JPH04215306A - アンテナシステム - Google Patents

アンテナシステム

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Publication number
JPH04215306A
JPH04215306A JP3040527A JP4052791A JPH04215306A JP H04215306 A JPH04215306 A JP H04215306A JP 3040527 A JP3040527 A JP 3040527A JP 4052791 A JP4052791 A JP 4052791A JP H04215306 A JPH04215306 A JP H04215306A
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JP
Japan
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antenna system
semiconductor
radiation
semiconductor surface
generating means
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Application number
JP3040527A
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English (en)
Inventor
Bernard Josef Reits
ライツ ベルナルド ヨゼフ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales Nederland BV
Original Assignee
Thales Nederland BV
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Filing date
Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/44Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the electric or magnetic characteristics of reflecting, refracting, or diffracting devices associated with the radiating element
    • H01Q3/46Active lenses or reflecting arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q15/00Devices for reflection, refraction, diffraction or polarisation of waves radiated from an antenna, e.g. quasi-optical devices
    • H01Q15/0006Devices acting selectively as reflecting surface, as diffracting or as refracting device, e.g. frequency filtering or angular spatial filtering devices
    • H01Q15/0013Devices acting selectively as reflecting surface, as diffracting or as refracting device, e.g. frequency filtering or angular spatial filtering devices said selective devices working as frequency-selective reflecting surfaces, e.g. FSS, dichroic plates, surfaces being partly transmissive and reflective
    • H01Q15/0033Devices acting selectively as reflecting surface, as diffracting or as refracting device, e.g. frequency filtering or angular spatial filtering devices said selective devices working as frequency-selective reflecting surfaces, e.g. FSS, dichroic plates, surfaces being partly transmissive and reflective used for beam splitting or combining, e.g. acting as a quasi-optical multiplexer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/2676Optically controlled phased array

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  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
  • Aerials With Secondary Devices (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、少なくとも1つの能動
放射源と、該能動放射源によって発生する放射の少なく
とも一部に位置する反射面とを具えているアンテナシス
テムに関するものである。
【0002】本発明は、特に、ビーム幅、ビーム方向の
ようなビームパラメータを調整することのできるアンテ
ナシステムの反射面に関するものである。
【0003】
【従来の技術】このような、ビーム幅、ビーム方向を調
整することのできるアンテナシステムは、米国特許第3
978484 号明細書より既知である。このアンテナ
システムの反射面は、実質的に多くの副反射鏡によって
構成されている。その各々は、放射源が発する放射の一
部を反射し、その移相を、放射ビームが所望の方向、ビ
ーム幅となるように選択する。変換器、すなわち導波路
中の調整可能な平面によって移相が得られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このシステム
では、種々のパラメータを用いてビームを調整する場合
、多くの時間をロスしてしまうという欠点がある。その
理由は、機械的な手段を用いて、この調整を行なってい
るからである。本発明は、この欠点を解消することを目
的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも1
つの能動放射源と、該能動放射源によって発生する放射
の少なくとも一部に位置する反射面とを具えているアン
テナシステムにおいて、前記反射面に半導体面を設け、
且つ前記アンテナシステムに光発生手段を設け、この光
発生手段の光を用いて、前記半導体面を照射し、前記放
射源によって発生する放射が、前記反射半導体面で反射
した後、少なくとも1つの放射ビームが得られるように
構成していることを特徴としている。
【0006】本発明によれば、ビームパラメータを極め
て短時間に調整することができ有利であるが、更に、従
来不可能であると思われていた非常に短い波長に対して
も、ビーム幅やビーム方向を調整することのできるアン
テナシステムを開発することができる。
【0007】以下図面を参照して説明するに、図1は、
簡単な従来のアンテナシステムの断面図であり、フィー
ドホーン1を示している。このフィードホーン1は、反
射面2と向かい合って配置され、反射面2の方向に波長
λの電磁波を発生する。レーダに適用する場合、受信ホ
ーンをも組み込み、物体によって反射されるエコー信号
を受信する。反射面2は、この反射面2で反射された後
、実質的に平行、又はわずかに発散するビーム3が得ら
れるように、輪郭を形成している。このため、反射面2
は、実質的にパラボラ形状であり、フィードボーン1を
、焦平面上に配置するが、前記パラボラ形状の焦点付近
に配置することが好ましい。
【0008】反射後、表示されている方向の射出ビーム
aとbとの間の位相差△φ=φa −φb は、正確に
△φ=0°である。このため、これらのビームは、この
方向で互いに強め合う。位相差が△φ=φa −φb 
=±K×360 °( K=1,2,…)の場合に、同
様のビームが得られること明らかである。このことは、
反射面の反射特性に影響を与えずに、反射点φa とφ
b とを、互いに入射ビームの方向に、±K×1/2λ
(K=1,2,…)の距離だけ移相できることを意味し
ている。
【0009】この原理を、引用した米国特許に適用する
。ここで、電磁波は、導波路に配置された機械的移相器
の2次元アレーで反射し、伝達ビームが移相される。 この移相は、実質的に、図1に示す伝達されるビームの
移相と等しい。
【0010】
【実施例】本発明による簡単な例を、図2に示す。ここ
で、フィードホーンは、参照番号1で示されている。参
照番号2で示されている反射面は、半導体面2.i.j
(i=1,2,…,N;j=1,2,…,M)の2次元
アレーから成っている。数N及びMは、アプリケーショ
ンに依存しており、垂直方向、水平方向それぞれにおけ
るアンテナシステムにおいて要求される最小ビーム幅が
減少するにつれて増大する。更に説明すると、半導体面
は、電磁波を反射することができる。伝達されるビーム
の移相が、実質的に図1に示す伝達されるビームの移相
と等しくなるように、反射波の位相を、光発生手段によ
って調整することがてきる。
【0011】引用した米国特許と同様に、個々の半導体
面2.i.j(i=1,2,…,N;j=1,2,…,
M)の反射波の位相を調整することによって、ビームパ
ラメータ、すなわち、ビーム幅、ビーム方向を選択する
ことができる。
【0012】図2に示しているように、半導体面を実質
的に接触させて配置することができる。しかし、各々の
半導体表面を、分離した導波路に固定することもできる
。結局、本発明は、少なくとも外観に関して、引用した
米国特許に記載された発明と近似している。
【0013】図3は、スペーサ5,前面4に用いられる
半導電性材料の薄い層及び後面6に用いられる半導電性
材料の薄い層から成る半導体面2.i.jの断面図を示
している。例えば、半導電性材料の層の厚さは、100
 μm であり、ガラスのような基板材料の上に堆積さ
せることができる。スペーサ5は、合成フォームのよう
な、比誘電率がちょうど1である材料から成っている。 スペーサの長さは、λ/4+K・λ/2,K=0,1,
2,…である。このような半導体面が、放射源によって
生じる波長λの放射によって、放射の伝播方向に対して
ほぼ直角に露光されると、概して誘電率が大きい2つの
半導体材料の層は、特に、放射の一部を反射する。これ
ら2つの層の間の距離を適切に選択しているので、両反
射波は、お互いによって、実質的に相殺される。
【0014】前面4が、半導電性材料に電子を放出する
ことのできるフォトンによって照射される場合、前面4
において、追加的な反射が生じる。特に、1つのフォト
ンが少なくとも1つの自由電子を発生するような波長の
光である場合、実質的に、すべての光は、100 μm
 厚の半導電性材料の薄い層によって吸収されるととも
に、完全に自由電子に変換される。結果的には、半導電
性材料が導電性となり、放射源が発する追加的な反射が
生じる。更に正確には、 の場合に、著しい反射が起こる、ここで、σは、半導電
性材料の導電率、Cは、光速、εは、半導電性材料の誘
電率、λは、入射電磁放射の波長である。適切な光強度
及び導電率を選択することによって、放射源によって発
生する放射が著しく反射する。一方、大きさが数オーダ
小さい波長の光の反射は、特に変化が生じない。
【0015】同様に、後面6における反射は、この後面
6の照射によって、調整することができる。前面4での
反射を、複素平面上の正の実軸に沿って投写すると、後
面6での反射は、負の実軸に沿って投写される。
【0016】図4は、2つの半導体面7,8を示してお
り、その各々は、図3に示す半導体表面と完全に同一の
ものである。半導体面7において、反射が生じる。この
反射を複素平面上の、正及び負の実軸に沿って投写する
。しかし、半導体面8は、放射源によって発生する、波
長λの放射の伝播方向にλ/8の距離だけシフトしてい
る。この結果、半導体面7の前面及び後面における反射
は、複素平面上の正及び負の虚軸に沿って投写される。 このことから所望の反射を、実軸及び虚軸上に投写でき
る光強度で、半導体面7の前面又は後面と、半導体面8
の前面又は後面とを照射することによって、一次結合に
基づき所望の反射を起こさせることができる。
【0017】図5は、実現可能な、アンテナシステムの
反射面の一実施例を示している。図3に示す半導体面と
同一の半導体面9の各々を、方形導波路10中に配置す
る。この導波路10の縦は、数波長であり、横は、約半
波長である。半導体面を有する導波路を積み重ねること
によって、反射面を形成する。所望の位相を反射できる
ようにするために、半数の半導体面を、他の半数に対し
てλ/8シフトさせて、反射面全体に亘って配置する。 従って、例えば、これらの半導体面2.i.j.(i=
1,2,…,N;j=1,2,…,M)を、i+jが偶
数の場合に、シフトさせる。
【0018】図6は、反射面の他の一例を示している。 反射面の寸法を有し、厚さがλ/4+K・λ/2,K=
0,1,2,…,である合成フォームプレート11を製
造し、区分2.i.j(i=1,2,…,N;j=1,
2,…M)を、i+jが偶数のときに、λ/8の距離シ
フトさせ、構成する。このことは、図7において、ライ
ンAA′に沿った平面の断面図によって示されている。 ラインBB′に沿った断面図は、全く同一である。各区
分の前後を半導電性材料で覆い、結果的には、図3及び
図4に関連する説明と同一の、半導体面から成る反射面
となる。
【0019】図8は、フィードホーン1及び、図5又は
図6に関連する上記説明の一つによる反射面12を具え
るアンテナシステムと、光発生手段13,14 として
の偏向手段を加えた2つのレーザとを示している。反射
面12には、N×M半導体面2.i.j(i=1,2,
…,N;j=1,2,…,M)を設け、このうちの半数
は、λ/8の距離だけシフトされている。一方がシフト
され、他方がシフトされていない半導体面の隣接する対
によって、移相器が構成される。コンピュータは、所定
のパラメータにおいて、ビームを発生するのに、両半導
体面の前面と後面とにおける反射がどのようなものであ
るべきかを計算する。テレビジョンの画像において行な
われるのと同様に、偏向手段を加えた2つのレーザは、
反射面全体に亘ってラスタースキャンを行う、レーザが
照射される各半導体面において、レーザ強度を、所望の
反射が得られるように調整する。
【0020】この例では、レーザ物理の分野においては
よく知られていることであるが、ブラッグ回折に基づく
音響光学的偏向システムを有するNd− Yag レー
ザと、半導電性材料としてシリコンを有する半導体面と
の組み合わせが好適である。使用されるシリコン中のキ
ャリアの寿命よりも短い時間で、完全なラスタースキャ
ンが行なわれることが重要である。結果的には、極めて
純粋なシリコンを使用する必要がある。すべての電荷が
シリコン面に発生するので、このシリコン面を、表面再
結合を防止できるように処理する必要がある。この処理
は、半導体技術の分野においては、よく知られているこ
とである。
【0021】半導体材料のメモリ効果のために、図8に
おいて示されている光発生手段は役立つ。この半導体材
料は、照射後かなり長時間、自由電荷を保持している。 このため、アンテナシステムが本来的に遅くなってしま
うという欠点がある。高速で調整可能なビームパラメー
タを有するアンテナシステムは、別の半導電性材料、例
えば、キャリアの寿命がより短い、純度の低いシリコン
を用いて、得ることができる。この場合、偏向手段を有
するレーザは、N×M半導体面において、格子状のラス
ター走査を行う必要がある。偏向システムの限界スピー
ドは、正しい機能を妨害する要因となる。これを解決す
るために、各行、各列毎に、一次元偏向システムを有す
るレーザを用い、アナログ的な方法で振幅の変調を行う
。従って、2つのレーザの代わりに、2N又は2M個の
レーザが必要とされる。
【0022】図9は、極めて高速の調整ビームを有する
アンテナシステムを示している。反射面12は、面16
を介して直接、フィードホーン1によって照射される。 この面16は、放射源が発する放射を透過するも、レー
ザビームに対しては、優れた反射板となっている。この
ために、誘電体ミラーを用いることができる。光発生手
段13,14 は、各々N×Mレーザである、2つのア
レーから成っている。従って、各半導体面2.i.j(
i=1,2,…,N;j=1,2,…,M)は、2つの
レーザによって照射される。すなわち、一方の半導体面
は、光発生手段13によって、誘電体ミラー15を介し
て照射され、他方の半導体面は、光発生手段14によっ
て、誘電体ミラー16を介して照射される。1つの半導
体表面2.i.jにおける反射は、関連する2つのレー
ザの強度を制御することによって調整することができる
【0023】この例の半導体材料として、シリコンを使
用することができる。このシリコンの寿命を、不純物の
ために、実質的に任意の短い時間とし、この結果、任意
に調整することのできる高速アンテナシステムを実現す
ることができる。レーザを、波長が約1μm の半導体
レーザとすることができる。
【0024】図5に示すような反射面を、発光ダイオー
ド又はレーザで照射し、各導波路の半導体面の一方の側
に、少なくとも1つの発光ダイオード又はレーザを固定
し、半導体面を照射することもできる。発光ダイオード
又はレーザを導波路の外側に固定することもできる。こ
の場合、光は、光ファイバを介して、関連する半導体面
を通過する。
【0025】ここに示されている例では、半導電性材料
から成る2つの薄い層を用いた。しかし、3つ以上の薄
い層を用いることもできる。図5,6,7に示されてい
るような、隣接する半導体面9の間のシフトが必ずしも
必要ではない点において有利である。
【0026】図10は、3つの薄い半導体層4,6,1
7及び2つのスペーサ5を有する半導体面の一例を示す
図である。スペーサ5の長さは、λ/6+K・λ/2,
K=0,1,2,…である。このことは、層4,6,1
7からの反射が、複素平面上のexp(0),exp(
2/3πi), exp(4/3 πi)の方向に投写
されることを示している。一次結合の原理に基づき、層
4,6, 17を各々の光発生手段によってそれぞれ照
射することによって、いかなる反射をも作り出すことが
できる。
【0027】しかし、層4又は17を介して、層6を照
射する必要がある。このことは、種々の種類の半導電性
材料を用いることで達成できる。
【0028】実際の例では、シリコンを層4及び17に
用い、ゲルマニウムを層6に用いることもできる。層4
及び17と相俟って、光発生手段を、シリコンのバンド
ギャップ(1.21eV)に整合させる。層6と相俟っ
て、光発生手段を、ゲルマニウムのバンドギャップ(0
.78eV)に整合させる。後者の種類の光によって、
ゲルマニウム中に自由キャリアが発生する。シリコンは
、この光に対して透明である。
【図面の簡単な説明】
【図1】パラボラ形状の反射面を有する従来のアンテナ
システムを示す略図である。
【図2】半導体面を設けた反射面を有するアンテナシス
テムを示す略図である。
【図3】半導体面を示す断面図である。
【図4】2つの半導体面の結合を示す図である。
【図5】反射面の一例を示す図である。
【図6】反射面の他の一例を示す図である。
【図7】図6のラインA−A′に沿った断面図である。
【図8】2つのレーザと、偏向手段とを有するアンテナ
システムを示す図である。
【図9】各々N×Mレーザを設けている2つのレーザア
レーを有するアンテナシステムを示す図である。
【図10】他の半導体面の断面図である。
【符号の説明】
1   フィードホーン 2   反射面 3   発散ビーム 4   前面 5   スペーサ 6   後面 7,  8, 9  半導体面 10  方形導波路 11  合成フォームプレート 12  反射面 13, 14  光発生手段 15, 16  誘電体ミラー 17  半導体層

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  少なくとも1つの能動放射源と、該能
    動放射源によって発生する放射の少なくとも一部に位置
    する反射面とを具えているアンテナシステムにおいて、
    前記反射面に半導体面を設け、且つ前記アンテナシステ
    ムに光発生手段を設け、この光発生手段の光を用いて、
    前記半導体面を照射し、前記放射源によって発生する放
    射が、前記反射半導体面で反射した後、少なくとも1つ
    の放射ビームが得られるように構成していることを特徴
    とするアンテナシステム。
  2. 【請求項2】  多くの実質的に接触している半導体面
    によって、前記反射面を構成することを特徴とする請求
    項1に記載のアンテナシステム。
  3. 【請求項3】  前記反射面に導波路を設けている請求
    項1に記載のアンテナシステムにおいて、前記半導体面
    を、前記導波路中に固定していることを特徴とするアン
    テナシステム。
  4. 【請求項4】  概ね、前記半導体面のまず半分を第1
    平面に配置し、残りの半導体面を第2平面に配置し、且
    つ、λを、前記放射源が前記半導体面に発する放射の波
    長とすると、前記第1平面と前記第2平面との間の距離
    が、λ/8+K・λ/2,K=0,1,2,…であるこ
    とを特徴とする請求項2又は3に記載のアンテナシステ
    ム。
  5. 【請求項5】  半導体面に、2つの半導電性材料の層
    と、スペーサとを設けていることを特徴とする請求項1
    〜4のいづれか一項に記載のアンテナシステム。
  6. 【請求項6】  λを、前記放射源が前記スペーサ物体
    中に発する放射の波長とすると、前記2つの半導電性材
    料の層間の距離がλ/4+K・λ/2,K=0,1,2
    ,…であることを特徴とする請求項5に記載のアンテナ
    システム。
  7. 【請求項7】  前記半導電性材料をシリコンとするこ
    とを特徴とする請求項1〜6のいづれか一項に記載のア
    ンテナシステム。
  8. 【請求項8】  半導体面に、3つの半導電性材料層と
    、2つのスペーサとを設けていることを特徴とする請求
    項1〜3のいづれか一項に記載のアンテナシステム。
  9. 【請求項9】  λを、前記放射源が前記スペーサ物体
    中に発する放射の波長とすると、2つの順次の半導電性
    材料層間の距離が、λ/6+K・λ/2,K=0,1,
    2…であることを特徴とする請求項8に記載のアンテナ
    システム。
  10. 【請求項10】  前記半導電性材料に、前記光発生手
    段からの光に対する反射防止コーティングを施こしてい
    ることを特徴とする請求項1〜9のいづれか一項に記載
    のアンテナシステム。
  11. 【請求項11】  前記光発生手段に、少なくとも一つ
    のレーザを設けていることを特徴とする請求項1〜10
    のいづれか一項に記載のアンテナシステム。
  12. 【請求項12】  前記レーザを、Nd− Yag レ
    ーザとすることを特徴とする請求項11に記載のアンテ
    ナシステム。
  13. 【請求項13】  前記レーザを半導体レーザとするこ
    とを特徴とする請求項11に記載のアンテナシステム。
  14. 【請求項14】  前記光発生手段に、少なくとも1つ
    の発光ダイオードを設けていることを特徴とする請求項
    1〜10のいづれか一項に記載のアンテナシステム。
  15. 【請求項15】  前記光発生手段からの光を、光ファ
    イバを介して、前記半導体面に通過させることを特徴と
    する請求項1〜14のいづれか一項に記載のアンテナシ
    ステム。
  16. 【請求項16】  前記能動放射源からの放射が、実質
    的にマイクロ波のエネルギーから成っていることを特徴
    とする請求項1〜15のいづれか一項に記載のアンテナ
    システム。
  17. 【請求項17】  前記光発生手段が、赤外線放射のみ
    を発生することを特徴とする請求項1〜16のいづれか
    一項に記載のアンテナシステム。
  18. 【請求項18】  コンピュータが前記光発生手段を制
    御し、前記能動放射源が発する放射の少なくとも一部が
    前記半導体面で反射することによって、ビーム方向とビ
    ーム幅とを調整可能な少なくとも1つのレーダビームを
    発生させることを特徴とする、請求項1〜17のいづれ
    か一項に記載のアンテナシステムを具えるレーダ装置。
JP3040527A 1990-02-16 1991-02-13 アンテナシステム Pending JPH04215306A (ja)

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