JPH04151886A - 光半導体素子 - Google Patents

光半導体素子

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JPH04151886A
JPH04151886A JP27591090A JP27591090A JPH04151886A JP H04151886 A JPH04151886 A JP H04151886A JP 27591090 A JP27591090 A JP 27591090A JP 27591090 A JP27591090 A JP 27591090A JP H04151886 A JPH04151886 A JP H04151886A
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JP
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semiconductor device
optical
coupler
optical semiconductor
waveguide
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JP27591090A
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Mitsutoshi Hasegawa
光利 長谷川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光通信の分野に必要とされる光電子集積回路
などに用いられる光半導体素子、特に光カップラが構成
されたチャンネル導波路構造を有する光半導体素子に関
する。
[従来の技術] 従来、光カップラとして、第10図に示す様なY分岐型
光カップラ100を含む複合共振器レザの一種である干
渉型レーザが知られている(■H,A、Fattah 
 et  al、”Sem1conductor  i
nterferometric  1aser”App
l、Phys、Lett、41.2.pp、112−1
14 (July 1982)参照)。
また、第11図(a)、(b)に示す様なX分岐型光カ
ップラ110a、110bを含む干渉型レーザも知られ
ている(J、Sal zman  et   a  1
  、   ” Cr  o  s  s   c o
  u p  1  e d   c avity  
 semiconductor   1aser”  
Appl、Phys、Lett、52.  LO,pp
、  767−769  (March   1988
)参照)。ここでR,〜R4は共振面、L +〜L、4
は共振器長を夫々示す。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記従来例では次の様な欠点があった先ず、第
10図に示すY分岐型光カップラを含む例の場合、Y分
岐100の分岐角が大きくとれない、素子長が1mm以
上となる為に他の光デバイスに比ベサイズが大きくなり
過ぎ集積化が困難であると言う問題がある。
また、第11図に示すX分岐型光カップラを含む例の場
合、X分岐部1]、Oa、110bに要求される位置精
度、深さ精度などのプロセス精度が高(、歩留り、再現
性に乏しい等の問題点があった。すなわち、光導波路を
伝搬してくる光波の界分布に対してX分岐部がどの様に
形成されるかで分岐、合流の態様が決まって(るので、
そのプロセス精度に厳しさが要求されるのである。
従って、本発明の目的は、上記の課題に鑑み、プロセス
が容易で信顆性及び再現性に優れ半導体光集積回路に適
する光カップラを含む光半導体素子を提供することにあ
る。
[課題を解決する為の手段] 上記目的を達成する本発明の光半導体素子においては、
半導体基板−ヒに構成された少な(とも1つのチャンネ
ル導波路構造に光波の結合を行なう為のカップラ部が構
成され、カップラ部は少な(とも水平方向の導波光界分
布の波面分割を行なう様に(垂直方向ないし深さ方向の
導波光界分布の波面分割を併せて行なってもよい)導波
路構造の一部に反射率の異なる部位を形成して成ってい
るより具体的には、チャンネル導波路構造は活性層を含
んだり、カップラ部はこの活性層を越えてスリット状に
加工された(水平方向には導波路構造の一部にのみ形成
される)加工部分を含んだり、カップラ部は導波路構造
の一部(水平方向に関して)に加工深さが異なる部分が
形成されて成ったり、カップラ部は導波路構造のT型、
X型、Y型などの交差部位や非交差部位に設けられたり
(非交差部位に設けられて、複合共振器レーザを構成し
たりする)、カップラ部は複数方向に光波を分岐する様
に上記反射率の異なる部位を複数含んだり、カップラ部
は光導波路構造が分岐、合流する部分の一部(水平方向
に関して)に全反射ミラー(45° ミラー)となるス
リット溝を形成して構成されたりする。
[実施例] 第1図は本発明の第1実施例であるT分岐カップラを含
む光半導体素子を示し、同図(a)は模式的上面図、同
図(b)は第1図のA−A′断面図、同図(c)は第1
図のB−B′断面図、同図(d)は第1図(a)の主要
部の拡大図である。
先ず、第1実施例のプロセス手順について説明する。
基板1上に、分子線成長法(MBE)により第1クラッ
ド層2、活性層3、第2クラッド層4、キャップ層5か
らなるエピタキシャル膜を順に成長させる。基板1との
界面には必要に応じてGaAsであるバッファ層を形成
してもよい。第1、第2クラッド層2.4の膜厚は1μ
mとし、活性層3の膜厚は約0.1μmとした。次に、
その上部にフォトリソグラフィ法により幅3μmの所望
のパターン(図示例ではT字型パターン)を形成し、反
応性イオンビームエツチング(RI B E)によりリ
ッジ部(第1図(b)参照)を形成し、横方向の閉じ込
めを行なうストライブ構造とした(第1図(a)、(b
)参照)。
更に、集束イオンビームエツチング(FIBE)法によ
り、活性層3の下部に至る端面加工をしてスリット溝1
0を第1図(c)の如(形成するこのスリット溝10は
1、FIBEによる端面傾斜角度θが85度以」二で(
第1図(c)参照)リッジ導波路の分岐・合流部の中心
から光波の導波方向にφ=45°の角度を持って(第1
図(d)参照)形成され、45°ミラーすなわち全反射
ミラーを構成している。
続いて、この素子の端面なへき開により光が入射、出射
できる様にした。
この全反射ミラーによって、活性層3に第1図(a>の
B−B′方向に入射した光波11は、分岐・合流部で光
波12(反射)と光波13(透過)にほぼ同一の比率で
分岐される。このとき、光波12は第1図(d)に示す
分岐・合流部の下半分のスリット溝10で全反射され、
光波13はこの分岐・合流部の上半分をそのまま透過し
ていくことで生じる。
本実施例における分岐・合流部すなわち光カップラは、
水平方向(チャンネル導波路構造が形成された基板lの
伸展方向)の波面分割型の分岐カップラを形成するもの
である為、スリット溝10の端面の加工深さは活性層3
(チャンネル導波路構造の中心となる導波路層)を越え
てエツチングするものであればよ(精度の厳しい深さ制
御が不必要となる。そして、45°ミラーの位置制御を
することによって、光波の透過・反射の比率な所望の値
に設定することができる。
本実施例では、チャンネル導波路構造としてリッジ導波
路について述べたが、屈折率型の導波路も同様に利用で
きる。
第2図と第3図は第1実施例の変形例を示し、第2図の
T型カップラでは、スリット溝20が第1実施例と対称
的な位置にすなわち第1実施例では透過部であったとこ
ろに形成されており、第3図のT型カップラでは、スリ
ット溝21が、導波方向に対して45°の角度を成して
、分岐・合流部の中央部に形成されている。
第4図はY分岐カップラの第2実施例を示し、スリット
溝25が図示の如(形成されて、第4図の矢印で示す如
(光波が分岐・合流される。
第5図は第3実施例を示す。第3実施例は本発明を送信
部と受信部を併設した光ノードに応用した例である。
第6図と第7図は第5図のA−A′断面図、B−B′断
面図を夫々示す。本実施例は上記第1実施例の加工端面
を集積カップラに用いた例である第5図において、29
はFIBで形成されたスリット溝であり、30a、30
bは電流注入によってゲインを有する不図示の光アンプ
を具備する増幅領域、31a、31bは逆バイアス印加
により動作する光検出器を具備する光検出領域である3
8a、38bは端面に形成されたARコートであり、A
1゜Q 3 + Z r O2をエレクトロンビム(E
B)蒸着によって堆積している。39は導波路である。
導波路39は上面に十字型に形成されたもので、その中
心から上下方向の導波路部分は増幅領域30a、30b
とされ、左右方向は検出領域38a、38bとされてい
る。スリット溝29は、その長平方向が、上述した十字
型の導波路39の各長手方向に対して45°傾斜し左下
端より中央部まで伸びたものとなるように導波路39の
略中央部分に設けられている。これにより、導波路39
の中央部分は破線にて示した集積カップラ部32とされ
る。
次に、第3実施例のプロセス手順を説明する。
先ず、第6図と第7図から分かる様に、n型GaAs基
板41上にMBE法により、順次、バッファ層としての
n型GaAs42を1. g m厚で、クラッド層とし
てのn型A 10.4 Gao、c As43を1.5
ILm厚で形成した。次に、ノンドープGaΔ5(10
0人厚) 、 A 10.2 G an、a A S 
(30人厚)を4回(り返し積層し最後にGaAsを1
00人厚で積層し、多重量子井戸構造の活性層44を形
成し、その上にクラッド層としてのp型A 1 (1,
4’G ao6A S 45を1.51jm厚で、キャ
ップ層としてのGaAs46を0.5μm厚で形成した
次に、この半導体レーザウェハ上に、フオI・リソグラ
フィー工程により、幅3μmの所望の十字型のマスクパ
ターン(導波路39のパターン)を形成し、このマスク
を通して塩素ガス雰囲気のRIBE法により活性層44
の手前0.2μmまでエツチングし、リッジ部を形成し
て横方向の閉じ込めを行なうストライブ構造とした。
続いて、このリッジが形成されたレーザウェハ上に、S
iNから成る絶縁膜47(厚さ1200人)をプラズマ
CVD法によって形成し、SiN絶縁膜47−Fにレジ
ストを約り、O+tmスビンコトした。その後、4Pa
の02雰囲気でのRIBE法によって、成膜されたレジ
ストのみを除去し、リッジの順き部のSiN絶縁膜47
を露出させ、更に4PaのCF4ガス雰囲気でのRI 
B IE法を実施してリッジの頂き部の露出したSiN
絶縁膜を選択的にエツチングした。その後、残存してい
るレジストを4Paの02雰囲気でのRIBE法により
除去した。
次いで、リッジの頂き部に形成された表面酸化膜を塩酸
によってウェットエツチングし電流注入窓とし、続いて
、上部電極としてCr−Auオーミック用電極48を真
空蒸着法で形成し、GaAS基板41をラッピングで1
00μmの厚さまで削った後にn型用オーミック用電極
49としてAuGe−Au電極を蒸着した。そして、p
型、n型の電極のオーミックコンタクトをとる為の熱処
理を行ない、リッジ型半導体素子とした。
更に、加速電圧40KeVのGa+イオンを用いたFI
B法によるエツチングにより、カップラ部32のスリッ
ト満29を第5図に示す態様で形成した。スリブ1〜溝
29は上述した如(傾斜し、深さは活性層44よりIg
m深く、且つ溝の傾斜角度は85°以上になる様にした
(第7図参照)最後に、共振面をへき開により形成し、
EB(エレクトロンビーム)蒸着によってA1゜03+
ZrO2を蒸着しARコート38a、38bとしスクラ
イブで分離し電極はワイヤーボンディングにより取り出
した。
次ぎに、動作について説明する。入射した光波33は、
増幅領域30aにて増幅された入射波34として集積カ
ップラ部32に入射し、第1図の実施例で述べた如く透
過波36と反射波35に分離される。反射波35は入射
波33の光検出領域31aにて光電変換され、光波33
中の信号成分をモニタすることが行なわれる。一方、透
過波36は増幅領域30bにて更に増幅され、出射光3
7として出力される。逆から(ARコート38bを介し
て)入射した場合には光検出領域31bにてモニタが行
なわれ、その他の増幅動作に関しては同様となる。
カップラ32の損失及び端面結合損失を補填する形で光
増幅率(ゲイン)を設定すれば、見掛は上、損失のない
受光用光ノードとして機能し多段化接続が可能となる。
なお、以上の説明においては、受信のみを行なうものと
して説明したが、送信部、受信部を併設させれば送受信
可能な光ノードの実現が可能となり、この様に構成して
も当然よい。
第8図は本発明の第4実施例を示し、第9図は第8図の
カップラ部のA−A′断面図である。
本実施例では、パスライン方向に配置された光増幅部8
0a、80bが形成され、受信部・送信部への分岐導波
路82.83が、パスライン方向の導波路と交差してい
る。分岐カップラ88は、交差部に八字形の溝81、を
形成することによりて、分岐結合を行なっている。分岐
結合の比率は、導波路の光電磁界分布と満81の長さな
どを制御(位置制御)することによって、調整すること
ができる。このような溝81の形成には、Ga集東イオ
ンビーム(F I B)によるエツチング、反応性イオ
ンビーム(RIT’3E)によるエツチングなどの微細
加工技術が利用できる。
分岐カッ、ブラ部88以外の部分は、前記第3実施例と
同様の構成で実現できる。
本実施例におけるハネ型分岐カップラ81は、左右の分
岐導波路82.83への分岐比が異なる。通常、受信部
の方の結合を高めるため、ハネ型の上部(狭くなってい
る方)の方を受信部側分岐導波路82に向けて配置する
とよい。溝の分岐比を一3dB、過剰損失を無視すると
、受信部側への分岐比は一3dB、送信部側への分岐比
は一6dBとなる。また、ハネ型の下部(開いた側)に
光が入射する場合、−6dBの反射が存在する為、送信
部側の周波数安定化の為に、アイソレータを挿入するこ
とが必要となる(不図示)。
尚、第8図において、83aはファイバ91の端面が当
接するARコート、83bはファイバ92の端面が当接
するARコート、83cは受信部側のファイバ94が当
接するARコート、83dは送信部側のファイバ95が
当接するA Rコートであり、第9図において、第7図
の符号と同一の符号で示すものは第7図の部位と同じも
のである第4実施例の動作を説明する。
光ファイバ91.ARコート83aを介して入射した光
波は、増幅部80aで増幅された入射波として集積カッ
プラ部88に入り、透過、反射するスリット溝81と満
のない部分により、光波は、左側の受信部への導波路8
2に入る光波と右側の送信部への導波路83に入る光波
(これは上記アイソレータで遮断される)と増幅部80
bに入る光波とに分岐される。導波路82.ファイバ9
4を経て受信部に入る光波はそこで信号が検出され、増
幅部80bへ入った光波はそこで更に増幅されてファイ
バ92へと出力される。逆から(Al1 Rコート83bを介して)入射した光波についても、上
と同じである。送信部からファイバ95、導波路83を
介してカップラ部88に入る光波は、同じ(透過、反射
するスリット溝81と溝のない部分により、導波路82
.83(導波路83に反射される光波はアイソレータで
遮断される)及び増幅部80a、80bへと入る光波に
分岐される。導波路82とファイバ94を介して受信部
に入る光波はそこで信号成分がモニタされ、増幅部80
a、80bへと入る光波は、夫々、そこで増幅されてフ
ァイバ91.92へと出力される。
以上の実施例においては、レーザの共振面をへき開によ
って形成した例を示したが、RIBE法、反応性イオン
エツチング等のドライエツチング等のエツチングによっ
て形成されるエツチング端面を用いてもよい。
また、以上の実施例においては、活性領域をMQW(多
重量子井戸構造)で形成したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、DH(ダブルへテロ)構造、5QW
(囃−量子井戸)構造などであってもよい。
また、以上の実施例においては、GaAs系を用いたり
ッジウェーブ型構造を例にとって述べたが、BH(埋め
込みへテロストライブ)構造、CPS構造(チャネル基
板プレーナストライブ)、電流光の狭窄の為の吸収層を
活性層近(に設けた構造等の屈折率導波型のレーザに対
しても有効である。ストライブ電極型やプロトンボンバ
ード型などの利得導波型レーザに対しても有効である。
更に加えて、半導体レーザの材料はGaAs・AlGa
As系の他、I nP ・I’nGaAsP系AIGa
InP系等の材料に対しても同様に当てはまるのは言う
までもない。
[発明の詳細な 説明した様に、本発明によれば、少なくとも水平方向の
界分布の波面分割を行なう構成となっているので、深さ
方向の波面分割の程度などを左程厳格に設定する必要が
な(なり、Y分岐、X分岐などのカップラが水平方向の
位置精度だけで作製できる様になる。よって集積化が第
10図の従米国と比べて容易であり、プロセスが第11
図の従来例と比べて容易で、信頼性、再現性に優れ、歩
留りが向上する。また、光カップラが構成された光電子
集積化デバイスが実現可能になった。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)、(c)、(d)は本発明の第1
実施例の平面図、A−A′断面図、B−B′断面図、部
分拡大図、第2図と第3図は第1実施例の変形例の図、
第4図は第2実施例の平面図、第5図は第3実施例の平
面図、第6図は第5図のA−A′断面図、第7図は第5
図のB−B’断面図、第8図は第4実施例の平面図、第
9図は第8図のA−A′断面図、第10図と第11図は
従来例を示す図である。 l、41・・・・・基板、2.4.43.45・・・・
・クラッド層、3.44・・・・・活性層5.46・・
・・・キャップ層、10.20.21.25.29.8
1・・・・・スリット溝、47・・・・・絶縁膜、48
.49・・・・・電極、80a、80b・−・・’−光
光幅幅部82、83−−−・−導波路、83a、83b
、83c83d・・・・・ARコート、88・・・・・
カップラ部、91.92.94.95・・・・・光ファ
イバ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体基板上に構成されたチャンネル導波路構造に
    光波の結合を行なう為のカップラ部が構成されており、
    該カップラ部は少なくとも水平方向の導波光界分布の波
    面分割を行なう様に該導波路構造の一部に反射率の異な
    る部位を形成して成ることを特徴とする光半導体素子。 2、前記チャンネル導波路構造は活性層を含む請求項1
    記載の光半導体素子。 3、前記カップラ部は活性層を越えてスリット状に加工
    された加工部分を含む請求項2記載の光半導体素子。 4、前記カップラ部は、チャンネル導波路構造の一部に
    加工深さが異なる部分が形成されて成る請求項1記載の
    光半導体素子。 5、前記カップラ部の加工深さが異なる部分はスリット
    状に加工された形態を有する請求項4記載の光半導体素
    子。 6、前記カップラ部はチャンネル導波路構造の交差部位
    に設けられている請求項1記載の光半導体素子。 7、前記交差部位はT型、X型或はY型である請求項6
    記載の光半導体素子。 8、前記カップラ部は、前記交差部位に、光導波方向に
    対して所定の角度を成して水平方向に途中まで伸びた或
    は一部に亙って伸びた少なくとも1つのスリット溝が形
    成されて成る請求項6記載の光半導体素子。 9、前記チャンネル導波路構造が、カップラ部を成す交
    差部位を含んで複数形成され、そのうち1組は光増幅領
    域となり、他の1組は送信部と受信部の少なくとも一方
    に接続される様に構成され、分岐、合流、増幅機能を示
    す光ノードを構成している請求項1記載の光半導体素子
    。 10、前記カップラ部は複数方向に光波を分岐する様に
    前記反射率の異なる部位を複数含む請求項1記載の光半
    導体素子。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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