JPH04268824A - アナログ−ディジタル変換器 - Google Patents

アナログ−ディジタル変換器

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JPH04268824A
JPH04268824A JP3291339A JP29133991A JPH04268824A JP H04268824 A JPH04268824 A JP H04268824A JP 3291339 A JP3291339 A JP 3291339A JP 29133991 A JP29133991 A JP 29133991A JP H04268824 A JPH04268824 A JP H04268824A
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JP
Japan
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analog
signal
input
delay
comparator
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Application number
JP3291339A
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English (en)
Inventor
De Plassche Rudy J Van
ルディ ヨハン ファン デ プラスヘ
Petrus G M Baltus
ペトラス ヘラルダス マリア バルタス
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/0602Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/36Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type
    • H03M1/361Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type
    • H03M1/362Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type the reference values being generated by a resistive voltage divider
    • H03M1/365Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type the reference values being generated by a resistive voltage divider the voltage divider being a single resistor string

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアナログ信号入力端子と
、多数のディジタル信号入力端子とを有している並列に
作動するアナログ−ディジタル変換器であって、各々が
2つの入力端子と1つの出力端子とを有している複数個
の比較器を具え、各比較器が所定の入力信号部分を処理
するように、前記各比較器の一方の入力端子を、この入
力端子にそれ固有の所定の基準電圧を供給するインピー
ダンス回路網に接続し、前記各比較器の第2入力端子を
、変換すべきアナログ入力信号を受信するためのアナロ
グ信号入力端子に接続し、前記比較器の出力端子を対応
するディジタル信号出力端子に結合させたアナログ−デ
ィジタル変換器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】斯種のアナログ−ディジタル変換器につ
いては、例えば、エレクトロニカ(Electroni
ca) 85/7 (1985年) の第23〜27頁
に発表されたジェー・ランブレヒツ(J. Lambr
echts) による論文 ”Optimale pa
rallel−conversie door tra
ck/hold’s”に記載されている。この従来の変
換器では、ディジタル信号出力端子をm−n 変換器、
つまりm個の信号出力端子におけるディジタル信号をn
ビットのディジタルワード(ここにm=2n )に変換
する変換器に接続している。前記論文では様々なサンプ
リング遅れが、上述したような並列に作動するアナログ
−ディジタル変換器にとって潜在的なダイナミック変換
誤差源となる旨指摘している。それぞれの比較器は、2
つの比較器ブランチにおける内的非対称性、各比較器を
構成するチップのレイアウト及びアナログ入力信号をサ
ンプルするサンプリング速度によって決定される所定の
遅延を呈する。この遅延は一般に比較器毎に相違する。 隣接する比較器間におけるサンプリング遅延の差は一般
に低周波アナログ信号にとってはあまり問題にならない
。しかし、アナログ入力信号の周波数が高くなる場合、
様々なサンプリグ遅延間の差が符号化誤りを来たし、し
かもその差が非直線的に極めて高くなる。この必然的な
誤りはアナログ入力信号の立上り時間の長さ及びアナロ
グ入力信号の縁部の方向に依存する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】比較器のアナログ入力
段に供給される信号の様々な勾配は、特に入力信号の2
次又は3次ひずみをまねき、従ってこれらの各アナログ
入力段に供給する信号の帯域幅は制限されることになる
【0004】本発明の目的は、サンプリング遅延の変動
による諸欠点を比較的簡単な手段により低減させるか、
又はなくせるように適切に構成したアナログ−ディジタ
ル変換器を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は冒頭にて述べた
種類のアナログ−ディジタル変換器において、関連する
比較器によって処理すべき入力信号部分の峻度に依存す
る遅延を作動中に生ぜしめる遅延素子を比較器の出力端
子と、対応するディジタル信号出力端子との間に挿入し
たことを特徴とする。
【0006】なお、アナログ−ディジタル変換器に遅延
素子を用いることは、例えは英国特許明細書第1,38
4,576 号から既知である。しかし、これに開示さ
れている変換器は直列原理に従って作動するものであり
、この場合にアナログ入力信号は多数の工程でディジタ
ル出力信号及びアナログ残留信号に変換される。従って
、ディジタル出力信号はこの変換器に採用される直列処
理によって決まる逐次瞬時でしか入手できない。このこ
とは欠点と見なされ、しかもこの欠点をなくすために遅
延線を用いて、結局は一般的な遅延処理を行なって全ビ
ットを同時に入手し得るようになる。
【0007】以下図面につき本発明を説明する。図1に
示す従来のアナログ−ディジタル変換器は7個の比較的
10, 12, 14, 16, 18, 20, 2
2を具えている8ステップ変換器であり、前記各比較器
の各第1入力端子は変換すべきアナログ入力電圧Uin
が与えられる入力端子42に接続され、又前記各比較器
の各第2入力端子は抵抗アレイに接続されている。この
抵抗アレイは抵抗24, 26, 28, 30, 3
2, 34及び36を直列に接続したものであり、この
抵抗アレイを電圧端子38と40との間に接続する。作
動時には、例えば電圧端子40に大地電位を与え、電圧
端子38に基準電圧Ur を与える。
【0008】比較器10−−−−22の各出力端子はデ
ィジタル信号出力端子44, 46, 48, 50,
 52, 54, 56の各々に接続する。この例にお
けるこれらの信号出力端子44−−−−56は8−3(
8ビットを3ビットに変換する)変換器78の対応する
入力端子に接続する。変換器78の出力端子を58, 
60, 62にて示してある。この変換器78を用いる
ことにより、8つのディジタル入力信号は3ビットワー
ドにコード化され、このワードの3ビットが出力端子5
8, 60及び62にて利用される。
【0009】作動中には変換すべきアナログ入力信号U
inを端子42に供給し、基準信号Ur を端子38に
供給し、又端子40を大地電位に接続ものとする。基準
電圧Ur は抵抗24−−−−36を具えている抵抗ア
レイを経てそれぞれの比較器に対する別々の基準電圧に
分けられる。それぞれの比較器では入力電圧Uinを各
別の基準電圧と比較して、第1又は第2値を有する出力
信号を得る。比較器の出力信号をそれぞれの比較器のサ
ンプル入力端子(図示せず)に供給されるサンプル信号
によりサンプルして、出力端子44−−−−56に得ら
れる信号を変換器78により3ビットワードに変換して
、このワードの3ビットを変換器78の出力端子58,
 60, 62から取出すことができる。図1に示した
回路の詳細な作動は当業者に既知であるため、これ以上
の説明は省略する。
【0010】各比較器10−−−−22は入力信号の異
なる部分を調べる。比較器10及び22の如き比較器ア
レイの両端に近い比較器は本質的に入力信号の内で、勾
配が比較的平坦な部分を調べるのに対し、例えば比較器
16の如き比較器アレイの真中に近い比較器は、入力信
号の内で勾配が比較的急峻な部分を調べる。それぞれの
比較器10−−−−22には入力信号Uinの勾配が異
なる部分が供給されることにより、比較器にてサンプル
されて信号出力端子44−−−−56に現われる信号が
ひずむことになる。
【0011】図2は、振幅が 0.5Vで、周波数が5
0MHz の正弦波状入力信号Uinが1Vの基準信号
Ur と共に供給される64ステップの変換器に基づく
コンピュータシミュレーションの結果を示す。入力信号
を20×10−9秒の時間周期 (入力信号の1つの完
全な正弦波周期に対応する)内で 200回サンプルす
る (サンプリング速度1GHz)。次いでこれらのサ
ンプルをグラフにプロットすれば図2が得られる。図2
は水平軸に沿う時間スケールを2・10−9秒のステッ
プでプロットし、得られる出力電圧U0 を垂直軸に沿
って 0.4Vのステップでプロットしたものである。 図2から明らかなように、斯様な高周波信号にはかなり
のひずみがある。元の正弦波状入力信号と図2に示した
出力信号との差をとれば、ひずみが残る。このひずみU
d を図3に示してある。この図3では図2に用いたの
と同じ目盛を水平及び垂直軸に用いている。図3から明
らかなように、このひずみは本質的に3次ひずみである
。このひずみはそれぞれの信号出力端子44−−−−5
6と比較器10−−−−22の出力端子との間に遅延素
子を挿入することにより大部分なくすことができる。こ
の場合のアナログ−ディジタル変換器の構成を図4に示
してある。
【0012】
【実施例】図4に示す本発明によるアナログ−ディジタ
ル変換器は図1に示したコンポーネントと全く同一のコ
ンポーネントを多数具えている。これらのコンポネーン
トには図1に用いたのと同じ参照番号を付して示してあ
る。図1と図4との相違点は各比較器の出力端子と、こ
れに関連するディジタル信号出力端子との間にそれぞれ
接続した遅延素子64, 66, 68, 70, 7
2, 74及び76にある。遅延素子64−−−−76
によって行われる遅延は、関連する比較器によって処理
すべき信号部分の勾配の平均峻度に個々相対的に依存す
る。比較器によって処理すべき信号の峻度が大きくなる
につれて、関連する遅延素子に必要とする遅延時間を大
きくしなければならない。図5は特定の遅延素子の遅延
量を求めることができるグラフを示す。
【0013】図5は入力信号Uinと基準信号Ur と
の比を水平軸に沿ってプロットした図であり、0から1
までのこの水平軸の目盛は実際には遅延素子アレイにお
ける関連する遅延素子の位置に対応する。遅延素子64
は入力電圧Uinが基準電圧に等しくなるまで作動しな
い。残りの遅延素子はいつか低下する入力電圧で作動す
る。これがため、上記水平軸の下側には作動する関連遅
延素子の参照番号を示してある。図5の縦軸にはピコ秒
で測定される関連遅延素子の遅延量τをどの程度とすべ
きかを示してある。放物分布特性bから始めた場合には
、遅延素子74に対する遅延時間は例えばτ74となる
。三角形の分布特性cから始めた場合には、遅延素子7
4の遅延はτ′74となる。他の各遅延素子に対する適
切な遅延量も同様に両分布特性の選択に応じて決定する
ことができる。図示の分布図表で達成し得る結果を図6
,図7及び図8に示してある。図6の水平軸にはMHz
 の単位で表わされる周波数fをプロットしてあり、又
縦軸には変換器に生ずる最下位ビットLSB の部分と
して表わされるサンプリング誤差Eをプロットしてある
。図6では、振幅が 0.5Vで、(0電圧端子40に
対して) オフセットが 0.5Vの正弦波状信号から
始めた。図6のaから明らかなように、50 MHzの
周波数では 0.1 LSBの誤差が発生し、この誤差
は75 MHzで 0.3 LSBにまで上昇し、10
0MHzでは0.6LSBにまでなる。遅延素子を組込
み、且つこれらの遅延素子の遅延量を選択するのに放物
分布特性を用いるようにすれば、変換中に作られる誤差
は図6に破線bで示す曲線に従う特性を呈する。これは
50 MHzで誤差が 0.1 LSBよりもかなり小
さくなり、75 MHzでは 0.15 LSB にま
で増大し、 100MHzで 0.4 LSBに増大し
たことを示している。 図5に示した三角形分布グラフを用いた場合には、低周
波範囲内での誤差は図6から明らかなように多少大きく
なるが、75〜100 MHz の高周波領域内では曲
線cとbは一致し、これは遅延素子を用いない曲線aに
比べて遙かに有利であることがわかる。
【0014】従って、図6から明らかなように、比較器
の出力端子とディジタル信号出力端子との間に遅延素子
を設けることにより、特に高周波領域にてかなり有利と
なる。しかし、低周波領域に余分な誤差が生ずることに
なるが、 0.1 LSB程度のこの誤差は一般に許容
公差範囲内に十分留まるものである。これがため、遅延
素子を設けることにより変換器の有効帯域幅が大きくな
ると云うことができる。
【0015】図7は図6の場合よりも小さな入力信号、
即ち振幅が 0.25Vで、オフセットが 0.5Vの
信号に対するサンプリング誤差Eの変化を周波数f(M
Hz) に対してプロットした図を示している。この場
合、放物曲線bを用いても、遅延線を用いない曲線aと
変わらないが、三角曲線cを用いる場合には、低周波領
域で誤差率が多少大きくなるが、高周波領域では誤差率
が比較的小さくなる。いずれにしても誤差は 0.1 
LSB以下に留まる。
【0016】図8はオフセットが図7の場合よりも小さ
く、0.25Vである0.25Vの入力信号の場合を示
している。この場合にはサンプリング誤差Eが多少高く
なり、その誤差は 100 MHzの高周波領域では曲
線bの場合に0.15 LSBに大きくなり、又三角曲
線cの場合に 100MHzで 0.2 LSBにまで
大きくなる。
【0017】要するに、遅延素子を設けると、比較的小
さな信号では実際上サンプリング誤差Eが大きくなるも
、特に高周波の比較的大きな信号を用いる場合にサンプ
リング誤差がかなり改善されることになると云うことが
できる。
【0018】遅延素子64−−−−76で実現すべき遅
延は、これらの遅延素子を実現するのに短いスタブを使
用できるような小さなものとする(図5参照)。長さが
 100μm のスタブが信号を1ピコ秒遅延するもの
とすれば、本発明によるアナログ−ディジタル変換器に
おける遅延線に必要とされる最大長さは約1mmとなる
。このような長さのスタブは集積回路に難なく実現する
ことができる。
【0019】上述した所では8ステップ(3ビット)変
換器(図4)及び64ステップ(6ビット)変換器の例
につき説明したが、本発明はこれらの例のみに限定され
るものでなく、例えば任意のステップ数を有する変換器
にも用いることができる。さらに、ディジタル信号出力
端子に現われる信号は種々のタイプの変換器によるか、
又は上記m−n変換器からの回路によって処理すること
もできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のアナログ−ディジタル変換器の一例を示
すブロック図である。
【図2】64ステップのアナログ−ディジタル変換器で
シュミレートしたゼロ交差の結果を示す図である。
【図3】図2のシュミレート出力信号と元の正弦波状入
力信号との差をとることにより得られたシュミレーショ
ンに生ずる3次ひずみを示す図である。
【図4】本発明によるアナログ−ディジタル変換器の実
施例を示すブロック図である。
【図5】種々の遅延素子によって実現すべき選択遅延量
を示す線図である。
【図6】特に、高いサンプリング速度で、しかも比較的
高い入力信号の場合に、本発明による遅延素子を用いる
ことによるサンプリング誤差の低減効果を示す図である
【図7】特に、振幅が低く、しかもオフセット電圧が 
0.5Vの場合に、本発明による遅延素子を用いること
によるサンプリング誤差の低減効果を示す図である。
【図8】振幅が低く、オフセット電圧が図7の場合より
も低い場合に、本発明による遅延素子を用いることによ
るサンプリング誤差の低減効果を示す図である。
【符号の説明】
10〜22  比較器 24〜36  抵抗 38      基準電圧端子 40      接地端子 42      アナログ入力電圧端子44〜56  
ディジタル信号出力端子58〜62  変換器出力端子 64〜76  遅延素子

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  アナログ信号入力端子と、多数のディ
    ジタル信号入力端子とを有している並列に作動するアナ
    ログ−ディジタル変換器であって、各々が2つの入力端
    子と1つの出力端子とを有している複数個の比較器を具
    え、各比較器が所定の入力信号部分を処理するように、
    前記各比較器の一方の入力端子を、この入力端子にそれ
    固有の所定の基準電圧を供給するインピーダンス回路網
    に接続し、前記各比較器の第2入力端子を、変換すべき
    アナログ入力信号を受信するためのアナログ信号入力端
    子に接続し、前記比較器の出力端子を対応するディジタ
    ル信号出力端子に結合させたアナログ−ディジタル変換
    器において、関連する比較器の入力信号部分の峻度に関
    連する遅延を生じさせるために前記比較器の出力端子と
    、対応するディジタル信号出力端子との間に遅延素子を
    挿入したことを特徴とするアナログ−ディジタル変換器
  2. 【請求項2】  最下位ディジタル信号を発生している
    比較器から最上位ディジタル信号を発生している比較器
    の方向に見て、遅延素子の遅延が最初は増大し、次いで
    再び減少するようにしたことを特徴とする請求項1に記
    載のアナログ−ディジタル変換器。
  3. 【請求項3】  前記方向における遅延が一次関数とし
    て増大し、且つ減少するようにしたことを特徴とする請
    求項2に記載のアナログ−ディジタル変換器。
  4. 【請求項4】  前記方向における遅延が放物的関数と
    して減少するようにしたことを特徴とする請求項2に記
    載のアナログ−ディジタル変換器。
  5. 【請求項5】  前記遅延素子を所望遅延量に適った長
    さを有するスタブ部分で形成したことを特徴とする請求
    項1〜4のいずれかに記載のアナログ−ディジタル変換
    器。
JP3291339A 1990-11-09 1991-11-07 アナログ−ディジタル変換器 Pending JPH04268824A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9002445 1990-11-09
NL9002445 1990-11-09

Publications (1)

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JPH04268824A true JPH04268824A (ja) 1992-09-24

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ID=19857948

Family Applications (1)

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JP3291339A Pending JPH04268824A (ja) 1990-11-09 1991-11-07 アナログ−ディジタル変換器

Country Status (4)

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US (1) US5189422A (ja)
EP (1) EP0485019B1 (ja)
JP (1) JPH04268824A (ja)
DE (1) DE69119543T2 (ja)

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EP0485019B1 (en) 1996-05-15
EP0485019A1 (en) 1992-05-13
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DE69119543T2 (de) 1996-11-28
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