JPH04166789A - 測量機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、走査光学系から測定光束を出射させて、第一
方向としての水平方向に走査するのを一走査として、そ
の方向と直角な第二方向としての垂直方向に測定光束を
偏向させながらその走査を所定回数行って反射部材とし
てのコーナーキューブを二次元的に走査して、反射部材
の第一方向位置と第二方向位置とを求めることにより、
反射部材に測量機本体を自動追尾させる測量機に関し、
更に詳しくは反射部材までの距離を測距するための測距
手段としての測距光学系を備えた光波測距装置に関する
。

（従来の技術） 従来から、測量機として光波測距装置が知られているが
、この光波測距装置は船舶の甲板等に設置しで用いられ
る場合がある。その光波測距装置は測距光学系を有して
おり、この光波測距装置から遠く離れた測点に設置の反
射部材としてのコーナーキューブに向かって光波を出射
し、そのコーナーキューブからの反射光波を受光し、測
点までの距離を測定するようになっている。

ところで、光波測距装置を船舶の甲板などに設置して測
距を行う場合、船舶の捕れ等によって反射部材としての
コーナキューブを見失うことがある。そこで、近時は、
そのコーナキューブを自動追尾できるようにした光波測
距装置が開発されつつある。

（発明が解決しようとする課題） この従来の光波測距装置は、測距光学系を内蔵する測量
機本体としての光波測距装置本体そのものを水平方向、
垂直方向に回動させてコーナーキューブを探索走査し、
そのコーナキューブに光波測距装置を自動追尾させる構
成であり、機械的に探索する構造であるので探索走査に
時間がかかるという不具合がある。

そこで、走査光学系を用いて測定光束を第一方向に走査
するのを一走査として、その第一方向と直角な第二方向
に測定光束を偏向させながら、この走査を所定回数行う
ことにより、測定光束を二次元的に走査し、第一方向走
査開始時点から第一方向に沿っての走査により反射光束
が受光系に入射するまでの走査時間に基づき反射部材の
第一方向位置を検出し、受光系に反射光束が入射するま
での走査回数により反射部材の第二方向位置を検出し、
これによって自動追尾を行う自動追尾型光波測距装置が
考えられている。

ところで、測点までの距離が非常に遠いと、第１３図に
示すように、光波測距装置本体１００に設けられた走査
光学系１０１から出射された測定光束Ｐが反射部材１０
２により反射されて反射光束Ｐ′として受光系１０３に
戻った時点では、測定光束Ｐの出射方向は、符号Ｐ′で
示す方向を向いている。従って、第１４図に示すように
、第一方向走査開始時点ｔｉ＋がら第一方向Ｈに沿って
の走査により反射光束Ｐ′が受光系１０３に入射するま
での走査時間ｔ＝ｔｓ−ｔ１に基づき反射部材ＬＯ２の
第一方向位置１０４を演算により求めようとすると、光
波測距装置本体１００と反射部材１０２との距離に起因
する測定光束Ｐの出射時点ｔ２から受光時点ｔ３までの
受光時間差（ｔ３−ｔ２）−２Ｌ（距離）／Ｃ（光束）
、すなわち、測定光束Ｐを出射してからその測定光束Ｐ
が反射部材１０２により反射され、その反射光束Ｐ′が
受光系１０３により受光されるまでの経過時間（ｔ３　
ｔ２）に基づき、反射部材１０２の実際の第一方向位置
１０４と反射部材１０２の見かけの第一方向位置１０５
との間に位置検出誤差△が発生する。従って、反射部材
１０２の第一方向位置を正確に検出できず、ひいては自
動追尾を正確に行うことができないことになる。

本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、その目
的とするところは、測量機本体と前記反射部材との距離
に起因する出射時点から受光時点までの受光時間差に基
づく反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際
の第一方向位置との位置検出誤差を補正して正確に反射
部材の第一方向位置を求めることのできる測量機を提供
することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明に係わる請求項１に記載の測量機は、上記の課題
を解決するため、 測定光束を第一方向に走査するのを一走査として、その
方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させながら前記
走査を所定回数行うことにより測定点に設けられた反射
部材を二次元的に走査する走査光学系の投光系と、 該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
前記反射部材により反射された測定光束を受光する走査
光学系の受光系と、 該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
り前記反射部材の第二方向位置を検出するとともに、前
記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査
により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
に基づき前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部
と、該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点
に向けて自動追尾させる制御手段と、前記反射部材まで
の距離を測定する距離測定手段とを備え、 前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に起
因する出射時点から受光時点までの時間差に基づく前記
反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第
一方向位置との位置検出誤差を、前記測距光学系により
求められた距離に基づいて補正する補正手段を有するこ
とを特徴とする。

本発明に係わる請求項２に記載の測量機は、上記の課題
を解決するため、 測定光束を第一方向に走査するのを一走査として、その
方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させながら前記
走査を所定回数行うことにより測定点に設けられた反射
部材を二次元的に走査する走査光学系の投光系と、 該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
反射部材により反射された測定光束を受光する走査光学
系の受光系と、 該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
り反射部材の前記第二方向位置を検出するとともに、前
記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査
により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
により前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部と
、 該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に向
けて自動追尾させる制御手段とを備え、前記演算部は、
測量機本体と前記反射部材との距離に起因する出射時点
から受光時点までの受光時間差に基づく反射部材の見か
けの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向位置との
位置検出誤差を、正方向と逆方向とに前記第一方向の走
査を行って、正方向の走査により得られた反射部材の見
かけの第一方向位置と逆方向の走査により得られた反射
部材の見かけの第一方向位置とにより相殺して、反射部
材の実際の第一方向位置を求める補正手段を有すること
を特徴とする。

（作　用） 本発明に係わる請求項１に記載の測量機によれば、走査
光学系の投光系は、測定光束を第一方向に走査するのを
一走査として、その方向と直角な第二方向に測定光束を
偏向させながらその走査を所定回数行うことにより測定
点に設けられた反射部材を二次元的に走査する。走査光
学系の受光系は、その走査光学系により出射された測定
光束のうち反射部材により反射された測定光束を受光す
る。演算部は、その受光系に反射光束が入射するまでの
走査回数により反射部材の第二方向位置を検出するとと
もに、第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての
走査により反射光束が受光系に入射するまでの走査時間
に基づき反射部材の第一方向位置を検出する。

補正手段は、測量機本体と反射部材との距離に起因する
出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射部
材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向
位置との位置検出誤差を、測距光学系により求められた
距離に基づいて補正する。制御手段は、位置検出誤差を
補正した上で演算部からの信号により測量機本体を測定
点に向けて自動追尾させる。

本発明に係わる請求項２に記載の測量機によれば、補正
手段は、測量機本体と反射部材との距離に起因する出射
時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射部材の
見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向位置
との位置検出誤差を、正方向と逆方向とに第一方向の走
査を行って、正方向の走査により得られた反射部材の見
かけの第一方向位置と逆方向の走査により得られた反射
部材の見かけの第一方向位置とにより相殺して、反射部
材の実際の第一方向位置を求める。

（実施例） 以下、本発明に係わる測量機を光波測距装置に適用した
実施例を図面を参照しつつ説明する。

第１＠において、１は測量台、２は測点に設置された反
射部材としてのコーナキューブである。

測量台１はたとえば船舶の甲板などに設置されている。

この測量台１には光波測距装置３が据え付けられている
。この光波測距装置３は固定台４と水平回動部５とを有
する。水平回動部５は、第２図に示すように固定台４に
対して矢印Ａ方向に回転され、支持部６を有する。支持
部６には垂直方向回動軸７が設けられ、垂直方向回動軸
７には測量機本体としての測距装置本体８が設けられて
いる。測距装置本体８は、水平回動部５の回転により第
一方向に対応する水平方向に回動されると共に垂直方向
回動軸７の回転により第１図に矢印Ｂで示すように第二
方向に対応する垂直方向に回転される。

その測距装置本体８には測距手段としての測距光学系９
と走査光学系１０とが設けられている。この測距光学系
９は第３図に概略示すように投光部１１と受光部１２と
を有する。投光部１１は光源１３を有する。受光部１２
は受光素子１４を有する。光源１３は赤外レーザー光束
を出射する。その赤外レーザー光束はビームスプリッタ
１５のダイクロイックミラー１６により対物レンズ１７
に向けて反射され、カバーガラス１８を介して測距装置
本体８から平行光束として出射される。

赤外レーザー光束はコーナキューブ２により反射され、
カバーガラス１８を介して対物レンズ１７に戻り、ビー
ムスプリッタ１５のダイクロイックミラー１９により反
射され、受光素子１４に収束される。

その受光素子１４の受光出力は、図示を略す公知の計測
回路に入力され、コーナキューブ２までの距離が測距さ
れる。

測距光学系９は結像レンズ２０、レチクル板２１を有し
ており、可視光は対物レンズ１７、ダイクロイックミラ
ー１６．１９を通過して、結像レンズ２０に至り、レチ
クル板２１に収束され、測定者は接眼レンズ２２を介し
てコーナキューブ２を含めて測点箇所を視認できる。

走査光学系１０は第４図に示すようにレーザーダイオー
ド２３、コリメータレンズ２４、水平方向偏向素子２５
、垂直方向偏向素子２６、反射プリズム２７．２８．２
９、対物レンズ３０、カバーガラス３１、反射プリズム
３２、ノイズ光除去用フィルタ３３、受光素子３４を有
する。レーザーダイオード２３、コリメータレンズ２４
、水平方向偏向素子２５、垂直方向偏向素子２６、反射
プリズム２７．２８．２９は投光部を大略構成している
。対物レンズ３０、反射プリズム３２、ノイズ光除去用
フィルタ３３、受光素子３４は受光部を大略構成してい
る。水平方向偏向素子２５、垂直方向偏向素子２６はた
とえば音響光学素子から構成されている。

レーザーダイオード２３は測距光学系９の測距光波の波
長とは異なる波長の赤外レーザー光を測定光束Ｐとして
出射する。その赤外レーザー光はコリメータレンズ２４
によって平行光束にされ、水平方向偏向素子２５に導か
れる。この水平方向偏向素子２５は第５図に示すように
赤外レーザー光を水平方向（第一方向）Ｈに偏向させる
機能を有する。

垂直方向偏向素子２６は赤外レーザー光を垂直方向（第
一方向と直角な第二方向）■に偏向させる機能を有する
。その水平方向偏向素子２５、垂直方向偏向素子２６の
制御については後述する。

その赤外レーザー光はその水平方向偏向素子２５、垂直
方向偏向素子２６により水平方向、垂直方向に偏向され
て反射プリズム２７に導かれ、この反射プリズム２７に
より反射され、反射プリズム２８．２９を経由して対物
レンズ３０に導かれる。対物レンズ３０には貫通孔３５
が対物レンズ３０の光軸と同軸に形成されている。その
反射プリズム２９により反射された赤外レーザービーム
はその貫通孔３５を通って測距装置本体８の外部に出射
され、この赤外レーザービームによってコーナーキュー
ブ２の探索走査が行われる。探索範囲内にコーナキュー
ブ２があると、赤外レーザービームがコーナーキューブ
２により反射されて対物レンズ３０に戻る。その赤外レ
ーザービームはその対物レンズ３０により収束され、反
射プリズム３２により反射され、ノイズ光除去用フィル
ター３３を通過して受光素子３４に結像される。ノイズ
光除去用フィルター３３は赤外レーザービームの波長と
同一の波長の光を透過させる機能を有する。

この走査光学系１０によれば、投光部と受光部とが同軸
であるので、コーナキューブ２により反射された赤外レ
ーザービームを確実に受光できるメリットがある。また
、ノイズ光除去用フィルター３３を設けであるので、赤
外レーザービームの波長以外の波長の光をカットでき、
探索走査を確実に行うことができる。

第６図は制御手段のブロック回路図を示すもので、この
第６図において、３６は制御手段の一部を構成するマイ
クロコンピュータ、３７は水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ
）スキャンコントローラ、３８は基準パルス発生器、３
９はＨ方向Ｄ／Ａコンバータ、４０は■方向Ｄ／Ａコン
バータ、４１．　４２はスィーブオスシレータ、４３は
加算器、４４．４４’　はドライバ、４５．４５′はモ
ータ、４６．４６′はエンコーダである。

モータ４５の回転は歯車列などからなる減速機構（図示
を略す）を介して、水平回動部５又は垂直回動軸７に伝
達されるものである。エンコーダ４６．４６′はモータ
４５．４５’の回転に基づき検出パルスをマイクロコン
ピュータ３６に向かって出力する。

レーザーダイオード２３はマイクロコンピュータ３６に
よって駆動制御される。マイクロコンピュータ３６は水
平方向（Ｈ）、垂直方向（Ｖ）の探索走査のためのスタ
ートパルスＴＳを水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャ
ンコントローラ３７に向かって出力する。水平方向・垂
直方向（Ｈ−Ｖ）スキャンコントローラ３７はそのスタ
ートパルスＴＳに基づいて基準パルス発生器３８のクロ
ッグパルスＣＬをカウントし、そのカウント値ＨＣＴを
Ｈ方向Ｄ／Ａコンバータ３９に出力する。Ｈ方向Ｄ／Ａ
コンバータ３９はそのカウント値ＨＣＴに基づき第７図
に示すように周期的に三角波電圧ＴＲを発生する。この
三角波電圧ＴＲの一周期は一水平探索走査に対応してい
る。この三角波電圧ＴＲはスィーブオスシレータ４１に
入力される。スィーブオスシレータ４１は三角波電圧Ｔ
Ｒを周波数変換して、水平方向偏向素子２５を駆動する
。その水平方向偏向素子２５は三角波電圧ＴＲの電圧値
に対応した水平方向角度に赤外レーザービームを偏向さ
せる。

水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャンコントローラ３
７は一水平走査が終了するたびにスキャン同期信号ＳＣ
をマイクロコンピュータ３６に向かって出力する。Ｈ−
Ｖスキャンコントローラ３７はスキャン同期信号ＳＣを
カウントし、カウント値■ＣＴを■方向Ｄ／Ａコンバー
タ４０に出力する。■方向Ｄ／Ａコンバータ４０はその
カウント値ＶＣＴに基づき一水平走査毎に電圧が高くな
る階段波電圧Ｗ■を発生する。その階段波電圧Ｗ■はス
ィーブオスシレータ４２に入力されている。スィーブオ
スシレータ４２は階段波電圧Ｗｖを周波数変換して、垂
直方向偏向素子２６を駆動する。その垂直方向偏向素子
２６はその階段波電圧Ｗｖに対応した垂直方内角度に赤
外レーザービームを偏向させる。

今、マイクロコンピュータ３６によって指令された探索
範囲が第８図に符号にで示すようなものであるとし、コ
ーナーキューブ２が走査線番号１から最終の走査線番号
ｒまでによって定義される一探索範囲内にあるものとす
る。走査線番号１の水平走査から走査線番号ｎ−２まで
の走査では、コーナーキューブ２がその走査範囲内にな
いので、赤外レーザービームはそのコーナーキューブ２
により反射されず、従って、受光素子３４にはその赤外
レーザービームの反射光束が戻らない。走査線番号ｎ　
−１から走査線番号ｎ＋１までの走査では、その走査範
囲内にコーナーキューブ２が存在する。

従って、受光素子３４には、その赤外レーザービームの
反射光束が戻る。従って、受光素子３４は走査線番号ｎ
−１から走査線番号ｎ＋１までの走査の間に第９図に示
すような受光パルスＲＰを発生する。

その受光パルスＲＰは加算器４３に入力される。

加算器４３には水平方向・垂直方向（Ｈ−Ｖ）スキャン
コントローラ３７のクロックパルスＣＬが入力され、ス
タートパルスＴｓを含めてスキャン同期信号ＳＣ発生時
のカウント個数を「０」として受光パルスＲＰの立ち上
がり時のグロックパルスＣＬのカウント個数と受光パル
スＲＰの立ち下がり時のクロックパルスＣＬのカウント
個数とを一水平走査毎に加算する。マイクロコンピュー
タ３６はスキャン同期信号ＳＣが入力される都度、加算
器４３の出力値を読み取る。そして、−水平走査毎にそ
の出力値を算術平均する。これによって、コーナーキュ
ーブ２の水平方向位置が求められる。

たとえば、走査線番号ｎ−１から走査線番号ｎ＋１まで
の走査において受光パルスＲＰの立ち上がり時のカウン
ト値ＨＣＴを、Ｈｎ−１、Ｈｎ　％Ｈｎ＊＋％　　受光
パルスＲＰの立ち下がり時のカウント値ＨＣＴを、Ｈ’
ｎ−＋、Ｈ’ｎ、Ｈ’ｎ＊＋とすれば、走査線番号ｎ−
１の走査によるコーナーキューブ２の水平方向位置Ｈｎ
　−＋は、 Ｈｎ　−＋　＝　（Ｈｏ−＋　＋　Ｈ’　ｎ−＋　）　
／　２同様に、走査線番号ｎ、走査線番号ｎ＋１の走査
による水平方向のコーナーキューブ２の水平方向位置Ｈ
ｎＳ　Ｈｎや１は、それぞれ、 Ｈｎ＝　（Ｈ，＋Ｈ’　ｎ）／２ Ｈｎ＋１：　（Ｈｎ＊＋＋Ｈ’　ｎ＋＋）　／　２とし
て求められる。

従って、コーナーキューブ２の平均的な水平方向位置Ｈ
は、これらを平均して求めればよい。

ところが、第１０図に示すように、測定光束Ｐを第一方
向Ｈに走査するのを一走査として、第二方向に測定光束
を偏向させながらこの走査を所定回数行うことによって
二次元的にコーナーキューブ２を走査するに際して、第
一方向走査開始時点し自から第一方向Ｈに沿っての走査
により反射光束Ｐ′が走査光学系１０の受光系に入射す
るまでの走査時間ｔ＝ｔＩＩ　ｔ＋に基づき反射部材２
の第一方向位置１０４を演算により求めようとすると、
光波測距装置本体８と反射部材２との距離に起因する測
定光束Ｐの出射時点ｔ２から受光時点ｔ３までの受光時
間差（ｔａ　　ｔ２）、すなわち、測定光束Ｐを出射し
てからその測定光束Ｐが反射部材２によす反射され、そ
の反射光束Ｐ′が走査光学系１ｏの受光系により受光さ
れるまでの経過時間（ｔａ−ｔ２）に基づき、反射部材
２の実際の第一方向位置１０４と反射部材２の見かけの
第一方向位置１０５との間に位置検出誤差△が発生する
。

そこで、第１１図に示すように、第一方向の走査を逆方
向に行う。そして、見かけの第一方向位置１０５′を求
める。すなわち、逆方向の第一方向走査により得られた
走査時間をＬ′＝ｊ＠’　　ｔ＋’とし、第一方向の全
走査時間をＴ１　　正方向の真の走査時間をｑｌ　　逆
方向の真の走査時間をｔ′とすると、　ｔ＝ｑ十△、　
ｔ′　＝ｑ′　＋Δ、　ｑ＋ｑ’　　＝Ｔだから、ｔ’
　−ｔ＝ｑ’　−ｑ＝ｚとして、真の走査時間ｑは、 ｑ−（Ｔ−Ｚ）／２として求められ、位置検出誤差△が
正方向の見かけの第一方向位置と逆方向の見かけの第一
方向位置とを求めることによって相殺される。

コーナーキューブ２の垂直方向位置■は、受光素子３４
が赤外レーザー光束を受光したときの走査線番号の総和
をその受光回数で除算して求める。

たとえば、第８図に示す例の場合には、走査線番号の総
和は３ｎであり、受光回数は３回であるので、コーナー
キューブ２の垂直方向位置Ｖは、ｎとして求めることが
できる。

すなわち、反射部材２の第二方向位置は走査光学系１０
の受光系に反射光束が入射するまでの走査回数により検
出される。

その水平方向位置Ｈ１垂直方向位置■は適宜処理され、
測距装置本体８の追尾データが後述のようにして算出さ
れ、マイクロコンピュータ３６はこの追尾データに基づ
いて、ドライバ４４を制御する。

すなわち、モータ４５が駆動されて、測距装置本体は８
測距光学系９の光軸がコーナーキューブ２の方向を向く
ように水平方向、垂直方向に回動され、これによって、
コーナーキューブ２に対する自動追尾が行われる。

よって、マイクロコンピュータ３６は、走査光学系１０
の受光系に反射光束Ｐ′が入射するまでの走査回数によ
り反射部材２の第二方向位置を検出するとともに、第一
方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査により
反射光束が走査光学系の受光系に入射するまでの走査時
間により反射部材２の第一方向位置を検出する演算部と
して機能すると共に、測量機本体を測定点に向けて自動
追尾させる制御手段として機能する他、測量機本体と反
射部材との距離に起因する出射時点から受光時点までの
受光時間差に基づく反射部材の見かけの第一方向位置と
反射部材の実際の第一方向位置との位置検出誤差を、正
方向と逆方向とに第一方向の走査を行って、正方向の走
査により得られた反射部材の見かけの第一方向位置と逆
方向の走査により得られた反射部材の見かけの第一方向
位置とにより相殺して、反射部材の実際の第一方向位置
を求める補正手段として機能する。

なお、受光時間差と反射部材２までの距離との間には相
関関係があるので、測距光学系９により得られた距離に
基づき位置検出誤差△を補正してもよい。また、第１２
図に示すように、第一方向の走査を第二方向Ｖへの偏向
に伴って正方向Ｈ１逆方向Ｈ′に交互に行って補正する
構成とすることもできる。

（効　果） 本発明に係わる測量機は、以上説明したように構成した
ので、測量機本体と前記反射部材との距離に起因する出
射時点から受光時点までの受光時間差に基づく反射部材
の見かけの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向位
置との位置検出誤差を補正して正確に反射部材の第一方
向位置を求めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる光波測距装置の概略構成を示す
側面図、 第２図は本発明に係わる光波測距装置の概略構成を示す
平面図、 第３図は第１図に示す測距光学系の概略構成を示す光学
図、 第４図は第１図に示す走査光学系の概略構成を示す光学
図、 第５図は第４図に示す走査光学系の偏向状態を模式的に
説明するための斜視図、 第６図は本発明に係わる光波測距装置の制御手段のブロ
ック図、 第７図は第６図に示す制御手段のタイミングチャー　ト
、 第８図は本発明に係わる光波測距装置による探索範囲の
一例を示す図、 第９図は第６図に示す受光素子の受光パルスの一例を示
す図、 第１０図は正方向の第一方向走査の説明図、第１１図は
逆方向の第一方向走査の説明図、第１２図は正方向逆方
向走査の他の例を示す説明図、 第１３図は測量機の走査の一例を示す平面図、第１４図
は正方向走査のみに基づく位置検出誤差の説明図、 である。 ２・・・コーナーキューブ（反射部材）３・・・光波測
距装置 ８・・・測距装置本体（測量機本体） ９・・・測距光学系（測距手段） ｌＯ・・・走査光学系 ２５・・・水平方向偏向素子 ２６・・・垂直方向偏向素子 ３６・・・マイクロコンピュータ １０４・・・実際の第一方向位置 １０５・・・見かけの第一方向位置 Ｈ・・・第一方向 ■・・・第二方向 Ｐ・・・測定光束 第１０図 第１２図 第１１図 １０４’

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）測定光束を第一方向に走査するのを一走査として
   、その方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させなが
   ら前記走査を所定回数行うことにより測定点に設けられ
   た反射部材を二次元的に走査する走査光学系の投光系と
   、 該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
   前記反射部材により反射された測定光束を受光する走査
   光学系の受光系と、 該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
   り前記反射部材の第二方向位置を検出するとともに、前
   記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿つての走査
   により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
   に基づき前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部
   と、 該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に向
   けて自動追尾させる制御手段と、前記反射部材までの距
   離を測定する距離測定手段とを備え、 前記演算部は、測量機本体と前記反射部材との距離に起
   因する出射時点から受光時点までの受光時間差に基づく
   前記反射部材の見かけの第一方向位置と反射部材の実際
   の第一方向位置との位置検出誤差を、前記測距光学系に
   より求められた距離に基づいて補正する補正手段を有す
   ることを特徴とする測量機。
2. （２）測定光束を第一方向に走査するのを一走査として
   、その方向と直角な第二方向に測定光束を偏向させなが
   ら前記走査を所定回数行うことにより測定点に設けられ
   た反射部材を二次元的に走査する走査光学系の投光系と
   、 該走査光学系の投光系により出射された測定光束のうち
   反射部材により反射された測定光束を受光する走査光学
   系の受光系と、 該受光系に前記反射光束が入射するまでの走査回数によ
   り反射部材の前記第二方向位置を検出するとともに、前
   記第一方向の走査開始時点から第一方向に沿っての走査
   により反射光束が前記受光系に入射するまでの走査時間
   により前記反射部材の第一方向位置を検出する演算部と
   、 該演算部からの信号により測量機本体を前記測定点に向
   けて自動追尾させる制御手段とを備え、前記演算部は、
   測量機本体と前記反射部材との距離に起因する出射時点
   から受光時点までの受光時間差に基づく反射部材の見か
   けの第一方向位置と反射部材の実際の第一方向位置との
   位置検出誤差を、正方向と逆方向とに前記第一方向の走
   査を行つて、正方向の走査により得られた反射部材の見
   かけの第一方向位置と逆方向の走査により得られた反射
   部材の見かけの第一方向位置とにより相殺して、反射部
   材の実際の第一方向位置を求める補正手段を有すること
   を特徴とする測量機。
3. （３）前記第一方向の正方向・逆方向走査を第二方向へ
   の偏向に伴つて交互に行うことを特徴とする特許請求の
   範囲第２項に記載の測量機。