JPH0423050A - テスト用アダプタ - Google Patents
テスト用アダプタInfo
- Publication number
- JPH0423050A JPH0423050A JP2127613A JP12761390A JPH0423050A JP H0423050 A JPH0423050 A JP H0423050A JP 2127613 A JP2127613 A JP 2127613A JP 12761390 A JP12761390 A JP 12761390A JP H0423050 A JPH0423050 A JP H0423050A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scan
- terminal
- input
- clock
- printed board
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
プリント板を試験するためのテスト用アダプタに関し、
少数のドライバ、センサを保有する安価なセンサで試験
をすることができるテスト用アダプタを提供することを
目的きし、 プリント板のコネクタの双方向ピンに対してデータの入
出力を行うドライブセンス部と入出力の切換えを行う入
出力切換部からなるスキャン回路を前記コネクタの双方
向ピンの数に対応した数だけ内蔵するように構成する。
をすることができるテスト用アダプタを提供することを
目的きし、 プリント板のコネクタの双方向ピンに対してデータの入
出力を行うドライブセンス部と入出力の切換えを行う入
出力切換部からなるスキャン回路を前記コネクタの双方
向ピンの数に対応した数だけ内蔵するように構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は、プリント板を試験するためのテスト用アダプ
タに関する。
タに関する。
近年、メモリなどはメモリカードと呼称され、小プリン
ト板にメモリカードを搭載した後に、その小プリント板
をプリント板のコネクタに装着して、実装するようにな
ってきている。これにより、フィールドでのメモリ容量
の拡大が容易になったが、一方、プリント板に搭載され
るコネクタの数が増加することになった。
ト板にメモリカードを搭載した後に、その小プリント板
をプリント板のコネクタに装着して、実装するようにな
ってきている。これにより、フィールドでのメモリ容量
の拡大が容易になったが、一方、プリント板に搭載され
るコネクタの数が増加することになった。
このように、コネクタの数が増加にも、小型で安価なテ
スタでプリント板の試験を行えるようにすることが望ま
しい。
スタでプリント板の試験を行えるようにすることが望ま
しい。
[従来の技術および発明が解決しようとする課題]従来
のプリント板の試験方法は、コネクタピンとテストピン
を接続するものであり、コネクタピンと同数のドライブ
センサを保有する必要があった。
のプリント板の試験方法は、コネクタピンとテストピン
を接続するものであり、コネクタピンと同数のドライブ
センサを保有する必要があった。
メモリカードをプリント板に搭載するような場合には、
プリント板のコネクタピンの数が増加するが、このコネ
クタピンの数が増加するのに対応して多数のドライバ、
センサを保有しなければならない。
プリント板のコネクタピンの数が増加するが、このコネ
クタピンの数が増加するのに対応して多数のドライバ、
センサを保有しなければならない。
その結果、テスタが高価なものになり、試験にコストが
かかるという問題点があった。
かかるという問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
のであって、少数のドライバ、センサを保有する安価な
センサで試験をすることができるテスト用アダプタを提
供することを目的としている。
のであって、少数のドライバ、センサを保有する安価な
センサで試験をすることができるテスト用アダプタを提
供することを目的としている。
[課題を解決するための手段]
第1図は本発明の原理説明図である。
第1図において、9はプリント板のコネクタの双方向ピ
ン、24は双方向ビン9に対してデータの入出力を行う
ドライブセンス部、23は入出力の切換えを行う入出力
切換部、25はドライブセンス部24と入出力切換部2
3よりなるスキャン回路である。スキャン回路25はコ
ネクタの双方向ビン9の数に対応した数だけ内蔵されて
いる。
ン、24は双方向ビン9に対してデータの入出力を行う
ドライブセンス部、23は入出力の切換えを行う入出力
切換部、25はドライブセンス部24と入出力切換部2
3よりなるスキャン回路である。スキャン回路25はコ
ネクタの双方向ビン9の数に対応した数だけ内蔵されて
いる。
[作用]
プリント板の試験時にはプリント板のコネクタにテスト
用アダプタが装着される。したがって、テスト用アダプ
タの内部のスキャンがあたかもプリント板に搭載された
素子内のスキャンとして試験に活用することができるの
で、試験のためのコストを低減することができる。
用アダプタが装着される。したがって、テスト用アダプ
タの内部のスキャンがあたかもプリント板に搭載された
素子内のスキャンとして試験に活用することができるの
で、試験のためのコストを低減することができる。
すなわち、テスト用アダプタは両方向ピンに対処するこ
とができるように、外から入出力の切換を行うことがで
き、ドライブ、センスの両方かできるスキャン回路を内
蔵しているため、少数のトライバ、センサを保有する安
価なテスタて試験を行うことができ、試験のためのコス
トを低減することができる。
とができるように、外から入出力の切換を行うことがで
き、ドライブ、センスの両方かできるスキャン回路を内
蔵しているため、少数のトライバ、センサを保有する安
価なテスタて試験を行うことができ、試験のためのコス
トを低減することができる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第2図および第3図は本発明の一実施例を示す図である
。
。
第2図において、1はコネクタ2を搭載したプリント板
であり、プリント板1は試験の対象となる。プリント板
1は製品として出荷される段階ではコネクタ2にメモリ
カードなどの小プリント板が装着される。プリント板1
の試験時にはテスト用アダプタ3がコネクタ2に装着さ
れる。
であり、プリント板1は試験の対象となる。プリント板
1は製品として出荷される段階ではコネクタ2にメモリ
カードなどの小プリント板が装着される。プリント板1
の試験時にはテスト用アダプタ3がコネクタ2に装着さ
れる。
プリント板1には、スキャンモード端子4、クロック端
子5、スキャンイン端子6、シフトクロック端子7およ
びスキャンアウト端子8がそれぞれ設けられている。
子5、スキャンイン端子6、シフトクロック端子7およ
びスキャンアウト端子8がそれぞれ設けられている。
テスト用アダプタ3内にはコネクタ2の双方向ビンの数
に対応した数のスキャン回路が内蔵されており、そのス
キャン回路は第3図に示される。
に対応した数のスキャン回路が内蔵されており、そのス
キャン回路は第3図に示される。
第3図において、9はコネク°り2の双方向ビニ/であ
り、双方向ビン9には内部回路のトライステート素子1
.0.11が接続されている。12はスキャンモード端
子であり、スキャンモード端子12はプリント板1のス
キャンモード端子4に接続されている。13はスキャン
モードが入力するナンド回路であり、ナンド回路]3の
出力はトライステート素子14の制御端子15に入力し
、ナンド回路13はトライステート素子14を制御する
。
り、双方向ビン9には内部回路のトライステート素子1
.0.11が接続されている。12はスキャンモード端
子であり、スキャンモード端子12はプリント板1のス
キャンモード端子4に接続されている。13はスキャン
モードが入力するナンド回路であり、ナンド回路]3の
出力はトライステート素子14の制御端子15に入力し
、ナンド回路13はトライステート素子14を制御する
。
スキャンモードが“0”のときは、ナンド回路13の出
力は“1”であり、トライステート素子14の出力はハ
イインピーダンスとなり、スキャンモードを“1”にす
ると、ナンド回路13の出力は“0”となり、トライス
テート14が開く。
力は“1”であり、トライステート素子14の出力はハ
イインピーダンスとなり、スキャンモードを“1”にす
ると、ナンド回路13の出力は“0”となり、トライス
テート14が開く。
16はクロック端子であり、クロック端子16はプリン
ト板1のクロック端子5に接続されている。17はクロ
ック端子16よりクロックが入力するラッチであり、ラ
ッチ17はクロックが入力することにより、スキャン1
8より値を取り込んでラッチする。
ト板1のクロック端子5に接続されている。17はクロ
ック端子16よりクロックが入力するラッチであり、ラ
ッチ17はクロックが入力することにより、スキャン1
8より値を取り込んでラッチする。
19はスキャンイン端子であり、スキャンイン端子19
はプリント板1のスキャンイン端子6に接続されている
。
はプリント板1のスキャンイン端子6に接続されている
。
スキャン18にはスキャンイン端子19よりデータが入
力し、プリント板1にスキャンインするとともにプリン
ト板1からのデータをスキャンアウトする。
力し、プリント板1にスキャンインするとともにプリン
ト板1からのデータをスキャンアウトする。
20はシフトクロック端子であり、シフトクロック端子
20はプリント板1のシフトクロック端子7に接続され
ている。シフトクロック端子20からシフトクロックが
スキャン18.21にそれぞれ入力し、スキャン18.
21の値をシフトする。スキャン21はトライステート
素子14を制御する値をナンド回路13に出力するとと
もに、スキャン18に入力したスキャンアウトデータを
スキャンアウト端子22に出力する。スキャンアウト端
子22はプリント板1のスキャンアウト端子8に接続さ
れている。
20はプリント板1のシフトクロック端子7に接続され
ている。シフトクロック端子20からシフトクロックが
スキャン18.21にそれぞれ入力し、スキャン18.
21の値をシフトする。スキャン21はトライステート
素子14を制御する値をナンド回路13に出力するとと
もに、スキャン18に入力したスキャンアウトデータを
スキャンアウト端子22に出力する。スキャンアウト端
子22はプリント板1のスキャンアウト端子8に接続さ
れている。
なお、トライステート素子14、ナンド回路13および
スキャン21が全体として入出力の切換を行う入出力切
換部23を構成し、ラッチ17およびスキャン18がデ
ータのドライブ、センスの両方を行うドライブセンス部
24を構成している。
スキャン21が全体として入出力の切換を行う入出力切
換部23を構成し、ラッチ17およびスキャン18がデ
ータのドライブ、センスの両方を行うドライブセンス部
24を構成している。
そして入出力切換部23とドライブセンス部24が全体
としてスキャン回路25を構成している。
としてスキャン回路25を構成している。
次に動作を説明する。
まず、双方向ビン9に値を与えるスキャンインについて
説明する。
説明する。
スキャンモード端子12から入力するスキャンモードを
“0”にすると、ナンド回路13の出力はスキャン21
の出力にかかわらず、“1”となり、トライステート素
子14はハイインピーダンスの状態になる。
“0”にすると、ナンド回路13の出力はスキャン21
の出力にかかわらず、“1”となり、トライステート素
子14はハイインピーダンスの状態になる。
次に、クロック端子16から入力するクロックをオフの
状態にして、スキャンインモードとし、スキャン18に
双方向ピン9に与える値をスキャンイン端子19よりス
キャンインし、スキャン21にはトライステート素子1
4を開く値をスキインしておく。スキャン18からスキ
ャン21へのスキャンインは、シフトクロック端子20
にシフトクロックを入力することにより、スキャンイン
端子19から入力した値をシフトさせることにより行う
。
状態にして、スキャンインモードとし、スキャン18に
双方向ピン9に与える値をスキャンイン端子19よりス
キャンインし、スキャン21にはトライステート素子1
4を開く値をスキインしておく。スキャン18からスキ
ャン21へのスキャンインは、シフトクロック端子20
にシフトクロックを入力することにより、スキャンイン
端子19から入力した値をシフトさせることにより行う
。
次に、クロック端子16から入力するクロックをオンに
してスキャン18に与えた値をスキャン18からラッチ
17に取り込む。
してスキャン18に与えた値をスキャン18からラッチ
17に取り込む。
そして、スキャンモード端子12から入力するスキャン
モードを“1”にすると、ナンド回路13の出力は“0
”となり、トライステート素子14が開き、双方向ピン
9の値が決まる。
モードを“1”にすると、ナンド回路13の出力は“0
”となり、トライステート素子14が開き、双方向ピン
9の値が決まる。
次に、双方向ピン9からの値のスキャンアウトについて
説明する。
説明する。
双方向ピン9からの値はスキャン18に読み込まれる。
次に、クロック端子16のクロックがオンになったとき
、スキャン18に読み込まれた値をシフトクロック端子
20からシフトクロックを入力することにより、スキャ
ン18からスキャン21にシフトする。
、スキャン18に読み込まれた値をシフトクロック端子
20からシフトクロックを入力することにより、スキャ
ン18からスキャン21にシフトする。
そして、スキャン21のスキャンアウト端子22より値
の読み出しが行われる。
の読み出しが行われる。
プリント板1には図示しないテスタが装着され、テスタ
よりスキャンモード、クロック、スキャンインデータ、
シフトクロックが入力し、出力されるスキャンアウトデ
ータはテスタで判別される。
よりスキャンモード、クロック、スキャンインデータ、
シフトクロックが入力し、出力されるスキャンアウトデ
ータはテスタで判別される。
テスト用アダプタ3は、双方向ピン9に対処することが
できるように、データの入出力を切換えることができる
入出力切換部23とドライブ、センスの両方ができるド
ライブセンス部24からなるスキャン回路25を双方向
ピン9の数に対応した数だけ内蔵しているので、少数の
ドライバ、センサ、例えば5つのドライバ、センサを保
有する安価なテスタで試験を行うことができる。
できるように、データの入出力を切換えることができる
入出力切換部23とドライブ、センスの両方ができるド
ライブセンス部24からなるスキャン回路25を双方向
ピン9の数に対応した数だけ内蔵しているので、少数の
ドライバ、センサ、例えば5つのドライバ、センサを保
有する安価なテスタで試験を行うことができる。
また、双方向ピン9に対して対処することができるよう
にしたため、入力ビン、出力ビンにも対処可能であり、
コネクタ2の物理的な制約を受けるだけとなり、同じコ
ネクタ2に対して共通して使用することができるため、
少数のテスト用アダプタを用意するだけでよく、コスト
はさほどかからない。
にしたため、入力ビン、出力ビンにも対処可能であり、
コネクタ2の物理的な制約を受けるだけとなり、同じコ
ネクタ2に対して共通して使用することができるため、
少数のテスト用アダプタを用意するだけでよく、コスト
はさほどかからない。
[発明の効果]
以上説明してきたように、少数のドライバ、センサを保
有する小型で安価なテスタでプリント板の試験を行うこ
とができるので、コストを低減することができる。
有する小型で安価なテスタでプリント板の試験を行うこ
とができるので、コストを低減することができる。
第1図は本発明の原理説明図、
第2図は本発明の一実施例を示す図、
第3図はスキャン回路の構成図である。
図中、
1・・・プリント板、
2・・・コネクタ、
3・・・テスト用アダプタ、
4.12・・・スキャンモード端子、
5.16・・・クロック端子、
6.19・・・スキャンイン端子、
7.20・・・シフトクロック端子、
8.22・・・スキャンアウト端子、
9・・・双方向ピン、
10.11・・・トライステート素子、13・・・ナン
ド回路、 14・・・トライステート素子、 15・・・制御端子、 17・・・ラッチ、 1.8.21・・・スキャン、 23・・・入出力切換部、 24・・・ドライブセンス部、 25・・・スキャン回路。
ド回路、 14・・・トライステート素子、 15・・・制御端子、 17・・・ラッチ、 1.8.21・・・スキャン、 23・・・入出力切換部、 24・・・ドライブセンス部、 25・・・スキャン回路。
Claims (1)
- プリント板のコネクタの双方向ピン(9)に対してデー
タの入出力を行うドライブセンス部(24)と入出力の
切換えを行う入出力切換部(23)からなるスキャン回
路(25)を前記コネクタの双方向ピン(9)の数に対
応した数だけ内蔵したことを特徴とするテスト用アダプ
タ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2127613A JPH0423050A (ja) | 1990-05-17 | 1990-05-17 | テスト用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2127613A JPH0423050A (ja) | 1990-05-17 | 1990-05-17 | テスト用アダプタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0423050A true JPH0423050A (ja) | 1992-01-27 |
Family
ID=14964424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2127613A Pending JPH0423050A (ja) | 1990-05-17 | 1990-05-17 | テスト用アダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0423050A (ja) |
-
1990
- 1990-05-17 JP JP2127613A patent/JPH0423050A/ja active Pending
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