JPH041620B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

（産業上の利用分野） 本発明は、人眼の障害検査装置、殊に人眼水晶
体の検査装置に関する。さらに詳細に述べると、
本発明は、人眼水晶体の光断面像の観察または記
録と、徹照法による水晶体の観察または記録によ
り、眼障害たとえば自内障の有無あるいはその進
行状態を知ることのできる眼障害検査装置に関す
る。 （従来技術） 人眼水晶体にスリツト光を投影し、そのスリツ
ト光投影軸に対し斜め方向から水晶体を観察する
ことにより、水晶体の光断面像を観察できるよう
にした、眼球水晶体断面観察装置はすでに公知で
ある。このばあい、観察光学系の結像面を、眼球
に投影されるスリツト光を含むをスリツト面と、
観察光学系の中の結像光学系の主平面との間の交
線を含む平面上に配置することにより、水晶体の
光断面像全体を合焦状態で観察できるようにする
ことも知られている。このような光学的配置はシ
ヤインプルの原理として知られているものであ
り、この原理を利用した水晶体断面観察装置は、
たとえば特願昭52−18511号に開示されている。
この公知の装置は、スリツト投影光により形成さ
れる水晶体の光断面像全体を合焦状態で観察でき
る利点はあるが、一回の観察は一つの断面につい
てしか行い得ないので、被検眼全体について観察
を行うには時間を要し、患者にあたる苦痛も大き
い。したたつて、たとえば白内障の検査のばあ
い、その白濁位置の正確な判断およびその経時的
な変化を常に観察し記録するには非常に不便であ
る。 水晶体の全体像の観察のために、被検眼にスリ
ツト光を投影し、スリツト投影光の眼底反射光に
より水晶体を照明するようにした方法も徹照法と
して知られている。また、この徹照法による観察
にさいし、有害角膜反射光が観察光学系に入り込
むのを防止するために、照明系に偏光子を、観察
系に検光子を配置することも知られており、その
例は、「臨床眼科」第32巻、第６号（1978年６月）
および日本眼科紀要1958年第62巻第380ページに
記載されている。しかし、従来の徹照法を利用し
た装置では、スリツト照明の照明方向の一定性、
照明光量の一定性、観察方向の一定性、観察位置
の一定性などについての保証がなく、記録、計測
などの対象にはなり得ない、という問題がある。 （発明の目的） 本発明は、被検眼水晶体の断面観察と徹照法に
よる全体観察の両方が可能であり、しかもそれら
の観察の記録も可能な眼障害検査装置を提供する
ことを目的とする。 （発明の構成） 上記目的を達成するため、本発明による眼障害
検査装置は次の構成を有する。すなわち、本発明
の装置は、被検眼にスリツト光を投影するための
スリツト投影手段と、該スリツト光による被検眼
水晶体の光断面を観察または撮像するための第１
光学系と、スリツト投影手段の投影光軸とほぼ同
軸の対物レンズ光軸を有する徹照法観察または撮
像用の第２光学系とを有する。本発明の好ましい
態様においては、第２光学系の結像点位置に、投
影スリツト光の水晶体入射位置を示す指標を有す
るレチクルが配置される。このレチクルと、第２
光学系の接眼レンズは、スリツト投影光学系の投
影光軸とほぼ同軸に配置し、スリツト投影光学系
と、水晶体の光断面を観察または撮像するための
第１光学系と、第２光学系のレチクルとは、スリ
ツト投影光軸のまわりに回転自在に配置すること
が好ましい。 さらに好ましい態様としては、第１光学系の接
眼レンズと第２光学系の接眼レンズとを共通に
し、両光学系のいずれか一方を選択して共通の光
学系により観察し得るようにする。また、第２光
学系による観察または撮像のさいに、有害角膜反
射光が観察または撮影光学系に入るのを防止する
ために、スリツト投影光学系に偏光板を配置し、
第２光学系にもこの偏光板による偏光光の偏光軸
と直角な偏光軸を持つ別の偏光板を配置すること
が好ましい。この第２光学系に配置される偏光板
は光路に対し挿脱自在にすることが好ましい。ま
た、第１光学系は、結像レンズの主平面と結像面
とが、水晶体の光断面に対しシヤインプルフの原
理を満足するように配置することが好ましい。 （発明の効果） 本発明によれば、被検眼のスリツト光による光
断面を観察または撮像するための第１光学系と、
徹照法観察または撮像のための第２光学系とが設
けれれているので、一台の装置で被検眼水晶体の
断面像と徹照像とを得ることができ、白内障など
の眼障害の経時的な変化を観察するのに非常に便
利である。また、徹照像の観察または撮像のため
の第２光学系にスリツト投影位置を示す指標を設
け、これを撮像時に徹照像とともに写し込むよう
にすれば、白内障などの経時変化の観察記録にさ
いし、同一のスリツト断面を容易に得ることがで
き、非常に便利である。 （実施例の説明） 全体構成 第１図を参照すると、本発明を実施した眼障害
検査装置は、スリツト投影光学系１０と、水晶体
断面撮影光学系２０と、徹照法撮影光学系３０
と、観察光学系４０と、濃度チヤート撮影系４５
とからなり、これらの光学系はすべてハウジング
１００内に収容されている。 スリツト投影光学系１０ スリツト投影光学系１０は、光源として観察用
タングステン電球１０１と写真撮影用キセノンラ
ンプ１０３とを有し、タングステン電球１０１と
キセノンランプ１０３との間には集光レンズ１０
２が配置されている。さらに、光源からの光束を
投影光路１０ａに沿つて導くために、集光レンズ
１０４が設けられており、投影光路１０ａに沿つ
て絞り１０５およびスリツト絞り１０６が配置さ
れている。スリツト絞り１０６は、光源からの光
束を細いスリツト状にして通すもので、このスリ
ツト絞り１０６を通過したスリツト光束は、第１
対物レンズ１０７を通り、ミラー１１０により直
角に反射されたのち、第２対物レンズ１０８を通
つてハーフミラー１０９により直角に反射され、
被検眼Etに投影光軸O₀方向に投影される。投影
光路１０ａには、必要に応じてフイルター１１１
が出し入れ可能に配置される。 集光レンズ１０２は、タングステン電球１０１
のフイラメント像をキセノンランプ１０３の電極
間隙すなわち発光点位置に集光させ、集光レンズ
１０４は、これらの光源からの光を平行光束とす
る。第１対物レンズ１０７は、スリツト絞り１０
６の位置に前側焦点をもち、スリツト絞り１０６
を通つた光束を平行光束とする。第２対物レンズ
１０８は第１対物レンズ１０７を通つた光束を被
検眼Etの前眼部主水晶体にスリツト像S₀として
結像させる。一般のスリツトランプにおいてよく
知られているように、スリツト絞り１０６はスリ
ツト長およびスリツト巾を任意に調節可能とする
ことが望ましく、またスリツト絞り１０６に近接
して種々の開口径をもつ円形開口板を配置して、
任意の大きな円形スポツト光を被検眼前眼部に投
影できるようにすることが望ましい。さらに、投
影光路１０ａには偏光フイルタからなる偏光子１
１２が後述の目的で挿入される。 水晶体断面撮像光学系２０ この光学系２０は、結像レンズ２０１とはね上
げミラー２０２と撮像フイルム面２０３とを有す
る。結像レンズ２０１はその光軸２０ａが被検眼
Et上のスリツト像S₀に対し斜めになるように配
置され、撮像フイルム面２０３も、光軸２０ａに
対し斜めに配置されている。結像レンズ２０１と
フイルム面２０３とは、被検眼Et上のスリツト
像S₀に対しシヤインプルフの原理を満足するよう
に、すなわち結像レンズ２０１の主面２０１ａと
フイルム面２０３の延長とが、スリツト像S₀を含
む平面上で交わるように配置される。この配置に
より、フイルム面２０３上に形成されるスリツト
断面像S₁は、断面ほぼ全体で合焦状態にすること
ができる。 はね上げミラー２０２は撮像フイルム面２０３
の前方に配置され、常時は撮像光路内に図に実線
で示すように挿入され、結像レンズ２０１を通る
光束を光軸２０ｂ方向に観察光学系４０に向けて
反射する。このミラー２０２は、図示しないシヤ
ツターと同期して、図に想像線で示す位置にはね
上げられ、結像レンズ２０１からの光束をフイル
ム面２０３に通す。 徹照法撮影光学系３０ この光学系３０は、スリツト投影光学系１０の
透過光軸すなわちスリツト光束の投影光軸O₀上
に光軸O₁を有するように配置された対物レンズ
３０１を有し、この対物レンズ３０１を通つた光
束を結像させるためにレチクル３０２が設けられ
る。レチクル３０２からの光束は、ミラー３０３
により反射され、リレーレンズ３０４，３０７を
経てはね上げミラー２０２にむけられる。リレー
レンズ３０７からの光束は、撮影時すなわちはね
上げミラー２０２が図に想像線で示すはね上げ位
置にあるときに、該ミラー２０２によりフイルム
面２０３に向けられて、フイルム面２０３に被検
眼Etの水晶体の全体像を結像させる。リレーレ
ンズ３０４，３０４間には偏光板からなる検光子
３０６が設けられており、この検光子３０６はそ
の偏光軸の方向が偏光子１１２の偏光軸と直角に
なるように配置され、投影光の被検眼角膜におけ
る反射光がフイルム面に達するのを防止する。リ
レーレンズ３０４の後方にはハーフミラー３０５
があり、リレーレンズ３０４を通つた光束の一部
を観察光学系４０に向けて反射する。 観察光学系４０ この光学系４０は、光学系２０のはね上げミラ
ー２０２の反射光軸２０ｂ上に配置されたレチク
ル４０１を有する。このレチクル４０１はフイル
ム面２０３と共役に配置されており、後述の目的
で、第３図に示すように指標線４０１ａ，４０１
ｂを有する。そして、ミラー２０２が図の実線位
置にあるとき、被検眼Et上のスリツト像S₀に対
応したスリツト断面像S₁′がこのレチクル４０１
上に結像される。光軸２０ｂ上にミラー４０２が
あり、このミラー４０２は光軸２０ｂに沿つて入
射する光束を観察光軸O₂に沿つて反射する。観
察光軸O₂は、対物レンズ３０１の光軸O₁と同軸
でありこの光軸O₂上にはリレーレンズ４０３お
よび回転レクチル４０４が設けられている。リレ
ーレンズ４０３と回転レチクル４０４は、レチク
ル４０１に対しシヤインプルフの原理にもとづい
て光学的に配置されており、レチクル４０１上に
スリツト断面像S₁′はレンズ４０３によりレチク
ル４０４上にスリツト断面像S₁″を形成する。回
転レチクル４０４上の像を観察するために、接眼
レンズ４０５が設けられている。 徹照法撮影光学系３０のハーフミラー３０５の
反射光路には、リレーレンズ４０６が配置され、
リレーレンズ４０６を通つた光束はミラー４０７
により光軸O₂の方に反射される。光軸O₂上には
ハーフミラー４０８が配置されてミラー４０７か
らの光束を回転レチクル４０４に向けて反射し、
該レチクル４０４上被検眼Etの徹照像を形成す
る。また、ハーフミラー３０５の反射光路には、
検光子３０６と同様な検光子４０９が光路に対し
出し入れ自在に配置されている。また、この観察
光学系４０には、レチクル４０１からの光束とハ
ーフミラー３０５からの光束のいずれか一方を選
択的に回転レチクル４０４に導くための切換シヤ
ツター４１０が設けられている。 指標投影系 第５図および第６図に示すように、レチクル３
０２は、保持枠５００と、これに嵌入接着された
透明なガラス板５０１から成り、ガラス板５０１
には周方向に90゜間隔に刻線溝５０２，５０３，
５０４，５０５が形成されている。この刻線溝５
０２〜５０５の各々の上には、内壁が光反射性を
有する半円管５３０，５３１，５３２，５３３が
接着されている。 一方保持枠５００には、周方向にそつて溝５１
０，５１１，５１２，５１３が形成され、これら
溝内には、それぞれオプテイカルフアイバー５２
０，５２１，５２２，５２３がそれぞれ嵌入接着
されている。これらオプテイカルフアイバーの射
出端面５２０ａ，５２１ａ，５２２ａ，５２３ａ
は斜めに切断されており、この斜切断面が上方に
くるよう上記刻線溝の端部に配置されている。４
本のオプテイカルフアイバー５２０〜５２３は一
束のフアイバー５２４にまとめられ、投影光学系
１０に配線され、途中から２又に分岐され１方の
入射端５２５はキセノンランプ１０３に他方の入
射端５２６はタングステンランプ１０１に対置さ
れている。入射端５２６とタングステンランプ１
０１の間にはたとえばグリーン色の単色フイルタ
ー５４０が配置される。 タングステンランプ１０１からの光はフイルタ
ー５４０でグリーン光にされオプテイカルフアイ
バーに入射し、射出端から射出される。このとき
射出端面は斜切断されているため射出光の多くは
ガラス板５０１の刻線溝５０２〜５０５側に屈折
射出され、さらに刻線溝壁の拡散面で拡散された
後ガラス板５０１を透過しミラー３０３側へ射出
していく。また刻線溝と反射側に射出した光束
は、半円管５３０〜５３３の反射内壁で反射され
刻線溝へ入射される。 回転レチクル４０４は第１図および第７図に示
すように透明ガラス板に２本の水平黒線４０４ｄ
をもつ観察視野部４０４ａとその円周方向にそつ
て形成された光学式あるいは磁気式のコード板部
４０４ｂと、このコード板のコードを検出する検
出ヘツド４０４ｃとから構成され、観察視野部４
０４ａは観察光軸を回転軸として回転可能に保持
され、検出ヘツド４０４ｃは接眼鏡筒に固定され
ている。検出ヘツド４０４ｃはレチクル回転量を
検出し、それを検出回路１０００で回転角値に変
換し、表示器１１００にてデジタル表示させる。
一方、回路１０００からの回転角値はデータ写し
込みコントローラ１２００を介してフイルム２０
３に直接配置されたデータ写込ヘツド１３００を
発光させフイルム上に回転角値をデジタル撮影す
る。 濃度チヤート撮影系４５ 第１図に示すように、オプテイカルフアイバー
４５１が一端をキセノンランプ１０３に向けて配
置され、オプテイカルフアイバー４５１の他端は
リレーレンズ４５２、NDフイルタ４５３および
濃度チヤート４５４からなる光学系に対向して置
かれている。。濃度チヤート４５４を通つた光束
はミラー４５６により反射されたのち、結像レン
ズ４５５を通り、はね上げ状態のミラー２０２に
より反射されてフイルム面２０３上に結像する。
これらの光学配置により濃度チヤート撮影系４５
が形成される。 ハウジング１００とその保持手段 前述のように、ハウジング１００内には上述の
光学系が収められており、このハウジング１００
は、Ｕ字型アームなどの適当な支持手段５によ
り、同軸は光軸O₀，O₁，O₂まわりに回転自在に
支持されている。接眼レンズ４０５と回転レチク
ル４０４の検出ヘツド４０４ｃは、保持手段５の
固定部に固着されており、ハウジング１００が回
転したときにも静止状態に保たれるように構成さ
れている。 作 動 シヤツター４１０を操作し、徹照法観察系を開
き、かつ検光子４０９を光路から引込めたのち、
投影光学系１０の観察用光源１０１を点燈し、ス
リツト１０６からのスリツト光を被検眼に投射す
る。光源１０からの光はグリーン色フイルター５
４０とオプテイカルフアイバー５２４を通り、レ
チクル３０２の刻線５０２〜５０５を照明し検者
は第２図に示すように接眼レンズ視野内にグリー
ン十字線像５０２′〜５０５′を観察できる。被検
眼と本装置のアライメントが不完全なとき、第２
ａ図に示すように被検眼瞳像Ｐとスリツト光の被
検眼角膜による一部反射光による像Ｒは、その中
心が互いにずれるとともに、十字線像５０２′〜
５０５′の交点中心からもずれて観察される。保
持手段５の上下左右動調節により瞳像Ｐの中心を
スリツト像交点中心に合致させ、スリツト像Ｒが
水平スリツト像５０３′〜５０５′と合致するよう
にする（第２ｂ図）。 次いで、検光子３１０を光路内に挿入する。角
膜から反射してきたスリツト光によるスリツト像
Ｒは、その偏光軸が検光子３１０の偏光軸と直角
なため、検光子３１０によりカツトされる。一
方、スリツト光の眼底からの反射光は、眼底の拡
散作用により偏光性をほとんど消失した無偏光な
光束となり、この反射光により照明されて被検眼
の徹照像が形成される。したがつて、検光子３１
０でカツトされない光束による徹照像を検者は観
察でき、かつ、その観察は、角膜反射光の影響を
まつたく受けない。徹照像の焦点合わせは保持手
段の前後動によりなされる。 次に、徹照像をもとに、白内障部位例えばＣで
示す混濁部の断面像観察を望む場合は、回転レチ
クル４０４を回転させ黒線４０４ｄを所望断面経
線にセツトする。（第２ｃ図）。 再び光路内から検光子３１０を引込め、ハウジ
ングを回転し、スリツト光の角膜反射像Ｒ及びこ
れと合致している水平スリツト像５０３′，５０
５′が黒線４０４ｄと一致する位置へ移動させる
（第２ｄ図）。 次に、光路切換シヤツター４１０を切換え、水
晶体断面観察光学系側の光路を開ける。スリツト
光による水晶体の光断面像は結像レンズ２０１に
よりレチクル４０１上に一旦結像される。このレ
チクル４０１には第３図に示したように指標線４
０１ａ，４０１ｂが形成されている。この指標線
４０１ａに角膜断面像_CS₁′の前面が、指標線４０
１ｂに水晶体断面像_LS₁′が一致していることをチ
エツクする。もし一致していないときは、ハウジ
ング１００を前後動させ一致させる。この操作に
より徹照像位置を常に一定にしうる。レチクル４
０１上の断面像_LS₁′はミラー４０２、リレーレン
ズ４０３、ハーフミラー４０８を介して回転レチ
クル４０４上に結像され、その像S₁′を接眼レン
ズで観察する。 これら観察された徹照像、断面像を写真撮影す
る場合には、図示しない写真撮影用レリーズスイ
ツチを操作することにより、はね上げミラー２０
２がはね上げられると同時にキセノンランプ１０
３が点燈する。 はね上げミラー２０２のはね上がりにより、水
晶体断面撮影光路が開かれ、断面像がフイルム２
０３上に第４図に示すように写し込まれる。これ
と同時に、徹照法像は、レチクル３０２の十字線
像とともにハーフミラー３０５を透過し、検光子
３０６で角膜反射スリツト像がカツトされたの
ち、はね上げミラーのはね上がり位置で反射さ
れ、フイルム２０３に写し込まれる。 ハウジング１００の回転によりフイルム２０３
も一体に回転されるためにフイルム２０３上への
十字線像５０２′び〜５０５′の位置は変わらない
が、水晶体徹照像Ｐはハウジング１００の回転に
ともなう相対回転位置で写し込まれる。このた
め、水平十字線像５０３′，５０５′の位置がスリ
ツト切断面すなわち水晶体断面位置を示すことに
なる。 白内障の継時変化を観察・記録するために、前
回の撮影記録をもとに、同一水晶体経線の断面を
観察・記録したいときは、フイルム内の十字線回
転角データ１５００ａの数値に、まず回転レチク
ルの黒線４０４ｄを表示器１１００の表示を見な
がら合わせ、次に接眼レンズをのぞいて、そのセ
ツトされた黒線４０４ｄの位置に水平十字線像が
くるようにハウジング１００を回転させ、スリツ
ト投影方向をセツトさせる。 また同時に、濃度チヤート像４５４ａが濃度チ
ヤート撮影光学系を介してはね上げミラーのはね
上がり位置で反射され、フイルム２０３に写し込
まれる。 さらに、このフイルムには黒線４０４ｄの回転
角量、すなわちスリツト入射角量１３００ａがデ
ータ写し込みヘツドによりデジタル値として写し
込まれる。 その他の実施例 第８ａ図および第８ｂ図に示すように、刻線溝
５０２〜５０５の後に反射プリズム２０００をは
り合わせ、この反射プリズム２０００の一面にオ
プテイカルフアイバー５２４を接着し、フアイバ
ーからの光をプリズム２０００の反射面で反射さ
せ刻線溝から透過させるようにしてもよい。 また、接眼レンズの代わりに撮影管を設け、観
察用照射を赤外光によつて行つてもよく、撮影フ
イルムの代わりにVTR装置を使用してもよい。
さらに徹照法観察はスリツト光ではなく円形光束
で行つてもよい。 (Industrial Application Field) The present invention relates to an apparatus for inspecting disorders of the human eye, and particularly to an apparatus for inspecting the crystalline lens of the human eye. In more detail,
The present invention relates to an eye disorder testing device that is capable of determining the presence or absence of an eye disorder, such as autouctosis, or its progressing state, by observing or recording an optical cross-sectional image of the human eye lens and by observing or recording the crystalline lens using a transillumination method. . (Prior art) There is already an eyeball lens cross-section observation device that can observe an optical cross-sectional image of the crystalline lens by projecting a slit light onto the human eye lens and observing the lens from a direction oblique to the projection axis of the slit light. It is publicly known. In this case, the imaging plane of the observation optical system is the slit plane containing the slit light projected onto the eyeball,
It is also known that the entire optical cross-sectional image of the crystalline lens can be observed in a focused state by arranging it on a plane that includes the intersection line with the main plane of the imaging optical system in the observation optical system. There is. This optical arrangement is known as the shear pull principle, and a crystalline lens cross-section observation device that utilizes this principle is
For example, it is disclosed in Japanese Patent Application No. 52-18511.
This known device has the advantage of being able to observe the entire optical cross-sectional image of the crystalline lens formed by the slit projection light in a focused state, but since it is possible to observe only one cross-section at a time, it is possible to observe the entire optical cross-sectional image of the eye to be examined. Observations take time and are very painful for the patient. For example, in the case of cataract examination, it is extremely inconvenient to accurately determine the location of the opacity and to constantly observe and record its changes over time. In order to observe the entire image of the crystalline lens, a method in which a slit light is projected onto the subject's eye and the crystalline lens is illuminated by the fundus reflected light of the slit projected light is also known as the transillumination method. It is also known to place a polarizer in the illumination system and an analyzer in the observation system in order to prevent harmful corneal reflected light from entering the observation optical system during observation using this transillumination method. An example is "Clinical Ophthalmology" Volume 32, No. 6 (June 1978)
and Japanese Ophthalmology Bulletin, 1958, Vol. 62, Page 380. However, in devices using conventional transillumination methods, the illumination direction of the slit illumination is not constant,
There is a problem in that there is no guarantee regarding the consistency of the illumination light amount, the consistency of the observation direction, the consistency of the observation position, etc., and it cannot be used for recording or measurement. (Object of the Invention) An object of the present invention is to provide an eye disorder testing device that is capable of both cross-sectional observation of the lens of the eye to be examined and overall observation using transillumination, and also capable of recording these observations. . (Configuration of the Invention) In order to achieve the above object, an eye disorder testing device according to the present invention has the following configuration. That is, the apparatus of the present invention includes a slit projection means for projecting slit light onto the subject's eye, and a first unit for observing or imaging an optical cross section of the crystalline lens of the subject's eye using the slit light.
It has an optical system and a second optical system for transillumination observation or imaging having an objective lens optical axis substantially coaxial with the projection optical axis of the slit projection means. In a preferred embodiment of the present invention, a reticle having an index indicating the incident position of the projection slit light on the crystalline lens is disposed at the imaging point position of the second optical system. This reticle and the second
The eyepiece of the optical system is arranged approximately coaxially with the projection optical axis of the slit projection optical system, and includes the slit projection optical system, a first optical system for observing or imaging an optical cross section of the crystalline lens, and a second optical system. The reticle is preferably arranged rotatably around the slit projection optical axis. In a further preferred embodiment, the eyepiece of the first optical system and the eyepiece of the second optical system are made common, so that either one of the two optical systems can be selected for observation using the common optical system. Furthermore, in order to prevent harmful corneal reflected light from entering the observation or imaging optical system during observation or imaging using the second optical system, a polarizing plate is arranged in the slit projection optical system,
It is preferable that another polarizing plate having a polarization axis perpendicular to the polarization axis of the polarized light by this polarizing plate is disposed in the second optical system as well. It is preferable that the polarizing plate disposed in the second optical system be freely inserted into and removed from the optical path. Further, it is preferable that the first optical system is arranged such that the main plane of the imaging lens and the imaging surface satisfy the principle of shear improvement with respect to the optical cross section of the crystalline lens. (Effects of the Invention) According to the present invention, a first optical system for observing or imaging an optical cross section of the subject's eye by slit light;
Since it is equipped with a second optical system for transillumination observation or imaging, it is possible to obtain a cross-sectional image and a transillumination image of the crystalline lens of the subject's eye with a single device, and it is possible to obtain a cross-sectional image and a transillumination image of the eye lens of the subject's eye with one device. It is very convenient to observe changes in In addition, if an index indicating the slit projection position is provided in the second optical system for observing or capturing the retroillumination image, and this is projected along with the transillumination image during imaging, it can be used to record observations of changes over time such as cataracts. Therefore, the same slit cross section can be easily obtained, which is very convenient. (Description of Embodiments) Overall Configuration Referring to FIG. 1, the eye disorder testing apparatus embodying the present invention includes a slit projection optical system 10, a crystalline lens cross-section imaging optical system 20, and a transillumination imaging optical system 30.
, an observation optical system 40, and a density chart photographing system 45.
These optical systems are all housed within the housing 100. Slit Projection Optical System 10 The slit projection optical system 10 has a tungsten bulb 101 for observation and a xenon lamp 103 for photography as light sources, and a condenser lens 10 is provided between the tungsten bulb 101 and the xenon lamp 103.
2 is placed. Furthermore, a condenser lens 104 is provided to guide the light beam from the light source along the projection optical path 10a, and an aperture 105 and a slit diaphragm 106 are arranged along the projection optical path 10a. The slit diaphragm 106 passes the light beam from the light source through a thin slit, and the slit light beam that has passed through the slit diaphragm 106 is
After passing through the objective lens 107 and being reflected at a right angle by a mirror 110, passing through a second objective lens 108 and being reflected at a right angle by a half mirror 109,
It is projected onto the subject's eye Et in the direction of the projection optical axis _O0 . A filter 111 is provided in the projection optical path 10a as necessary.
is arranged so that it can be taken out and taken out. The condensing lens 102 is a tungsten light bulb 101
The filament image is focused on the electrode gap of the xenon lamp 103, that is, on the light emitting point position, and the condenser lens 104 converts the light from these light sources into a parallel light beam. The first objective lens 107 has a slit aperture 10
The front focal point is at position 6, and the slit aperture is 106.
The light flux passing through is considered to be a parallel light flux. The second objective lens 108 focuses the light beam passing through the first objective lens 107 on the anterior main crystalline lens of the eye Et to be examined as a slit image _S0 . As is well known in general slit lamps, it is desirable that the slit length and slit width of the slit diaphragm 106 can be arbitrarily adjusted. Place it and
It is desirable to be able to project an arbitrarily large circular spot onto the anterior segment of the subject's eye. Furthermore, a polarizer 1 consisting of a polarizing filter is provided in the projection optical path 10a.
12 is inserted for the purpose described below. Crystalline lens cross-section imaging optical system 20 This optical system 20 includes an imaging lens 201, a flip-up mirror 202, and an imaging film surface 203. The optical axis 20a of the imaging lens 201 is aligned with the eye to be examined.
It is arranged obliquely with respect to the slit image _S0 on Et, and the imaging film surface 203 is also arranged obliquely with respect to the optical axis 20a. The imaging lens 201 and the film surface 203 are arranged so that the principal surface 201a of the imaging lens 201 and the extension of the film surface 203 form a slit so as to satisfy the principle of shear improvement with respect to the slit image _S0 on the eye Et. They are arranged so that they intersect on the plane containing the image _S0 . With this arrangement, the slit cross-sectional image _S1 formed on the film surface 203 can be brought into focus over almost the entire cross section. The flip-up mirror 202 is the imaging film surface 203
It is normally inserted in the imaging optical path as shown by the solid line in the figure, and reflects the light beam passing through the imaging lens 201 toward the observation optical system 40 in the direction of the optical axis 20b. This mirror 202 is flipped up to the position shown by the imaginary line in the figure in synchronization with a shutter (not shown), and passes the light beam from the imaging lens 201 onto the film surface 203. Transillumination photography optical system 30 This optical system 30 has an objective lens 301 arranged so that its optical axis O ₁ is on the transmission optical axis of the slit projection optical system 10, that is, the projection optical axis O ₀ of the slit light beam. A reticle 302 is provided to form an image of the light beam passing through the objective lens 301. The light beam from the reticle 302 is transmitted to the mirror 303
The light is reflected by the mirror 202 through relay lenses 304 and 307. The light flux from the relay lens 307 is directed toward the film surface 203 by the mirror 202 during imaging, that is, when the flip-up mirror 202 is in the flip-up position shown by the imaginary line in the figure, and the lens of the eye Et to be examined is exposed to the film surface 203. Visualize the whole picture. An analyzer 306 made of a polarizing plate is provided between the relay lenses 304 and 304, and this analyzer 306 is arranged so that its polarization axis is perpendicular to the polarization axis of the polarizer 112, and the analyzer 306 is arranged so that the direction of its polarization axis is perpendicular to the polarization axis of the polarizer 112. Prevents reflected light from the cornea of the eye to be examined from reaching the film surface. A half mirror 305 is located behind the relay lens 304.
A part of the light beam passing through the relay lens 304 is reflected toward the observation optical system 40. Observation Optical System 40 This optical system 40 has a reticle 401 arranged on the reflection optical axis 20b of the flip-up mirror 202 of the optical system 20. This reticle 401 is arranged conjugately with the film surface 203, and for the purpose described later, index lines 401a, 401 are placed as shown in FIG.
It has b. When the mirror 202 is at the solid line position in the figure, the slit cross-sectional image S ₁ ' corresponding to the slit image S ₀ on the eye Et is on this reticle 401.
imaged on top. There is a mirror 402 on the optical axis 20b, and this mirror 402 reflects the light flux incident along the optical axis 20b along the observation optical axis _O2 . The observation optical axis _O2 is coaxial with the optical axis _O1 of the objective lens 301, and a relay lens 403 and a rotating reticle 404 are provided on this optical axis _O2 . The relay lens 403 and the rotating reticle 404 are optically arranged with respect to the reticle 401 based on the principle of shear improvement, and the slit cross-sectional image S ₁ ' on the reticle 401 is created by the lens 403 on the reticle ₄₀₄ . An eyepiece lens 405 is provided to observe the image on the rotating reticle 404. A relay lens 406 is disposed in the reflected optical path of the half mirror 305 of the transillumination photography optical system 30.
The light flux passing through the relay lens 406 is transferred to the mirror 407
is reflected towards the optical axis O ₂ . A half mirror 408 is arranged on the optical axis O ₂ and reflects the light beam from the mirror 407 toward the rotating reticle 404.
A transillumination image of the eye Et to be examined is formed on the reticle 404. In addition, in the reflected optical path of the half mirror 305,
An analyzer 409 similar to analyzer 306 is disposed such that it can be moved in and out of the optical path. The observation optical system 40 is also provided with a switching shutter 410 for selectively guiding either the light beam from the reticle 401 or the light beam from the half mirror 305 to the rotating reticle 404. Index projection system As shown in FIGS. 5 and 6, the reticle 3
02 consists of a holding frame 500 and a transparent glass plate 501 that is fitted and bonded to the holding frame 500.
There are grooves 502, 503 at 90° intervals in the circumferential direction.
504 and 505 are formed. This groove 5
Semicircular tubes 530, 531, 532, and 533 whose inner walls have light reflective properties are bonded onto each of the tubes 02 to 505. On the other hand, the holding frame 500 has grooves 51 along the circumferential direction.
0, 511, 512, 513 are formed, and optical fibers 52 are formed in these grooves, respectively.
0, 521, 522, and 523 are fitted and bonded, respectively. Injection end surfaces 520a, 521a, 522a, 523a of these optical fibers
is cut diagonally, and is placed at the end of the scored groove so that the diagonally cut surface faces upward. 4
The optical fibers 520 to 523 of the book are assembled into a bundle of fibers 524, wired to the projection optical system 10, and branched into two from the middle, with one input end 525 connected to the xenon lamp 103 and the other input end 526 connected to the projection optical system 10. It is placed opposite to the tungsten lamp 101. Incident end 526 and tungsten lamp 1
For example, a green monochromatic filter 540 is arranged between 01 and 01. Light from the tungsten lamp 101 is converted into green light by a filter 540, enters the optical fiber, and is emitted from the exit end. At this time, since the exit end face is obliquely cut, most of the emitted light is refracted and emitted toward the scored grooves 502 to 505 side of the glass plate 501, and is further diffused by the diffusion surface of the scored groove wall before being transmitted through the glass plate 501. and ejects it to the mirror 303 side. Further, the light beam emitted toward the groove and the reflection side is reflected by the reflective inner walls of the semicircular tubes 530 to 533 and enters the groove. The rotating reticle 404 has two horizontal black lines 404d on a transparent glass plate as shown in FIGS.
The observation field part 404a is composed of an optical or magnetic code plate part 404b formed along the circumferential direction of the observation field part 404a, and a detection head 404c that detects the code of this code plate.
04a is held rotatably about the observation optical axis as a rotation axis, and the detection head 404c is fixed to the eyepiece tube. The detection head 404c detects the amount of rotation of the reticle, and the detection circuit 1000 converts it into a rotation angle value, which is digitally displayed on the display 1100.
On the other hand, the rotation angle value from the circuit 1000 is sent to the film 20 via the data imprint controller 1200.
The data recording head 1300 directly disposed at 3 emits light to digitally photograph the rotation angle value on the film. Density Chart Imaging System 45 As shown in FIG. 1, an optical fiber 451 is arranged with one end facing the xenon lamp 103, and the other end of the optical fiber 451 consists of a relay lens 452, an ND filter 453, and a density chart 454. It is placed opposite the optical system. . The light flux that has passed through the density chart 454 is reflected by a mirror 456, passes through an imaging lens 455, is reflected by the mirror 202 in the raised state, and forms an image on the film surface 203.
With these optical arrangements, the density chart photographing system 45
is formed. Housing 100 and its holding means As mentioned above, the above-mentioned optical system is housed in the housing 100, and the housing 100
The coaxes are rotatably supported around the optical axes O ₀ , O ₁ , O ₂ by suitable support means 5 such as U-shaped arms. The eyepiece lens 405 and the detection head 404c of the rotating reticle 404 are fixed to a fixed portion of the holding means 5, and are configured to remain stationary even when the housing 100 rotates. Operation After operating the shutter 410, opening the transillumination observation system, and retracting the analyzer 409 from the optical path,
The observation light source 101 of the projection optical system 10 is turned on, and slit light from the slit 106 is projected onto the eye to be examined. The light from the light source 10 passes through the green color filter 5
40 and optical fiber 524 to illuminate the marked lines 502 to 505 of the reticle 302, the examiner can observe green crosshair images 502' to 505' within the visual field of the eyepiece as shown in FIG. When the alignment between the eye to be examined and this device is incomplete, the second
As shown in FIG.
It is also observed to be shifted from the center of the intersection of 505'. By vertically and horizontally adjusting the holding means 5, the center of the pupil image P is aligned with the center of the slit image intersection, and the slit image R is aligned with the horizontal slit images 503' to 505' (FIG. 2b). Next, analyzer 310 is inserted into the optical path. The slit image R formed by the slit light reflected from the cornea is cut by the analyzer 310 because its polarization axis is perpendicular to the polarization axis of the analyzer 310. On the other hand, the reflected light of the slit light from the fundus of the eye becomes an unpolarized light beam that has almost lost its polarization due to the diffusion effect of the fundus, and is illuminated by this reflected light to form a transillumination image of the eye to be examined. Therefore, analyzer 31
The examiner can observe the transillumination image created by the light beam that is not cut off at zero, and the observation is not affected by the corneal reflected light. Focusing of the transillumination image is achieved by moving the holding means back and forth. Next, when it is desired to observe a cross-sectional image of a cataract region, for example, an opaque area indicated by C, based on the transillumination image, the rotary reticle 404 is rotated to set the black line 404d at the desired meridian of the cross-section. (Figure 2c). The analyzer 310 is retracted from the optical path again, the housing is rotated, and the corneal reflection image R of the slit light and the horizontal slit images 503' and 50 that match this are obtained.
5' is moved to the position where it coincides with the black line 404d (Fig. 2d). Next, the optical path switching shutter 410 is switched to open the optical path on the crystalline lens cross section observation optical system side. An optical cross-sectional image of the crystalline lens produced by the slit light is once formed onto a reticle 401 by an imaging lens 201. This reticle 401 has index lines 4 as shown in FIG.
01a and 401b are formed. The front surface of the corneal cross-sectional image _C S ₁ ' is located at this index line 401a.
Check that the crystalline lens cross-sectional image _L S ₁ ' coincides with 1b. If they do not match, move the housing 100 back and forth to make them match. By this operation, the position of the retroillumination image can be kept constant. Reticle 4
A cross-sectional image _L S ₁ ' on 01 is formed on a rotating reticle 404 via a mirror 402, a relay lens 403, and a half mirror 408, and the image S ₁ ' is observed with an eyepiece. When photographing these observed transillumination images and cross-sectional images, by operating a photographic release switch (not shown), the flip-up mirror 20
At the same time as 2 is flipped up, the xenon lamp 10
3 lights up. By flipping up the flip-up mirror 202, the optical path for photographing the crystalline lens cross section is opened, and the cross-sectional image is transferred to the film 2.
03 as shown in FIG. At the same time, the transillumination image passes through the half mirror 305 together with the crosshair image of the reticle 302, and after a corneal reflection slit image is cut out by the analyzer 306, it is reflected at the flip-up position of the flip-up mirror and onto the film 203. Imprinted in the photo. The film 203 is rotated by the rotation of the housing 100.
The positions of the crosshair images 502' to 505' on the film 203 do not change because they are rotated together, but the crystalline lens transillumination image P is imprinted at a relative rotational position as the housing 100 rotates. Therefore, the positions of the horizontal crosshair images 503' and 505' indicate the slit cutting plane, that is, the crystalline lens cross-sectional position. When you want to observe and record a cross section along the same lens meridian based on the previous photographic record in order to observe and record changes in cataract over time, first change the rotation angle to the value of the crosshair rotation angle data 1500a in the film. Align the black line 404d of the reticle while looking at the display on the display 1100, then look through the eyepiece, rotate the housing 100 so that the horizontal crosshair image is at the position of the set black line 404d, and project the slit. Set the direction. At the same time, the density chart image 454a is reflected at the flip-up position of the flip-up mirror via the density chart photographing optical system, and is imprinted on the film 203. Further, the rotation angle amount of the black line 404d, that is, the slit incident angle amount 1300a is imprinted on this film as a digital value by the data imprinting head. Other Embodiments As shown in FIGS. 8a and 8b, a reflective prism 2000 is attached after the grooves 502 to 505, and an optical fiber 524 is adhered to one surface of the reflective prism 2000, so that the light from the fiber is The light may be reflected by the reflective surface of the prism 2000 and transmitted through the grooves. Further, a photographic tube may be provided in place of the eyepiece, and the observation irradiation may be performed using infrared light, and a VTR device may be used in place of the photographic film.
Furthermore, transillumination observation may be performed using a circular light beam instead of a slit beam.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は本発明の一実施例を示す眼障害検査装
置の光学系の概略図、第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄはそ
の使用方法を示す接眼部の略図、第３図は接眼部
の回転レチクルの略図、第４図は撮影された像の
例を示す略図、第５図は徹照法撮影光学系内のレ
チクルを示す正面図、第６図は第５図のレチクル
のＡ−Ａ線断面図、第７図は接眼部の回転レチク
ルの正面図、第８ａ図は徹照法撮影光学系のレチ
クルの部分正面図、第８ｂ図は第８ａ図のレチク
ルの一部の断面図である。 １０……スリツト投影光学系、２０……水晶体
断面撮影光学系、３０……徹照法撮影光学系、４
０……観察光学系、４５……濃度チヤート撮影
系、１０６……スリツト絞り、２０１……結像レ
ンズ、２０２……はね上げミラー、２０３……撮
影フイルム面、３０１……対物レンズ、４０３…
…結像レンズ、４０５……接眼レンズ。 Fig. 1 is a schematic diagram of the optical system of an eye disorder testing device showing one embodiment of the present invention, Figs. 4 is a schematic diagram showing an example of a captured image; FIG. 5 is a front view of the reticle in the transillumination photographing optical system; and FIG. 6 is a diagram of the reticle in FIG. 5. 7 is a front view of the rotating reticle of the eyepiece, FIG. 8a is a partial front view of the reticle of the transillumination photography optical system, and FIG. 8b is a part of the reticle in FIG. 8a. FIG. 10... Slit projection optical system, 20... Crystalline lens cross section imaging optical system, 30... Transillumination imaging optical system, 4
0... Observation optical system, 45... Density chart photographing system, 106... Slit diaphragm, 201... Imaging lens, 202... Lifting mirror, 203... Photographing film surface, 301... Objective lens, 403...
...Imaging lens, 405...Eyepiece lens.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 １ 被検眼にスリツト光を投影するためのスリツ
ト投影手段と、該スリツト光による被検眼水晶体
の光断面を観察するための第１光学系とを有する
眼障害検査装置において、前記スリツト投影手段
の投射光軸とほぼ同軸の対物レンズ光軸を有す
る、被検眼水晶体の徹照法観察用の第２光学系が
設けられたことを特徴とする眼障害検査装置。 ２ 第２光学系は結像点を有し、該結像点位置に
はスリツト光の水晶体入射位置を指す指標を有す
るレチクルが配置されたことを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の検査装置。 ３ 第２光学系の前記レクチル及び接眼レンズは
スリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸であり、
かつ水晶体光断面を観察するための第１光学系、
スリツト投影手段及び前記第２光学系の少なくと
もレクチルは前記投射光軸と回転軸として回転可
能としたことを特徴とする特許請求の範囲第２項
記載の検査装置。 ４ 第１光学系の接眼レンズと第２光学系の接眼
レンズとは共通であり、両光学系のいずれか一方
を選択する選択手段を有することを特徴とする特
許請求の範囲第２項または第３項記載の検査装
置。 ５ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、第
２光学系は該第１偏光板による偏光光の偏光軸と
直角な偏光軸をもつ第２偏光板を有していること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の検査装
置。 ６ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、第
２光学系には該第１偏光板による偏光光の偏光軸
と直角な偏光軸をもつ第２偏光板が挿脱自在に配
置されたことを特徴とする特許請求の範囲第２項
ないし第４項いずれかに記載の検査装置。 ７ 第１光学系は水晶体の光断面と、結像レンズ
の主平面と、該結像レンズによる該光断面の像と
がシヤインプルフの原理にもとずく光学配置であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項ないし
第６項いずれかに記載の検査装置。 ８ 被検眼水晶体にスリツト光を投影するための
スリツト投影手段と、該スリツト光による該水晶
体の光断面を撮像するための第１の撮像光学系
と、前記スリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸
の対物レンズ光軸を有する、被検眼水晶体の徹照
法撮像用の第２の撮像光学系を有することを特徴
とする眼障害検査装置。 ９ 第２の撮像光学系は水晶体の徹照法像を観察
するための徹照法観察光学系を有することを特徴
とする特許請求の範囲第８項記載の検査装置。 １０ 第１撮像光学系は水晶体光断面を観察する
ための水晶体断面観察光学系を有することを特徴
とする特許請求の範囲第９項記載の検査装置。 １１ 第２撮像光学系は中間結像点を有し、該結
像点にはスリツト光の水晶体入射位置を指す指標
を有するレチクルが配置されたことを特徴とする
特許請求の範囲第１０項記載の検査装置。 １２ 徹照法観察光学系の前記レクチル及び接眼
レンズはスリツト投影手段の投射光軸とほぼ同軸
であり、かつ第１撮像光学系、スリツト投影手段
及び前記レチクルは前記投射光軸を回転軸として
回転可能としたことを特徴とする特許請求の範囲
第１１項記載の検査装置。 １３ 徹照法観察光学系の接眼レンズと水晶体断
面観察光学系の接眼レンズは共通であり、両視察
光学系のいずれか一方を選択する選択手段を有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第１０項ない
し１２項いずれかに記載の検査装置。 １４ スリツト投影手段は第１の偏光板を有し、
第２撮像光学系のレクチルと撮像面との間に前記
第１偏光板と直角の偏光軸を有する第２の偏光板
を配したことを特徴とする特許請求の範囲第１１
項ないし第１３項いずれかに記載の検査装置。 １５ 徹照法観察光学系には第１偏光板と直角の
偏光軸を有する第３の偏光板をレクチルと接眼レ
ンズの間に挿脱自在に配したことを特徴とする特
許請求の範囲第１４項記載の検査装置。 １６ 前記第１または第２の撮像光学系の撮像手
段は写真撮像手段であることを特徴とする特許請
求の範囲第８項ないし第１５項のいずれかに記載
の検査装置。 １７ 写真撮像手段は、水晶体断面像と徹照法像
をフイルムの１つのコマに写し込むことを特徴と
する特許請求の範囲第１６項記載の検査装置。 １８ 第１撮像光学系の結像レンズの主平面と撮
像面及び水晶体光断面とはシヤインプルフの原理
にもとずく光学配置であることを特徴とする特許
請求の範囲第８項ないし第１７項いずれかに記載
の検査装置。[Scope of Claims] 1. An eye disorder testing device having a slit projection means for projecting slit light onto the eye to be examined, and a first optical system for observing the optical cross section of the crystalline lens of the eye to be examined by the slit light, An eye disorder testing apparatus characterized in that a second optical system for transillumination observation of the crystalline lens of the eye to be examined is provided, the second optical system having an objective lens optical axis substantially coaxial with the projection optical axis of the slit projection means. 2. The second optical system has an imaging point, and a reticle having an index indicating the incident position of the slit light on the crystalline lens is disposed at the imaging point position. Inspection equipment. 3. The reticle and eyepiece of the second optical system are substantially coaxial with the projection optical axis of the slit projection means,
and a first optical system for observing a crystalline lens optical cross section;
3. The inspection apparatus according to claim 2, wherein at least the slit projection means and the reticle of the second optical system are rotatable about the projection optical axis as a rotation axis. 4. The eyepiece lens of the first optical system and the eyepiece lens of the second optical system are common, and the eyepiece lens of the second optical system is provided with a selection means for selecting either one of the two optical systems. Inspection device according to item 3. 5. The slit projection means has a first polarizing plate, and the second optical system has a second polarizing plate having a polarization axis perpendicular to the polarization axis of the polarized light by the first polarizing plate. An inspection device according to claim 1. 6. The slit projection means has a first polarizing plate, and a second polarizing plate having a polarization axis perpendicular to the polarization axis of the polarized light by the first polarizing plate is removably arranged in the second optical system. An inspection device according to any one of claims 2 to 4, characterized in that: 7. A patent claim characterized in that the first optical system has an optical arrangement in which the optical cross section of the crystalline lens, the principal plane of the imaging lens, and the image of the optical cross section formed by the imaging lens are based on the Shear Impulf principle. The inspection device according to any one of the ranges 1 to 6. 8. A slit projection means for projecting slit light onto the crystalline lens of the subject's eye, a first imaging optical system for imaging an optical cross section of the crystalline lens by the slit light, and a slit projection means substantially coaxial with the projection optical axis of the slit projection means. 1. An eye disorder testing device comprising: a second imaging optical system for transillumination imaging of the crystalline lens of a subject's eye, having an objective lens optical axis. 9. The inspection apparatus according to claim 8, wherein the second imaging optical system includes a transillumination observation optical system for observing a transillumination image of the crystalline lens. 10. The inspection device according to claim 9, wherein the first imaging optical system includes a crystalline lens cross section observation optical system for observing a crystalline lens optical cross section. 11. Claim 10, characterized in that the second imaging optical system has an intermediate imaging point, and a reticle having an index indicating the incident position of the slit light on the crystalline lens is disposed at the imaging point. inspection equipment. 12 The reticle and eyepiece of the transillumination observation optical system are substantially coaxial with the projection optical axis of the slit projection means, and the first imaging optical system, the slit projection means, and the reticle rotate about the projection optical axis as a rotation axis. 12. The inspection device according to claim 11, wherein the inspection device is capable of carrying out the inspection. 13. Claim 10, characterized in that the eyepiece of the transillumination observation optical system and the eyepiece of the crystalline lens section observation optical system are common, and the eyepiece is provided with a selection means for selecting either one of both observation optical systems. The inspection device according to any one of Items 1 to 12. 14 The slit projection means has a first polarizing plate,
Claim 11: A second polarizing plate having a polarization axis perpendicular to the first polarizing plate is disposed between the reticle of the second imaging optical system and the imaging surface.
The inspection device according to any one of Items 1 to 13. 15. Claim 14, characterized in that the transillumination observation optical system includes a third polarizing plate having a polarization axis perpendicular to the first polarizing plate, which is detachably inserted between the reticle and the eyepiece. Inspection equipment described in section. 16. The inspection apparatus according to any one of claims 8 to 15, wherein the imaging means of the first or second imaging optical system is a photographic imaging means. 17. The inspection apparatus according to claim 16, wherein the photographic imaging means imprints a cross-sectional image of the crystalline lens and a transillumination image on one frame of the film. 18. Any one of claims 8 to 17, characterized in that the principal plane of the imaging lens of the first imaging optical system, the imaging surface, and the optical cross section of the crystalline lens have an optical arrangement based on the Shear Impulf principle. The inspection device described in .