JPH04115529A - 洗浄方法及び洗浄装置 - Google Patents

洗浄方法及び洗浄装置

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JPH04115529A
JPH04115529A JP23655490A JP23655490A JPH04115529A JP H04115529 A JPH04115529 A JP H04115529A JP 23655490 A JP23655490 A JP 23655490A JP 23655490 A JP23655490 A JP 23655490A JP H04115529 A JPH04115529 A JP H04115529A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
cleaning
opening
cleaning liquid
suction pipe
Prior art date
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Pending
Application number
JP23655490A
Other languages
English (en)
Inventor
Masataka Kase
正隆 加勢
Masanori Kobayashi
正典 小林
Tadayoshi Yoshikawa
忠義 吉川
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Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Fujitsu Integrated Microtechnology Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 洗浄方法及び洗浄装置に係り、特に、主面をほぼ垂直に
し該主面が重なる方向に間隔をおいて並列に配列した複
数の薄板状体を洗浄槽内の洗浄液に埋没浸漬して行われ
る、該薄板状体例えば半導体ウェーハの洗浄に関し、 洗浄槽から洗浄液をオーバーフローさせながら行うもの
として、洗浄液の供給流量を大きくしなくとも、洗浄液
中の渦の発生や洗浄液表面に浮上した異物の停滞が生じ
ないようにさせることを目的とし、 端部開口から液を吸入する吸液管または端部開口から液
を流出する給液管の該開口を下向きにして洗浄槽内の洗
浄液の液中表面近傍に配置して、該吸液管により該洗浄
液の一部を排出する、または該給液管から該洗浄液中に
該洗浄液と同質の洗浄液を流出するように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、洗浄方法及び洗浄装置に係り、特に、主面を
ほぼ垂直にし該主面が重なる方向に間隔をおいて並列に
配列した複数の薄板状体を洗浄槽内の洗浄液に埋没浸漬
して行われる、該薄板状体例えば半導体ウェーハの洗浄
に関する。
半導体装置の製造では半導体ウェーハの洗浄工程があり
、その洗浄は、工程単価削減のため20〜30枚のウェ
ーハをキャリアと称する枠状保持具で上記配列に保持し
、キャリアと共に洗浄槽内の洗浄液に埋没浸漬して行う
。そして、洗浄液には、表面酸化膜を除去するHF/H
2Oなどの薬液やその薬液を除去する純粋水(純水)が
用いられる。何れの場合も除去対象物かむらな(除去さ
れ且つ表面に塵のような異物が付着しないようにするこ
とが重要である。
〔従来の技術〕
第3図は上述した洗浄を行う装置従来例の模式断面図で
ある。
同図において、■は洗浄槽であり、洗浄槽lは、底面に
設けた流入穴1aを通して洗浄液2が下側から連続的に
供給されて上側でオーバーフローし、内部の洗浄液2に
半導体ウェーハWを埋没浸漬させる。ウェーハWは、先
に述べたように、複数のものが主面をほぼ垂直にし該主
面が重なる方向に間隔をおいて並列に配列した状態にキ
ャリアで保持されて、キャリアと共に浸漬される。ここ
ではキャリアの図示を省略しである。
この洗浄では、ウェーハW相互の間やウェーハW群の外
側を下から上に向かって連続的に通り抜ける洗浄液2が
、ウェーハWの表面を撫でて洗浄効果を発揮する。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このやり方の洗浄では、ウェーハWが時
流に従って大型になると、洗浄槽1が大きくなって洗浄
液2か相対的にウェーハW群の外側を多く流れるように
なり、第3図に示すように、洗浄液2の内部で渦2aが
また洗浄液2の表面で淀み2bが発生する。
この渦2aは洗浄にむらを生じさせる。また、淀み2b
は、ウェーハWに付着していたりウェーハWとキャリア
との擦れなどによって発生したりして浮上した塵状の異
物りを呼び込んで、異物りが洗浄液2のオーバーフロー
と共に流出するのを阻害する。そして、洗浄液2の表面
に浮いて停滞した異物りは、ウェーハWを洗浄液2から
引き上げる際にウェーハWに付着して、洗浄結果の品質
を劣化させる。
このような洗浄のむらや異物りの付着を防止するために
は、渦2aの発生や浮上した異物りの停滞が生じないよ
うに洗浄槽Iに供給する洗浄液2の流量を増やしてやれ
ばよいが、そのために必要とする供給流量が極めて大き
なものとなる。
そこで本発明は、上述のような洗浄において、洗浄液の
供給流量を大きくしなくとも、渦2aのような渦の発生
や異物りのような浮上した異物の停滞が生じないように
させる洗浄方法と洗浄装置の提供を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明の洗浄方法において
は、主面をほぼ垂直にし該主面が重なる方向に間隔をお
いて並列に配列した複数の薄板状体を洗浄槽内の洗浄液
に埋没浸漬して、該薄板状体の洗浄を行うに際して、前
記洗浄槽では洗浄液を下側から供給して連続的にオーバ
ーフローさせながら、端部開口から液を吸入する吸液管
の該開口を下向きにして該洗浄液の液中表面近傍に配置
して、該洗浄液の一部を該吸液管により排出することを
特徴としている。その場合、前記開口を配置する箇所は
、前記洗浄液が表面で淀む箇所であることが望ましい。
若しくは、この洗浄方法において、前記吸液管を端部開
口から液を流出する給液管に代えて、前記洗浄液の一部
を排出する代わりに、該洗浄液中に該洗浄液と同質の洗
浄液を流出するようにしても良い。その場合、前記洗浄
液の流出は、間欠的または脈動的に行うことが望ましい
また、洗浄装置においては、洗浄槽と吸液管とを有し、
該洗浄槽は、洗浄液が下側から連続的に供給されてオー
バーフローし、該洗浄液に被洗浄物を埋没浸漬させるも
のであり、該吸液管は、端部開口から液を吸入する機能
を有して、該開口を下向きにして該洗浄液の液中表面近
傍に配置する、または該洗浄槽上から退避することが随
時に可能であり、該開口を該洗浄液中に配置した際に該
洗浄液の一部を吸入して排出するものであることを特徴
としている。
若しくは、この洗浄装置において、前記吸液管に代えて
給液管を有し、該給液管は、該吸液管の端部開口から液
を吸入する機能に代えて端部開口から液を流出する機能
を有し、該開口を前記洗浄液中に配置した際に該洗浄液
と同質の洗浄液を流出するものであるようにしても良い
。その場合、前記給液管は、前記洗浄液の流出を間欠的
または脈動的に行うことが可能なものであることが望ま
しい。
〔作 用〕
第3図で説明した渦2aの発生と浮上した異物りの停滞
は、洗浄液2の供給流量が小さい際に、洗浄液2の一部
が表面部でオーバーフローと反対側に流れて淀み2bの
ところで液中に潜り込むために生じている。
本発明は、この点に着目し、■とじて洗浄液の上記潜り
込みが無くなるようにする、または、■とじて洗浄液の
表面部の流れがすべてオーバーフローの方に向かうよう
にする措置を講じて、洗浄液の供給流量を大きくしなく
とも、渦2aのような渦の発生や異物りのような浮上し
た異物の停滞が生じないようにさせたものであり、洗浄
方法または洗浄装置における上記吸液管が上記■を実現
させ、上記給液管が上記■を実現させている。
そして、吸液管または給液管の上記開口を洗浄液中表面
近傍に配置する箇所は、洗浄液が表面で淀む箇所が明ら
かに最も効果的であり、そこから多少はずれても十分な
効果を得ることができる。
また、給液管からの洗浄液の流出を間欠的または脈動的
に行うと、洗浄槽内の洗浄液の流れが揺さぶられて洗浄
のむらが一層低減する。
なお、洗浄装置において吸液管または給液管を該洗浄槽
上から退避し得るようにしたのは、洗浄槽に対する被洗
浄物(洗浄方法における薄板状体)の出し入れの際に、
吸液管または給液管が邪魔にならないようにするためで
ある。
〔実施例〕
以下本発明の実施例について第1図、第2図を用いて説
明する。第1図は方法第1実施例を行う装置第1実施例
の模式断面図、第2図は方法第2実施例を行う装置第2
実施例の模式断面図、であり、全図を通し同一符号は同
一対象物を示す。
第1図において、この装置第1実施例となる洗浄装置は
、第3図で述べた装置従来例に吸液管3を付加したもの
である。
吸液管3は、端部開口3aから液を吸入する機能を有し
て、開口3aを下向きにして洗浄槽1内の洗浄液2の表
面任意箇所における液中表面近傍に配置する、または洗
浄槽l上から退避することが随時に可能であり、開口3
aを洗浄液2中に配置した際に洗浄液2の一部を吸入し
て排出するものである。開口3aの上記配置や吸液管3
の上記退避は、吸液管3に設けられた不図示の調節機構
による矢印A、B、C方向の移動で行う。
そして、この洗浄装置を用いた洗浄方法の実施例(方法
第1実施例)は、次のようである。
即ちこの実施例は、上部開口の大きさが30cm角の洗
浄槽1を用いて8インチサイズのウェーハWを純水洗浄
する場合であり、先に述べた淀み2bが洗浄液2表面の
中心部に発生することから、吸液管3の開口3aの配置
箇所を該中心部にして以下の条件で行った。
開口3aの液表面からの深さ :約10mm洗浄槽1へ
の洗浄液供給流量:20A/分吸液管3による液吸入流
量 : 51/分洗浄時間         :10分 そこでは洗浄液2の表面に先に述べた異物りの停滞が目
視で認められず、洗浄結果は洗浄むらがなく異物りの付
着も顕微鏡観察でウェーハW当たり10個以下であった
ちなみに、実施例から吸液管3を外すと、異物りの停滞
が認められて、異物りの付着がウェーハW当たり100
個程度光生し、また、吸液管3を外した状態で異物りの
停滞を消失させようとすると、洗浄液の供給流量は実施
例の約2倍程度を必要とした。
そして、実施例の場合の洗浄液2の流れ状態を知るため
に、供給する洗浄液2に微小粉末を分散混入し洗浄槽1
の横方向から光を照射して観察したところ、洗浄液2の
流れは第1図に示すように先に述べた渦2aが発生しな
い状態となっていた。
更に、この実施例において、開口3aの液表面からの深
さを1〜20mm程度の範囲で種々変化させてみたがミ
何れの場合も上述と同様な結果が得られた。また、開口
3aの配置箇所を洗浄液2の中心部から多少ずらせても
同様な結果が得られた。
次に第2図において、この装置第2実施例となる洗浄装
置は、第3図で述べた装置従来例に給液管4を付加した
ものである。
給液管4は、端部開口4aから液を流出する機能を有し
て、先の吸液管3と同様に、開口4aを下向きにして洗
浄槽l内の洗浄液2の表面任意箇所における液中表面近
傍に配置する、または洗浄槽l上から退避することが随
時に可能であり、開口4aを洗浄液2中に配置した際に
別途の洗浄液2を流出し、その流出を間欠的または脈動
的に行うこともできるものである。開口4aの上記配置
や給液管4の上記退避は、吸液管3と同様に不図示の調
節機構による矢印A、B、C方向の移動で行う。
そして、この洗浄装置を用いた洗浄方法の実施例(方法
第2実施例)は、次のようである。
即ちこの実施例は、先の第1実施例と同様に、上部開口
の大きさが30cm角の洗浄槽1を用いて8インチサイ
ズのウェーハWを純水洗浄する場合であり、先に述べた
淀み2bが洗浄液2表面の中心部に発生することから、
給液管4の開口4aの配置箇所を該中心部にして以下の
条件で行った。
開口4aの液表面からの深さ :約10 mm洗洗浄槽
への洗浄液供給流量:2OA/分給液管4からの液流出
形態 :間欠的流出(流出10秒、休止 5秒) 同上液流出時の流量    : 51/分洗浄時間  
       :10分 そこでは洗浄液2の表面に先に述べた異物りの停滞が目
視で認められず、洗浄結果は洗浄むらがなく異物りの付
着も顕微鏡観察でウェーハW当たり10個以下であった
いうまでもなく、この実施例から給液管4を外した際に
は、先の第1実施例で吸液管3を外した際と同様になる
そして、この実施例の場合の洗浄液2の流れ状態を知る
ために、第1実施例の場合と同様な観察をしたところ、
洗浄液2の流れは第2図に示すように先に述べた渦2a
が発生しない状態となっていた。
更に、この実施例において、給液管4からの液流出形態
を、連続的流出(流量は上記流出時の流量と同じ)、ま
たは脈動的流出(上記休止を201/分の流出)に変え
てみたが、何れの場合も上述と同様な結果が得られた。
しかし、間欠的流出または脈動的流出は、洗浄槽I内の
洗浄液2の流れを揺さぶるので、現状の検出能力で判定
困難な領域であるが原理的に洗浄むらを一層低減させる
また、開口4aの液表面からの深さを1〜20mm程度
の範囲で種々変化させてみたが、何れの場合も上述と同
様な結果が得られ、更に、開口3aの配置箇所を洗浄液
2の中心部から多少ずらせても同様な結果か得られた。
なお、上述の実施例では吸液管3または給液管4を一つ
にし条件を特定して説明したが、淀み2bの発生箇所が
複数となる場合には吸液管3または給液管4を複数にす
ることが有効であり、条件は実施例に限定されることな
(適宜になし得るものである。また、実施例では半導体
ウェーハWを被洗浄物にしたが、この被洗浄物は薄板状
体であるならば半導体ウェーハW以外のものであっても
同様の結果が得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、主面をほぼ垂直に
し該主面が重なる方向に間隔をおいて並列に配列した複
数の薄板状体を洗浄槽内の洗浄液に埋没浸漬して行われ
る、該薄板状体例えば半導体ウェーハの洗浄に関して、
洗浄槽から洗浄液をオーバーフローさせながら行うもの
として、洗浄液の供給流量を大きくしな(とも、洗浄液
中の渦の発生や洗浄液表面に浮上した異物の停滞が生じ
ないようにさせる洗浄方法と洗浄装置が提供されて、洗
浄結果を高品質に確保しながら洗浄液使用量の低減を可
能にさせる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は方法第1実施例を行う装置第1実施例の模式断
面図、 第2図は方法第2実施例を行う装置第2実施例の模式断
面図、 第3図は装置従来例の模式断面図、 である。図において、 ■は洗浄槽、 1aは流入穴、 2i洗浄液、 2aは渦、 2bは淀み、 3は吸液管、 4は給液管、 3a、 4aは端部開口、 A、B、Cは調節移動方向、 Dは異物、 Wは半導体ウェーハ、 である。 1;+fC,浮槽 2洗浄液 3α皓胡開口 vv″+導体つL−ハ αjた入代 3吸巌管 A、B、C′6周節移動力薗 方;敷藁 1 lこ〃牧イ?1 をイ〒っ)(J1〕占
 1 寛旅イア10糧賛(断dbしろ¥  1121

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)主面をほぼ垂直にし該主面が重なる方向に間隔をお
    いて並列に配列した複数の薄板状体を洗浄槽内の洗浄液
    に埋没浸漬して、該薄板状体の洗浄を行うに際して、 前記洗浄槽では洗浄液を下側から供給して連続的にオー
    バーフローさせながら、 端部開口から液を吸入する吸液管の該開口を下向きにし
    て該洗浄液の液中表面近傍に配置して、該洗浄液の一部
    を該吸液管により排出することを特徴とする洗浄方法。 2)前記開口を配置する箇所は、前記洗浄液が表面で淀
    む箇所であることを特徴とする請求項1に記載の洗浄方
    法。 3)請求項1または2に記載の洗浄方法において、 前記吸液管を端部開口から液を流出する給液管に代えて
    、前記洗浄液の一部を排出する代わりに、該洗浄液中に
    該洗浄液と同質の洗浄液を流出することを特徴とする洗
    浄方法。 4)前記洗浄液の流出は、間欠的または脈動的に行うこ
    とを特徴とする請求項3に記載の洗浄方法。 5)洗浄槽と吸液管とを有し、 該洗浄槽は、洗浄液が下側から連続的に供給されてオー
    バーフローし、該洗浄液に被洗浄物を埋没浸漬させるも
    のであり、 該吸液管は、端部開口から液を吸入する機能を有して、
    該開口を下向きにして該洗浄液の液中表面近傍に配置す
    る、または該洗浄槽上から退避することが随時に可能で
    あり、該開口を該洗浄液中に配置した際に該洗浄液の一
    部を吸入して排出するものであることを特徴とする洗浄
    装置。 6)請求項5に記載の洗浄装置において、前記吸液管に
    代えて給液管を有し、 該給液管は、該吸液管の端部開口から液を吸入する機能
    に代えて端部開口から液を流出する機能を有し、該開口
    を前記洗浄液中に配置した際に該洗浄液と同質の洗浄液
    を流出するものであることを特徴とする洗浄装置。 7)前記給液管は、前記洗浄液の流出を間欠的または脈
    動的に行うことが可能なものであることを特徴とする請
    求項6に記載の洗浄装置。
JP23655490A 1990-09-05 1990-09-05 洗浄方法及び洗浄装置 Pending JPH04115529A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012119603A (ja) * 2010-12-03 2012-06-21 Japan Display Central Co Ltd 基板処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012119603A (ja) * 2010-12-03 2012-06-21 Japan Display Central Co Ltd 基板処理装置

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