JPH04276513A - 形状測定処理方法 - Google Patents
形状測定処理方法Info
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- JPH04276513A JPH04276513A JP3738591A JP3738591A JPH04276513A JP H04276513 A JPH04276513 A JP H04276513A JP 3738591 A JP3738591 A JP 3738591A JP 3738591 A JP3738591 A JP 3738591A JP H04276513 A JPH04276513 A JP H04276513A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
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- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000012356 Product development Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、３次元形状をしたワー
クの形状を測定し、これを適宜表示して評価するのに利
用され形状測定処理方法に関するものである。
クの形状を測定し、これを適宜表示して評価するのに利
用され形状測定処理方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近時商品開発の短期化が大きな課題にな
っている中で、樹脂成形品やプレス成形品を求める形状
精度にて得るのに、被測定ワークの形状を測定する方法
としていわゆる３次元測定方法が多く採用されている。
っている中で、樹脂成形品やプレス成形品を求める形状
精度にて得るのに、被測定ワークの形状を測定する方法
としていわゆる３次元測定方法が多く採用されている。
【０００３】成形品が必要な精度範囲内でできているか
どうかの判定を行うために、図６に示すような被測定ワ
ークの形状寸法を測定した各測定値Ｐｓ１ 〜Ｐｓ５
と、各測定点に対応した各基準位置ごとに設定されてい
る各基準寸法Ｐｋ１ 〜Ｐｋ５ とを、図７に示すよう
に比較して差分を算出したり、また成形変形量として変
形量を見込んだ金型を製作するたみめに、金型寸法と成
形品との形状寸法差を求めたりしている。
どうかの判定を行うために、図６に示すような被測定ワ
ークの形状寸法を測定した各測定値Ｐｓ１ 〜Ｐｓ５
と、各測定点に対応した各基準位置ごとに設定されてい
る各基準寸法Ｐｋ１ 〜Ｐｋ５ とを、図７に示すよう
に比較して差分を算出したり、また成形変形量として変
形量を見込んだ金型を製作するたみめに、金型寸法と成
形品との形状寸法差を求めたりしている。
【０００４】また形状寸法と基準寸法との比較評価は、
３次元測定機に測定手順と共に基準寸法を事前に教え込
んでおき、各測定点についての各形状寸法Ｐｓ１ 〜Ｐ
ｓ５ を３次元測定機により測定した都度、その測定し
たデータＰｓ１ 〜Ｐｓ５ とこれに対応する位置の基
準寸法Ｐｋ１ 〜Ｐｋ５ との差分値を３次元測定機に
より演算させてプリンター出力として求める方法、およ
び必要部位について人手により計算するといった方法で
行われている。
３次元測定機に測定手順と共に基準寸法を事前に教え込
んでおき、各測定点についての各形状寸法Ｐｓ１ 〜Ｐ
ｓ５ を３次元測定機により測定した都度、その測定し
たデータＰｓ１ 〜Ｐｓ５ とこれに対応する位置の基
準寸法Ｐｋ１ 〜Ｐｋ５ との差分値を３次元測定機に
より演算させてプリンター出力として求める方法、およ
び必要部位について人手により計算するといった方法で
行われている。
【０００５】また求めた測定値と基準寸法値との差分を
計算したり、結果を分かり易くするためにグラフ表示す
る場合も、各測定点の測定データＰｓ１ 〜Ｐｓ５ と
、これに対応した各基準位置についての基準データＰｋ
１ 〜Ｐｋ５ との差分につき表現が可能である。
計算したり、結果を分かり易くするためにグラフ表示す
る場合も、各測定点の測定データＰｓ１ 〜Ｐｓ５ と
、これに対応した各基準位置についての基準データＰｋ
１ 〜Ｐｋ５ との差分につき表現が可能である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが最も把握した
い内容である形状寸法と基準寸法との差分値は、通常形
状測定データと形状基準データとの双方が点群データで
あり、差分値はこれら点群データの同一の位置どうしに
ついてしか得られない。要するに形状寸法の測定は多く
の場合点群についてしか行われないので、差分値の計算
はこの測定位置によって拘束されることになる。また差
分値をグラフ表示等にて分かり易く表現する場合も、形
状寸法を測定した位置についてしか表示することはでき
ない。
い内容である形状寸法と基準寸法との差分値は、通常形
状測定データと形状基準データとの双方が点群データで
あり、差分値はこれら点群データの同一の位置どうしに
ついてしか得られない。要するに形状寸法の測定は多く
の場合点群についてしか行われないので、差分値の計算
はこの測定位置によって拘束されることになる。また差
分値をグラフ表示等にて分かり易く表現する場合も、形
状寸法を測定した位置についてしか表示することはでき
ない。
【０００７】このため差分値を計算しまた表示を行うの
に重視したい位置がある場合、この位置が測定対象とな
るように形状寸法の測定を行う必要があり、多くの測定
位置を特別に設定するのに多大の時間を要している。
に重視したい位置がある場合、この位置が測定対象とな
るように形状寸法の測定を行う必要があり、多くの測定
位置を特別に設定するのに多大の時間を要している。
【０００８】さらに全体の曲面としての状態が充分に把
握できず、したがって求める形状精度の樹脂成形品やプ
レス成形品を得るための成形条件を整えるのに、長期間
を要している。
握できず、したがって求める形状精度の樹脂成形品やプ
レス成形品を得るための成形条件を整えるのに、長期間
を要している。
【０００９】本発明は上記の点に鑑み、形状寸法の測定
位置に拘束されないで、所望位置での形状測定データと
形状基準データとの差分値を計算し、またこの差分値を
表示することができる形状測定処理装置を提供すること
を課題とするものである。
位置に拘束されないで、所望位置での形状測定データと
形状基準データとの差分値を計算し、またこの差分値を
表示することができる形状測定処理装置を提供すること
を課題とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本願第１の発明は、双方
あるいは何れかが点群データである被測定ワークを測定
した形状測定データと、前記被測定ワークにつき設定し
た形状基準データとの差分を演算し、得られた差分値を
適宜表示する形状測定処理方法において、前記点群デー
タを曲面データに変換し、形状測定データおよび形状基
準データの曲面データどうしから差分を取るのに必要な
点群を演算して求め、この求めた点群のデータどうしに
つき差分を演算し、これを表示に供することを特徴とす
るものである。
あるいは何れかが点群データである被測定ワークを測定
した形状測定データと、前記被測定ワークにつき設定し
た形状基準データとの差分を演算し、得られた差分値を
適宜表示する形状測定処理方法において、前記点群デー
タを曲面データに変換し、形状測定データおよび形状基
準データの曲面データどうしから差分を取るのに必要な
点群を演算して求め、この求めた点群のデータどうしに
つき差分を演算し、これを表示に供することを特徴とす
るものである。
【００１１】本願第２の発明は、第１の発明においてさ
らに、形状測定データと形状基準データとの差分値の大
きさに対応する色を定義し、演算した差分値をその大き
さに基づいて色表示することを特徴とするものである。
らに、形状測定データと形状基準データとの差分値の大
きさに対応する色を定義し、演算した差分値をその大き
さに基づいて色表示することを特徴とするものである。
【００１２】
【作用】本願第１の発明の上記構成では、被測定ワーク
の形状寸法を測定した形状測定データと、前記測定ワー
クにつき設定した形状基準データとの双方または一方が
点群データであっても、この点群データを曲面データに
変換するので、形状測定データおよび形状基準データの
双方が、３次元に連続した曲面形状データとなるので、
前記点群データの位置に拘束されずに、形状測定データ
と形状基準データとの前記点群データの位置から外れた
位置等どのような位置をも選択して双方のデータを求め
、それらの差分を演算し、これを適宜表示に供すること
ができる。
の形状寸法を測定した形状測定データと、前記測定ワー
クにつき設定した形状基準データとの双方または一方が
点群データであっても、この点群データを曲面データに
変換するので、形状測定データおよび形状基準データの
双方が、３次元に連続した曲面形状データとなるので、
前記点群データの位置に拘束されずに、形状測定データ
と形状基準データとの前記点群データの位置から外れた
位置等どのような位置をも選択して双方のデータを求め
、それらの差分を演算し、これを適宜表示に供すること
ができる。
【００１３】本願第２の発明の上記構成では、第１の発
明においてさらに、得られた差分値をその大きさに対応
した色にて表示し、各種の評価に供することができる。
明においてさらに、得られた差分値をその大きさに対応
した色にて表示し、各種の評価に供することができる。
【００１４】
【実施例】以下本発明の第１の実施例を図１〜図４を参
照して詳細に説明する。
照して詳細に説明する。
【００１５】図１は本発明の第１の実施例としての形状
測定処理手順のフローを示している。これによれば、Ｘ
Ｙ平面上の測定点Ｐｓ（Ｘｎ，Ｙｎ）と基準点Ｐｋ（Ｘ
ｋ，Ｙｋ）は同じ位置とは限らないが、測定によって得
られたＸＹ平面上の点群データから式Ｚ＝ｆ（ｘ，ｙ）
により曲面データＰＡ （Ｘｋ，Ｙｋ，Ｚｋ）に変換し
、この曲面データから比較したいＸＹ平面上の基準点Ｐ
ｋ（Ｘｋ，Ｙｋ）における高さＺａを算出する。そして
この高さＺａと基準高さＺｋとの間で差分ＺＺを求める
。 ここで点群データから曲面データに変換する方法と
しては、Ｂ−ＳＵＲＦＡＣＥ、ベージュサーフェイス、
多項式近似曲面等多くの手法がある。例えば日刊工業新
聞社発行の山口富士夫著「形状処理工学」等に詳しい。
測定処理手順のフローを示している。これによれば、Ｘ
Ｙ平面上の測定点Ｐｓ（Ｘｎ，Ｙｎ）と基準点Ｐｋ（Ｘ
ｋ，Ｙｋ）は同じ位置とは限らないが、測定によって得
られたＸＹ平面上の点群データから式Ｚ＝ｆ（ｘ，ｙ）
により曲面データＰＡ （Ｘｋ，Ｙｋ，Ｚｋ）に変換し
、この曲面データから比較したいＸＹ平面上の基準点Ｐ
ｋ（Ｘｋ，Ｙｋ）における高さＺａを算出する。そして
この高さＺａと基準高さＺｋとの間で差分ＺＺを求める
。 ここで点群データから曲面データに変換する方法と
しては、Ｂ−ＳＵＲＦＡＣＥ、ベージュサーフェイス、
多項式近似曲面等多くの手法がある。例えば日刊工業新
聞社発行の山口富士夫著「形状処理工学」等に詳しい。
【００１６】図２はＺ軸に平行でかつＸ軸およびＹ軸に
平行な格子状位置にて測定した点群データＰｓを曲面デ
ータＰＡ とし、この曲面データＰＡ 上でＺ軸に平行
でＸＹ原点を通ってＸ軸と一定角度αをなす平面上の値
として測定点Ｐａを求めた事例である。
平行な格子状位置にて測定した点群データＰｓを曲面デ
ータＰＡ とし、この曲面データＰＡ 上でＺ軸に平行
でＸＹ原点を通ってＸ軸と一定角度αをなす平面上の値
として測定点Ｐａを求めた事例である。
【００１７】これによれば実際には測定していないＸＹ
位置における測定点のＺ軸を求めることができる。した
がって実際の測定位置に拘束されないで必要な基準位置
でのＸ値、Ｙ値、Ｚ値を求め差分を取ることができる。
位置における測定点のＺ軸を求めることができる。した
がって実際の測定位置に拘束されないで必要な基準位置
でのＸ値、Ｙ値、Ｚ値を求め差分を取ることができる。
【００１８】すなわち必要最小限のデータ測定値から任
意の位置および断面での差分と、これによる評価が可能
になる。
意の位置および断面での差分と、これによる評価が可能
になる。
【００１９】図３は２次元で表現できるＸＹ平面上の測
定データＰｓおよび必要位置での基準データＰｋと、測
定データＰｓから変換した曲面データＰＡ 上での前記
基準データＰｋに対応する位置での算出データＰａとを
示したものである。また図４は前記基準データＰｋと算
出データＰａとの必要な基準位置での差分値ＺＺ５をグ
ラフ上に表示したものである。
定データＰｓおよび必要位置での基準データＰｋと、測
定データＰｓから変換した曲面データＰＡ 上での前記
基準データＰｋに対応する位置での算出データＰａとを
示したものである。また図４は前記基準データＰｋと算
出データＰａとの必要な基準位置での差分値ＺＺ５をグ
ラフ上に表示したものである。
【００２０】これによれば実際には測定していない基準
位置ＸｋにおけるＹｓの値を求めることができるので、
必要な基準点でのＸ値およびＹ値を求め差分を取ること
ができる。
位置ＸｋにおけるＹｓの値を求めることができるので、
必要な基準点でのＸ値およびＹ値を求め差分を取ること
ができる。
【００２１】すなわち測定点および基準点選択の自由度
が向上し、測定後測定箇所以外の位置での差分評価が可
能になる。
が向上し、測定後測定箇所以外の位置での差分評価が可
能になる。
【００２２】図５は本発明の第２の実施例を示している
。本実施例は第１の実施例と同様にして求まった差分値
に対して、その差分量に対応する色付け表示を行ったも
のであり、差分量に応じて黄色領域Ｙｅと、オレンジ領
域Ｏｒと、赤領域Ｒｅと、紫領域Ｐｕと、青領域Ｂｌと
、水色領域Ｓｂとがそれぞれ表示されている。その色付
けに使用した差分量と色との対応例を示せば表１の通り
である。
。本実施例は第１の実施例と同様にして求まった差分値
に対して、その差分量に対応する色付け表示を行ったも
のであり、差分量に応じて黄色領域Ｙｅと、オレンジ領
域Ｏｒと、赤領域Ｒｅと、紫領域Ｐｕと、青領域Ｂｌと
、水色領域Ｓｂとがそれぞれ表示されている。その色付
けに使用した差分量と色との対応例を示せば表１の通り
である。
【００２３】
【表１】
【００２４】これによると面として立体的に差分量を表
現できるので、視覚的に分かり易くかつ数表的な差分評
価では見逃し易い微妙な変化の傾向についても正しく把
握することができる。
現できるので、視覚的に分かり易くかつ数表的な差分評
価では見逃し易い微妙な変化の傾向についても正しく把
握することができる。
【００２５】なお本発明は、形状測定データおよび形状
基準データの双方が点群データであっても、これらを曲
面化処理して扱うことにより、これらデータの点群位置
に拘束されないで任意の位置でのデータを選択算出し相
互の差分を得ることができる。
基準データの双方が点群データであっても、これらを曲
面化処理して扱うことにより、これらデータの点群位置
に拘束されないで任意の位置でのデータを選択算出し相
互の差分を得ることができる。
【００２６】
【発明の効果】本願第１の発明では、被測定ワークの形
状寸法を測定した形状測定データと、前記測定ワークに
つき設定した形状基準データとの双方または一方が点群
データであっても、この点群データを曲面データに変換
して、形状測定データおよび形状基準データの双方が、
３次元に連続した曲面形状データとなるので、前記点群
データの位置に拘束されずに、形状測定データと形状基
準データとの前記点群データの位置から外れた位置等ど
のような位置をも選択して双方のデータを求め、それら
の差分を演算し、これを適宜表示に供することができ、
測定点および基準点選択の自由度が向上し操作手順が簡
略化する。そして迅速かつ適正な評価を可能にする。
状寸法を測定した形状測定データと、前記測定ワークに
つき設定した形状基準データとの双方または一方が点群
データであっても、この点群データを曲面データに変換
して、形状測定データおよび形状基準データの双方が、
３次元に連続した曲面形状データとなるので、前記点群
データの位置に拘束されずに、形状測定データと形状基
準データとの前記点群データの位置から外れた位置等ど
のような位置をも選択して双方のデータを求め、それら
の差分を演算し、これを適宜表示に供することができ、
測定点および基準点選択の自由度が向上し操作手順が簡
略化する。そして迅速かつ適正な評価を可能にする。
【００２７】本願第２の発明では、第１の発明において
さらに、得られた差分値をその大きさに対応した色にて
表示し、各種の評価に供することができ、差分量が視覚
的に分かり易くなり、数表的な差分評価では見逃し易い
微妙な変化の傾向についても正しく把握することができ
る。
さらに、得られた差分値をその大きさに対応した色にて
表示し、各種の評価に供することができ、差分量が視覚
的に分かり易くなり、数表的な差分評価では見逃し易い
微妙な変化の傾向についても正しく把握することができ
る。
【図１】本発明の第１の実施例の手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図２】図１の手順上測定した点群データとこれから変
換した曲面データ、および曲面データによって得た任意
の位置の形状寸法データの関係を示す３次元グラフであ
る。
換した曲面データ、および曲面データによって得た任意
の位置の形状寸法データの関係を示す３次元グラフであ
る。
【図３】図１の所定の手順にて得た測定した点群データ
と必要位置についての点群データ、および測定した点群
データを曲面化したデータから必要基準位置に応じて得
た算出データの関係を示すグラグである。
と必要位置についての点群データ、および測定した点群
データを曲面化したデータから必要基準位置に応じて得
た算出データの関係を示すグラグである。
【図４】図３の算出データと基準データとの各データ点
での差分量を示すグラフである。
での差分量を示すグラフである。
【図５】本発明の第２の実施例のデータ表示態様を示す
３次元グラフである。
３次元グラフである。
【図６】従来の手順を示すフローチャートである。
【図７】図６の手順上測定した点群データとこれに対応
した位置の点群データとして設定した基準データとの関
係を示すグラフである。
した位置の点群データとして設定した基準データとの関
係を示すグラフである。
Ｐｋ 基準データ
Ｐｓ 測定データ
ＰＡ 曲面データ
Ｐａ 算出データ
ＺＺ 差分量
Claims (2)
- 【請求項１】 双方あるいは何れかが点群データであ
る被測定ワークを測定した形状測定データと、前記被測
定ワークにつき設定した形状基準データとの差分を演算
し、得られた差分値を適宜表示する形状測定処理方法に
おいて、前記点群データを曲面データに変換し、形状測
定データおよび形状基準データの曲面データどうしから
差分を取るのに必要な点群を演算して求め、この求めた
点群のデータどうしにつき差分を演算し、これを表示に
供することを特徴とする形状測定処理方法。 - 【請求項２】 形状測定データと形状基準データとの
差分値の大きさに対応する色を定義し、演算した差分値
をその大きさに基づいて色表示することを特徴とする請
求項１記載の形状測定処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3738591A JPH04276513A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 形状測定処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3738591A JPH04276513A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 形状測定処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04276513A true JPH04276513A (ja) | 1992-10-01 |
Family
ID=12496062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3738591A Pending JPH04276513A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | 形状測定処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04276513A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998049524A1 (fr) * | 1997-04-25 | 1998-11-05 | Riken | Procede permettant d'etablir une distinction entre des erreurs de forme d'une surface courbe a forme libre |
| JPWO2004003850A1 (ja) * | 2002-06-28 | 2005-10-27 | 富士通株式会社 | ３次元イメージ比較プログラム、３次元イメージ比較方法、および３次元イメージ比較装置 |
| JP2012243036A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Shigenori Tanaka | 施工管理システム |
| JP2019164109A (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-26 | 株式会社リコー | 計測装置、計測システム、計測方法およびプログラム |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP3738591A patent/JPH04276513A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998049524A1 (fr) * | 1997-04-25 | 1998-11-05 | Riken | Procede permettant d'etablir une distinction entre des erreurs de forme d'une surface courbe a forme libre |
| US6683985B1 (en) | 1997-04-25 | 2004-01-27 | Riken | Method of discriminating shape of free-form curved surface |
| JPWO2004003850A1 (ja) * | 2002-06-28 | 2005-10-27 | 富士通株式会社 | ３次元イメージ比較プログラム、３次元イメージ比較方法、および３次元イメージ比較装置 |
| JP2012243036A (ja) * | 2011-05-18 | 2012-12-10 | Shigenori Tanaka | 施工管理システム |
| JP2019164109A (ja) * | 2018-03-14 | 2019-09-26 | 株式会社リコー | 計測装置、計測システム、計測方法およびプログラム |
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