSIチップ間の漏話が減少し電
気特性が向上した半導体モジュールを提供できるという
効果を奏する。また、構造が簡単であることから、材料
費の低減、作業性の向上が図れ、モジュールのコストダ
ウンを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例断面図である。
【図2】実施例のグランドパターン模式図である。
【図3】従来例断面図である。
【図4】他の従来例断面図である。
【図5】さらに他の従来例断面図である。
【符号の説明】
32a,32b  ベアLSIチップ 34  プリント配線板 38a,38b  グランドパターン 40  スルーホール 42  金属ケース 44  金属蓋 46  半田 48  封止用樹脂 50  金属ピン

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  プリント配線板上にベアLSIチップ
    を複数個実装する半導体モジュールの実装構造において
    、プリント配線板(34)のグランドパターン(38a
    ,38b) をベアLSIチップ(32a,32b) 
    毎に完全に分離するとともに、電源パターンも細いパタ
    ーンのみにより互いに接続されるようにベアLSIチッ
    プ(32a,32b) 毎に実質上分離して形成し、該
    プリント配線板(34)を金属ケース(42)内に収容
    するとともに、該プリント配線板(34)上に直接複数
    個のベアLSIチップ(32a,32b) を実装し、
    ベアLSIチップ(32a,32b) 毎に設けられた
    前記グランドパターン(38a,38b)をスルーホー
    ルに挿入した金属ピン(50)により、前記金属ケース
    (42)に接続したことを特徴とする半導体モジュール
    の実装構造。
  2. 【請求項2】  前記電源パターンを細いパターンで接
    続せずに各ベアLSIチップ(32a,32b) 毎に
    完全に分離し、電源供給端子を複数個設けたことを特徴
    とする請求項1記載の半導体モジュールの実装構造。
  3. 【請求項3】  前記金属ピン(50)は前記金属ケー
    ス(42)に溶接固定され、前記グランドパターンに半
    田付接続されていることを特徴とする請求項1又は2記
    載の半導体モジュールの実装構造。
JP3072202A 1991-03-13 1991-03-13 半導体モジュールの実装構造 Withdrawn JPH04284662A (ja)

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Publications (1)

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JPH04284662A true JPH04284662A (ja) 1992-10-09

Family

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3072202A Withdrawn JPH04284662A (ja) 1991-03-13 1991-03-13 半導体モジュールの実装構造

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017195702A (ja) * 2016-04-20 2017-10-26 株式会社デンソー 電力変換装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017195702A (ja) * 2016-04-20 2017-10-26 株式会社デンソー 電力変換装置

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980514