JPH04254359A - 樹脂封止型半導体装置および半導体装置の実装構造 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置および半導体装置の実装構造

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JPH04254359A
JPH04254359A JP3015503A JP1550391A JPH04254359A JP H04254359 A JPH04254359 A JP H04254359A JP 3015503 A JP3015503 A JP 3015503A JP 1550391 A JP1550391 A JP 1550391A JP H04254359 A JPH04254359 A JP H04254359A
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JP
Japan
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semiconductor device
resin
semiconductor chip
heat sink
heat
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JP3015503A
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Tsutomu Nakazawa
仲 澤   勉
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
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    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止型半導体装置お
よび半導体装置の実装構造に関する。
【0002】
【従来の技術】まず図19に従来の樹脂封止型半導体装
置を示す。図19において、半導体装置はリードフレー
ム2のベッド5に半導体チップ1をマウントし、半導体
チップ1とリードフレーム2のインナーリード2aとを
ボンディングワイヤ6により接続し、半導体チップ1お
よびその周囲をモールド樹脂3によって樹脂封止して構
成されている。またリードフレーム2のアウタリード2
bはモールド樹脂3から外方に突出している。
【0003】さらに、熱伝導率の悪いモールド樹脂3中
に金属製の放熱体4が配設され、この放熱体4により半
導体チップ1で発生した熱をモールド樹脂3を介して周
囲環境(外方)に放熱するようになっている。
【0004】図20により他の従来の樹脂封止型半導体
装置について説明する。
【0005】図20に示す半導体装置において、金属製
の放熱体4がリードフレーム2の半導体チップ1と反対
側のベッド5の面に直接取付けられている。半導体チッ
プ1で発生した熱は、熱伝導率の良好な金属製ベッド5
および放熱体4を通って放熱されるようになっている。
【0006】図21により更に他の従来例について説明
する。図21における半導体装置は、半導体チップ1に
金属製の放熱体4が直接取付けられている。半導体チッ
プ1で発生した熱は、直接的に放熱体4から外方に放熱
される。
【0007】図22により更なる他の従来例について説
明する。図22において、リードフレーム2のベッド5
に直接放熱体4が取付けられており、この放熱体4はそ
の一部がモールド樹脂3から外方に突出している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図19に示す半導体装
置において、半導体チップ1で発生した熱は、熱伝導率
の悪いモールド樹脂3を介して放熱体4に伝えられるた
め、放熱特性はあまり良好ではない。
【0009】図20および図21に示す半導体装置にお
いて、半導体チップ1で発生した熱は、モールド樹脂3
を経ることなくベッド5および放熱体4に伝えられる。 しかしながら、放熱体4自体は、熱伝導率の悪いモール
ド樹脂3中に埋込まれているため、放熱体4からモール
ド樹脂3を介して外方に熱が伝えられることになり、や
はり放熱特性に限界がある。
【0010】また図22に示す半導体装置において、放
熱体4がモールド樹脂3の外側に露出しているために、
半導体チップ1で発生した熱の伝達経路としては半導体
チップ→リードフレーム2のベッド5→放熱体4→外方
(周囲環境)という経路が考えられる。このためモール
ド樹脂の熱伝導率には関係なくなり、モールド樹脂3の
周囲環境を変える(強制空冷や、水冷として温度を下げ
る)ことにより、放熱特性は良く改善される。この場合
、放熱特性の改善に最も関係しているのは、周囲環境の
他に、熱伝達の良い放熱体4のどれだけの面積が周囲環
境と接しているかということであり、図22の場合、放
熱体4は、モールド樹脂3から露出後、凹凸(溝や出っ
張り)を付けたりして、表面積をできるだけ大きくして
いる。しかし、露出する放熱体4の表面積を大きくすれ
ばするほど、放熱特性は良くなるが、半導体装置全体が
大きくなっていってしまう。
【0011】半導体装置全体の形状を変化させることな
く放熱特性を改善するため、図23に示すセラミック封
止型の半導体装置が考えられている。
【0012】すなわち、図23に示す半導体装置は、半
導体チップ1とリードフレーム2のインナーリード2a
とをボンディングワイヤ6により接続し、半導体チップ
1およびボンディングワイヤ6をセラミック材7で封止
したものである。セラミック材7は熱伝導率が良好であ
るが、値段が高くなるという問題がある。
【0013】本発明はこのような点を考慮してなされた
ものであり、安価で放熱特性の良好な樹脂封止型半導体
装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体チップ
と、この半導体チップを樹脂封止するモールド樹脂と、
このモールド樹脂の外方に突出するとともに、前記半導
体チップに接続されたリードフレームのアウタリードと
を備え、前記モールド樹脂内に前記半導体チップに連結
された放熱体を設け、この放熱体は内部空間を有する中
空状となっており、この内部空間は外方と連通自在とな
っていることを特徴とする樹脂封止型半導体装置、およ
び上記の樹脂封止型半導体装置を基板に取付け、前記半
導体装置の放熱体の内部空間内に冷却用液体が流入する
液体管路を挿着したことを特徴とする半導体装置の実装
構造、および上記の樹脂封止型半導体装置を基板に取付
け、前記半導体装置を冷却用液体内に浸してなる半導体
装置の実装構造である。
【0015】
【作用】半導体チップで発生した熱は、半導体チップに
連結された放熱体に伝達され、さらに放熱体の内部空間
から外方に放熱される。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。
【0017】図1(A)乃至(D)は本発明による樹脂
封止型半導体装置の第1の実施例を示す図である。ここ
で図1(A)は平面図、図1(B)は図1(A)のB線
方向矢視図、図1(C)は図1(A)のC−C線断面図
、図1(D)は図1(A)のD−D線断面図である。
【0018】図1(A)乃至(D)において、半導体装
置30はリードフレーム2のベッド5の下面に半導体チ
ップ1をマウントし、半導体チップ1とリードフレーム
2のインナーリード2aとをボンディングワイヤ6によ
り接続し、半導体チップ1およびその周囲をモールド樹
脂3によって樹脂封止して構成されている。またリード
フレーム2のアウタリード2bはモールド樹脂3から外
方に突出し、下方に折曲げられている。
【0019】さらに熱伝導率の悪いモールド樹脂3中に
、金属製の放熱体4が配設されている。この放熱体4は
ベッド5の半導体チップ1と反対側の面(上面)に、熱
伝導率の良好な接着剤により接着されている。放熱体4
は内部空間4aを有するだ円形の筒状となっており、内
部空間4aの両端はモールド樹脂3の上部側から周囲環
境(外方)に開口している。
【0020】次に本実施例による樹脂封止型半導体装置
30の製造方法について説明する。
【0021】まず、リードフレーム2のベッド5の下面
に半導体チップ1をマウントし、半導体チップ1とリー
ドフレーム2のインナーリード2aとをボンディングワ
イヤ6により接続する。
【0022】次に、ベッド5のうち半導体チップ1と反
対側の面(上面)に、内部空間4aを有する金属製の放
熱体4を熱伝導率の良好な接着剤により接着する。
【0023】次に、リードフレーム2、半導体チップ1
、および放熱体4をモールド金型内に収納し、このモー
ルド金型内のモールド樹脂3を注入してトランスファモ
ールド成型を行なう。次にモールド樹脂3の樹脂バリを
除去し、リードフレーム2のアウタリード2bをフォー
ミングにより下方へ折曲げる。
【0024】本実施例によれば、半導体チップ1に金属
製ベッド5を介して金属製の円筒状の放熱体4が連結さ
れ、放熱体4の内部空間4aはその両端が外方に開口し
ているので、内部空間4a内に外気を通すことにより、
半導体チップ1で発生した熱をベッド5から放熱体4を
介して迅速に外方に放熱することができる。また、アウ
タリード2bは下方に折曲げられているのに対し、放熱
体4の内部空間4aの両端はモールド樹脂3の上部側か
ら外方に開口しているので、アウタリード2bが内部空
間4a内の通気作用を妨げることはない。
【0025】次に図2(A)乃至(D)により、本発明
による樹脂封止型半導体装置30の第2の実施例につい
て説明する。ここで図2(A)は平面図、図2(B)は
図2(A)のB線方向矢視図、図2(C)は図2(A)
のC−C線断面図、図2(D)は図2(A)のD−D線
断面図である。
【0026】第2の実施例は放熱体の形状が異なるのみ
であり、他は半導体装置の第1の実施例と同様となって
いる。すなわち放熱体4は四角筒状となっており、角部
11はモールド樹脂3側からの応力が集中しないようR
が形成されている。放熱体4の材料として、リードフレ
ーム2と同様の銅合金が用いられており、このためリー
ドフレーム2のベッド5と放熱体4との間の接着が良好
となっている。
【0027】次に図3(A)乃至(D)により、本発明
による樹脂封止型半導体装置30の第3の実施例につい
て説明する。ここで図3(A)は平面図、図3(B)は
図3(A)のB線方向矢視図、図3(C)は図3(A)
のC−C線断面図、図3(D)は図3(A)のD−D線
断面図である。
【0028】第3の実施例は放熱体4の形状が異なるの
みであり、他は半導体装置の第2の実施例と同様である
【0029】すなわち、放熱体4は内部空間4aを有す
る四角筒状となっており、内部空間4aの両端は外方に
開口している。また放熱体4の上面12は外方に露出し
ている。
【0030】半導体装置を製造するために用いる上型1
5aと下型15bとからなるモールド金型15は、上型
15aの凹部16内面が放熱体4の上面12に当接する
ようになっている。
【0031】本実施例によれば、放熱体4の内部空間4
a内に外気を通気させ、かつ放熱体4の上面を外方に露
出させたので、放熱特性をより向上させることができる
【0032】次に図4および図5により本発明による樹
脂封止型半導体装置30の第4の実施例について説明す
る。
【0033】図4において、半導体装置30は半導体チ
ップ1にバンプ17を介してTABテープ18のインナ
ーワイヤ18aを接続し、TABテープ18のミドルワ
イヤ18bにリードフレーム2のインナーリード2aを
接続し、半導体チップ1およびTABテープ18をモー
ルド樹脂3により樹脂封止して構成されている。またリ
ードフレーム2のアウタリード2bは、モールド樹脂3
から外方に突出するとともに下方に折曲げられている。 さらに半導体チップ1には、内部空間4aを有するだ円
形の筒状放熱体4が直接的に連結されており、内部空間
4aの両端はモールド樹脂3から外方に開口している。
【0034】次に本実施例による半導体装置30の製造
方法について図5A乃至図5Cにより説明する。ここで
図5(A)はフロー図、図5(B)は半導体装置製造に
用いられるTABテープを示す図、図5(C)は半導体
装置製造に用いられるリードフレームを示す図である。
【0035】図5(A)に示すように、まずポリイミド
性の基材を準備し、この基材をパンチングした後、銅箔
をラミネートする。次に銅箔に対してフォトパタン作業
、エッチング作業およびめっき作業を順次施して、図5
(B)に示すようなTABテープ18を製造する。
【0036】他方、図5(A)に示すように、通常ウェ
ハを準備し、このウェハに対してバンプ形成作業、プロ
ービング作業、およびダイシング作業を順次施してバン
プ17を有する半導体チップ1を製造する。
【0037】またこれらと平行して図5(A)に示すよ
うに金属製素材を準備し、この素材に対してフォトパタ
ン作業、エッチング作業、およびめっき作業を順次施し
て、図5(C)に示すようなリードフレーム2を製造す
る。
【0038】次に半導体チップ1とTABテープ18の
インナーワイヤ18aとをバンプ17を介して接続する
(ILB)。その後、TABテープ18のミドルワイヤ
18bの外方部分および不要のテープ部分を切断し、ミ
ドルワイヤ18bを外方に露出させる。
【0039】次にTABテープ18のミドルワイヤ18
bと、リードフレーム2のインナーリード2aとを接続
させる(MLB)。続いて、半導体チップ1のバンプ1
7と反対側の面に、接着剤により放熱体4を接着する。 この接着剤としては、高熱伝導率を有しかつ熱膨張率が
Si製の半導体チップ1と放熱体4との中間程度のもの
を用いる。その後、半導体チップ1およびTABテープ
18とその周囲をモールド樹脂3により樹脂封止する。
【0040】その後、外装処理作業およびアウタリード
2bのフォーム作業が順次施され、このようにして図4
に示す半導体装置が製造される。この半導体装置に対し
て、その後検査作業が行なわれる。
【0041】次に図6乃至図9により本発明による樹脂
封止型半導体装置30の第5の実施例について説明する
【0042】図6において、半導体装置30はリードフ
レーム2のベッド5に半導体チップ1をマウントし、半
導体チップ1とリードフレーム2のインナーリード2a
とをボンディングワイヤ6によって接続し、半導体チッ
プ1およびその周囲をモールド樹脂3によって樹脂封止
して構成されている。また半導体チップ1のベッド5と
反対側の面に、接着剤を介して放熱体4が取付けられて
おり、放熱体4はモールド樹脂3内に配置されている。 この場合、接着剤としては熱伝導率が良好でかつ導電性
でないものが用いられる。またリードフレーム2のアウ
タリード2bはモールド樹脂3から外方に突出するとと
もに、下方に向って折曲げられている。
【0043】図6に示す第5の実施例の半導体装置30
の放熱体4について図7(A)乃至図7(D)により詳
述する。ここで図7(A)は側面図、図7(B)は図7
(A)のB線方向矢視図、図7(C)は図7(A)のC
線方向矢視図、図7(D)は図7(A)のD線方向矢視
図である。放熱体4は内部空間4aを有するだ円形の筒
状放熱部20と、この放熱部20の下方に連結された当
接部21とからなり、内部空間4aは両端に2つの開口
22a,22bを有している。また当接部21は接着剤
によって半導体チップ1に取付けられている。放熱体4
は銅合金製となっているが、これに限らず熱伝導率が良
好なアルミ製、鉄製、セラミック製であってもよい。
【0044】放熱体4は、図7に示すようなだ円形の筒
状放熱部を有するものに限らず、例えば、図8に示すよ
うな平面十字形の中空状放熱部20を有するものでもよ
い。ここで図8(A)は側面図、図8(B)は図8(A
)のB線方向矢視図、図8(C)は図8(A)のC線方
向矢視図である。図8に示す放熱体4の放熱部20は、
内部に十字形の内部空間4aが形成されている。また内
部空間4aは4つの開口22a,22b,22c,22
dを有している。
【0045】あるいはまた、図9に示すように放熱体4
として、平面十字形の中空状放熱部20の上面(当接部
21と反対側の面)に開口22eを設けたものを用いて
もよい。ここで図9(A)は側面図、図9(B)は図9
(A)のB線方向矢視図、図9(C)は図9(A)のC
線方向矢視図である。この場合、放熱部20の内部に形
成された内部空間4aは5つの開口22a,22b,2
2c,22d、および22eを有する。
【0046】次に図10により、本発明による樹脂封止
型半導体装置30の第6の実施例について説明する。こ
こで図10(A)は平面図、図10(B)は図10(A
)のB線方向矢視図、図10(C)は図10(A)のC
−C線断面図、図10Dは図10(A)のD−D線断面
図である。
【0047】第6の実施例は、放熱体4の構成が異なる
のみであり、他は半導体装置の第1の実施例と同様であ
る。
【0048】図10(A)乃至(D)において、放熱体
4は四角筒状となっており、平面形状が蛇行する形状と
なっている。また放熱体4の上面12は外方に露出して
いる。
【0049】本実施例によれば、放熱体4の内部空間4
a内で外気を蛇行させながら通気することができ、放熱
特性の向上を図ることができる。
【0050】次に図11により本発明による樹脂封止型
半導体装置30の第7の実施例について説明する。
【0051】第7の実施例は、放熱体4の内部空間4a
内に熱伝導率の良好なアルミニウム製の放熱フィン24
を挿着したものであり、他は半導体装置の第1の実施例
と同様となっている。
【0052】図11において、放熱フィン24は内部空
間4a内に挿入される円柱状の挿入部24aと、挿入部
24aの一端に固着されたフィン部24bとからなり、
挿入部24aは内部空間4a内面に接着剤により接着さ
れている。
【0053】本実施例によれば、半導体チップ1で発生
した熱を、リードフレーム2のベッド5および放熱体4
を介して放熱フィン24の挿入部24aに伝達するとと
もに、この放熱フィン24のフィン部24bから外方へ
適切に放熱することができる。  次に図12により本
発明による樹脂封止型半導体装置30の第8の実施例に
ついて説明する。
【0054】第8の実施例は、放熱体および放熱フィン
の構成が異なるのみであり、他は図11に示す半導体装
置の第7の実施例と同様である。
【0055】図12に示すように、放熱体4は平面十字
状となっており、内部空間4aは、その4つの端部およ
び上部に5つの開口22a,22b,22c,22d,
22eが形成されている(図9参照)。このうち上部の
開口22eを介して内部空間4a内に、放熱フィン26
が挿着されている。放熱フィン26はアルミニウム製と
なっており、内部空間4a内に挿入される円柱状の挿入
部26aと、挿入部26a上部に固着されたフィン部2
6bとからなっている。半導体チップ1で発生した熱は
、リードフレーム2のベッド5、放熱体4、および放熱
フィン26の挿入部26aを経て、放熱フィン26のフ
ィン部26bから外方に放熱されるようになっている。
【0056】次に図13(A)および(B)による半導
体装置の実装構造の第1の実施例について説明する。こ
こで図13(A)は平面図、図13(B)は図13(A
)のB−B線断面図である。
【0057】図13(A)および(B)において、基板
32上に図1(A)乃至(D)により説明した樹脂封止
型半導体装置30が複数、例えば6個載置されている。
【0058】これらの半導体装置30は3個ずつ、放熱
体4の内部空間4aが一直線上に並ぶように配置され、
また各半導体装置30の放熱体4の内部空間4a内を貫
通して液体管路31が配設されている。液体管路31は
平面U字形となっており、その両端は冷却用液体循環装
置33に接続されている。液体管路31と放熱体4の内
部空間4aの内面との間には、熱伝導率が高い詰め物材
料が充填され、冷却用液体循環装置33により液体管路
31内で冷却用液体が循環するようになっている。そし
て各半導体装置30の半導体チップ1から発生した熱は
、放熱体4から液体管路31内の冷却用液体によって確
実に放熱されるようになっている。
【0059】なお、半導体装置30を交換する際は、冷
却用液体循環装置33から液体管路31を取外し、更に
交換すべき半導体装置30を液体管路31から抜き出し
て交換する。
【0060】次に図14(A)および(B)により、本
発明による半導体装置の実装構造の第2の実施例につい
て説明する。ここで図14(A)は平面図、図14(B
)は図14(A)のB−B線断面図である。
【0061】図14(A)および(B)において、基板
32上に図1(A)乃至(D)に示した半導体装置30
が、複数、例えば6個載置されている。基板32の周縁
には囲板35が配設され、囲板35内には6個の半導体
30を覆う冷却用液体36が収納されている。冷却用液
体36としては、例えばフロリナートを用いることがで
きる。
【0062】次に図15により、本発明による半導体装
置の実装構造の第3の実施例について説明する。
【0063】図15において、図1(A)乃至(D)に
より説明した半導体装置30が、複数、例えば6個基板
32の下面に取付けられている。また収納容器37内に
冷却用液体36が収納され、基板32に取付けられた半
導体装置30はこの冷却用液体36内に浸されている。 半導体装置30は冷却用液体36が放熱体4の内部空間
4a全域を浸す程度の位置に適当な保持手段(図示せず
)により保持されている。
【0064】なお、上記各実施例において、例えば図1
において、放熱体4の内部空間4aの形状をだ円形の円
筒状とし、内部に何も設けていない例を示したが、図1
6に示すようにこのだ円形の円筒状内部空間4a内に、
一対の平行するガイド板40を設けてもよい。この場合
は、内部空間4a内を通る外気をこの一対のガイド板4
0によって案内することができる。
【0065】また、図17に示すように、だ円形の円筒
状内部空間4a内にガイド板41をらせん状に設けても
よい。この場合は、内部空間4a内を通る外気に、ガイ
ド板41によって乱流を生じさせることができる。
【0066】さらにまた、図18に示すようにだ円形の
円筒状内部空間4aの内面に、軸線方向に延びる複数の
突起部42を設けても良い。
【0067】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体チップで発生した熱を、放熱体の内部空間から外
方に確実に放出することができる。このため、半導体装
置の動作の安定性を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による樹脂封止型半導体装置の第1の実
施例を示す図。
【図2】本発明による樹脂封止型半導体装置の第2の実
施例を示す図。
【図3】本発明による樹脂封止型半導体装置の第3の実
施例を示す図。
【図4】本発明による樹脂封止型半導体装置の第4の実
施例を示す側断面図。
【図5】樹脂封止型半導体装置の第4の実施例の製造方
法を示す図。
【図6】本発明による樹脂封止型半導体装置の第5の実
施例を示す側断面図。
【図7】樹脂封止型半導体装置の第5の実施例において
用いられる放熱体の図。
【図8】樹脂封止型半導体装置の第5の実施例において
用いられる他の放熱体の図。
【図9】樹脂封止型半導体装置の第5の実施例において
用いられる他の放熱体の図。
【図10】本発明による樹脂封止型半導体装置の第6の
実施例を示す図。
【図11】本発明による樹脂封止型半導体装置の第7の
実施例を示す側断面図。
【図12】本発明による樹脂封止型半導体装置の第8の
実施例を示す側断面図。
【図13】本発明による半導体装置の実装構造の第1の
実施例を示す図。
【図14】本発明による半導体装置の実装構造の第2の
実施例を示す図。
【図15】本発明による半導体装置の実装構造の第3の
実施例を示す側断面図。
【図16】放熱体の内部空間の内部にガイド板を設けた
状態を示す斜視図。
【図17】放熱体の内部空間にガイド板を設けた状態を
示す斜視図。
【図18】放熱体の内部空間に突起部を設けた状態を示
す側面図。
【図19】従来の樹脂封止型半導体装置を示す側断面図
【図20】従来の樹脂封止型半導体装置を示す側断面図
【図21】従来の樹脂封止型半導体装置を示す側断面図
【図22】従来の樹脂封止型半導体装置を示す側断面図
【図23】従来のセラミック封止型半導体装置を示す側
断面図。
【符号の説明】
1  半導体チップ 2  リードフレーム 2a  インナーリード 2b  アウタリード 3  モールド樹脂 4  放熱体 4a  内部空間 5  ベッド 6  ボンディングワイヤ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体チップと、この半導体チップを樹脂
    封止するモールド樹脂と、このモールド樹脂の外方に突
    出するとともに、前記半導体チップに接続されたリード
    フレームのアウタリードとを備え、前記モールド樹脂内
    に前記半導体チップに連結された放熱体を設け、この放
    熱体は内部空間を有する中空状となっており、この内部
    空間は外方と連通自在となっていることを特徴とする樹
    脂封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の樹脂封止型半導体装置を基
    板に取付け、前記半導体装置の放熱体の内部空間内に冷
    却用媒体が流入する管路を挿着したことを特徴とする半
    導体装置の実装構造。
  3. 【請求項3】請求項1記載の樹脂封止型半導体装置を基
    板に取付け、前記半導体装置を冷却用媒体内に浸してな
    る半導体装置の実装構造。
JP3015503A 1991-02-06 1991-02-06 樹脂封止型半導体装置および半導体装置の実装構造 Pending JPH04254359A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012015240A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Denso Corp 半導体装置及びその製造方法
WO2024004026A1 (ja) * 2022-06-28 2024-01-04 三菱電機株式会社 半導体装置及び電力変換装置

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