JPH0413890A - メッキ方法 - Google Patents
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- JPH0413890A JPH0413890A JP11427690A JP11427690A JPH0413890A JP H0413890 A JPH0413890 A JP H0413890A JP 11427690 A JP11427690 A JP 11427690A JP 11427690 A JP11427690 A JP 11427690A JP H0413890 A JPH0413890 A JP H0413890A
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Landscapes
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- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、主として、薄膜磁気ヘッドの磁気回路を構成
するパーマロイ磁性膜を形成するためのメッキ方法に関
し、硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を
用いてパーマロイのメッキ膜を形成する場合に、添加剤
としてラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制
御してメッキ膜の断面形状を制御することにより、磁性
膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールするこ
とができるようにしたものである。
するパーマロイ磁性膜を形成するためのメッキ方法に関
し、硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を
用いてパーマロイのメッキ膜を形成する場合に、添加剤
としてラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制
御してメッキ膜の断面形状を制御することにより、磁性
膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールするこ
とができるようにしたものである。
〈従来の技術〉
薄膜磁気ヘッドにおいて、磁気回路を構成する磁性膜は
、通常、パーマロイのメッキ膜として形成される。この
場合のメッキ浴組成及びメッキ条件等は、例えは特開昭
61−177392号公報で知られている。この公開公
報には、硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴に
、ホウ酸、塩化アンモニウム、サッカリンナトリウムま
たは界面活性剤等を添加し、選定されたPH1温度、電
流密度及びメッキ浴流動の条件下でパーマロイメッキ膜
を形成する手段が開示されている。
、通常、パーマロイのメッキ膜として形成される。この
場合のメッキ浴組成及びメッキ条件等は、例えは特開昭
61−177392号公報で知られている。この公開公
報には、硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴に
、ホウ酸、塩化アンモニウム、サッカリンナトリウムま
たは界面活性剤等を添加し、選定されたPH1温度、電
流密度及びメッキ浴流動の条件下でパーマロイメッキ膜
を形成する手段が開示されている。
〈発明か解決しようとする課題〉
しかしながら、上記公知文献は、断面形状が実質的に均
一なパーマロイメッキ膜のメッキ方法を開示するた(プ
である。メッキ膜の断面形状をコントロールする手段は
開示していない。磁性膜の断面形状は、孤立再生波形に
おけるアンダーシュートに密接に関連する。次にこの点
について述べる。
一なパーマロイメッキ膜のメッキ方法を開示するた(プ
である。メッキ膜の断面形状をコントロールする手段は
開示していない。磁性膜の断面形状は、孤立再生波形に
おけるアンダーシュートに密接に関連する。次にこの点
について述べる。
第8図は従来のメッキ方法によって得られた磁性膜を有
する薄膜磁気ヘッドの要部の断面図で、1はセラミック
で構成された基体、2は下部磁性膜、3はアルミナ等で
なるギャップ膜、4は上部磁性膜、5はコイル膜、6は
ノボラック樹脂等の有機絶縁樹脂で構成された絶縁膜、
7はアルミナ等の保護膜である。
する薄膜磁気ヘッドの要部の断面図で、1はセラミック
で構成された基体、2は下部磁性膜、3はアルミナ等で
なるギャップ膜、4は上部磁性膜、5はコイル膜、6は
ノボラック樹脂等の有機絶縁樹脂で構成された絶縁膜、
7はアルミナ等の保護膜である。
基体1はアルティック(Al2O3−TiO□)部10
1の表面にAl2O3等でなる絶縁膜102を設け、こ
の絶縁膜102の上に磁気回路を形成しである。
1の表面にAl2O3等でなる絶縁膜102を設け、こ
の絶縁膜102の上に磁気回路を形成しである。
下部磁性膜2及び上部磁性膜4の先端部はアルミナ等で
なるギャップ膜3を隔てて対向するボール部21.42
となっており、このボール部21.41において読み書
きを行なう。上部磁性膜4はボール部41とは反対側の
後方領域において、結合部42によって下部磁性膜2の
ヨーク部22と結合されている。コイル膜5は結合部4
2を渦巻状に回るように形成されている。
なるギャップ膜3を隔てて対向するボール部21.42
となっており、このボール部21.41において読み書
きを行なう。上部磁性膜4はボール部41とは反対側の
後方領域において、結合部42によって下部磁性膜2の
ヨーク部22と結合されている。コイル膜5は結合部4
2を渦巻状に回るように形成されている。
第9図は上記薄膜磁気ヘッドを媒体対向面側から見た拡
大図である。ボール部21.41は媒体走行方向aで見
た厚みが実質的に一定であって、両者21−41間にギ
ャップ膜3を直線的に配置した構造となっている。
大図である。ボール部21.41は媒体走行方向aで見
た厚みが実質的に一定であって、両者21−41間にギ
ャップ膜3を直線的に配置した構造となっている。
第10図は上述の薄膜磁気ヘッドを用いて、磁気記録媒
体に記録した1シヨツトの信号を再生した場合の孤立再
生波形を示している。孤立再生波形の下側には、ギャッ
プ膜3を介して対向するボール部21.41が孤立再生
波形と対応する関係で示されている。Mは磁気記録媒体
である。
体に記録した1シヨツトの信号を再生した場合の孤立再
生波形を示している。孤立再生波形の下側には、ギャッ
プ膜3を介して対向するボール部21.41が孤立再生
波形と対応する関係で示されている。Mは磁気記録媒体
である。
ito図に示すように、孤立再生波形はボール部21.
41の端縁に対応する位置で、疑似波形であるアンダー
シュートA、Bを生じている。薄膜磁気ヘッドは、バル
ク型磁気ヘッド等と異なって、磁気記録媒体Mの走行方
向aで見たボール部21.41の端部の厚みが薄く、有
限であるため、ギャップ膜3による本来の変換ギャップ
の他に、ボール21.41の各端部X%Yによる疑似ギ
ャップが発生し、この疑似ギャップにより、アンダーシ
ュートA、Bを生じる。F、nはギャップ膜3を変換ギ
ャップとする本来の磁束を示し、Ffl、Ff2は端部
X、Yを疑似ギャップとする磁束回路の1部を示してい
る。
41の端縁に対応する位置で、疑似波形であるアンダー
シュートA、Bを生じている。薄膜磁気ヘッドは、バル
ク型磁気ヘッド等と異なって、磁気記録媒体Mの走行方
向aで見たボール部21.41の端部の厚みが薄く、有
限であるため、ギャップ膜3による本来の変換ギャップ
の他に、ボール21.41の各端部X%Yによる疑似ギ
ャップが発生し、この疑似ギャップにより、アンダーシ
ュートA、Bを生じる。F、nはギャップ膜3を変換ギ
ャップとする本来の磁束を示し、Ffl、Ff2は端部
X、Yを疑似ギャップとする磁束回路の1部を示してい
る。
アンダーシュートA、Bの存在は、高密度記録の場合、
ピークシフトが大きくなるため、読み出しのエラーマー
ジンもしくは位相マージンに限界を生じ、高密度記録の
大きな障害となる。
ピークシフトが大きくなるため、読み出しのエラーマー
ジンもしくは位相マージンに限界を生じ、高密度記録の
大きな障害となる。
特開昭61−177392号公報等で知られたメッキ方
法によって得られた磁性膜を有する薄膜磁気ヘッドは、
上述のアンダーシュートの問題を解決することができな
かった。
法によって得られた磁性膜を有する薄膜磁気ヘッドは、
上述のアンダーシュートの問題を解決することができな
かった。
そこで、本発明の課題は、上述する従来の問題点を解決
し、磁性膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロー
ルし得るメッキ方法を提供することにある。
し、磁性膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロー
ルし得るメッキ方法を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
上述した課題解決のため、本発明は、少なくとも硫酸第
1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を用いてパー
マロイのメッキ膜を形成するメッキ方法であって、 添加剤としてラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加
量を制御して前記メッキ膜の断面形状を制御すること を特徴とする。
1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を用いてパー
マロイのメッキ膜を形成するメッキ方法であって、 添加剤としてラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加
量を制御して前記メッキ膜の断面形状を制御すること を特徴とする。
〈作用〉
硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を用い
てパーマロイのメッキ膜を形成する場合に、添加剤とし
てラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制御し
てメッキ膜の断面形状を制御することにより、磁性膜の
断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールすることが
できる。
てパーマロイのメッキ膜を形成する場合に、添加剤とし
てラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制御し
てメッキ膜の断面形状を制御することにより、磁性膜の
断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールすることが
できる。
〈実施例〉
第1図は薄膜磁気ヘッドの磁性膜をパーマロイのメッキ
膜として形成する場合のメッキ方法を示す図である。
膜として形成する場合のメッキ方法を示す図である。
第1図(a)に示すように、基板1上にメッキ下地膜2
0を形成し、メッキ下地膜20の表面に下部磁性膜パタ
ーンを画定するレジストフレーム8をフォトリングラフ
ィによって形成した後、パーマロイメッキ膜を形成する
。メッキ浴組成は、前述した特開昭61−177392
号公報等で知られており、下記の組成範囲となる。
0を形成し、メッキ下地膜20の表面に下部磁性膜パタ
ーンを画定するレジストフレーム8をフォトリングラフ
ィによって形成した後、パーマロイメッキ膜を形成する
。メッキ浴組成は、前述した特開昭61−177392
号公報等で知られており、下記の組成範囲となる。
硫酸第1鉄 5〜20g/ρ硫酸ニッケル
200〜350 g/flホウ酸
10〜30g/Il塩化アンモニウム 10〜3
0 g、zlサッカリンナトリウム 0〜2 g/
JQ上記組成範囲において、ラウリル硫酸ナトリウムの
添加量を変えると、第1図(b)に示すようにボール部
21の形状がコントロールできる。
200〜350 g/flホウ酸
10〜30g/Il塩化アンモニウム 10〜3
0 g、zlサッカリンナトリウム 0〜2 g/
JQ上記組成範囲において、ラウリル硫酸ナトリウムの
添加量を変えると、第1図(b)に示すようにボール部
21の形状がコントロールできる。
メッキ浴のPH1温度、電流密度及びメッキ浴流動の条
件等は従来と同様でよい。ボール部21は下部磁性膜の
1部であるから、通常は下部磁性膜の全体も、上述の厚
みコントロールを受ける。この後、第1図(C)に示す
ようにギャップ膜3をスパッタ等の手段によって形成し
、更に、上部磁性膜を形成する。上部磁性膜の形成に当
っても、同様のメッキ手段により、所定の厚みコントロ
ールを受りたボール部を形成する。次に具体例を示す。
件等は従来と同様でよい。ボール部21は下部磁性膜の
1部であるから、通常は下部磁性膜の全体も、上述の厚
みコントロールを受ける。この後、第1図(C)に示す
ようにギャップ膜3をスパッタ等の手段によって形成し
、更に、上部磁性膜を形成する。上部磁性膜の形成に当
っても、同様のメッキ手段により、所定の厚みコントロ
ールを受りたボール部を形成する。次に具体例を示す。
〈メッキ浴組成〉
硫酸第1鉄 9g/It硫酸ニッケル
330g/uホウ酸 2
5g/u 塩化アンモニウム 15g/flサッカリンナ
トリウム 0〜2g/J2」二連のメッキ浴組成に対
し、添加剤としてラウリル硫酸ナトリウムを添加してメ
ッキ処理を行なう。このメッキ処理において、ラウリル
硫酸ナトリウムの添加量を制御することにより、第1図
に示したように、所定の断面形状にコントロールされた
ボール部21を得る。
330g/uホウ酸 2
5g/u 塩化アンモニウム 15g/flサッカリンナ
トリウム 0〜2g/J2」二連のメッキ浴組成に対
し、添加剤としてラウリル硫酸ナトリウムを添加してメ
ッキ処理を行なう。このメッキ処理において、ラウリル
硫酸ナトリウムの添加量を制御することにより、第1図
に示したように、所定の断面形状にコントロールされた
ボール部21を得る。
第2図はラウリル硫酸ナトリウムの添加量を変えたとき
のボール部21の端部形状変化量△hを示す図である。
のボール部21の端部形状変化量△hを示す図である。
図において、横軸はラウリル硫酸すトリウムの添加量(
g/j2)、縦軸はボール部21の変化量△hを示して
いる。変化量△hはボール部21の表面がフラットにな
る場合を基準値0にして、ボール部21の両端が盛り上
がる方向を(+)△h、両端が降下する方向を(−)△
hとして示しである。図中、Soは表面が実質的にフラ
ットになる基準サンプル、Slは両端が(+)△hたけ
盛り上がる方向にあるサンプル、S、は両端が(−)△
hだけ低下する方向にあるサンプルをそれぞれ示してい
る。メッキ処理は電流1.2Aで15分間行なフた。
g/j2)、縦軸はボール部21の変化量△hを示して
いる。変化量△hはボール部21の表面がフラットにな
る場合を基準値0にして、ボール部21の両端が盛り上
がる方向を(+)△h、両端が降下する方向を(−)△
hとして示しである。図中、Soは表面が実質的にフラ
ットになる基準サンプル、Slは両端が(+)△hたけ
盛り上がる方向にあるサンプル、S、は両端が(−)△
hだけ低下する方向にあるサンプルをそれぞれ示してい
る。メッキ処理は電流1.2Aで15分間行なフた。
図示するように、ラウリル硫酸ナトリウムの添加量約2
(g/u)を基準にして、それよりも添加量が増える
と、ボール部21の両端が低下する方向となり、添加量
が減少するとボール部21の両端が盛り上がる。従って
、ラウリル硫酸ナトリウムの添加量制御によって、ボー
ル部21の形状をコントロールすることができる。
(g/u)を基準にして、それよりも添加量が増える
と、ボール部21の両端が低下する方向となり、添加量
が減少するとボール部21の両端が盛り上がる。従って
、ラウリル硫酸ナトリウムの添加量制御によって、ボー
ル部21の形状をコントロールすることができる。
第3図は本発明に係るメッキ方法によって得られた薄膜
磁気ヘッドを媒体対向面側から見た拡大図である。各ボ
ール部21.41は、ギャップ膜3が媒体走行方向aに
湾曲するように、厚みを変化させである。下部磁性膜の
ボール部21は、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚く
なっており、上部磁性膜のボール部41は、幅方向の両
端側で厚く、中間部で薄くなっていて、ギャップ膜3は
媒体走行方向aに凹状に湾曲している。第8図にバした
ように、ボール部21は下部磁性膜に連続しており、ボ
ール部41は上部磁性膜に連続している。
磁気ヘッドを媒体対向面側から見た拡大図である。各ボ
ール部21.41は、ギャップ膜3が媒体走行方向aに
湾曲するように、厚みを変化させである。下部磁性膜の
ボール部21は、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚く
なっており、上部磁性膜のボール部41は、幅方向の両
端側で厚く、中間部で薄くなっていて、ギャップ膜3は
媒体走行方向aに凹状に湾曲している。第8図にバした
ように、ボール部21は下部磁性膜に連続しており、ボ
ール部41は上部磁性膜に連続している。
第4図は上記構造の薄膜磁気ヘッドの孤立再生波形を示
す図である。第4図に示すように、矢印a方向に走行す
る磁気記録媒体Mに対して、ボール部21.41の端部
X、Yが、ギャップ膜3の湾曲に従い、中央端部x1、
Ylから幅方向の端部Xn、Ynに向かって、徐々に移
動するような結果となる。このため、ボール部21.4
1の端部X、Yに発生するアンダーシュー1−A、Bが
キャップ膜3の湾曲に従い徐々に変化するような包絡線
状の波形となり、アンダーシュートA、 Bが無視で
きる程度に弱められる。
す図である。第4図に示すように、矢印a方向に走行す
る磁気記録媒体Mに対して、ボール部21.41の端部
X、Yが、ギャップ膜3の湾曲に従い、中央端部x1、
Ylから幅方向の端部Xn、Ynに向かって、徐々に移
動するような結果となる。このため、ボール部21.4
1の端部X、Yに発生するアンダーシュー1−A、Bが
キャップ膜3の湾曲に従い徐々に変化するような包絡線
状の波形となり、アンダーシュートA、 Bが無視で
きる程度に弱められる。
第5図は本発明に係るメッキ法よって得られた薄膜磁気
ヘッドの別の実施例を示している。この実施例では、ボ
ール部21は、幅方向の両端側で厚く、中間部で薄くな
っており、上部磁性膜のボール部41は、幅方向の両端
側で薄く、中間部で厚くなっている。従って、ギャップ
膜3は、媒体走行方向aに対して凸状に湾曲している。
ヘッドの別の実施例を示している。この実施例では、ボ
ール部21は、幅方向の両端側で厚く、中間部で薄くな
っており、上部磁性膜のボール部41は、幅方向の両端
側で薄く、中間部で厚くなっている。従って、ギャップ
膜3は、媒体走行方向aに対して凸状に湾曲している。
第6図は本発明に係るメッキ法によって得られた薄膜磁
気ヘッドの更に別の実施例を示している。各ボール部2
1.41は、ギャップ膜3とは反対側の面が曲面となる
ように、厚みを変化させである。ボール部21.41に
付与されるべき曲面は、凸状または凹状の何れでもよい
。この例では、凸状曲面を示して、下部磁性膜のボール
部21は、基板1の表面に形成された凹部100内にお
いて、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚くなるように
形成されている。ボール部21はギャップ膜3のある面
が実質的に平面状となっていて、ギャップ膜3はほぼ平
面状となるように配置されている。上部磁性膜のボール
部41も、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚くなるよ
うに、ギャップ膜3の上に形成されている。
気ヘッドの更に別の実施例を示している。各ボール部2
1.41は、ギャップ膜3とは反対側の面が曲面となる
ように、厚みを変化させである。ボール部21.41に
付与されるべき曲面は、凸状または凹状の何れでもよい
。この例では、凸状曲面を示して、下部磁性膜のボール
部21は、基板1の表面に形成された凹部100内にお
いて、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚くなるように
形成されている。ボール部21はギャップ膜3のある面
が実質的に平面状となっていて、ギャップ膜3はほぼ平
面状となるように配置されている。上部磁性膜のボール
部41も、幅方向の両端側で薄く、中間部で厚くなるよ
うに、ギャップ膜3の上に形成されている。
第7図は本発明に係るメッキ法によって得られた薄膜磁
気ヘッドの更に別の実施例を示す図である。この実施例
では、上部磁性膜のボール部41のみを、厚みの変化す
る形状にしである。図示はされていないが、下部磁性膜
のボール部のみを、厚みの変化する形状としてもよい。
気ヘッドの更に別の実施例を示す図である。この実施例
では、上部磁性膜のボール部41のみを、厚みの変化す
る形状にしである。図示はされていないが、下部磁性膜
のボール部のみを、厚みの変化する形状としてもよい。
アンダーシュートの抑制作用は、ボール部21.41の
うち、厚みを変化させた方側て得られるだけであるが、
片側のみで生じるアンダーシュートは回路的に容易に抑
制できる。
うち、厚みを変化させた方側て得られるだけであるが、
片側のみで生じるアンダーシュートは回路的に容易に抑
制できる。
本発明は、薄膜磁気ヘッドのボール部の厚みコントロー
ルに極めて有効なものであるが、薄膜磁気ヘッドに限ら
ず、パーマロイのメッキ膜の断面形状をコントロールす
る必要のある用途に広く適用できる。
ルに極めて有効なものであるが、薄膜磁気ヘッドに限ら
ず、パーマロイのメッキ膜の断面形状をコントロールす
る必要のある用途に広く適用できる。
〈発明の効果〉
以上述べたように、本発明は、少なくとも硫酸第1鉄及
び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を用いてパーマロイ
のメッキ膜を形成するメッキ方法であって、添加剤とし
てラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制御し
てメッキ膜の断面形状を制御するようにしたから、磁性
膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールし得る
メッキ方法を提供することができる。
び硫酸ニッケルを含むメッキ浴組成を用いてパーマロイ
のメッキ膜を形成するメッキ方法であって、添加剤とし
てラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加量を制御し
てメッキ膜の断面形状を制御するようにしたから、磁性
膜の断面形状を簡単、かつ、確実にコントロールし得る
メッキ方法を提供することができる。
第1図は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの要部における製
造工程を示す図、第2図はラウリル硫酸ナトリウムの添
加量を変えたときのボール部の端部形状変化量を示す図
、第3図は本発明に係るメッキ法によって得られた磁性
膜を有する薄膜磁気ヘッドを媒体対向面側から見た拡大
図、第4図は第3図に示した薄膜磁気ヘッドの作用を説
明する図、第5図〜第7図は本発明に係るメッキ法によ
って得られた磁性膜を有する薄膜磁気ヘッドを媒体対向
面側から見た各拡大図、第8図は従来より知られた薄膜
磁気ヘッドの要部の断面図、第9図は従来の薄膜磁気ヘ
ッドを媒体対向面側から見た拡大図、第10図は従来の
薄膜磁気ヘッドを用いて磁気記録媒体に記録した1シヨ
ツトの信号な再生した場合の孤立再生波形図をそれぞれ
示している。 1・・・基板 2・・・下部磁性膜3・・・
ギャップ膜 4・・・下部磁性膜 5・・・コイル膜21.22
・・・ボール部
造工程を示す図、第2図はラウリル硫酸ナトリウムの添
加量を変えたときのボール部の端部形状変化量を示す図
、第3図は本発明に係るメッキ法によって得られた磁性
膜を有する薄膜磁気ヘッドを媒体対向面側から見た拡大
図、第4図は第3図に示した薄膜磁気ヘッドの作用を説
明する図、第5図〜第7図は本発明に係るメッキ法によ
って得られた磁性膜を有する薄膜磁気ヘッドを媒体対向
面側から見た各拡大図、第8図は従来より知られた薄膜
磁気ヘッドの要部の断面図、第9図は従来の薄膜磁気ヘ
ッドを媒体対向面側から見た拡大図、第10図は従来の
薄膜磁気ヘッドを用いて磁気記録媒体に記録した1シヨ
ツトの信号な再生した場合の孤立再生波形図をそれぞれ
示している。 1・・・基板 2・・・下部磁性膜3・・・
ギャップ膜 4・・・下部磁性膜 5・・・コイル膜21.22
・・・ボール部
Claims (2)
- (1)少なくとも硫酸第1鉄及び硫酸ニッケルを含むメ
ッキ浴組成を用いてパーマロイのメッキ膜を形成するメ
ッキ方法であって、 添加剤としてラウリル硫酸ナトリウムを用い、その添加
量を制御して前記メッキ膜の断面形状を制御すること を特徴とするメッキ方法。 - (2)前記メッキ膜は、薄膜磁気ヘッドの磁性膜である
ことを特徴とする請求項1に記載のメッキ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11427690A JP2793324B2 (ja) | 1990-04-28 | 1990-04-28 | メッキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11427690A JP2793324B2 (ja) | 1990-04-28 | 1990-04-28 | メッキ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0413890A true JPH0413890A (ja) | 1992-01-17 |
JP2793324B2 JP2793324B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=14633777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11427690A Expired - Lifetime JP2793324B2 (ja) | 1990-04-28 | 1990-04-28 | メッキ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2793324B2 (ja) |
-
1990
- 1990-04-28 JP JP11427690A patent/JP2793324B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2793324B2 (ja) | 1998-09-03 |
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Legal Events
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