JPH04253230A - Electronic equipment diagnostic device - Google Patents
Electronic equipment diagnostic deviceInfo
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- JPH04253230A JPH04253230A JP3009271A JP927191A JPH04253230A JP H04253230 A JPH04253230 A JP H04253230A JP 3009271 A JP3009271 A JP 3009271A JP 927191 A JP927191 A JP 927191A JP H04253230 A JPH04253230 A JP H04253230A
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Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【０００１】0001
【産業上の利用分野】本発明は、特にコンピュータのハ
ードウエハの動作テストを行なうための電子機器診断装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic equipment diagnostic apparatus particularly for testing the operation of computer hardware.
【０００２】0002
【従来の技術】従来、例えばコンピュータのハードウエ
ハの動作テストは、テストアイテム毎に用意された診断
処理プログラムにより実行される。オペレータがディス
プレイ装置の画面に表示されたメニューからテストアイ
テムを選択指定すると、コンピュータの中央処理ユニッ
ト（ＣＰＵ）は指定されたアイテムに対応する診断処理
プログラムを実行する。2. Description of the Related Art Conventionally, for example, an operational test of computer hardware is performed using a diagnostic processing program prepared for each test item. When the operator selects and specifies a test item from a menu displayed on the screen of the display device, the central processing unit (CPU) of the computer executes a diagnostic processing program corresponding to the specified item.
【０００３】このようなメニュー方式により、テストア
イテムに該当する例えばハードウエハの診断処理（動作
テスト）がなされる。動作テストが終了すると、ディス
プレイ装置の画面は初期のメニュー表示に復帰する。オ
ペレータが別のテストアイテムをメニューから選択指定
すると、この別のテストアイテムに対応する診断処理プ
ログラムが実行されることになる。[0003] Using such a menu system, diagnostic processing (operation test) of, for example, a hardware corresponding to a test item is performed. When the operation test is completed, the screen of the display device returns to the initial menu display. When the operator selects and specifies another test item from the menu, a diagnostic processing program corresponding to this other test item is executed.
【０００４】また、予め自動テスト用プログラムが用意
されており、固定したテストアイテムに対応する診断処
理を自動的に行なう固定自動方式もある。この固定自動
方式では、テストアイテムの変更は容易でないが、所定
のテストアイテムに対応する診断処理を繰り返し、かつ
自動的に実行できるため、テスト処理の効率を高めるこ
とができる。There is also a fixed automatic method in which an automatic test program is prepared in advance and diagnostic processing corresponding to fixed test items is automatically performed. Although it is not easy to change test items in this fixed automatic method, the diagnostic process corresponding to a predetermined test item can be repeated and automatically executed, thereby increasing the efficiency of the test process.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】従来のメニュー方式で
は、テストアイテム毎にオペレータが選択指定する必要
があるため、複数のテストアイテムに対応するテスト処
理を連続的に行なう場合には処理効率が低下する。また
、固定自動方式では、テストアイテムを変更してテスト
処理の内容を変更するには多大な処理時間を要するため
、実際上、変更を要する診断処理には対応できない。[Problem to be Solved by the Invention] In the conventional menu method, the operator must select and specify each test item, so processing efficiency decreases when test processing corresponding to multiple test items is performed continuously. do. In addition, the fixed automatic method requires a large amount of processing time to change the test items and the contents of the test process, so it cannot actually handle diagnostic processes that require changes.
【０００６】本発明の目的は、複数のテストアイテムに
対応するテスト処理を実行する場合に、テストアイテム
の変更が容易でかつテスト処理の効率を向上することが
できる電子機器診断装置を提供することにある。[0006] An object of the present invention is to provide an electronic device diagnostic device that allows easy change of test items and improves the efficiency of test processing when executing test processing corresponding to a plurality of test items. It is in.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明は、所定の電子機
器の動作テストを行なうためのテストアイテムを編集す
るテストアイテム編集手段、このテストアイテム編集手
段により編集されたテストアイテムからなるパラメータ
ファイルを記憶するパラメータファイル記憶手段および
パラメータファイル記憶手段から前記パラメータファイ
ルを読出し、各テストアイテムに対応する診断処理を実
行するテスト実行手段とを備えた電子機器診断装置であ
る。[Means for Solving the Problems] The present invention provides a test item editing means for editing test items for performing an operation test of a predetermined electronic device, and a parameter file consisting of the test items edited by the test item editing means. The electronic equipment diagnostic apparatus includes a parameter file storage means for storing a parameter file, and a test execution means for reading the parameter file from the parameter file storage means and executing a diagnostic process corresponding to each test item.
【０００８】[0008]
【作用】本発明では、例えば入出力装置からの指示に応
じて、テストアイテム編集手段によりテストアイテムの
変更，削除，追加の編集処理が実行されて、例えば磁気
ディスク装置からなるパラメータファイル記憶手段に格
納される。テスト処理実行時に、テスト実行手段は複数
のテストアイテムからなるパラメータファイルをパラメ
ータファイル記憶手段から読出す。テスト実行手段は、
各テストアイテム毎に所定の電子機器に対する診断処理
（動作テスト）を実行する。[Operation] In the present invention, the test item editing means executes the editing process of changing, deleting, and adding test items in response to instructions from, for example, an input/output device, and the test items are stored in the parameter file storage means made of, for example, a magnetic disk device. Stored. When executing a test process, the test execution means reads a parameter file consisting of a plurality of test items from the parameter file storage means. The test execution method is
A diagnostic process (operation test) for a predetermined electronic device is executed for each test item.
【０００９】[0009]
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【００１０】図１は同実施例に係わるコンピュータの要
部を示すブロック図である。本コンピュータは、装置全
体の制御及び本発明に係わる例えばハードウエハのテス
ト処理（診断処理）を実行する中央処理装置（ＣＰＵ）
１、メインメモリ２、例えばハードディスク装置からな
る補助記憶装置３及び入出力装置４を有する。FIG. 1 is a block diagram showing the main parts of a computer according to the same embodiment. This computer is a central processing unit (CPU) that controls the entire device and executes, for example, hardware test processing (diagnosis processing) related to the present invention.
1. It has a main memory 2, an auxiliary storage device 3 consisting of, for example, a hard disk device, and an input/output device 4.
【００１１】メインメモリ２は、診断処理を実行するた
めのテストプログラムおよび各種プログラム等を格納す
るメモリである。補助記憶装置３は、各種ファイルと共
に、診断処理に必要なパラメータファイル３ａ及びエラ
ーファイル３ｂを記憶する外部記憶装置である。入出力
装置４は、例えばディスプレイ装置及びキーボードから
なり、各種データ及びプログラムの入出力動作を行なう
。次に、同実施例の動作を説明する。The main memory 2 is a memory that stores test programs and various programs for executing diagnostic processing. The auxiliary storage device 3 is an external storage device that stores various files as well as a parameter file 3a and an error file 3b necessary for diagnostic processing. The input/output device 4 includes, for example, a display device and a keyboard, and performs input/output operations for various data and programs. Next, the operation of this embodiment will be explained.
【００１２】例えば入出力装置４からの指示に応じて、
ＣＰＵ１はテストプログラムをメインメモリ２にロード
する（図２のステップＳ１）。ここで、テストプログラ
ムは、テストプログラム全体の制御を行なうモニタモジ
ュール２ａ、テスト対象であるコンピュータの各種ハー
ドウエハの診断処理（テスト処理）を行なうためのテス
トモジュール２ｂ、テストアイテム編集モジュール２ｃ
、エラー情報管理モジュール２ｄ及びローダ２ｅからな
る。For example, in response to an instruction from the input/output device 4,
The CPU 1 loads the test program into the main memory 2 (step S1 in FIG. 2). Here, the test program includes a monitor module 2a that controls the entire test program, a test module 2b that performs diagnostic processing (test processing) for various hardware of the computer being tested, and a test item editing module 2c.
, an error information management module 2d, and a loader 2e.
【００１３】テストアイテム編集モジュール２ｃは、テ
スト処理の内容であるテストアイテムの編集処理（変更
，削除，追加）を実行する。テストアイテム編集モジュ
ール２ｃは、編集した複数のテストアイテムをパラメー
タファイル３ａとして補助記憶装置３に格納する。エラ
ー情報管理モジュール２ｄは、テスト処理によりエラー
を検出した場合に、エラーの内容、テスト処理時のテス
ト項目等のエラー情報を生成する。エラー情報管理モジ
ュール２ｄは、生成したエラー情報からなるエラーファ
イル３ｂを補助記憶装置３に格納する。ローダ２ｅは、
補助記憶装置３からパラメータファイル３ａまたはエラ
ーファイル３ｂを読出し、メインメモリ２のバッファエ
リア２ｆにロードするためのプログラムである。The test item editing module 2c executes test item editing processing (change, deletion, addition), which is the content of test processing. The test item editing module 2c stores a plurality of edited test items in the auxiliary storage device 3 as a parameter file 3a. When an error is detected in the test process, the error information management module 2d generates error information such as the content of the error and test items during the test process. The error information management module 2d stores an error file 3b consisting of the generated error information in the auxiliary storage device 3. The loader 2e is
This is a program for reading the parameter file 3a or error file 3b from the auxiliary storage device 3 and loading it into the buffer area 2f of the main memory 2.
【００１４】いま仮に、入出力装置４からテストアイテ
ムの更新の指示がなされると（ステップＳ２のＹＥＳ）
、ローダ２ｅは補助記憶装置３からパラメータファイル
３ａを読出して、メインメモリ２のバッファエリア２ｆ
にセットする（ステップＳ７）。テストアイテム編集モ
ジュール２ｃは、バッファエリア２ｆにセットされたパ
ラメータファイル３ａの各テストアイテムに対して、変
更，削除，追加等の編集処理を実行し、補助記憶装置３
に格納する（ステップＳ８）。Now, if an instruction to update the test item is issued from the input/output device 4 (YES in step S2).
, the loader 2e reads the parameter file 3a from the auxiliary storage device 3 and stores it in the buffer area 2f of the main memory 2.
(step S7). The test item editing module 2c executes editing processing such as changing, deleting, adding, etc. to each test item in the parameter file 3a set in the buffer area 2f, and
(step S8).
【００１５】次に、入出力装置４からの指示または自動
実行モードにより、テスト処理が実行されると（ステッ
プＳ３のＹＥＳ）、ローダ２ｅは補助記憶装置３からパ
ラメータファイル３ａを読出して、メインメモリ２のバ
ッファエリア２ｆにセットする（ステップＳ４）。モニ
タモジュール２ａは、パラメータファイル３ａの各テス
トアイテムに対応するテストモジュール２ｂを指定し、
このテストモジュール２ｂによる診断処理を実行させる
（ステップＳ５）。即ち、コンピュータの各ハードウエ
ハにおいて、テストアイテムに対応するハードウエハの
動作テスト（機能テスト）が実行されることになる。Next, when the test process is executed in response to an instruction from the input/output device 4 or in the automatic execution mode (YES in step S3), the loader 2e reads the parameter file 3a from the auxiliary storage device 3 and stores it in the main memory. 2 buffer area 2f (step S4). The monitor module 2a specifies the test module 2b corresponding to each test item in the parameter file 3a,
Diagnosis processing by this test module 2b is executed (step S5). That is, an operational test (functional test) of the hardware corresponding to the test item is executed on each hardware of the computer.
【００１６】このテスト処理により、エラーが検出され
た場合には（ステップＳ６のＹＥＳ）、エラー情報管理
モジュール２ｄはエラーの内容、テスト処理時のテスト
項目等のエラー情報からなるエラーファイル３ｂを生成
する（ステップＳ９）。モニタモジュール２ａは、次の
テストアイテムに対応するテストモジュール２ｂを指定
し、このテストモジュール２ｂによる診断処理を実行さ
せる（ステップＳ１０のＮＯ）。パラメータファイル３
ａの全てのテストアイテムに対応するテストモジュール
２ｂによる診断処理が終了するまで繰り返す。[0016] If an error is detected in this test process (YES in step S6), the error information management module 2d generates an error file 3b consisting of error information such as error contents and test items during test process. (Step S9). The monitor module 2a specifies the test module 2b corresponding to the next test item, and causes the test module 2b to execute the diagnostic process (NO in step S10). Parameter file 3
This is repeated until the diagnostic processing by the test module 2b corresponding to all test items of a is completed.
【００１７】このようなテスト処理が終了すると（ステ
ップＳ１０のＹＥＳ）、エラー情報管理モジュール２ｄ
はエラーファイル３ｂを補助記憶装置３に格納する（ス
テップＳ１１）。[0017] When such test processing is completed (YES in step S10), the error information management module 2d
stores the error file 3b in the auxiliary storage device 3 (step S11).
【００１８】このようにして、パラメータファイル３の
各テストアイテムに対応するテストモジュール２ｂの実
行により、例えばコンピュータのハードウエハの動作テ
スト処理を実行することができる。この場合、テストア
イテム編集モジュール２ｃにより、各テストアイテムの
変更，削除，追加等の編集処理が行なわれる。したがっ
て、オペレータは入出力装置４の操作をするだけで、テ
スト処理のテストアイテムを自由に更新し、必要に応じ
てテスト処理の内容を容易に変更することができる。In this manner, by executing the test module 2b corresponding to each test item of the parameter file 3, it is possible to perform, for example, an operation test process for computer hardware. In this case, the test item editing module 2c performs editing processing such as changing, deleting, and adding each test item. Therefore, by simply operating the input/output device 4, the operator can freely update the test items of the test process and easily change the content of the test process as necessary.
【００１９】また、編集されたパラメータファイル３を
利用して、順番，内容等が設定された各テストアイテム
に対応するテスト処理を、連続的かつ自動的に実行する
ことが可能である。即ち、従来のメニュー方式の変更の
容易性と固定自動方式の処理実行効率の向上の各利点を
合せ持つ新規なテスト処理方式を実現することができる
。Furthermore, by using the edited parameter file 3, it is possible to continuously and automatically execute test processing corresponding to each test item whose order, contents, etc. have been set. That is, it is possible to realize a new test processing method that has both the advantages of the conventional menu method in terms of ease of change and the fixed automatic method in terms of improved processing execution efficiency.
【００２０】[0020]
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、例
えばコンピュータ等の電子機器に対して複数のテストア
イテム毎にテスト処理を実行する場合に、各テストアイ
テムの編集機能を備えることにより、テスト処理内容の
更新を簡単化し、編集処理後の各テストアイテムに応じ
て自動的にテスト処理を実行することができる。したが
って、テスト処理の内容の変更が容易でかつテスト処理
の効率の向上を図ることができる電子機器診断装置を提
供することができる。As described in detail above, according to the present invention, when a test process is executed for each of a plurality of test items on an electronic device such as a computer, by providing an editing function for each test item. , it is possible to simplify updating of test processing contents and automatically execute test processing according to each test item after editing processing. Therefore, it is possible to provide an electronic device diagnostic apparatus that allows the content of the test process to be easily changed and improves the efficiency of the test process.
【図１】本発明の実施例に係るコンピュータの要部を示
すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing the main parts of a computer according to an embodiment of the present invention.
【図２】同実施例の動作を説明するためのフローチャー
ト。FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment.
１…ＣＰＵ、２…メインメモリ、３…補助記憶装置、４
…入出力装置。1...CPU, 2...Main memory, 3...Auxiliary storage device, 4
...I/O device.
Claims (1)
ためのテストアイテムを外部からの指示に応じて編集す
るテストアイテム編集手段と、このテストアイテム編集
手段により編集されたテストアイテムからなるパラメー
タファイルを記憶するパラメータファイル記憶手段と、
前記電子機器の動作テスト処理時に、前記パラメータフ
ァイル記憶手段から前記パラメータファイルを読出し、
各テストアイテムに対応する診断処理を実行するテスト
実行手段とを具備したことを特徴とする電子機器診断装
置。1. A test item editing means for editing a test item for performing an operation test of a predetermined electronic device in accordance with an external instruction, and a parameter file consisting of the test item edited by the test item editing means. a parameter file storage means for storing;
reading the parameter file from the parameter file storage means during operation test processing of the electronic device;
What is claimed is: 1. An electronic device diagnostic device comprising: test execution means for executing diagnostic processing corresponding to each test item.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3009271A JPH04253230A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic equipment diagnostic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3009271A JPH04253230A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic equipment diagnostic device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04253230A true JPH04253230A (en) | 1992-09-09 |
Family
ID=11715794
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3009271A Withdrawn JPH04253230A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic equipment diagnostic device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04253230A (en) |
-
1991
- 1991-01-29 JP JP3009271A patent/JPH04253230A/en not_active Withdrawn
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |