JPH04264235A - 沈殿状況計測システム - Google Patents

沈殿状況計測システム

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Publication number
JPH04264235A
JPH04264235A JP3024392A JP2439291A JPH04264235A JP H04264235 A JPH04264235 A JP H04264235A JP 3024392 A JP3024392 A JP 3024392A JP 2439291 A JP2439291 A JP 2439291A JP H04264235 A JPH04264235 A JP H04264235A
Authority
JP
Japan
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sedimentation
precipitation
water
concentration
water treatment
Prior art date
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Pending
Application number
JP3024392A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Baba
研二 馬場
Shoji Watanabe
昭二 渡辺
Toshio Yahagi
矢萩 捷夫
Ichirou Enbutsu
伊智朗 圓佛
Naoki Hara
直樹 原
Mikio Yoda
幹雄 依田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP3024392A priority Critical patent/JPH04264235A/ja
Publication of JPH04264235A publication Critical patent/JPH04264235A/ja
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02WCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
    • Y02W10/00Technologies for wastewater treatment
    • Y02W10/10Biological treatment of water, waste water, or sewage

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Activated Sludge Processes (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、下水処理プラント,浄
水処理プラント,産業排水処理プラントなどの水処理プ
ラント、並びに、微生物培養プラント,動植物細胞培養
プラント,発酵プラントなどのバイオプラント等におけ
る懸濁物沈殿状況の計測装置,評価装置,プラント全体
の監視制御装置、並びにプラント群の監視制御装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】懸濁物質を沈降させる池、例えば、沈殿
池は、固液分離プロセスで多数用いられている。沈殿池
で懸濁物質の沈殿状況を把握するには、沈殿物と上澄水
との境界,沈殿池の上澄水中で浮遊する浮遊粒子量,沈
殿物質の濃度などを知る必要がある。従来、沈殿物と上
澄水との境界を計測する方法として、超音波の送信手段
と受信手段とを一組向きあわせて、超音波の減衰率から
濃度を求め、この水深方向の濃度分布から沈殿物と上澄
水との境界を求める方法が知られている。他方、沈殿池
の水面から垂直下方に超音波を発信し、得られる反射受
信波から境界を求める方法も知られている。一方、沈殿
池の上澄水中を浮遊する浮遊粒子を計測するには、濁度
計などが知られている。さらに、沈殿物質の濃度を計測
するには、懸濁物質濃度計などが知られている。この他
に浮遊物質の沈降性を評価する方法は、浮遊物質の沈降
過程を画像処理する方法が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】懸濁物質の沈殿状況を
知るには、■浮遊物質,■沈殿物質濃度,■沈殿物質と
上澄水との境界などを知る必要がある。しかし、これら
沈殿状況の全容を一つのセンサで多面的かつ総合的に同
時に計測することは不可能であった。このため、懸濁物
質の沈殿状況を監視して沈殿池を効率的に管理するには
、複数異種のセンサを設置する必要があるが、高額にな
り、かつ、センサのメンテナンスも繁雑になるなど、経
済的にこれを行うことは困難であった。特に、規模の小
さなプラントの沈殿池にセンサを過剰に設置することは
事実上不可能であった。複数のセンサを設置した場合で
も、素人が複数の計測値を評価して沈殿状況の全容を把
握することは困難であった。
【0004】沈殿池から浮遊粒子が溢れ出す(キャリア
オーバ現象)と、処理水質が悪化するが、これを一つの
センサ(計測システム)で高精度に監視し、対策や制御
を行うことは困難であった。
【0005】
【課題を解決するための手段】沈殿池の水面から垂直下
方に超音波を発信し、得られる反射受信波から沈殿物と
上澄水との境界を求める方法が知られているが、本発明
はこの方法をさらに発展させて、境界だけでなく、■浮
遊物質,■沈殿物質濃度なども同時に計測し、かつ、沈
殿状況を多面的・総合的に評価できるようにしたもので
ある。特に、これまで信号処理されていなかった反射受
信波を処理する波形処理手段を設け、前記■■■、並び
に、■■■に加えて沈殿物の濃度分布を計測し、さらに
は■では、未沈降浮遊粒子の量と大きさとを計測するよ
うにした。また、これらの計測結果により沈殿状況、あ
るいは、前段の反応槽での処理状況を評価し、この評価
結果を活用して水処理プラントの量的質的流入負荷,溶
存酸素濃度,汚泥濃度,返送汚泥濃度,汚泥日令、及び
余剰汚泥引き抜き量などを制御できるようにした。
【0006】
【作用】従来、信号処理されていなかった反射受信波を
処理する波形処理手段を設け、これまで同時には計測困
難であった、沈殿物の濃度分布と、水面下に浮遊する粒
子と、沈殿物と上澄水との境界とを同時に計測できるよ
うにすると共に、この計測結果、あるいは、評価結果か
ら沈殿池の沈殿状況や水処理プラントの処理状況の良否
を判定表示することにより、高精度の監視と適切な制御
を可能とした。さらに、知識処理技術やニューラルネッ
トを活用して、非熟練オペレ−タにも判り易く表示し、
かつ、監視制御法をガイダンスできるようにして操作性
を向上させると共に、複数の水処理プラントの監視情報
を伝送する手段を付加して集中的な監視制御を可能にし
た。
【0007】
【実施例】図1を用いて本発明の実施例を説明する。沈
殿池30は流入管20Pから浮遊物質と水との混合液を
受ける。沈殿池30内で、浮遊物質30Pが沈殿して沈
殿物質30Sとなり沈殿物引き抜き管30P1から引き
抜かれ、上澄水30Lは上澄水引き抜き管30P2から
引き抜かれる。沈殿速度の遅い浮遊物質30Pの一部は
上澄水に混入して上澄水引き抜き管30P2から流出す
る。
【0008】超音波センサ30M1は沈殿池30の水面
近くの水中に浸漬される。超音波センサ30M1は、沈
殿池の水面近くから垂直下方に超音波を発信すると共に
、同時に発信直後に時系列として得られる反射波を受信
する。
【0009】超音波送受信装置100は超音波センサ3
0M1に超音波送信の駆動信号を送信し、超音波センサ
30M1の圧電素子部(図示せず)がこの駆動信号を受
けて超音波を送信する。前述したように、超音波センサ
30M1は送信直後から反射波を時系列として受信する
。この波形を110に示す。波形110はアナログ信号
かまたはデジィタル信号で、後者の場合には超音波送受
信装置100の直後にA/D変換装置を付加する(図示
せず)。波形処理手段120は波形110を受けて、波
形の強度変化に基づいて■上澄水中を浮遊する物質の濃
度を示す信号と、■沈殿物質の濃度分布の信号,■沈殿
物と上澄水との境界の信号を出力する。沈殿状況評価手
段130は、波形処理手段120からこれらの信号を受
けて、■上澄水中の浮遊物質濃度と、■沈殿物質の濃度
分布と、■沈殿物と上澄水との境界値を演算する。推論
機構131はこれらの信号を受ける。他方、知識ベース
132には沈殿状況の知識が予め記号化されており、推
論機構131は知識ベース132の知識に基づいて沈殿
状況を評価する。以上の操作を一定の周期で繰り返す。 また、評価結果は入出力手段140を通してオペレータ
150に伝えられる。なお、本発明で言う入出力手段1
40は計測情報の出力機能ならびに必要情報の入力機能
をもつものと定義する。入出力媒体は、キーボード,マ
ウス,音声,ディスプレィ画面へのタッチ操作などであ
る。
【0010】次に、図1を用いて本実施例の詳細操作を
説明する。
【0011】沈殿池30の水面近くに浸漬された超音波
センサ30M1は、垂直下方に超音波を発信及び受信す
る。超音波センサ30M1には、汚れの付着を抑制する
ために定期的または連続的な清掃手段を付加する(図示
省略)。清掃手段の方式は、ブラッシング方式,超音波
方式,水流方式などである。超音波の発信受信は周期的
かつ間欠的になされ、例えば、発信頻度は一秒間に十回
行う。
【0012】波形110を次に説明する。横軸は距離(
波形受信時間と等価)で、縦軸は受信反射波の強度であ
る。超音波の伝搬する距離Lは,伝搬速度Vと時間Tと
の積であるので数1が成り立つ。
【0013】
【数1】
【0014】受信波は送信後物体に反射して戻ってきた
波であるので、受信時間は物体までの時間の二倍(距離
も二倍)を要する。したがって、物体までの距離を新た
にLとするとLは数2となる。
【0015】
【数2】
【0016】超音波の伝搬速度Vは水温の関数であるの
で、水温を計測(図示省略)して伝搬速度Vを補正する
。送信時を時刻0として反射波の時系列を数2で整理し
て波形110が得られる。
【0017】波形110には、特徴的ピ−クP1,P2
,P3,Pk,Ps,Pbが観察される。ピークP1,
P2,P3 は上澄水30Lの中を浮遊する浮遊物質3
0Pからの反射波であり、Pk は沈殿物と上澄水との
境界を表わす。Ps で表わされる波形は沈殿物質30
Sの濃度に対応して強度が変化する。Ps の立上り部
が境界Pk に相当する。沈殿池30の底部からの反射
波がPb である。 各特徴までの距離を各々L1,L2,L3,Lk,Ls
,Lbとして、図1に記入してある。
【0018】波形処理手段120は、特徴P1,P2,
P3,Pk,Ps,Pbの大きさと各距離L1,L2,
L3,Lk,Ls,Lbとから、■上澄水中を浮遊する
物質と、■沈殿物質の濃度分布の信号,■沈殿物と上澄
水との境界を演算する。まず、■上澄水中を浮遊する物
質30Pの定量化方法を説明する。波形110中に記載
されるように、反射強度Iがある値を超える値をしきい
値It として、I≧It の反射信号を物体からの反
射波とみなす。 Pk より前のピークをカウントして、単位容積当たり
の浮遊物質数Nを演算する。■沈殿物と上澄水との境界
までの距離はLk で出力される。■沈殿物質30Sの
濃度分布の信号は、Pk より後の波形Ps から演算
する。距離Lにおける波形Ps の強度をI(L)とす
ると、沈殿物質30Sの濃度C(L)は反射波強度Iの
関数fc として数3で表される。
【0019】
【数3】
【0020】予めこの関数形を求めておき、各距離Lで
の沈殿物質濃度C(L)を演算する。沈殿物質30Sの
平均的濃度Ca は数4で表される。
【0021】
【数4】
【0022】C(L)の信号がデジィタル値のn点の時
系列信号C1,C2,C3,…Cnとして得られる場合
には数4は数5になる。
【0023】
【数5】
【0024】以上の方法により、波形処理手段120は
、浮遊物質数N,沈殿物質30Sの平均的濃度Ca 、
及び、沈殿物と上澄水との境界までの距離Lk を出力
する。このように、本実施例では、沈殿池での浮遊物質
の沈殿状況を、■上澄水中を浮遊する物質濃度,■沈殿
物質の濃度分布,■沈殿物と上澄水との境界、以上■■
■の三点から総合的にしかも一つの計測システムで評価
できる。また、沈殿池30での浮遊物質の有無,沈殿後
あるいは沈殿途中の濃度,沈殿物質と上澄水との境界な
ど、沈殿状況の全容を多面的に把握出来るので沈殿池3
0をより効率よく管理できる。なお、波形がデジィタル
信号で得られる場合には波形処理手段120はマイクロ
プロセッサを用いる。
【0025】次に、沈殿状況の具体的把握方法について
説明する。沈殿状況評価手段130は、波形処理手段1
20から出力された、浮遊物質数N,沈殿物質の平均的
濃度Ca 、及び、沈殿物質と上澄水との境界までの距
離Lk に基づいて沈殿池30の沈殿状態を評価して結
果を出力する。
【0026】波形110と評価結果の具体例を以下に説
明する。波形110の具体例は図2(a)(b)のよう
になる。正常状態では浮遊物質が沈降し濃縮されて高濃
度の沈殿物質が底に蓄積し、この状態の波形110は図
2(a)のようになる。したがって、Nが小、Ca が
大、Lk が大となる。このような状態は表1に示すよ
うに正常である。
【0027】
【表1】
【0028】逆に異常状態では、浮遊物質が沈降しづら
く上澄水中に浮遊あるいはゆっくりと沈殿し、さらには
最悪の場合には沈殿池から溢れだす。このような異常状
態では沈殿物質の濃縮率が低く、波形110は図2(b
)のようになる。従って、表1に示すようにNが大、C
a が小、Lk が小となる。
【0029】このような状況は、沈殿池30への流入水
の状況(流量や基質負荷)などによって多様に変化する
ため、状況に応じて沈殿状況を評価し結論を出すには組
合せの数が多い。そこで、知識処理手法を用いて、推論
機構131と知識ベース132により沈殿状況を評価す
る。ここで、知識ベース132はプロダクション型ルー
ルとファジィ型ルールを含み、推論機構131で用いる
推論手法は前向き推論,後向き推論,定性推論,ファジ
ィ推論,事例推論を含む。知識ベース132には、表1
記載の知識などが格納されるが、知識の追加や削除、更
新は入出力手段140を通してオペレータ150が行な
える。
【0030】このように、知識処理手法を適用すること
で、沈殿池の流量や負荷などの運転条件、あるいは、前
段の処理プロセスの運転状態を考慮して、沈殿池の状態
をきめこまかに評価でき、かつ、沈殿についての知識を
持たない非熟練オペレータに対しても状況を的確に示せ
る効果がある。なお、N,Ca 、及び、Lk の値を
そのまま入出力手段140に出力できることはいうまで
もない。
【0031】図3に示す実施例は、図1の波形処理手段
120に、さらに高度の識別機能を付加して、沈殿状況
を評価する判断情報を詳細に出力する実施例である。こ
の判断情報は、■■■に加えて、■上澄水中の浮遊物質
の粒径分布と、■流入浮遊物質の沈降性である。
【0032】■上澄水中の浮遊物質の粒径分布を求める
には、図4に示すように、浮遊物質の反射強度Iがしき
い値を超える幅を各々演算する。すなわち、P1,P2
,P3 に対応する幅D1,D2,D3 を演算する。 幅Di が大きいほど粒径が大きいことを示す。粒径d
i はこの幅Di の関数fd として数6で計算する
【0033】
【数6】
【0034】異なる時間で超音波を複数回送受信して得
られた受信波形から、数6を実行して平均的な粒径分布
を求める。さらに平均粒径を求める。求めた平均粒径値
をDa とするとこれにより、上澄水中の浮遊物質の性
質が推定される。具体的に水処理プラントの例で説明す
ると、平均粒径値Da が小さく微小粒子が多数検出さ
れれば、沈殿池で見られるピンポイントフロックが存在
することを示し、逆に、平均粒径値Da が大きく大粒
子が検出される場合には密度の低いフロックが浮遊して
いることを示す。
【0035】■流入浮遊物質の沈降性を求めるには、沈
殿物質30Sの濃度分布から推定する。沈降性のよい浮
遊物質は図2(a)に示すように、Ps 部での反射波
強度Iの距離方向Lの変化(dI/dL)が大きい。一
方、沈降性の悪い浮遊物質は図2(b)に示すようにd
I/dLが小さい。これを評価する具体的手法を次に説
明する。説明では反射波強度Iの代りに沈殿物質濃度C
を用いる。まず、沈殿物質30Sの沈降性As を濃度
Cの距離L方向の変化で評価し、数7で演算する。
【0036】
【数7】
【0037】信号がディジタル値の場合には数8(ただ
しi<j)となる。
【0038】
【数8】
【0039】前述のように、As が大であれば沈降性
は良好で、逆に小であれば沈降性は悪い。このように、
■■■に加えて■■を付加することで浮遊粒子の粒径や
沈殿途中の物質の沈降性など、浮遊物質の沈殿の特徴を
より的確に、しかも一つの計測システムで計測評価でき
る。
【0040】■■で説明した手法は、■■■で説明した
のと同様の手法を適用し、推論機構131と知識ベース
132を用いて沈殿状況を評価することにより、入出力
手段140に理解しやすい表現で(例えば自然言語で)
オペレータ150に表示することができる。従って、沈
殿状況について知識を持たないオペレータに対しても、
適切な表現で沈殿状況を伝えられる効果がある。このこ
とは、沈殿状況の多面的かつ総合的な把握に基づいて沈
殿プロセスを効果的に制御することを可能とする。
【0041】図5を用いて、本発明の別の実施例を説明
する。図5の実施例は、図1の実施例において、沈殿状
況評価手段130,推論機構131、及び知識ベース1
32をニューラルネット160により実施する。この実
施例では、図3の波形処理手段120から五つの信号N
,Ca,Lk,Da、及びAsを受けて、それらの値の
組合せパターンから沈殿状況を三つの指標(■キャリア
オーバ可能性,■沈降性,■濃縮性)で評価するもので
ある。そのために、信号N,Ca,Lk,Da 、及び
As に対して評価指標■■■がどのようになるかとい
う事例を複数学習させるものである。以下に具体的動作
を説明する。
【0042】ニューラルネット160は要素としてニュ
ーロン160N(○で図示)を複数もち、入力層161
,中間層162,出力層163,比較層164、及び教
師層165で構成される。学習工程では、これら五層す
べてを使用し、連想時には入力層161,中間層162
,出力層163のみを使用する。学習はラメルハートの
提案した誤差逆伝搬法(Back propagati
on 法)が利用できる。
【0043】学習方法を以下に具体例で説明する。この
実施例の各層のニューロン数は、入力層161が五つ、
中間層162が四つ、出力層163が三つである。入力
層161は、図3の波形処理手段120から特定の信号
N,Ca,Lk,Da、及びAs を受ける。特に、こ
れらの値は最小値を0、最大値を1に基準化しておく。 中間層162はこれらの信号を受けて、数9,数10の
演算を実行する。
【0044】
【数9】
【0045】
【数10】
【0046】ここで、Wpm(p=1〜4,m=1〜5
)は入力層161から中間層162への重み係数である
。 mは入力層を表し、pは中間層を表す。中間層162の
四個のニューロンからは信号Jp(p=1〜4)が出力
層163の三個の各ニューロンに送信され、数9,数1
0と同様の演算を実行する。重み係数は図5中に示す中
間層162と出力層163との間のWqp(q=1〜3
,p=1〜4)を用いる。出力層163から出力される
結果をKq(q=1〜3)とする。一方、特定の信号N
,Ca,Lk,Da、及びAsに対応する評価指標■■
■の値が教師層165の信号となる。評価指標■■■の
具体的な値は、■はキャリアオーバ可能性、■は沈降性
、■は濃縮性を各々0から1までの値に数値化したもの
である。 比較層164は信号Kq(q=1〜3)と教師層165
の信号Rq(q=1〜3)とを受けて両者の差を計算し
、この差を小さくするようにWpmとWqpの値を修正
する。
【0047】特定の信号N,Ca,Lk,Da及びAs
に対応する評価指標■■■の値の代表的組合せを複数事
例用意し、これら複数の事例に対して上述した操作を繰
り返す。用意した事例に対して誤差を所定値以下にする
修正操作を学習という。学習終了後のニューラルネット
160に、ある入力信号N,Ca,Lk,Da、及びA
sを与えると、それに対応する出力値■■■が得られる
。評価指標■■■は0から1までの数値であるので、こ
の数値を記号に変換する。変換方法は、例えば、値が0
.7〜1.0ならば大、0.3〜0.7なら普通、0〜
0.3 なら低い、とする。変換結果は入出力手段14
0を通して記号,自然言語,音声などでオペレータ15
0に報知する。■■■について以下に具体的表示例を示
す。
【0048】■:「キャリアオーバの可能性はありませ
ん。」 ■:「沈降性は良好です。」 ■:「濃縮性は良好です。」 ニューラルネットを使用する効果は、学習させなかった
未知の入力パターン(N,Ca,Lk,Da,As)に
対しても適切な出力を出すことができ、さらに、学習事
例を必要に応じて適時追加できることである。このこと
は、経年変化のある水処理プラントでは特に効果が大き
い。
【0049】なお、ニューラルネット160は沈殿状況
評価手段130だけを代替し、推論機構131と知識ベ
ース132を併用することも可能である。この場合には
、図示は省略するが前述の表示結果例に加えて、予め知
識ベース132に入力した知識も用いて推論機構131
が結論を出す。
【0050】また、図5の実施例では、入力層161に
信号N,Ca,Lk,Da,Asを入力したが、図1の
実施例の波形110を、直接、入力しても良い。この場
合には、まず、波形110を距離L方向に等間隔でm分
割し、この時に反射強度をI1,I2,I3,…,Im
 とする。この信号 (入力パターン) を入力層16
1のm個のニューロンに入力する。以下、図5の実施例
と同様にして評価指標■■■を出力する。
【0051】さらに、図6を用いて本発明の別の実施例
を説明する。図6の実施例は、図1の実施例を適用して
水処理プラントを制御する例である。
【0052】まず、水処理プラントの概要を説明する。 反応槽20では、流入汚水が流入ポンプ19により流入
すると共に、沈殿池30の底部から引き抜かれた沈殿汚
泥(浮遊微生物)が汚泥返送ポンプ21により流入する
。下水処理プラントの反応槽20は微生物反応槽(曝気
槽)であるが、浄水処理プラントでは凝集槽,動植物細
胞培養プラントでは動植物細胞培養槽である。反応槽2
0では、さらに撹拌・酸素供給手段22により汚水と浮
遊微生物が撹拌混合され、この混合液に空気(酸素含有
ガス)が大気からまたは空気供給手段(図示せず)から
供給される。反応槽20の前段には汚水分配槽,沈砂池
,沈殿池などが設置される場合もあるが、図1では図示
を省略する。汚水中の有機物は浮遊微生物によって生物
的に分解されて汚水が浄化される。沈殿池30は反応槽
20の混合液を受け、浮遊微生物が沈殿して沈殿汚泥と
なり、上澄水は放流される。ただし、一部の浮遊微生物
は沈殿せずに上澄水に混入する。沈殿汚泥は、汚泥返送
ポンプ21により反応槽20に返送されるが、一部は余
剰汚泥引き抜きポンプ23により引き抜かれて余剰汚泥
となる。余剰汚泥は汚泥処理または処分される。
【0053】次に、監視制御について説明する。沈殿池
30には超音波センサ30M1が設置される。超音波セ
ンサ30M1は、■上澄水中の浮遊物質濃度N,■沈殿
物質平均濃度Ca ,■沈殿物質と上澄水との界面Lk
 を同時に計測する。計測結果は制御装置40に入力さ
れ、必要な制御を実行する。Nが小さく、Ca が大き
く、Lk が小さければ、沈殿池の状態は正常であり、
このことはとりもなおさず反応槽20での空気供給量,
返送汚泥量,余剰汚泥量,流入流量,有機物負荷などの
操作条件が適切であることを示す。従って、この場合に
はこの条件でそのまま運転する。一方、Nが大きく、C
a が小さく、Lk が小さければ、沈殿池の状態は異
常である。この状態では浮遊物質の沈降性は悪く、この
ため浮遊物質が上澄水中に浮遊する。また、沈殿物質の
濃縮率も低い。このような状態は、例えば、汚泥がバル
キング状態になった時に発生する。この原因例としては
、溶存酸素濃度が低すぎるか、有機物負荷が高すぎるか
または低すぎる場合がある。この場合の操作としては、
撹拌・酸素供給手段22を操作して溶存酸素濃度を高く
するか、または流入ポンプ19を操作して有機物負荷を
適切にするか、両者を操作するかなどである。
【0054】■上澄水中の浮遊物質濃度N,■沈殿物質
平均濃度Ca ,■沈殿物質と上澄水との界面Lk の
値の組合せは種々あり、この状況に応じて制御方策が異
なるので、推論機構131と知識ベース132を用いて
制御方策を自動的に選定するか、または、入出力手段1
40に現況を表示してオペレータ150がマニュアルで
制御方策を決定するのを助ける。オペレータ150は、
入出力手段140に表示された制御方策を選択し、制御
指令を出し、撹拌・酸素供給手段22や流入ポンプ19
などを操作する。
【0055】図6の実施例は、■N,■Ca,■Lkに
応じて制御する方法を説明したが、この他に、■上澄水
中の浮遊物質の平均粒径Da , ■流入浮遊物質の沈
降性As を加えて、計測情報数を増やせばさらに精度
良く沈殿状況を把握することができるので、制御方策も
より適切に実行することができる。
【0056】図6の本実施例は、沈殿池での沈殿状況を
総合的に把握して、その原因となった前段の反応槽20
の運転状況を類推し、対策を施すものである。従って、
沈殿池からの汚泥のキャリアオーバや処理水質の悪化な
どを超音波センサ30M1によりキャッチし、これらを
未然に防ぐことができる。
【0057】なお、図6の本実施例では、一般に反応槽
としてオキシデーションディッチ法、あるいは、長時間
曝気法を想定して説明したが、この反応槽20の反応方
式は長時間曝気法、または、オキシデーションディッチ
法、または、回転円板法、または、活性汚泥法、または
、硝化法、または、脱窒法、または、脱リン法、または
、好気性消化法、または、嫌気性消化法、または、浄水
処理における凝集反応法など、沈殿池が後続に配置され
る水処理プラント全般に適用できる。従って、本発明は
、下水処理プラント,浄水処理プラント,産業排水処理
プラントなどの水処理プラント、並びに、微生物培養プ
ラント,動植物細胞培養プラント,発酵プラントなどの
バイオプラント等における懸濁物沈殿状況の計測装置,
評価装置,プラント全体の監視制御装置、並びにプラン
ト群の監視制御装置に適用できる。
【0058】図7の実施例は、複数の水処理プラントの
沈殿池の状況を通信手段により把握し、各水処理プラン
トに適切な制御指令を発する例である。水処理プラント
200P1,200P2,200P3をもち、これらの
水処理プラントの各沈殿池について、状況■上澄水中の
浮遊物質濃度,■沈殿物質の平均濃度,■沈殿物と上澄
水との境界,■上澄水中の浮遊物質の平均粒径,■流入
浮遊物質の沈降性を計測する。この計測結果が電話回線
T1,T2,T3などの通信手段により集中監視制御手
段300に伝送される。集中監視制御手段300の中で
推論機構131は伝送結果を受け、かつ、知識ベース1
32の知識に基づいて各水処理プラントの沈殿状況を評
価する。評価結果は入出力手段140を通してオペレー
タ150に伝えられる。
【0059】オペレータ150は入出力手段140を通
して制御指令を入力し、各水処理プラントの流入水量,
流入負荷,溶存酸素濃度,有機物負荷,汚泥濃度,返送
汚泥濃度,汚泥日例,余剰汚泥引き抜き量など、操作因
子を制御する。勿論、オペレータ150の介在なしに自
動制御することも効果的である。一方、制御手段が設置
されていない水処理プラント群の場合には、オペレータ
150に水処理プラント200P1,200P2,20
0P3を巡回するよう指示する。
【0060】図7の実施例は、水処理でトラブルになり
やすい沈殿池のキャリアオーバ現象を、プラントの規模
にかかわらず水処理プラント群について適切に監視,制
御,巡回指示を行うことができる。特に、キャリアオー
バ現象以外のトラブルは発生しても大事に到らず、結果
的にはキャリアオーバ現象となって表れるため、沈殿状
況の監視は極めて重要である。このため、沈殿状況の監
視に注力することで管理労力を低減することが可能で、
少ない人員で複数の水処理プラントを管理することがで
きる。
【0061】
【発明の効果】本発明は、一つの超音波センサ30M1
により沈殿池での浮遊物質の沈殿状況を、■上澄水中を
浮遊する物質濃度,■沈殿物質の濃度分布(平均濃度)
,■沈殿物と上澄水との境界、さらには■上澄水中の浮
遊物質の平均粒径,■流入浮遊物質の沈降性を計測でき
る。従って、沈殿池30での浮遊物質の濃度や平均粒径
,沈殿後あるいは沈殿途中の浮遊物質の濃度や沈降性,
沈殿物質と上澄水との境界など、沈殿状況の全容を多面
的、かつ、総合的に把握出来るので沈殿池30をより効
率よく管理できる。
【0062】また、沈殿状況の評価に知識処理手法を適
用することで、沈殿池の流量や負荷などの運転条件、あ
るいは、前段の処理プロセスの運転状態を考慮して、少
ない人員で沈殿池の状態を適切に評価でき、かつ、沈殿
についての知識を持たない非熟練オペレータに対しても
沈殿池の運転状況を報知させて制御できる。
【0063】ニューラルネットを使用する効果は、学習
させなかった未知の状況をも適切に状況判断することが
でき、また、学習事例を必要に応じて適時追加できるの
で、状況変化に追随して、常時、適切な制御が可能にな
る。
【0064】複数の水処理プラント群の場合には、少な
い人員で管理できる。最後に、沈殿池での沈殿状況を一
つの計測システムにより総合的に把握して、前段の処理
槽の処理状況の類推や、沈殿池からの汚泥のキャリアオ
ーバや処理水質の悪化などをキャッチすることにより、
対策や制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の説明図。
【図2】本発明の実施例の詳細の説明図。
【図3】本発明の実施例の詳細の説明図。
【図4】本発明の実施例の詳細の説明図。
【図5】本発明の別の実施例の説明図。
【図6】本発明の別の実施例の説明図。
【図7】本発明の別の実施例の説明図。
【符号の説明】
19…流入ポンプ、20…反応槽、21…汚泥返送ポン
プ、22…撹拌・酸素供給手段、30…沈殿池、30L
…上澄水、30M1…超音波センサ、30P…浮遊物質
、30S…沈殿物質、100…超音波送受信装置、11
0…波形、120…波形処理手段、130…沈殿状況評
価手段、131…推論機構、132…知識ベース、14
0…入出力手段、150…オペレータ。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】沈殿池の水面から垂直下方に超音波を発信
    及び受信する超音波送受信手段と、前記超音波送受信手
    段で得られる反射受信波を処理する波形処理手段とを含
    み、前記波形処理手段で反射受信波の強度変化に基づい
    て水面下に浮遊する物質量、及び/または、沈殿物の濃
    度分布を計測することを特徴とする沈殿状況計測システ
    ム。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記波形処理手段は水
    面下に浮遊する物質と沈殿物の濃度分布との少なくとも
    一方と、沈殿物と上澄水との境界とを計測することを特
    徴とする沈殿状況計測システム。
  3. 【請求項3】請求項1または請求項2において、前記計
    測結果を受けて前記浮遊物質の沈殿状況の評価結果を出
    力する沈殿状況評価手段を設けた、沈殿状況計測システ
    ム。
  4. 【請求項4】請求項3において、前記沈殿状況評価手段
    は、記号で表現された経験的知識と、前記経験的知識に
    基づいて推論する推論機構とを用いる沈殿状況計測シス
    テム。
  5. 【請求項5】請求項3において、前記沈殿状況評価手段
    は、多層型ニューラルネットを用いる沈殿状況計測シス
    テム。
  6. 【請求項6】請求項5において、前記多層型ニューラル
    ネットは入力層と、少なくとも一つの中間層と、出力層
    と含み、前記入力層には前記計測結果を入力し、前記出
    力層には沈殿状況の評価結果を出力させる沈殿状況計測
    システム。
  7. 【請求項7】請求項1または2において、前記沈殿状況
    計測システムを前記沈殿池に配置し、前記波形処理手段
    の計測結果または前記沈殿状況評価手段の評価結果に基
    づいて反応槽の操作因子を制御する水処理プラント制御
    装置。
  8. 【請求項8】請求項7において、前記反応槽の反応方式
    は長時間曝気法,オキシデーションディッチ法,回転円
    板法,活性汚泥法,硝化法,脱窒法,脱リン法,好気性
    消化法,嫌気性消化法、または、凝集反応法である水処
    理プラント制御装置。
  9. 【請求項9】請求項7において、前記操作因子は、流入
    水量,流入基質負荷,溶存酸素濃度,汚泥濃度,返送汚
    泥濃度,汚泥日令、および、余剰汚泥引き抜き量の中か
    ら選ばれた一つまたは複数である水処理プロセス制御装
    置。
  10. 【請求項10】請求項9において、複数の水処理プラン
    トに前記沈殿状況計測システムを設置し、前記沈殿状況
    計測システムの出力情報を通信回線で集約し、前記各水
    処理プラントの運転状況を監視及び制御する集中監視制
    御手段を設け、前記集中監視制御手段は監視結果に基づ
    き、前記通信回線を通して制御指令を伝送する水処理プ
    ラント制御装置。
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