JPH04273042A - Corpuscle measuring device - Google Patents

Corpuscle measuring device

Info

Publication number
JPH04273042A
JPH04273042A JP3456291A JP3456291A JPH04273042A JP H04273042 A JPH04273042 A JP H04273042A JP 3456291 A JP3456291 A JP 3456291A JP 3456291 A JP3456291 A JP 3456291A JP H04273042 A JPH04273042 A JP H04273042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
space
particles
intensity distribution
optical means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3456291A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Fujita
博 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3456291A priority Critical patent/JPH04273042A/en
Publication of JPH04273042A publication Critical patent/JPH04273042A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a corpuscle measuring device able to accurately discriminate a flying direction of corpuscles floating in space. CONSTITUTION:Measuring light from a light source 1, in which intensity distribution is formed in a right triangle state with an aperture, is made to scan space with a scanner 4. Scattered light, scattering due to the passing of corpuscles in space scanned with the measuring light, is photographed with a CCD camera 8 to be picture-processed with a picture processing part 9. A flying direction of the corpuscles can be determined from a picture image formed by the scattered light, because the intensity distribution of the scattered light from the corpuscles passing the space is corresponding to the intensity distribution of the measuring light, due to the right triangle state of the intensity distribution of the measuring light.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は空間を浮遊する微粒子
の計測装置に関し、とくに空間における微粒子の飛来方
向を計測する微粒子の計測装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention This invention relates to a device for measuring particles floating in space, and more particularly to a device for measuring particles that measures the direction in which particles are flying in space.

【0002】0002

【従来の技術】たとえば半導体の製造工程においては、
半導体ウエハの表面に塵埃などの微粒子が付着すると、
不良品の発生を招くことになるから、その製造を微粒子
の発生を極力押さえたクリ−ンル−ム内で行うようにし
ている。
[Prior Art] For example, in the semiconductor manufacturing process,
When fine particles such as dust adhere to the surface of a semiconductor wafer,
Since this may lead to the production of defective products, the production is carried out in a clean room where the generation of fine particles is suppressed as much as possible.

【0003】しかしながら、クリ−ンル−ム内において
も、たとえば半導体ウエハのハンドリング装置や搬送装
置などから微粒子が発生して半導体ウエハに付着し、不
良品の発生を招くということがある。そこで、クリ−ン
ル−ム内における微粒子の状態を計測装置によって計測
するようにしている。
However, even in a clean room, fine particles may be generated from semiconductor wafer handling equipment, transport equipment, etc. and adhere to semiconductor wafers, resulting in the production of defective products. Therefore, the state of the particles in the clean room is measured by a measuring device.

【0004】上記計測装置はレ−ザ光源から発生したレ
−ザ光を計測対象となる空間で走査させ、その走査平面
を微粒子が通過することで散乱光を発生させる。空間で
発生した微粒子からの散乱光は、イメ−ジインテンシフ
ァイヤにより増幅し、CCDカメラで捕られる。そして
、CCDカメラからの画像信号はテレビモニタ上に写し
出され、それによって上記微粒子の挙動を監視するよう
にしている。
[0004] The measurement device described above scans a space to be measured with a laser beam generated from a laser light source, and when particles pass through the scanning plane, scattered light is generated. Scattered light from particles generated in space is amplified by an image intensifier and captured by a CCD camera. The image signal from the CCD camera is displayed on a television monitor, thereby monitoring the behavior of the particles.

【0005】しかしながら、図7に示すようにレ−ザ光
Lの強度分布Eは光軸を中心として左右に対称なガウス
分布をなしている。そのため、微粒子Pが矢印Xで示す
斜め方向から飛来してレ−ザ光Lの光束を横切ると、テ
レビモニタの画面Vに写し出される画像Gは、上記微粒
子Pからの散乱光Sの強度分布に対応して画面Vの上下
方向、つまり微粒子Pの飛来方向に対して対称なほぼ菱
形形状となる。
However, as shown in FIG. 7, the intensity distribution E of the laser beam L has a Gaussian distribution that is symmetrical about the optical axis. Therefore, when a fine particle P flies from the diagonal direction indicated by the arrow Correspondingly, it has a substantially rhombic shape that is symmetrical with respect to the vertical direction of the screen V, that is, the direction in which the particles P fly.

【0006】つまり、微粒子Pからの散乱光Sは、レ−
ザ光Lの強度が強い部分からは強く、弱い部分からは弱
くなるから、散乱光Sによって形成される上記画像Gは
、レ−ザ光Lの強度分布Eに対応した幅寸法をもつ上下
対称形状となる。
In other words, the scattered light S from the fine particles P is
Since the intensity of the laser beam L becomes stronger from the strong part and becomes weaker from the weaker part, the above-mentioned image G formed by the scattered light S is vertically symmetrical with a width dimension corresponding to the intensity distribution E of the laser light L. It becomes a shape.

【0007】したがって、微粒子Pの移動速度が著しく
速く、同一の微粒子Pを1フレ−ムでしか捕らえること
ができないような場合には、上記微粒子Pの飛来方向の
判別が極めて困難となる。
[0007] Therefore, when the moving speed of the fine particles P is extremely fast and the same fine particle P can only be captured in one frame, it becomes extremely difficult to determine the flying direction of the fine particles P.

【0008】微粒子Pの飛来方向が検出できないと、ク
リ−ンル−ム内において微粒子Pがどこで発生してどち
らの方向に流れて行くのかを解析することができないか
ら、微粒子Pの発生原因を解明して対策を講じるという
こともできない。
[0008] If the flying direction of the particles P cannot be detected, it is impossible to analyze where the particles P are generated in the clean room and in which direction they flow. It is also impossible to take countermeasures.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の微
粒子の計測装置は、微粒子の飛来方向を確実に判別する
ことができないということがあった。
[Problems to be Solved by the Invention] As described above, conventional particulate measuring devices have been unable to reliably determine the flying direction of particulates.

【0010】この発明は上記事情にもとづきなされたも
ので、その目的とするところは、微粒子の飛来方向を確
実に判別することができるようにした微粒子の計測装置
を提供することにある。
The present invention has been made based on the above-mentioned circumstances, and its object is to provide a particle measuring device that can reliably determine the flying direction of particles.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
にこの発明は、空間を浮游する微粒子を計測する微粒子
の計測装置において、計測光を出力する光源と、この光
源からの計測光の強度分布を直角三角形状に成形する成
形光学手段と、この成形光学手段によって成形された計
測光を上記空間に照射させる照射光学手段と、上記空間
を微粒子が通過することで発生する散乱光を検出する受
光光学手段と、この受光光学手段によって検出された散
乱光を画像処理することで上記微粒子の飛来方向を求め
る処理手段とを具備したことを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, the present invention provides a particle measuring device for measuring particles floating in space, which includes a light source that outputs measurement light and an intensity of the measurement light from this light source. A shaping optical means for shaping the distribution into a right triangle shape, an irradiation optical means for irradiating the space with the measurement light shaped by the shaping optical means, and detecting scattered light generated when the particles pass through the space. The present invention is characterized by comprising a light receiving optical means and a processing means for determining the flying direction of the fine particles by performing image processing on the scattered light detected by the light receiving optical means.

【0012】0012

【作用】上記の構成によれば、計測光の強度分布が直角
三角形状をなし、左右対称をなしていないから、微粒子
がこの計測光を通過することによって生じる散乱光がな
す画像も非対称形状となるため、その形状から微粒子の
飛来方向を判別することができる。
[Operation] According to the above configuration, the intensity distribution of the measurement light is in the shape of a right triangle and is not symmetrical, so the image formed by the scattered light generated when the particles pass through the measurement light also has an asymmetric shape. Therefore, the flying direction of the fine particles can be determined from their shape.

【0013】[0013]

【実施例】以下、この発明の一実施例を図1乃至図3を
参照して説明する。図1に示す微粒子の測定装置は計測
光となる断面円形状のレ−ザ光Lを出力するレ−ザ光源
1を有する。このレ−ザ光源1から出力されたレ−ザ光
Lは光ファイバ2に導入される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 3. The particle measuring device shown in FIG. 1 has a laser light source 1 that outputs a laser beam L having a circular cross section as measurement light. Laser light L output from this laser light source 1 is introduced into an optical fiber 2.

【0014】光ファイバ2から出射したレ−ザ光Lは、
コリメ−タ2aによって平行光線にされたのち、成形光
学手段としてのアパ−チャ−3によって所定の強度分布
となるよう成形される。つまり、図2に示すように、上
記アパ−チャ−3は、レ−ザ光Lの光路に、レ−ザ光L
の光束断面の約半分を遮断する状態で配設されている。 それによって、強度分布がガウス分布をなしたレ−ザ光
Lは、アパ−チャ−3を通過して断面半円形状になるこ
とで、その強度分布E1 が光軸を中心とする半分が除
去された直角三角形状に成形される。
The laser beam L emitted from the optical fiber 2 is
After being made into parallel light beams by a collimator 2a, the light beams are shaped into a predetermined intensity distribution by an aperture 3 serving as a shaping optical means. In other words, as shown in FIG.
It is arranged in such a way that about half of the cross section of the light beam is blocked. As a result, the laser beam L whose intensity distribution has a Gaussian distribution passes through the aperture 3 and has a semicircular cross section, so that the half of the intensity distribution E1 centered on the optical axis is removed. It is formed into a right triangle shape.

【0015】直角三角形状のレ−ザ光Lはスキャナ4に
よって揺動駆動されるミラ−5に入射する。このミラ−
5で反射したレ−ザ光Lは、微粒子Pの飛来方向を測定
するための空間を上記ミラ−5の揺動角度に応じた範囲
で走査する。この走査空間をZとする。
The right triangular laser beam L is incident on a mirror 5 which is oscillated by a scanner 4. This mirror
The laser beam L reflected by the mirror 5 scans a space for measuring the flying direction of the fine particles P in a range corresponding to the swing angle of the mirror 5. Let this scanning space be Z.

【0016】上記走査空間Zを微粒子Pが通過すると、
レ−ザ光Lが微粒子Pで散乱して散乱光Sが発生する。 この散乱光Sは、先端側にカメラレンズ6が設けられた
イメ−ジインテンシファイヤ7によって捕らえられて増
幅され、CCDカメラ8に撮像される。
When the fine particles P pass through the scanning space Z,
Laser light L is scattered by fine particles P, and scattered light S is generated. This scattered light S is captured and amplified by an image intensifier 7 having a camera lens 6 at its tip, and is imaged by a CCD camera 8.

【0017】CCDカメラ8からの撮像信号は画像処理
部9とテレビモニタ11とに入力される。上記画像処理
部9は、散乱光Sの強度分布によって微粒子Pの飛来方
向を求める。つまり、レ−ザ光Lの強度分布E1 が上
述したごとく直角三角形状であると、微粒子Pがレ−ザ
光Lを図3に矢印Xで示すように斜め上方から下方に向
かって横切ったときに、微粒子Pで散乱する散乱光Sに
よってテレビモニタ11の画面Vに形成される画像Gは
、図3に示すように上下方向、つまり微粒子Pの飛来方
向に対して非対称形状であるほぼ三角形状となる。
An image signal from the CCD camera 8 is input to an image processing section 9 and a television monitor 11. The image processing unit 9 determines the flying direction of the fine particles P based on the intensity distribution of the scattered light S. In other words, if the intensity distribution E1 of the laser beam L is in the shape of a right triangle as described above, when the fine particle P crosses the laser beam L diagonally from above to below as shown by the arrow X in FIG. As shown in FIG. 3, the image G formed on the screen V of the television monitor 11 by the scattered light S scattered by the particles P has an approximately triangular shape that is asymmetrical with respect to the vertical direction, that is, the flying direction of the particles P. becomes.

【0018】つまり、レ−ザ光Lの強度分布は非対象形
状である直角三角形状をなしているから、その直角三角
形状の強い部分からの散乱光Sは強くなり、弱い部分か
らの散乱光Sは弱くなる。
In other words, since the intensity distribution of the laser beam L has an asymmetrical right triangular shape, the scattered light S from the strong portion of the right triangular shape becomes strong, and the scattered light from the weak portion of the right triangular shape becomes stronger. S becomes weaker.

【0019】画像Gの幅寸法は散乱光Sの強度に応じて
異なり、強い程、幅寸法が大きくなるから、微粒子Pが
図3に矢印Xで示すようにレ−ザ光Lの強度分布の弱い
方向から強い方向に通過すると、その通過方向における
レ−ザ光Lの強度分布に応じて画像Gの幅寸法が次第に
大きく変化することになる。それによって、画像Gはほ
ぼ三角形状となるから、その散乱光Sの画像Gを画像処
理部9で処理すれば、その幅寸法から微粒子Pの飛来方
向を求めることができる。また、テレビモニタ11の画
面Vやその画面Vを録画したビデオテ−プなどによって
も飛来方向を確実に判別することができる。
The width dimension of the image G varies depending on the intensity of the scattered light S, and the stronger the intensity, the larger the width dimension. Therefore, the fine particles P change the intensity distribution of the laser light L as shown by the arrow X in FIG. When passing from a weak direction to a strong direction, the width dimension of the image G gradually changes greatly depending on the intensity distribution of the laser light L in the passing direction. As a result, the image G has a substantially triangular shape, so if the image G of the scattered light S is processed by the image processing section 9, the flying direction of the fine particles P can be determined from the width dimension thereof. Further, the flying direction can be reliably determined by the screen V of the television monitor 11 or a video tape recording the screen V.

【0020】図4は、この発明の成形光学手段の他の実
施例を示す。この実施例は光ファイバ2に接続されたコ
リメ−タ2aから出射した強度分布がガウス分布Eをな
したレ−ザ光Lをカライドスコ−プ21に入射させてそ
の強度分布E0 を均一にする。ついで、そのレ−ザ光
Lをフィルタ22を通過させる。このフィルタ22は高
さ方向一端側から他端側にゆくにしたがってレ−ザ光L
に対する透過率がリニア状に変化するよう設定されてい
る。
FIG. 4 shows another embodiment of the shaped optical means of the present invention. In this embodiment, a laser beam L having a Gaussian intensity distribution E emitted from a collimator 2a connected to an optical fiber 2 is made incident on a kaleidoscope 21 to make the intensity distribution E0 uniform. Then, the laser beam L is passed through a filter 22. This filter 22 is designed to reduce the amount of laser light L as it goes from one end in the height direction to the other end.
The transmittance is set so that it changes linearly.

【0021】したがって、フィルタ22を透過したレ−
ザ光Lの強度分布E1 を、上記一実施例と同様、直角
三角形状にできるから、このレ−ザ光Lを空間に走査さ
せれば、その走査空間Zを通過する微粒子Pの飛来方向
を確実に判別することができる。
Therefore, the radiation transmitted through the filter 22
The intensity distribution E1 of the laser beam L can be shaped into a right triangular shape as in the above embodiment, so if the laser beam L is scanned in space, the flying direction of the particles P passing through the scanning space Z can be determined. It can be determined reliably.

【0022】また、上記一実施例では照射光学手段とし
てスキャナによって揺動駆動されるミラ−を用い、この
ミラ−にレ−ザ光Lを入射させることで走査させるよう
にしたが、図5と図6に示す照射光学手段を用いること
で、レ−ザ光Lによって所定の大きさの空間を照射する
ようにしてもよい。つまり、光ファイバ2から出射した
レ−ザ光Lはシリンドリカル凹レンズ25に入射してそ
のビ−ム径が一方向に拡大される。その拡大方向をXと
する。
Further, in the above embodiment, a mirror driven to swing by a scanner is used as the irradiation optical means, and scanning is performed by making the laser beam L incident on this mirror. By using the irradiation optical means shown in FIG. 6, a space of a predetermined size may be irradiated with the laser beam L. That is, the laser beam L emitted from the optical fiber 2 enters the cylindrical concave lens 25 and its beam diameter is expanded in one direction. Let X be the direction of expansion.

【0023】ついで、レ−ザ光Lは、上記シリンドリカ
ル凹レンズ25と軸線方向を同一、つまり上記X方向と
直交させて配置された第1のシリンドリカル凸レンズ2
6に入射する。この第1のシリンドリカル凸レンズ26
によってX方向に拡大されたレ−ザ光Lは平行光線とな
る。
Next, the laser beam L passes through the first cylindrical convex lens 2 which is disposed in the same axial direction as the cylindrical concave lens 25, that is, perpendicular to the X direction.
6. This first cylindrical convex lens 26
The laser beam L expanded in the X direction becomes a parallel beam.

【0024】第1のシリンドリカル凸レンズ26から出
射したレ−ザ光Lは、軸線をX方向に沿わせて配置され
た第2のシリンドリカル凸レンズ27に入射する。それ
によって、レ−ザ光Lは、図6に示すようにX方向と直
交するY方向に収束されてシ−ト状となるから、そのシ
−トの大きさに応じた空間を照射することができる。
The laser beam L emitted from the first cylindrical convex lens 26 enters a second cylindrical convex lens 27 arranged with its axis along the X direction. As a result, the laser beam L is converged in the Y direction perpendicular to the X direction as shown in FIG. Can be done.

【0025】なお、この発明に用いられるレ−ザ光源は
、He −Ne レ−ザを基本としているが、イメ−ジ
インテンシファイヤの受光感度特性を変更することで、
Ar レ−ザや半導体レ−ザなど他のレ−ザを用いるこ
ともできる。さらに、レ−ザ光を直角三角形状に成形す
る成形光学手段は、アパ−チャ−やフィルタに代わり、
レンズ系を用いるようにしてもよい。
The laser light source used in this invention is basically a He-Ne laser, but by changing the light receiving sensitivity characteristics of the image intensifier,
Other lasers such as Ar lasers and semiconductor lasers can also be used. Furthermore, the shaping optical means that shapes the laser beam into a right triangle shape replaces the aperture and filter.
A lens system may also be used.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上述べたようにこの発明は、光源から
出力される計測光の強度分布を成形光学手段によって直
角三角形状に成形し、この直角三角形状の計測光で空間
を照射するとともに、上記空間を飛来する微粒子からの
散乱光を撮像するようにした。
As described above, the present invention shapes the intensity distribution of measurement light output from a light source into a right triangular shape by a shaping optical means, illuminates a space with this right triangular measurement light, and Scattered light from fine particles flying through the above space was imaged.

【0027】そのため、計測光によって照射される空間
を飛来する微粒子から散乱した散乱光の強度は、直角三
角形状をなした計測光の強度分布に応じて異なるから、
その散乱光がなす画像を処理することで、上記微粒子が
計測光を横切った方向、つまり微粒子の飛来方向を確実
に判定することができる。
Therefore, the intensity of the scattered light scattered from the particles flying through the space irradiated by the measurement light varies depending on the intensity distribution of the measurement light in the shape of a right triangle.
By processing the image formed by the scattered light, it is possible to reliably determine the direction in which the fine particles cross the measurement light, that is, the direction in which the fine particles fly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】この発明の一実施例の全体構成図。FIG. 1 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】同じく成形光学手段の説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram of the shaping optical means.

【図3】同じく微粒子の飛来方向と散乱光による画像と
の関係の説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the relationship between the flying direction of fine particles and an image obtained by scattered light.

【図4】この発明の他の実施例の成形光学手段の説明図
FIG. 4 is an explanatory diagram of a shaping optical means according to another embodiment of the present invention.

【図5】この発明の他の実施例の照射光学手段の平面図
FIG. 5 is a plan view of an irradiation optical means according to another embodiment of the present invention.

【図6】同じく側面図。FIG. 6 is a side view as well.

【図7】従来の微粒子の飛来方向と散乱光による画像と
の関係の説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram of the relationship between the conventional flying direction of fine particles and an image based on scattered light.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…レ−ザ光源、3…アパ−チャ−(成形光学手段)、
4…スキャナ(照射光学手段)、5…ミラ−(照射光学
手段)、8…CCDカメラ(受光光学手段)、9…画像
処理部(処理手段)。
1... Laser light source, 3... Aperture (molding optical means),
4... Scanner (irradiation optical means), 5... Mirror (irradiation optical means), 8... CCD camera (light receiving optical means), 9... Image processing section (processing means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  空間を浮游する微粒子を計測する微粒
子の計測装置において、計測光を出力する光源と、この
光源からの計測光の強度分布を直角三角形状に成形する
成形光学手段と、この成形光学手段によって成形された
計測光を上記空間に照射させる照射光学手段と、上記空
間を微粒子が通過することで発生する散乱光を検出する
受光光学手段と、この受光光学手段によって検出された
散乱光を画像処理することで上記微粒子の飛来方向を求
める処理手段とを具備したことを特徴とする微粒子の計
測装置。
1. A particle measuring device for measuring particles floating in space, comprising: a light source for outputting measurement light; a shaping optical means for shaping the intensity distribution of the measurement light from the light source into a right triangular shape; An irradiation optical means for irradiating the space with measurement light shaped by the optical means, a light receiving optical means for detecting scattered light generated when particles pass through the space, and a scattered light detected by the light receiving optical means. 1. A particle measuring device comprising: processing means for determining the flying direction of the particles by performing image processing on the particles.
JP3456291A 1991-02-28 1991-02-28 Corpuscle measuring device Pending JPH04273042A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3456291A JPH04273042A (en) 1991-02-28 1991-02-28 Corpuscle measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3456291A JPH04273042A (en) 1991-02-28 1991-02-28 Corpuscle measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04273042A true JPH04273042A (en) 1992-09-29

Family

ID=12417758

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3456291A Pending JPH04273042A (en) 1991-02-28 1991-02-28 Corpuscle measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04273042A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07229826A (en) * 1994-02-16 1995-08-29 Nec Corp Method and apparatus for measuring floating dust
JP2015519575A (en) * 2012-06-15 2015-07-09 ハンディエム・インコーポレーテッド Method and flow cell for characterizing particles with non-Gaussian temporal signals

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07229826A (en) * 1994-02-16 1995-08-29 Nec Corp Method and apparatus for measuring floating dust
JP2015519575A (en) * 2012-06-15 2015-07-09 ハンディエム・インコーポレーテッド Method and flow cell for characterizing particles with non-Gaussian temporal signals

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5196716A (en) Method and apparatus for measuring internal defects for position and depth
EP0500293B1 (en) Particle detection method and apparatus
JP3408816B2 (en) Variable spot size scanner
KR100669845B1 (en) Scanning method and system for inspecting anomalies on surface
US4655592A (en) Particle detection method and apparatus
US4441124A (en) Technique for inspecting semiconductor wafers for particulate contamination
JP4306800B2 (en) Optical scanning system for surface inspection
US4895446A (en) Particle detection method and apparatus
JP3187129B2 (en) Particle analyzer
JPH0143901B2 (en)
JP3105702B2 (en) Optical defect inspection equipment
JP3102925B2 (en) Particle analyzer
JP2003017536A (en) Pattern inspection method and inspection apparatus
JPS6273143A (en) Optical type web monitor device
JP3185878B2 (en) Optical inspection equipment
JPH04273042A (en) Corpuscle measuring device
JP4040777B2 (en) Foreign matter inspection device
JP2796906B2 (en) Foreign matter inspection device
JPH0565020B2 (en)
JPS58201005A (en) Device for measuring particle diameter
JPH07270144A (en) Inspection method of foreign matter on semiconductor wafer
JP2001074645A (en) Method and device for measuring small amount of fine particle
JP2004163240A (en) Surface evaluation device
JP3338118B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JPS5833107A (en) Device for measuring size of particle