JPH04205034A - Test support apparatus - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To automatically input test data and to lighten the operator's burden by storing in advance in a memory section of the test support apparatus various test data items to be input to the test object unit. CONSTITUTION:In memory section 15 of the present test support apparatus, a plurality of data items to be input to a test object unit 1 are all stored in advance. When starting test, a key input waiting message is displayed, and when a key input permission is issued, a control section 11, while judging an input interval timeup, reads test data from the memory section 15. This test data is then sent to the test object unit 1 via an output port 13. At the unit 1 side, test is executed, and necessary test data is continuously read from memory section 15 in the same sequence as the sequence in which test data was input using a keyboard 2 until the test is completed. Accordingly, the present test support apparatus 10 can automatically supply test object unit 1 with test data without exercising any operator's burden using no keyboard 2.

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、情報処理用の端末装置その他種々の情報処理
装置を試験する場合に使用される試験支援装置に関する
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a test support device used for testing information processing terminal devices and various other information processing devices.

（従来の技術） 金融機関や研究機関等には、各種情報処理のために多数
の端末装置が設けられる。これらの端末装置を新設した
場合、その接続状態や、作動状態を確認するために全数
にわたり、所定の項目で試験を行なう。(Prior Art) Financial institutions, research institutions, etc. are equipped with a large number of terminal devices for processing various information. When these terminal devices are newly installed, all of them are tested on predetermined items to confirm their connection and operating conditions.

第２図に従来の端末装置試験方法説明図を示す。図のよ
うに、例えば複数台の端末装置１８〜ＩＺがある場合、
−台の端末装置１ａに接続されたキーボード２ａを使用
して、オペレータが予め設定された試験用データを入力
する。この、試験用データには、装置各部を作動させる
ためのコマンドや、装置により処理或は転送されるデー
タ等か含まれる。FIG. 2 shows an explanatory diagram of a conventional terminal device testing method. As shown in the figure, for example, if there are multiple terminal devices 18 to IZ,
- The operator inputs preset test data using the keyboard 2a connected to the terminal device 1a. This test data includes commands for operating each part of the device, data processed or transferred by the device, and the like.

試験用データは、通常−つとは限らず、例えば、予め所
定のメモ等にリストアツブされたものをオペレータが順
にキーボードにａから入力し、端末装置１ａのデイスプ
レィに表示される結果を解析する。他の端末装ｆｉｌｂ
からＩＺについても、全く同様の処理がキーボード２ｂ
或はキーボード２Ｚを使用して実行される。The test data is usually not limited to one piece, but, for example, data that has been restored in advance in a predetermined memo or the like is input by the operator into the keyboard sequentially from a, and the results displayed on the display of the terminal device 1a are analyzed. Other terminal equipment filb
Exactly the same process is performed for IZ from keyboard 2b.
Alternatively, it is executed using the keyboard 2Z.

即ち、オペレータは一点斜線の■■■■というように端
末装置１ａからＩＺまで順に同一の試験操作を繰返して
行く。That is, the operator repeats the same test operation sequentially from the terminal device 1a to the IZ as indicated by the dotted diagonal lines.

（発明が解決しようとする課題） ところで、上記のような試験の場合、試験項目が多くな
ればオペレータのキーボード２より入力される試験用デ
ータが増大する。従って、同様の構成の複数台の被試験
装置、即ち、第２図に示す端末装置１ｂからＩＺがある
場合、それぞれについて同一の操作を繰返すことは極め
て煩雑になる。又、試験項目が増加すれば、オペレータ
による試験用データの入力ミスもしばしば発生し、試験
能率を低下させる要因ともなる。(Problems to be Solved by the Invention) In the case of the above-mentioned test, as the number of test items increases, the amount of test data input from the keyboard 2 by the operator increases. Therefore, when there are a plurality of devices under test having similar configurations, that is, terminal devices 1b to IZ shown in FIG. 2, it becomes extremely complicated to repeat the same operation for each device. Furthermore, as the number of test items increases, errors in inputting test data by operators often occur, which becomes a factor that reduces test efficiency.

本発明は以上の点に着目してなされたもので、オペレー
タによるキーボード操作の煩わしさを除去し、同様の構
成の複数の被試験装置に対し、自動的に試験用データを
入力することの出来る試験支援装置を提供することを目
的とするものである。The present invention has been made with attention to the above points, and it is possible to eliminate the troublesomeness of keyboard operations by the operator and to automatically input test data to multiple devices under test with similar configurations. The purpose is to provide test support equipment.

（課題を解決するための手段） 本発明の試験支援装置は、キーホードから所定の試験装
置に入力されるべき複数の試験用データを格納する記憶
部と、前記記憶部から前記試験用データをその入力順に
読み出して別の被試験装置に対して送出する制御部とを
備えたことを特徴とするものである。(Means for Solving the Problems) A test support device of the present invention includes a storage unit that stores a plurality of test data to be input from a keychain to a predetermined test device, and a storage unit that stores the test data from the storage unit. The device is characterized by comprising a control unit that reads the data in the order of input and sends it to another device under test.

更に、この第２発明の装置は、キーボードから所定の被
試験装置に入力された複数の試験用データの入力インタ
バルを計時するタイマ回路と、前記複数の試験用データ
とこれらの入力インタバル情報とを併せて格納する記憶
部と、前記記憶部から前記試験用データをその入力順に
読み出して、前記入力インタバル情報に従って、別の被
試験装置に対してキーホード入力時のインタバルで前記
試験用データを送出する制御部とを備えたことを特徴と
するものである。Furthermore, the device of the second invention includes a timer circuit that measures the input interval of a plurality of test data input from a keyboard to a predetermined device under test, and a timer circuit that measures the input interval of a plurality of test data and their input interval information. reading out the test data from the storage unit in the order in which they were input, and transmitting the test data to another device under test at an interval of keystroke input according to the input interval information; The present invention is characterized by comprising a control section.

（イ乍用） この装置は、１台の被試験装置に対しキーボードを操作
して入力された試験用データを記憶部に格納し、２台目
以降の被試験装置に対しては・記憶部に格納した試験用
データを順次呼び出して使用する。この場合、試験用デ
ータの入力インタバルも記憶し、同一のインタバルで試
験用データを被試験装置に供給するようにすれば、被試
験装置の応答時間等を考慮し、より実際的な試験用デー
タ入力の自動化が可能となる。(For I) This device stores the test data entered by operating the keyboard for one device under test in the storage section, and for the second and subsequent devices under test. The test data stored in is sequentially recalled and used. In this case, if the test data input interval is also memorized and the test data is supplied to the device under test at the same interval, more practical test data can be obtained, taking into consideration the response time of the device under test. Enables automation of input.

（実施例） 以下、本発明を図の実施例を用いて詳細に説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail using embodiments shown in the drawings.

第１図は本発明の試験支援装置実施例を示すブロック図
である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the test support device of the present invention.

図の装置は、被試験装置１とキーボード２の間に予め挿
入される。そして、最初に試験しようとする被試験装置
ｌに対し、キーボード２を用いてオペレータが入力する
複数の試験用データをモニタして格納する構成とされて
いる。The device shown in the figure is inserted between the device under test 1 and the keyboard 2 in advance. The apparatus is configured to monitor and store a plurality of test data input by the operator using the keyboard 2 for the device under test l to be tested first.

即ち、試験支援装置１０は、制御部１１、入力ボート１
２、出力ボート１３、タイマ回路１４、及び記憶部１５
を備えている。That is, the test support device 10 includes a control section 11, an input boat 1
2, output boat 13, timer circuit 14, and storage section 15
It is equipped with

人力ボート１２には、キーホード２が接続されており、
この入力ボート１２はキーボード２の入力する試験用デ
ータを受は入れるインタフェースを構成している。A keychain 2 is connected to the human-powered boat 12.
This input board 12 constitutes an interface for receiving test data input from the keyboard 2.

出力ボート１３には、被試験装置１が接続されている。The device under test 1 is connected to the output boat 13 .

被試験装置１はデイスプレィ２１及びプロセッサ２２か
ら成る。この被試験装置１は例えば、金融機関の窓口端
末装置とする。この被試験装置１は、プロセッサ２２に
より制御され、その結果は、デイスプレィ２１に表示さ
れる。The device under test 1 includes a display 21 and a processor 22. The device under test 1 is, for example, a counter terminal device of a financial institution. This device under test 1 is controlled by a processor 22, and the results are displayed on a display 21.

試験支援装置１ｏは、このプロセッサ２２に出力ボート
１３を介して接続されている。The test support device 1o is connected to this processor 22 via an output port 13.

尚、従来の試験の場合には、キーボード２がこのプロセ
ッサ２２に直接接続される。試験支援装置１０の制御部
１１は、マイクロプロセッサ等から構成され、この試験
支援装置を制御する回路からなる。Note that in the case of conventional testing, the keyboard 2 is directly connected to this processor 22. The control unit 11 of the test support device 10 is made up of a microprocessor or the like, and is made up of a circuit that controls the test support device.

タイマ回路１４は、ここでは、キーボード２から入力さ
れる複数の試験用データの入力インタバルを計時し、そ
のインタバルに該当する入力インタバル情報を制御部１
１に向は出力する回路である。Here, the timer circuit 14 measures the input interval of a plurality of test data input from the keyboard 2, and transmits input interval information corresponding to the interval to the control unit 1.
1 is an output circuit.

記憶部１５は、キーボード２から入力された複数の試験
用データと、先にタイマ回路１４から出力された入力イ
ンタバル情報を格納するランダム・アクセス・メモリ等
から構成される。The storage unit 15 is comprised of a random access memory and the like that stores a plurality of test data input from the keyboard 2 and input interval information previously output from the timer circuit 14.

この装置は、当初所定の被試験装置１に対し、キーボー
ド２を操作してオペレータが試験用データを入力する場
合、その試験用データを被試験装Ｎ１に出力すると共に
、記憶部１５に格納する。When an operator inputs test data to a predetermined device under test 1 by operating the keyboard 2, this device outputs the test data to the device under test N1 and stores it in the storage unit 15. .

そして、その後は別の被試験装置に対し、キーホード２
を使用すること無く、試験支援装置１０のみで先にキー
ボード２から入力された試験用データをそのまま被試験
装置１に自動的に入力することができる。Then, after that, for another device under test,
It is possible to automatically input the test data previously input from the keyboard 2 to the device under test 1 without using the test support device 10 alone.

第１図に示す装置の外しを第４図に示す。FIG. 4 shows the removal of the device shown in FIG.

第４図は本発明の試験支援装置実施例外観図である。図
のように、被試験装置１とキーホード２の間に本発明に
関わる試験支援装置１０が挿入されており、キーボード
２と試験支援装置１０とは、ケーブル４を介して接続さ
れる。試験支援装置１０と被試験装置１とは、ケーブル
５を介して接続されている。FIG. 4 is an external view of an embodiment of the test support device of the present invention. As shown in the figure, a test support device 10 according to the present invention is inserted between a device under test 1 and a keyboard 2, and the keyboard 2 and test support device 10 are connected via a cable 4. The test support device 10 and the device under test 1 are connected via a cable 5.

以上の構成の装置は、次のように動作する。The apparatus having the above configuration operates as follows.

第３図に従来方法のフローチャートを示す。図において
、はじめにある被試験装置について試験が開始されると
（ステップＳ１）、その試験開始後、所定のタイピング
で既入力待ちメツセージが表示される（ステップＳ２）
、次にキー人力許可が発せられ（ステップＳ３）、キー
人力待ち状態となる。FIG. 3 shows a flowchart of the conventional method. In the figure, when a test is first started on a certain device under test (step S1), after the start of the test, a message waiting for input is displayed by predetermined typing (step S2).
, Next, a key manual power permission is issued (step S3), and the system enters a key manual power waiting state.

即ち、キー人力ありか否かが監視される（ステップＳ４
）、キーから試験用データが入力されると、その入力用
データが正しければ、ステップＳ６に移行するが、入力
データに誤りがあれば、ステップＳ４に戻る。更に、他
のキー人力が必要であるか否かが判断される（ステップ
Ｓ６）、他のキー人力が必要な場合、ステップＳ４に戻
り、又、キー人力待ち状態となる。一方、複数回のキー
人力により必要な試験用データが入力された場合、ステ
ップＳ７に移行し、試験が実行される。そして、試験終
了か否かが判断される（ステップＳ８）、別の試験が行
なわれる場合には、ステップＳ２に戻る。このようにし
て１台の被試験装置に対し、ステップＳ２からステップ
Ｓ８の処理が実行され、試験項目に併せた試験用データ
の入力が行なわれる。そして、１台の被試験装置につい
て、試験が終了すると、ステップＳ９において別の装置
があるか否かが判断され、別の装置がある場合には、再
び新たな試験が開始される（ステップＳ１）、又、別の
装置が無ければ実験を全て終了する。このような試験を
本発明の装置はキーボードなしに実行できる。That is, it is monitored whether or not there is key human power (step S4).
), when test data is input from the key, if the input data is correct, the process moves to step S6, but if the input data is incorrect, the process returns to step S4. Furthermore, it is determined whether or not other key human power is required (step S6). If other key human power is required, the process returns to step S4 and the key human power waiting state is entered. On the other hand, if the necessary test data has been input by keystrokes a plurality of times, the process moves to step S7 and the test is executed. Then, it is determined whether the test has ended or not (step S8). If another test is to be conducted, the process returns to step S2. In this way, the processes from step S2 to step S8 are executed for one device under test, and test data matching the test items is input. When the test for one device under test is completed, it is determined in step S9 whether or not there is another device under test. If there is another device, a new test is started again (step S1 ), or if there is no other equipment, the entire experiment is terminated. The device of the present invention can perform such tests without a keyboard.

そのために、はじめに、所定の被試験装置１に対し、キ
ーボード２を用いてオペレータが従来通りの複数の試験
用データを格納する。この場合に、試験支援装置１０は
、その試験用データを記憶部１５に格納する。To this end, first, an operator stores a plurality of test data on a predetermined device under test 1 using the keyboard 2 as in the past. In this case, the test support device 10 stores the test data in the storage unit 15.

第５図は、そのような試験用データの格納フローチャー
トを示したものである。FIG. 5 shows a flowchart for storing such test data.

図において、ステップＳ１からステップＳ６は第３図の
ステップＳ１からステップＳ６に示したものと全く同様
の内容で、試験開始（ステップＳｌ）、キー人力待ちメ
ツセージ表示（ステップＳ２）、キー人力許可（ステッ
プＳ３）を経て、キー人力ありか否かが判断され（ステ
ップＳ４）、入力データが正か否かを判断した後（ステ
ップＳ５）、他のキー人力があるか否かを判断する（ス
テップＳ６）、こうして、キーボード２により試験用デ
ータが入力されると、第５図（ステップＳ７）において
試験用データを記憶部１５に格納する。そして、その後
、試験を実行し、試験終了か否かが判断されて（ステッ
プＳ９）、試験が終了していなければ、ステップＳ１に
戻り、試験が終了している場合には、その被試験装置１
に対する試験を終了する。In the figure, steps S1 to S6 are exactly the same as those shown in steps S1 to S6 in FIG. After step S3), it is determined whether or not there is key manpower (step S4), and after it is determined whether the input data is correct (step S5), it is determined whether there is other key manpower or not (step S4). S6) When the test data is inputted through the keyboard 2, the test data is stored in the storage section 15 in FIG. 5 (step S7). Thereafter, the test is executed, and it is determined whether the test is completed (step S9). If the test is not completed, the process returns to step S1, and if the test is completed, the device under test is 1
Finish the test for.

このような、試験終了後には、記憶部１５に、他の被試
験装置１に入力されるべき複数の試験用データが全て格
納された状態となっている。ここで、新たな別の被試験
装置１に対し、この試験支援装置１０を接続し、その被
試験装置１に対する試験を開始する。After such a test is completed, all of the plurality of test data to be input to other devices under test 1 are stored in the storage unit 15. Here, this test support device 10 is connected to another new device under test 1, and a test on that device under test 1 is started.

第６図に本発明の装置の動作説明図を示す。まず、試験
が開始されると（ステップＳ１）、キー人力待ちメツセ
ージが表示される（ステップＳ２）、そして、キー人力
許可が発せられると（ステップＳ３）、入力インタバル
タイムアツプを判断しながら（ステップＳ４）、試験支
援装置１０の制御部１１は、記憶部１５から試験用デー
タを読み出し、これを出力ボート１３を介して、被試験
装置１に送出する（ステップＳ５）、そして、被試験装
置１側で試験が実行され（ステップＳ６）、その後、試
験が終了か否かが判断される（ステップＳ７）、試験が
終了していなければ、再びステップＳ１に戻り、ステッ
プＳ５において記憶部１５から次の試験用データが送出
される。FIG. 6 shows an explanatory diagram of the operation of the apparatus of the present invention. First, when the test starts (step S1), a key manual power waiting message is displayed (step S2), and when key manual power permission is issued (step S3), while determining the input interval time up (step S4), the control unit 11 of the test support device 10 reads the test data from the storage unit 15, and sends it to the device under test 1 via the output port 13 (step S5). The test is executed on the side (step S6), and then it is determined whether the test is finished (step S7). If the test is not finished, the process returns to step S1 again, and the next data is stored from the storage unit 15 in step S5. Test data will be sent.

この、試験用データは、はじめにキーホード２を用いて
入力したと同一の順序で読み出される。This test data is read out in the same order as when it was first input using the keyboard 2.

従って、被試験装置１において試験用データの入力要求
を行なうと、その都度、記憶部１５から必要な試験用デ
ータの読み出しが行なわれ、オペレータの手を煩わせず
、キーホード２無しに、試験支援装置１０が自動的に試
験用データを被試験装置１に供給することができる。Therefore, whenever a request for input of test data is made in the device under test 1, the necessary test data is read out from the storage unit 15 each time. The device 10 can automatically supply test data to the device under test 1.

尚、第６図ステップＳ４においては、制御部１１から試
験用データと共に、入力インタバル情報を読み出す。そ
して、例えば、キー人力待ちメツセージが表示されたと
き、オペレータが実際にその該当する試験用データを入
力する時間を入力インタバル情報と設定する。タイマ回
路１４は、キー人力待ちメツセージの表示が行なわれた
後、直ちに計時を開始し、入力インタバル情報に従った
時間を掲示し、これがタイムアツプした時ステップＳ５
に移行するよう制御を行なう。このようなタイマ回路１
４の動作により、実際にオペレータが試験項目に従って
、試験用データを入力して行く状態を忠実に再現するこ
とができる。Incidentally, in step S4 in FIG. 6, input interval information is read out from the control section 11 together with the test data. Then, for example, when a key human power waiting message is displayed, the time for the operator to actually input the corresponding test data is set as input interval information. The timer circuit 14 immediately starts measuring time after the message of waiting for key human power is displayed, displays the time according to the input interval information, and when the timer circuit 14 times out, the timer circuit 14 executes step S5.
Control is performed to shift to . Such a timer circuit 1
By the operation 4, it is possible to faithfully reproduce the situation in which an operator actually inputs test data according to test items.

また、こうして、各被試験装置１に対し、同一条件で試
験を行なうことが可能となる。Moreover, in this way, it becomes possible to test each device under test 1 under the same conditions.

本発明は、以上の実施例に限定されない。The present invention is not limited to the above embodiments.

上記実施例においては、記憶部１５を例えばランダム・
アクセス・メモリ等で構成し、ここに試験用データや入
力インタバル情報を格納するようにした。In the above embodiment, the storage unit 15 is
It consists of access memory, etc., and test data and input interval information are stored here.

しかしながら、予め、入力すべき試験用データが明確に
なっている場合、これを別途フロッピディスク等に収納
し、試験時試験支援装置１０に装置するようにしても差
し支えない。However, if the test data to be input is known in advance, it may be stored separately in a floppy disk or the like and stored in the test support device 10 during the test.

第７図にこのような本発明の試験支援装置変形例ブロッ
ク図を示す。FIG. 7 shows a block diagram of a modified example of the test support device of the present invention.

図の装置には、制御部１１にフロッピディスク１５’が
接続されている。これは、第１図に示す記憶部１５に代
わるもので、制御部１１がフロッピディスク１５′をア
クセスし、その内容を読み取ることによって、先に説明
したと同様の処理が可能となる。In the illustrated apparatus, a floppy disk 15' is connected to a control section 11. This replaces the storage section 15 shown in FIG. 1, and allows the control section 11 to access the floppy disk 15' and read its contents, thereby making it possible to perform the same processing as described above.

尚、第１図の実施例においても、第７図の実施例におい
ても、それぞれ記憶部１５に入力インタバル情報を格納
する例を示したが、キー人力待ちメツセージに対し、キ
ー人力を行なうタイミングがそれほど重要でないような
場合、記憶部１１に′はディスクのみを設け、試験用デ
ータをその都度入力順に読み出して、試験を進めるとい
った構成としても差し支えない。In the embodiment shown in FIG. 1 and in the embodiment shown in FIG. 7, the input interval information is stored in the storage unit 15, but the timing of performing the key manual operation for a message waiting for key manual input is different. In cases where it is not so important, the storage unit 11 may be provided with only a disk, and the test data may be read out in the order of input each time to proceed with the test.

又、上記実施例においては、金融機関等の窓口端末装置
等を被試験装置とした例を示したが、本発明の装置は独
立した１台の情報処理装置だけでなく何等かの情報処理
装置が通信回線等を介して接続されたネットワークや１
台の情報処理装置に多数の周辺装置が取付けられた情報
処理システムの試験にも使用することが可能である。In addition, in the above embodiment, an example was shown in which a teller terminal device of a financial institution, etc. was used as the device under test, but the device of the present invention is not only an independent information processing device, but also an information processing device of some kind. A network or 1 that is connected via a communication line etc.
It can also be used to test information processing systems in which a large number of peripheral devices are attached to a single information processing device.

（発明の効果） 以上説明した本発明の試験支援装置は、被試験装置に入
力されるべき各種の試験用データを予め、記憶部に格納
しておき、その試験用データを順に読み出して、被試験
装置に送出するようにしたので、オペレータによるキー
ボード操作なしに自動的に試験用データを被試験装置に
入力することができる。従って、複数台の被試験装置を
試験する場合に、オペレータの負担を軽減することがで
きる。(Effects of the Invention) The test support device of the present invention described above stores various test data to be input to the device under test in advance in the storage unit, reads out the test data in order, Since the data is sent to the test device, the test data can be automatically input into the device under test without any keyboard operations by an operator. Therefore, when testing a plurality of devices under test, the burden on the operator can be reduced.

又、タイマ回路により試験用データの入力インタバルを
計時し、オペレータがキーボード操作をする場合と同様
のタイミングで試験用データを入力するようにすれば、
より実際的な状態での試験が可能となり、又、各被試験
装置に対し、はぼ均一の条件で試験を行なうことが出来
るため、自動的により信頼性の高い試験を実施すること
ができる。In addition, if the timer circuit measures the input interval of test data and inputs the test data at the same timing as when the operator operates the keyboard,
Tests can be performed under more realistic conditions, and each device under test can be tested under more or less uniform conditions, making it possible to automatically perform more reliable tests.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は本発明の試験支援装置実施例を示すブロック図
、第２図は従来の端末装置試験方法説明図、第３図は従
来方法フローチャート、第４図は本発明の試験支援装置
実施例外観説明図、第５図は試験用データの格納動作フ
ロ、−チャート、第６図は本発明の装置の動作フローチ
ャート、第７図は本発明の試験支援装置変形例ブロック
図である。 】・・・被試験装置、２・・・キーボード、１０・・・
試験支援装置、１１・・・制御部、１４・・・タイマ回
路、１５・・・記憶部。 特許出願人　沖電気工業株式会社 代理人　鈴　木　敏　明　　′、゛ ・へ２ノ′ 従来の端末装置試験方法説明図 第　　２　　図 従来り法フローチャート 第　　３　　図 本発明の試験支援装置実施例外ａ図 第　　４　　図 試験用データの格納フローチャート 第　　５　　図 本発明の装置の動作フローチャート 第　　６　　図 本発明の試験支援装置変形例ブロック図第　　７　　図FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the test support device of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a conventional terminal device testing method, FIG. 3 is a flowchart of the conventional method, and FIG. 4 is an embodiment of the test support device of the present invention. FIG. 5 is a flowchart of the storage operation of test data, FIG. 6 is a flowchart of the operation of the apparatus of the present invention, and FIG. 7 is a block diagram of a modified example of the test support apparatus of the present invention. ]...Device under test, 2...Keyboard, 10...
Test support device, 11...control unit, 14...timer circuit, 15...storage unit. Patent Applicant: Toshiaki Suzuki, Agent for Oki Electric Industry Co., Ltd. Figure 2: Explanatory diagram of a conventional terminal device testing method Figure 2: Flowchart of the conventional method Figure 3: Exception to the implementation of the test support device of the present invention Figure a FIG. 4 Flowchart for storing test data FIG. 5 Flowchart of operation of the device of the present invention FIG. 6 Block diagram of a modified example of the test support device of the present invention FIG. 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】 １、キーボードから所定の試験装置に入力されるべき複
数の試験用データを格納する記憶部と、前記記憶部から
前記試験用データをその入力順に読み出して別の被試験
装置に対して送出する制御部とを備えたことを特徴とす
る試験支援装置。 ２、キーボードから所定の被試験装置に入力された複数
の試験用データの入力インタバルを計時するタイマ回路
と、 前記複数の試験用データとこれらの入力インタバル情報
とを併せて格納する記憶部と、 前記記憶部から前記試験用データをその入力順に読み出
して、前記入力インタバル情報に従って、別の被試験装
置に対してキーボード入力時のインタバルで前記試験用
データを送出する制御部とを備えたことを特徴とする試
験支援装置。[Scope of Claims] 1. A storage unit that stores a plurality of test data to be input into a predetermined test device from a keyboard, and a storage unit that reads out the test data from the storage unit in the order in which they are input to another device under test. A test support device characterized by comprising: a control unit that sends out data to a computer. 2. A timer circuit that measures the input interval of a plurality of test data input to a predetermined device under test from a keyboard; and a storage unit that stores the plurality of test data and their input interval information; and a control unit that reads the test data from the storage unit in the input order and sends the test data to another device under test at intervals during keyboard input according to the input interval information. Characteristic test support equipment.